CN100561624C - 防止腐蚀装置 - Google Patents

Abstract

提供能够抑制过剩地接通防止腐蚀电流的防止腐蚀电流。可变阻抗单元(22)与连接在接点(14)上的检测导线(17)电连接。可变阻抗单元(22)的构成方式为，可以在将防止腐蚀电流(IA)接通在检测导线(17)中的低阻抗、和将连接检测电流(IB)接通在检测导线(17)中的高阻抗之间进行切换。比较切换部(12)将检测导线(17)的电位与腐蚀电位(VX)以及恢复电位(VR)进行比较，根据其比较结果，切换可变阻抗单元(22)。

Description

防止腐蚀装置

技术领域

本发明涉及一种通过接通用于去除接点腐蚀的防止腐蚀电流来去除接点的腐蚀、防止接点腐蚀的防止腐蚀装置。

在本发明中，所谓“防止腐蚀电流”，与用于去除接点腐蚀的电流是相同的含意。

背景技术

在可以检测开关接点的连接状态的装置中，随着因接点腐蚀引起的开关电阻的增加，产生连接状态的误判断和误动作的问题。近年来，用于去除接点腐蚀的防止腐蚀装置得到实际应用。

图29是简要表示现有技术的防止接点腐蚀装置1的电路图。防止接点腐蚀装置1利用比较器6对检测导线5的电位和规定电位VX进行比较，该检测导线5将接地的开关2的接点3和电子控制部4进行电连接。如果比较器6检测出检测导线5的电位比规定电位VX高，则检测出接点3的腐蚀。如果检测出接点3的腐蚀，则比较器6使其输出为Lo，将开关元件9切换到将端子之间导通的导通状态，在接点3上接通用于去除腐蚀的防止腐蚀电流，上述开关元件以与电阻7并联的方式与检测导线5电连接，且与电源8电连接。

图30是表示检测导线5的电位随时间变化的曲线。图31是表示比较器6的输出随时间变化的曲线。图30的纵轴表示电位，横轴表示时间，图31的纵轴表示比较器6的输出的Hi和Lo，横轴表示时间。如果接点3产生腐蚀，则在防止接点腐蚀装置1中，检测导线5的电位上升。如果检测导线5的电位大于规定电位VX，则比较器6使其输出为Lo，将开关元件9切换到导通状态，在检测导线5中接通防止腐蚀电流，使接点3的腐蚀去除。如果去除了接点3的腐蚀，则检测导线5的电位下降。如果检测导线5的电位小于规定电位VX，则比较器6使其输出为Hi，使开关元件9成为端子之间不导通的非导通状态。由此，通过电阻7，在检测导线5中接通用于检测接点连接状态的比防止腐蚀电流小的连接检测电流(例如参照专利文献1)。

专利文献1：CN 1681058A号公报。

发明内容

在现有技术的防止接点腐蚀装置1中，接点3的腐蚀的去除即接点的电阻的下降，是为了防止设置防止接点腐蚀装置1的装置(以下简称“装置”)的误判断和误动作。如果比较器6检测出接点3的腐蚀，则直到检测导线5的电位小于规定电位VX之前，在检测导线中使防止腐蚀电流通电，去除接点3的腐蚀。换句话说，直到变成检测导线5的电位小于规定电位VX的电阻(以下称之为“规定电阻”)之前，持续去除接点3的腐蚀。即使在接点3的电阻大于规定电阻的状态下，也去除腐蚀到可以防止装置的误判断和误动作的程度。也就是说，在防止接点腐蚀装置1中，过剩地通过防止腐蚀电流，去除接点3的腐蚀，使接点3的电阻下降。防止腐蚀电流的通电有可能使装置误判断和误动作，希望缩短其通电时间。这样过剩地通过防止腐蚀电流，会缩短防止接点腐蚀装置的寿命。

本发明的目的是提供一种防止腐蚀方法，其抑制过剩地通过防止腐蚀电流。

本发明是一种防止接点腐蚀方法，其特征在于，将被检测值与腐蚀临界值进行比较，检测接点的腐蚀，将所述被检测值与恢复临界值进行比较，检测接点的恢复，如果检测出接点的腐蚀，则将防止腐蚀电流接通到与所述接点电连接的检测导线中，如果检测出接点的恢复，则将用于检测所述接点的连接状态的电流接通到所述检测导线中。

此外，本发明是一种防止接点腐蚀装置，其特征在于，具有：检测导线，其被连接在接点上；可变阻抗单元，其与所述检测导线连接，可以切换：(i)为了将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中而使用的第1阻抗、以及(ii)为了将用于检测所述接点的连接状态的电流接通到所述检测导线中而使用的第2阻抗；以及比较切换单元，其将被检测值与腐蚀临界值进行比较，并将该被检测值与恢复临界值进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元，所述第1阻抗比所述第2阻抗低。

此外，本发明的特征在于，所述可变阻抗单元包括：阻抗单元，其连接在所述检测导线上，具有第2阻抗；以及开关元件，其以与阻抗单元并联的方式连接在所述检测导线上，可以切换：(i)开关元件的端子间导通的导通状态、以及(ii)开关元件的端子间不导通的非导通状态，并具有第3阻抗，所述第2阻抗比所述第3阻抗高。

此外，本发明的特征在于，所述被检测值是所述检测导线的电位，所述腐蚀临界值是腐蚀电位，所述恢复临界值是恢复电位，所述比较切换单元将所述检测导线的电位与腐蚀电位进行比较，将所述检测导线的电位与恢复电位进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元。

此外，本发明的特征在于，所述被检测值包含所述检测导线的电位和流过所述检测导线的电流量，所述腐蚀临界值是腐蚀电位，所述恢复临界值是恢复电流量，所述比较切换单元将所述检测导线的电位与腐蚀电位进行比较，将流过所述检测导线的电流量与恢复电流量进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元。

此外，本发明的特征在于，所述比较切换单元具有根据所述检测导线的电位，改变所述恢复电位的功能。

此外，本发明的特征在于，还具有暂停单元，其在满足以下两个条件中的至少任一个时，使防止腐蚀电流的通电暂停规定的暂停时间，这两个条件是：(1)所述检测导线中接通防止腐蚀电流的时间大于或等于预先确定的时间；(2)所述检测导线中接通的防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流量。

此外，本发明的特征在于，还具有：计数单元，其对将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中的通电动作的次数、以及暂停单元使通电暂停的暂停动作的次数中的至少任一个进行计数；以及停止单元，其在所述计数单元的计数结果大于或等于规定次数的情况下，停止防止腐蚀电流的通电。

此外，本发明的特征在于，还具有阻抗降低单元，其在进行使防止腐蚀电流的通电暂停的暂停动作的情况下，使所述接点的输入阻抗降低。

此外，本发明的特征在于，还具有阻抗降低单元，其在(i)暂停防止腐蚀电流的通电的暂停动作、以及(ii)停止通电的停止动作中的至少任一个进行的情况下，使所述接点的输入阻抗降低。

此外，本发明的特征在于，接点具有开关的接点，阻抗单元具有电阻器，开关元件具有场效应三极管，比较切换单元具有比较器，该比较器具有磁滞特性。

本发明是一种防止接点腐蚀装置，其特征在于，具有：检测导线，其与接点连接；可变阻抗单元，其与所述检测导线连接，可以切换：(i)为了将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中而使用的第1阻抗、以及(ii)为了将用于检测所述接点的连接状态的电流接通到所述检测导线中而使用的第2阻抗；比较切换单元，其将被检测值和用于判断接点的腐蚀和恢复的腐蚀恢复临界值进行比较，根据其比较的结果，切换所述可变阻抗单元；以及暂停单元，其在满足以下两个条件中的至少任一个时，使防止腐蚀电流的通电暂停规定的暂停时间，这两个条件是：(1)所述检测导线中接通防止腐蚀电流的时间大于或等于预先确定的时间；(2)所述检测导线中接通的防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流量。

此外，本发明的特征在于，还具有：计数单元，其对将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中的通电动作的次数、以及暂停单元使通电暂停的暂停动作的次数中的至少任一个进行计数；以及停止单元，其在所述计数单元的计数结果大于或等于规定次数的情况下，停止防止腐蚀电流的通电。

