JP2001254014A - 感光性ポリイミド前駆体組成物および金属箔−ポリイミド複合体 - Google Patents

感光性ポリイミド前駆体組成物および金属箔−ポリイミド複合体

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JP2001254014A
JP2001254014A JP2000388342A JP2000388342A JP2001254014A JP 2001254014 A JP2001254014 A JP 2001254014A JP 2000388342 A JP2000388342 A JP 2000388342A JP 2000388342 A JP2000388342 A JP 2000388342A JP 2001254014 A JP2001254014 A JP 2001254014A
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Japan
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precursor composition
metal foil
polyimide precursor
polyimide
bis
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JP2000388342A
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English (en)
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Kenichi Kasumi
健一 霞
Toshio Yoshimura
利夫 吉村
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低い線膨張数、高い伸度、および、低い比誘電
率を持ちかつ、良好なパターン加工が可能な感光性ポリ
イミド前駆体組成物を提供し、金属箔上に前記感光性ポ
リイミド前駆体組成物をキュアした後のポリイミド−金
属箔複合体を提供するものである。 【解決手段】感光性ポリイミド前駆体組成物であって、
キュア後の該組成物の30℃〜100℃の平均線膨張係
数が、5×10-6/℃〜25×10-6/℃であり、伸度
が20%以上であり、比誘電率が3.0以下であること
を特徴とする感光性ポリイミド前駆体組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、感光性ポリイミド
前駆体組成物およびこれを用いた金属箔−ポリイミド複
合体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来感光性ポリイミド前駆体ワニスとし
てはポリアミド酸を主成分とするポリマー、炭素−炭素
2重結合を有するアミン化合物、必要に応じて加える増
感剤とから成る組成物やポリアミド酸にエステル基で感
光基を導入した感光性ポリイミド前駆体組成物や、ポリ
マー末端に感光性基を導入したポリイミド前駆体に光重
合性官能基を有する感光助剤を添加したもの等が知られ
ている。これらの材料は、有機溶剤に溶解したワニス状
態で用いられる。このワニスを基板に塗布し、乾燥して
皮膜とした後に、適当なフォトマスクを介して紫外線照
射し、現像、リンス処理して所望のレリーフ・パターン
を得、更に加熱処理して耐熱性の高い感光性ポリイミド
膜のレリーフ・パターンを形成することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの公知
のポリイミド膜と金属材料とからなるポリイミド複合材
料は、芳香族ポリイミド膜を形成している芳香族ポリイ
ミドが金属材料に対してかなり大きな線膨張係数を有す
るために、ポリアミド酸を熱処理してポリイミド化する
際にカールが生じてしまうという欠点があった。また、
半導体の分野においてもポリイミド膜の膜厚を厚くする
と基板であるシリコンウエハが反ってくるという欠点が
あった。
【0004】また、ポリイミド膜と金属材料からなるポ
リイミド複合材料の曲げ加工時のクラックを防ぐために
は、高い伸度が求められている。
【0005】さらに、近年、半導体素子、回路あるいは
回路付きサスペンション基板や多層配線板などの微細
化、高集積化、高密度化が進むにつれて、信号伝搬速度
遅延の短縮化等に寄与する誘電率の低い材料が求められ
ている。
【0006】線膨張係数の低い感光性ポリイミドの例と
しては例えば、特開平10−301279号公報があげ
られるが、伸度については効果がなく、ポリイミドが曲
げなどの工程を経る場合には使用が困難であった。
【0007】本発明は、かかる従来技術の諸欠点に鑑み
創案されたもので、その目的とするところは、低い線膨
張係数と高い伸度、および、低い比誘電率を持ち、さら
に良好なパターン加工が可能な感光性ポリイミド前駆体
組成物を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、キュア膜の3
0℃〜100℃の平均線膨張係数が、5×10-6(1/
℃)〜25×10-6(1/℃)であり、および伸度が2
0%以上であり、比誘電率が3.0以下であることを特
徴とする感光性ポリイミド前駆体組成物であり、金属箔
上に、上記感光性ポリイミド前駆体組成物を、キュア後
の膜厚が5〜30μmになるように塗布し、キュアした
金属箔−ポリイミド複合体であって、キュア後の該複合
体のそり値が50×10ー3以下であり、パターン状に形
成した場合、キュア後の複合体のそり係数が10×10
3であることを特徴とする金属箔−ポリイミド複合体で
ある。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明における一般式(1)で表される構造単位を有す
るポリマーとしては、前記一般式で示される構造を有
し、加熱あるいは適当な触媒によりイミド環や、その他
環状構造を有するポリマーとなり得るものをあげること
ができる。
【0010】一般式(1)におけるR1は、平均線膨張
係数、伸度、比誘電率の観点から、ピロメリット酸の残
基を60〜100モル%含むことが好ましい。
【0011】酸無水物成分に、誘電率や線膨張係数を損
なわない範囲でピロメリット酸以外のものを用いてもよ
く、具体例としては、3,3’,4,4’−ビフェニル
テトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルエ
ーテルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェ
ニルヘキサフルオロプロパンテトラカルボン酸、3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、
3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸などの残基があげらるが、これに限定されない。
【0012】一般式(1)におけるR2は、30℃〜1
00℃の平均線膨張係数が、5×10-6(1/℃)〜2
5×10-6(1/℃)、伸度が20%以上であるという
条件をみたすために、剛直成分である少なくとも1種類
のジアミン残基と柔軟成分である少なくとも1種類のジ
アミン残基とを含むことが好ましい。また剛直成分であ
るR2は2価の有機基で炭素数が5から40である芳香
族ジアミン残基を含むことが好ましく、柔軟成分である
2は同じく2価の有機基で炭素数が5から40である
芳香族ジアミン残基を含むことが好ましい。ここでいう
剛直成分とは、ベンゼン環、ナフタレン環のように単一
の芳香族からなる構造、または、ビフェニル構造のよう
に芳香族同士が直接結合した構造を有する成分のことで
ある。ここでいう柔軟成分とは、2つ以上の芳香族が、
少なくとも1つ以上の炭素原子、酸素原子、窒素原子、
ケイ素原子、硫黄原子に代表されるこれらの原子を介し
て結合している構造を有する成分のことである。
【0013】また、さらに上記平均線膨張率および伸度
に加え、比誘電率が3.0以下という条件をみたすため
に、R2は少なくとも1種類のフッ素を含有するジアミ
ン残基を有し、好ましくは剛直成分の少なくとも1種類
はフッ素を含有するジアミン残基を有し、柔軟成分の少
なくとも1種類はフッ素を含有するジアミン残基を有す
ることが好ましい。剛直成分であるフッ素を含有するジ
アミン残基には、トリフルオロメチルパラフェニレンジ
アミン、トリフルオロメチルメタフェニレンジアミン、
ビス(トリフルオロ)メチルパラフェニレンジアミン、
ビス(トリフルオロ)メチルメタフェニレンジアミン、
トリフルオロメトキシパラフェニレンジアミン、トリフ
ルオロメトキシメタフェニレンジアミン、フルオロパラ
フェニレンジアミン、フルオロメタフェニレンジアミ
ン、ビス(トリフルオロメチル)ジアミノビフェニルな
どの残基があげられるがこれに限定されない。また、柔
軟成分であるフッ素を含有するジアミン残基には、ジア
ミノジフェニルヘキサフルオロプロパン、ビス(アミノ
メチルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(アミ
ノトリフルオロメチルフェニル)ヘキサフルオロプロパ
ン、ビス(アミノエチルフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン、ビス(アミノクロロフェニル)ヘキサフルオロプ
ロパン、ビス(アミノジメチルフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン、ビス(アミノジエチルフェニル)ヘキサフ
ルオロプロパン、ビス(アミノトリフルオロメチルフェ
ニル)スルホン、ビス(アミノトリフルオロメチルフェ
ニル)エーテル、ビス(アミノフェノキシフェニル)ヘ
キサフルオロプロパンなどの残基があげられるがこれに
限定されない。
【0014】さらに、剛直成分であるフッ素含有ジアミ
ン残基は、特に好ましくは2,2’−ビス(トリフルオ
ロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル残基を有
し、柔軟成分であるフッ素含有ジアミン残基は、特に好
ましくは2,2−ビス〔(アミノフェノキシ)フェニ
ル〕ヘキサフルオロプロパン類、2,2−ビス(アミノ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン類の残基から選択さ
れるもの、または、これらの混合されたものを有するこ
とがさらに好ましい。
【0015】本発明におけるポリイミド前駆体組成物の
ジアミン成分に、誘電率や線膨張係数を損なわない範囲
内でフッ素を含まないものを用いてもよい。フッ素を含
まない剛直成分の具体例としては、パラフェニレンジア
ミン、メタフェニレンジアミン、メチルパラフェニレン
ジアミン、メチルメタフェニレンジアミン、ジメチルパ
ラフェニレンジアミン、ジメチルメタフェニレンジアミ
ン、トリメチルパラフェニレンジアミン、トリメチルメ
タフェニレンジアミン、テトラメチルパラフェニレンジ
アミン、テトラメチルメタフェニレンジアミン、メトキ
シパラフェニレンジアミン、メトキシメタフェニレンジ
アミン、クロロパラフェニレンジアミン、クロロメタフ
ェニレンジアミン、ブロモパラフェニレンジアミン、ブ
ロモメタフェニレンジアミン、カルボキシパラフェニレ
ンジアミン、カルボキシメタフェニレンジアミン、メト
キシカルボニルパラフェニレンジアミン、メトキシカル
ボニルメタフェニレンジアミン、ジメチルジアミノビフ
ェニル、ジクロロジアミノビフェニルなどの残基、ま
た、フッ素を含まない柔軟成分の具体例としては、ジア
ミノジフェニルメタン、ビス(アミノメチルフェニル)
メタン、ビス(アミノエチルフェニル)メタン、ビス
(アミノクロロフェニル)メタン、ビス(アミノジメチ
ルフェニル)メタン、ビス(アミノジエチルフェニル)
メタン、ジアミノジフェニルプロパン、ビス(アミノメ
チルフェニル)プロパン、ビス(アミノエチルフェニ
ル)プロパン、ビス(アミノクロロフェニル)プロパ
ン、ビス(アミノジメチルフェニル)プロパン、ビス
(アミノジエチルフェニル)プロパン、ジアミノジフェ
ニルスルホン、ビス(アミノメチルフェニル)スルホ
ン、ビス(アミノエチルフェニル)スルホン、ビス(ア
ミノジメチルフェニル)スルホン、ビス(アミノジエチ
ルフェニル)スルホン、ジアミノジフェニルエーテル、
ビス(アミノメチルフェニル)エーテル、ビス(アミノ
エチルフェニル)エーテル、ビス(アミノジメチルフェ
ニル)エーテル、ビス(アミノジエチルフェニル)エー
テル、ビス(アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(アミ
ノフェノキシフェニル)プロパン、ビス(アミノフェノ
キシフェニル)メタン、ビス(アミノフェノキシフェニ
ル)スルホンなどの残基などがあげられるが、これに限
定されない。
【0016】ポリイミド系ポリマーの接着性を向上させ
るために、耐熱性を低下させない範囲でR2として、シ
ロキサン結合を有する脂肪族基を共重合する事も可能で
ある。好ましい具体例としては、ビス(3−アミノプロ
ピル)テトラメチルジシロキサン等が挙げられるが、こ
れに限定されない。
【0017】本発明における重合体は、一般式(1)で
表される構造単位のみからなる物であっても良いし、他
の構造単位との共重合体あるいはブレンド体であっても
