JP2004200678A5 - - Google Patents

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  1. 少なくとも一つの基板を貯蔵する自己アライニング基板搬送容器と、
    前記基板を熱処理中に支持するための取外し可能な半導体基板サセプタと、
    前記基板を、前記搬送容器から、前記取外し可能なサセプタと共に熱処理に搬送するための自己アライニングエンドエフェクタと、
    前記取外し可能なサセプタ及び前記基板を、熱処理中に、鉛直方向に位置決め支持するための自己アライニング基板支持組立体と、
    を備え、
    前記基板は、前記取外し可能なサセプタ上で鉛直方向に位置決めされる
    ことを特徴とする、基板熱処理において使用される半導体基板搬送システム。
  2. 前記取外し可能なサセプタは、
    前記自己アライニング基板支持組立体から機械的に分離可能で、前記基板搬送容器のウェハ支持棚から形成された内径内に適合する大きさの所定の外径を含む平坦な環状の中央面
    を備える
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体基板搬送システム。
  3. 前記取外し可能なサセプタは、リングを含んでいる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  4. 前記取外し可能なサセプタは、ディスクである
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  5. 前記取外し可能なサセプタは、環状のリングである
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  6. 前記取外し可能なサセプタは、シリコンカーバイド、石英、シリコン、グラファイト、ダイアモンド被覆グラファイト、または、シリコン被覆グラファイトである
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  7. 前記取外し可能なサセプタは、少なくとも上面に置かれる基板に等しい最終的な合成熱伝導率を有するセラミックスからなる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  8. 前記取外し可能なサセプタは、少なくとも上面に置かれる基板に等しい最終的な合成熱伝導率を有する金属からなる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  9. 前記取外し可能なサセプタは、少なくとも上面に置かれる基板に等しい最終的な合成熱伝導率を有する複合材料からなる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  10. 前記取外し可能なサセプタは、少なくとも上面に置かれる前記基板に等しい最終的な機械強度を有する
    ことを特徴とする請求項6乃至9のいずれかに記載の半導体基板搬送システム。
  11. 前記環状の中央面は、アライメントを容易にするために前記取外し可能なサセプタの底に刻まれた複数の表面除去を含んでいる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  12. 前記複数の構造的除去は、ディンプルを含んでいる
    ことを特徴とする請求項11に記載の半導体基板搬送システム。
  13. 前記環状の中央面は、孔を含んでいる
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  14. 前記環状の中央面は、凹状である
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  15. 前記環状の中央面は、凸状である
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体基板搬送システム。
  16. 面取りされた取外し可能なサセプタの縁部を有する
    ことを特徴とする請求項3、4、5、14及び15のいずれかに記載の半導体基板搬送システム。
  17. 角丸めされた取外し可能なサセプタの縁部を有する
    ことを特徴とする請求項3、4、5、14及び15のいずれかに記載の半導体基板搬送システム。
  18. 少なくとも一つの基板を貯蔵する自己アライニング基板搬送容器と、
    前記基板を熱処理中に支持するための取外し可能な半導体基板サセプタと、
    前記基板を、前記搬送容器から、前記取外し可能なサセプタと共に熱処理に搬送するための自己アライニングエンドエフェクタと、
    前記取外し可能なサセプタ及び前記基板を、熱処理中に、鉛直方向に位置決め支持するための自己アライニング基板支持組立体と、
    を備え、
    前記取外し可能なサセプタは、前記自己アライニング基板支持組立体から機械的に分離可能で、前記基板搬送容器のウェハ支持棚から形成された内径内に適合する大きさの所定の外径を含む平坦な環状の中央面を有し、
    前記基板は、前記取外し可能なサセプタ上で鉛直方向に位置決めされる
    ことを特徴とする、基板熱処理において使用される半導体基板搬送システム。
  19. 前記自己アライニング基板搬送容器の前記支持棚は、位置決め時の基板のアライメントを支援するために、前記基板サセプタの外径よりも大きい内径を含むような大きさとなっている
    ことを特徴とする請求項18に記載の半導体基板搬送システム。
  20. 複数の支持棚が、前記自己アライニング基板搬送容器内に複数の基板を位置決めするために採用されている
    ことを特徴とする請求項19に記載の半導体基板搬送システム。
  21. 少なくとも一つの基板を貯蔵する自己アライニング基板搬送容器と、
