JP3587802B2 - スイッチの接点腐食防止装置 - Google Patents
スイッチの接点腐食防止装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3587802B2 JP3587802B2 JP2001150927A JP2001150927A JP3587802B2 JP 3587802 B2 JP3587802 B2 JP 3587802B2 JP 2001150927 A JP2001150927 A JP 2001150927A JP 2001150927 A JP2001150927 A JP 2001150927A JP 3587802 B2 JP3587802 B2 JP 3587802B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- switch
- current
- impedance
- current supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Keying Circuit Devices (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、大電流スイッチを電子制御用の入力に用いる際に、接点に生じる酸化被膜を破壊して腐食を防止するスイッチの接点腐食防止装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、各種電子制御のための入力は、スイッチの接点を用いて行われることが多い。たとえば、自動車で各種制御を行うためには、多くの電子制御ユニット（ＥＣＵ）に制御用の入力信号を与えるために、各種センサとともに機械的に開閉するスイッチの接点が用いられている。自動車などでは、振動や衝撃等も多く、スイッチには機械的な耐久性なども要求され、またＥＣＵ等との距離が長くなるとある程度大きな電流、たとえば数１０ｍＡ〜数Ａ程度を断続して信号入力とする必要もあるので、比較的電流容量が大きい大電流仕様のスイッチが用いられる。ＥＣＵ等の入力信号では、比較的小さい電流値、たとえば数１００μＡ〜数ｍＡ程度の変化も検出可能であるけれども、自動車などの制御ではノイズも多くなるので、信頼性の高い入力を行うためには、電流値の変化を大きくする必要があるからである。
【０００３】
図１９は、従来から、大電流用スイッチを使用して電子制御の入力信号を得るために用いられている基本的な回路構成を示す。スイッチ１は、入力端子２と接地との間に接続される接点を有し、接点の定格電流容量は、たとえば最大数Ａ程度である。入力端子２に与えられる電圧は、入力信号ライン３を介してＥＣＵなどに入力される。スイッチ１の接点が閉じているときには、たとえば２００ｍＡ程度の大電流が、低抵抗４を介して、電源ライン５から供給される。スイッチ１の接点は、開状態ではほぼ無限大の抵抗、閉状態ではほぼ０Ωの抵抗と見なすことができるので、低抵抗４として２５Ωの抵抗値を用い、電源ライン５に５Ｖの直流電圧を印加すれば、スイッチ１が閉状態のときに、ほぼ２００ｍＡの電流を流すことができる。
【０００４】
機械的なスイッチの接点には、通常、銅（Ｃｕ）を用い、さらに錫（Ｓｎ）めっきが施されている。ところが錫めっきを施すと電気伝導性が若干悪くなるので、大電流を流すスイッチの接点に対しては、錫めっきよりも電気伝導性の良い金（Ａｕ）めっきが使用される。
【０００５】
ただし、金めっきは錫めっきと比較して被膜が柔らかいため、接点接触時の摩耗により接点が酸化する錆びやすいという欠点があり、これを解決するためにスイッチのオン状態時に大電流を流し、酸化膜を破壊して腐食防止を行っている。
【０００６】
図２０は、特開平６−９６６３７号公報で開示されているスイッチ腐食防止回路１０の先行技術の基本的な電気的構成を示す。図２０で、図１９に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明は省略する。この先行技術では、図１９の構成でスイッチ１が閉状態になっている間、電源ライン５から低抵抗４を介して接点に大電流が流れることによって、エネルギの損失が生じ、発熱が大きくなるのを防ぐ等の目的で、低損失化が図られている。低損失化は、スイッチ１が閉状態になってＯＮとなるときに、接点の酸化膜破壊用の大電流を、直流的に連続して流すのではなく、パルス的に断続して流すことによって行われる。
【０００７】
図２０の先行技術では、低抵抗４にＮＰＮ型のスイッチングトランジスタ（Ｔｒ）１１のコレクタ・エミッタ間が直列に接続される。スイッチングトランジスタのベースは、制御回路１２から出力される制御信号によって駆動される。制御回路１２は、入力信号ライン５の電圧を検出し、スイッチ１の接点が閉状態であるときに、スイッチングトランジスタ１１を、パルス的に導通させる制御を行う。なお、制御回路１２の入力および入力信号ライン３と入力端子２との間には、入力側に大電流などが流れ込むのを防ぐ保護抵抗１３が接続される。また、スイッチ１の接点が開状態で、しかもスイッチングトランジスタ１１のエミッタ・コレクタ間が遮断しているときに、入力信号ラインのインピーダンスが高くなりすぎないように、高抵抗１４が入力端子２と電源ライン５との間に接続されている。高抵抗１４の抵抗値をＲａとし、低抵抗４の抵抗値をＲｂとし、スイッチ１の接点の閉状態での抵抗値をＲｃとすると、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃである。たとえば、Ｒａ＝１０ｋΩ程度、Ｒｂ＝１００Ω程度、Ｒｃ＝１Ω程度となる。
【０００８】
図２１は、スイッチ１の接点の開閉状態と、制御回路１２によるスイッチングトランジスタ１１の制御状態を示す。スイッチ１の接点を開状態であるオフから、時刻ｔ０で閉状態のオンにしたあと、制御回路１２は、時刻ｔ１，ｔ２，ｔ３にそれぞれ、一定時間Ｔだけスイッチングトランジスタ１１のエミッタ・コレクタ間を導通させてオンにする。この一定時間Ｔの期間だけ、低抵抗４を介してスイッチ１の接点に大電流が流れ、酸化被膜を破壊して腐食防止を図ることができる。時刻ｔ４になると、スイッチ１の接点が閉状態から開状態に遷移してオフになる。スイッチ１は、時刻ｔ０から時刻ｔ４までオンになるけれども、大電流が流れる期間は、時刻ｔ１，ｔ２，ｔ３から一定時間Ｔずつであるので、消費電力や発熱の低減が可能となる。
【０００９】
図２２は、図２１のようにスイッチ１を開閉させる操作を行うときに、入力端子２から見た入力インピーダンスを示す。時刻ｔ０以前および時刻ｔ４以後は、スイッチ１の接点が開状態となり、入力インピーダンスは、高抵抗１４の抵抗値Ｒａによって定まる。時刻ｔ０から時刻ｔ４までは、スイッチ１の接点が閉状態となり、入力インピーダンスは、高抵抗１４の抵抗値Ｒａと接点の閉状態の抵抗値Ｒｃとの並列抵抗値、またはさらに低抵抗４の抵抗値Ｒｂが並列になった抵抗値となるけれども、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃであるため、実質的にはＲｃと見なすことができる。
【００１０】
リレーなどを含むスイッチ接点のオン・オフを検出するために、パルス電流を流し、接点の酸化膜生成による接触不良の影響を減じる先行技術は、特開平７−１４４６３号公報にも開示されている。この先行技術では、コンデンサに抵抗を介して充電した電荷を、発振器からの出力でスイッチングトランジスタを導通させて、パルス電流として接点に流している。ただし、図１では、直流電源１の極性からみて正電位側に充電されるコンデンサ５３の端子にＰＮＰ型のトランジスタ５１のコレクタを接続し、エミッタを抵抗５４を介して接点２に接続し、接点２をコンデンサ５３の負電位側の端子に接続している。このような具体的な回路構成では、パルス電流Ｉｐを流すためにトランジスタ５１のコレクタ・エミッタ間が逆方向であるように見える。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
特開平６−９６６３７号公報や特開平７−１４４６３号公報の先行技術の基本的な考え方によれば、スイッチの接点が閉状態のときにパルス的に大電流を流して、酸化膜形成による腐食を防止し、しかも消費電力の低減や発熱の減少を図ることができる。しかしながらこれらの先行技術では、スイッチの接点が閉状態のときのみスイッチング素子をオンにして、接点の開閉状態を検知する入力信号ラインの入力インピーダンスを低くするような構成となっている。スイッチの接点が開状態のときには、入力インピーダンスが高くなり、耐ノイズ性を示すＥＭＩ（ＥｌｅｃｔｒｏＭａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ：電磁干渉）レベルが悪化したり、リーク電流に対して入力レベルが変動する非安定性などの問題が生じる。ＥＭＩは一般に電子装置が電磁環境から受ける機能上の妨害である。自動車に搭載する電子装置の場合、ＥＭＩ発生源はスイッチ系のＯＮ・ＯＦＦ時に発生する電気雑音等の自車の雑音と、放送電波等の外来雑音との２つに大別される。
【００１２】
さらに、特開平７−１４４６３号公報の先行技術では、コンデンサ５３に蓄えた電荷を、発振器５２の発振周期で、接点２の開閉状態とは無関係にパルス電流Ｉｐとして流している。このため、パルス電流Ｉｐの発生頻度を小さくして省電力を図ろうとすると、接点２がオンになっても腐食防止用の電流が必ずしも流れるとは限らない。
【００１３】
本発明の目的は、確実に腐食防止を図ることができ、スイッチの接点の開閉状態を検出する信頼性を高めることができるスイッチの接点腐食防止装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明は、スイッチの接点の開閉状態を判定する入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインの入力インピーダンスが該低インピーダンス状態よりも高い高インピーダンス状態で、接点の開閉状態を判定可能な高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
低インピーダンス手段は、スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態に保ち、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態にして腐食防止電流を流すとともに、接点の開閉周期に応じて、該保持時間の長さを変更することを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置である。
【００２５】
本発明に従えば、スイッチの接点の開閉周期に応じて、スイッチの接点が閉状態中に入力信号ラインの入力インピーダンスが低インピーダンス手段により低インピーダンス状態になって腐食防止用の電流が流れる保持時間の長さが変更されるので、たとえば、接点の開閉周期が短くなると保持時間も短くなって、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００２６】
また本発明は、スイッチの接点の開閉状態を判定するための入力信号ラインに接続され、該入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインに接続され、低インピーダンス手段のインピーダンスよりも高いインピーダンスを有する高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
前記低インピーダンス手段は、スイッチの接点に腐食防止電流を供給する電流供給手段であり、
電流供給手段の温度を検出する温度検出手段を含み、
スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスが前記低インピーダンス手段により低インピーダンス状態に保たれ、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスが前記低インピーダンス手段により低インピーダンス状態にされて腐食防止電流が流れるとともに、温度検出手段が検出する電流供給手段の温度に基づき、温度が高くなると該保持時間が短くなることを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置である。
【００２７】
本発明に従えば、温度検出手段によって電流供給手段の温度を検出する。電流供給手段が電流供給による自己発熱で高温になると、スイッチの接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間を短くして、電流供給手段の自己発熱を抑制し、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。
【００３８】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図１８を参照して、本発明の実施形態および参考形態について説明する。各形態で対応する部分は同一の参照符を付し、重複する説明は省略する。また、以下に説明する複数の形態は、組合わせて用いることもできる。
【００３９】
図１は、本発明の第１の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置２０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態の構成は、図２０に示す先行技術の構成とほぼ対応している。すなわち、スイッチ２１は、入力端子２２と接地との間に接続される接点を有し、接点の定格電流容量は、たとえば最大で数Ａ程度である。入力端子２２に与えられる電圧は、入力信号ライン２３を介してＥＣＵなどに入力される。スイッチ２１の接点が閉じているときには、たとえば２００ｍＡに近い大電流が、電流供給回路２４を介して、入力端子２２からスイッチ２１の接点に、電源ライン２５からパルス的に供給される。この大電流経路を流れる電流値は、接点の酸化膜を除去しうる電流として、接点の定格電流容量に応じて設定される。
【００４０】
電流供給回路２４は、制御回路２６から出力される制御信号によって駆動される。制御回路２６は、入力信号ライン２３の電圧を検出し、スイッチ２１の接点が開状態であるときに対応する電圧であれば、電流供給回路２４からスイッチ２１の接点に電流を供給可能な低インピーダンス状態にする制御を行う。なお、制御回路２６の入力および入力信号ライン２３と入力端子２２との間には、入力側に大電流などが流れ込むのを防ぐ保護抵抗２７が接続される。また、スイッチ２１の接点の開閉状態を入力する際の入力インピーダンスを決定する入力抵抗２８が入力端子２２と電源ライン２５との間に接続されている。入力抵抗２８の抵抗値をＲａとし、電流供給回路２４のインピーダンスをＲｂとし、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値をＲｃとすると、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃである。
【００４１】
本参考形態では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に定格電流容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流供給回路２４を設けている。電流供給回路２４は、接点に電流を供給するか否かを制御可能であり、電流供給時には、接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなり、接点が閉状態であれば、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能な電流供給手段とし機能する。
【００４２】
電流供給回路２４は、制御回路２６によって制御される。制御回路２６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が開状態のとき、および閉状態中に予め定められる保持時間には、電流供給回路２４から接点への電流供給を行い、接点が閉状態で該保持時間外では、電流供給回路２４から接点への電流供給を遮断するように制御する制御手段として機能する。このような電流供給回路２４は、定電流回路とスイッチ回路との組合わせや、図２０に示すような低抵抗１４とスイッチングトランジスタ１１との直列回路など、種々の構成で実現することができる。また、電流供給回路２４は低損失化されるので、制御回路２６や入力抵抗２８などを含めて、本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置２０は、半導体集積回路として容易にＩＣ化することができる。
【００４３】
図２は、スイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本実施形態では、基本的にスイッチ２１の接点が開状態のオフ時に、電流供給回路２４は電流供給が可能な状態となるように、制御回路２６によって制御される。ただし、スイッチ２１の接点は開状態であるので、接点には大電流は流れず、消費電力等が増大することはない。スイッチ２１が時刻ｔ１０でオフからオンになると、制御回路２６は、電流供給回路２４の電流供給状態を、さらに保持時間ｔｄの期間だけ継続する。この保持時間ｔｄの期間には、スイッチ２１の接点が閉状態になるので、接点に大電流が流れる。電流供給回路２４のインピーダンスＲｂを、接点に酸化膜破壊用に充分な電流を流すように設定しておけば、保持時間ｔｄの間に、腐食防止を図ることができる。保持時間ｔｄが経過すると、時刻ｔ１１まで、接点が閉状態の間は、電流供給回路２４が電流供給を停止するように、制御回路２６によって制御される。時刻ｔ１１でスイッチ２１の接点がオンからオフに遷移すれば、制御回路２６は電流供給回路２４を制御して、電流供給状態に戻す。なお、保持時間ｔｄは、時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの間に設ければよい。
【００４４】
図３は、図２に示すような制御状態に対応する入力端子２２から見た入力インピーダンスの変化を示す。時刻ｔ１０でスイッチ２１の接点が閉状態になる前、および時刻ｔ１１以降は、スイッチ２１の接点は開状態であり、入力インピーダンスは、電流供給回路２４のインピーダンスＲｂとほぼ等しくなる。時刻ｔ１０保持時間ｔｄの間は、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値Ｒｃと電流供給回路２４のインピーダンスＲｂとが並列に接続されていると考えることができ、並列のインピーダンスは、Ｒｂ≫Ｒｃであるので、Ｒｃと見なすことができる。保持時間ｔｄが過ぎてから、時刻ｔ１１に達するまでの接点の閉状態の期間では、電流供給回路２４からの電流供給が停止し、入力インピーダンスは、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値Ｒｃと入力抵抗２８の抵抗値Ｒａとの並列状態での合成抵抗値となる。ただし、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃであるので、合成抵抗値はＲｃと見なすことができる。時刻ｔ１１以降は、電流供給回路２４が電流供給状態となり、そのインピーダンスＲｂが入力インピーダンスとなる。
【００４５】
以上のように、本参考形態では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に通電容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流供給回路２４と制御回路２６とを設ける。電流供給回路２４は、スイッチ２１の接点に電流を供給するか否かを制御可能であり、電流供給時には、接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなり、接点が閉状態であれば、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能である。制御回路２６は、接点の開閉状態を検知して、時刻ｔ１０以前および時刻ｔ１１以降で接点が開状態のとき、および時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの閉状態中に予め定められる保持時間ｔｄには、電流供給回路２４から接点への電流供給を行い、接点が時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの閉状態で、保持時間ｔｄ外では、電流供給回路２４から接点への電流供給を遮断するように制御する。
【００４６】
接点が開状態のときには、電流供給回路２４は接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなるけれども、スイッチ２１の接点は開状態であるので、大電流は流れず、消費電力の増加や発熱の増加を招くことはない。接点の開状態でも入力端子２２の入力インピーダンスが低いので、耐ノイズ性などを向上させ、開閉状態を検出する信頼性を高めることができる。スイッチ２１の接点が閉状態となれば、保持時間ｔｄだけ電流供給回路２４から接点に腐食防止用の電流が供給され、消費電力や発熱の増大を避けながら、接点の酸化膜を除去して腐食防止を有効に図ることができる。
【００４７】
また本参考形態では、制御回路２６が保持時間ｔｄを、スイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した時刻ｔ１０後に継続して設定している。スイッチ２１の接点が開状態のときから連続して、時刻ｔ１０で接点が開状態から閉状態に遷移した後で保持時間ｔｄが経過するまで、電流供給回路２４から低インピーダンス状態で接点に電流を供給すればよいので、制御回路２６による電流供給回路２４の制御を簡易化することができる。
【００４８】
図４は、本発明の第２の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本参考形態で、制御回路２６は、電流供給回路２４からの電流供給を、時刻ｔ２０でスイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した後で第１の保持時間ｔｄだけ継続した後、さらに電流供給回路２４からの電流供給を定期的に繰返す。すなわち、時刻ｔ２１や時刻ｔ２２で電流供給を第２の保持時間ｔｅだけそれぞれ行い、時刻ｔ２３でスイッチ２１の接点が閉状態から開状態に遷移すると、電流供給状態に戻る。スイッチ２１の接点の閉状態が長時間継続するときには、第２の保持時間ｔｅが繰返して設定され、腐食防止用の電流によって酸化膜の生成を防ぐことができる。
【００４９】
図５は、本発明の第３の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本参考形態で、制御回路２６は、電流供給回路２４からの電流供給を、時刻ｔ３０でスイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した直後は一旦停止し、前述の保持時間ｔｄをこの一旦停止した後に設定する。時刻ｔ３０でスイッチ２１の接点を開状態から閉状態に遷移させる際に、一旦電流供給回路２４から接点への電流供給を停止するので、接点の開閉状態が切換えられる際の突入電流によって、接点が溶着することを防止することができる。
【００５０】
