JP5316161B2 - 観察装置 - Google Patents
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Description
他方、プレパラートを作成せずに、サンプルの内部構造を観察することができる試料観察装置も知られている(例えば、特許文献1参照)。
前記保持部は、サンプル、または前記サンプルを含む固形物を保持する。
前記切断部は、前記保持された前記サンプルまたは前記固形物を切断し、順次新たな切断面を形成する。
前記撮像機構は、前記切断面よりも小さい撮像範囲内の画像であって、前記切断面の一部を含む画像である部分画像を撮像する。
前記走査機構は、前記撮像範囲を前記切断面に沿って走査させる。
前記制御手段は、前記走査機構を駆動させ、前記撮像機構により前記撮像範囲ごとに前記部分画像を撮像させることで、前記切断面毎に、前記複数の部分画像が合成された画像である、前記切断面の合成画像情報を生成する。
本発明では、切断面が新たに形成される毎に、新たに形成される切断面に適した大きさの走査領域を設定することができる。これにより、余計な領域が走査されることを防止することができるので、高速な処理が可能となる。
これにより、余計な領域が走査されることを防止することができるので、高速な処理が可能となる。
これにより、余計な領域が走査されることを防止することができるので、高速な処理が可能となる。
前記制御手段は、前記切断面が新たに形成される毎に、前記全体画像情報に基づいて、前記切断面に応じた前記走査領域を設定してもよい。
本発明では、切断面が新たに形成される毎に、新たに形成される切断面に適した大きさの走査領域を設定することができる。これにより、余計な領域が走査されることを防止することができるので、高速な処理が可能となる。
本発明では、サンプルが切断される間隔が可変に制御される。このサンプルが切断される間隔は、画像データのZ分解能に相当する。すなわち、画像データのZ分解能が可変に制御されることになる。これにより、例えば、高いZ分解能が要求されない範囲は、上記間隔を大きくすることで、高速な処理が可能となる。一方、高いZ分解能が要求される範囲は、上記間隔を小さくすることで、さらに高解像度の画像データを取得することができる。
本発明は、サンプルの画像中の特徴量に応じて、間隔を可変とすることができるので、例えば、生体サンプル内のがん細胞を特徴量として、上記間隔(Z分解能)を可変に制御することができる。
これにより、例えば、特徴量が生体サンプル内のがん細胞である場合、がん細胞が増加するに従って、上記間隔を小さくすることができ、Z分解能を高くすることができる。
<第1実施形態>
(観察装置の全体構成)
図1は、本発明の第1実施形態に係る観察装置100を示す模式図である。
図1に示すように、観察装置100は、サンプルホルダー8と、ブレード7と、光学系3と、電子カメラ2と、制御系5とを備える。
電子カメラ2は、例えば、CCD(Charge Coupled Device)や、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などの撮像デバイスを備えている。
メインコントローラ16は、観察装置100の全体を統括的に制御する。メインコントローラ16は、例えば、XYZステージ4、ブレード7の回転機構、及びレボルバー13の回転機構の駆動を制御したり、電子カメラ2により得られた画像データを記憶デバイス18に出力したりする。また、メインコントローラ16は、XYZステージ4によるサンプルホルダー8の位置、すなわち、サンプルPの3次元内の位置情報を、XYZステージ4から取得する。
画像処理部17は、記憶デバイス18に記憶された、画像データ及び位置情報を抽出し、抽出された画像データ及び位置情報に基づき、所定の画像処理を実行する。
記憶デバイス18は、磁気ディスク、光ディスク等のディスク状の記憶媒体のほか、固体(半導体、誘電体または磁気抵抗)メモリ等の記憶媒体でもよい。
図2は、観察装置100の動作を示すフローチャートである。図3は、図2に示す動作を説明するための模式図である。
以降、ステップ101〜110に示す処理が、サンプルP全体が切断されるまで実行される。
次に、本発明の第2実施系形態について説明する。
図4は、第2実施形態に係る観察装置100の動作を示すフローチャートである。図5は、図4に示す動作を説明するため模式図である。
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
図6は、第3実施形態に係る観察装置100の動作を示すフローチャートである。
上述の各実施形態では、サンプルPがXY方向に移動され、光学系3及び電子カメラ2が固定される形態について説明した。しかし、これに限られず、サンプルPがXY方向で固定され、光学系3及び電子カメラ2がXY方向に移動されるように構成されてもよい。あるいは、サンプルPと、光学系3及び電子カメラ2との両方がXY方向に移動されるように構成されてもよい。すなわち、サンプルPと、光学系3及び電子カメラ2とのXY方向での相対的な位置を変化させることができる形態であれば、どのような形態であってもよい。
図7に示すように、光学系20は、光源21と、ポラライザ22と、ビームスプリッタ23と、ウェラストンプリズム24と、対物レンズ25と、アナライザ26とで構成される。
1A…走査領域
2A…撮像範囲
2…電子カメラ
3…光学系
4…XYZステージ
5…制御系
6…表示部
7…ブレード
8…サンプルホルダー
11…第1の対物レンズ
12…第2の対物レンズ
13…レボルバー
14…昇降機構
15…XYステージ
16…メインコントローラ
17…画像処理部
18…記憶デバイス
100…観察装置
Claims (7)
- サンプル、または前記サンプルを含む固形物を保持する保持部と、
前記保持された前記サンプルまたは前記固形物を切断し、順次新たな切断面を形成する切断部と、
前記切断面よりも小さい撮像範囲内の画像であって、前記切断面の一部を含む画像である部分画像を撮像する撮像機構と、
前記撮像範囲を前記切断面に沿って走査させる走査機構と、
前記走査機構を駆動させ、前記撮像機構により前記撮像範囲ごとに前記部分画像を撮像させることで、前記切断面毎に、前記複数の部分画像が合成された画像である、前記切断面の合成画像情報を生成し、かつ、前記切断面が新たに形成される毎に、前記合成画像情報に基づき、前記撮像範囲が走査される走査領域を設定する制御手段と
を具備する観察装置。 - 請求項1に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、過去の前記切断面の合成画像情報に基づいて、前記新たに形成された前記切断面に応じた前記走査領域を設定する
観察装置。 - 請求項2に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、過去の前記切断面の合成画像から前記サンプルに相当する画像のエッジ検出を実行し、前記検出されたエッジの情報に基づいて前記走査領域を設定する
観察装置。 - 請求項3に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、前記検出されたエッジで囲まれる画像領域を変化させ、前記変化後の画像領域のエッジを包括する領域を、前記走査領域として設定する
観察装置。 - 請求項1に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、前記サンプルが前記切断部により切断される間隔を可変に制御する
観察装置。 - 請求項5に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、前記合成画像情報に基づき、前記サンプルの画像中の特徴量を抽出し、前記抽出された特徴量に応じて、前記間隔を可変に制御する
観察装置。 - 請求項6に記載の観察装置であって、
前記制御手段は、前記特徴量が増加するに従って、前記間隔を小さくするように、前記間隔を制御する
観察装置。
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