    前記基板を熱処理中に支持するための取外し可能な半導体基板サセプタと、
    前記基板を、前記搬送容器から、前記取外し可能なサセプタと共に熱処理に搬送するための自己アライニングエンドエフェクタと、
    前記取外し可能なサセプタ及び前記基板を、熱処理中に、鉛直方向に位置決め支持するための自己アライニング基板支持組立体と、
    を備え、
    前記自己アライニング基板搬送容器の前記支持棚は、位置決め時の基板のアライメントを支援するために、前記基板サセプタの外径よりも大きい内径を含むような大きさとなっており、
    前記取外し可能なサセプタは、前記自己アライニング基板支持組立体から機械的に分離可能で、前記基板搬送容器のウェハ支持棚から形成された内径内に適合する大きさの所定の外径を含む平坦な環状の中央面を有し、
    前記基板は、前記取外し可能なサセプタ上で鉛直方向に位置決めされる
    ことを特徴とする、基板熱処理において使用される半導体基板搬送システム。
  22. 前記自己アライニングエンドエフェクタは、前記基板と前記基板サセプタとの間の外径の大きさの差を用いることによって、前記基板と前記基板サセプタとを共通の中央軸に沿ってアラインする
    ことを特徴とする請求項21に記載の半導体基板搬送システム。
  23. 前記自己アライニングエンドエフェクタは、2つの異なる大きさの凹部を採用することによって、前記基板サセプタの上面に前記基板を鉛直方向に支持する
    ことを特徴とする請求項22に記載の半導体基板搬送システム。
  24. 前記2つの異なる大きさの凹部は、面取りされている
    ことを特徴とする請求項23に記載の半導体基板搬送システム。
  25. 前記2つの異なる大きさの凹部は、所定の鉛直方向寸法によって鉛直方向に、構造的に、前記基板と前記基板サセプタとを分離する
    ことを特徴とする請求項23に記載の半導体基板搬送システム。
  26. 少なくとも一つの基板を貯蔵する自己アライニング基板搬送容器と、
    前記基板を熱処理中に支持するための取外し可能な半導体基板サセプタと、
    前記基板を、前記搬送容器から、前記取外し可能なサセプタと共に熱処理に搬送するための自己アライニングエンドエフェクタと、
    前記取外し可能なサセプタ及び前記基板を、熱処理中に、鉛直方向に位置決め支持するための自己アライニング基板支持組立体と、
    を備え、
    前記自己アライニング基板搬送容器の前記支持棚は、位置決め時の基板のアライメントを支援するために、前記基板サセプタの外径よりも大きい内径を含むような大きさとなっており、
    前記取外し可能なサセプタは、前記自己アライニング基板支持組立体から機械的に分離可能で、前記基板搬送容器のウェハ支持棚から形成された内径内に適合する大きさの所定の外径を含む平坦な環状の中央面を有し、
    前記基板は、前記取外し可能なサセプタ上で鉛直方向に位置決めされる
    ことを特徴とする、基板熱処理において使用される半導体基板搬送システム。
  27. 前記自己アライニング基板支持組立体は、熱処理中、複数の基板及び基板サセプタを支持する
    ことを特徴とする請求項26に記載の半導体基板搬送システム。
  28. 対向する支持部材が、前記基板及び前記基板サセプタを支持するために採用されている
    ことを特徴とする請求項27に記載の半導体基板搬送システム。
  29. 前記対向する支持部材は、共通の中心軸に沿って周方向に、環状である
    ことを特徴とする請求項28に記載の半導体基板搬送システム。
  30. 前記対向する支持部材は、共通の中心軸に沿って周方向に、円弧形状である
    ことを特徴とする請求項28に記載の半導体基板搬送システム。
  31. 平坦な環状の延長部が、冷却段階の持続のための放射エネルギーエミッタとして採用されており、
    環状の中央面が、熱エネルギーの収集と前記エミッタへの伝達のために利用される
    ことを特徴とする請求項29に記載の半導体基板搬送システム。
  32. 平坦な環状の延長部が、冷却段階の持続のための放射エネルギーエミッタとして採用されており、
    環状の中央面が、熱エネルギーの収集と前記エミッタへの伝達のために利用される
    ことを特徴とする請求項30に記載の半導体基板搬送システム。
  33. 前記環状の支持部材は、前記自己アライニングエンドエフェクタが半径方向に基板下方位置へ移動することを許容するために、十分な大きさのそれらの周に沿った特定位置に開口を含んでいる
    ことを特徴とする請求項29に記載の半導体基板搬送システム。
  34. 前記円弧形状の支持部材は、前記自己アライニングエンドエフェクタが半径方向に基板下方位置へ移動することを許容するために、十分な大きさのそれらの周に沿った特定位置に開口を含んでいる
    ことを特徴とする請求項30に記載の半導体基板搬送システム。
  35. 略水平状態の自己アライニングエンドエフェクタで、第1の取外し可能な半導体基板サセプタを取る工程と、
    前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを前記自己アライニングエンドエフェクタ上でアラインする工程と、
    前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを負う前記自己アライニングエンドエフェクタを用いて、自己アライニング基板搬送容器から第1の基板を取る工程と、
    前記第1の基板を、当該第1の基板が前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタの直上の仮想の鉛直面位置に位置決めされるように、前記自己アライニングエンドエフェクタ上でアラインする工程と、