図６は、本発明の第４の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、電流供給回路２４から接点に供給される負荷電流の変化とを示す。本参考形態で、電流供給回路２４からの電流供給は、急激な電流変化を抑えて行われる。図６（ａ）は、電流供給回路２４から流れ出す電流量をリニアに増減させる状態を示す。積分回路などを利用すれば、このようなリニアな変化を生じさせることができる。図６（ｂ）は、電流供給回路２４から流れ出す電流量を段階的に増減させる状態を示す。これらの電流変化は、電流供給回路２４がスイッチ２１の接点への電流供給の状態を変化させる際に、インピーダンスの変化を緩慢化して行うことによって実現される。電流供給回路２４からスイッチ２１の接点に供給される電流は、電流供給回路２４のインピーダンスの変化が緩慢化されているので、急激に変化することがなく、ノイズ発生を抑制することができる。また、接点が開閉する際に火花などが発生しにくくなり、接点の溶着なども生じにくくすることができる。
【００５１】
図７は、本発明の実施の第１形態として、スイッチの接点腐食防止装置３０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態では、タイマ３１が、スイッチ２１の接点の開閉周期を監視し、制御回路２６はその開閉周期を次の保持時間ｔｄに反映させて、保持時間ｔｄの長さを調整する。図８および図９は、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２４から供給される電流の変化とを示す。タイマ３１は、保持時間ｔｄが設定されるので、設定されている保持時間ｔｄを認識して、スイッチ２１の接点の開閉についての時間的な情報を収集する開閉時間情報収集手段としても機能する。すなわち、タイマ３１は接点の開閉周期を監視し、制御回路２６はその開閉周期に応じて、保持時間ｔｄの長さを変更する。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置３０も容易にＩＣ化することができる。
【００５２】
図８では、スイッチ２１がオンになる周期が長いので、オフからオンに遷移した時点で保持時間ｔｄ２が設定される頻度が小さくなる。このために、保持時間ｔｄ２を長くし、腐食防止が充分に行われるようにする。図９では、スイッチ２１がオンになる周期が短いので、オフからオンに遷移した時点で保持時間ｔｄ３が設定される頻度が大きくなる。このために、保持時間ｔｄ３を短くして、電流供給回路２４の低損失化を図る。本実施形態では、タイマ３１に設定されるスイッチ２１の接点の開閉についての時間的な情報を収集して、電流供給回路２４から接点に腐食防止用の電流を流す保持時間ｔｄ２、ｔｄ３の長さを変更する。接点の開閉周期が長くなると保持時間ｔｄ２も長くして腐食防止を確実に図り、接点の開閉周期が短くなると保持時間ｔｄ３も短くすることによって、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００５３】
図１０は、本発明の実施の第２形態として、スイッチの接点腐食防止装置４０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態では、電流供給回路２４の温度を検出する温度検出部４１を設ける。制御回路２６は、温度検出部４１が検出する温度が高くなると、保持時間ｔｄ，ｔｄ２，ｔｄ３，ｔｅが短くなるように制御する。温度検出部４１によって検出する電流供給回路２４の温度が、電流供給回路２４の電流供給による自己発熱などで高温になると、スイッチ２１の接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間ｔｄ，ｔｄ２，ｔｄ３，ｔｅを短くして、電流供給回路２４の自己発熱を抑制し、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置４０も容易にＩＣ化することができる。
【００５４】
図１１は、本発明の第５の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置５０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態の制御回路２６は、アナログ／デジタル変換を行うＡ／Ｄ回路５１によって、入力信号ライン２３の電圧値を検出し、スイッチ２１の接点の腐食状態を判定する。Ａ／Ｄ回路５１は、スイッチ２１の接点が閉状態となるときの接点のインピーダンスを検出するインピーダンス検出手段として機能する。接点の腐食が進行すればインピーダンスが上昇し、接点に生じる電圧も高くなる。制御回路２６は、Ａ／Ｄ回路５１によって検出される接点の閉状態のインピーダンスの高低に応じて、保持時間ｔｄ等を長短に変更するように制御する。スイッチ２１の接点について、酸化が進行すると、閉状態でのインピーダンスが高くなるので、電流供給回路２４から腐食防止用の電流を供給する保持時間ｔｄ等を長くして、酸化膜の確実な除去を図ることができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置５０も容易にＩＣ化することができる。
【００５５】
図１２は、本発明の第６の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置６０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態の制御回路２６は、外部のマイコン６１やＥＣＵ、プログラムコントローラなどから、たとえば自動車各種制御に用いる使用環境などについての情報を収集する。すなわち、マイコン６１などは、スイッチ２１の使用環境に関する情報を収集する使用環境情報収集手段として機能する。制御回路２６は、マイコン６１などによって収集される使用環境に応じて、保持時間ｔｄ等を設定する頻度を変更する。たとえば周囲温度などの情報や、自動車でのエンジン始動時などに関する情報などを収集し、使用環境に適合して、酸化膜除去用の腐食防止電流を流す保持時間ｔｄ等を変更し、スイッチ２１の接点の腐食防止を有効に図ることができる。本参考形態のスイッチの接点腐食防止装置６０も容易にＩＣ化することができる。
【００５６】
図１３は、本発明の第７の参考形態として、各形態で示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６の制御による電流供給回路２４のインピーダンス変化とを示す。本実施形態で、電流供給回路２４からの電流供給は、時刻ｔ４０でスイッチ２１がオフからオンになるときに保持時間ｔｄ１で継続し、時刻ｔ４１でスイッチ２１オンからオフになるときは、遅延時間ｔｄ４だけ遅れて電流供給状態に変化する。機械的な接点で形成されるスイッチ２１では、オンとオフとの開閉状態の変化の際にチャタリングが生じる。制御回路２６は、接点が閉状態から開状態に遷移しても、接点のチャタリングが収束する時間を含めて予め設定される遅延時間ｔｄ４が経過するまでは、電流供給回路２４の電流供給状態への移行を遅延させる。スイッチ２１の接点が閉状態から開状態に遷移する際にチャタリングが生じて、接点が短時間の繰返しで閉状態になっても、電流供給回路２４が電流供給状態に移行するのは予め設定される遅延時間ｔｄ４が過ぎてからであるので、チャタリングによる瞬間的な大電流の流出を防止することができる。
【００５７】
図１４は、本発明の第８の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置７０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態には、抵抗７１およびコンデンサ７２と、切換えスイッチ７３とを含む電流供給回路７４は、制御回路７６によって切換えスイッチ７３が制御される。切換えスイッチ７３は、機械的な接点を有するリレーなどを使用したり、電子的なスイッチング素子を用いて構成することができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置７０も、コンデンサ７２を除いて容易にＩＣ化することができる。コンデンサ７２の容量を数１００ｐＦ以上に大きくする場合は、コンデンサ７２を外付けとしてＩＣ化することができる。
【００５８】
電流供給回路７４では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に定格電流容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流を供給するか否かを切換えスイッチ７３で制御可能である。電流供給を行わないときには、コンデンサ７２に電源ライン２５から抵抗７１を介して電荷を蓄える充電を行い、電流供給時にはコンデンサ７２に蓄えられた電荷を放電する。スイッチ２１の接点が閉状態であれば、切換えスイッチ７３を充電側から放電側に切換えることによって、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能となる。切換えスイッチ７３の切換えは、制御回路７６によって制御される。制御回路７６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が閉状態のときに、電荷が充電されていれば、電流供給手段７４から接点への電流供給を行うように制御する。
【００５９】
図１５は、図１４のスイッチ２１のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とを示す。制御回路７６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が閉状態のときに、コンデンサ７２に電荷が充電されていれば、コンデンサ７２に蓄えられた電荷を放電して、電流供給回路７４から接点への電流供給を行うように制御する。接点が開状態のときには、電流供給回路７４のコンデンサ７２は電荷を蓄える充電を行う。スイッチ２１の接点が閉状態となって、コンデンサ７２に充分な電荷が蓄えられていれば、蓄えられた電荷を放電して、接点に腐食防止用の電流を供給する。電流供給回路７４からスイッチ２１の接点に、腐食防止用の電流を間欠的に供給するので、消費電力や発熱の増大を避けながら、接点の酸化膜を除去して腐食防止を有効に図ることができる。
【００６０】
図１６は、本発明の第９の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置８０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態では、電流供給回路２４に電源ライン２５Ａから、スイッチ２１の開閉状態の入力のためなど、他の回路部分に電源ライン２５Ｂから印加する電圧よりも高い電圧を印加する。たとえば自動車にスイッチの接点腐食防止装置８０を含むＥＣＵなどを搭載する場合、電源ライン２５Ａには、発電機やバッテリから直接供給される＋Ｂラインからの電圧を与える。電源ライン２５Ｂには、ロジック回路用に安定化された電圧を与える。
【００６１】
図１７および図１８は、本参考形態で、制御回路２６が電流供給回路２４を制御して、図３および図４に示すように保持時間ｔｄ，ｔｅを設定するときのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示す。各保持時間ｔｄ，ｔｅでは接点に高電圧が印加されるので、酸化膜などが形成されていても、その破壊をしうる大電流を容易に流すことができる。
【００６７】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、スイッチの接点の開閉に周期に応じて、たとえば接点の開閉周期が短くなると保持時間も短くして、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００６８】