よい。その際、一般式(1)で表される構造単位を80
%以上含有していることが好ましい。共重合またはブレ
ンドに用いられる構造単位の種類、量は最終加熱処理に
よって得られるポリイミド系ポリマーの耐熱性を著しく
損なわない範囲で選択するのが好ましい。
【0018】感光性を付与するために、一般式(1)に
おいて、R3が−OH、または−OR4、−NHR4、−
-+4567から選ばれた基、もしくはこれらの
基の混合であることが好ましい。ここでR4は少なくと
も1種のエチレン性不飽和結合を有する基であり、
5、R6、R7はそれぞれ水素原子または炭素数1〜1
0までの有機基を表し、R5、R6、R7は各々同じでも
異なっていてもよい。これらの中では、キュア中の感光
剤の揮発が起こりやすいイオン結合型である−OーN+
4567がR3として好ましい。
【0019】一般式(1)のR3が−OR4(R4は前記
と同じである)である化合物の重合方法としては、酸二
無水物と1種のエチレン性不飽和結合を有するアルコー
ルとを反応させた後、脱水縮合剤を用いてジアミンと反
応させることにより得ることができる。また、酸二無水
物とジアミンを反応させた後に1種のエチレン性不飽和
結合を有するエポキシ化合物とを反応させることによっ
ても得られる。先のエステル化するための化合物の具体
例としては、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、2
−ヒドロキシエチルアクルレート、2−ヒドロキシプロ
ピルメタクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレ
ート、アリルアルコール、エチレングリコールモノアリ
ルエーテルなどが挙げられ、後者のエステル化するため
の具体例としては、グリシジルメタクリレート、グリシ
ジルアクリレートなどが挙げられるが、これらに限定さ
れるものではない。
【0020】また、一般式(1)のR3が−O-+4
567(R4、R5、R6、R7は前記と同じである)で
ある化合物の重合方法としては、酸二無水物とジアミン
を反応して得られたポリアミド酸に1種のエチレン性不
飽和結合を有するアミンを混合し、アミド酸のカルボキ
シル基にイオン結合させることにより得ることができ
る。このアミン化合物の具体例としては、N,N−ジメ
チルアミノエチルアクリレート、N,N−ジエチルアミ
ノエチルアクリレート、N,N−ジメチルアミノプロピ
ルアクリレート、N,N−ジエチルアミノプロピルアク
リレート、N,N−ジメチルアミノブチルアクリレー
ト、N,N−ジエチルアミノブチルアクリレートおよび
N,N−ジメチルアミノエチルメタクリレート、N,N
−ジエチルアミノエチルメタクリレート、N,N−ジメ
チルアミノプロピルメタクリレート、N,N−ジエチル
アミノプロピルメタクリレート、N,N−ジメチルアミ
ノブチルメタクリレート、N,N−ジエチルアミノブチ
ルメタクリレート、N,N−ジメチルアミノエチルメタ
クリルアミド、N,N−ジメチルアミノプロピルメタク
リルアミド、N,N−ジエチルアミノエチルメタクリル
アミド、N,N−ジエチルアミノプロピルメタクリルア
ミド、N,N−ジメチルアミノエチルアクリルアミド、
N,N−ジエチルアミノプロピルアクリルアミド、2−
ビニルピリジン、4−ビニルピリジン、アリルアミン、
2−メチルアリルアミン、ジアリルアミンなどが挙げら
れるが、特にこれらに限定されるものではない。
【0021】また、一般式(1)のR3が−NHR4(R
4は前記と同じである)である化合物の重合方法として
は、酸二無水物とジアミンを反応して得られたポリアミ
ド酸に、塩基触媒存在下、1種のエチレン性不飽和結合
を有するイソシアネートと反応させることにより得るこ
とができる。この化合物の具体例としては、イソシアネ
ートエチルアクリレート、イソシアネートプロピルアク
リレート、イソシアネートブチルアクリレート、イソシ
アネートペンチルアクリレート、イソシアネートヘキシ
ルアクリレート、イソシアネートオクチルアクリレー
ト、イソシアネートデシルアクリレート、イソシアネー
トペンチルアクリレート、イソシアネートエチルメタク
リレート、イソシアネートプロピルメタクリレート、イ
ソシアネートブチルメタクリレート、イソシアネートペ
ンチルメタクリレート、イソシアネートヘキシルメタク
リレート、イソシアネートオクチルメタクリレート、イ
ソシアネートデシルメタクリレートなどが挙げられる
が、特にこれらに限定される物ではない。
【0022】エチレン性不飽和結合基は、ポリイミド前
駆体組成物中のカルボキシル基に対し0.1〜2倍モル
当量存在するのが好ましく、0.3〜1.0モル等量が
さらに好ましい。この量が少なすぎれば、感光特性が不
良となり、逆に量が多すぎれば、ポリイミド前駆体膜を
金属箔に塗布し熱処理してポリイミド膜を形成する時
に、この複合材料のそりが大きくなったり、キュア時の
膜厚の減少量が大きくなったりする。
【0023】本発明において使用するエチレン性不飽和
基をイオン結合、アミド結合あるいはエステル結合で導
入するためのポリアミド酸は、前述のテトラカルボン酸
成分とジアミン成分とをテトラカルボン酸の総モル当量
に対して、0.9〜1.1倍モル当量、好ましくは0.
95〜1.05倍モル当量、さらに好ましくは等モル当
量を使用し、極性有機溶剤中で0〜100℃、好ましく
は10〜80℃の範囲の温度で0.2〜60時間高分子
量になるように重合する事によって製造される。
【0024】この製造法において、モル当量の差が小さ
いほど、ポリイミド前駆体を加熱処理することによって
得られるポリイミドの重合度が大きくなり、機械的特性
の良好なフィルムが得られるため、芳香族テトラカルボ
ン酸成分と芳香族ジアミン成分とを等モル量使用するこ
とが好ましい。重合温度においては、温度が低すぎると
反応がなかなか進まず、また温度が高すぎるとポリアミ
ド酸のイミド化が進行するおそれがあることから、10
〜80℃の範囲で重合することが好ましい。
【0025】エチレン性不飽和結合をイオン結合で導入
する場合には、上記重合により得たポリアミド酸に前述
の不飽和結合を有するアミンを室温で添加し、光重合開
始剤さらに必要に応じて増感剤を加えることによりポリ
イミド前駆体組成物が得られる。
【0026】また、エチレン性不飽和結合をアミド結合
で導入する場合には、上記重合により得たポリアミド酸
に前述の不飽和結合を有するイソシアネートをアミンな
どの塩基性触媒存在下、0〜100℃好ましくは20〜
70℃で重合に使用した有機溶剤中で反応させた後、光
重合開始剤、さらに必要に応じて増感剤を加えることに
よりポリイミド前駆体組成物が得られる。
【0027】エチレン性不飽和結合をエステル結合で導
入する場合には、上記重合により得たポリアミド酸に前
