ES2617664T3 - Procedimiento de enfoque automático y dispositivo de enfoque automático - Google Patents

Procedimiento de enfoque automático y dispositivo de enfoque automático Download PDF

Info

Publication number
ES2617664T3
ES2617664T3 ES10719379.9T ES10719379T ES2617664T3 ES 2617664 T3 ES2617664 T3 ES 2617664T3 ES 10719379 T ES10719379 T ES 10719379T ES 2617664 T3 ES2617664 T3 ES 2617664T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
light
sample
focus
filter
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
ES10719379.9T
Other languages
English (en)
Inventor
Paul Hing
Sven Hensler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sakura Finetek USA Inc
Original Assignee
Sakura Finetek USA Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102009012293A external-priority patent/DE102009012293A1/de
Priority claimed from DE200910012292 external-priority patent/DE102009012292A1/de
Application filed by Sakura Finetek USA Inc filed Critical Sakura Finetek USA Inc
Application granted granted Critical
Publication of ES2617664T3 publication Critical patent/ES2617664T3/es
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/24—Base structure
    • G02B21/241—Devices for focusing
    • G02B21/245—Devices for focusing using auxiliary sources, detectors
    • G02B21/247—Differential detectors
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/06—Means for illuminating specimens
    • G02B21/08—Condensers
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • G02B7/09—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification adapted for automatic focusing or varying magnification

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

Procedimiento de enfoque automático, en el que la luz desde una fuente de luz (12) a través de dos orificios de un medio (28) es dividida en dos trayectorias de la luz (48, 50), es enfocada en un foco de luz de medición (52) en una muestra (6) y es reflejada desde allí y la luz reflejada es conducida a través de un sistema óptico (22) en dos trayectorias de luz (48, 50) correspondientes sobre al menos dos elementos detectores (72, 74), en el que el foco de luz de medición (52) se mueve en capas de la muestra (6) que reflejan luz con diferente intensidad, y la luz reflejada es conducida a través de al menos un orificio de pantalla (46), que corresponde en su forma a la forma de la fuente de luz (12), está dispuesto en un plano de la imagen del sistema óptico (22) y está dispuesto fuera de un eje óptico (20) del sistema óptico (22); y los elementos detectores (72, 74) están dispuestos de tal forma que en este caso las curvas de una propiedad de radiación registrada por los elementos detectores (72, 74) son diferentes entre sí y se ajusta una posición de enfoque en función de las curvas.