また本発明によれば、電流供給手段が電流供給による自己発熱で高温になると、スイッチの接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間を短くして、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置２０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図２】図１の参考形態で、スイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図３】図２に示すような制御状態に対応して、入力端子２２から見た入力インピーダンスの変化を示すタイムチャートである。
【図４】本発明の第２の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図５】本発明の第３の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図６】本発明の第４の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、電流供給回路２４から接点に供給される負荷電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図７】本発明の実施の第１形態として、スイッチの接点腐食防止装置３０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図８】図７の実施形態で、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２６から供給される電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図９】図７の実施形態で、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２６から供給される電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図１０】本発明の実施の第２形態として、スイッチの接点腐食防止装置４０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１１】本発明の第５の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置５０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の第６の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置６０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１３】本発明の第７の参考形態として、各形態で示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６の制御による電流供給回路２４のインピーダンス変化とを示すタイムチャートである。
【図１４】本発明の第８の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置７０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１５】図１４の参考形態で、スイッチ２１のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図１６】本発明の第９の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置８０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１７】図１６の参考形態でのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示すタイムチャートである。
【図１８】図１６の参考形態でのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示すタイムチャートである。
【図１９】従来から、大電流用スイッチを使用して、電子制御の入力信号を得るために用いられている基本的な回路構成を示すブロック図である。
【図２０】先行技術の基本的な電気的構成を示すブロック図である。
【図２１】図２０の先行技術で、スイッチ１の接点の開閉状態と、制御回路１２によるスイッチングトランジスタ１１の制御状態を示すタイムチャートである。
【図２２】図２１のようにスイッチ１を開閉させる操作を行うときに、入力端子２から見た入力インピーダンスを示すタイムチャートである。
【符号の説明】
２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０ スイッチの接点腐食防止装置
２１ スイッチ
２２ 入力端子
２３ 入力信号ライン
２４，７４ 電流供給回路
２５，２５Ａ，２５Ｂ 電源ライン
２６，７６ 制御回路
３１ タイマ
４１ 温度検出部
５１ Ａ／Ｄ回路
６１ マイコン
【発明の属する技術分野】
本発明は、大電流スイッチを電子制御用の入力に用いる際に、接点に生じる酸化被膜を破壊して腐食を防止するスイッチの接点腐食防止装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、各種電子制御のための入力は、スイッチの接点を用いて行われることが多い。たとえば、自動車で各種制御を行うためには、多くの電子制御ユニット（ＥＣＵ）に制御用の入力信号を与えるために、各種センサとともに機械的に開閉するスイッチの接点が用いられている。自動車などでは、振動や衝撃等も多く、スイッチには機械的な耐久性なども要求され、またＥＣＵ等との距離が長くなるとある程度大きな電流、たとえば数１０ｍＡ〜数Ａ程度を断続して信号入力とする必要もあるので、比較的電流容量が大きい大電流仕様のスイッチが用いられる。ＥＣＵ等の入力信号では、比較的小さい電流値、たとえば数１００μＡ〜数ｍＡ程度の変化も検出可能であるけれども、自動車などの制御ではノイズも多くなるので、信頼性の高い入力を行うためには、電流値の変化を大きくする必要があるからである。
【０００３】
図１９は、従来から、大電流用スイッチを使用して電子制御の入力信号を得るために用いられている基本的な回路構成を示す。スイッチ１は、入力端子２と接地との間に接続される接点を有し、接点の定格電流容量は、たとえば最大数Ａ程度である。入力端子２に与えられる電圧は、入力信号ライン３を介してＥＣＵなどに入力される。スイッチ１の接点が閉じているときには、たとえば２００ｍＡ程度の大電流が、低抵抗４を介して、電源ライン５から供給される。スイッチ１の接点は、開状態ではほぼ無限大の抵抗、閉状態ではほぼ０Ωの抵抗と見なすことができるので、低抵抗４として２５Ωの抵抗値を用い、電源ライン５に５Ｖの直流電圧を印加すれば、スイッチ１が閉状態のときに、ほぼ２００ｍＡの電流を流すことができる。
【０００４】
機械的なスイッチの接点には、通常、銅（Ｃｕ）を用い、さらに錫（Ｓｎ）めっきが施されている。ところが錫めっきを施すと電気伝導性が若干悪くなるので、大電流を流すスイッチの接点に対しては、錫めっきよりも電気伝導性の良い金（Ａｕ）めっきが使用される。
【０００５】
ただし、金めっきは錫めっきと比較して被膜が柔らかいため、接点接触時の摩耗により接点が酸化する錆びやすいという欠点があり、これを解決するためにスイッチのオン状態時に大電流を流し、酸化膜を破壊して腐食防止を行っている。
【０００６】
図２０は、特開平６−９６６３７号公報で開示されているスイッチ腐食防止回路１０の先行技術の基本的な電気的構成を示す。図２０で、図１９に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明は省略する。この先行技術では、図１９の構成でスイッチ１が閉状態になっている間、電源ライン５から低抵抗４を介して接点に大電流が流れることによって、エネルギの損失が生じ、発熱が大きくなるのを防ぐ等の目的で、低損失化が図られている。低損失化は、スイッチ１が閉状態になってＯＮとなるときに、接点の酸化膜破壊用の大電流を、直流的に連続して流すのではなく、パルス的に断続して流すことによって行われる。
【０００７】
図２０の先行技術では、低抵抗４にＮＰＮ型のスイッチングトランジスタ（Ｔｒ）１１のコレクタ・エミッタ間が直列に接続される。スイッチングトランジスタのベースは、制御回路１２から出力される制御信号によって駆動される。制御回路１２は、入力信号ライン５の電圧を検出し、スイッチ１の接点が閉状態であるときに、スイッチングトランジスタ１１を、パルス的に導通させる制御を行う。なお、制御回路１２の入力および入力信号ライン３と入力端子２との間には、入力側に大電流などが流れ込むのを防ぐ保護抵抗１３が接続される。また、スイッチ１の接点が開状態で、しかもスイッチングトランジスタ１１のエミッタ・コレクタ間が遮断しているときに、入力信号ラインのインピーダンスが高くなりすぎないように、高抵抗１４が入力端子２と電源ライン５との間に接続されている。高抵抗１４の抵抗値をＲａとし、低抵抗４の抵抗値をＲｂとし、スイッチ１の接点の閉状態での抵抗値をＲｃとすると、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃである。たとえば、Ｒａ＝１０ｋΩ程度、Ｒｂ＝１００Ω程度、Ｒｃ＝１Ω程度となる。
【０００８】
図２１は、スイッチ１の接点の開閉状態と、制御回路１２によるスイッチングトランジスタ１１の制御状態を示す。スイッチ１の接点を開状態であるオフから、時刻ｔ０で閉状態のオンにしたあと、制御回路１２は、時刻ｔ１，ｔ２，ｔ３にそれぞれ、一定時間Ｔだけスイッチングトランジスタ１１のエミッタ・コレクタ間を導通させてオンにする。この一定時間Ｔの期間だけ、低抵抗４を介してスイッチ１の接点に大電流が流れ、酸化被膜を破壊して腐食防止を図ることができる。時刻ｔ４になると、スイッチ１の接点が閉状態から開状態に遷移してオフになる。スイッチ１は、時刻ｔ０から時刻ｔ４までオンになるけれども、大電流が流れる期間は、時刻ｔ１，ｔ２，ｔ３から一定時間Ｔずつであるので、消費電力や発熱の低減が可能となる。
【０００９】
図２２は、図２１のようにスイッチ１を開閉させる操作を行うときに、入力端子２から見た入力インピーダンスを示す。時刻ｔ０以前および時刻ｔ４以後は、スイッチ１の接点が開状態となり、入力インピーダンスは、高抵抗１４の抵抗値Ｒａによって定まる。時刻ｔ０から時刻ｔ４までは、スイッチ１の接点が閉状態となり、入力インピーダンスは、高抵抗１４の抵抗値Ｒａと接点の閉状態の抵抗値Ｒｃとの並列抵抗値、またはさらに低抵抗４の抵抗値Ｒｂが並列になった抵抗値となるけれども、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃであるため、実質的にはＲｃと見なすことができる。
【００１０】
リレーなどを含むスイッチ接点のオン・オフを検出するために、パルス電流を流し、接点の酸化膜生成による接触不良の影響を減じる先行技術は、特開平７−１４４６３号公報にも開示されている。この先行技術では、コンデンサに抵抗を介して充電した電荷を、発振器からの出力でスイッチングトランジスタを導通させて、パルス電流として接点に流している。ただし、図１では、直流電源１の極性からみて正電位側に充電されるコンデンサ５３の端子にＰＮＰ型のトランジスタ５１のコレクタを接続し、エミッタを抵抗５４を介して接点２に接続し、接点２をコンデンサ５３の負電位側の端子に接続している。このような具体的な回路構成では、パルス電流Ｉｐを流すためにトランジスタ５１のコレクタ・エミッタ間が逆方向であるように見える。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