此外，本发明的特征在于，还具有阻抗降低单元，其在进行使防止腐蚀电流的通电暂停的暂停动作的情况下，使所述接点的输入阻抗降低。

此外，本发明的特征在于，还具有阻抗降低单元，其在(i)暂停防止腐蚀电流的通电的暂停动作、以及(ii)停止通电的停止动作中的至少任一个进行的情况下，使所述接点的输入阻抗下降。

本发明是一种电子设备，其特征在于，其具有防止接点腐蚀装置，该装置具有：接点；检测导线，其与该接点连接；开关，其与该检测导线连接；阻抗元件，其以与该开关并联的方式连接在所述检测导线上，具有比所述开关的阻抗大的阻抗；以及比较器，其对所述检测导线的电位和预先确定的第1电位进行比较，且对所述检测导线的电位和比所述第1电位大的预先确定的第2电位进行比较，所述开关根据来自于比较器的比较结果输出，进行闭合、断开。

发明的效果

根据本发明，将被检测值与腐蚀临界值和恢复临界值进行比较，检测接点的腐蚀和恢复。如果检测出接点的腐蚀，则将防止腐蚀电流接通到与接点连接的检测导线中。如果检测出接点恢复，则将用于检测接点的连接状态的电流接通到检测导线中。由此，可以分别检测接点的腐蚀和恢复，可以抑制在恢复到可以检测出接点的连接状态的状态的接点中，接通过剩的防止腐蚀电流。因此，可以抑制误动作和接点连接状态的误状态的发生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以可以比现有技术的防止接点腐蚀装置寿命长。

根据本发明，如果将可变阻抗单元切换到低阻抗，则在检测导线中接通防止腐蚀电流，如果将可变阻抗单元切换到高阻抗，则在检测导线中接通用于检测接点的连接状态的电流。比较切换单元将被检测值与腐蚀临界值和恢复临界值进行比较，根据其比较的结果，切换可变阻抗单元。由此，可以分别检测出接点腐蚀和恢复，可以抑制在恢复到可以检测接点的连接状态的接点中接通过剩的防止腐蚀电流。因此，可以抑制接点连接状态的误判断以及设置防止接点腐蚀装置的装置(以下简称为“装置”)的误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以比现有技术的防止接点腐蚀装置寿命长。

根据本发明，阻抗单元和开关元件以并联的方式连接到检测导线中。通过将开关元件切换到导通状态，将可变阻抗单元切换到低阻抗，通过将开关元件切换到非导通状态，将可变阻抗单元切换到高阻抗。由此，能够实现可以切换低阻抗和高阻抗的可变阻抗单元。

根据本发明，腐蚀临界值是与作为被检测值的检测导线的电位进行比较，可以判断接点的腐蚀的腐蚀电位。恢复临界值是与作为被检测值的检测导线的电位进行比较，可以判断接点的恢复的恢复电位。由此，通过检测导线的电位和腐蚀电位、恢复电位之间的比较，可以实现接点的腐蚀和恢复的判断。

根据本发明，腐蚀临界值是与包括在被检测值中的检测导线的电位进行比较，可以判断接点的腐蚀的腐蚀电位。恢复临界值是与包括在被检测值中的检测导线的电流量进行比较，可以判断接点的恢复的恢复电流量。由此，通过检测导线的电位和腐蚀电位、恢复电流量之间比较，可以实现接点的腐蚀和恢复的判断。

根据本发明，比较替换单元根据检测导线的电位，使恢复电位改变。由此，与单一地确定恢复电位的情况相比，可以抑制在检测导线中接通过剩的防止腐蚀电流。因此，还可以抑制接点连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以比现有技术的防止接点腐蚀装置寿命长。

根据本发明，如果满足以下条件中的至少任一个，则暂停单元使接通电流暂停规定的暂停时间，这些条件是，(1)防止腐蚀电流接通的时间大于或等于预先确定的时间；(2)防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流。因此通过使防止腐蚀电流的通电在暂停时间内暂停，可以抑制长时间持续流过防止腐蚀电流，即可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流。因此，可以抑制接点连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以寿命可以更长。

根据本发明，如果将可变阻抗单元切换到低阻抗，则在检测导线中接通防止腐蚀电流，如果将可变阻抗单元切换到高阻抗，则在检测导线中接通用于检测接点的连接状态的电流。比较切换单元将被检测值与腐蚀恢复临界值进行比较，根据其比较的结果切换可变阻抗单元。如果满足以下条件中的至少任一个，则利用暂停单元使接通电流暂停规定的暂停时间，这些条件为，(1)接通防止腐蚀电流的时间大于或等于预先确定的时间；(2)防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流。因此，通过使接通防止腐蚀电流在暂停时间内暂停，可以抑制长时间连续流过防止腐蚀电流，即可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流。因此，可以抑制接点的连接状态的误判断以及装置的误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以防止接点腐蚀装置的寿命可以延长。

根据本发明，利用计数单元，对接通防止腐蚀电流的通电动作的次数、和暂停单元使通电暂停的暂停动作次数中的至少任一个进行计数。如果计数结果大于或等于规定次数，则利用暂停单元使防止腐蚀电流的通电停止。由此，通过反复通电动作和暂停动作，可以抑制在检测导线中累积防止腐蚀电流而过剩地接通。因此，更可以抑制接点连接状态的误判断和装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流，所以防止接点腐蚀装置的寿命还可以延长。

此外，在伴随接点等故障而误判断接点腐蚀的情况下，在现有技术的防止接点腐蚀装置中，持续接通过剩的防止腐蚀电流。因此，伴随着接点等产生故障，现有技术的防止接点腐蚀装置产生故障。在本实施方式的防止接点腐蚀装置中，如果通电动作的次数大于或等于停止次数，则停止接通防止腐蚀电流，可以防止伴随着接点等产生故障，接点腐蚀装置产生故障。

根据本发明，如果进行暂停接通防止腐蚀电流的暂停动作，则利用阻抗下降单元降低接点的输入阻抗。因此，即使进行停止动作，也可以抑制在检测导线中产生噪声。

根据本发明，如果进行暂停动作或停止动作中的任一个，则利用阻抗下降单元见地接点的输入阻抗。因此，即使进行暂停动作，也可以抑制在检测导线中产生噪声。

根据本发明，接点是开关的接点。阻抗单元是电阻器。开关元件是场效应三极管。比较切换单元是具有磁滞特性的比较器。通过采用这样的结构，可以实现防止接点腐蚀装置。

附图说明

图1是简要表示第1实施方式的防止接点腐蚀装置10的电路图。

图2是表示比较切换部12的输出特性的曲线。

图3是表示检测电位V0随时间变化的曲线。

图4是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。

图5是简要表示第2实施方式的防止接点腐蚀装置10A的电路图。

图6是表示检测电位V1随时间变化的曲线。

图7是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。

图8是表示第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B的检测导线17的电流随时间变化的曲线。

图9是表示检测电位V2随时间变化的曲线。

图10是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。

图11是简要表示第4实施方式的防止接点腐蚀装置10C的电路图。

图12是表示检测导线17的电流随时间的变化曲线。

图13是表示检测电位V3随时间变化的曲线。

图14是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。

图15是简要表示第5实施方式的防止接点腐蚀装置10D的电路图。

图16是表示比较切换部12D的输出特性的曲线。

图17是表示检测电位V4随时间变化的曲线。

图18是表示比较切换部12D的输出随时间变化的曲线。

图19是简要表示第6实施方式的防止接点腐蚀装置10E的电路图。

图20是表示检测电位V5随时间变化的曲线。

图21是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。

图22是简要表示第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F的电路图。

图23是表示检测电位V6随时间变化的曲线。

图24是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。

图25是简要表示第8实施方式的防止接点腐蚀装置10G的电路图。

图26是表示防止接点腐蚀装置10G的检测导线17的电流随时间变化的曲线。

图27是表示检测电位V7随时间变化的曲线。

图28是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。

图29是简要表示现有技术的防止接点腐蚀装置1的电路图。

图30是表示检测导线5的电位随时间的变化的曲线。

图31是表示比较器6的输出随时间的变化的曲线。

具体实施方式

下面参照附图，对多个用于实施本发明的实施方式进行说明。在各实施方式中，对应于在前面的实施方式中说明的事项的部分，采用相同的参照标号，有时省略重复的说明。在仅说明一部分结构的情况下，结构的其他部分与前面说明的方式相同。此外，在各实施方式中，并不总是所具体说明部分的组合，特别是，如果组合有障碍，也可以使各实施方式之间局部地组合。