述の不飽和結合を有するエポキシ化合物をアミンなどの
塩基性触媒存在下、60〜120℃好ましくは70〜9
0℃で重合に使用した有機溶剤中で反応させた後、光重
合開始剤さらに必要に応じて増感剤を加えることにより
ポリイミド前駆体組成物が得られる。
【0028】また、エチレン性不飽和基をエステル結合
で導入するポリアミド酸の他の製造法は、前述のテトラ
カルボン酸とエチレン性不飽和結合を有するアルコール
とを反応させて得られたテトラカルボン酸ジエステルと
前述のジアミン成分とを脱水縮合剤の存在下に反応させ
て得ることができ、反応条件は特に限定されない。この
脱水縮合剤の例としては、ジシクロヘキシルカルボジイ
ミドなどのペプチド合成に用いられるものを使用するこ
とができる。この場合の反応温度は、反応が進行する温
度であれば特に制限はないが、反応速度および副生成物
の発生の問題から−20℃〜80℃が好ましく、−10
℃〜30℃がさらに好ましい。縮合剤の比率は、カルボ
ン酸またはアミンの少ない方に対して当量以上あればよ
く、過剰に存在しても特に問題はない。通常、1当量〜
1.5当量程度用いるのが好ましい。反応時間は10分
〜100時間が好ましく、1時間ないし24時間がさら
に好ましい。また、反応時に1−ヒドロキシベンゾトリ
アゾール、ピリジンなどの添加剤を用いて反応を円滑に
行うこともできる。テトラカルボン酸ジエステルとジア
ミンのモル比は、目的とするポリアミド酸の分子量に応
じてテトラカルボン酸の総モル当量に対して、0.7〜
1.3倍モル当量、好ましくは等モル当量を使用するこ
とによって製造される。生成したポリアミド酸は、水ま
たは有機溶剤中で結晶化され、ろか、洗浄、水または有
機溶剤による再沈殿等の公知の方法を用いて溶媒、残存
縮合剤、縮合剤からの生成物である尿素類等を除去する
ことによって精製される。精製したポリアミド酸、光重
合開始剤さらに必要に応じて増感剤を含む全ての成分を
溶解しうる有機溶剤に溶解することによりポリイミド前
駆体組成物が得られる。
【0029】本発明に必要に応じて用いられる感光剤と
してはポリマー中のカルボン酸にエチレン性不飽和結合
を導入するために使用した不飽和結合を有するアルコー
ル類、エポキシ類、アミン類、イソシアネート類や4−
(2’−ニトロフェニル)−4−ヒドロピリジン類など
が挙げられるが、これらに限定されない。
【0030】本発明に用いる光重合開始剤は特に限定さ
れない。その具体的な例として、ベンゾフェノン、o−
ベンゾイル安息香酸メチル、4,4’−ビス(ジメチル
アミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジエチルア
ミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ジクロロベンゾフェ
ノン、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルケト
ン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,2’−ジエ
トキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェ
ニルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロ
ピオフェノン、p−t−ブチルジクロロアセトフェノ
ン、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−
クロロチオキサントン、2−イソプロピルチオキサント
ン、ジエチルチオキサントン、ベンジル、ベンジルジメ
チルケタール、ベンジル−β−メトキシエチルアセター
ル、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾイ
ンブチルエーテル、アントラキノン、2−t−ブチルア
ントラキノン、2−アミルアントラキノン、β−クロル
アントラキノン、アントロン、ベンズアントロン、ジベ
ンゾスベロン、メチレンアントロン、4−アジドベンザ
ルアセトフェノン、2,6−ビス(p−アジドベンジリ
デン)シクロヘキサノン、2,6−ビス(p−アジドベ
ンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、1−フェ
ニル−1,2−ブタンジオン−2−(o−メトキシカル
ボニル)オキシム、1−フェニル−プロパンジオン−2
−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル
−プロパンジオン−2−(o−ベンゾイル)オキシム、
1,3−ジフェニル−プロパントリオン−2−(o−エ
トキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−3−エト
キシ−プロパントリオン−2−(o−ベンゾイル)オキ
シム、ミヒラーケトン、N−フェニルグリシン、3−フ
ェニル−5−イソオキサゾロン、1−ヒドロキシシクロ
ヘキシルフェニルケトン、2−メチル−[4−(メチル
チオ)フェニル]−2−モルフォリノ−1−プロパノ
ン、また、ナフタレンスルホニルクロライド、キノリン
スルホニルクロライド、N−フェニルチオアクリドン、
4,4´−アゾビスイソブチロニトリル、ジフェニルジ
スルフィド、ベンズチアゾールジスルフィド、トリフェ
ニルホスフィン、カンファーキノン、四臭化炭素、トリ
ブロモフェニルスルホン、過酸化ベンゾイルおよびエオ
シン、メチレンブルーなどの光還元性色素とアスコルビ
ン酸、トリエタノールアミンなどの還元剤の組み合わせ
などが挙げられるが、特にこれらに限定されない。本発
明ではこれらを1種または2種以上使用することができ
る。
【0031】本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物に
含有される光重合開始剤の量は、ポリアミド酸の0.0
1〜30重量%が好ましく、0.1〜15重量%がさら
に好ましい。光重合開始剤の量が少なすぎれば、組成物
の光感度が不良となり、光重合開始剤の量が多すぎれ
ば、ポリイミド前駆体膜を熱処理してポリイミド膜を形
成する時に、膜厚の減少量が大きくなりすぎる。
【0032】また、光感度を向上させ得る増感剤を、本
発明の感光性ポリイミド前駆体組成物に添加してもよ
い。増感剤の具体的な例として、2,5−ビス(4’−
ジエチルアミノベンザル)シクロペンタノン、2,6−
ビス(4’−ジメチルアミノベンザル)シクロヘキサノ
ン、2,6−ビス(4’−ジメチルアミノベンザル)−
4−メチルシクロヘキサノン、2,6−ビス(4’−ジ
エチルアミノベンザル)−4−メチルシクロヘキサノ
ン、ミヒラーケトン、4,4’−ビス(ジエチルアミ