    前記仮想の鉛直面位置が維持されるように、前記第1の基板及び前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを、加熱のための炉内載置のために自己アライニング基板支持組立体上にアンロードする工程と、
    加熱後に、前記第1の基板及び前記取外し可能な半導体基板サセプタを、前記自己アライニングエンドエフェクタ上に再びロードする工程と、
    前記第1の基板を、前記自己アライニングエンドエフェクタからアンロードする工程と、
    前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを、前記自己アライニングエンドエフェクタからアンロードする工程と、
    を備えたことを特徴とする、熱処理を通る半導体基板の搬送方法。
  36. 複数の取外し可能な半導体基板サセプタと複数の基板とを、前記自己アライニング基板支持組立体への載置のために取る工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項35に記載の方法。
  37. 第1の深く小さい凹部が前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを保持し、前記第1の凹部の上方に位置する第2の大きな浅い凹部が前記第1の基板を保持する、というように、2つの異なる大きさの凹部を前記自己アライニングエンドエフェクタ内に採用することによって、前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタと前記第1基板とを前記自己アライニングエンドエフェクタ上でアラインする工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項35に記載の方法。
  38. 支持棚によって前記自己アライニング基板搬送容器に支持されている前記第1の基板の真下で、前記保持された第1の取外し可能な半導体基板サセプタと共に前記自己アライニングエンドエフェクタを鉛直上方に持ち上げる工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項35に記載の方法。
  39. 前記保持された第1の取外し可能な半導体基板サセプタ及び前記第1の基板と共に、前記自己アライニングエンドエフェクタを、前記自己アライニング基板支持組立体内の所定位置の対向する支持部材の間及び上に鉛直下方に下げることによって、前記自己アライニング基板支持組立体をロードする工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項35に記載の方法。
  40. 前記第1の基板が上面上に直接に着座することを許容する前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタを含むような深さの第3凹部が設けられた支持部材を利用する工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項39に記載の方法。
  41. 前記第1の取外し可能な半導体基板サセプタが前記第3凹部に着座される時、前記第1の基板及び前記支持部材の間に間隙を許容する工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項40に記載の方法。
  42. 現存する基板搬送システムを、それぞれに位置する第1、第2及び第3凹部、更には、少なくとも一つの取外し可能な半導体基板サセプタ、を含むように変更する工程
    を更に備えたことを特徴とする請求項41に記載の方法。
  43. 前記サセプタは、独立した基板支持部材であって、前記エンドエフェクタを介して前記基板搬送容器及び前記基板支持組立体から自由に取外し可能である
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体基板搬送システム。
  44. 前記サセプタは、基板の支持面の大部分と接触する大きさとなっている
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体基板搬送システム。
  45. 前記サセプタの外周は、前記基板搬送容器によって規定される基板支持領域を鉛直方向に自由に通過する一方で、前記基板支持組立体の支持部材によって下方支持されるための大きさを有している
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体基板搬送システム。
  46. 前記基板搬送容器によって規定される前記基板支持領域は、基板支持棚を含んでいる
    ことを特徴とする請求項45に記載の半導体基板搬送システム。
  47. 前記基板支持組立体は、半径方向内方に延びるサセプタ支持部材を含んでおり、
    当該サセプタ支持部材は、前記サセプタと直接接触するように位置付けられた径方向内部領域と、サセプタとの支持接触中に基板がその上で延在する径方向外部領域と、を有する段状の端領域を有しており、
    前記径方向内部領域は、サセプタ接触レベルを有しており、
    前記径方向外部領域は、上面を有しており、
    前記接触レベルと前記上面との間のレベル差は、前記サセプタの厚みよりも小さく、前記上面と前記サセプタにより支持される基板の下部領域との間に間隙が形成される
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体基板搬送システム。
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6761085B1 (en) * 2002-02-06 2004-07-13 Novellus Systems Incorporated Method and apparatus for damping vibrations in a semiconductor wafer handling arm