图1是简要表示第1实施方式的防止接点腐蚀装置10的电路图。

图2是表示比较切换部12的输出特性的曲线。图2的纵轴表示比较切换部的输出信号的电平，横轴表示电位。防止接点腐蚀装置10设置检测在包括开关13或连接器的接点14的连接状态的装置中。防止接点腐蚀装置10检测接点14的腐蚀和恢复。如果防止接点腐蚀装置10检测出接点14的腐蚀，则接通用于去除接点14的腐蚀的防止腐蚀电流IA，如果检测出腐蚀的接点14的恢复，则停止防止腐蚀电流IA的接通。防止接点腐蚀装置10是用于去除接点14的腐蚀，使接点14的电阻下降的装置。防止接点腐蚀装置10包括在含有开关13或连接器的电子仪器、例如电子控制装置(Electronic Control Unit，简称ECU)中。防止接点腐蚀装置10与开关13、电源15和微型计算机16电连接。

开关13的构成方式为，如果使开关13闭合，则将包括接点14的2个端子间的电连接状态(以下简称为“接点14的连接状态”)切换到闭合状态，如果使开关13断开，将接点14的连接状态切换到断开状态。开关13的接点14与防止接点腐蚀装置10进行电连接，接点14之外的端子接地。如果开关13切换到闭合，则2个端子间电连接，接点14接地。如果开关13切换到断开，则切断2个端子间的电连接。

电源15具有向防止接点腐蚀装置10提供电源电压VB的功能，该电源电压VB是用于在微型计算机16中对接点14的连接状态进行逻辑判断的恒定电压。电源15是从防止接点腐蚀装置10的外部向防止接点腐蚀装置10提供恒定电压的恒压电源。电源15的低电位一侧接地，高电位一侧与防止接点腐蚀装置10连接。电源15例如是14V。微型计算机16具有对开关13进行逻辑判断的功能。

防止接点腐蚀装置10包括：检测导线17、电源导线18、电阻器19、开关元件20、基准电压源21以及比较切换部12。检测导线17由导电材料构成，其一端与开关13的接点14电连接，另一端与微型计算机16电连接。电源导线18由导电材料构成，电源15与其一端电连接。作为阻抗单元的电阻器19，其一端与检测导线17的接点14和微型计算机16之间电连接，另一端与电源导线18的另一端电连接。电阻器19的构成方式为：可以利用电源15的电源电压VB，向检测导线17接通用于微型计算机16对接点14的连接状态进行逻辑判断的连接检测电流IB。连接检测电流IB例如为1mA。

开关元件20是比电阻器19低的阻抗，包括分别与电源导线18和检测导线17电连接的2个端子。开关元件20具有在将这些端子导通的导通状态和不导通的非导通状态之间进行切换的功能。开关元件20具体地说，由p沟道MOSFET三极管构成。开关元件20以与电阻器19并联的方式，一个端子即漏极20a与电源导线18电连接，另一个端子即源极20b与检测导线17电连接。开关元件20具有在将漏极20a和源极20b导通的导通状态下，利用电源15的电源电压VB，向检测导线17接通用于去除接点14的腐蚀的防止腐蚀电流IA的功能。防止腐蚀电流IA是比连接检测电流IB大的电流，例如为20mA。

在本实施方式中，包括电阻器19和开关元件20，称为可变阻抗单元22。如果使开关元件20为非导通状态，则可变阻抗单元22成为高阻抗，通过电阻器19，向检测导线17接通连接检测电流IB。如果使开关元件20为导通状态，则可变阻抗单元22成为低阻抗，通过开关元件20，向检测导线17接通腐蚀电流。

基准电压源21是分压电阻电路，是将第1分压电阻器23和第2分压电阻器24串联电连接而构成的。但是，基准电压源21并不限于分压电阻电路，也可以是分压电路，只要是可以提供基准电压的结构就可以。基准电压源21的第1分压电阻器23一侧的一端，与电源导线18的比开关元件20靠近电源15一侧电连接，第2分压电阻器24一侧的另一端接地。

作为比较切换单元的比较切换部12是所谓的磁滞比较器，包括比较器25和磁滞电阻器26。比较切换部12的构成方式为：磁滞电阻器26的一端和另一端分别与比较器25的非反转输入端子25a和输出端子25b电连接。比较切换部12的反转输入端子25c与检测导线17电连接，非反转输入端子25a与第1分压电阻器23和第2分压电阻器24之间电连接，输出端子25b通过输入导线27，与开关元件20的栅极20c电连接。

比较切换部12具有对检测导线17的电位(以下简称为“检测电位”)和腐蚀电位VX以及恢复电位VR进行比较的功能。比较切换部12如图2所示，具有如下功能，即，如果检测电位上升而超过腐蚀电位VX，则将输出信号从高电平(以下简称为“Hi”)切换到低电平(以下简称为“Lo”)，如果检测电位下降而小于恢复电位VR，则将输出信号从Lo切换到Hi。作为腐蚀临界值的腐蚀电位VX，是由基准电压源21提供给非反转输入端子25a的基准电位，例如为1V。通过第1分压电阻器23和第2分压电阻器24将电源电压VB进行分压，得到基准电位。作为恢复临界值的恢复电位VR是由磁滞电阻器26确定的电位，例如为4V。腐蚀电位VX具有比恢复电位VR低的电位。

比较切换部12具有利用输出信号切换开关元件20的导通状态和非导通状态的功能。具体地说，比较切换部12具有以下功能，即，将Hi的输出信号输入到开关元件20而将开关元件20切换到非导通状态，将Lo的输出信号输入到开关元件20而将开关元件20切换到导通状态。

微型计算机16具有根据检测电位，对接点14的连接状态进行逻辑判断的功能。换句话说，微型计算机16具有根据从检测导线17输入的信号(以下简称为“输入信号”)，对接点14的连接状态进行逻辑判断的功能。具体地说，微型计算机16判断输入信号的Lo和Hi，在Lo的情况下，判断接点14的连接状态是闭合状态，在Hi的情况下，判断接点14的连接状态是断开状态。

腐蚀电位VX是可以判断接点14的腐蚀的电位，恢复电位VR是可以判断接点14的恢复的电位。具体地说，腐蚀电位VX设定为小于或等于电位VU，该电位VU是在检测导线17中接通连接检测电流IB时，微型计算机16有可能因接点14的腐蚀误判断接点14的连接状态的电位。恢复电位VR设定成如果在接通防止腐蚀电流IA时下降到该电位，则在接通连接检测电流IB时，微型计算机16可靠地判断接点14的连接状态的电位。

图3是表示检测电位V0随时间变化的曲线。图4是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。图3的纵轴表示电位，横轴表示时间。图4的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10的动作进行说明。在开关13为断开的状态下，作为被检测值的检测电位V0成为电源电压VB(0≤t＜t0)。此时，因为检测电位V0比腐蚀电位VX高，所以输出信号为Lo。微型计算机16根据检测电位V0，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果将开关13切换到闭合(t＝t0)，则接点14接地，检测电位V0成为电位VA(t0≤t＜t1)。检测电位V0比恢复电位VR低，输出信号成为Hi。如果输出信号成为Hi，则开关元件20成为非导通状态。由此，在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB，微型计算机16根据检测电位V0，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t1)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V0上升(t1≤t＜t2)。如果检测电位V0的电位上升而比腐蚀电位VX高(t＝t2)，则输出信号成为Lo，开关元件20成为导通状态。由此，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V0上升(t2≤t＜t3)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t3)，则检测电位V0下降(t3≤t＜t4)。如果检测电位V0下降而比恢复电位VR低(t＝t4)，则输出信号成为Hi，开关元件20成为非导通状态。由此，通过电阻器19，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t4≤t)。由此，微型计算机16根据检测电位V0，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