特開平６−９６６３７号公報や特開平７−１４４６３号公報の先行技術の基本的な考え方によれば、スイッチの接点が閉状態のときにパルス的に大電流を流して、酸化膜形成による腐食を防止し、しかも消費電力の低減や発熱の減少を図ることができる。しかしながらこれらの先行技術では、スイッチの接点が閉状態のときのみスイッチング素子をオンにして、接点の開閉状態を検知する入力信号ラインの入力インピーダンスを低くするような構成となっている。スイッチの接点が開状態のときには、入力インピーダンスが高くなり、耐ノイズ性を示すＥＭＩ（ＥｌｅｃｔｒｏＭａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ：電磁干渉）レベルが悪化したり、リーク電流に対して入力レベルが変動する非安定性などの問題が生じる。ＥＭＩは一般に電子装置が電磁環境から受ける機能上の妨害である。自動車に搭載する電子装置の場合、ＥＭＩ発生源はスイッチ系のＯＮ・ＯＦＦ時に発生する電気雑音等の自車の雑音と、放送電波等の外来雑音との２つに大別される。
【００１２】
さらに、特開平７−１４４６３号公報の先行技術では、コンデンサ５３に蓄えた電荷を、発振器５２の発振周期で、接点２の開閉状態とは無関係にパルス電流Ｉｐとして流している。このため、パルス電流Ｉｐの発生頻度を小さくして省電力を図ろうとすると、接点２がオンになっても腐食防止用の電流が必ずしも流れるとは限らない。
【００１３】
本発明の目的は、確実に腐食防止を図ることができ、スイッチの接点の開閉状態を検出する信頼性を高めることができるスイッチの接点腐食防止装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明は、スイッチの接点の開閉状態を判定する入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインの入力インピーダンスが該低インピーダンス状態よりも高い高インピーダンス状態で、接点の開閉状態を判定可能な高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
低インピーダンス手段は、スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態に保ち、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態にして腐食防止電流を流すとともに、接点の開閉周期に応じて、該保持時間の長さを変更することを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置である。
【００２５】
本発明に従えば、スイッチの接点の開閉周期に応じて、スイッチの接点が閉状態中に入力信号ラインの入力インピーダンスが低インピーダンス手段により低インピーダンス状態になって腐食防止用の電流が流れる保持時間の長さが変更されるので、たとえば、接点の開閉周期が短くなると保持時間も短くなって、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００２６】
また本発明は、スイッチの接点の開閉状態を判定するための入力信号ラインに接続され、該入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインに接続され、低インピーダンス手段のインピーダンスよりも高いインピーダンスを有する高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
前記低インピーダンス手段は、スイッチの接点に腐食防止電流を供給する電流供給手段であり、
電流供給手段の温度を検出する温度検出手段を含み、
スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスが前記低インピーダンス手段により低インピーダンス状態に保たれ、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスが前記低インピーダンス手段により低インピーダンス状態にされて腐食防止電流が流れるとともに、温度検出手段が検出する電流供給手段の温度に基づき、温度が高くなると該保持時間が短くなることを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置である。
【００２７】
本発明に従えば、温度検出手段によって電流供給手段の温度を検出する。電流供給手段が電流供給による自己発熱で高温になると、スイッチの接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間を短くして、電流供給手段の自己発熱を抑制し、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。
【００３８】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図１８を参照して、本発明の実施形態および参考形態について説明する。各形態で対応する部分は同一の参照符を付し、重複する説明は省略する。また、以下に説明する複数の形態は、組合わせて用いることもできる。
【００３９】
図１は、本発明の第１の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置２０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態の構成は、図２０に示す先行技術の構成とほぼ対応している。すなわち、スイッチ２１は、入力端子２２と接地との間に接続される接点を有し、接点の定格電流容量は、たとえば最大で数Ａ程度である。入力端子２２に与えられる電圧は、入力信号ライン２３を介してＥＣＵなどに入力される。スイッチ２１の接点が閉じているときには、たとえば２００ｍＡに近い大電流が、電流供給回路２４を介して、入力端子２２からスイッチ２１の接点に、電源ライン２５からパルス的に供給される。この大電流経路を流れる電流値は、接点の酸化膜を除去しうる電流として、接点の定格電流容量に応じて設定される。
【００４０】
電流供給回路２４は、制御回路２６から出力される制御信号によって駆動される。制御回路２６は、入力信号ライン２３の電圧を検出し、スイッチ２１の接点が開状態であるときに対応する電圧であれば、電流供給回路２４からスイッチ２１の接点に電流を供給可能な低インピーダンス状態にする制御を行う。なお、制御回路２６の入力および入力信号ライン２３と入力端子２２との間には、入力側に大電流などが流れ込むのを防ぐ保護抵抗２７が接続される。また、スイッチ２１の接点の開閉状態を入力する際の入力インピーダンスを決定する入力抵抗２８が入力端子２２と電源ライン２５との間に接続されている。入力抵抗２８の抵抗値をＲａとし、電流供給回路２４のインピーダンスをＲｂとし、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値をＲｃとすると、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃである。
【００４１】
本参考形態では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に定格電流容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流供給回路２４を設けている。電流供給回路２４は、接点に電流を供給するか否かを制御可能であり、電流供給時には、接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなり、接点が閉状態であれば、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能な電流供給手段とし機能する。
【００４２】
電流供給回路２４は、制御回路２６によって制御される。制御回路２６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が開状態のとき、および閉状態中に予め定められる保持時間には、電流供給回路２４から接点への電流供給を行い、接点が閉状態で該保持時間外では、電流供給回路２４から接点への電流供給を遮断するように制御する制御手段として機能する。このような電流供給回路２４は、定電流回路とスイッチ回路との組合わせや、図２０に示すような低抵抗１４とスイッチングトランジスタ１１との直列回路など、種々の構成で実現することができる。また、電流供給回路２４は低損失化されるので、制御回路２６や入力抵抗２８などを含めて、本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置２０は、半導体集積回路として容易にＩＣ化することができる。
【００４３】
図２は、スイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本実施形態では、基本的にスイッチ２１の接点が開状態のオフ時に、電流供給回路２４は電流供給が可能な状態となるように、制御回路２６によって制御される。ただし、スイッチ２１の接点は開状態であるので、接点には大電流は流れず、消費電力等が増大することはない。スイッチ２１が時刻ｔ１０でオフからオンになると、制御回路２６は、電流供給回路２４の電流供給状態を、さらに保持時間ｔｄの期間だけ継続する。この保持時間ｔｄの期間には、スイッチ２１の接点が閉状態になるので、接点に大電流が流れる。電流供給回路２４のインピーダンスＲｂを、接点に酸化膜破壊用に充分な電流を流すように設定しておけば、保持時間ｔｄの間に、腐食防止を図ることができる。保持時間ｔｄが経過すると、時刻ｔ１１まで、接点が閉状態の間は、電流供給回路２４が電流供給を停止するように、制御回路２６によって制御される。時刻ｔ１１でスイッチ２１の接点がオンからオフに遷移すれば、制御回路２６は電流供給回路２４を制御して、電流供給状態に戻す。なお、保持時間ｔｄは、時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの間に設ければよい。
【００４４】
図３は、図２に示すような制御状態に対応する入力端子２２から見た入力インピーダンスの変化を示す。時刻ｔ１０でスイッチ２１の接点が閉状態になる前、および時刻ｔ１１以降は、スイッチ２１の接点は開状態であり、入力インピーダンスは、電流供給回路２４のインピーダンスＲｂとほぼ等しくなる。時刻ｔ１０保持時間ｔｄの間は、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値Ｒｃと電流供給回路２４のインピーダンスＲｂとが並列に接続されていると考えることができ、並列のインピーダンスは、Ｒｂ≫Ｒｃであるので、Ｒｃと見なすことができる。保持時間ｔｄが過ぎてから、時刻ｔ１１に達するまでの接点の閉状態の期間では、電流供給回路２４からの電流供給が停止し、入力インピーダンスは、スイッチ２１の接点の閉状態での抵抗値Ｒｃと入力抵抗２８の抵抗値Ｒａとの並列状態での合成抵抗値となる。ただし、Ｒａ≫Ｒｂ≫Ｒｃであるので、合成抵抗値はＲｃと見なすことができる。時刻ｔ１１以降は、電流供給回路２４が電流供給状態となり、そのインピーダンスＲｂが入力インピーダンスとなる。
【００４５】