EP1431825A1 (en) * 2002-12-20 2004-06-23 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, and substrate holder
KR100549273B1 (ko) * 2004-01-15 2006-02-03 주식회사 테라세미콘 반도체 제조장치의 기판홀더
KR100875464B1 (ko) * 2004-09-30 2008-12-22 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 열처리 장치 및 기판의 제조방법
TWI346989B (en) * 2005-04-25 2011-08-11 Terasemicon Co Ltd Batch type of semiconductor manufacturing device,and loading/unloading method and apparatus of semiconductor substrate
US7748542B2 (en) * 2005-08-31 2010-07-06 Applied Materials, Inc. Batch deposition tool and compressed boat
JP4813313B2 (ja) * 2006-09-29 2011-11-09 Sumco Techxiv株式会社 シリコン単結晶引上げ装置及び該装置に使用される黒鉛部材並びに黒鉛部材の劣化防止方法
JP5205738B2 (ja) * 2006-10-16 2013-06-05 株式会社Sumco シリコンウェーハの支持方法、熱処理治具および熱処理ウェーハ
US8099190B2 (en) * 2007-06-22 2012-01-17 Asm International N.V. Apparatus and method for transferring two or more wafers whereby the positions of the wafers can be measured
US20090004405A1 (en) * 2007-06-29 2009-01-01 Applied Materials, Inc. Thermal Batch Reactor with Removable Susceptors
JP5071217B2 (ja) * 2008-04-17 2012-11-14 信越半導体株式会社 縦型熱処理用ボートおよびそれを用いたシリコンウエーハの熱処理方法
JP2010157536A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Nuflare Technology Inc サセプタの製造方法
JP5926742B2 (ja) * 2010-12-30 2016-05-25 ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド 反応器及びウェハを処理する方法
DE102016111236A1 (de) * 2016-06-20 2017-12-21 Heraeus Noblelight Gmbh Substrat-Trägerelement für eine Trägerhorde, sowie Trägerhorde und Vorrichtung mit dem Substrat-Trägerelement
PL3422396T3 (pl) * 2017-06-28 2021-12-13 Meyer Burger (Germany) Gmbh Urządzenie do transportu substratu, urządzenie do obróbki z płytą mieszczącą dostosowaną do nośnika substratu takiego urządzenia oraz sposób przetwarzania substratu za pomocą takiego urządzenia do transportu substratu oraz układ do obróbki
US11521876B2 (en) * 2018-03-07 2022-12-06 Tokyo Electron Limited Horizontal substrate boat
EP3626865A1 (en) 2018-09-20 2020-03-25 Heraeus GMSI LLC Susceptor and method for manufacturing the same

Family Cites Families (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5475985A (en) 1977-11-29 1979-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Heat treatment method of semiconductor substrate and its unit
KR890008922A (ko) 1987-11-21 1989-07-13 후세 노보루 열처리 장치
JPH01100446U (ja) * 1987-12-23 1989-07-05
US5162047A (en) * 1989-08-28 1992-11-10 Tokyo Electron Sagami Limited Vertical heat treatment apparatus having wafer transfer mechanism and method for transferring wafers