ノ)−ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジメチルアミ
ノ)カルコン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)カル
コン、p−ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、
p−ジメチルアミノベンジリデンインダノン、2−(p
−ジメチルアミノフェニルビニレン)ベンゾチアゾー
ル、2−(p−ジメチルアミノフェニルビニレン)−イ
ソナフトチアゾール、1,3−ビス(4’−ジメチルア
ミノベンザル)アセトン、1,3−ビス(4’−ジエチ
ルアミノベンザル)アセトン、3,3’−カルボニル−
ビス(7−ジエチルアミノクマリン)、N−フェニル−
N’−エチルエタノールアミン、N−フェニルジエタノ
ールアミン、N−トリルジエタノールアミン、N−フェ
ニルエタノールアミン、ジメチルアミノ安息香酸イソア
ミル、ジエチルアミノ安息香酸イソアミル、3−フェニ
ル−5−イソオキサゾロン、1−フェニル−5−ベンゾ
イルチオテトラゾール、1−フェニル−5−エトキシカ
ルボニルチオテトラゾールなどが挙げられるが、特にこ
れらに限定されない。本発明ではこれらの増感剤を1種
または2種以上使用することができる。なお、増感剤の
なかには光重合開始剤としても作用するものがある。
【0033】増感剤を本発明の感光性ポリイミド前駆体
組成物に添加する場合、その添加量は、ポリアミド酸の
0.01〜30重量%が好ましく、0.3〜15重量%
がさらに好ましい。添加量が大きすぎれば、ポリイミド
前駆体膜を熱処理してポリイミド膜を形成する時に、膜
厚の減少量が大きくなりすぎる。また、添加量が小さす
ぎれば、光感度を向上させる効果が発揮されない。
【0034】前記の製造法において使用する極性有機溶
剤としては、常圧で沸点が300℃以下、特に250℃
以下のものが好ましく、たとえばN−メチル−2−ピロ
リドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメ
チルホルムアミト゛、N,N−ジエチルアセトアミド、
N,N−ジエチルホルムアミド、ジメチルスルホキシ
ド、ジメチルスルホン、γ−ブチロラクトンなどが好適
にあげることができるが、これらに限定されるものでは
ない。この他、これらの極性溶媒以外に一般的有機溶媒
であるケトン類、エステル類、エーテル類、ハロゲン化
炭化水素類、炭化水素類など、たとえば、アセトン、メ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘ
キサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュ
ウ酸ジエチル、マロン酸ジエチル、ジエチルエーテル、
エチレングリコ−ルジメチルエーテル、テトラヒドロフ
ラン、ジクロロメタン、1,2−ジクロルエタン、1,
4−ジクロルブタン、トリクロルエタン、クロルベンゼ
ン、o−ジクロルベンゼン、ヘキサン、ヘプタン、オク
タン、ベンゼン、トルエン、キシレンなどと混合して使
用することができる。
【0035】本発明における感光性ポリイミド前駆体組
成物は、キュア後の該組成物の30℃〜100℃の平均
線膨張係数が5×10-6(1/℃)〜25×10-6(1
/℃)であり、伸度が20%以上であることに加え、比
誘電率が3.0以下であることが重要である。この平均
線膨張係数が25×10-6(1/℃)より大きい場合に
は、金属材料と比べて大きな線膨張係数を有するため
に、金属材料−ポリイミド複合体においてポリイミドを
内側にカールする問題が発生し、金属材料を薄くするほ
ど、またポリイミドの膜厚を厚くするほど顕著になる傾
向がある。また、半導体の分野においてもポリイミドの
膜厚が厚くなるとシリコンウエハがそってくるという問
題が発生する。逆に線膨張係数が5×10-6(1/℃)
より小さい場合、金属材料と比べて線膨張係数が小さい
ために、金属材料−ポリイミド複合体においてポリイミ
ドを外側にカールする問題が発生する。
【0036】本発明のおける好ましい伸度は20%以上
であり、より好ましくは30%以上であり、さらに好ま
しくは35%以上である。伸度が20%以上であること
が重要であり、これより小さいと、金属材料−ポリイミ
ド複合体が曲げ工程を経るときにクラックが生じてしま
う。また比誘電率は3.0以下であり、より好ましくは
2.9以下である。伸度は大きければ大きいほど好まし
く、誘電率は小さければ小さいほど好ましい。
【0037】本発明における30℃〜100℃の平均線
膨張係数は、感光性ポリイミド前駆体組成物をキュアし
た厚さ10μm、幅15mm、長さ30mmのポリイミ
ドフィルムを、長さ方向に円筒状に巻き、セイコー電子
製TMA/SS−6000を用いて測定した。装置中、
窒素雰囲気中280℃までアニールした後冷却し、再度
昇温し、30〜100℃の範囲で昇温速度5℃/分で測
定した。また、30℃〜100℃の平均線膨張係数αは
下記式によって求めた。 α=(1/L0)×{ΔL/(100−30) ただし、L0は30℃での試料長、ΔLは100℃にお
ける試料長から30℃における試料長を減じた値であ
る。
【0038】本発明における伸度は、感光性ポリイミド
前駆体組成物をキュアした厚さ10μm、幅10mm、
長さ5cmのポリイミドフィルムを長さ芳香にオリエン
テック製テンシロンRTM100を用いて50mm/m
inで引っ張り、得られた測定結果のJIS平均値を測
定値とした。JIS平均は下記式によって求めた。JI
S平均=S1×0.5+S2×0.3+(S3+S4)
×0.1である。ただしS1は一番大きな測定値、S2
は2番目に大きな測定値、S3、S4は3番目、4番目
に大きな測定値である。
【0039】本発明における比誘電率は、200μmの
アルミ基板上に厚み10μmの感光性ポリイミド膜を形
成した後、ポリイミド上に200nmのアルミを蒸着し
たものをサンプルとして用い、湿度45%RHでポリイ
ミド膜の1KHzにおける静電容量を(株)横川ヒュー
レットパッカード製LCRメータ4284Aを用いて測
定し、下記式より求めた。 ε=(C・d)/(ε0・S) ただし、Cは静電容量、dは試料膜厚、ε0は真空での
誘電率、Sは電極面積である。
【0040】本発明におけるそりは、感光性ポリイミド
前駆体組成物を25μmのSUS箔上に塗布し、キュア
して得られたポリイミド膜厚10μmの金属箔−ポリイ
ミド複合体を用いる。そのキュアした金属箔−ポリイミ
ド複合体を水平面に静置し、その複合体の角部の水平面
からの高さ(h)をSUS箔の長手方向の長さ(l)で
割ることによって得られる。そり値の測定は、パターン
化していない金属箔−ポリイミド複合体を、20〜30