以上のように、本参考形態では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に通電容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流供給回路２４と制御回路２６とを設ける。電流供給回路２４は、スイッチ２１の接点に電流を供給するか否かを制御可能であり、電流供給時には、接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなり、接点が閉状態であれば、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能である。制御回路２６は、接点の開閉状態を検知して、時刻ｔ１０以前および時刻ｔ１１以降で接点が開状態のとき、および時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの閉状態中に予め定められる保持時間ｔｄには、電流供給回路２４から接点への電流供給を行い、接点が時刻ｔ１０から時刻ｔ１１までの閉状態で、保持時間ｔｄ外では、電流供給回路２４から接点への電流供給を遮断するように制御する。
【００４６】
接点が開状態のときには、電流供給回路２４は接点の開閉状態入力用の入力インピーダンスＲａよりも低いインピーダンスＲｂとなるけれども、スイッチ２１の接点は開状態であるので、大電流は流れず、消費電力の増加や発熱の増加を招くことはない。接点の開状態でも入力端子２２の入力インピーダンスが低いので、耐ノイズ性などを向上させ、開閉状態を検出する信頼性を高めることができる。スイッチ２１の接点が閉状態となれば、保持時間ｔｄだけ電流供給回路２４から接点に腐食防止用の電流が供給され、消費電力や発熱の増大を避けながら、接点の酸化膜を除去して腐食防止を有効に図ることができる。
【００４７】
また本参考形態では、制御回路２６が保持時間ｔｄを、スイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した時刻ｔ１０後に継続して設定している。スイッチ２１の接点が開状態のときから連続して、時刻ｔ１０で接点が開状態から閉状態に遷移した後で保持時間ｔｄが経過するまで、電流供給回路２４から低インピーダンス状態で接点に電流を供給すればよいので、制御回路２６による電流供給回路２４の制御を簡易化することができる。
【００４８】
図４は、本発明の第２の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本参考形態で、制御回路２６は、電流供給回路２４からの電流供給を、時刻ｔ２０でスイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した後で第１の保持時間ｔｄだけ継続した後、さらに電流供給回路２４からの電流供給を定期的に繰返す。すなわち、時刻ｔ２１や時刻ｔ２２で電流供給を第２の保持時間ｔｅだけそれぞれ行い、時刻ｔ２３でスイッチ２１の接点が閉状態から開状態に遷移すると、電流供給状態に戻る。スイッチ２１の接点の閉状態が長時間継続するときには、第２の保持時間ｔｅが繰返して設定され、腐食防止用の電流によって酸化膜の生成を防ぐことができる。
【００４９】
図５は、本発明の第３の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示す。本参考形態で、制御回路２６は、電流供給回路２４からの電流供給を、時刻ｔ３０でスイッチ２１の接点が開状態から閉状態に遷移した直後は一旦停止し、前述の保持時間ｔｄをこの一旦停止した後に設定する。時刻ｔ３０でスイッチ２１の接点を開状態から閉状態に遷移させる際に、一旦電流供給回路２４から接点への電流供給を停止するので、接点の開閉状態が切換えられる際の突入電流によって、接点が溶着することを防止することができる。
【００５０】
図６は、本発明の第４の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、電流供給回路２４から接点に供給される負荷電流の変化とを示す。本参考形態で、電流供給回路２４からの電流供給は、急激な電流変化を抑えて行われる。図６（ａ）は、電流供給回路２４から流れ出す電流量をリニアに増減させる状態を示す。積分回路などを利用すれば、このようなリニアな変化を生じさせることができる。図６（ｂ）は、電流供給回路２４から流れ出す電流量を段階的に増減させる状態を示す。これらの電流変化は、電流供給回路２４がスイッチ２１の接点への電流供給の状態を変化させる際に、インピーダンスの変化を緩慢化して行うことによって実現される。電流供給回路２４からスイッチ２１の接点に供給される電流は、電流供給回路２４のインピーダンスの変化が緩慢化されているので、急激に変化することがなく、ノイズ発生を抑制することができる。また、接点が開閉する際に火花などが発生しにくくなり、接点の溶着なども生じにくくすることができる。
【００５１】
図７は、本発明の実施の第１形態として、スイッチの接点腐食防止装置３０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態では、タイマ３１が、スイッチ２１の接点の開閉周期を監視し、制御回路２６はその開閉周期を次の保持時間ｔｄに反映させて、保持時間ｔｄの長さを調整する。図８および図９は、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２４から供給される電流の変化とを示す。タイマ３１は、保持時間ｔｄが設定されるので、設定されている保持時間ｔｄを認識して、スイッチ２１の接点の開閉についての時間的な情報を収集する開閉時間情報収集手段としても機能する。すなわち、タイマ３１は接点の開閉周期を監視し、制御回路２６はその開閉周期に応じて、保持時間ｔｄの長さを変更する。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置３０も容易にＩＣ化することができる。
【００５２】
図８では、スイッチ２１がオンになる周期が長いので、オフからオンに遷移した時点で保持時間ｔｄ２が設定される頻度が小さくなる。このために、保持時間ｔｄ２を長くし、腐食防止が充分に行われるようにする。図９では、スイッチ２１がオンになる周期が短いので、オフからオンに遷移した時点で保持時間ｔｄ３が設定される頻度が大きくなる。このために、保持時間ｔｄ３を短くして、電流供給回路２４の低損失化を図る。本実施形態では、タイマ３１に設定されるスイッチ２１の接点の開閉についての時間的な情報を収集して、電流供給回路２４から接点に腐食防止用の電流を流す保持時間ｔｄ２、ｔｄ３の長さを変更する。接点の開閉周期が長くなると保持時間ｔｄ２も長くして腐食防止を確実に図り、接点の開閉周期が短くなると保持時間ｔｄ３も短くすることによって、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００５３】
図１０は、本発明の実施の第２形態として、スイッチの接点腐食防止装置４０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態では、電流供給回路２４の温度を検出する温度検出部４１を設ける。制御回路２６は、温度検出部４１が検出する温度が高くなると、保持時間ｔｄ，ｔｄ２，ｔｄ３，ｔｅが短くなるように制御する。温度検出部４１によって検出する電流供給回路２４の温度が、電流供給回路２４の電流供給による自己発熱などで高温になると、スイッチ２１の接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間ｔｄ，ｔｄ２，ｔｄ３，ｔｅを短くして、電流供給回路２４の自己発熱を抑制し、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置４０も容易にＩＣ化することができる。
【００５４】
図１１は、本発明の第５の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置５０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態の制御回路２６は、アナログ／デジタル変換を行うＡ／Ｄ回路５１によって、入力信号ライン２３の電圧値を検出し、スイッチ２１の接点の腐食状態を判定する。Ａ／Ｄ回路５１は、スイッチ２１の接点が閉状態となるときの接点のインピーダンスを検出するインピーダンス検出手段として機能する。接点の腐食が進行すればインピーダンスが上昇し、接点に生じる電圧も高くなる。制御回路２６は、Ａ／Ｄ回路５１によって検出される接点の閉状態のインピーダンスの高低に応じて、保持時間ｔｄ等を長短に変更するように制御する。スイッチ２１の接点について、酸化が進行すると、閉状態でのインピーダンスが高くなるので、電流供給回路２４から腐食防止用の電流を供給する保持時間ｔｄ等を長くして、酸化膜の確実な除去を図ることができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置５０も容易にＩＣ化することができる。
【００５５】
図１２は、本発明の第６の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置６０の概略的な電気的構成を示す。本実施形態の制御回路２６は、外部のマイコン６１やＥＣＵ、プログラムコントローラなどから、たとえば自動車各種制御に用いる使用環境などについての情報を収集する。すなわち、マイコン６１などは、スイッチ２１の使用環境に関する情報を収集する使用環境情報収集手段として機能する。制御回路２６は、マイコン６１などによって収集される使用環境に応じて、保持時間ｔｄ等を設定する頻度を変更する。たとえば周囲温度などの情報や、自動車でのエンジン始動時などに関する情報などを収集し、使用環境に適合して、酸化膜除去用の腐食防止電流を流す保持時間ｔｄ等を変更し、スイッチ２１の接点の腐食防止を有効に図ることができる。本参考形態のスイッチの接点腐食防止装置６０も容易にＩＣ化することができる。
【００５６】
図１３は、本発明の第７の参考形態として、各形態で示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６の制御による電流供給回路２４のインピーダンス変化とを示す。本実施形態で、電流供給回路２４からの電流供給は、時刻ｔ４０でスイッチ２１がオフからオンになるときに保持時間ｔｄ１で継続し、時刻ｔ４１でスイッチ２１オンからオフになるときは、遅延時間ｔｄ４だけ遅れて電流供給状態に変化する。機械的な接点で形成されるスイッチ２１では、オンとオフとの開閉状態の変化の際にチャタリングが生じる。制御回路２６は、接点が閉状態から開状態に遷移しても、接点のチャタリングが収束する時間を含めて予め設定される遅延時間ｔｄ４が経過するまでは、電流供給回路２４の電流供給状態への移行を遅延させる。スイッチ２１の接点が閉状態から開状態に遷移する際にチャタリングが生じて、接点が短時間の繰返しで閉状態になっても、電流供給回路２４が電流供給状態に移行するのは予め設定される遅延時間ｔｄ４が過ぎてからであるので、チャタリングによる瞬間的な大電流の流出を防止することができる。
【００５７】
図１４は、本発明の第８の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置７０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態には、抵抗７１およびコンデンサ７２と、切換えスイッチ７３とを含む電流供給回路７４は、制御回路７６によって切換えスイッチ７３が制御される。切換えスイッチ７３は、機械的な接点を有するリレーなどを使用したり、電子的なスイッチング素子を用いて構成することができる。本実施形態のスイッチの接点腐食防止装置７０も、コンデンサ７２を除いて容易にＩＣ化することができる。コンデンサ７２の容量を数１００ｐＦ以上に大きくする場合は、コンデンサ７２を外付けとしてＩＣ化することができる。
【００５８】