JP3058901B2 (ja) 1990-09-26 2000-07-04 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
US5310339A (en) 1990-09-26 1994-05-10 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus having a wafer boat
JP3204699B2 (ja) 1990-11-30 2001-09-04 株式会社東芝 熱処理装置
JP3100252B2 (ja) * 1992-05-26 2000-10-16 東京エレクトロン株式会社 被処理体用ボート及びそれを用いた被処理体の移し換え方法ならびに熱処理装置
JPH0661328A (ja) * 1992-08-06 1994-03-04 Nec Yamaguchi Ltd 半導体ウェハー搬送装置
JPH06151347A (ja) 1992-11-02 1994-05-31 Mitsubishi Materials Corp 縦型熱処理炉用ボート
JPH06151550A (ja) * 1992-11-05 1994-05-31 Toshiba Corp ウェハーフォーク
JPH06163440A (ja) 1992-11-16 1994-06-10 Shin Etsu Chem Co Ltd 半導体縦型拡散炉用治具
US5492229A (en) 1992-11-27 1996-02-20 Toshiba Ceramics Co., Ltd. Vertical boat and a method for making the same
JP3280438B2 (ja) 1992-11-30 2002-05-13 東芝セラミックス株式会社 縦型ボート
JP3250628B2 (ja) 1992-12-17 2002-01-28 東芝セラミックス株式会社 縦型半導体熱処理用治具
JP3245246B2 (ja) 1993-01-27 2002-01-07 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
US5458688A (en) 1993-03-09 1995-10-17 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Heat treatment boat
JP3333577B2 (ja) 1993-03-09 2002-10-15 東京エレクトロン株式会社 熱処理用ボート及び縦型熱処理装置
JP2913439B2 (ja) 1993-03-18 1999-06-28 東京エレクトロン株式会社 移載装置及び移載方法
JPH06275701A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 Kokusai Electric Co Ltd 基板搬送装置
JPH0774234A (ja) * 1993-06-28 1995-03-17 Tokyo Electron Ltd 静電チャックの電極構造、この組み立て方法、この組み立て治具及び処理装置
JPH0745691A (ja) 1993-07-29 1995-02-14 Kokusai Electric Co Ltd ウェーハホルダ
KR100280947B1 (ko) 1993-10-04 2001-02-01 마쓰바 구니유키 판 형상체 반송장치
JP3453834B2 (ja) * 1994-02-25 2003-10-06 三菱電機株式会社 ウエハチャック装置および半導体製造装置
JPH07263370A (ja) 1994-03-17 1995-10-13 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置
JP3239977B2 (ja) 1994-05-12 2001-12-17 株式会社日立国際電気 半導体製造装置
US5775889A (en) 1994-05-17 1998-07-07 Tokyo Electron Limited Heat treatment process for preventing slips in semiconductor wafers
JPH07326656A (ja) * 1994-05-31 1995-12-12 Fujitsu Ltd 基板カセット
US5618351A (en) 1995-03-03 1997-04-08 Silicon Valley Group, Inc. Thermal processing apparatus and process
JPH08264521A (ja) 1995-03-20 1996-10-11 Kokusai Electric Co Ltd 半導体製造用反応炉
JPH08277297A (ja) 1995-04-06 1996-10-22 Fujirebio Inc 免疫原及び該免疫原を用いた免疫方法
JPH10510680A (ja) 1995-05-05 1998-10-13 サン−ゴバン インダストリアル セラミックス,インコーポレイティド 滑りのない垂直架台構造
US5534074A (en) 1995-05-17 1996-07-09 Heraeus Amersil, Inc. Vertical boat for holding semiconductor wafers
JPH0950967A (ja) 1995-05-26 1997-02-18 Tokyo Electron Ltd 被処理体の支持ボート
JP3218164B2 (ja) 1995-05-31 2001-10-15 東京エレクトロン株式会社 被処理体の支持ボート、熱処理装置及び熱処理方法
JP3504784B2 (ja) 1995-09-07 2004-03-08 東京エレクトロン株式会社 熱処理方法