℃、30〜70%RHの下で、キュア後の複合体を水平
面におき、角部の水平面からの高さ(h1)をノギスで
測定し、次式により求めた。
【0041】そり値=h1/l ここでポリイミドが内側にそる場合とポリイミドが外側
にそる場合とがあるがそり値はその絶対値とした。ま
た、そり係数の測定は、パターン状に形成された金属箔
−ポリイミド複合体を、20〜30℃、30〜70%R
Hの下で、複合体の一方を基準面に固定した時のもう一
方の基準面からの複合体の高さ(h2)をノギスあるい
はレーザーテック製1LM21で測定し、次式により求
めた。
【0042】そり係数=h2/l ここでポリイミドが内側にそる場合とポリイミドが外側
にそる場合とがあるがそり係数はその絶対値とした。
【0043】得られた組成物を基板上に塗布する方法と
しては、スピンコーター、バーコーター、ブレードコー
ター、リバースコーター、スクリーン印刷法などで基板
に塗布する方法、基板をワニス中に浸漬する方法、ワニ
スを基板に噴霧するなどの種々の方法を用いることがで
きるが、これらに限定されるものではない。基板として
は、厚さが5〜100μmの金属箔好ましくは5〜30
μmの金属箔、さらに好ましくは10〜30μmのステ
ンレス箔を用い、前記感光性ポリイミド前駆体組成物を
キュア後の膜厚が5〜30μmになるように基板上に塗
布した後、風乾、加熱乾燥、真空乾燥などにより、感光
性ポリイミド前駆体膜を形成し、この膜を、窒素雰囲気
中、あるいは真空中で150〜450℃の温度のもとで
0.5〜5時間連続的または段階的に加熱処理すること
によってポリイミド膜に変換でき、金属箔−ポリイミド
複合体を得ることができる。
【0044】また、上記金属箔−ポリイミド複合体の感
光性ポリイミド前駆体膜をパターン加工することもでき
る。この場合、通常のフォトマスクを用いて露光され
る。この際に使用される活性光線としては、たとえば、
紫外線、電子線、X線などが挙げられるが、これらの中
では紫外線が好ましく、その光源としては、たとえば、
低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ハロゲンラン
プ、殺菌灯などが挙げられる。これらの光源の中で超高
圧水銀灯が好適である。
【0045】露光後、必要なら熱処理を行った後、現像
液を使用して現像を行い、未露光部あるいは露光部を除
去する。この場合、浸漬法やスプレー法を用いることが
できる。現像液としては通常、ポリアミド酸を合成する
場合に好適に使用されるポリアミド酸を溶解しうる有機
溶媒と同様のものが使用される。なお、このような有機
溶媒に、現像性を良好とするために水を添加して用いる
こともできる。水を添加する場合、その添加量は有機溶
媒に対して通常、1〜100重量%、好ましくは5〜5
0重量%である。添加量が大きすぎる場合、有機溶媒と
のあいだで相分離を起こすおそれが生じ、添加量が小さ
すぎる場合は、現像性を良好にする効果を発揮しない。
アルカリ水溶液の場合は、水酸化ナトリウム、テトラメ
チルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルア
ンモニウムハイドロオキサイド、コリンなどが用いられ
る。また、現像直後に、エチルアルコール、イソプロピ
ルアルコール、イソブチルアルコール、ヘキサン、ペン
タンなどの有機溶剤、水と任意の割合で混和可能な有機
溶剤と水との混合溶剤あるいは水単独で、リンスを行う
ことが望ましい。
【0046】現像によって得られたポリイミド前駆体の
パターンは、その後、加熱処理することによって、ポリ
イミドのパターンに変換される。加熱処理は通常、窒素
雰囲気中、あるいは、真空中で、150〜450℃の温
度のもとで、0.5〜5時間、連続的または段階的に行
われ、パターン状に形成された金属箔−ポリイミド複合
体が得られる。
【0047】また、パターン状に形成されたポリイミド
の上に薄膜導体回路とポリイミドからなる層を少なくと
も1層形成する金属箔−ポリイミド複合体を得ることが
できる。ポリイミドの上に形成する薄膜導体回路として
は、スパッタリング、メッキ、蒸着等の方法によるC
u、Cr、Ti、Ni、Ag、Au、Pd、Pt,A
l、Sn等の金属が考えられ、これらが単独でも合金で
あっても、また2種以上の金属が層状に形成されていて
も良い。これらの中でポリイミドと直接接触する金属薄
膜としては、ポリイミドとの密着性からCrが好まし
い。形成された金属薄膜をフォトレジストを用いてパタ
ーン状に加工し回路を形成した後、2層目のポリイミド
前駆体を塗布、乾燥、パターン状に加工することによ
り、上記金属箔−ポリイミド複合体を得ることができ
る。
【0048】
【実施例】以下、実施例によって本発明を具体的に説明
するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0049】実施例1 温度計および乾燥空気導入口と攪拌装置を付した300
mlの4つ口フラスコに、2,2’−ビス(トリフルオ
ロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル(TFM
B)28.8g(0.09モル)、2,2−ビス〔4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプ
ロパン(HFBAPP)5.19g(0.01モル)、
N−メチル−2−ピロリドン100gを仕込み、窒素気
流下、60℃で攪拌した。溶解したのを確認した後、6
0℃でピロメリット酸二無水物(PMDA)21.81
g(0.1モル)、N−メチル−2−ピロリドン30g
を添加し、60℃で3時間攪拌した。
【0050】次に、光遮断下の室温で、ミヒラーケトン
0.6g、1−フェニル−プロパンジオン−2−(o−
ベンゾイル)オキシム0.6g、N,N−ジメチルアミ
ノエチルメタクレート18.5gをN−メチル−2−ピ
ロリドン60g混合撹拌後、フィルターでろ過して感光
性ポリイミド前駆体組成物溶液を得た。この場合、ジア
ミン成分のうち剛直成分(TFMB)が90モル%、柔
軟成分(HFBAPP)が10モル%である。
【0051】この溶液を10cm×10cm角の25μ
mSUS箔にスピンコートし、90℃で60分間加熱乾
燥して、厚み19μmの膜を形成した。これを140℃
30分間、350℃60分間のステップで加熱処理し、
厚み10μmのポリイミドの膜を得た。このとき、ポリ
イミドが塗布されたSUS箔の4つの角のそりを測定し
平均化すると、ポリイミドが外側に1.4mmそってお
り、そり値は14×10-3であった。
【0052】また、このポリイミド膜の30℃〜100
℃の範囲での平均線膨張係数は13×10-6(1/℃)
であり、伸度が45%、比誘電率は2.88であった。