下面，对这样构成的防止接点腐蚀装置10所起的效果进行说明。根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，对检测电位V0与腐蚀电位VX以及恢复电位VR进行比较，检测接点14的腐蚀和恢复。如果检测出接点14的腐蚀，则在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA。如果检测出接点14的恢复，则在检测导线17中接通连接检测电流IB。由此，可以分别检测出接点14的腐蚀和恢复，可以抑制在恢复到可以逻辑判断接点14的连接状态的接点14中，接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以可以比现有技术的防止接点腐蚀装置10寿命长，微型计算机16的寿命也长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，如果将可变阻抗单元22切换到低阻抗，则在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，如果将可变阻抗单元22切换到高阻抗，则在检测导线17中接通连接检测电流IB。比较切换部12对检测电位V0与腐蚀电位VX以及恢复电位VR进行比较，根据其比较结果切换可变阻抗单元22。这样，可以分别检测接点14的腐蚀和恢复，可以抑制在将接点14的连接状态恢复到可以检测的接点14中，接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以可以比现有技术的防止接点腐蚀装置10寿命长，微型计算机16的寿命也长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，以电阻器19和开关元件20并联的方式与检测导线17连接。通过将开关元件20切换到导通状态，将可变阻抗单元22切换到低阻抗，通过将开关元件20切换到非导通状态，将可变阻抗单元22切换到高阻抗。这样，可以实现在低阻抗和高阻抗之间进行切换的可变阻抗单元22。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，腐蚀电位VX与检测电位V0进行比较，可以判断接点14的腐蚀。恢复电位VR与检测电位V0进行比较，可以判断接点14的恢复。由此，通过检测电位V0和腐蚀电位VX、恢复电位VR的比较，可以实现对接点14的腐蚀和恢复的判断。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，设定为如下的电位，即，如果防止腐蚀电流IA接通时下降到该电位，则在接通连接检测电流IB时，微型计算机16可以判断接点14的连接状态。因此，防止接点腐蚀装置10抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，由此，使接点14恢复到微型计算机16可以逻辑判断接点14的连接状态的状态。因此，可以抑制微型计算机16的误判断和误动作。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10，仅仅通过调整磁滞电阻器26的电阻，就可以改变恢复电位VR。恢复电位VR因接点14的材质、状态和设置接点14的环境而不同。因此，通过与接点14的材质、状态和环境等吻合来变更所述电阻，还可以抑制防止接点腐蚀装置10的误判断和误动作。

图5是简要表示第2实施方式的防止接点腐蚀装置10A的电路图。防止接点腐蚀装置10A结构上与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10类似。防止接点腐蚀装置10A是在第1实施方式的防止接点腐蚀装置10中，还包括电流检测电路40和接地开关元件30，微型计算机16A包括在防止接点腐蚀装置10A中。

电流检测电路40通过电源导线18，介于开关元件20和电源15之间。电流检测电路40与微型计算机16A电连接。电流检测电路40具有检测在电源导线18中是否接通电流的功能。电流检测电路40具有将在电源导线18中是否接通电流的情况传送给微型计算机16A的功能。

作为暂停单元的微型计算机16A还与电源15电连接，与输出导线27的开关元件20和比较切换部12之间电连接。微型计算机16A具有与第1实施方式的微型计算机16相同的功能。微型计算机16A还具有以下功能，即，获得输出信号，在电源导线18中接通电流，并且对Lo的输出信号输出的时间、即防止腐蚀电流IA持续通电的时间进行计数。微型计算机16A还具有暂停功能，该功能是在通电时间大于或等于预先确定的驱动时间T1的情况下，在暂停时间T2内暂停电源15的电压供给，暂停接通防止腐蚀电流IA。在本实施方式中，驱动时间T1和暂停时间T2相同，例如为10μsec。但是，并不限定为驱动时间T1和暂停时间T2相同，也可以不同。

作为阻抗下降单元的接地开关元件30，例如是p沟道MOSFET三极管，漏极30a与检测导线17的比电阻器19更靠近接点14一侧电连接，源极30b接地，栅极30c与微型计算机16A电连接。接地开关元件30具有切换功能，该功能是根据输入到栅极30c的信号，将漏极30a和源极30b在导通状态和非导通状态之间进行切换。接地开关元件30的配置目的是，通过使其成为导通状态，来降低输入接点14的阻抗。微型计算机16A具有如下功能：如果暂停来自于电源15的供给，则将信号输入到栅极30c，将接地开关元件30切换到导通状态，如果电源15供给电压，则将接地开关元件30切换到非导通状态。

图6是表示检测电位V1随时间变化的曲线。图7是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。图6的纵轴表示电位，横轴表示时间，图7的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面，对这样构成的防止接点腐蚀装置10A的动作进行说明。在开关13为断开的状态下，检测电位V1为电源电压VB(0≤t＜t10)。由于检测电位V1比腐蚀电位VX高，所以输出信号为Lo。检测电路40将在电源导线18中没有接通电流的情况传送到微型计算机16A。微型计算机16A根据检测电位V1，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t10)，则接点14接地，检测电位V1为电位VA(t10≤t＜t11)。检测电路40将在电源导线18中接通电流的情况传送到微型计算机16A。检测电位V1比恢复电位VR低，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则开关元件20成为非导通状态，在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB。由此，微型计算机16A根据检测电位V1，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t11)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V1上升(t11≤t＜t12)。如果检测电位V1的电位上升而比腐蚀电位VX高(t＝t12)，则输出信号变成Lo，开关元件20成为导通状态。由此，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V1上升(t12≤t＜t13)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t13)，则检测电位V1下降(t13≤t＜t14)。

如果通电时间大于或等于驱动时间T1(t＝t14)，则由于电流检测电路40检测在电源导线18中接通电流的情况，所以微型计算机16A在暂停时间T2内暂停防止腐蚀电流IA的接通(t14≤t＜t15)。通过暂停防止腐蚀电流IA的通电，输出信号变成Hi。此时微型计算机16A将接地开关元件30切换到导通状态，使接点14的输入阻抗下降。经过暂停时间T2后，微型计算机16A重新开始从电源15的电压供给(t＝t15)。

根据去除接点14腐蚀的进行程度，会产生接点14恢复的情况和接点14没有恢复的情况。这些情况在重新开始提供电压后防止接点腐蚀装置10A的动作互不相同。因此，下面分成2种情况对防止接点腐蚀装置10A的动作进行说明。

在通过去除接点14的腐蚀而接点14恢复的情况下，如果重新开始供给电压，则检测电位V1比恢复电位VR低，比较切换部12检测出接点14的恢复。这样，输出信号变成Hi(t14≤t＜t15的实线)，开关元件20保持非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t15≤t的实线)。这样，微型计算机16A根据检测电位V1，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

在通过去除接点14腐蚀而接点14没有恢复的情况下，如果重新开始供给电压，则检测电位V1比恢复电位VR高，比较切换部12检测出接点14的腐蚀。这样，输出信号变成Lo(t14≤t＜t15的点划线)，开关元件20切换到导通状态，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA(t15≤t的点划线)。通过重新接通防止腐蚀电流IA，再继续进行去除接点14腐蚀的动作，使接点14恢复。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10A，如果通电时间超过驱动时间T1，则微型计算机16A使通电暂停暂停时间T2。因此，通过在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，可以抑制长时间连续流过防止腐蚀电流，即可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，还可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以可以延长防止接点腐蚀装置10A的寿命。

本实施方式的防止接点腐蚀装置10A起到与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10相同的效果。

图8是表示第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B的检测导线17的电流随时间变化的曲线。图9是表示检测电位V2随时间变化的曲线。图10是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。图8的纵轴表示电流，横轴表示时间。图9的纵轴表示电位，横轴表示时间。图10的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。防止接点腐蚀装置10B与第2实施方式的防止接点腐蚀装置10A结构类似，防止接点腐蚀装置10B是在第2实施方式的防止接点腐蚀装置10A中，仅由比较器25构成比较切换部12B，微型计算机16B还具有其它功能。

比较切换部12B由比较器25构成。比较切换部12B具有比较检测电位和腐蚀恢复电位VM的功能。比较切换部12B具有如下功能：如果检测电位超过腐蚀恢复电位VM，则将输出信号从Hi切换到Lo，如果检测电位小于腐蚀恢复电位VM，则将输出信号从Lo切换到Hi。作为腐蚀恢复临界值的腐蚀恢复电位VM，是从基准电压源21向非反转输入端子25a提供的基准电位，例如为1V。腐蚀恢复电位VM是可以判断接点14的腐蚀和恢复的电位。具体地说，腐蚀恢复电位VM设定为小于或等于电位NU，该电位NU是在检测导线17中接通连接检测电流IB时，微型计算机16B误判断因接点14的腐蚀引起的接点14的连接状态的电位。腐蚀恢复电位VM是通过将第1分压电阻器23和第2分压电阻器24的电源电压VB分压而得到的可以检测接点14的腐蚀和恢复的基准电位。比较切换部12B与第2实施方式的比较切换部12相同地，具有利用输出信号切换开关元件20的导通状态和非导通状态的功能。