Description

5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
DESCRIPCION
Procedimiento de enfoque automatico y dispositivo de enfoque automatico
La solicitud se refiere a un procedimiento de enfoque automatico, en el que se enfoca luz de una fuente de luz en un foco de luz de medicion en una muestra y se refleja desde allf y la luz reflejada es conducida a traves de un sistema optico y al menos un orificio de pantalla en dos trayectorias de la luz sobre al menos dos elementos detectores.
Estado de la tecnica
Para el enfoque automatico de microscopios sobre una muestra se conocen dos metodos:
- Se mide la posicion de una muestra o la distancia de la muestra con respecto a un punto de referencia, siendo investigada la luz reflejada por la muestra sobre esquemas, intensidad o similares o por medios interferometricos.
- Se investiga la imagen de la muestra con respecto a contraste, resolucion, correlacion automatica o contraste de fases.
En el microscopio, una muestra esta constituida habitualmente de un material de muestra a investigar, que se aplica sobre un soporte de muestra transparente a la luz y se cubre con una cubierta de cristal fina transparente a la luz. Una medicion de la posicion del material de la muestra conduce con frecuencia a la medicion de la posicion de uno de los planos de reflexion en los lfmites de la capa de la muestra. Puesto que una reflexion en la capa lfmite del aire y la cubierta de cristal es mucho mas fuerte que una reflexion en una capa lfmite en el material de la muestra, la reflexion del aire-cubierta de cristal irradia tipicamente la reflexion, adecuada para un enfoque automatico, en una capa lfmite en el material de la muestra.
Se conoce a partir del documento US 6.130.745 medir la posicion de una capa de reflexion gruesa por encima o por debajo de la muestra y deducir a partir del espesor de la muestra la posicion del material de la muestra, que esta dispuesto a una distancia conocida de la capa de reflexion. Sin embargo, tipicamente, en la muestra descrita, en el caso de utilizacion de sistemas de alta resolucion, las tolerancias en los espesores de capa (por ejemplo, de la cubierta de cristal o del soporte del objeto) son mayores que la nitidez de la profundidad del sistema de reproduccion y no siempre se puede garantizar un enfoque con tal metodo.
El documento WO2005015120 se refiere a un dispositivo para la deteccion del foco en un dispositivo de medicion optica como un microscopio. La invencion es adecuada con preferencia para la deteccion para la medicion de muestras biologicas o qmmicas.
Un cometido de la invencion es indicar un procedimiento de enfoque automatico, con el que se puede ajustar por medio de enfoque un sistema optico, por ejemplo un microscopio, de una manera rapida y exacta a una capa reflectante de una muestra.
Solucion del cometido
Este cometido se soluciona por medio de un procedimiento de acuerdo con la reivindicacion 1.
Tambien superficies, por ejemplo superficies lfmites, deben entenderse a continuacion como capas. Una de las capas es de manera mas ventajosa una superficie lfmite. Las trayectorias de la luz estan separadas de manera mas conveniente, al menos parcialmente, unas de las otras, en particular estan separadas unas de las otras en el sistema optico. La separacion se realiza de manera mas conveniente a traves de una zona sombreada entre las trayectorias de la luz. El sombreado se puede generar a traves de una pantalla.
La curva se puede registrar por medio de mediciones puntuales en varias posiciones del foco de luz de medicion, de una manera mas conveniente separadas segun las trayectorias de la luz. La propiedad de radiacion de la luz reflejada puede ser la intensidad de la radiacion. La posicion ajustada del foco es una posicion deseada del foco, en la que el sistema optico esta dispuesto de manera mas conveniente con relacion a la muestra de tal forma que una toma de la imagen de la muestra conduce a imagenes deseadas.
Ademas, a traves de la invencion se puede determinar la longitud del recorrido optico de las trayectorias de la luz. La longitud del recorrido optico se puede medir en este caso desde la muestra hacia una pantalla delante de un detector. De manera mas conveniente, se seleccionan diferentes las longitudes del recorrido optico de las trayectorias de la luz. De este modo, a traves de la evaluacion separada de las longitudes del recorrido optico de las trayectorias de la luz se puede generar una senal de desviacion hacia una estructura de la muestra reflectante / dispersante seleccionada y se puede enfocar sobre ella o sobre un plano objetivo del foco dispuesto a una distancia conocida de ella. Una capa reflectante de luz puede ser una estructura de la muestra reflectante y/o de control y puede ser especialmente una capa lfmite, en particular una capa lfmite o bien superficie lfmite adyacente al material de la muestra.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
El procedimiento de enfoque automatico es un procedimiento para el enfoque automatico del sistema optico sobre una posicion deseada del foco o bien un plano objetivo del foco, por ejemplo dentro de la muestra. Si se enfoca sobre un plano objetivo del foco, el sistema optico puede reproducir mtidamente un objeto dispuesto allf en un plano de la imagen, en el que de manera mas conveniente esta dispuesto un detector o bien una camara. De acuerdo con el enfoque automatico se puede reproducir la muestra con la ayuda de una camara.
La muestra puede comprender un material de muestra preparado para la investigacion, un soporte, sobre el que se aplica una cubierta de cristal que lo cubre. De la misma manera es adecuada una estructura de capas transparente a la luz pata la luz de enfoque automatico, en cuyos lfmites de la capa aparece reflexion o dispersion de la luz utilizada para el enfoque automatico. La muestra no tiene que presentar transparencia a la luz de enfoque automatico despues de la capa destinada para el enfoque. La reflexion / dispersion en una capa lfmite, que se describe aqrn se puede provocar tambien a traves de capa de partfculas reflectante / dispersante o bien capa de lugares defectuosos en el material. Los lfmites de la capa se pueden tratar previamente (por ejemplo, por azogamiento, para elevar las senales para el sistema de enfoque automatico).
El plano de enfoque es aquel plano dentro de la muestra, sobre el que debe enfocarse el sistema optico o desde el que debe alejarse la posicion del foco deseado a una distancia predeterminada. El plano objetivo del foco es de manera mas conveniente un plano de reflexion, en el que se refleja luz incidente, puede ser una capa lfmite dentro de la muestra, por ejemplo el plano de una superficie lfmite del cristal-material de la muestra. De la misma manera se podna aprovechar la dispersion en la propia muestra.
La luz conducida sobre las trayectorias de la luz procede de manera mas conveniente de una fuente de luz comun, de manera que como fuente de luz no solo se designa material originalmente radiante sino tambien una capa reflectante, un orificio de pantalla o similar. Tfpicamente se utiliza una fuente de luz urn o bien bidimensional. Las dos trayectorias de la luz estan formadas de manera mas conveniente simetricas entre sf y en particular simetricas al eje optico del sistema optico.
La fuente de luz, que esta especialmente en forma de punto o en firma de lmeas o en forma de franjas o que comprende varios puntos de luz, es enfocada en el foco de luz de medicion en la muestra a traves de la optica. De esta manera, se puede reproducir en la muestra. El foco de luz de medicion esta normalmente en forma de punto, pero puede ser, de acuerdo con la forma de la fuente de luz de manera alternativa uni o polidimensional y puede comprender, por ejemplo, varios puntos. El foco de la luz de medicion esta de manera mas conveniente en el foco o cerca del foco del sistema optico de enfoque. El foco del sistema optico puede ser un plano de enfoque. Un objeto que se encuentra en el foco del sistema optico es reproducido mtidamente por el sistema optico en un plano de la imagen. Tambien es posible que el foco de la luz de medicion se encuentre a una distancia preajustada desde el foco del sistema optico. De esta manera se puede ajustar el foco de luz de medicion sobre un plano de reflexion, por ejemplo, una capa lfmite entre la cubierta de cristal y el material de la muestra, de manera que el foco del sistema optico esta, por ejemplo, a una distancia de 20 mm desde la capa lfmite en el material de la muestra.
Se refleja una parte de la luz que incide sobre la muestra. Por reflejar se puede entender a continuacion una reflexion y/o una dispersion. La capa que refleja la luz puede ser una capa reflectante y/o dispersante. Cuando se habla a continuacion de reflexion, debe poder estan comprendida al mismo tiempo una dispersion.
Las dos trayectorias de la luz estan guiadas de manera mas conveniente simetricas alrededor del eje optico del sistema optico. De manera mas conveniente inciden en diferentes direcciones sobre la muestra, de manera que sus reflejos se pueden irradiar en diferentes direcciones y de este modo se pueden evaluar de manera separada una de la otra. Se facilita la deteccion de las capas individuales en una estructura de capas cuando se selecciona el angulo de las trayectorias de la luz incidente de tal manera que los reflejos no son recubiertos por capas adyacentes. Si se utiliza una capa dispersante para la determinacion de la posicion del foco, entonces la division de las trayectorias de la luz debena realizarse en primer lugar en la trayectoria de deteccion.
De manera mas ventajosa, la luz del sistema de enfoque automatico tiene otra frecuencia que la luz, que se puede utilizar para la investigacion o bien para la reproduccion de la muestra. La propiedad de la luz es de manera mas conveniente la intensidad de la luz.
El sistema optico puede ser el de un microscopio. Presenta un eje optico, que esta dirigido normalmente perpendicular a un plano de la muestra, en el que se extiende la muestra.
La trayectoria de la luz entre la fuente de luz y la capa de reflexion o bien entre la capa de reflexion y el detector se pueden designar como trayectorias de iluminacion o bien trayectorias de deteccion. Por lo tanto, una trayectoria de la luz de enfoque automatico consta de una trayectoria de iluminacion y una trayectoria de deteccion. La diferencia en la longitud del recorrido optico se puede generar ahora tanto en la trayectoria de iluminacion, en la trayectoria de deteccion asf como en ambas trayectorias. A continuacion se describe una realizacion en la trayectoria de deteccion.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
La medicion de la longitud del recorrido optico de las trayectorias se realiza por medio de al menos una, en particular en cada caso una pantalla, delante de los detectores. A traves de un posicion de las trayectorias de la luz, en funcion de las longitudes del recorrido, en la pantalla se puede deducir de esta manera la longitud del recorrido optico del sistema. A continuacion se describe una realizacion posible.
Los elementos detectores estan dispuestos, por ejemplo, con relacion a un elemento del sistema optico, por ejemplo con relacion a una pantalla, de tal manera que las curvas de una propiedad de la radiacion registrada por los elementos detectores son diferentes entre sr El elemento del sistema optico puede ser una pantalla, por ejemplo, inmediatamente delante de los elementos detectores, un divisor del rayo, un espejo u otro elemento apropiado.
Si se refleja luz desde una trayectoria de la luz en dos capas superpuestas de la muestra, entonces el recorrido de la luz o bien la longitud del recorrido optico de la luz desde una de las capas, por ejemplo hacia el detector o una pantalla delante del detector, es mas largo que el recorrido de la luz o bien la longitud del recorrido optico desde la otra capa. De esta manera, los dos recorridos de la luz desde ambas capas, por ejemplo hacia los elementos detectores, pueden ser diferentes. De manera mas conveniente, los recorridos de la luz se extienden de tal forma que son bloqueados de forma diferente en una pantalla delante de los elementos detectores, por ejemplo se bloquea total o parcialmente uno de los recorridos de la luz y el otro se bloquea parcialmente o nada en absoluto. De esta manera, los recorridos de la luz se pueden detectar individualmente y sin otro recorrido de la luz desde otra capa.
De manera mas conveniente, el reflejo principal desde una capa lfmite de cristal aire por encima de la muestra es suprimido por una pantalla delante de los elementos detectores, mientras que el foco de luz de medicion se mueve a traves de capas subyacentes que reflejan luz de diferente intensidad. En este caso, luz de estas capas puede pasar la pantalla. De este modo, se pueden reconocer capas reflectantes claramente mas debiles que la capa lfmite de cristal-aire.
La pantalla o bien su orificio de pantalla esta dispuesto en un plano de la imagen del sistema optico, es decir, en un plano, en el que se reproduce un objeto enfocado por el sistema optico. El orificio de pantalla es una copia de la fuente de luz.
La luz, que se refleja por el foco de la luz de medicion se reproduce de manera mas conveniente en el plano de la pantalla de acuerdo con la forma del foco de luz de medicion. La pantalla esta dispuesta de manera mas ventajosa de tal modo que deja pasar luz reflejada en el foco de luz de medicion, en particular de la misma intensidad. En este caso, la pantalla bloquea de manera mas conveniente la luz que ha sido reflejada por encima y por debajo del foco de luz de medicion totalmente o asimetricamente con respecto a las dos trayectorias de la luz.
El orificio de la pantalla no esta dispuesto de manera mas conveniente, como es habitual, simetricamente alrededor del eje optico del sistema optico, sino asimetricamente con respecto al eje optico, en particular asimetricamente al eje optico de las dos trayectorias de la luz en el lugar del orificio de la pantalla. En particular, esta dispuesto completamente por encima del eje optico. De este modo, se puede conseguir de una manera sencilla una seleccion de una u otra trayectoria de la luz para una evaluacion separada en diferentes posiciones del foco de luz de medicion.
Se puede conseguir un enfoque especialmente exacto cuando las curvas son detectadas de manera continua.
En una forma de realizacion ventajosa de la invencion, se ajusta un foco del sistema optico de tal manera que las senales de los elementos detectores estan en una relacion fija entre sf. Cuando la luz incide sobre los elementos detectores en una relacion fija se puede detectar de una manera sencilla una posicion de simetna entre las trayectorias de la luz y, por lo tanto, el plano objetivo del foco. Esto se puede realizar de una manera todavfa mas sencilla cuando las senales son de la misma intensidad. La diferencia de las longitudes del recorrido de las trayectorias se selecciona para que en el caso de superposicion de las senales, las senales se solapen en un flanco y de esta manera presenten un punto de interseccion. En este punto de interseccion, las senales son de la misma intensidad. Con la ayuda de un punto de anulacion de la senal diferencial se puede detectar facilmente la misma intensidad de las senales.
Otra forma de realizacion de la invencion preve que se detecte una posicion objetiva de un foco del sistema optico con la ayuda de las senales de los elementos detectores y se ajuste el foco con la ayuda de la posicion objetiva detectada a traves de un actuador. La posicion objetiva puede ser una posicion emitida por un actuador, por ejemplo aquella, en la que las senales de los elementos detectores son iguales. Tambien es posible utilizar este ajuste solo como ajuste previo. De manera alternativa o, por ejemplo, como ajuste fino es concebible adicionalmente conseguir la posicion objetiva a traves de una regulacion, siendo utilizadas las senales del detector como senales de entrada de regulacion y una senal para el control del actuador como senal de salida de regulacion.
Se puede conseguir un enfoque automatico sencillo y fiable cuando los elementos detectores estan calibrados de tal forma que la intensidad de su senal, que es provocada por luz reflejada por una lfmite, es igual. En este caso, la posicion del foco se encuentra de manera mas conveniente en la capa reflectante o bien en la capa que refleja la
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
luz. De manera alternativa, los elementos detectores pueden ser ajustados de tal forma que su intensidad de la luz es selectivamente diferente por ejemplo para conseguir una desviacion selectiva del foco.
Se puede conseguir una buena orientacion en la busqueda de la posicion objetiva del foco o bien del plano objetivo del foco cuando el foco de luz de medicion se mueve a traves del plano objetivo del foco sobre una superficie lfmite de la muestra-luz y el reflejo de la superficie lfmite de la muestra-luz se utiliza para la orientacion aproximada.
Para la investigacion de una muestra puede ser necesario que se investigue en diferentes lugares, por ejemplo cuando es mayor que un campo de vision del microscopio. A tal fin, se mueve despues de una primera investigacion perpendicularmente al eje optico del sistema optico y a continuacion se investiga de nuevo. Se puede conseguir un enfoque automatico rapido despues de tal movimiento, las senales de los elementos detectores despues de un movimiento de la muestra perpendicularmente al eje optico del sistema optico son verificadas con respecto a la factibilidad en cuanto a un ajuste aproximado existente como anteriormente sobre el plano objetivo del foco. Si existe factibilidad, se puede prescindir de un nuevo enfoque completo costoso de tiempo. La factibilidad puede ser un valor lfmite en la diferencia de las senales, que no se puede exceder. La verificacion de la factibilidad se puede utilizar, ademas, para el ajuste aproximado, de manera que cuando existe factibilidad, se realiza solamente todavfa un ajuste fino.
Otra forma de realizacion ventajosa de la invencion preve que la fuente de luz presente un patron de luz, que es reproducido en la muestra. El patron de luz puede ser un patron uni, bi o tridimensional y esta reproducido de manera mas conveniente en un plano perpendicular al eje optico del sistema optico en la muestra. En este caso, se detecta luz reflejada desde varios puntos del patron de luz separados, respectivamente, segun las trayectorias de la luz. De esta manera, a partir de la pluralidad de posiciones objetivas se puede reconocer, en varios puntos maestros, un basculamiento del plano objetivo del foco, por ejemplo con respecto al eje optico. Las senales generadas de esta manera se pueden utilizar para la regulacion del enfoque automatico.
Ademas, la invencion se refiere a un dispositivo de enfoque automatico con un sistema optico para el enfoque de luz en un foco de luz de medicion en una muestra y para la conduccion de luz reflejada desde allf a traves de un orificio de pantalla sobre al menos dos elementos detectores.
Se propone que la instalacion de enfoque automatico comprenda un actuador y un medio de control para el movimiento de un elemento del sistema optico o de la muestra a traves del actuador, de tal manera que el foco de luz de medicion se mueve en capas de la muestra que reflejan luz de diferente intensidad, de modo que los elementos detectores estan dispuestos de tal forma que en este caso la curvas de una propiedad de radiacion registrada por los elementos detectores son diferentes y el medio de control para la evaluacion de las curvas esta previsto en varias posiciones del foco de luz de medicion.
Durante el movimiento del elemento del sistema optico con relacion a la muestra, el actuador puede mover el elemento o la muestra con relacion a un punto de referencia fijo, por ejemplo un suelo.
De manera mas ventajosa, el medio de control esta configurado para controlar una o varias o todas las etapas del procedimiento indicadas anteriormente.
De manera mas ventajosa, el dispositivo de enfoque automatico comprende un sistema de medicion, que esta previsto para registrar la distancia del elemento del sistema optico con relacion a la muestra o una distancia dependiente de ella, en particular por vfas no-opticas. Tan pronto como se ha encontrado la posicion de enfoque optico, se puede medir la distancia con el otro sistema de medicion y se puede mantener durante la iluminacion de la muestra.
Para el registro de las imagenes en color se conoce utilizar una camara de color con un detector sensible al color. Un detector sensible al color esta limitado normalmente a tres colores. Cuando se utiliza un patron de Bayer, un pixel esta constituido en cada caso por una celula detectora sensible al azul, una celula detectora sensible al rojo y dos celulas detectoras sensibles al verde, a partir de cuyas senales de componen todos los colores intermedios. Debido a las cuatro celulas conductoras necesarias por pixel, la resolucion de tal detector de color es reducida.
Para alcanzar una alta resolucion de la imagen unida con una alta resolucion del color, se conoce un espectrografo lineal. Un objeto es escaneado lmea por lmea, de manera que la imagen de una lmea es extendida espectralmente, por ejemplo a traves de un prisma, de manera que resulta una imagen tridimensional de la lmea. De esta manera, se registra lmea por lmea una imagen tridimensional y se memoria y las imagenes individuales se componen en una imagen en color tridimensional.
Ademas, se conoce mover varios filtros de color unos detras de los otros delante del detector y de esta manera registrar varias imagenes de un objeto en diferentes zonas de frecuencia sucesivamente. Las tomas se pueden combinar en una imagen hiperespectral.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
Un cometido de la invencion es indicar un procedimiento para el registro de una imagen de un objeto, con el que se pueden tomar imagenes en color de alta resolucion.
Este cometido se soluciona por medio de un procedimiento para la toma de una imagen de un objeto, en el que el objeto se reproduce a traves de un sistema optico sobre varios elementos detectores de un detector y se divide la imagen con un filtro de luz con varias zonas de filtro que filtran de forma diferente en varias zonas de la imagen filtradas de forma diferente. De acuerdo con la invencion, se propone que las zonas de la imagen filtradas de forma diferente sean reproducidas al mismo tiempo sobre el detector, en particular adyacentes entre sb Se puede prescindir de un cambio de filtros delante del detector y se pueden realizar tomas rapidas sucesivas del objeto.
El filtro de luz puede ser un filtro espectral o un filtro de polarizacion. Se puede disponer inmediatamente delante del detector o directamente sobre el detector. De manera mas conveniente, el filtro de luz esta dispuesto en un plano de la imagen del sistema optico, siendo tolerable 1/10 de la anchura del foco del sistema optico en el filtro de luz como distancia desde el plano matematico de la imagen y pudiendo considerarse todavfa en el plano de la imagen. El filtro de luz puede ser un filtro de cantos, filtro de interferencia o filtro de absorcion. Las zonas del filtro pueden filtrar espectralmente de forma diferente, de manera que las zonas de la imagen son filtradas espectralmente diferentes. Pueden adoptar formas concretas, por ejemplo franjas, un patron de tablero de ajedrez y/o un micropatron, en el que las zonas de filtro presentan una longitud y/o una anchura inferior a 100 mm. De manera mas conveniente, las zonas de filtro son en su extension mayores que dos, en particular, mayores que diez elementos detectores o pfxeles. De la misma manera es posible una curva caractenstica del filtro variable continuamente en el espacio.
El detector puede estar realizado como chip y es de manera mas conveniente sensible a todas las zonas espectrales de las zonas del filtro. Puede ser un sensor CCD (Dispositivo Acoplado con Carga) o un sensor-CMOS (Semiconductor de Oxido Metalico Complementario). Los elementos detectores estan dispuestos de manera mas conveniente como rejillas bidimensionales en forma de una matriz. El detector esta realizado de manera mas conveniente como detector monocromo y es sensible en la zona espectral del filtro estructurado.
Las dimensiones de las zonas del filtro estan adaptadas de manara mas ventajosa a las dimensiones de los elementos detectores, por ejemplo porque una anchura y/o longitud de una zona de filtro es, respectivamente, un multiplo de numero entero de una magnitud de uno de los elementos detectores del detector, por ejemplo m x n elementos detectores. El filtro de luz puede estar fijado directamente en el detector, por ejemplo metalizado directamente sobre un chip detector, o directamente sobre las superficies sensibles del chip.
Las zonas de filtro corresponden de manera mas conveniente a una estructura y/o division de una imagen de la muestra o bien de la muestra o de recipientes de muestras. Pueden ser tan grandes como secciones regulares de la estructura de la imagen de la muestra y/o pueden presentar su forma.
En una forma de realizacion ventajosa de la invencion, las zonas del filtro son movidas desde una toma hacia la toma siguiente del objeto sobre un patron de la imagen, de manera que cada punto del patron de la imagen se registra en varias propiedades de la luz, en particular espectros. Estos valores son asociados de manera mas conveniente al punto y se pueden representar y/o memorizar. El patron de la imagen puede ser en este caso toda la imagen o un fragmento de la imagen. El movimiento es un movimiento relativo, de manera que las zonas del filtro pueden estar es reposo, por ejemplo, con relacion a una carcasa de detector, y el patron de la imagen se mueve, o a la inversa.