【0053】次にパターン加工するために、25μmS
US箔にスピンコートし、90℃で60分間加熱乾燥し
て厚み20μmの膜を形成した。この膜面をパターンの
付いたマスクで覆い、窒素雰囲気下、7mW/cm2
出力の超高圧水銀灯を用いて2分間露光を行った。その
後、東レ製DV−822現像液を用い25℃で現像し、
水で1分間リンス洗浄したところ、厚み17μmのポリ
イミド前駆体のパターンを得た。これを窒素雰囲気下、
140℃30分間、350℃60分間のステップで加熱
処理し、厚み10μmのポリイミドのパターンを得た。
このパターン状に形成したSUS−ポリイミド膜複合体
を幅2mm、長さ3mmにカットし、長さ方向の一方の
端を固定台に固定し、もう一方の固定台からの高さをレ
ーザーテック製1LM21を用いて測定すると、ポリイ
ミドが外側に15μmそっており、そり係数は5×10
-3であった。
【0054】実施例2〜 7、比較例1〜3 ポリマー組成比について、表1に従ったほかは実施例1
と同様の方法により行った。得られたそり値、比誘電
率、線膨張係数、そり係数の値も合わせて表1に示し
た。
【0055】
【表1】
【0056】(表のPMDAはピロメリット酸二無水
物、6FDAは3,3’,4,4’−ジフェニルヘキサ
フルオロプロパンテトラカルボン酸、ODPAは4,
4’−オキシジフタル酸二無水物、TFMBは2,2’
−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジアミノビ
フェニル、HFBAPPは2,2−ビス〔4−(4−ア
ミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、
BIS−A−AFは2,2−ビス(4−アミノフェニ
ル〕ヘキサフルオロプロパン、DAEは4,4’-ジア
ミノジフェニルエーテル、SiDAはビス(3−アミノ
プロピル)テトラメチルジシロキサンをそれぞれ示す。
ジアミン成分のうち、TFMBが剛直成分であり、HF
BAPP、BIS−A−AF、DAEが柔軟成分であ
り、SiDAが接着性向上のための成分である)。
【0057】実施例8 温度計および乾燥空気導入口と攪拌装置を付した100
mlの4つ口フラスコに、2,2’−ビス(トリフルオ
ロメチル)−4,4’−ジアミノビフェニル(TFM
B)5.44g(0.017モル)、2,2−ビス〔4
−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロ
プロパン(HFBAPP)1.56g(0.003モ
ル)、N,N’−ジメチルアセトアミド56.45gを
窒素気流化、室温で攪拌した。溶解したのを確認した
後、ピロメリット酸二無水物4.36g(0.02モ
ル)を添加した後、約5時間攪拌し、その後65℃で1
時間加熱した。次に、光遮断下の40℃でN,N−ジメ
チルベンジルアミン0.2gを触媒としてイソシアネー
トエチルメタクリレート1.45g(0.01モル)を
徐々に加え、40℃で4時間撹拌した後、ミヒラーケト
ン0.09g、1−フェニル−プロパンジオン−2−
(o−ベンゾイル)オキシム0.09gを混合撹拌後、
フィルターでろ過して感光性ポリイミド前駆体組成物溶
液を得た。
【0058】この場合、ジアミン成分のうち剛直成分
(TFMB)が85モル%、柔軟成分(HFBAPP)
が15モル%である。
【0059】この溶液を10cm×10cm角の25μ
mSUS箔にスピンコートし、90℃で60分間加熱乾
燥して、厚み20μmの膜を形成した。この膜面に、窒
素雰囲気下、7mW/cm2 の出力の超高圧水銀灯を
用いて1.5分間露光を行った。次に、N,N−ジメチ
ルアセトアミド(80部)とメタノール(20部)の混
合溶媒を用いて現像し、エタノールで1分間リンス洗浄
した。このとき膜の厚みは18μmであった。これを1
50℃30分間、400℃60分間のステップで加熱処
理し、厚み10μmのポリイミドの膜を得た。このと
き、ポリイミドが塗布されたSUS箔の4つの角のそり
を測定し平均化すると、ポリイミドが内側に3.2mm
そっており、そり値は32×10-3であった。
【0060】また、このポリイミド膜の30℃〜100
℃の範囲での平均線膨張係数は18×10-6(1/℃)
であり、伸度が30%、比誘電率は2.96であった。
【0061】次にパターン加工するために、上記厚み2
0μmの膜を用いて、実施例1と同様に露光、現像した
ところ、厚み18μmのポリイミド前駆体のパターンを
得た。これを窒素雰囲気下、150℃30分間、400
℃60分間のテップで加熱処理し、厚み10μmのポリ
イミドのパターンを得た。このパターンを実施例1と同
様に測定したところ20μmであり、そり係数は6.7
×10-3であった。
【0062】実施例9 温度計および乾燥空気導入口と攪拌装置を付した500
mlのセパラブルフラスコに、ピロメリット酸二無水物
21.81g(0.1モル)、2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート26.02g(0.2モル)、γ−ブチロ
ラクトン100mlを入れ、室温で1時間撹拌した後、
60℃まで昇温し、同温度で1時間攪拌した。さらに、
氷冷下、撹拌しながらピリジン17.0gを加えた。室
温で16時間撹拌した後、ジシクロヘキシルカルボジイ
ミド41.2g(0.20モル)のγ−ブチロラクトン
40mlの溶液を氷冷下、10分間で加え、続いて、
2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジ
アミノビフェニル(TFMB)27.22g(0.08
5モル)、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン(HFBAP
P)7.78g(0.015モル)を15分間で加え
た。氷冷下、3時間撹拌した後、エタノール5mlを加
えてさらに1時間撹拌し、沈殿をろかした後、得られた
溶液に10Lのエタノールを加え、生成した沈殿をエタ
ノールで洗浄した後、真空乾燥して粉末を得た。光遮断
下で、この粉末30g、ミヒラーケトン0.6g、1−
フェニル−プロパンジオン−2−(o−ベンゾイル)オ
キシム0.6gをN−メチル−2−ピロリドン45gに
溶解した後、フィルターでろ過して感光性ポリイミド前
駆体組成物溶液を得た。この場合、ジアミン成分のうち
剛直成分(TFMB)が85モル%、柔軟成分(HFB
APP)が15モル%である。
【0063】次に実施例8と同様に膜形成および露光を
行い、シクロヘキサノン(70部)とキシレン(30
部)の混合溶媒の現像液を用いて現像した後、イソプロ
パノールで1分間リンス洗浄した。このとき膜の厚みは
19μmであった。これを150℃60分間、350℃
120分間のステップで加熱処理し、厚み10μmのポ