微型计算机16B具有与第2实施方式的微型计算机16A相同的功能，此外还具有以下功能。微型计算机16B具有反复切换在驱动时间T1内接通防止腐蚀电流IA的通电动作和在暂停时间T2内暂停从电源15的电压供给的暂停动作的功能。

下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10B的动作进行说明。在开关13断开的状态下，检测电位V2为电源电压VB(0≤t＜t20)。由于检测电位V2比腐蚀恢复电位VM高，所以输出信号为Lo。检测电路40将在电源导线18中没有接通电流的情况传送到微型计算机16B中。微型计算机16B根据检测电位V2，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t20)，则接点14接地，检测电位V2成为电位VA(t20≤t＜t21)。检测电路40将在电源导线18中接通电流的情况传送到微型计算机16B中。检测电位V2比腐蚀恢复电位VM低，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则开关元件20成为非导通状态，在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB，微型计算机16B根据检测电位V2，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t21)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V2上升(t21≤t＜t22)。如果检测电位V1的电位上升而比腐蚀恢复电位VM高(t＝t22)，则输出信号变成Lo，开关元件20成为导通状态。这样，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V2上升(t22≤t＜t23)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t23)，则检测电位V2下降(t23≤t＜t24)。

如果通电时间大于或等于驱动时间T1(t＝t24)，则由于电流检测电路40检测在电源导线18中接通电流的情况，所以微型计算机16B在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA(t24≤t＜t25)。通过暂停防止腐蚀电流IA的接通，输出信号变成Hi。此时微型计算机16B将接地开关元件30切换到导通状态，使接点14的输入阻抗下降。经过暂停时间T2后，微型计算机16B重新开始从电源15的电压供给(t＝t25)。如果重新开始提供电压，则检测电位V2比腐蚀恢复电位VM高，输出信号变成Lo。这样，开关元件20变成导通状态，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA。这样，微型计算机16B反复通电动作和暂停动作，如图8所示，在检测导线17中接通脉冲状防止腐蚀电流IA(t25≤t＜t28)。如果接通脉冲状防止腐蚀电流IA，检测电位V2比腐蚀恢复电位VM低(t＝t28)，则输出信号变成Hi，开关元件20成为非导通状态。这样，通过电阻器19，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t28≤t)，微型计算机16B根据检测电位V2，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10B，如果将可变阻抗单元22切换到低阻抗，则在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，如果将可变阻抗单元22切换到高阻抗，则在检测导线17中接通连接检测电流IB。比较切换部12B对检测电位V2与腐蚀恢复电位VM进行比较，根据其比较结果，切换可变阻抗单元22。如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则微型计算机16B在暂停时间T2内暂停通电。因此，通过在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，可以抑制长时间连续流过防止腐蚀电流IA，即可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，还可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以防止接点腐蚀装置10B的寿命可以延长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10B，反复通电动作和暂停动作来去除接点14的腐蚀。这样，与连续接通防止腐蚀电流IA的情况相比，可以抑制在检测导线17中接通过剩的防止腐蚀电流IA。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10B，如果进行暂停接通防止腐蚀电流的暂停动作，则由于接地开关元件30而使接点14的输入阻抗下降。这样，即使进行暂停动作，也可以抑制在检测导线17中产生噪声。

图11是简要表示第4实施方式的防止接点腐蚀装置10C的电路图。防止接点腐蚀装置10C与第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B的结构类似。防止接点腐蚀装置10C是在第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B中还包括计时器31，微型计算机16C还具有其它功能。

作为计数单元的计时器31，介于微型计算机16C和输出导线27之间，与它们电连接。计时器31具有对从比较切换部12输出Lo的输出信号的次数进行计数的功能。换句话说，计时器31具有对通电动作的次数进行计数的功能。计时器31以可以向微型计算机16C传送通电动作的次数的方式构成。此外，计时器31具有在预先规定的时间的期间输出信号的输出电平未切换的情况下，复位通电动作次数的功能。

作为停止单元的微型计算机16C具有与第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B的微型计算机16B相同的功能，此外还具有以下功能。微型计算机16C具有如果通电动作次数大于或等于作为规定次数的预先确定的停止次数，则停止电源15的电压供给的功能。电源15的构成方式为：如果停止电源15的电压供给，则例如，只要使用者不通过手动重新提供电压就不提供。

图12是表示检测导线17的电流随时间变化曲线。图13是表示检测电位V3随时间变化的曲线。图14是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。图12的纵轴表示电流，横轴表示时间。图13的纵轴表示电位，横轴表示时间。图14的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面，对这样构成的防止接点腐蚀装置10C的动作进行说明。在开关13断开的状态下，检测电位V3为电源电压VB(0≤t＜t30)。由于检测电位V3比腐蚀恢复电位VM高，所以输出信号为Lo。微型计算机16C根据检测电位V3，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t30)，则接点14接地，检测电位V3成为电位VA(t30≤t＜t31)。检测电位V3比腐蚀恢复电位VM低，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则开关元件20成为非导通状态。这样，在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB。这样，微型计算机16C根据检测电位V3，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t31)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V3上升(t31≤t＜t32)。如果检测电位V3的电位上升而比腐蚀恢复电位VM高(t＝t32)，则输出信号变成Lo，开关元件20成为导通状态。这样，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V3上升(t32≤t＜t33)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t33)，则检测电位V3下降(t33≤t＜t34)。

如果在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，则微型计算机16C反复进行通电动作和暂停动作，直到利用比较切换部12B检测出接点14的恢复，如图12所示，在检测导线17中接通脉冲状防止腐蚀电流IA(t34≤t＜t35)。对于在直到通电动作次数超过停止次数之前，检测接点14的恢复的情况，是与第3实施方式的防止接点腐蚀装置10B相同的动作，省略对此动作的说明。下面对在直到通电动作的次数大于或等于停止次数之前，未检测出接点14的恢复的情况进行说明。

如果通电动作次数大于或等于停止次数(t＝t36)，则微型计算机16C在接通防止腐蚀电流IA后，停止电源15的电压供给。此时，微型计算机16C使接地开关元件30导通，使接点14的输入阻抗下降。此外，并不限于在防止腐蚀电流通电后，也可以在防止腐蚀电流通电前停止电源15的电压供给。

接点14的腐蚀，有时候在接通一定量的防止腐蚀电流IA后，通过放置一定时间来去除。例如，有时候通过反复进行接点14的开闭动作而剥离去除。该情况下，如果重新开始从电源15的电压供给(t＝t37)，则输出信号保持Hi，开关元件20变成非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t37≤t的实线)。这样，微型计算机16C根据检测电位V3，对接点14的连接状态进行逻辑判断。此外，在接点14等的故障、例如开关13接触不良的情况下，如果重新开始从电源15的电压供给(t＝t37)，则检测电位V3不会变得比腐蚀恢复电位VM低，输出信号变为Lo，开关元件20成为导通状态。由此，重新接通防止腐蚀电流IA(t37≤t)。重新开始电源的电压供给，可以判断检测电位是因为接点14的腐蚀引起电位上升，还是因开关13的故障引起电位上升。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10C，利用计时器31对接通防止腐蚀电流IA的通电动作次数进行计数。如果通电动作的次数大于或等于停止次数，则微型计算机16C停止电源15的电压供给，停止接通防止腐蚀电流IA。这样，通过反复通电动作和暂停动作，可以抑制在检测导线17中累积防止腐蚀电流IA而过剩地通电。因此，可以抑制防止接点腐蚀装置10C的接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以还可以延长防止接点腐蚀装置10C的寿命。

