JPH0433220A - 接点入力回路 - Google Patents

接点入力回路

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JPH0433220A
JPH0433220A JP13550390A JP13550390A JPH0433220A JP H0433220 A JPH0433220 A JP H0433220A JP 13550390 A JP13550390 A JP 13550390A JP 13550390 A JP13550390 A JP 13550390A JP H0433220 A JPH0433220 A JP H0433220A
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JP
Japan
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contact
current
resistor
capacitor
present
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Application number
JP13550390A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidetaka Watanabe
渡辺 秀隆
Yutaka Nishiyama
裕 西山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH0433220A publication Critical patent/JPH0433220A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00Contacts
    • H01H1/60Auxiliary means structurally associated with the switch for cleaning or lubricating contact-making surfaces
    • H01H1/605Cleaning of contact-making surfaces by relatively high voltage pulses

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  • Keying Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、接点の0N10FF状態を検出する絶縁型
の接点入力回路に関するものである。
[従来の技術] 従来例の構成を第8図を参照しながら説明する。
第8図は、従来の接点入力回路を示す回路図である。
第8図において、従来の接点入力回路は、例えば24V
の直流電源■6に接続されホトカプラ(1)を構成する
発光ダイオード(2)と、この発光ダイオード〈2)に
接続された抵抗器(4)と、この抵抗器(4)に接続さ
れた接点(5)と、例えば5■の直流電源VBに接続さ
れた抵抗器(6)と、この抵抗器(6)にコレクタが接
続されホトカブラ(1)を構成するホトトランジスタ(
3)と、このホトトランジスタ(3)のコレクタに接続
された抵抗器(7)と、この抵抗器(7)に接続された
コンデンサ(8)と、抵抗器(7)に接続されヒステリ
シス特性をもつインバータ(9)とから構成されている
。なお、接点(5)の他端、ホトトランジスタ(3)の
エミッタ及びコンデンサ(8)の他端は接地されている
。抵抗器(7)、コンデンサ(8)及びインバータ(9
)はチャタリング除去回路を構成している。また、イン
バータ(9)の出力側は図示しないCPUの入力ボート
に接続されている。
つぎに、前述した従来例の動作を説明する。
接点(5)がONすると、この接点(5)に消費電流I
が流れる。この消費電流Iは、発光ダイオード(2)の
電圧降下をVle、抵抗器(4)の抵抗値をRとすると
、 I = (VA  V +c) / Rと表わされる。
そして、ホトカプラ(1)が動作すると、ホトトランジ
スタ(3)の出力がL(ローレベル)になり、CPUに
はH(ハイレベル)が入力される。
[発明が解決しようとする課H] 前述したような従来の接点入力回路では、消費電流が大
きく、また、それにより発熱を生じるという問題点があ
った。
そこで、消費電流を小さくすると、はとんど開閉しない
ような接点では、酸化や硫化等の皮膜により導通不良を
起し易いという問題点があった。
この発明は、前述した問題点を解決するためになされた
もので、導通不良を防止でき、かつ消費電流を小さくす
ることができる接点入力回路を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る接点入力回路は、次に掲げる手段を備え
たものである。
〔1〕 接点が導通状態になった時前記接点に大電流を
供給する大電流供給回路。
〔2〕 前記大電流を供給した所定時間後の前記接点の
非導通状態を検出する場合には小電流を供給する小電流
供給回路。
[作用] この発明においては、大電流供給回路によって、接点が
導通状態になった時、前記接点に大電流が供給される。
また、小電流供給回路によって、前記大電流を供給した
所定時間後の前記接点の非導通状態を検出する場合には
小電流が供給される。
[実施例コ この発明の4つの実施例について説明する。
まず、この発明の第1実施例の構成を第1図を参照しな
がら説明する。
第1図は、この発明の第1実施例を示す回路図であり、
ホトカプラ(1)〜インバータ(9)は前記従来回路の
ものと全く同一である。