リイミドの膜を得た。このとき、ポリイミドが塗布され
たSUS箔の4つの角のそりを測定し平均化すると、ポ
リイミドが内側に2.7mmそっており、そり値は27
×10-3であった。
【0064】また、このポリイミド膜の30℃〜100
℃の範囲での平均線膨張係数は18×10-6(1/℃)
であり、伸度が32%であり、比誘電率は2.90であ
った。
【0065】次にパターン加工するために、上記厚み2
0μmの膜を用いて、この膜面をパターンマスクし、同
様にして現像したところ、厚み19μmのポリイミド前
駆体のパターンを得た。これを窒素雰囲気下、150℃
60分間、350℃120分間のステップで加熱処理
し、厚み10μmのポリイミドのパターンを得た。この
パターンを実施例1と同様にポリイミドが内側に18μ
mそっており、そり係数は6×10-3であった。
【0066】
【発明の効果】感光性ポリイミド前駆体組成物であっ
て、半導体素子、回路あるいは回路付きサスペンション
基板、多層配線板など、微細化、高集積化、高密度化が
進む電子材料用途に適用でき、ポリイミドと金属材料か
らなる金属−ポリイミド複合材料においてカールを生じ
ず、また半導体分野においてもポリイミドの膜厚を厚く
しても基板であるシリコンウエハの反りが抑制できる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502R Fターム(参考) 2H025 AA00 AA10 AB15 AB16 AC01 AD01 BC69 BC81 CA01 CA14 CA18 CA27 CC20 DA18 FA03 FA15 FA29 2H096 AA00 AA25 AA26 BA06 BA20 EA02 GA02 HA01 JA04 4J002 CM041 EB046 EE036 EE056 EK046 ES016 ET006 EU236 EV046 EV216 EW016 GP03 4J043 PA02 PA04 PA19 PC135 PC136 PC145 PC146 QB15 QB26 QB31 RA35 SA06 SA42 SA43 SA52 SA53 SA54 SA62 SA72 SB01 SB02 SB03 TA12 TA22 TA32 TA35 TB01 TB02 UA121 UA122 UA131 UA132 UA151 UA662 UA672 UB011 UB061 UB062 UB121 UB122 UB131 UB152 UB301 UB302 UB351 UB401 UB402 VA011 VA021 VA022 VA041 VA051 VA062 VA081 XA03 XB19 YB07 YB19 YB31 YB32 YB33 ZA34 ZA35 ZA42 ZB22 ZB58

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】キュア膜の30℃〜100℃の平均線膨張
    係数が、5×10-6(1/℃)〜25×10-6(1/
    ℃)であり、および伸度が20%以上であり、比誘電率
    が3.0以下であることを特徴とする感光性ポリイミド
    前駆体組成物。
  2. 【請求項2】下記一般式(1)で示されるポリマーと光
    重合開始剤および/または感光剤を含有することを特徴
    とする請求項1記載の感光性ポリイミド前駆体組成物。 【化1】 (一般式(1)中、R1は3〜4価の有機基を示し、R2
    は2価の有機基を示し、R3は−OHおよび/または感
    光性基を示す。nは3〜10000の整数を示し、mは
    1または2を示す。)
  3. 【請求項3】一般式(1)において、R1が1種類また
    は2種類以上のテトラカルボン酸残基からなり、R2が
    剛直成分である少なくとも1種の芳香族ジアミン残基
    と、柔軟成分である少なくとも1種の芳香族ジアミン残
    基を含むことを特徴とする請求項2記載の感光性ポリイ
    ミド前駆体組成物。
  4. 【請求項4】一般式(1)において、R2の少なくとも
    1種類はフッ素を含有するジアミン残基を含むことを特
    徴とする請求項3記載の感光性ポリイミド前駆体組成
    物。
  5. 【請求項5】一般式(1)において、R2の60〜9
    9.9モル%が剛直成分であり、0.1〜40モル%が
    柔軟成分であることを特徴とする請求項4記載の感光性
    ポリイミド前駆体組成物。
  6. 【請求項6】一般式(1)において、R1の60〜10
    0モル%がピロメリット酸残基からなることを特徴とす
    る請求項2記載の感光性ポリイミド前駆体組成物
  7. 【請求項7】一般式(1)において、R2の剛直成分は
    2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ジ
    アミノビフェニルを含み、柔軟成分は2,2−ビス
    〔(アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロ
    パン類の残基および/または2,2−ビス(アミノフェ
    ニル)ヘキサフルオロプロパン類の残基を含むことを特
    徴とする請求項6記載の感光性ポリイミド前駆体組成
    物。
  8. 【請求項8】一般式(1)において、R3が−OH、ま
    たは−OR4、−NHR4、−O-+4567から選
    ばれた基もしくはこれらの基の混合である請求項2記載
    の感光性ポリイミド前駆体組成物(ただしR4は少なく
    とも1種のエチレン性不飽和結合を有する基であり、R
    5、R6、R7はそれぞれ水素原子または炭素数1〜10
    までの有機基を表し、R5、R6、R7は各々同じでも異
    なっていてもよい)。
  9. 【請求項9】金属箔上に、請求項1記載の感光性ポリイ
    ミド前駆体組成物を、キュア後の膜厚が5〜30μmに
    なるように塗布し、キュアした金属箔−ポリイミド複合
    体であって、キュア後の該複合体のそり値が50×10
    -3以下であることを特徴とする金属箔−ポリイミド複合
    体。
  10. 【請求項10】請求項9記載の金属箔−ポリイミド複合
    体がパターン状に形成されたものであり、その形成され
    た金属箔−ポリイミド複合体のそり係数が10×10-3
    以下であることを特徴とする金属箔−ポリイミド複合
    体。
  11. 【請求項11】金属箔が10〜30μmのステンレス箔
    であることを特徴とする請求項9または10記載の金属
    箔−ポリイミド複合体。
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