在伴随接点14等故障而误判断接点腐蚀的情况下，在现有技术的防止接点腐蚀装置中，持续接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，伴随着接点14等的故障、例如开关13的接触不良，现有技术的防止接点腐蚀装置会产生故障。在本实施方式的防止接点腐蚀装置10C中，如果通电动作次数大于或等于停止次数，则停止接通防止腐蚀电流IA，可以防止在接点14等的故障的同时，接点腐蚀装置10C产生故障。此外，通过重新开始电源15的电压供给，可以判断是接点14的腐蚀还是接点14等的故障。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10C，如果进行停止接通防止腐蚀电流IA的停止动作，则利用接地开关元件30使接点14的输入阻抗下降。因此，即使进行停止动作，也可以抑制在检测导线17中产生噪声。

图15是简要表示第5实施方式的防止接点腐蚀装置10D的电路图。图16是表示比较切换部12D的输出特性的曲线。图16的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示电位。防止接点腐蚀装置10D与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10结构类似。

比较切换部12D由比较器25和电容器32构成。电容器32的一端与比较器25的反转输入端子25c电连接，另一端与比较器25的非反转输入端子25a电连接。比较切换部12D具有将检测电位和腐蚀电位VX以及恢复电位VR进行比较的功能。比较切换部12D具有如果检测电位超过腐蚀电位VX，则将输出信号从Hi切换到Lo的功能。比较切换部12D具有如果检测电位小于恢复电位VR，则将输出信号从Lo切换到Hi的功能。如果检测电位上升，则比较切换部12D使电容器32充电。这样，如果检测电位超过腐蚀电位VX，则电容器32使非反转输入端子25a的电位上升，所以比较切换部12D具有使恢复电位VR变动、具体地说使恢复电位VR上升的功能(图16)。比较切换部12D与第1实施方式的比较切换部12D相同地，具有将开关元件20在导通状态和非导通状态之间切换的功能。

图17是表示检测电位V4随时间变化的曲线。图18是表示比较切换部12D的输出随时间变化的曲线。图17的纵轴表示电位，横轴表示时间。图18的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10D的动作进行说明。在开关13断开的状态下，检测电位V4为电源电压VB(0≤t＜t40)，输出信号为Lo。微型计算机16根据检测电位V4，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t40)，则接点14接地，检测电位V4成为电位VA(t40≤t＜t41)，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则开关元件20成为非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB。微型计算机16根据检测电位V4，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t41)，则检测电位V4上升(t41≤t＜t42)。如果检测电位V4的电位上升而比腐蚀电位VX高(t＝t42)，则输出信号变成Lo，开关元件20成为导通状态。这样，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V4上升(t42≤t＜t43)。检测电位V4上升的同时，恢复电位VR也上升。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t43)，则检测电位V4下降(t43≤t＜t44)。如果检测电位V4比恢复电位VR低(t＝t44)，则输出信号变成Hi，开关元件20变成非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t44≤t)。这样，微型计算机16根据检测电位V4，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10D所起到的效果进行说明。根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10D，比较切换部12D根据检测电位V4使恢复电位VR变动。这样，与单一地确定恢复电位VR的情况相比，可以抑制在检测导线17中接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，可以抑制防止接点腐蚀装置10D的接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以防止接点腐蚀装置10D的寿命延长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10D，因为恢复电位VR因电容器32的放电而上升，所以相对于检测电位上升延迟后开始上升，且不设定为比检测电位高的电位。因此，可以可靠地检测出检测电位的下降，也就是说，可以可靠地检测出去除接点14的腐蚀的开始。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10D，对应于检测电位V4来改变恢复电位VR。在接通防止腐蚀电流IA时检测出的检测电位V4，因接点14的腐蚀状况和开关13的结构等而不同。因此，如果单一地确定恢复电位VR，有可能接通过剩的防止腐蚀电流IA。通过对应于检测电位V4改变恢复电位VR，可以进一步抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10D，可以起到与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10相同的效果。

图19是简要表示第6实施方式的防止接点腐蚀装置10E的电路图。防止接点腐蚀装置10E与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10结构类似。具体地说，在第1实施方式的防止接点腐蚀装置10中，开关13相对于检测导线17，配置在接地一侧、即低电平侧，但是，在第6实施方式的防止接点腐蚀装置10E中，开关13相对于检测导线17，介于电源15一侧、即高电平侧。

检测导线17的一端与电源15电连接，另一端与微型计算机16电连接。开关13的接点14通过检测导线17而与电源15一侧电连接。电阻器19和开关元件20，它们的一端以并联的方式与检测导线17电连接，另一端接地。基准电压源21的一端与检测导线17的电源15和接点14之间电连接，另一端接地。比较切换部12D的反转输入端子25c与检测导线17的比开关元件20更靠近微型计算机16一侧电连接，非反转输入端子25a与基准电压源21电连接，输出端子25b与开关元件20的栅极20c电连接。开关元件20使用n沟道MOSFET三极管。

如果如本实施方式这样开关13配置在高电平侧，则腐蚀电位VX设定成比恢复电位VR高。也就是说，相对于第1实施方式，腐蚀电位VX和恢复电位VR反转。具体地说，比较切换部12D具有如下功能：如果检测电位下降而比腐蚀电位VX低，则将输出信号从Lo切换到Hi，如果检测电位上升而比恢复电位VR高，则将输出信号从Hi切换到Lo。比较切换部12具有如果输出信号变成Hi则将开关元件20切换到导通状态，如果输出信号变成Lo则将开关元件20切换到非导通状态的功能。微型计算机16判断输入信号的Lo和Hi，在输入信号为Lo的情况下，判断接点14的连接状态为关闭状态，在输入信号为Hi的情况下，判断接点14的连接状态为打开状态。

图20是表示检测电位V5随时间变化的曲线。图21是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。图20的纵轴表示电位，横轴表示时间。图21的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10E的动作进行说明。在开关13为断开的状态下，检测电位V5为电位VA(0≤t＜t50)，输出信号为Hi。微型计算机16根据检测电位V5，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t50)，则接点14接地，检测电位V5为电源电压VB(t50≤t＜t51)，输出信号为Lo。如果输出信号变成Lo，则开关元件20成为非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB，微型计算机16根据检测电位V5，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t51)，则检测电位V5下降(t51≤t＜t52)。如果检测电位V5的电位下降而比腐蚀电位VX低(t＝t52)，则输出信号变成Hi，开关元件20成为导通状态。这样，接通防止腐蚀电流IA，检测电位V5下降(t52≤t＜t53)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t53)，则检测电位V5上升(t53≤t＜t54)。如果检测电位V0上升而比恢复电位VR高(t＝t54)，则输出信号变成Lo，开关元件20变成非导通状态。由此，接通连接检测电流IB(t54≤t)，微型计算机16根据检测电位V5，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10E，开关13配置在高电平侧。这样，不仅开关13配置在低电平侧，即使配置在高电平侧也可以实现防止接点腐蚀装置10E。

在本实施方式的第2～第5实施方式的防止接点腐蚀装置中，开关13配置在低电平侧，但即使配置在高电平侧，各实施方式也起到同样的效果。在本实施方式的防止接点腐蚀装置10E中，开关13只有一个，但并不限于此，也可以配置多个开关13。此外，在本实施方式中包括开关13，但也可以是连接器。

此外在这些实施方式中，计时器31仅对通电动作的次数进行计数，但也可以对暂停动作次数进行计数。这样，如果暂停动作的次数大于或等于停止次数，则微型计算机16C、16D可以使电源15的电压供给停止。此外，计时器31也可以对通电动作的次数和暂停动作的次数这两者进行计数，如果通电动作和暂停动作的次数中的至少一个次数大于或等于停止次数，则微型计算机16C、16D可以使电源15的电压供给停止。这些可以与微型计算机16C、16D根据通电动作的次数使电源15的电压供给停止起到同样的效果。

图22是简要表示第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F的电路图。防止接点腐蚀装置10F与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10结构类似。防止接点腐蚀装置10F是在第1实施方式的防止接点腐蚀装置10中，还包括接地开关元件30，微型计算机16F包括在防止接点腐蚀装置10F中。

在防止接点腐蚀装置10F中，比较器25的输出端子25b与微型计算机16F电连接。作为暂停单元的微型计算机16F还与开关元件20的栅极20c电连接。微型计算机16F具有与第1实施方式的微型计算机16相同的功能，还具有以下功能。微型计算机16F具有获得输出信号，并根据输出信号，切换开关元件20的导通状态和非导通状态的功能。具体地说，微型计算机16F具有如果获得Lo的输出信号，则将Lo的信号输入开关元件20中，将开关元件20切换到导通状态的功能。微型计算机16F具有如果获得Hi的输出信号，则将Hi的信号输入开关元件20中，将开关元件20切换到非导通状态的功能。

微型计算机16F还具有对输出Lo的输出信号的时间、即持续接通防止腐蚀电流IA的通电时间进行计数的功能。微型计算机16F具有如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则在暂停时间T2内将Hi的信号传送到开关元件20，将开关元件20切换到非导通状态的功能。换句话说，微型计算机16F具有如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则暂停接通防止腐蚀电流IA，而接通连接检测电流IB的功能。微型计算机16F具有如果经过暂停时间T2，则将Lo的信号传送到开关元件20，将开关元件20切换到导通状态的功能。

图23是表示检测电位V6随时间变化的曲线。图24是表示比较切换部12的输出随时间变化的曲线。图23的纵轴表示电位，模轴表示时间。图24的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10F的动作进行说明。在开关13为断开的状态下，检测电位V6为电源电压VB(0≤t＜t60)。因为此时检测电位V6比腐蚀电位VX高，所以输出信号为Lo。微型计算机16F根据检测电位V6，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t60)，则接点14接地，检测电位V6为电位VA(t60≤t＜t61)。检测电位V6比恢复电位VR低，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则微型计算机16F将开关元件20切换到非导通状态，在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB。由此，微型计算机16F根据检测电位V1，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t61)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V6上升(t61≤t＜t62)。如果检测电位V6的电位上升而比腐蚀电位VX高(t＝t62)，则输出信号变成Lo，微型计算机16F将开关元件20切换到导通状态。这样，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V6上升(t62≤t＜t63)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t63)，则检测电位V6下降(t63≤t＜t64)。

如果通电时间大于或等于驱动时间T1(t＝t64)，则微型计算机16F在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，接通连接检测电流IB(t64≤t＜t65)。此时微型计算机16F将接地开关元件30切换到导通状态，使接点14的输入阻抗下降。经过暂停时间T2后，微型计算机16F将Lo信号传送到开关元件20(t＝t65)。

根据去除接点14腐蚀的进行程度，会产生接点14恢复的情况和接点14没有恢复的情况。这些情况下，重新开始电压供给后的防止接点腐蚀装置10F的动作互不相同。因此，下面分成两种情况对防止接点腐蚀装置10F的动作进行说明。

在通过去除接点14腐蚀而接点14恢复的情况下，如果重新开始接通防止腐蚀电流IA，则检测电位V1比恢复电位VR低，比较切换部12检测出接点14的恢复。这样，输出信号变成Hi(t65≤t的实线)，开关元件20保持非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t65≤t的实线)。这样，微型计算机16F根据检测电位V6，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

在通过去除接点14腐蚀而接点14没有恢复的情况下，如果重新开始接通防止腐蚀电流IA，则检测电位V6变得比恢复电位VR高，比较切换部12检测出接点14的腐蚀。这样，输出信号变成Lo(t65≤t的虚线)，开关元件20切换到导通状态，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA(t65≤t的虚线)。通过再次接通防止腐蚀电流IA，继续进行去除接点14的腐蚀的动作，使接点14恢复。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10F，如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则微型计算机16F在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA。因此，通过在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，可以抑制长时间连续流过防止腐蚀电流，即可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，还可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以防止接点腐蚀装置10F的寿命可以延长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10F，如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则微型计算机16F在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，接通连接检测电流IB。因此，并不是使电源15暂停，而是以供给待机电压的状态，抑制过剩的防止腐蚀电流IA。

本实施方式的防止接点腐蚀装置10F起到与第1实施方式的防止接点腐蚀装置10相同的效果。

图25是简要表示第8实施方式的防止接点腐蚀装置10G的电路图。防止接点腐蚀装置10G与第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F结构类似。防止接点腐蚀装置10G是在第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F中，用比较切换部12F代替比较切换部12，计时器31介于检测导线27中间，微型计算机16G还具有其它功能。

微型计算机16G具有与第7实施方式的微型计算机16F相同的功能，还具有以下的功能。微型计算机16G具有反复切换通电动作和暂停动作的功能，该通电动作是在驱动时间T1内接通防止腐蚀电流IA的动作，该暂停动作是在暂停时间T2内暂停防止腐蚀电流IA，接通连接检测电流IB的动作。微型计算机16G与电源15电连接，具有如果通电动作的次数大于或等于停止次数，则停止电源15的电压供给的功能。

图26是表示防止接点腐蚀装置10G的检测导线17的电流随时间变化的曲线。图27是表示检测电位V7随时间变化的曲线。图28是表示比较切换部12B的输出随时间变化的曲线。图26的纵轴表示电流，横轴表示时间。图27的纵轴表示电位，横轴表示时间。图28的纵轴表示输出信号的电平，横轴表示时间。下面对这样构成的防止接点腐蚀装置10G的动作进行说明。在开关13为断开的状态下，检测电位V7为电源电压VB(0≤t＜t70)。检测电位V7比腐蚀恢复电位VM高，所以输出信号为Lo。微型计算机16G根据检测电位V7，对接点14的连接状态进行逻辑判断。如果将开关13切换到闭合(t＝t30)，则接点14接地，检测电位V7为电位VA(t70≤t＜t71)。检测电位V7比腐蚀恢复电位VM低，输出信号为Hi。如果输出信号变成Hi，则将开关元件20切换到非导通状态。在检测导线17中通过电阻器19接通连接检测电流IB。这样，微型计算机16G根据检测电位V7，对接点14的连接状态进行逻辑判断。

如果接点14开始腐蚀(t＝t71)，则产生因接点14的腐蚀造成的接点14的电阻增加，检测电位V7上升(t71≤t＜t72)。如果检测电位V7的电位上升而比腐蚀恢复电位VM高(t＝t72)，则输出信号变成Lo，开关元件20变成导通状态。这样，在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，检测电位V7上升(t72≤t＜t73)。如果接点14的去除腐蚀动作开始(t＝t73)，则检测电位V7下降(t73≤t＜t74)。

如果在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，则微型计算机16G反复多次进行通电动作和暂停动作，直到利用比较切换部12B检测出接点14的恢复，如图28所示，在检测导线17中接通脉冲状的防止腐蚀电流IA(t74≤t＜t75)。对于直到通电动作次数超过停止次数之前，检测出接点14的恢复的情况，是与第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F相同的动作，省略对其动作的说明。下面对直到通电动作次数大于或等于停止次数之前，未检测出接点14的恢复的情况进行说明。

如果通电动作次数大于或等于停止次数(t＝t76)，则微型计算机16G在接通防止腐蚀电流IA后，停止电源15的电压供给。此时，微型计算机16G使接地开关元件30导通，使接点14的输入阻抗下降。此外，并不限于在接通防止腐蚀电流后，也可以在接通防止腐蚀电流前停止电源15的电压供给。

有时候接点14的腐蚀通过在接通一定量的防止腐蚀电流IA后，放置一定时间去除。例如，有时候通过反复进行接点14的开闭动作而剥离去除。该情况下，如果重新开始从电源15的电压供给(t＝t77)，则输出信号保持Hi，开关元件20变成非导通状态，在检测导线17中接通连接检测电流IB(t77≤t的实线)。这样，微型计算机16G根据检测电位V7，对接点14的连接状态进行逻辑判断。此外，在接点14等故障、例如开关13接触不良的情况下，如果重新开始从电源15提供电压(t＝t77)，则检测电位V7不会比腐蚀恢复电位VM低，输出信号变为Lo，开关元件20成为导通状态。这样，重新接通防止腐蚀电流IA(t77≤t)。重新开始电源的电压供给，可以判断检测电位是因接点14的腐蚀引起电位上升，还是因开关13的故障引起电位上升。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10G，如果将可变阻抗单元22切换到低阻抗，则在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA，如果将可变阻抗单元22切换到高阻抗，则在检测导线17中接通连接检测电流IB。比较切换部12B将检测电位V7与腐蚀恢复电位VM进行比较，根据其比较的结果，切换可变阻抗单元22。如果通电时间大于或等于驱动时间T1，则微型计算机16G就在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，而接通连接检测电流IB。因此，通过在暂停时间T2内暂停接通防止腐蚀电流IA，可以抑制长时间连续流过防止腐蚀电流IA，即，可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，还可以抑制接点14连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以防止接点腐蚀装置10G的寿命可以延长。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10G，反复进行通电动作和暂停动作，去除接点14的腐蚀。这样，与持续接通防止腐蚀电流IA的情况相比，可以抑制在检测导线17接通过剩的防止腐蚀电流IA。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10G，利用计时器31对接通防止腐蚀电流IA的通电动作的次数进行计数。如果通电动作的次数大于或等于停止次数，则微型计算机16G停止电源15的电压供给，停止接通防止腐蚀电流IA。这样，通过反复通电动作和暂停动作，可以抑制在检测导线17中累积防止腐蚀电流IA而过剩地通电。因此，可以抑制防止接点腐蚀装置10G的接点14的连接状态的误判断以及装置误动作的产生。此外，由于可以抑制接通过剩的防止腐蚀电流IA，所以可以延长防止接点腐蚀装置10G的寿命。

在伴随接点14等故障而误判断接点14的腐蚀的情况下，在现有技术的防止接点腐蚀装置中，持续接通过剩的防止腐蚀电流IA。因此，伴随着接点14等的故障、例如开关13的接触不良，现有技术的防止接点腐蚀装置会产生故障。在本实施方式的防止接点腐蚀装置10G中，如果通电动作次数大于或等于停止次数，则停止接通防止腐蚀电流IA，可以防止伴随着接点14等故障，接点腐蚀装置10G产生故障。此外，通过重新开始电源15的电压供给，可以判断是接点14的腐蚀还是接点14等的故障。

根据本实施方式的防止接点腐蚀装置10G，起到与第7实施方式的防止接点腐蚀装置10F相同的效果。

在本实施方式中，根据通电时间进行暂停动作，但并不一定限定如此。例如，微型计算机以可以对在检测导线17中接通的防止腐蚀电流IA的电流量进行计数的方式构成。具体地说，检测防止腐蚀电流IA的电流值，通过将此电流值对时间积分，可以实现对电流量的计数。微型计算机16C、16D具有如果计数的总电流量大于或等于暂停电流量Q1，则暂停电源15的电压供给的功能。这样可以根据在检测导线17中通过的电流量，使电源15的电压供给暂停。因此，可以抑制在检测导线17中接通过剩的防止腐蚀电流IA。此外，微型计算机16C、16D还具有如下功能：如果满足以下2个条件的至少任一个，就流暂停电源15的电压供给，这2个条件是：(1)通电时间大于或等于驱动时间T1；(2)计数的总电流量大于或等于暂停电流量Q1。

在本实施方式中，恢复临界值是恢复电位VR，但并不一定限定于此。例如，也可以根据在检测导线17中接通防止腐蚀电流IA的总电流量是否比恢复电流量QR小，来检测接点14的恢复。恢复电流量QR是使腐蚀的接点14恢复所必要的电流量。具体地说，微型计算机16C、16D检测在检测导线17中接通的防止腐蚀电流IA的电流量，通过将此电流值对时间积分，可以实现总电流量的计数。微型计算机16C、16D具有如果检测出大于或等于恢复电流量QR的电流量，就将开关元件20切换到非导通状态的功能。这样，即使使用恢复电位VR以外的临界值，也可以实现检测接点14的恢复。

在本实施方式中，可变阻抗单元22包括电阻器19和开关元件20而构成，但并不一定限定于这样的构成。可变阻抗单元22也可以是可变电阻器。具体地说，通过以使用继电器等，根据比较切换部12的输出信号，可以切换可变电阻器的电阻的方式构成也可以实现。

在本实施方式中，接地开关元件30的源极30b接地，但并不限定于这样的结构。例如，源极30b也可以连接在负载电阻上，使接点的输入阻抗下降。

Claims (14)

1.一种防止接点腐蚀装置，其特征在于，具有：

检测导线，其被连接在接点上；

可变阻抗单元，其与所述检测导线连接，可以切换：(i)为了将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中而使用的第1阻抗、以及(ii)为了将用于检测所述接点的连接状态的电流接通到所述检测导线中而使用的第2阻抗；以及

比较切换单元，其将被检测值与腐蚀临界值进行比较，并将该被检测值与恢复临界值进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元，

所述第1阻抗比所述第2阻抗低。

2.如权利要求1所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

所述可变阻抗单元包括：

阻抗单元，其连接在所述检测导线上，具有第2阻抗；以及

开关元件，其以与阻抗单元并联的方式连接在所述检测导线上，可以切换：(i)开关元件的端子间导通的导通状态、以及(ii)开关元件的端子间不导通的非导通状态，并具有第3阻抗，

所述第2阻抗比所述第3阻抗高。

3.如权利要求1所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

所述被检测值是所述检测导线的电位，

所述腐蚀临界值是腐蚀电位，

所述恢复临界值是恢复电位，

所述比较切换单元将所述检测导线的电位与腐蚀电位进行比较，将所述检测导线的电位与恢复电位进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元。

4.如权利要求1所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

所述被检测值包含所述检测导线的电位和流过所述检测导线的电流量，

所述腐蚀临界值是腐蚀电位，

所述恢复临界值是恢复电流量，

所述比较切换单元将所述检测导线的电位与腐蚀电位进行比较，将流过所述检测导线的电流量与恢复电流量进行比较，根据它们的比较结果，切换所述可变阻抗单元。

5.如权利要求3所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

所述比较切换单元具有根据所述检测导线的电位，改变所述恢复电位的功能。

6.如权利要求1至5中任一项所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

还具有暂停单元，其在满足以下两个条件中的至少任一个时，使防止腐蚀电流的通电暂停规定的暂停时间，这两个条件是：(1)所述检测导线中接通防止腐蚀电流的时间大于或等于预先确定的时间；(2)所述检测导线中接通的防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流量。

7.如权利要求6所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，还具有：

计数单元，其对将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中的通电动作的次数、以及暂停单元使通电暂停的暂停动作的次数中的至少任一个进行计数；以及

停止单元，其在所述计数单元的计数结果大于或等于规定次数时，停止防止腐蚀电流的通电。

8.如权利要求6所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

还具有阻抗降低单元，其在进行使防止腐蚀电流的通电暂停的暂停动作时，使所述接点的输入阻抗降低。

9.如权利要求7所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

还具有阻抗降低单元，其在(i)暂停防止腐蚀电流的通电的暂停动作、以及(ii)停止通电的停止动作中的至少任一个进行时，使所述接点的输入阻抗降低。

10.如权利要求2所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

接点具有开关的接点，

阻抗单元具有电阻器，

开关元件具有场效应三极管，

比较切换单元具有比较器，该比较器具有磁滞特性。

11.一种防止接点腐蚀装置，其特征在于，具有：

检测导线，其与接点连接；

可变阻抗单元，其与所述检测导线连接，可以切换：(i)为了将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中而使用的第1阻抗、以及(ii)为了将用于检测所述接点的连接状态的电流接通到所述检测导线中而使用的第2阻抗；

比较切换单元，其将被检测值和用于判断接点的腐蚀和恢复的腐蚀恢复临界值进行比较，根据其比较的结果，切换所述可变阻抗单元；以及

暂停单元，其在满足以下两个条件中的至少任一个时，使防止腐蚀电流的通电暂停规定的暂停时间，这两个条件是：(1)所述检测导线中接通防止腐蚀电流的时间大于或等于预先确定的时间；(2)所述检测导线中接通的防止腐蚀电流的电流量大于或等于预先确定的电流量。

12.如权利要求11所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，还具有：

计数单元，其对将防止腐蚀电流接通到所述检测导线中的通电动作的次数、以及暂停单元使通电暂停的暂停动作的次数中的至少任一个进行计数；以及

停止单元，其在所述计数单元的计数结果大于或等于规定次数时，停止防止腐蚀电流的通电。

13.如权利要求11所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

还具有阻抗降低单元，其在进行使防止腐蚀电流的通电暂停的暂停动作时，使所述接点的输入阻抗降低。

14.如权利要求12所述的防止接点腐蚀装置，其特征在于，

还具有阻抗降低单元，其在(i)暂停防止腐蚀电流的通电的暂停动作、以及(ii)停止通电的停止动作中的至少任一个进行时，使所述接点的输入阻抗下降。

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