JPH0992625A (ja) 1995-09-20 1997-04-04 Tokyo Electron Ltd 熱処理用ボ−ト
JPH09139352A (ja) 1995-11-15 1997-05-27 Nec Corp 縦型炉用ウェーハボート
JP2927231B2 (ja) 1996-01-12 1999-07-28 日本電気株式会社 半導体集積回路の不良解析方法及び装置
JPH09199438A (ja) 1996-01-12 1997-07-31 Tokyo Electron Ltd 熱処理用治具
JPH09199437A (ja) 1996-01-12 1997-07-31 Sumitomo Sitix Corp 半導体ウェーハ支持装置
US5820366A (en) 1996-07-10 1998-10-13 Eaton Corporation Dual vertical thermal processing furnace
JP3469000B2 (ja) 1996-08-02 2003-11-25 三井造船株式会社 縦型ウエハ支持装置
EP0843338A1 (en) 1996-11-15 1998-05-20 Upsys An improved boat for supporting semiconductor wafers
US6156121A (en) 1996-12-19 2000-12-05 Tokyo Electron Limited Wafer boat and film formation method
JP3157738B2 (ja) 1997-02-27 2001-04-16 山形日本電気株式会社 ウエハ移載装置および移載方法
JPH10270390A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Nec Kyushu Ltd 研磨装置のウェハ保持機構
JPH10284429A (ja) 1997-03-31 1998-10-23 Sumitomo Sitix Corp ウェーハ支持装置
US6190113B1 (en) * 1997-04-30 2001-02-20 Applied Materials, Inc. Quartz pin lift for single wafer chemical vapor deposition/etch process chamber
JP3494554B2 (ja) 1997-06-26 2004-02-09 東芝セラミックス株式会社 半導体用治具およびその製造方法
JPH1126561A (ja) 1997-06-30 1999-01-29 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPH1129392A (ja) * 1997-07-07 1999-02-02 Hitachi Cable Ltd 気層エピタキシャル成長方法及び装置
JPH1140659A (ja) 1997-07-15 1999-02-12 Toshiba Ceramics Co Ltd 半導体ウエハの熱処理用縦型ボート
JPH1154447A (ja) 1997-08-06 1999-02-26 Hitachi Ltd ウェハ支持治具およびそれを用いた熱処理装置
US6293749B1 (en) * 1997-11-21 2001-09-25 Asm America, Inc. Substrate transfer system for semiconductor processing equipment
JPH11243064A (ja) 1998-02-25 1999-09-07 Sumitomo Metal Ind Ltd ウェーハ支持板
JPH11265852A (ja) * 1998-03-17 1999-09-28 Shin Etsu Handotai Co Ltd 薄膜製造装置
KR100424428B1 (ko) 1998-09-28 2004-03-24 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 종형로 및 종형로용 웨이퍼보트
JP2000232151A (ja) 1999-02-10 2000-08-22 Hitachi Ltd 縦型炉用ウェハボート
JP3357311B2 (ja) * 1999-02-12 2002-12-16 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 半導体製造装置におけるウェハ支持装置
US6099645A (en) 1999-07-09 2000-08-08 Union Oil Company Of California Vertical semiconductor wafer carrier with slats
JP2001313329A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Applied Materials Inc 半導体製造装置におけるウェハ支持装置
JP3584864B2 (ja) * 2000-08-25 2004-11-04 三菱住友シリコン株式会社 ウェーハ用サセプタ及びこれを備えたウェーハ熱処理装置
JP2002151412A (ja) * 2000-10-30 2002-05-24 Applied Materials Inc 半導体製造装置
JP2002329777A (ja) * 2001-05-07 2002-11-15 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理方法及び基板保持装置

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