En el caso de una toma multiple de cada punto en varias propiedades de la luz, por ejemplo colores, a partir de las varias tomas se puede componente una imagen en color. A traves de la division del filtro de la luz en las zonas del filtro, en el caso de un movimiento del filtro de la luz solamente es suficiente un movimiento pequeno en la magnitud de una dimension de una unica zona del filtro, de manera que no debe moverse todo el filtro de luz fuera del detector y moverse un filtro de luz nuevo hacia el detector. Debido al recorrido de movimiento reducido se puede realizar el movimiento muy rapidamente.
Para la consecucion de un alto rendimiento de la luz es ventajoso que los valores de las senales en los elementos detectores individuales dentro de una zona del filtro, que se pueden asociar durante un movimiento de la imagen de la muestra con relacion al detector de una zona de muestras, se pueden acumular en un valor. Tales valores acumulados de una zona de muestras de diferentes zonas del filtro se pueden reunir en la informacion general de la propiedad de la luz de la zona de muestras.
El patron de la imagen puede permanecer en reposo durante el movimiento de las zonas del filtro hacia el detector, de manera que las zonas del filtro se mueven con relacion al detector. El movimiento de la imagen sobre el detector se puede realizar con la ayuda de un movimiento del sistema optico o de una parte del sistema optico con relacion al detector. Otra posibilidad consiste en el movimiento del filtro y del detector con relacion al sistema optico, que descansa, por ejemplo, con relacion a una carcasa de la camara. En terminos generales, uno o dos de los tres elementos formados por detector, filtro de luz y sistema optico, pueden ser retenidos en cada caso en reposo, por
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
ejemplo, con relacion a una carcasa de la camara, en cambio los dos elementos restantes o el elemento restante son moviles con relacion a los otros elementos.
De manera mas ventajosa, el sistema optico es parte de un microscopio, cuya carcasa esta conectada fijamente con una mesa de muestras, sobre la que se puede mover el objeto en forma de una muestra, por ejemplo sobre una mesa movil, en particular con la ayuda de un accionamiento de motor y de un control de la posicion a traves de un medio de control.
De manera mas ventajosa, el objeto se mueve con relacion al sistema optico y el filtro de luz y el objeto es registrado en varias tomas, respectivamente, por secciones de la imagen, de manera que la posicion de las zonas del filtro es inalterada en cada caso en las zonas del filtro. El sistema optico puede descansar en este caso en una carcasa, por ejemplo de un microscopio, y el objeto y con el el patron de luz del objeto se conducen por delante del sistema optico, de manera que las secciones de la imagen y con ellas las zonas del filtro migran sobre toda la imagen.
Si, por ejemplo, el objeto es alargado, por ejemplo en forma de una serie de muestras, entonces a traves de una pluralidad de zonas de la imagen tomadas de manera sucesiva se puede registrar todo el objeto, de manera que cada punto de la imagen del objeto ha sido registrado en muchos colores o en cada color o bien a traves de cada zona del filtro. De esta manera se puede registrar muy efectivamente una imagen en color de todo el objeto. Se puede prescindir de un movimiento del filtro de color con relacion al sistema optico y al detector. Puesto que un dispositivo para la toma de imagenes de muestras es conducido con frecuencia sobre un actuador para el movimiento controlado de las muestras a lo largo del dispositivo de registro, por ejemplo del microscopio, el dispositivo de toma puede permanecer retenido en este caso de manera especialmente sencilla.
De manera mas conveniente, las zonas de filtro estan realizadas como franjas, que se extienden desde un lado de la imagen hacia el lado opuesto de la imagen y estan alineadas en su direccion longitudinal perpendicularmente a la direccion del movimiento. Tambien es suficiente una extension desde un lado de la seccion de la imagen hacia el lado opuesto de la seccion de la imagen. De esta manera se puede conducir cada punto de la imagen del objeto de manera especialmente sencilla sobre todas las zonas de filtro del filtro de luz.
De manera mas ventajosa, el movimiento es tal que un punto de la imagen se mueve desde una toma a la toma siguiente en la medida de la anchura de una zona del filtro. La anchura es en cada caso de manera mas conveniente varios pixeles. En este caso, es conveniente una zona de solape mas pequena, por ejemplo de acuerdo con la exactitud duplicada del actuador movil.
Para conseguir una resolucion especialmente alta, en particular en secciones de la imagen especialmente interesantes, es ventajoso que el movimiento desde una toma de la imagen hacia la toma de la imagen siguiente sea inferior a un pixel de la imagen. A traves del movimiento en la zona de subpixel, se puede calcular una resolucion de subpixel.
La prevision del movimiento se predetermina de manera mas ventajosa por un medio de control, que reconoce de manera automatica zonas especialmente interesantes de la imagen y activa un movimiento de subpixel. El movimiento se puede realizar en diferentes modos, en los que el movimiento desde una toma a la toma siguiente es la anchura de una zona de pixel o de un modo de subpixel, en el que el movimiento son varios pfxeles del detector. Tambien es posible un control de solo dos de los tres modos descritos.
En una forma de realizacion ventajosa de la invencion, el filtro de luz es un filtro de cantos, cuya frecuencia de los cantos vana en el desarrollo especial del filtro de luz perpendicularmente al canto y en particular perpendicularmente al movimiento. De esta manera, a traves del control de la anchura de la etapa de movimiento desde una toma a la toma siguiente se puede controlar la resolucion del calor de una imagen general a partir de las tomas. El filtro de luz esta conectado de manera mas conveniente con un actuador y un medio de control, que sirve para el control de un movimiento del filtro de luz.
Ademas, se propone que el filtro de luz comprenda dos filtros de cantos dispuestos uno detras del otro en la trayectoria de los rayos de la reproduccion, cuya frecuencia de los cantos vana en el desarrollo espacial de los filtros de los cantos, respectivamente, perpendiculares al canto - y en particular perpendicularmente al movimiento - con el desarrollo de la frecuencia opuesto entre sf. De esta manera, - en el caso de una disposicion correspondiente de los filtros de los cantos entre sf - se puede generar una ventana de transmision espacial, que se puede incrementar o reducir a traves de un movimiento de los filtros de los cantos entre sf tanto en el espacio como tambien espectralmente. De esta manera, se puede conseguir una alta variabilidad en frecuencia y en la zona espacial de las imagenes tomadas.
Se puede conseguir una adaptacion espectral especialmente buena de detector y filtro de luz, cuando el detector presenta varias zonas de deteccion sensibles, diferentes en la sensibilidad del color, respectivamente, en una zona de color y delante de cada zona del detector esta dispuesta al menos en cada caso una zona de filtro. Esta esta adaptada de manera mas ventajosa en su zona de color a la zona de color del detector, de manera que las zonas de
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
color del filtro de luz son diferentes. La adaptacion se realiza de manera mas ventajosa, colocado la transmision de la zona de filtro en la zona de sensibilidad de la zona correspondiente del detector y no en una zona de color de una de las otras zonas del detector.
Las diferentes zonas del detector pueden estar dispuestas en el espacio directamente adyacentes entre sf, por ejemplo en una matriz coherente de elementos detectores, o separadas unas de las otras en el espacio, de manera que el sistema optico comprende uno o varios elementos para la direccion de la reproduccion del objeto sobre varias zonas del detector, por ejemplo un espejo dicroico o similar. Las zonas del detector son accionadas de manera mas ventajosa de forma sincronizada, de manera que se registra al mismo tiempo una reproduccion del objeto sobre las zonas del detector en varios canales del color.
Otra forma de realizacion ventajosa de la invencion preve que las zonas del filtro presenten diferentes valores de transmision y los valores de transmision estan adaptados a la curva caractenstica de la toma del detector, en particular para la consecucion de una iluminacion uniforme de la imagen en el caso de una sensibilidad espectral inconstante. De esta manera, se puede conseguir un resultado especialmente buenos de la imagen. La adaptacion se puede realizar a traves de una magnitud diferente de las zonas del filtro. Otra posibilidad consiste en la adaptacion de una anchura diferente de la transmision de la frecuencia de las zonas del filtro en el detector. De esta manera, una anchura de la transmision de la frecuencia en una zona de frecuencia, en la que el detector es menor sensible, puede ser mayor y, en una zona de frecuencia, en la que el detector de mas sensible, puede ser menor.
Ademas, es posible adaptar la intensidad de la transmision, es decir, una atenuacion de la zona del filtro, al detector, para que se seleccione una atenuacion mas elevada en una zona de la frecuencia, en la que el detector es mas sensible en otras zonas de la frecuencia.
De la misma manera se puede conseguir una alta calidad de la imagen cuando las zonas de filtro presentan diferentes valores de transmision y una activacion de los elementos detectores esta adaptada a un valor de transmision de la zona de filtro que lo cubre. De esta manera se puede elevar una amplificacion, se puede prolongar un tiempo de integracion y se pueden agrupar pfxeles, cuando una zona de filtro presenta una alta atenuacion frente a otra zona de filtro. De esta manera se puede conseguir una iluminacion uniforme de la imagen en todas las zonas de la frecuencia. Si el valor de transmision de una zona del filtro es especialmente alto, tambien es posible leer solo uno de cada dos pfxeles.
De manera mas ventajosa, la activacion diferentes de los elementos detectores sigue un movimiento de las zonas del filtro sobre el detector. Si se mueve, por ejemplo, el filtro de luz sobre el detector, entonces se puede detectar este movimiento, de manera que a cada zona de filtro se pueden asociar los elementos detectores, que son cubiertos por la zona. El control de los elementos detectores se puede adaptar de esta manera por pfxeles a la zona del filtro asociada en cada caso.
La invencion se refiere, ademas, a un dispositivo para el registro de una imagen de un objeto con un detector, que comprende varios elementos detectores, con un sistema optico para la reproduccion del objeto sobre el detector y con un filtro de luz con varias zonas de filtro que filtran de forma diferente.
Se pueden realizar tomas en color de alta resolucion cuando el filtro de luz esta dispuesto de tal forma que se reproducen varias zonas de la imagen del objeto, filtradas de forma diferente a traves de las zonas de filtro sobre el detector.
El dispositivo comprende un medio de control que esta previsto de manera mas ventajosa para controlar una, varias o todas las etapas del procedimiento mencionadas anteriormente.
La invencion se explica en detalla con la ayuda de ejemplos de realizacion, que se representan en los dibujos. En este caso:
La figura 1 muestra un microscopio con un dispositivo de enfoque automatico en una representacion esquematica.
La figura 2 muestra una trayectoria de los rayos o bien una trayectoria de iluminacion representada de forma esquematica del dispositivo de enfoque automatico sobre una muestra.
Las figuras 3 a 6 muestran trayectorias de los rayos de reflexion o bien trayectorias de deteccion desde la muestra sobre dos elementos detectores.
La figura 7 muestra un diagrama de senales de los elementos detectores y de una distancia de trabajo modificada sobre el tiempo.
La figura 8 muestra un diagrama esquematico de las senales con una senal diferencial.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
La figura 9 muestra una proyeccion de un punto de luz sobre una muestra movil oblicua.
La figura 10 muestra una proyeccion de un patron de fuentes de luz sobre una muestra oblicua en reposo.
La figura 11 muestra una separacion de una trayectoria de los rayos a traves de un espeso semi-transparente.
La figura 12 muestra una separacion de una trayectoria de los rayos a traves de un espejo dicroico.
La figura 13 muestra una representacion esquematica de un microscopio dirigido sobre una muestra con una camara con un filtro de luz sobre un detector.
La figura 14 muestra una trayectoria de los rayos de una muestra sobre tres detectores.
Las figuras 15 a 18 muestran un detector con un filtro de luz en cuatro posiciones diferentes con relacion a una muestra.
La figura 19 muestra un esquema de un filtro de cantos con un canto variable continuamente en la superficie del filtro.
La figura 20 muestra un diagrama de transmision, que resulta a partir de dos filtros de cantos dispuestos uno detras del otro, y
La figura 21 muestra un diagrama de sensibilidad de un detector.
La figura 1 muestra un dispositivo de enfoque automatico 2, que esta integrado es un sistema de reproduccion optica 4. El sistema de reproduccion optica es en esta forma de realizacion especial un microscopio para el analisis de fluorescencia de material biologico en una muestra 6. A tal fin, el sistema de reproduccion optica 4 comprende un detector de imagen 8 o bien una camara, que esta conectado con un medio de control 10 ara el control de la toma y la memorizacion de las imagenes tomadas, o un ocular para la observacion directa de la muestra. El medio de control 10 es parte tanto del sistema de reproduccion optica 4 como tambien del dispositivo de enfoque automatico 2 y sirve para el control del procedimiento de enfoque automatico descrito a continuacion.
El dispositivo de enfoque automatico 2 comprende una fuente de luz 12, que proporciona luz para el procedimiento de enfoque automatico. Puede proporcionar tambien la luz para el analisis de fluorescencia, de manera que, en general, puede ser mas conveniente que el sistema de reproduccion optica comprenda a tal fin otra fuente de luz no representada. La fuente de luz 12 presenta un generador de luz 14, por ejemplo un LED (Diodo Emisor de Luz), y una optica para la formacion de la luz irradiada, que puede comprender un difusor de luz. Un diafragma 18 con un patron de apertura genera un patron de fuentes de luz uni o bidimensional, que esta de manera mas conveniente simetrico a un eje optico 20 de un sistema optico 22, que puede comprender, ademas, de la optica 16, otros elementos opticos 24 y un objetivo 26 del sistema de reproduccion optica 4. Una fuente de luz definida en el espacio puede sustituir tambien a los elementos 16 y 18. Un medio 28, que es equivalente a una abertura, separa la iluminacion de la muestra 6 desde la fuente de luz 12 en varias trayectorias de la luz, que se extienden de forma separada unas de las otras desde el medio 28 hacia la muestra 6 y se llevan en la muestra 6 a un foco de luz de medicion comun trayectorias de iluminacion). El medio 28 puede estar colocado de manera alternativa en la trayectoria de deteccion (ver mas abajo) entre los elementos 30 y 46, en particular durante el enfoque sobre objetos de dispersion.
A traves dos divisores del haz 30, 32 en forma de espejos dicroicos o semi-transparentes se conduce luz desde la fuente de luz 12 hasta el objetivo 26 del sistema de reproduccion optica 4, que esta alojado en una carcasa de microscopio 34 y enfoca la luz sobre la muestra 6. A tal fin, el objetivo 26 comprende un elemento optico 36, por ejemplo una lente, que es movil de forma controlable por medio de un actuador 38 a lo largo del eje optico 20 del objetivo 26. El control de la posicion del elemento optico 36 y, por lo tanto, del foco en la muestra 6 se realiza a traves del medio de control 10. El actuador propiamente dicho puede comprender un medidor de la distancia independiente.
La luz reflejada por la muestra 6 pasa a traves del objetivo 26 en direccion opuesta, como se indica por medio de una flecha de trazos, y se conduce a traves del divisor del haz 32, por una parte, a una optica 40 y al detector de imagenes 8 y, por otra parte, a traves del divisor del haz 30 y otra optica 42 hacia un detector 44, que comprende varios elementos detectores (trayectoria de la deteccion). Los elementos detectores pueden ser sensores individuales, por ejemplo fotodiodos o una rejilla de sensores. Delante del detector 44 esta dispuesta una pantalla del sistema optico 22 con un orificio de pantalla 46, que esta formado de manera correspondiente al orificio de la pantalla 18 y esta dispuesto en el plano de la imagen del sistema optico 22, en el que se genera una imagen de la muestra 6 y, por lo tanto, del patron de fuentes de luz reproducido en la muestra 6. El orificio de la pantalla 46 puede comprender uno o varios orificios y se designa a continuacion solo como orificio de la pantalla 46. El detector 44
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
suministra sus senales al medio de control 10, que las evalua y las utiliza como entrada de control o de regulacion para un control del actuador 38. El medio de control puede procesar, ademas, la senal de la distancia independiente del actuador 38 y la puede utilizar opcionalmente para la regulacion.
La figura 2 muestra una trayectoria de los rayos (trayectoria de iluminacion) representada de forma esquematica del dispositivo de enfoque automatico 2 en dos trayectorias de la luz 48, 50 sobre la muestra 6. En este ejemplo de realizacion, el patron de luz de la fuente de luz 12 esta reducido a un punto de luz, que irradia a traves de dos orificios del medio 28 para la separacion en las trayectorias de la luz 48, 50. En una pantalla 18, que genera, por ejemplo, dos puntos de luz, como se representa en la figura 1, se divide la luz desde cada punto de luz en dos trayectorias de la luz 48, 50, como se indica a traves del medio 28 en la figura 1.
La luz desde ambas trayectorias de la luz 48, 50 es enfocada en un foco de luz de medicion 52 en forma de punto en la muestra 6, que puede tener la forma de la fuente de luz y esta, por ejemplo, en forma de punto, y es alargado de acuerdo con una fuente de luz en forma de ranura o tiene otra forma discrecional. Puesto que tanto para la luz de medicion desde la fuente de luz 12 como tambien la luz para la investigacion de las muestras se conducen a traves del objetivo 26, el foco de medicion de la luz 52 puede estar en el foco de la camara o bien del sistema de reproduccion optica 4, que puede ser un plano del foco. No obstante, tambien es posible que el foco de la luz de medicion 52 este alejado en la medida de una distancia 54 predeterminada desde un foco 56 de la camara.
La muestra 6 tfpica comprende un soporte de muestras 58, sobre el que se aplica material de muestra biologica 60, que esta cubierto con una tapa de cristal 62 transparente fina. Esta muestra 6 refleja luz incidente en tres superficies lfmites 64, 66, 68, a saber, la superficie lfmite aire-cristal 64 que refleja fuerte, en la superficie lfmite del cristal- material de la muestra 66 que refleja claramente menos fuerte y en la superficie lfmite del material de la muestra- cristal 68, que no se considera en detalle a continuacion, de manera que en el caso de materiales muy finos de la muestra las senales con una combinacion de las superficies lfmites 66 y 68. La superficie lfmite del cristal-material de la muestra 66 forma en este caso un plano objetivo del foco 70, descrito en este primer ejemplo de realizacion, en el que el foco de luz de medicion 52 debe conducirse a traves del procedimiento de enfoque automatico.
El procedimiento de enfoque automatico realizado hasta ahora se describe con la ayuda de las figuras 3 a 8. Las figuras 3 a muestran el sistema optico 22 y el objetivo 26 de manera muy simplificada sobre la muestra 6, que se indica solo con la ayuda de las superficies lfmites 64, 66. El detector 44 se representa con la ayuda de dos elementos detectores 72, 74, que estan dispuestos a ambos lados del eje optico 20. En una disposicion como en la figura 1 con dos fuentes de luz puntuales estaban presentes cuatro elementos detectores. El orificio de pantalla 46 delante del detector 44 tiene de manera mas conveniente la misma forma que la fuente de luz, es decir, en forma de punto o bien en forma de cfrculo en este ejemplo de realizacion. Esta dispuesto de tal manera que se coloca desplazado asimetricamente con respecto al eje optico 20, de modo que el eje 20 se encuentra fuera del orificio de la pantalla 46, es decir, que no traviesa.
Las dos trayectorias de la luz 48, 50 se representa en forma de punto fino en su parte que incide sobre la muestra 6 y se dirige sobre el foco de luz de medicion 52, que se encuentra en el soporte de las muestras 58, es decir, debajo del plano objetivo del foco 70, que es identico con la superficie lfmite 66. Las diferentes trayectorias de la luz desde las diversas superficies lfmites 64, 66 hacia el orificio de la pantalla 46 o bien hacia los elementos detectores 72, 74 se representan de forma diferente. La trayectoria de la luz del reflejo principal, reflejado por la superficie lfmite 64 que refleja fuertemente, se representa con lmeas continuas y la trayectoria de la luz reflejada por la superficie lfmite 66 que refleja de forma menos fuerte se representa con lmeas de trazos. Esta claro que, por una parte, en el foco de luz de medicion 52 no se refleja ninguna luz o una cantidad de luz insignificantemente pequena y, por otra parte, la luz reflejada por las superficies lfmites 64, 66 no encuentra el orificio de la pantalla 46, de manera que no llega ninguna luz desde allf hacia los elementos detectores 72, 74.
En la figura 4, la muestra 6 se mueve hacia abajo en comparacion con la reproduccion en la figura 3, como se indica por medio de flechas, de manera que el foco de luz de medicion 52 se ha movido hacia arriba con relacion a la muestra 6. El movimiento de la muestra 6 es equivalente al movimiento del objetivo 26 con la ayuda del actuador 38. En la posicion de la muestra 6 representada en la figura 4 con relacion al objetivo 26, el foco de luz de medicion 52 esta apenas por debajo de la superficie lfmite 66. A traves de la asimetna del orificio de la pantalla 46 con relacion al eje optico 20, la luz reflejada en esta posicion pasa desde la trayectoria de la luz 48 a traves del orificio de la pantalla 46 y cae sobre el elemento detector 72, en cambio la luz desde la trayectoria de la luz 50 no encuentra el orificio de la pantalla 46, de manera que el elemento detector 74 permanece en la sombra.
En el caso de otro movimiento de la muestra 6 hacia abajo o del foco de luz de medicion 52 en la muestra 6 hacia arriba, el foco de luz de medicion 52 alcanza la capa lfmite 66 y el plano objetivo del foco 70, como se representa en la figura 5. Las reflexiones de ambas trayectorias de la luz 48, 50 se cruzan en el plano de la imagen, en el que estan dispuestos la pantalla y el orificio de la pantalla 46. Debido al orificio asimetrico de la pantalla 46 fuera del eje optico 20 se ensombrecen en gran medida ambas trayectorias de la luz 48, 50, pero no totalmente debido a la abertura plana de las trayectorias de la luz 48, 50. Ambos elementos detectores 72, 74 reciben en cada caso casi o
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
la misma cantidad de luz y emiten una senal igual al medio de control 10.
La figura 6 muestra las trayectorias de la luz 48, 50 durante todavfa otro movimiento de la muestra 6 hacia abajo o del foco de luz de medicion 52 en la muestra 6 hacia arriba. El foco de luz de medicion 52 abandona la capa lfmite 66 y se aproxima a la capa lfmite 64, de manera que la reflexion de la capa lfmite 66, que solo llega todavfa al elemento detector 74, permanece en adelante en la sombra y la reflexion de la capa lfmite 64 cae cada vez mas fuerte a traves del orificio de pantalla 46 sobre el elemento detector 72.
El orificio de pantalla 46 esta dispuesto en el plano de la imagen del objetivo 26. La luz reflejada desde el foco de luz de medicion 52 pasa a traves del orificio de pantalla 46 y en concreto de una manera mas conveniente con la misma intensidad desde ambas trayectorias de la luz 48, 50. El orificio de pantalla 46 esta dispuesto en este caso de tal forma que la luz, que se refleja desde encima o desde debajo del foco de luz de medicion 52, pasa con diferente intensidad desde las dos trayectorias de la luz 48, 50 a traves del orificio de la pantalla 46. Una iluminacion de la misma intensidad de los elementos detectores 72, 74 significa, por lo tanto, que una de las capas lfmites 64, 66 se encuentra en el foco de luz de medicion. El orificio de pantalla es en este caso de manera mas ventajosa solo tan grande que la luz desde una capa lfmite 64 66, que esta mas alejada de 100 mm desde el foco de luz de medicion 52, no puede pasar desde ninguna de las trayectorias de la luz 48, 50 a traves del orificio de pantalla.
A traves del orificio de pantalla 46 se posibilita una seleccion de la luz desde diferentes trayectorias de la luz de acuerdo con la longitud del recorrido optico. De la misma manera se posibilita una seleccion de la luz desde diferentes trayectorias de la luz de acuerdo con su diferente direccion sobre los elementos detectores 72, 74.
En la figura 7 se representan las amplitudes A de la senal 76 del elemento detector 72 y de la senal 78 del elemento detector 74 durante un movimiento del foco de luz de medicion 52 en la muestra 6, como se describe con relacion a las figuras 3 a 6, sobre el tiempo t. Ademas, se representa el movimiento de la posicion 80 del foco de luz de medicion 52 en direccion-z, que esta paralelo al eje optico 20 del objetivo 26, sobre el tiempo t en correlacion con las senales 76, 78. Se marcan cuatro instantes III, IV, V, VI, que corresponden a las posiciones 80 del foco de luz de medicion 52 en las figuras 3, 4, 5, 6.