電流供給回路７４では、スイッチ２１の接点の開閉状態に応じた電気的な入力を行う際に、接点に定格電流容量に対応する腐食防止用の電流を流すために、電流を供給するか否かを切換えスイッチ７３で制御可能である。電流供給を行わないときには、コンデンサ７２に電源ライン２５から抵抗７１を介して電荷を蓄える充電を行い、電流供給時にはコンデンサ７２に蓄えられた電荷を放電する。スイッチ２１の接点が閉状態であれば、切換えスイッチ７３を充電側から放電側に切換えることによって、接点に腐食防止用の電流を供給することが可能となる。切換えスイッチ７３の切換えは、制御回路７６によって制御される。制御回路７６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が閉状態のときに、電荷が充電されていれば、電流供給手段７４から接点への電流供給を行うように制御する。
【００５９】
図１５は、図１４のスイッチ２１のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とを示す。制御回路７６は、スイッチ２１の接点の開閉状態を検知して、接点が閉状態のときに、コンデンサ７２に電荷が充電されていれば、コンデンサ７２に蓄えられた電荷を放電して、電流供給回路７４から接点への電流供給を行うように制御する。接点が開状態のときには、電流供給回路７４のコンデンサ７２は電荷を蓄える充電を行う。スイッチ２１の接点が閉状態となって、コンデンサ７２に充分な電荷が蓄えられていれば、蓄えられた電荷を放電して、接点に腐食防止用の電流を供給する。電流供給回路７４からスイッチ２１の接点に、腐食防止用の電流を間欠的に供給するので、消費電力や発熱の増大を避けながら、接点の酸化膜を除去して腐食防止を有効に図ることができる。
【００６０】
図１６は、本発明の第９の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置８０の概略的な電気的構成を示す。本参考形態では、電流供給回路２４に電源ライン２５Ａから、スイッチ２１の開閉状態の入力のためなど、他の回路部分に電源ライン２５Ｂから印加する電圧よりも高い電圧を印加する。たとえば自動車にスイッチの接点腐食防止装置８０を含むＥＣＵなどを搭載する場合、電源ライン２５Ａには、発電機やバッテリから直接供給される＋Ｂラインからの電圧を与える。電源ライン２５Ｂには、ロジック回路用に安定化された電圧を与える。
【００６１】
図１７および図１８は、本参考形態で、制御回路２６が電流供給回路２４を制御して、図３および図４に示すように保持時間ｔｄ，ｔｅを設定するときのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示す。各保持時間ｔｄ，ｔｅでは接点に高電圧が印加されるので、酸化膜などが形成されていても、その破壊をしうる大電流を容易に流すことができる。
【００６７】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、スイッチの接点の開閉に周期に応じて、たとえば接点の開閉周期が短くなると保持時間も短くして、省エネルギや発熱低減を図り、しかも腐食防止も確実に行うことができる。
【００６８】
また本発明によれば、電流供給手段が電流供給による自己発熱で高温になると、スイッチの接点に腐食防止用の電流を供給する保持時間を短くして、熱損失による素子破壊などからの保護を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置２０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図２】図１の参考形態で、スイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図３】図２に示すような制御状態に対応して、入力端子２２から見た入力インピーダンスの変化を示すタイムチャートである。
【図４】本発明の第２の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図５】本発明の第３の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６による電流供給回路２４の制御状態とを示すタイムチャートである。
【図６】本発明の第４の参考形態として、図１に示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、電流供給回路２４から接点に供給される負荷電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図７】本発明の実施の第１形態として、スイッチの接点腐食防止装置３０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図８】図７の実施形態で、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２６から供給される電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図９】図７の実施形態で、スイッチ２１の接点の開閉状態と、制御回路２６による制御で電流供給回路２６から供給される電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図１０】本発明の実施の第２形態として、スイッチの接点腐食防止装置４０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１１】本発明の第５の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置５０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の第６の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置６０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１３】本発明の第７の参考形態として、各形態で示す構成を用いて行うスイッチ２１の開閉操作と、制御回路２６の制御による電流供給回路２４のインピーダンス変化とを示すタイムチャートである。
【図１４】本発明の第８の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置７０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１５】図１４の参考形態で、スイッチ２１のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とを示すタイムチャートである。
【図１６】本発明の第９の参考形態として、スイッチの接点腐食防止装置８０の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１７】図１６の参考形態でのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示すタイムチャートである。
【図１８】図１６の参考形態でのスイッチ２１操作のオン・オフ操作と、接点に流れる負荷電流の変化とをそれぞれ示すタイムチャートである。
【図１９】従来から、大電流用スイッチを使用して、電子制御の入力信号を得るために用いられている基本的な回路構成を示すブロック図である。
【図２０】先行技術の基本的な電気的構成を示すブロック図である。
【図２１】図２０の先行技術で、スイッチ１の接点の開閉状態と、制御回路１２によるスイッチングトランジスタ１１の制御状態を示すタイムチャートである。
【図２２】図２１のようにスイッチ１を開閉させる操作を行うときに、入力端子２から見た入力インピーダンスを示すタイムチャートである。
【符号の説明】
２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０ スイッチの接点腐食防止装置
２１ スイッチ
２２ 入力端子
２３ 入力信号ライン
２４，７４ 電流供給回路
２５，２５Ａ，２５Ｂ 電源ライン
２６，７６ 制御回路
３１ タイマ
４１ 温度検出部
５１ Ａ／Ｄ回路
６１ マイコン
Claims (2)
- スイッチの接点の開閉状態を判定する入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインの入力インピーダンスが該低インピーダンス状態よりも高い高インピーダンス状態で、接点の開閉状態を判定可能な高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
低インピーダンス手段は、スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態に保ち、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態にして腐食防止電流を流すとともに、接点の開閉周期に応じて、該保持時間の長さを変更することを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置。 - スイッチの接点の開閉状態を判定する入力信号ラインの入力インピーダンスを、閉状態のスイッチの接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンス状態にしうる低インピーダンス手段と、
該入力信号ラインの入力インピーダンスが該低インピーダンス状態よりも高い高インピーダンス状態で、接点の開閉状態を判定可能な高インピーダンス手段とを備えるスイッチの腐食防止装置において、
スイッチの接点に腐食防止電流を供給する電流供給手段と、
電流供給手段の温度を検出する温度検出手段とを含み、
低インピーダンス手段は、スイッチの接点が開状態の間、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態に保ち、スイッチの接点が閉状態中に予め定められる保持時間には、入力信号ラインの入力インピーダンスを該低インピーダンス状態にして腐食防止電流を流すとともに、温度検出手段が検出する電流供給手段の温度に基づき、温度が高くなると該保持時間を短くすることを特徴とするスイッチの接点腐食防止装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001150927A JP3587802B2 (ja) | 2001-05-21 | 2001-05-21 | スイッチの接点腐食防止装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001150927A JP3587802B2 (ja) | 2001-05-21 | 2001-05-21 | スイッチの接点腐食防止装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002343171A JP2002343171A (ja) | 2002-11-29 |
| JP3587802B2 true JP3587802B2 (ja) | 2004-11-10 |
| JP2002343171A5 JP2002343171A5 (ja) | 2005-02-03 |
Family
ID=18995867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001150927A Expired - Fee Related JP3587802B2 (ja) | 2001-05-21 | 2001-05-21 | スイッチの接点腐食防止装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3587802B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022100726A (ja) * | 2020-12-24 | 2022-07-06 | 株式会社クボタ | 電子制御装置、作業車両および入力回路 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3625472B1 (ja) | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止装置 |