第1図において、この発明の第1実施例は1.前述した
従来回路のものと全く同一のものと、発光ダイオード(
2)のカソードと抵抗器(4)との間に挿入された抵抗
器(10)と、抵抗器(10)及び(4)の接続点に一
端が接続されかつ他端が接地されたコンデンサ(11)
とから構成されている。なお、抵抗器(10)の抵抗値
はnR、コンデンサ(11)の容量はCである。
ところで、この発明の大電流供給回路は、前述したこの
発明の第1実施例ではコンデンサ(11)及び抵抗器(
4)から構成され、小電流供給回路は、直流電源■い抵
抗器(4)及び(10)から構成されている。
次に、前述した第1実施例の動作を第2図を参照しなが
ら説明する。
第2図(a)及び(b)は1、この発明の第1施例の動
作を示す波形図である。
接点(5)がONすると、その直後は、第2図(b)に
示すように、この接点(5)にコンデンサ(11)に充
電されていた電流i゛が流れる。この電流iは、 i =  (Vx−Vzc)/R・ ε−”。
と表わされる。この電流iは、大きいため酸化等の皮膜
を破壊する。
その後、接点(5)に定常状態の消費電流■が流れる。
この消費電流Iは、 I = (VA  VIC)/ (R+nR)と表わさ
れる。R<nRとすれば、この消費電流Iを小さくする
ことができる。
この発明の第1実施例は、前述したように、接点(5)
のON直後は大電流を流し、その後は小電流を流すよう
にしたので、導通不良を防止でき、かつ消費電流を小さ
くすることができるという効果を奏する。
つづいて、この発明の第2実施例の構成を第3図を参照
しながら説明する。
第3図は、この発明の第2実施例を示す回路図であり、
ホトカプラ(1)〜インバータ(9)及びコンデンサ(
11)は前記第1実施例のものと全く同一である。
第3図において、この発明の第2実施例は、前述した第
1実施例のものと全く同一のものと、発光ダイオード(
2)のカソードにドレインが接続され、抵抗器(4)及
び接点(5)の接続点にゲートが接続されかつ抵抗器(
4)及びコンデンサ(11)の接続点にソースが接続さ
れたFET(12)とから構成されている。
ところで、この発明の大電流供給回路は、前述したこの
発明の第2実施例ではコンデンサ(11)及び抵抗器(
4)から構成され、小電流供給回路は、直流電源vA、
抵抗器(4)及びFET(12)から構成されている。
次に、前述した第2実施例の動作を第4図を参照しなが
ら説明する。
第4図は、この発明の第2施例のFET(12)の動作
を示す特性図である。
第4図において、横軸はゲート、ソース間の電圧■C8
、縦軸はドレイン電流1.を示す。
接点(5)がONすると、その直後は、第1実施例と同
様に、この接点(5)にコンデンサ(11)に充電され
ていた電流が流れる。この電流は、大きいため酸化等の
皮膜を破壊する。
その後、接点(5)に定常状態の小さい消費電流I。R
が流れる。この消費電流ID11は、第4図に示すよう
に、FET(12)の特性により定まるものである。
この発明の第2実施例は、前述したように、接点(5)
のON直後は大電流を流し、その後は小電流を流すよう
にしたので、導通不良を防止でき、かつ消費電流を小さ
くすることができるという効果を奏する。また、接点(
5)のOFF時のコンデンサ(11)の充電は充電電流
I osgにより早くできるので、動作の高速化が可能
である。
つづいて、この発明の第3実施例の構成を第5図を参照
しながら説明する。
第5図は、この発明の第3実施例を示す回路図であり、
ホトカブラ(1)〜インバータ(9)は前記第1実施例
のものと全く同一である。
第5図において、この発明の第3実施例は、前述した第
1実施例のものと全く同一のものと、直流電源vAと発
光ダイオード(2)との間に挿入されホトカブラ(13
)を構成するホトトランジスタ(14)と、このホトト
ランジスタ(14)のコレクタ、エミッタ間に並列接続
された抵抗器(16)と、抵抗器(17)を介して直流
電源V、とインバータ(9)の出力側との間に挿入され
ホトカブラ(13)を構成する発光ダイオード(15)
とから構成されている。なお、抵抗器(6)、(7)及
び(16)の抵抗値はR,、R2、nRであり、コンデ
ンサ(8)の容量はC3である8丈な、時定数C,R2
、C,(R1+R2)は接点(5)のチャタリング時間
より大きく設定する。
ところで、この発明の大電流供給回路は、前述したこの
発明の第3実施例ではホトカブラ(13)及び抵抗器(
4)から構成され、小電流供給回路は、直流電源■あ、
抵抗器(4)及び(16)から構成されている。
次に、前述した第3実施例の動作を第6図を参照しなが
ら説明する。
第6図(a)〜(d)は、この発明の第3施例の動作を
示す波形図である。
第6図において、<a)は接点(5)の電圧■1、(b
)はインバータ(9)の入力側の電圧■2、(c)はイ
ンバータ(9)の出力側の電圧■3、(d)は接点(5
)に流れる電流Iを示す。
接点(5)がONすると、その直後は、r = (VA
  v+c) / R で表わされる大きい消費電流が流れる。この電流は、大
きいため酸化等の皮膜を破壊する。
その後、インバータ(9)の出力側がHとなってホトカ
ブラ(13)がOFFとなり抵抗器(16)が接続され
るので、接点(5)に小さい消費電流■が流れる。この
消費電流Iは、I −(VA  VIC)/ (R+n
R)と表わされる。
この発明の第3実施例は、前述したように、ホトカブラ
(13)のON10 F Fにより抵抗器(16)を接
続すると、接点(5)がON時、消費電流が抵抗器(1
6)を接続した分だけ減少するので、接点(5)のON
直後は大電流を流し、その後は小電流を流すことができ