Para el enfoque automatico de la muestra 6 se conecta en primer lugar el generador de luz 14 de la fuente de luz de enfoque automatico 12 y se mueve el objetivo 26 o bien su elemento optico 36 movil a traves del actuador 38 a su posicion de partida - en las figuras en la direccion de la muestra 6 totalmente hacia abajo -, con lo que el foco de luz de medicion 52 se encuentra dentro de la muestra 7 y allf de manera mas conveniente dentro del soporte de las muestras 58.
A continuacion se mueve el actuador 38 de tal manera que el foco de luz de medicion 52 se mueve totalmente a traves del material de la muestra 60 y a traves del interior del plano objetivo del foco 70. Al mismo tiempo, se registran las senales 76, 78 de los elementos detectores 72, 74 y de manera mas conveniente tambien una senal de posicion del actuador 38. En primer lugar se eleva la senal 76 del elemento detector 72 para caer de nuevo rapidamente. Luego se eleva la senal 78 del elemento detector 74 y cae de la misma manera rapidamente, ambas de acuerdo con la incidencia de la luz a traves del orificio de la pantalla 46, como se describe con relacion a las figuras 4 a 6.
En particular, se registra la posicion del punto de interseccion de los flancos de las senales 76, 78 - en la posicion objetiva siguiente - en la que el foco de luz de medicion 52 se encuentra en el plano objetivo del foco 70. Esta posicion objetiva es detectada a traves del medio de control 10, que esta conectado con el actuador 38, que emite su posicion o bien la del elemento optico 36 constantemente o a demanda del medio de control 10 al medio de control 10.
La nueva subida fuerte primero de la senal 76 y luego de la senal 78 por encima de un valor lfmite g se considera como signo y orientacion de que el foco de luz de medicion 52 de la superficie lfmite 64 que refleja fuertemente se aproxima y, por lo tanto, se encuentra por encima del plano objetivo del foco 70. Se detiene el movimiento del foco de luz de medicion 52 hacia arriba.
Ahora en otra etapa sencilla del procedimiento, se puede ajustar el actuador 38 de manera correspondiente a la posicion objetiva detectada y se enfoca la muestra 6 muy activamente. El foco de luz de medicion 52 se ajusta sobre el plano objetivo del foco 70 y, por lo tanto, tambien el foco del microscopio 4, cuando el foco de luz de medicion 52 se encuentra en este foco. En otro caso, se ajusta el foco a un plano deseado, que esta alejado del plano objetivo del foco 70 en un recorrido conocido.
Se consigue un enfoque mas exacto cuando se invierte el movimiento del foco de luz de medicion 52 y el foco de luz de medicion 52 se conduce esta vez mas lento en el interior del material de la muestra 60, como se representa en la figura 7. Se forma de nuevo un maximo de la senal 76, y un ajuste de las senales 76, 78 para la igualdad de las senales lleva el foco de luz de medicion 52 al plano objetivo del foco 70.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
En un procedimiento alternativo, se puede comenzar de tal manera que el foco de luz de medicion 52 se encuentra por encima de la muestra 6 y se introduce desde alU en la muestra 6. Se reconoce claramente el reflejo principal que aparece en primer lugar desde la capa lfmite de cristal-aire 64. Puesto que el espesor de la cubierta de cristal 62 se conoce, por ejemplo 170 mm, se puede desplazar el foco de la luz de medicion 52 activamente alrededor de este o un recorrido alto menos hacia abajo. Entonces se puede reducir la velocidad de avance y se puede desplazar el foco de medicion de la luz 52 a continuacion hacia abajo hasta que las senales 76, 78 son de la misma intensidad.
Una regulacion sobre la posicion objetiva con la ayuda de las figuras 76, 78 se explica a continuacion con la ayuda de la figura 8. Se forma una senal diferencial 82 a partir de la diferencia entre las senales 76, 78, por ejemplo a traves de sustraccion de las senales 76, 78 y se utiliza como variable de regulacion con el punto de anulacion 84 como valor objetivo de regulacion. En el punto de anulacion 84, el foco de luz de medicion 52 se encuentra en la posicion objetiva 86. De manera mas ventajosa, el detector 44 esta calibrado a tal fin de tal forma que las senales 75, 78 son iguales cuando el foco de luz de medicion 52 se encuentra en el plano objetivo del foco 70. Si el foco de luz de medicion 52 debe estar un poco fuera de la capa lfmite reflectante 66, entonces puede existir una desviacion sobre una senal 76, 78 o se puede amplificar mas o menos una senal 76, 78. De esta manera, se desplaza el punto de anulacion 84 de manera correspondiente en direccion-z. Si se conoce la relacion entre desviacion o amplificacion y el desplazamiento, entonces se puede ajustar el plano objetivo del foco 70 de manera correspondiente alrededor de la superficie lfmite 66, sin que deba modificarse el procedimiento de enfoque automatico descrito con relacion a las figuras 7 y 8. El ajuste correspondiente del detector 44 se puede realizar como calibracion antes de un procedimiento de enfoque automatico o durante el procedimiento de enfoque automatico de acuerdo con la instruccion correspondiente del medio de control 10.
Despues del ajuste o regulacion de la posicion del foco, se puede desconectar el generador de luz 14 y se puede regular o mantener la posicion del foco por medio de la senal de posicion del actuador 38. Esto tiene la ventaja de que el patron de luz de enfoque automatico durante la iluminacion no se reproduce con la camara-Opcionalmente, el generador de luz 14 puede permanecer conectado continuamente y se puede realizar la regulacion de acuerdo con la senal diferencial 82.
Ahora se pueden tomar imagenes de la muestra 6 o bien del material de la muestra 60, dado el caso en varias posiciones-z. Estas se pueden alcanzar a traves de un control correspondiente del actuador 38. Tambien es posible alcanzarlas a traves de un desplazamiento de una o de ambas senales 76, 78.
Para la toma de varias imagenes de una muestra grande 6 se mueve esta en direccion -x-y 88, es decir, perpendicularmente al eje-s o bien al eje optico 20, como se indica en la figura 9. El enfoque se puede mantener en este caso. Sin embargo, si la muestra 6 esta oblicua, el foco de la luz de medicion 52 resbala en la medida de un recorrido 90 en direccion-z dentro de la muestra 6. Para reconocer esto, se verifica la factibilidad de las senales 76, 78 en la nueva posicion-x-y. En el caso de que las senales 76, 78 no correspondan a lo esperado, es decir, que se encuentran fuera de los valores lfmites, se inicia una nueva localizacion del plano objetivo del foco 70, como se describe con relacion a la figura 7. Si las senales 76, 78 son aceptables, se puede comenzar directamente con la regulacion, por ejemplo, sobre el punto de anulacion 84.
La figura 10 muestra una proyeccion de un patron de fuentes de luz sobre una muestra oblicua en reposo 6. Con la ayuda de un unico punto de luz de enfoque automatico no se puede reconocer si la muestra esta oblicua con relacion al eje optico 20. Sin embargo, el foco de la luz de medicion 52 comprende varios puntos de enfoque 92, por ejemplo puesto que un patron de luz se reproduce en varios puntos del foco 92 en la muestra, se pueden evaluar de manera separada reflexiones desde cada punto del foco 92, respectivamente, sobre al menos dos trayectorias de la luz, como se ha descrito anteriormente. De esta manera se puede reconocer que los planos objetivos de foco hallados en cada caso con respecto a los puntos individuales del foco 92 no son identicos. Se puede emitir una senal de error, de manera que la muestra 6 es insertada de nuevo y precisamente en su soporte de fijacion.
La figura 11 y la figura 12 muestran esquemas de deteccion alternativos, que utilizan dos trayectorias opticas no separadas en el espacio en el sistema optico 22. En la figura 11 se separa un rayo en la trayectoria de deteccion solo despues del sistema optico 22 y delante de los detectores 72, 74 por medio de un espejo semitransparente 94. Por medio de dos orificios de la pantalla 46, que estan dispuestos asimetricos con respecto al espejo 94 delante de los detectores 72, 74, se detecta la senal de la distancia de los trayectos poco diferentes. La asimetna se representa por medio de las diferentes distancias 96, 98 de los orificios de la pantalla 46 perpendicularmente al espejo 94.
En la figura 12, el generador de luz 14 emite radiacion con dos frecuencias diferentes (X1, X2), que son separadas delante de los detectores 72, 74 por medio de un espejo dicroico 200. De nuevo con la ayuda de los orificios de la pantalla 46 se genera la senal de la distancia. En este caso, los orificios de la pantalla 46 pueden estar dispuestos simetricos con respecto al espejo dicroico 100, cuando el mdice de refraccion del sistema optico 22 separa suficientemente en el espacio las trayectorias de la luz de las diferentes frecuencias, como se representa en la figura 12 a traves de las distancias de las dos trayectorias de la luz delante del espejo 100.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
Tambien en los ejemplos de realizacion de la figura 11 y de la figura 12 se posibilita a traves de un medio optico, en estos casos el espejo semitransparente 94 o el espejo dicroico 100, una seleccion de la luz desde diferentes trayectorias de la luz de acuerdo con diferentes direcciones hacia los elementos detectores 72, 74.
La figura 13 muestra una representacion esquematica de un sistema de reproduccion optica 102 realizado, por ejemplo, como microscopio, que esta dirigido sobre una muestra 106 que esta dispuesta sobre una mesa de muestras 104. El sistema de reproduccion optica 120 comprende una fuente de luz 108, cuyos rayos de luz estan dirigidos en una trayectoria de los rayos indicada con una flecha 110 de lmea continua con la ayuda de un sistema optico 112 y de un espejo dicroico 114 sobre la muestra 106. El sistema optico 112 incluye al mismo tiempo un objetivo 116, que es desplazable con la ayuda de un actuador 18 con relacion a una carcasa de microscopio 120 a lo largo del eje optico 122 de la trayectoria de los rayos para el enfoque de la muestra 106.
La radiacion reflejada o dispersada desde la muestra 106 es conducida en una trayectoria de los rayos indicada con una flecha de trazos a traves del espejo dicroico 114 y a traves de elementos opticos 124 solo indicados del sistema optico 112 a una camara 126, que presenta un detector 128 con un filtro de luz 130. El detector 128 comprende una pluralidad de elementos detectores 132 dispuestos en una matriz bidimensional, que estan realizados como elementos CCD y estan fijados sobre un chip. El filtro de luz 130 es un filtro espectral con varias zonas de filtro 134, que filtran de manera espectral diferente, que estan dispuestas de la misma manera sobre el chip y en la trayectoria de los rayos inmediatamente delante de los elementos detectores 132.
La mesa de muestras 104 y con ella la muestra 106 son desplazables con la ayuda de un actuador 136 perpendicularmente al eje optico 122 del objetivo 116, como se indica por medio de flechas 138, de manera que se pueden realizar varias tomas de la muestra 106 en diferentes posiciones de la muestra 106 con relacion al microscopio 102. El actuador 136 puede ser activado a traves de un medio de control 140 del microscopio 12, de manera que se puede ajustar un recorrido de desplazamiento de la muestra 16 de toma a toma a un valor predeterminado o determinado por el medio de control. El medio de control 140 puede ser al mismo tiempo un medio de control 140 de la camara 126 o un medio de control adicional del microscopio 102 fuera de la camara 126.
A traves del medio de control 140, se pueden activar de manera alternativa o adicional al actuador 136, un actuador 142 del filtro de luz 130 y/o un actuador 144 del detector 128, de manera que las zonas de filtro 134 y/o los elementos detectores 132 son moviles de forma activada con relacion al sistema optico 112 pero perpendicularmente al eje optico 122 de la trayectoria de los rayos que inciden en la camara 126. De esta manera, una imagen de un objeto de la muestra 16 puede migrar de una o varias maneras sobre el filtro de luz 130 y/o el detector 128.
Una forma de realizacion alternativa de un detector 146 con varias zonas de deteccion 148, 150, 152 se representa en la figura 14. La descripcion siguiente se limita esencialmente a las diferencias con respecto al ejemplo de realizacion de la figura 13, a la que se remite con relacion a las caractensticas y funciones que permanecen iguales. Los componentes que permanecen esencialmente iguales estan identificados, en principio, con los mismos signos de referencia y se asumen las caractensticas no mencionadas, sin describirlas de nuevo.
Por medio de dos divisores del haz dicroicos 154, 156 se divide la radiacion reflejada por la muestra 6 de acuerdo con tres zonas espectrales y se conducen sobre las zonas espectrales 148, 150, 152. Las zonas espectrales 148, 150, 152 son en cada caso solo en una de las zonas espectrales sensibles o mas sensibles que en las otras zonas espectrales. Delante de cada zona del detector 148, 150, 152 esta dispuesta en cada caso una zona de filtro 158, 160, 162, de manera que las zonas de filtro 158, 160, 162 solamente en una de las zonas espectrales es transparente o mas transparente que en las otras zonas espectrales. Su transparencia esta adaptada espectralmente a la zona de deteccion 148, 150, 152 asociada a ellas en cada caso. Una o todas las zonas del filtro 158, 160, 162 pueden estar divididas de nuevo en subzonas que filtran en cada caso espectralmente de forma diferente, como se representa en la figura 14. A traves de la division en zonas del detector 148, 150, 152 de diferente sensibilidad espectral con zonas de filtro 158, 160, 162 que filtran en cada caso de forma espectralmente diferente, se puede conseguir un rendimiento de la luz especialmente alto sobre una zona espectral amplia.
En las figuras 15 a 18 se representan en cada caso la reproduccion de una muestra 106, que presenta 3 x 10 recipientes de muestras 164, que pueden representar tambien superficies de muestras, tambien son concebibles numeros considerablemente mayores, en los que esta contenida en cada caso la misma o distinta sustancia de muestra. Los recipientes de muestras 164 estan dispuestos en una matriz rectangular y estan fijados en la mesa de muestras 104. En la sustancia de muestra se encuentran objetos 166 a investigar. La muestra 106 presenta en su totalidad y en sus objetos un patron de imagen.
El detector 128 y sus 11 x 15 elementos detectores rectangulares 132 se representan, para mayor claridad con lmeas de trazos, en cambio el filtro de luz 130 con sus 5 zonas de filtro 134 en forma de franjas se representan con lmeas continuas. Las franjas de las zonas de filtro 134 estan dispuestas perpendiculares a la direccion del movimiento de la mesa de muestras, que se representa por medio de una flecha 138. Para la distincion mejorada de
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
las lmeas, se muestra la representacion de la muestra con lmea de puntos.
La figura 15 muestra el detector 128 y la reproduccion de la muestra 106 en una posicion mutua, en la que se realiza una toma de la muestra 106, pero no la primera, como se explica a continuacion. La toma representa una seccion de la imagen con cinco zonas de la imagen, en la que se reproducen doce recipientes de muestra 164 con todo el contenido y tres recipientes de muestras 164 solo parcialmente. Respectivamente, doce recipientes de muestras 164 son reproducidos a traves de una zona de filtro 134 y, por lo tanto, en su zona espectral. A traves de una zona de filtro 134 se reproduce en cada caso una de cinco zonas de la imagen de la seccion de la imagen. Cada zona de filtro 134 y cada zona de la imagen cubren en este caso perpendicularmente a la direccion del movimiento de la muestra 106 exactamente tres elementos detectores 132, mas en general: exactamente el mismo numero de elementos detectores 132.
Para el registro siguiente se mueve mas la reproduccion de la muestra 106 en la medida del recorrido de la anchura de las zonas del filtro 134, de manera que se puede ver la anchura en la direccion del movimiento de la muestra 106. Ahora se toma otra seccion de la imagen de la muestra 106, de manera que esta seccion de la imagen cubre otra seccion de la muestra y otros objetos 166. La posicion de las zonas del filtro 134 en las secciones de la imagen permanece igual, pero no con relacion a las secciones de la muestra y los objetos 166. Con la segunda toma se reproducen los recipientes de la muestra 164 reproducidos de nuevo en otro espectro, es decir, en otro color.
La figura 17 presenta la muestra 106 de nuevo desplazada en la medida de la anchura de las zonas de filtro 134, de manera que los recipientes de la muestra reproducidos ahora tres veces son reproducidos en tres espectros diferentes. De esta manera, se reproducen todas las zonas de la muestra 106 y todos los recipientes de la muestra 164 al menos de manera tan frecuente como zonas del filtro estan presentes, en el ejemplo de realizacion mostrado al menos cinco veces, de manera que cada zona de la muestra esta tomada en cinco espectros. A partir de estas cinco imagenes se puede componer para cada zona de muestran un a imagen de cinco colores. Para reproducir cinco veces cada zona de la muestra, se toma registra en la primera toma la muestra 106 solo a traves de una zona del filtro, en la segunda toma a traves de dos zonas del filtro 134 y asf sucesivamente. Por lo tanto, la figura 15 muestra la quinta toma de la muestra 106.
La muestra 106 es reproducida en su totalidad, reproduciendo la muestra 106 por secciones de la imagen sobre el detector 128 y realizando varias reproducciones que se solapan parcialmente de la muestra 106 y los objetos 166. En este caso, se realizan al menos tantas reproducciones como secciones de filtro diferentes 134 estan presentes. En cada caso, a partir de tantas reproducciones que se solapan como secciones de filtro diferentes 134 estan presentes, se genera una imagen de cuatro colores de la muestra 106 o bien de un objeto 166, por ejemplo por el medio de control 140.
Las tomas son evaluadas en este caso a traves de un medio de evaluacion, que puede ser el medio de control 40, que esta conectado con el detector 128 de acuerdo con la tecnica de senales. En este caso, se reconoce, por ejemplo, que un objeto 168 tiene una importancia especial y debena representarse con una resolucion especialmente alta. Si se reconoce este cometido, entonces se mueve la muestra 106 de una toma a la siguiente solo menos que una longitud de pixel, es decir, una longitud de un elemento detector 132, como se puede reconocer en la figura 18 en comparacion con la figura 17. El objeto se mueve en este caso de toma a toma de acuerdo con subpixel sobre un lfmite entre dos zonas de filtro 134. A partir de las tomas se puede conseguir en la zona, que ha sido superada por el lfmite, una resolucion, que esta en la zona de subpixel, de manera que se puede representar el objeto 168 con resolucion especialmente alta.
De manera alternativa a un movimiento de la muestra 106 hacia el microscopio 102, se puede mover el filtro de luz 130 y/o el detector 128 con relacion a la muestra 106 y, por ejemplo, con relacion a la carcasa del microscopio 120.
En otra forma de realizacion, la carga de los elementos detectores individuales dentro de una zona del filtro con la reproduccion de la muestra se puede desplazar de acuerdo con los elementos detectores y solo se lee despues de uno o varios desplazamientos. O bien las cargas, que estan asociadas durante el desplazamiento de la reproduccion de la muestra dentro de una zona del filtro a una posicion de la muestra, se pueden asociar a un valor espectral de pixel. De esta manera, se puede acumular la carga de la muestra generada por la luz durante un periodo de tiempo mas largo.
La figura 19 muestra un diagrama doble, en el que la superficie de filtro de un filtro de luz 170 se representa en direccion-x y en direccion-y.
La direccion-z es la direccion del eje optico 22 en la entrada en la camara 126. Ademas, se representa la absorcion A del filtro de luz 170. Cuanto mas alta es la transmision del filtro de luz 170, tanto mas reducida es la absorcion A. En la zona rayada, la absorcion es de manera ideal proxima a 100 % y el filtro de luz 170 no es transparente a la luz. El filtro de luz 170 es un filtro de cantos con un canto 172 con una longitud de ondas X establecida. La longitud de ondas X depende de la posicion del canto 172 en la direccion-x del filtro 170. Mas a la derecha, en el filtro la longitud
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
de ondas X del canto es mas alta que mas a la izquierda. En el ejemplo representado, la modificacion de la longitud de ondas del canto por recorrido del filtro de luz en direccion-x es constante. Tambien son concebibles otras relaciones con modificacion lineal o no lineal. En el filtro de luz 170, muchnsimas zonas del filtro o un numero infinito de zonas del filtro que filtran de forma espectral diferentes estan dispuestas muy estrecha so infinitamente estrechas adyacentes entre sl
En el caso de utilizacion del filtro de luz 170 en lugar del filtro de luz 130 en las figuras 15 -18, cada zona de la muestra se puede reproducir con frecuencia opcional en diferentes espectros, de manera que una resolucion espectral de la imagen total de la muestra 106 depende del recorrido de movimiento de la muestra 106 de toma a toma. De esta manera, se puede seleccionar libremente la resolucion espectral de toda la imagen.
Si se disponen dos filtros de canto 174, 176 con un desarrollo opuesto de los cantos uno detras del otro, como se representa en la figura 20, entonces se puede ajustar mutuamente una ventana de transmision 178 tanto en su dilatacion espacial Ax como tambien en su dilatacion espectral AX a traves del movimiento del filtro de cantos 174, 176. Se pueden excluir zonas espectrales y se puede ajustar una resolucion espectral.
Una adaptacion del filtro de luz 130 al detector 128 se representa en la figura 21. En la figura 21 se representa un diagrama de la sensibilidad E del detector 128 sobre la longitud de onda X de la luz registrada. La sensibilidad E depende de la longitud de onda X de la luz y es una longitud de onda X1 menor que una longitud de onda X2 Para conseguir una iluminacion lo mas uniforme posible de las tomas de la muestra 106 sobre toda la zona espectral relevante, la zona de filtro 134, que transmite en la longitud de onda X1, del filtro de luz 130 es transmisiva en una zona de longitudes de ondas AX1 mayor que la zona de filtro 134, que transmite en la longitud de onda X2, del filtro de luz 130, que solamente transmite en la zona menor de longitudes de ondas AX2.
Otra posibilitad para la consecucion de una iluminacion lo mas uniforme posible de las tomas de la muestra 106 sobre toda la zona espectral relevante consiste en realizar una adaptacion electronica de los elementos detectores 132 a la zona del filtro 134 que se encuentra delante de ellos. En el caso de una zona del filtro 134 menos transmisiva, se puede activar de otra manera un elemento detector 132 asociado a esta zona del filtro 134 que un elemento detector 132, que esta asociado a una zona del filtro 134 mas transmisiva. La activacion diferente se puede conseguir a traves de un ajuste diferente de la ganancia y/o del tiempo de integracion de los elementos detectores 312. Tambien es concebible la union de pixeles, es decir, la agrupacion de dos o mas pfxeles o bien elementos detectores 132, lo mismo que un submuestreo, es decir, una lectura solo de cada n elemento detector 132, con n = 1, 2, 3 ... El control correspondiente se puede realizar por el medio de control 140.
En un ejemplo de realizacion especialmente ventajoso, durante la adaptacion electronica de los elementos detectores 132 se tiene en cuenta un desplazamiento de las zonas de filtro 134 delante de los elementos detectores 132. A tal fin, debe conocerse la posicion del filtro de luz 130 con respecto al detector, por ejemplo a traves de senales de posicion de uno de los actuadores 142, 144.
Lista de signos de referencia
2 Dispositivo de enfoque automatico
4 Microscopio
6 Muestra
8 Detector de imagenes
10 Medio de control
12 Fuente de luz
14 Generador de luz
16 Optica
18 Pantalla
20 Eje optico
22 Sistema optico
24 Elemento optico
26 Objetivo
28 Medios
30 Divisor del rayo
32 Divisor del rayo
34 Carcasa del microscopio
36 Elemento optico
38 Actuador
40 Optica
42 Optica
44 Detector
46 Orificio del diafragma
48
50
52
54
56
58
60
62
64
66
68
70
72
74
76
78
80
82
84
86
88
90
92
94
96
98
100
102
104
106
108
110
112
114
116
118
120
122
124
126
128
130
132
134
136
138
140
142
144
146
148
150
152
154
156
158
160
162
164
166
168
170
172
174
Trayectoria de la luz Trayectoria de la luz Foco de luz de medicion Distancia Foco
Soporte de muestras
Material de muestras
Tapa de cristal
Superficie lfmite
Superficie lfmite
Superficie lfmite
Plazo objetivo del foco
Elemento detector
Elemento detector
Senal
Senal
Posicion
Senal diferencial
Punto de anulacion
Posicion del objetivo
Direccion
Recorrido
Punto de enfoque
Espejo
Distancia
Distancia
Espejo
Microscopio
Mesa de muestras
Muestra
Fuente de luz
Flecha
Sistema optico Espejo Objetivo Actuador
Carcasa del microscopio
Eje optico
Elementos opticos
Camara
Detector
Filtro de luz
Elemento detector
Zona del filtro
Actuador
Flecha
Medios de control Actuador Actuador Detector
Zona del detector Zona del detector Zona del detector Espejo Espejo
Zona del filtro
Zona del filtro
Zona del filtro
Recipiente de muestras
Objeto
Objeto
Filtro de luz
Canto
Filtro de cantos
176
Filtro de cantos
178
Ventana de transmision
A
Absorcion
E
Sensibilidad
5 A
Longitud de ondas
AA
Zona de longitudes de ondas
A
Amplitud
g
Valor Kmite
t
Tiempo
10 z
Direccion del eje optico

Claims (12)

  1. 5
    10
    15
    20
    25
    30
    35
    40
    45
    50
    55
    60
    REIVINDICACIONES
    1. - Procedimiento de enfoque automatico, en el que la luz desde una fuente de luz (12) a traves de dos orificios de un medio (28) es dividida en dos trayectorias de la luz (48, 50), es enfocada en un foco de luz de medicion (52) en una muestra (6) y es reflejada desde allf y la luz reflejada es conducida a traves de un sistema optico (22) en dos trayectorias de luz (48, 50) correspondientes sobre al menos dos elementos detectores (72, 74), en el que el foco de luz de medicion (52) se mueve en capas de la muestra (6) que reflejan luz con diferente intensidad, y la luz reflejada es conducida a traves de al menos un orificio de pantalla (46), que corresponde en su forma a la forma de la fuente de luz (12), esta dispuesto en un plano de la imagen del sistema optico (22) y esta dispuesto fuera de un eje optico (20) del sistema optico (22); y los elementos detectores (72, 74) estan dispuestos de tal forma que en este caso las curvas de una propiedad de radiacion registrada por los elementos detectores (72, 74) son diferentes entre sf y se ajusta una posicion de enfoque en funcion de las curvas.
  2. 2. - Procedimiento de acuerdo con la reivindicacion 1, caracterizado porque la luz reflejada desde el foco de la luz de medicion (52) desde las dos trayectorias de la luz (48, 50) incide con la misma intensidad sobre los elementos detectores (72, 74).
  3. 3. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque la luz, que se refleja desde encima o desde debajo del foco de luz de medicion (52) incide con diferente intensidad sobre los elementos detectores (72, 74).
  4. 4. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque a traves de un medio optico se realiza una seleccion de la luz reflejada desde diferentes capas lfmites (64, 66) de acuerdo con diferente longitud del recorrido optico.
  5. 5. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque a traves de un medio optico se realiza una seleccion de la luz reflejada desde diferentes capas lfmites (64, 66) de acuerdo con direcciones diferentes sobre los elementos detectores (72, 74).
  6. 6. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque las trayectorias de la luz (48, 50) estan separadas una de la otra por medio de una zona sombreada.
  7. 7. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque la luz en las trayectorias de la luz (48, 50) presenta diferentes propiedades espectrales y las trayectorias de la luz (48, 50) son separadas delante de los elementos detectores (72, 74) de acuerdo con las propiedades espectrales.
  8. 8. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque las curvas son registradas continuamente.
  9. 9. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque se ajusta un foco del sistema optico (22) de tal manera que las senales (76, 78) de los elementos detectores (72, 74) estan en una relacion fija entre sf y en particular son de la misma intensidad.
  10. 10. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque el foco de la luz de medicion (52) se ajusta a una capa lfmite (66) que refleja luz y a continuacion se mueve la muestra (6) perpendicularmente al eje optico (30) del sistema optico (22) y las senales (76, 78) de los elementos detectores (72, 74) son verificadas a continuacion sobre la factibilidad con respecto a un ajuste aproximado existente como anteriormente sobre la capa lfmite (86) reflectante.
  11. 11. - Procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque la fuente de luz (12) presenta un patron de luz, que se reproduce en la muestra (6), de manera que la luz reflejada desde varios puntos patrones del patron de luz es detectada por separado, respectivamente, segun las trayectorias de la luz (48, 50).
  12. 12. - Dispositivo de enfoque automatico (2), que comprende una fuente de luz (12); un medio (28) con dos orificios para la division de la luz desde la fuente de luz en dos trayectorias de la luz (48, 50); un objetivo (26) para el enfoque de la luz dividida en un foco de luz de medicion (52) en una muestra (6) y para la conduccion de la luz reflejada allf en dos trayectorias de luz correspondientes sobre al menos dos elementos detectores (72, 74); y un sistema optico (22) para la reproduccion del patron de fuentes de luz generado en la muestra en un plano de la imagen del sistema optico (22); al menos un orificio de pantalla (46), que corresponde en su forma a la forma de la fuente de luz (12), que esta dispuesta en dicho plano de la imagen y fuera de un eje optico (20) del sistema optico (22); un actuador (38) y un medio de control (10) para el movimiento de un elemento (36) del objetivo (26) con relacion a la muestra (6) a traves del actuador (38), de tal manera que el foco de la luz de medicion (52) se mueve en capas de la muestra (6) que reflejan luz de diferente intensidad; de tal manera que la luz reflejada es conducida a traves del al menos un
    orificio de la pantalla (46), de manera que los elementos detectores (72, 74) estan dispuestos de tal forma que en este caso las curvas de una propiedad de radiacion registrada por los elementos detectores (72, 74) son diferentes y el medio de control (10) esta previsto para la evaluacion de las curvas en varias posiciones del foco de luz de medicion (52).
    5
ES10719379.9T 2009-03-11 2010-03-11 Procedimiento de enfoque automático y dispositivo de enfoque automático Active ES2617664T3 (es)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009012293A DE102009012293A1 (de) 2009-03-11 2009-03-11 Autofokusverfahren und Autofokuseinrichtung
DE102009012293 2009-03-11
DE200910012292 DE102009012292A1 (de) 2009-03-11 2009-03-11 Verfahren und Vorrichtung zum Aufnehmen eines Bilds eines Gegenstands
DE102009012292 2009-03-11
PCT/IB2010/000518 WO2010103389A1 (de) 2009-03-11 2010-03-11 Autofokusverfahren und autofokuseinrichtung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2617664T3 true ES2617664T3 (es) 2017-06-19

Family

ID=42235509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES10719379.9T Active ES2617664T3 (es) 2009-03-11 2010-03-11 Procedimiento de enfoque automático y dispositivo de enfoque automático