| JP3625473B1 (ja) | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止方法および装置 |
| JP3625474B1 (ja) | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止回路 |
| JP2006310287A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-11-09 | Fujitsu Ten Ltd | 腐蝕防止方法、腐蝕防止装置、信号処理装置および制御ユニット |
| CN100561624C (zh) | 2005-03-30 | 2009-11-18 | 富士通天株式会社 | 防止腐蚀装置 |
| JP4451855B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2010-04-14 | 富士通テン株式会社 | 信号処理装置および制御ユニット |
| FR2899373B1 (fr) * | 2006-04-04 | 2013-03-15 | Airbus France | Dispositif de detection d'etat d'un interrupteur |
| JP4495124B2 (ja) * | 2006-08-31 | 2010-06-30 | 富士通テン株式会社 | 信号処理装置、信号処理装置を備える車両用制御ユニットおよび車両用制御ユニットを備える車両 |
| JP5076415B2 (ja) * | 2006-09-14 | 2012-11-21 | 日本精工株式会社 | 電動パワーステアリング制御装置 |
| JP2008298524A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Denso Corp | 回路試験装置及びその運用方法 |
| JP5163723B2 (ja) * | 2010-09-24 | 2013-03-13 | 株式会社デンソー | スイッチ監視装置、制御装置および制御方法 |
| JP6153061B2 (ja) * | 2013-05-10 | 2017-06-28 | 日本精機株式会社 | シフトポジション表示装置 |
| JP6218714B2 (ja) * | 2014-09-26 | 2017-10-25 | 三菱電機株式会社 | 保護継電装置 |
| JP6851284B2 (ja) * | 2017-08-01 | 2021-03-31 | 株式会社Ｊｖｃケンウッド | 電子機器 |
| CN113923555B (zh) * | 2021-10-13 | 2024-02-06 | 维沃移动通信有限公司 | 耳机的充电控制电路及充电控制方法 |
| KR102644289B1 (ko) * | 2023-09-18 | 2024-03-06 | 인터콘시스템스 주식회사 | 열차용 디지털 신호 입력 회로 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54122069U (ja) * | 1978-02-16 | 1979-08-27 | ||
| JPS63237319A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | 株式会社 三ツ葉電機製作所 | モ−タ制御用スイツチ接点の信頼性確保装置 |
| JPH01281621A (ja) * | 1988-05-09 | 1989-11-13 | Nippon Denso Co Ltd | 車両のスイッチ用電流供給回路 |
| JPH02278620A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-14 | Oki Electric Ind Co Ltd | 無電圧接点入力方式 |
| JPH03205710A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-09 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 自動二輪車アンチロックシステムの電源制御電磁リレーの接点浄化回路 |
| JPH0433220A (ja) * | 1990-05-28 | 1992-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | 接点入力回路 |
| JP2879807B2 (ja) * | 1992-07-30 | 1999-04-05 | 矢崎総業株式会社 | スイッチの腐食防止回路 |
| JPH076650A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | 無電圧接点信号変換装置 |
| JPH0714463A (ja) * | 1993-06-24 | 1995-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 接点信号判別装置 |
| JPH0715301A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Fujitsu Ten Ltd | 遅延回路 |
| JP2001084860A (ja) * | 1999-09-10 | 2001-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 接点の電流制御装置 |
-
2001
- 2001-05-21 JP JP2001150927A patent/JP3587802B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022100726A (ja) * | 2020-12-24 | 2022-07-06 | 株式会社クボタ | 電子制御装置、作業車両および入力回路 |
| US11636988B2 (en) | 2020-12-24 | 2023-04-25 | Kubota Corporation | Electronic control device, work vehicle, and input circuit |
| JP7386784B2 (ja) | 2020-12-24 | 2023-11-27 | 株式会社クボタ | 電子制御装置、作業車両および入力回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002343171A (ja) | 2002-11-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3587802B2 (ja) | スイッチの接点腐食防止装置 | |
| KR100679544B1 (ko) | 접점부식 방지장치 | |
| JP5113741B2 (ja) | 電池パックおよびその断線検知方法 | |
| KR100293742B1 (ko) | 과충전으로부터 전지셀을 보호하기 위한 장치 및 그의 방법 | |
| JP2563215B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US6340880B1 (en) | Method of protecting a chargeable electric cell | |
| CA2986553C (en) | Power supply control apparatus and method thereof | |
| US7248053B2 (en) | One time operating state detecting method and apparatus | |
| JPH07236234A (ja) | 過電圧保護装置 | |
| JPH05205781A (ja) | 電池の過放電防止装置 | |
| JP5541743B2 (ja) | コンタクタの溶着検出装置 | |
| US11251636B2 (en) | Power storage device and vehicle comprising same | |
| JP2002343171A5 (ja) | ||
| KR102357373B1 (ko) | 배터리 시스템 | |
| JP2001216878A (ja) | スイッチ状態監視回路及びスイッチ | |
| JP2000504551A (ja) | 自動車の電子システムにおける電圧コントローラの配線 | |
| JPS605090B2 (ja) | 車両用点滅装置 | |
| JP2005253154A (ja) | 電源装置 | |
| JP3838708B2 (ja) | リチウムイオン電源装置 | |
| JPH07243370A (ja) | 内燃機関用点火装置 | |
| CN111971568A (zh) | 诊断装置、蓄电装置及诊断方法 | |
| JPH0662530A (ja) | 車両用電源電圧切換装置 | |
| CN117394504B (zh) | 蓄电池充电电路及装置 | |
| US20240201242A1 (en) | Device for monitoring a power distributor of a motor vehicle | |
| JPH10201078A (ja) | 保護回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040226 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040323 |
|
| A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20040226 |
|
| A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20040310 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040521 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040803 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040810 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090820 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100820 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100820 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110820 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110820 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120820 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130820 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140820 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |