JPS58178682U - 開閉器の接点検査装置 - Google Patents

開閉器の接点検査装置

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JPS58178682U
JPS58178682U JP7748782U JP7748782U JPS58178682U JP S58178682 U JPS58178682 U JP S58178682U JP 7748782 U JP7748782 U JP 7748782U JP 7748782 U JP7748782 U JP 7748782U JP S58178682 U JPS58178682 U JP S58178682U
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JP
Japan
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time
conductive state
inspection device
switch contact
contact inspection
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JP7748782U
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JPH0140062Y2 (ja
Inventor
倉田　旻
大黒　正人
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オムロン株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は接点接触時のチャタリング現象、バウシシング
現象を説明するための波形図、第２図はこの考案の一実
施例を示す開閉器の接点検査装置のブロック図、第３図
は第２図に示す実施例装置の動作を説明するためのタイ
ムチャート、第４図は第２図に示す実施例装置のマイク
ロスイッチの接続部分をさらに具体的に示した回路接続
図である。 １・・・マイクロスイッチ、２・・・比較器、３・・・
フオ　　　　□トカプラ、４・・−Ｔｌ無視時間部、５
・・・検査無視時間設定部、６・・・基本パルス発生器
、７・・・測定コントロール回路、８・・・測定判定回
路、９・・−Ｔ２不導通時間設定部、１０・・・測定値
表示器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 開閉器の接点が接続され、開閉器の導通状態、不導通状
    態により異なるレベルの信号を導出する手段と、第１の
    時間を設定する手段と、第２の時間を設定する手段と、
    前記導出手段よりの信号を受け、前記導出手段による導
    通状態信号の導出後前記第１の時間は不能動化され、こ
    の第１時間の経過後前記不導通状態信号を受けるとその
    持続時間を計数する手段と、この計数手段による計数時
    間と前記第２時間とを比較し、この比較結果により接点
    の良否を判定する手段とを備えることを特徴とする開閉
    器の接点検査装置。
JP7748782U 1982-05-25 1982-05-25 開閉器の接点検査装置 Granted JPS58178682U (ja)

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JP7748782U JPS58178682U (ja) 1982-05-25 1982-05-25 開閉器の接点検査装置

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JPS58178682U true JPS58178682U (ja) 1983-11-29
JPH0140062Y2 JPH0140062Y2 (ja) 1989-12-01

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005294199A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止方法および装置
JP2005294198A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止装置
JP2005294200A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005294199A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止方法および装置
JP2005294198A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止装置
JP2005294200A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Fujitsu Ten Ltd 接点腐食防止回路

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JPH0140062Y2 (ja) 1989-12-01

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