Country Status (10)

Country Link
US (2) US9310598B2 (es)
EP (1) EP2406679B1 (es)
JP (1) JP5739351B2 (es)
CN (1) CN102405431B (es)
AU (1) AU2010222633B2 (es)
BR (1) BRPI1011689B1 (es)
CA (1) CA2755164C (es)
DK (1) DK2406679T3 (es)
ES (1) ES2617664T3 (es)
WO (1) WO2010103389A1 (es)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5739351B2 (ja) * 2009-03-11 2015-06-24 サクラ ファインテック ユー．エス．エー．， インコーポレイテッド 自動合焦方法および自動合焦装置
US8970959B2 (en) * 2012-04-17 2015-03-03 Endure Medical, Inc. Stereoscopic beam splitter
DE102013103971A1 (de) 2013-04-19 2014-11-06 Sensovation Ag Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
DE102013018547B4 (de) * 2013-11-05 2019-11-07 Wavelight Gmbh Einrichtung zur Ausrichtung eines Fokussierobjektivs
WO2015073897A2 (en) 2013-11-15 2015-05-21 Mikroscan Technologies, Inc. Geological scanner
US10007102B2 (en) 2013-12-23 2018-06-26 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Microscope with slide clamping assembly
US10162166B2 (en) 2014-10-28 2018-12-25 Mikroscan Technologies, Inc. Microdissection viewing system
JP6482894B2 (ja) * 2015-02-19 2019-03-13 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置、及び、顕微鏡
CN105241853B (zh) * 2015-09-07 2019-05-07 深圳市瀚海基因生物科技有限公司 一种全内反射荧光成像系统
CN108369648B (zh) * 2015-10-16 2022-10-28 迈克罗斯肯科技公司 用于增强型数字显微镜的系统、介质、方法和设备
CN106051623A (zh) * 2016-07-21 2016-10-26 中导光电设备股份有限公司 一种多光谱led照明检测装置及其检测方法
US11280803B2 (en) 2016-11-22 2022-03-22 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Slide management system
DE102016122529A1 (de) * 2016-11-22 2018-05-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop zur Abbildung eines Objekts
DE102016122528A1 (de) 2016-11-22 2018-05-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Steuern oder Regeln einer Mikroskopbeleuchtung
US10477097B2 (en) * 2017-01-03 2019-11-12 University Of Connecticut Single-frame autofocusing using multi-LED illumination
NL2018854B1 (en) * 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Systems and methodes for improved focus tracking using blocking structures
NL2018857B1 (en) 2017-05-05 2018-11-09 Illumina Inc Systems and methods for improved focus tracking using a light source configuration
NL2018853B1 (en) 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Systems and methods for improved focus tracking using a hybrid mode light source
EP3396430B1 (en) * 2017-04-27 2023-08-16 Euroimmun Medizinische Labordiagnostika AG Optical scanning arrangement and method
JP2019079049A (ja) * 2017-10-24 2019-05-23 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、観察方法、及び観察プログラム
US10247910B1 (en) * 2018-03-14 2019-04-02 Nanotronics Imaging, Inc. Systems, devices and methods for automatic microscopic focus
US10146041B1 (en) 2018-05-01 2018-12-04 Nanotronics Imaging, Inc. Systems, devices and methods for automatic microscope focus
EP3850329A4 (en) * 2018-09-10 2022-06-22 Fluidigm Canada Inc. AUTOFOCUS PROBE IMAGING DEVICE AND METHOD
WO2020227698A1 (en) * 2019-05-08 2020-11-12 Apollo Medical Optics, Ltd Optical system and detection method therof
US11356594B1 (en) 2019-08-29 2022-06-07 Kla Corporation Tilted slit confocal system configured for automated focus detection and tracking
CA3158318A1 (en) * 2019-10-19 2021-04-20 SequLITE Genomics US, Inc. Virtual fiducials
CN111160158B (zh) * 2019-12-17 2022-03-22 山东大学 偏光显微镜下岩石图像智能识别系统及方法
CN113433682B (zh) * 2021-05-24 2022-12-02 南京工程学院 基于偏振差分图像的显微成像自动对焦装置及其方法
CN114112322A (zh) * 2021-10-21 2022-03-01 浙大宁波理工学院 一种基于差分共焦的显微镜焦点偏移测量方法

Family Cites Families (308)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB191503092A (en) 1915-02-26 1916-02-28 William Langstaff An Improved Flying Machine.
US2051051A (en) 1931-07-04 1936-08-18 Lilienfeld Leon New cellulose derivatives and process of making same
US3309262A (en) 1963-12-03 1967-03-14 Container Corp Fluidized bed oxidation of waste liquors resulting from the digestion of cellulosic materials for paper making
GB1149064A (en) 1966-08-01 1969-04-16 Int Research & Dev Co Ltd Improvements in and relating to means for detecting malignant cells in human and animal tissue
US3765851A (en) 1970-12-14 1973-10-16 Chervon Res Co Gas production
US3762798A (en) 1971-07-01 1973-10-02 Hamilton Co Microscope stage
US3862909A (en) 1972-09-05 1975-01-28 Copeland Systems Inc Fluidized bed autogenous combustion and pyrolysis of aqueous effluents to prepare activated carbon
US4089989A (en) 1975-04-04 1978-05-16 White Ronald D Method for preparing microscope slides by rotating during coating
US4000417A (en) 1975-08-25 1976-12-28 Honeywell Inc. Scanning microscope system with automatic cell find and autofocus
FR2325953A1 (fr) 1975-09-29 1977-04-22 Thomson Brandt Senseur optique de focalisation et dispositif de focalisation comportant un tel senseur
US4148752A (en) 1976-04-09 1979-04-10 Bayer Aktiengesellschaft Production of activated carbon in a reactor having a lower static layer and an upper fluidized layer
JPS5661650A (en) 1979-10-24 1981-05-27 Omron Tateisi Electronics Co Analyzing device of cell
FR2504281A1 (fr) * 1981-04-16 1982-10-22 Euromask Appareil de projection a dispositif de mise au point
DE3219503C2 (de) * 1982-05-25 1985-08-08 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Vorrichtung zum selbsttätigen Fokussieren auf in optischen Geräten zu betrachtende Objekte
JPS5971018A (ja) 1982-10-15 1984-04-21 Ikegami Tsushinki Co Ltd 自動顕微鏡装置
US4684799A (en) 1983-09-19 1987-08-04 Ricoh Company, Ltd. Focus detection method involving cutting more than half of light beam reflected from disc
US4760385A (en) 1985-04-22 1988-07-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Electronic mosaic imaging process
US4673988A (en) 1985-04-22 1987-06-16 E.I. Du Pont De Nemours And Company Electronic mosaic imaging process
DE3527322A1 (de) * 1985-07-31 1987-02-12 Zeiss Carl Fa Autofokuseinrichtung fuer auflichtmikroskope
JPH0652263B2 (ja) 1985-12-10 1994-07-06 株式会社日立製作所 細胞分析装置
US4836667A (en) 1986-05-06 1989-06-06 Slidex Corporation Microscope
JPS63206793A (ja) 1987-02-19 1988-08-26 ブイ・エル・エス・アイ・テクノロジー・インク ビデオ・メモリ・インターフェース回路
US5216596A (en) 1987-04-30 1993-06-01 Corabi International Telemetrics, Inc. Telepathology diagnostic network
US4849177A (en) 1987-05-08 1989-07-18 Abbott Laboratories Reagent pack and carousel
FR2620537B1 (fr) * 1987-09-14 1991-07-26 Micro Controle Dispositif optique a mise au point automatique et appareil optique comportant un tel dispositif
US4965725B1 (en) 1988-04-08 1996-05-07 Neuromedical Systems Inc Neural network based automated cytological specimen classification system and method
ATE134040T1 (de) 1988-08-02 1996-02-15 Abbott Lab Verfahren und vorrichtung zum erzeugen von eichdaten für die analyse
DE3828381C2 (de) * 1988-08-20 1997-09-11 Zeiss Carl Fa Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Systems
US4984229A (en) * 1988-11-18 1991-01-08 Polaroid Corporation Autofocus system
US5180606A (en) 1989-05-09 1993-01-19 Wescor, Inc. Apparatus for applying a controlled amount of reagent to a microscope slide or the like
US4962264A (en) 1989-10-23 1990-10-09 Betz Laboratories, Inc. Methods for retarding coke formation during pyrolytic hydrocarbon processing
US5595707A (en) 1990-03-02 1997-01-21 Ventana Medical Systems, Inc. Automated biological reaction apparatus
JPH0447479A (ja) 1990-06-13 1992-02-17 Toshiba Corp 画像表示装置
US5546323A (en) 1990-10-10 1996-08-13 Cell Analysis Systems, Inc. Methods and apparatus for measuring tissue section thickness
US5367401A (en) 1990-11-23 1994-11-22 Perceptive Scientific Instruments, Inc. Microscope slide rotary stage
CA2077781A1 (en) 1991-09-23 1993-03-24 James W. Bacus Method and apparatus for automated assay of biological specimens
US5428690A (en) 1991-09-23 1995-06-27 Becton Dickinson And Company Method and apparatus for automated assay of biological specimens
US5655028A (en) 1991-12-30 1997-08-05 University Of Iowa Research Foundation Dynamic image analysis system
US5686960A (en) 1992-01-14 1997-11-11 Michael Sussman Image input device having optical deflection elements for capturing multiple sub-images
US5947167A (en) 1992-05-11 1999-09-07 Cytologix Corporation Dispensing assembly with interchangeable cartridge pumps
GB2273994A (en) 1992-12-18 1994-07-06 Morphometrix Inc Process microscopy system
US5793969A (en) 1993-07-09 1998-08-11 Neopath, Inc. Network review and analysis of computer encoded slides
JPH0772378A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Nikon Corp 合焦装置
JP5161052B2 (ja) 2008-12-04 2013-03-13 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、標本観察方法およびプログラム
US5561556A (en) 1994-04-21 1996-10-01 Compucyte Corporation Slide analysis system with slide having self contained microscope analysis information
JPH08237407A (ja) 1994-12-09 1996-09-13 Xerox Corp 画像タイルの相対的なアラインメントを見当合わせすると共に透視歪みを修正するための方法
US5790086A (en) 1995-01-04 1998-08-04 Visualabs Inc. 3-D imaging system
JP3357210B2 (ja) 1995-02-03 2002-12-16 株式会社日立国際電気 自動焦点検出方法
JP3201926B2 (ja) 1995-04-10 2001-08-27 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡
JPH0980138A (ja) 1995-09-14 1997-03-28 Hitachi Ltd Ｓｑｕｉｄセンサ
EP1069593A3 (en) 1995-09-14 2001-01-31 Hitachi, Ltd. Electron microscope
US6091842A (en) 1996-10-25 2000-07-18 Accumed International, Inc. Cytological specimen analysis system with slide mapping and generation of viewing path information
US5737084A (en) * 1995-09-29 1998-04-07 Takaoka Electric Mtg. Co., Ltd. Three-dimensional shape measuring apparatus
JPH09133856A (ja) * 1995-11-07 1997-05-20 Nikon Corp 顕微鏡用自動焦点検出装置
JP2000501184A (ja) 1995-11-30 2000-02-02 クロマビジョン メディカル システムズ，インコーポレイテッド 生体標本の自動画像分析の方法および装置
US6330349B1 (en) 1995-11-30 2001-12-11 Chromavision Medical Systems, Inc. Automated method for image analysis of residual protein
US6718053B1 (en) 1996-11-27 2004-04-06 Chromavision Medical Systems, Inc. Method and apparatus for automated image analysis of biological specimens
JPH09161068A (ja) 1995-12-12 1997-06-20 Furukawa Electric Co Ltd:The 画像撮影方法とそれを用いた画像編集装置
JPH09218354A (ja) 1996-02-13 1997-08-19 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡情報システム
US6078681A (en) 1996-03-18 2000-06-20 Marine Biological Laboratory Analytical imaging system and process
US6043475A (en) * 1996-04-16 2000-03-28 Olympus Optical Co., Ltd. Focal point adjustment apparatus and method applied to microscopes
US5696589A (en) * 1996-05-20 1997-12-09 Lockheed Martin Energy Systems, Inc. Optical caliper with compensation for specimen deflection and method
US5768033A (en) 1996-06-14 1998-06-16 Brock; Dennis Microscope assembly comprising a supported and movable specimen wheel and fine adjustment means
GB9614434D0 (en) 1996-07-10 1996-09-04 Fairfield Telepathology Limite Video display systems
US6396941B1 (en) 1996-08-23 2002-05-28 Bacus Research Laboratories, Inc. Method and apparatus for internet, intranet, and local viewing of virtual microscope slides
US6031930A (en) 1996-08-23 2000-02-29 Bacus Research Laboratories, Inc. Method and apparatus for testing a progression of neoplasia including cancer chemoprevention testing
US6272235B1 (en) 1997-03-03 2001-08-07 Bacus Research Laboratories, Inc. Method and apparatus for creating a virtual microscope slide
US6404906B2 (en) 1997-03-03 2002-06-11 Bacus Research Laboratories,Inc. Method and apparatus for acquiring and reconstructing magnified specimen images from a computer-controlled microscope
US5924074A (en) 1996-09-27 1999-07-13 Azron Incorporated Electronic medical records system
US6735531B2 (en) 1996-10-07 2004-05-11 Lab Vision Corporation Method and apparatus for automatic tissue staining
US5891619A (en) 1997-01-14 1999-04-06 Inphocyte, Inc. System and method for mapping the distribution of normal and abnormal cells in sections of tissue
US5836877A (en) 1997-02-24 1998-11-17 Lucid Inc System for facilitating pathological examination of a lesion in tissue
US6008892A (en) * 1997-05-23 1999-12-28 Molecular Dynamics, Inc. Optical substrate for enhanced detectability of fluorescence
JPH10333054A (ja) 1997-05-30 1998-12-18 Yokogawa Electric Corp 共焦点顕微鏡
US6091075A (en) * 1997-06-04 2000-07-18 Hitachi, Ltd. Automatic focus detection method, automatic focus detection apparatus, and inspection apparatus
GB2331151B (en) 1997-11-05 2000-01-12 Robert John Johnston Slide staining system
US6198285B1 (en) 1997-11-28 2001-03-06 Hitachi Medical Corporation In-room MRI display terminal and remote control system
US6147797A (en) 1998-01-20 2000-11-14 Ki Technology Co., Ltd. Image processing system for use with a microscope employing a digital camera
US7396508B1 (en) 2000-07-12 2008-07-08 Ventana Medical Systems, Inc. Automated molecular pathology apparatus having independent slide heaters
US6855559B1 (en) 1998-09-03 2005-02-15 Ventana Medical Systems, Inc. Removal of embedding media from biological samples and cell conditioning on automated staining instruments
US6606413B1 (en) 1998-06-01 2003-08-12 Trestle Acquisition Corp. Compression packaged image transmission for telemicroscopy
US20040083085A1 (en) 1998-06-01 2004-04-29 Zeineh Jack A. Integrated virtual slide and live microscope system
US6205235B1 (en) 1998-07-23 2001-03-20 David Roberts Method and apparatus for the non-invasive imaging of anatomic tissue structures
US6226352B1 (en) 1998-09-08 2001-05-01 Veritas Pharmaceuticals, Inc. System and method for radiographic imaging of tissue
US6061176A (en) 1998-09-14 2000-05-09 Shih; Song Hsin Microscope system for observation and display of microcirculation at multiple body areas
DE19858456A1 (de) 1998-12-18 2000-07-06 Leica Microsystems Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenenfalls zur Auswertung von Objektstrukturen
US6130745A (en) 1999-01-07 2000-10-10 Biometric Imaging, Inc. Optical autofocus for use with microtiter plates
US20030133009A1 (en) 1999-04-09 2003-07-17 Carl S Brown System and method for detecting with high resolution a large, high content field
WO2000062247A1 (en) 1999-04-13 2000-10-19 Chromavision Medical Systems, Inc. Histological reconstruction and automated image analysis
US6847729B1 (en) 1999-04-21 2005-01-25 Fairfield Imaging Limited Microscopy
US7920163B1 (en) 1999-06-15 2011-04-05 Tessera International, Inc. Sealed, waterproof digital electronic camera system and method of fabricating same
US20020169512A1 (en) 1999-08-02 2002-11-14 Decode Genetics Ehf. Plate mover for crystallization data collection
AU2421101A (en) * 1999-11-16 2001-05-30 Agilent Technologies Inc. Confocal imaging
US7187810B2 (en) 1999-12-15 2007-03-06 Medispectra, Inc. Methods and systems for correcting image misalignment
DE10011211B4 (de) * 2000-03-08 2004-08-05 Pilz Gmbh & Co. Sicherheitsschaltgerät und Sicherheitsschaltgeräte-System
JP5179683B2 (ja) 2000-03-31 2013-04-10 株式会社ニコン 光学顕微鏡システム
US6711283B1 (en) 2000-05-03 2004-03-23 Aperio Technologies, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
US7668362B2 (en) 2000-05-03 2010-02-23 Aperio Technologies, Inc. System and method for assessing virtual slide image quality
US7738688B2 (en) 2000-05-03 2010-06-15 Aperio Technologies, Inc. System and method for viewing virtual slides
US7098634B1 (en) 2003-02-21 2006-08-29 Lovoltech, Inc. Buck-boost circuit with normally off JFET
DE10024685A1 (de) * 2000-05-18 2001-11-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur konfokalen Autofokussierung
DE10026392A1 (de) 2000-05-27 2001-11-29 Leica Microsystems Verfahren und Anordnung zur Kodierung von Livebildern in der Mikroskopie
EP1290428A1 (en) 2000-06-02 2003-03-12 Medicometrics APS Method and system for classifying a biological sample
US6898367B2 (en) 2000-06-17 2005-05-24 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and instrument for microscopy
JP2002031513A (ja) 2000-07-14 2002-01-31 Minolta Co Ltd ３次元測定装置
IL138123A0 (en) 2000-08-28 2001-10-31 Accuramed 1999 Ltd Medical decision support system and method
US6678398B2 (en) 2000-09-18 2004-01-13 Sti Medical Systems, Inc. Dual mode real-time screening and rapid full-area, selective-spectral, remote imaging and analysis device and process
US7209287B2 (en) * 2000-09-18 2007-04-24 Vincent Lauer Confocal optical scanning device
DE10146902A1 (de) 2000-09-25 2002-09-19 Sensovation Ag Bildsensor, Vorrichtung und Verfahren für optische Messungen
US7292251B1 (en) 2000-10-06 2007-11-06 The Research Foundation Of State University Of New York Virtual telemicroscope
US7194118B1 (en) 2000-11-10 2007-03-20 Lucid, Inc. System for optically sectioning and mapping surgically excised tissue
JP2002150987A (ja) 2000-11-16 2002-05-24 Jeol Ltd 電子顕微鏡および電子顕微鏡における透過電子像撮影方法
US7171030B2 (en) 2000-11-30 2007-01-30 University Of Medicine & Denistry Of New Jersey Systems for analyzing microtissue arrays
US6466690C1 (en) 2000-12-19 2008-11-18 Bacus Res Lab Inc Method and apparatus for processing an image of a tissue sample microarray
US7155049B2 (en) 2001-01-11 2006-12-26 Trestle Acquisition Corp. System for creating microscopic digital montage images
US6993169B2 (en) 2001-01-11 2006-01-31 Trestle Corporation System and method for finding regions of interest for microscopic digital montage imaging
US20020176161A1 (en) 2001-03-12 2002-11-28 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
DE10112639A1 (de) * 2001-03-16 2002-09-19 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop mit Autofokussiereinrichtung
US7864369B2 (en) 2001-03-19 2011-01-04 Dmetrix, Inc. Large-area imaging by concatenation with array microscope
US20030048931A1 (en) 2001-03-23 2003-03-13 Peter Johnson Quantification and differentiation of tissue based upon quantitative image analysis
JP2002296508A (ja) 2001-03-30 2002-10-09 Nikon Corp 顕微鏡システム
EP3388784B1 (en) 2001-05-04 2019-07-17 Vexcel Imaging GmbH Method and large format camera for acquiring a large format image of a large area object
DE10127284A1 (de) * 2001-06-05 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Autofokussiereinrichtung für ein optisches Gerät
US7071969B1 (en) 2001-09-27 2006-07-04 National Semiconductor Corporation Parameterized preview array for iterative image optimization in remote applications
US6847481B1 (en) 2001-10-26 2005-01-25 Ludl Electronics Products, Ltd. Automated slide loader cassette for microscope
US6998270B2 (en) 2001-11-26 2006-02-14 Lab Vision Corporation Automated tissue staining system and reagent container
JP4021183B2 (ja) * 2001-11-29 2007-12-12 オリンパス株式会社 合焦状態信号出力装置
JP2003248176A (ja) 2001-12-19 2003-09-05 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡画像撮影装置
US6978052B2 (en) 2002-01-28 2005-12-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Alignment of images for stitching
US6778275B2 (en) 2002-02-20 2004-08-17 Micron Technology, Inc. Aberration mark and method for estimating overlay error and optical aberrations
JP5132867B2 (ja) 2002-02-22 2013-01-30 オリンパス アメリカ インコーポレイテツド 仮想顕微鏡スライドを形成し使用する方法および装置、ならびにプログラム
US20040090667A1 (en) * 2002-03-22 2004-05-13 Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss Microscopy system
JP3911185B2 (ja) 2002-04-05 2007-05-09 株式会社ニフコ 過給油防止バルブ
WO2003106157A2 (en) 2002-06-14 2003-12-24 Chromavision Medical Systems, Inc. Automated slide staining apparatus
JP4370554B2 (ja) * 2002-06-14 2009-11-25 株式会社ニコン オートフォーカス装置およびオートフォーカス付き顕微鏡
US7136518B2 (en) 2003-04-18 2006-11-14 Medispectra, Inc. Methods and apparatus for displaying diagnostic data
GB0216641D0 (en) 2002-07-18 2002-08-28 Univ Nottingham Image analysis method, apparatus and software
DE10234757B4 (de) * 2002-07-30 2004-08-26 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofokusmodul für Mikroskopbasierte Systeme
DE10240720A1 (de) 2002-09-04 2004-03-25 Carl Zeiss Jena Gmbh Kamera-Adapter für optische Geräte, insbesondere Mikroskope
JP2004101871A (ja) 2002-09-10 2004-04-02 Olympus Corp 顕微鏡画像撮影装置
AU2003270687B2 (en) 2002-09-13 2008-05-08 Life Technologies Corporation Interactive and automated tissue image analysis with global training database and variable-abstraction processing in cytological specimen classification and laser capture microdissection applications
JP3859574B2 (ja) 2002-10-23 2006-12-20 ファナック株式会社 ３次元視覚センサ
DE10250569A1 (de) 2002-10-28 2004-05-13 Carl Zeiss Meditec Ag Ophthalmologisches Gerät und Verfahren zur Gerätepositionierung
DE10250100A1 (de) 2002-10-28 2004-05-13 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskopsystem und Verfahren zur Analyse und Auswertung von Mehrfachfärbungen eines mikroskopischen Objekts
KR100502414B1 (ko) 2002-11-22 2005-07-19 삼성전자주식회사 에이디에스엘 시스템의 에코 제거기 및 그것의 트레이닝방법
DE10255072A1 (de) 2002-11-25 2004-06-17 Sensovation Ag Verfahren zum Erfassen einer Eigenschaft mindestens eines Gegenstands
DE10255460B4 (de) 2002-11-25 2014-02-27 Carl Zeiss Meditec Ag Optisches Beobachtungsgerät mit Videovorrichtung
DE10259667B4 (de) 2002-12-18 2004-09-16 Lfk-Lenkflugkörpersysteme Gmbh Verfahren zur Vergrößerung des Bildfeldes einer Focal-Plane-Array-Kamera
US7648678B2 (en) 2002-12-20 2010-01-19 Dako Denmark A/S Method and system for pretreatment of tissue slides
US7584019B2 (en) 2003-12-15 2009-09-01 Dako Denmark A/S Systems and methods for the automated pre-treatment and processing of biological samples
DE10300091A1 (de) 2003-01-04 2004-07-29 Lubatschowski, Holger, Dr. Mikrotom
US7046447B2 (en) * 2003-01-13 2006-05-16 Pc Mirage, Llc Variable focus system
GB2398196B (en) 2003-02-05 2005-06-01 Fairfield Imaging Ltd Microscope system and method
AU2003900780A0 (en) 2003-02-21 2003-03-13 Vision Biosystems Limited Analysis system and procedure
US7233340B2 (en) 2003-02-27 2007-06-19 Applied Imaging Corp. Linking of images to enable simultaneous viewing of multiple objects
US7116440B2 (en) 2003-02-28 2006-10-03 Aperio Technologies, Inc. Image processing and analysis framework
US7257268B2 (en) 2003-02-28 2007-08-14 Aperio Technologies, Inc. Systems and methods for image pattern recognition
DE10319182B4 (de) * 2003-04-29 2008-06-12 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Fokusposition bei der Abbildung einer Probe
WO2004106874A1 (en) 2003-06-02 2004-12-09 Sensovation Ag Apparatus and methods for photo-electric measurement
US7756357B2 (en) 2003-07-01 2010-07-13 Olympus Corporation Microscope system for obtaining high and low magnification images
US7033026B2 (en) 2003-07-04 2006-04-25 Spector Robert T Method of and apparatus for diagnosing and treating amblyopic conditions in the human visual system
US20050025833A1 (en) * 2003-07-16 2005-02-03 Chaim Aschkenasy Pharmaceutical composition and method for transdermal drug delivery
US7196300B2 (en) * 2003-07-18 2007-03-27 Rudolph Technologies, Inc. Dynamic focusing method and apparatus
FI20031143A0 (fi) * 2003-08-08 2003-08-08 Wallac Oy Optinen fokusointimenetelmä ja -järjestely
DE10342264C5 (de) 2003-09-12 2012-10-31 Leica Biosystems Nussloch Gmbh System zum eindeutigen Zuordnen von histologischen Kassetten und Objektträgern
US8473035B2 (en) 2003-09-15 2013-06-25 Beth Israel Deaconess Medical Center Medical imaging systems
KR20060115366A (ko) 2003-10-24 2006-11-08 더 유니버시티 오브 마이애미 간소화시킨 조직 가공
JP4124096B2 (ja) 2003-10-29 2008-07-23 株式会社ニコン 画像処理方法および画像処理装置、並びにプログラム
US20050094262A1 (en) 2003-11-05 2005-05-05 Visx, Incorporated Microscope magnification sensor
WO2005050563A2 (en) 2003-11-17 2005-06-02 Aureon Biosciences Corporation Pathological tissue mapping
US20050112537A1 (en) 2003-11-20 2005-05-26 Ladder Publishing Co., Ltd. Mobile teaching aid with audiovisual amusement device
US7141802B2 (en) 2003-12-01 2006-11-28 Olympus Corporation Optical device and imaging method
DE10361150A1 (de) 2003-12-22 2005-07-21 Leica Microsystems Imaging Solutions Ltd. Mikroskopsystem und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopsystems
JP2005284136A (ja) 2004-03-30 2005-10-13 Olympus Corp 観察装置および観察装置の焦点合わせ方法
US20050221351A1 (en) 2004-04-06 2005-10-06 Affymetrix, Inc. Methods and devices for microarray image analysis
JP4576876B2 (ja) 2004-05-10 2010-11-10 株式会社ニコン 顕微鏡システム
US7232980B2 (en) * 2004-05-24 2007-06-19 Hamamatsu Photonics K.K. Microscope system
WO2005119575A2 (en) 2004-05-27 2005-12-15 Aperio Technologies, Inc Systems and methods for creating and viewing three dimensional virtual slides
US7751048B2 (en) 2004-06-04 2010-07-06 California Institute Of Technology Optofluidic microscope device
JP4782391B2 (ja) 2004-06-16 2011-09-28 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
WO2006004739A2 (en) 2004-06-29 2006-01-12 Dako Denmark A/S Method of pre-treatment and staining of and support device for a biological sample
US7677289B2 (en) 2004-07-08 2010-03-16 President And Fellows Of Harvard College Methods and apparatuses for the automated production, collection, handling, and imaging of large numbers of serial tissue sections
JP2006039315A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Hamamatsu Photonics Kk 自動焦点装置及びそれを用いた顕微鏡装置
US7623697B1 (en) 2004-07-28 2009-11-24 Genetix Corp. Linking of images to enable simultaneous viewing of multiple objects
JP4373872B2 (ja) 2004-07-30 2009-11-25 浜松ホトニクス株式会社 撮像装置及びそれを用いた顕微鏡装置
US7456377B2 (en) 2004-08-31 2008-11-25 Carl Zeiss Microimaging Ais, Inc. System and method for creating magnified images of a microscope slide
HUP0401802A2 (en) 2004-09-02 2006-03-28 3D Histech Kft Focusing method object carriers on fast-moving digitalization and object carrier moving mechanics, focusing optic, optical distance-measuring instrument
DE102004044626B4 (de) 2004-09-13 2008-11-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Untersuchung von Transportprozessen
JP2006084794A (ja) * 2004-09-16 2006-03-30 Olympus Corp 焦点位置制御機構付き観察装置
US8094914B2 (en) 2004-09-22 2012-01-10 Nikon Corporation Microscope system and image processing method used for observation of a specimen
US7253947B2 (en) 2004-10-07 2007-08-07 New York University Portable automated confocal microscope
WO2006058187A2 (en) * 2004-11-23 2006-06-01 Robert Eric Betzig Optical lattice microscopy
US7760909B2 (en) 2005-01-12 2010-07-20 Brainlab Ag Video tracking and registering
US7301133B2 (en) * 2005-01-21 2007-11-27 Photon Dynamics, Inc. Tracking auto focus system
US7414709B2 (en) 2005-01-21 2008-08-19 Gemex Systems, Inc. Method and system for online evaluation of gemstones
JP2006259630A (ja) 2005-03-18 2006-09-28 Olympus Corp 顕微鏡用画像記録装置
CA2504245A1 (en) 2005-04-11 2006-10-11 Meinan Machinery Works, Inc. Method of inspecting a broad article
JP2006292999A (ja) 2005-04-11 2006-10-26 Direct Communications:Kk スライド画像データ作成装置およびスライド画像データ
JP2006343595A (ja) * 2005-06-09 2006-12-21 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 共焦点型検査装置
US7873193B2 (en) 2005-06-21 2011-01-18 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Serial section analysis for computer-controlled microscopic imaging
US7756309B2 (en) 2005-07-27 2010-07-13 Bioimagene, Inc. Method and system for storing, indexing and searching medical images using anatomical structures of interest
JP4799088B2 (ja) 2005-09-06 2011-10-19 株式会社東芝 遠隔検査における作業位置計測方法およびその装置
JP4970869B2 (ja) 2005-09-12 2012-07-11 オリンパス株式会社 観察装置および観察方法
JP4915071B2 (ja) 2005-09-22 2012-04-11 株式会社ニコン 顕微鏡、およびバーチャルスライド作成システム
DE102005046638C5 (de) 2005-09-29 2024-02-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Verfahren zur Probenmanipulation mit einem Manipulationslichtstrahl in einem Scanmikroskop
US7433505B2 (en) 2005-11-01 2008-10-07 Ben Yoo Method of dental microscopic procedure
WO2007063748A1 (ja) 2005-11-30 2007-06-07 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho ハライド系るつぼを用いる誘導溶解装置、同るつぼの製作法および誘導溶解法並びに超高純度Ｆｅ基、Ｎｉ基、Ｃｏ基合金材料の溶製法
US7433026B2 (en) 2005-12-20 2008-10-07 Cytyc Corporation Microscope with LED illumination source
US7297910B2 (en) * 2005-12-30 2007-11-20 General Electric Company System and method for utilizing an autofocus feature in an automated microscope
US7657070B2 (en) 2006-01-20 2010-02-02 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Automated system of processing biological specimens and method
JP4636552B2 (ja) 2006-01-25 2011-02-23 セイコーインスツル株式会社 自動薄切装置
EP2267972A1 (en) 2006-02-21 2010-12-29 BrainLAB AG Computer network system and method for operating the network system screenshot and sourceshot control
US20070224699A1 (en) 2006-03-23 2007-09-27 Gates Jackson L X-ray visualizer, laser-beam operated micro-dissector, automated tissue processor
JP4878913B2 (ja) 2006-05-24 2012-02-15 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、顕微鏡画像の合成方法、及びプログラム
US7840300B2 (en) 2006-05-31 2010-11-23 Robert Arthur Harker Full spectrum lapidary 3D image scanner and method
US7700903B2 (en) 2006-06-09 2010-04-20 Wdi Wise Device Inc. Method and apparatus for the auto-focussing infinity corrected microscopes
US8067245B2 (en) 2006-07-24 2011-11-29 Medica Corporation Automated microscope for blood cell analysis
KR20090069165A (ko) 2006-08-04 2009-06-29 아이코니시스 인코포레이티드 현미경 외장 시스템
US7659509B2 (en) 2006-10-31 2010-02-09 Agilent Technologies, Inc. System for scanning probe microscope input device
WO2008066846A2 (en) 2006-11-28 2008-06-05 President And Fellows Of Harvard College Methods and apparatus for providing and processing sliced thin tissue
JPWO2008069220A1 (ja) 2006-11-30 2010-03-18 株式会社ニコン 結像装置及び顕微鏡
JP5006062B2 (ja) 2007-02-05 2012-08-22 オリンパス株式会社 バーチャルスライド作成装置、バーチャルスライド作成方法およびバーチャルスライド作成プログラム
WO2008118886A1 (en) 2007-03-23 2008-10-02 Bioimagene, Inc. Digital microscope slide scanning system and methods
JP5053691B2 (ja) * 2007-04-13 2012-10-17 オリンパス株式会社 標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法
US7769548B2 (en) 2007-05-10 2010-08-03 Illumina, Inc. Microarray analytical data stitching system and method
US8023714B2 (en) 2007-06-06 2011-09-20 Aperio Technologies, Inc. System and method for assessing image interpretability in anatomic pathology
HU0700409D0 (en) 2007-06-11 2007-08-28 3D Histech Kft Method and system for accessing a slide from a remote workstation
DE102007033793A1 (de) 2007-07-19 2009-01-22 Carl Zeiss Imaging Solutions Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe, Computerprogramm und Computerprogrammprodukt
JP2009036969A (ja) 2007-08-01 2009-02-19 Nikon Corp カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置
US7859572B2 (en) 2007-08-06 2010-12-28 Microsoft Corporation Enhancing digital images using secondary optical systems
US8878923B2 (en) 2007-08-23 2014-11-04 General Electric Company System and method for enhanced predictive autofocusing
US8330087B2 (en) 2007-10-16 2012-12-11 Cambridge Research & Instrumentation, Inc. Spectral imaging system with dynamic optical correction
EP2053377A1 (de) 2007-10-22 2009-04-29 MMI GmbH Verfahren und Vorrichtung zur dreimimensionalen Mikrodissektion
US8000562B2 (en) 2007-12-14 2011-08-16 Xerox Corporation Image downsampling for print job processing
JP5028249B2 (ja) 2007-12-25 2012-09-19 オリンパス株式会社 顕微鏡
ES2396607T3 (es) 2007-12-27 2013-02-22 Cytyc Corporation Sistema para barrer de forma controlable un espécimen citológico
JP4958807B2 (ja) 2008-01-24 2012-06-20 株式会社キーエンス 画像処理装置
JP5096955B2 (ja) 2008-02-14 2012-12-12 オリンパス株式会社 観察装置の制御方法および観察装置ならびに観察装置の制御プログラム
EP2110696B1 (en) 2008-04-15 2013-10-16 Sensovation AG Method and apparatus for autofocus
EP2288903A4 (en) 2008-05-16 2012-03-21 Biomedical Photometrics Inc IMAGING SYSTEM WITH OPTIMIZATION OF THE DYNAMIC RANGE
US7550699B1 (en) * 2008-06-20 2009-06-23 Marshall Daniel R Removal of unwanted reflections in autofocus systems
US8120642B2 (en) 2008-07-25 2012-02-21 Honeywell International Inc. Optical fingerprint acquisition
DE102009061014B4 (de) 2008-08-08 2012-03-01 Leica Biosystems Nussloch Gmbh Verfahren zum Herstellen von Dünnschnitten einer Probe mittels eines Mikrotoms
JP2010045615A (ja) 2008-08-13 2010-02-25 Olympus Corp 撮像装置および内視鏡システム
WO2010021744A1 (en) 2008-08-21 2010-02-25 California Institute Of Technology Microscope coupled tissue sectioning system
JP5380026B2 (ja) 2008-09-24 2014-01-08 シスメックス株式会社 標本撮像装置
DE102008049589A1 (de) 2008-09-30 2010-04-08 Carl Zeiss Smt Ag Optische Abbildungseinrichtung und Abbildungsverfahren für die Mikroskopie
WO2010042217A1 (en) 2008-10-09 2010-04-15 Sti Medical Systems, Llc Process for preserving three dimensional orientation to allow registering histopathological diagnoses of tissue
JP2010117705A (ja) 2008-10-14 2010-05-27 Olympus Corp バーチャルスライド作成システム用顕微鏡
US20100102571A1 (en) 2008-10-28 2010-04-29 Fu-Hung Yang Manpower Power Generator
KR100956785B1 (ko) 2008-10-31 2010-05-12 주식회사 하이닉스반도체 Ｄｌｌ 회로 및 그 제어 방법
TWM354738U (en) 2008-11-07 2009-04-11 Shanghai Microtek Technology Co Ltd Electronic device for biological microscopy
JP2010128062A (ja) 2008-11-26 2010-06-10 Olympus Corp バーチャルスライド用標本像取得装置
JP5024351B2 (ja) 2008-11-28 2012-09-12 株式会社ニコン 画像ファイル生成装置、カメラ、および画像ファイル生成プログラム
JP5153599B2 (ja) 2008-12-08 2013-02-27 オリンパス株式会社 顕微鏡システム及び該動作方法
JP5301970B2 (ja) 2008-12-08 2013-09-25 オリンパス株式会社 顕微鏡用デジタルカメラシステム及び顕微鏡システム
JP5706341B2 (ja) 2009-01-22 2015-04-22 バイオパス・オートメーション・エル・エル・シー 組織標本を位置付けするためのミクロトーム薄片化生検支持体
US8836948B2 (en) 2009-01-29 2014-09-16 The Regents Of The University Of California High resolution structured illumination microscopy
US20100201800A1 (en) 2009-02-09 2010-08-12 Olympus Corporation Microscopy system
US8537181B2 (en) 2009-03-09 2013-09-17 Ventana Medical Systems, Inc. Modes and interfaces for observation, and manipulation of digital images on computer screen in support of pathologist's workflow
WO2010105015A2 (en) 2009-03-11 2010-09-16 The University Of North Carolina At Chapel Hill Methods, systems, and computer readable media for microscopy tracking
DE102009012293A1 (de) 2009-03-11 2010-09-16 Sensovation Ag Autofokusverfahren und Autofokuseinrichtung
JP5739351B2 (ja) * 2009-03-11 2015-06-24 サクラ ファインテック ユー．エス．エー．， インコーポレイテッド 自動合焦方法および自動合焦装置
JP5316161B2 (ja) 2009-03-27 2013-10-16 ソニー株式会社 観察装置
JP2010261794A (ja) 2009-05-01 2010-11-18 Seiko Instruments Inc 薄切片標本作製装置及び薄切片標本作製方法
JP5214538B2 (ja) 2009-05-25 2013-06-19 オリンパス株式会社 画像取得装置、画像合成方法、及び顕微鏡システム
US9810895B2 (en) 2009-05-29 2017-11-07 Olympus Corporation Biological observation apparatus
JP5336936B2 (ja) 2009-06-08 2013-11-06 オリンパス株式会社 撮像装置及び顕微鏡システム
US8304704B2 (en) * 2009-07-27 2012-11-06 Sensovation Ag Method and apparatus for autofocus using a light source pattern and means for masking the light source pattern
US8335374B2 (en) 2009-08-12 2012-12-18 Genetix Corporation Image segmentation
JP5393340B2 (ja) 2009-08-20 2014-01-22 オリンパス株式会社 撮像端末、表示端末、表示方法、及び撮像システム
US8463741B2 (en) 2009-09-04 2013-06-11 Omnyx, LLC Digital pathology system
JP4982544B2 (ja) 2009-09-30 2012-07-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 合成画像形成方法及び画像形成装置
US8077959B2 (en) 2009-09-30 2011-12-13 General Electric Company Stain-based optimized compression of digital pathology slides
EP2491452A4 (en) 2009-10-19 2015-03-11 Ventana Med Syst Inc IMAGING SYSTEM AND TECHNIQUES
JP5394887B2 (ja) 2009-10-29 2014-01-22 オリンパス株式会社 顕微鏡装置および顕微鏡観察方法
JP5498129B2 (ja) 2009-11-09 2014-05-21 オリンパス株式会社 バーチャル顕微鏡システム
CN105743556B (zh) 2009-11-24 2019-03-22 韩国电子通信研究院 用于在无线通信系统中接收数据的方法和装置
DE102010007727A1 (de) 2010-02-12 2011-08-18 Leica Microsystems CMS GmbH, 35578 Vorrichtung nach Art eines Scan-Mikroskops, Vorrichtung in Form einer Baueinheit für ein Mikroskop und Verfahren und Vorrichtung zum optischen Abtasten einer oder mehrerer Proben
JP5555014B2 (ja) 2010-03-10 2014-07-23 オリンパス株式会社 バーチャルスライド作成装置
WO2011153500A2 (en) 2010-06-04 2011-12-08 Aperio Technologies, Inc. System and method to determine slide quality of a digitized microscope slide
TW201201392A (en) 2010-06-17 2012-01-01 Univ Feng Chia Semiconductor photosensing device
JP5537281B2 (ja) 2010-06-21 2014-07-02 オリンパス株式会社 顕微鏡装置および画像取得方法
US8839700B2 (en) 2010-06-23 2014-09-23 Tissuevision, Inc. Oscillating microtome with flexure drive
US10139613B2 (en) 2010-08-20 2018-11-27 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Digital microscope and method of sensing an image of a tissue sample
JP2012065257A (ja) 2010-09-17 2012-03-29 Olympus Corp 顕微鏡用撮像装置
DE102010041794A1 (de) 2010-09-30 2012-04-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
WO2012068142A2 (en) 2010-11-15 2012-05-24 Tissuevision, Inc. Systems and methods for imaging and processing tissue
CN103221800B (zh) 2010-11-19 2015-07-15 奥林巴斯株式会社 生物体试样制备方法
US20120127297A1 (en) 2010-11-24 2012-05-24 Baxi Vipul A Digital microscopy with focus grading in zones distinguished for comparable image structures
US8388891B2 (en) 2010-12-28 2013-03-05 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Automated system and method of processing biological specimens
US8476585B2 (en) 2011-03-02 2013-07-02 Gatan, Inc. Microtome utilizing a movable knife in a retardation field scanning electron microscope and a retardation field scanning electron microscope including the same
JP5766004B2 (ja) 2011-04-26 2015-08-19 倉敷紡績株式会社 薄切片試料作製装置及び薄切片試料作製方法
WO2012156862A1 (en) 2011-05-13 2012-11-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Generating a slicing scheme for slicing a specimen
WO2012164567A1 (en) 2011-06-02 2012-12-06 Dune Medical Devices Ltd. Tissue sampling for pathological study
GB201109999D0 (en) 2011-06-14 2011-07-27 Imec Sample holder
DE102011051278A1 (de) 2011-06-22 2012-12-27 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und lichtmikroskopische Einrichtung zur bildlichen Darstellung einer Probe
US20130076886A1 (en) 2011-09-27 2013-03-28 Olympus Integrated Technologies America, Inc. Automatic Focus and Sample Detection
US8827760B2 (en) 2011-11-28 2014-09-09 Carrie Park Ushibo Peripheral apparatus for positioning and using a portable electronic device
US20130140459A1 (en) 2011-12-01 2013-06-06 Gatan, Inc. System and method for sample analysis by three dimensional cathodoluminescence
WO2013142366A1 (en) 2012-03-19 2013-09-26 Genetic Innovations, Inc. Devices, systems, and methods for virtual staining
US9194775B2 (en) 2012-07-30 2015-11-24 Aspect Imaging Ltd. Guided slicing system for obtaining histological samples and methods thereof
AU2013302966B2 (en) 2012-08-15 2017-06-08 Lucid, Inc. Systems and methods for imaging tissue
JP2014066788A (ja) 2012-09-25 2014-04-17 Sony Corp 画面表示装置及び画面表示システム
US20140087411A1 (en) 2012-09-27 2014-03-27 University Of Southern California System and method for determining tumor invasiveness
DE102012219775A1 (de) 2012-10-29 2014-04-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Einstelleinheit und Verfahren zum Einstellen eines Ablaufs zur automatischen Aufnahme von Bildern eines Objekts mittels einer Aufnahmevorrichtung und Aufnahmevorrichtung mit einer solchen Einstelleinheit
US9528915B2 (en) 2012-11-13 2016-12-27 Ues, Inc. Automated high speed metallographic system
US10007102B2 (en) 2013-12-23 2018-06-26 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Microscope with slide clamping assembly