、導通不良を防止でき、かつ消費電流を小さくすること
ができるという効果を奏する。
つづいて、この発明の第4実施例の構成を第7図を参照
しながら説明する。
第7図は、この発明の第4実施例を示す回路図である。
第7図において、この発明の第4実施例は、直流電源V
^に接続された接点(5)と、この接点(5)に接続さ
れホトカブラ(1)を構成する発光ダイオード(2)と
、直流電源V、に接続された抵抗器(6)と、この抵抗
器(6)及びCPUの入力ボートにコレクタが接続され
かつエミッタが接地されホトカブラ(1)を構成するホ
トトランジスタ(3)と、発光ダイオード(2)に接続
された抵抗器(22)と、この抵抗器(22)にコレク
タが接続され、CPUの出力ボートに抵抗器(24)を
介してベースが接続されかつエミッタが接地されたトラ
ンジスタ(23)と、接点(5)に並列接続されたA部
から構成されている。
なお、抵抗器(22)の抵抗値はR5である。
また、A部は、直流電源■、に接続されたコンデンサ(
18)と、このコンデンサ(18)に−端が接続されか
つ他端が接地された抵抗器(19)と、コンデンサ(1
8)と抵抗器(19)の接続点にカソードが接続された
ダイオード(20)と、このダイオード(20)のアノ
ードに一端が接続されかつ発光ダイオード〈2)のアノ
ードに他端が接続された抵抗器(21)とから構成され
ている。なお、抵抗器(21)及び(1つ)の抵抗値は
R1、R4であり、コンデンサ(18)の容量はCであ
る。
次に、前述した第4実施例の動作を説明する。
CPUは、接点(5)の状態を検出する時だけ、トラン
ジスタ(23)をONにする。このONする時間は、1
msもあれば十分である。
接点(5)がONすると、発光ダイオード(2)及びト
ランジスタ(23)の電圧降下がそれぞれ■2゜、V 
T Rであれば、発光ダイオード(2)に、I = (
V、−VPc  VTII) / R5で表わされる電
流が流れる。その結果、ホトカブラ(1)がONして、
CPUはL (OV)を検出する。
接点く5)がOFFでは、電流が流れないので、ホトカ
ブラ(1)が0FFL、CPUはH(5V)を検出する
トランジスタ(23)がOFFの場合には、接点く5)
のON10 F Fの状態にかかわらず、電流が流れな
いので、ホトカブラ(1)がOFFで、CPUはHを検
出する。
すなわち、接点(5)の状態を検出する時に、トランジ
スタ(23)をONL、この時だけ電流を流して低消費
電流化をはかる。
しかしながら、トランジスタ(23)のOFFの期間が
長いと、接点(5)は電圧及び電流が印加されていない
状態で0N10FFすることになり、上述したように接
点(5)の信頼性が低下する。そこで、A部を付加して
いる。
トランジスタ(23)がOFF、tll:態において、
接点(5)には、接点(5)がONした瞬間、ダイオー
ド(20)の電圧降下をVDとすると、i=  (VA
  VD)/R:1 で表わされる電流が流れ、 i = (VA−VD) /R31,−tzca3に従
って、電流が減少する。そして、最終的には、I −(
V、−V、)/ (R:、+R,)に落ち着く。
この発明の第4実施例は、前述したように、導通不良を
防止でき、かつ消費電流を小さくすることができるとい
う効果を奏する。また、CPUは、ソフトウェアにより
接点(5)の状態を検出したい時を自由に決定できるた
め、接点(5)が0N10FFしたときに発生するチャ
タリングの影響を無視することができる。つまり、チャ
タリング除去回路が不要である。
なお、前記第4実施例でトランジスタ(23)の代わり
に、ホトカブラを使用すれば、VA(24V)系とV、
(5V)系の絶縁が可能となる。
[発明の効果] この発明は、以上説明しなとおり、接点が導通状態にな
った時前記接点に大電流を供給する大電流供給回路と、
前記大電流を供給した所定時間後の前記接点の非導通状
態を検出する場合には小電流を供給する小電流供給回路
とを備えたので、導通不良を防止でき、かつ消費電流を
小さくすることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1実施例を示す回路図、第2図は
この発明の第1実施例の動作を示す波形図、第3図はこ
の発明の第2実施例を示す回路図、第4図はこの発明の
第2実施例のFETの動作を示す特性図、第5図はこの
発明の第3実施例を示す回路図、第6図はこの発明の第
3実施例の動作を示す波形図、第7図はこの発明の第4
実施例を示す回路図、第8図は従来の接点入力回路を示
す回路図である。 図において、 (1)、(13) ・・・ ホトカブラ、(2) ・・
・ 発光ダイオード、 (3) ・・・ ホトトランジスタ、 (4)、(6)、(7) ・・・ 抵抗器、(8)、 なお、 を示す。 ・・・ 接点、 (11)、(18) ・・・ コンデンサ、・・・ イ
ンバータ1 、(16ン、(19) ・・・ 抵抗器、・・・ FE
T ・・・ ダイオード1 、(22)  ・・・ 抵抗器、 ・・・ トランジスタである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 接点が導通状態になった時前記接点に大電流を供給する
    大電流供給回路、及び前記大電流を供給した所定時間後
    の前記接点の非導通状態を検出する場合には小電流を供
    給する小電流供給回路を備えたことを特徴とする接点入
    力回路。
JP13550390A 1990-05-28 1990-05-28 接点入力回路 Pending JPH0433220A (ja)

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