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010103389A1 (de) 2010-09-16
CA2755164A1 (en) 2010-09-16
US9310598B2 (en) 2016-04-12
JP5739351B2 (ja) 2015-06-24
JP2012520478A (ja) 2012-09-06
AU2010222633B2 (en) 2015-05-14
US20160216504A1 (en) 2016-07-28
CA2755164C (en) 2014-02-25
AU2010222633A1 (en) 2011-10-06
CN102405431B (zh) 2015-09-16
EP2406679A1 (de) 2012-01-18
DK2406679T3 (da) 2017-04-18
US20120038979A1 (en) 2012-02-16
BRPI1011689B1 (pt) 2019-12-17
EP2406679B1 (de) 2017-01-25
CN102405431A (zh) 2012-04-04
BRPI1011689A2 (pt) 2016-03-22
US10495867B2 (en) 2019-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2617664T3 (es) Procedimiento de enfoque automático y dispositivo de enfoque automático
US11162843B2 (en) Spectrometer device and system
CN108449957B (zh) 用于非接触式感测物质的基准开关架构
JP4887989B2 (ja) 光学顕微鏡及びスペクトル測定方法
JP5092104B2 (ja) 分光測定装置、及び分光測定方法
KR102138607B1 (ko) 임계각 광학 센서 장치
CN104515469B (zh) 用于检查微观样本的光显微镜和显微镜学方法
CN112703418A (zh) 具有对应的光学元件阵列的光检测器阵列
JP2007521482A (ja) 光学検査システムおよびその使用方法
CN101793829A (zh) 一种荧光显微成像方法及系统
CN103460027B (zh) 差分扫描成像系统和方法
CN108700516A (zh) 光致发光成像的基于透射照明的自动聚焦的显微镜系统
US20190178816A1 (en) Apparatus and method for determining a double image angle and/or a viewing angle
DK1495308T3 (en) Apparatus for measuring light reflections from an object and its use
JP2006125970A (ja) 分光装置および分光システム
US11035794B2 (en) Scalable, large-area optical sensing platform with compact light delivery and imaging system
US8541760B2 (en) Method for calibrating a deflection unit in a TIRF microscope, TIRF microscope, and method for operating the same
US20240264454A1 (en) Imager and spot sampler with translatable stage
CA3158318A1 (en) Virtual fiducials
US20240118530A1 (en) Autofocus device for optical microscope and method for maintaining autofocus
JP2012141452A (ja) 自動合焦機構および顕微鏡装置
KR20080023183A (ko) 기판 표면 에러를 광학적으로 검출하기 위한 장치
KR20220033957A (ko) 광학 시스템, 및 샘플 평면을 조명하는 방법
JP2021534414A (ja) コンパクトイメージングベースのセンサ
WO2011061371A9 (es) Dispositivo fotométrico electro-óptico dinámico y su procedimiento para la medición dinámica de la cantidad y distribución de luz policromática