ES2401462T3 - Composición filmógena y método de difusión - Google Patents
Composición filmógena y método de difusión Download PDFInfo
- Publication number
- ES2401462T3 ES2401462T3 ES07768026T ES07768026T ES2401462T3 ES 2401462 T3 ES2401462 T3 ES 2401462T3 ES 07768026 T ES07768026 T ES 07768026T ES 07768026 T ES07768026 T ES 07768026T ES 2401462 T3 ES2401462 T3 ES 2401462T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- film
- forming composition
- doping element
- component
- silicon wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 73
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 title claims abstract description 64
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 33
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 33
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 33
- 239000003361 porogen Substances 0.000 claims abstract description 18
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 13
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 229910017053 inorganic salt Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- -1 organic acid salt Chemical class 0.000 claims description 16
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 9
- 229920001515 polyalkylene glycol Polymers 0.000 claims description 5
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical group [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 abstract 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 62
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 60
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 44
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 23
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 22
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 17
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 10
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 5
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000003377 acid catalyst Substances 0.000 description 4
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 4
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 4
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 4
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 3
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- OWEGMIWEEQEYGQ-UHFFFAOYSA-N 100676-05-9 Natural products OC1C(O)C(O)C(CO)OC1OCC1C(O)C(O)C(O)C(OC2C(OC(O)C(O)C2O)CO)O1 OWEGMIWEEQEYGQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUBGYTABKSRVRQ-XLOQQCSPSA-N Alpha-Lactose Chemical compound O[C@@H]1[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](CO)O[C@H]1O[C@@H]1[C@@H](CO)O[C@H](O)[C@H](O)[C@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-XLOQQCSPSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930091371 Fructose Natural products 0.000 description 2
- RFSUNEUAIZKAJO-ARQDHWQXSA-N Fructose Chemical compound OC[C@H]1O[C@](O)(CO)[C@@H](O)[C@@H]1O RFSUNEUAIZKAJO-ARQDHWQXSA-N 0.000 description 2
- 239000005715 Fructose Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N Glucose Natural products OC[C@H]1OC(O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUBGYTABKSRVRQ-QKKXKWKRSA-N Lactose Natural products OC[C@H]1O[C@@H](O[C@H]2[C@H](O)[C@@H](O)C(O)O[C@@H]2CO)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-QKKXKWKRSA-N 0.000 description 2
- GUBGYTABKSRVRQ-PICCSMPSSA-N Maltose Natural products O[C@@H]1[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@@H]1O[C@@H]1[C@@H](CO)OC(O)[C@H](O)[C@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-PICCSMPSSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CZMRCDWAGMRECN-UGDNZRGBSA-N Sucrose Chemical compound O[C@H]1[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@@]1(CO)O[C@@H]1[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O1 CZMRCDWAGMRECN-UGDNZRGBSA-N 0.000 description 2
- 229930006000 Sucrose Natural products 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WQZGKKKJIJFFOK-PHYPRBDBSA-N alpha-D-galactose Chemical compound OC[C@H]1O[C@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-PHYPRBDBSA-N 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WQZGKKKJIJFFOK-VFUOTHLCSA-N beta-D-glucose Chemical compound OC[C@H]1O[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-VFUOTHLCSA-N 0.000 description 2
- GUBGYTABKSRVRQ-QUYVBRFLSA-N beta-maltose Chemical compound OC[C@H]1O[C@H](O[C@H]2[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)O[C@@H]2CO)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-QUYVBRFLSA-N 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010411 cooking Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 150000002016 disaccharides Chemical class 0.000 description 2
- 229930182830 galactose Natural products 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000008103 glucose Substances 0.000 description 2
- 150000004676 glycans Chemical class 0.000 description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 2
- CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N heptan-2-one Chemical compound CCCCCC(C)=O CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 239000008101 lactose Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 2
- 150000002772 monosaccharides Chemical class 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 229920001282 polysaccharide Polymers 0.000 description 2
- 239000005017 polysaccharide Substances 0.000 description 2
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 2
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000005720 sucrose Substances 0.000 description 2
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 description 2
- JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxypropan-2-ol Chemical compound CCOCC(C)O JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethyl acetate Chemical compound CCOCCOC(C)=O SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- YEYKMVJDLWJFOA-UHFFFAOYSA-N 2-propoxyethanol Chemical compound CCCOCCO YEYKMVJDLWJFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JSGVZVOGOQILFM-UHFFFAOYSA-N 3-methoxy-1-butanol Chemical compound COC(C)CCO JSGVZVOGOQILFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MFKRHJVUCZRDTF-UHFFFAOYSA-N 3-methoxy-3-methylbutan-1-ol Chemical compound COC(C)(C)CCO MFKRHJVUCZRDTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDMRLRNXHLPZJN-UHFFFAOYSA-N 3-propoxypropan-1-ol Chemical compound CCCOCCCO LDMRLRNXHLPZJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- 229910018540 Si C Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018557 Si O Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008045 Si-Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006411 Si—Si Inorganic materials 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940058905 antimony compound for treatment of leishmaniasis and trypanosomiasis Drugs 0.000 description 1
- 150000001463 antimony compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001495 arsenic compounds Chemical class 0.000 description 1
- GCPXMJHSNVMWNM-UHFFFAOYSA-N arsenous acid Chemical compound O[As](O)O GCPXMJHSNVMWNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001639 boron compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N diethoxy(diethyl)silane Chemical compound CCO[Si](CC)(CC)OCC ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HZLIIKNXMLEWPA-UHFFFAOYSA-N diethoxy(dipropyl)silane Chemical compound CCC[Si](CCC)(OCC)OCC HZLIIKNXMLEWPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VSYLGGHSEIWGJV-UHFFFAOYSA-N diethyl(dimethoxy)silane Chemical compound CC[Si](CC)(OC)OC VSYLGGHSEIWGJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZCJJERBERAQKQ-UHFFFAOYSA-N diethyl(dipropoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](CC)(CC)OCCC BZCJJERBERAQKQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JJQZDUKDJDQPMQ-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(dimethyl)silane Chemical compound CO[Si](C)(C)OC JJQZDUKDJDQPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JVUVKQDVTIIMOD-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(dipropyl)silane Chemical compound CCC[Si](OC)(OC)CCC JVUVKQDVTIIMOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZIDTUTFKRRXWTK-UHFFFAOYSA-N dimethyl(dipropoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](C)(C)OCCC ZIDTUTFKRRXWTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YYLGKUPAFFKGRQ-UHFFFAOYSA-N dimethyldiethoxysilane Chemical compound CCO[Si](C)(C)OCC YYLGKUPAFFKGRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- DFJDZTPFNSXNAX-UHFFFAOYSA-N ethoxy(triethyl)silane Chemical compound CCO[Si](CC)(CC)CC DFJDZTPFNSXNAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RSIHJDGMBDPTIM-UHFFFAOYSA-N ethoxy(trimethyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(C)C RSIHJDGMBDPTIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- STBFUFDKXHQVMJ-UHFFFAOYSA-N ethoxy(tripropyl)silane Chemical compound CCC[Si](CCC)(CCC)OCC STBFUFDKXHQVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N ethyl 3-ethoxypropanoate Chemical compound CCOCCC(=O)OCC BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 1
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 1
- 150000004665 fatty acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 150000002259 gallium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 1
- 229940093920 gynecological arsenic compound Drugs 0.000 description 1
- 230000003301 hydrolyzing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 238000011031 large-scale manufacturing process Methods 0.000 description 1
- POPACFLNWGUDSR-UHFFFAOYSA-N methoxy(trimethyl)silane Chemical compound CO[Si](C)(C)C POPACFLNWGUDSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FUMSHFZKHQOOIX-UHFFFAOYSA-N methoxy(tripropyl)silane Chemical compound CCC[Si](CCC)(CCC)OC FUMSHFZKHQOOIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N methyl 3-methoxypropanoate Chemical compound COCCC(=O)OC BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- RJMRIDVWCWSWFR-UHFFFAOYSA-N methyl(tripropoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](C)(OCCC)OCCC RJMRIDVWCWSWFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 150000003018 phosphorus compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910001392 phosphorus oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007761 roller coating Methods 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Inorganic materials [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- VSAISIQCTGDGPU-UHFFFAOYSA-N tetraphosphorus hexaoxide Chemical compound O1P(O2)OP3OP1OP2O3 VSAISIQCTGDGPU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HUZZQXYTKNNCOU-UHFFFAOYSA-N triethyl(methoxy)silane Chemical compound CC[Si](CC)(CC)OC HUZZQXYTKNNCOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RXJWOBGGPLEFEE-UHFFFAOYSA-N triethyl(propoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](CC)(CC)CC RXJWOBGGPLEFEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PHPGKIATZDCVHL-UHFFFAOYSA-N trimethyl(propoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](C)(C)C PHPGKIATZDCVHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003752 zinc compounds Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L71/00—Compositions of polyethers obtained by reactions forming an ether link in the main chain; Compositions of derivatives of such polymers
- C08L71/02—Polyalkylene oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L83/00—Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
- C08L83/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D171/00—Coating compositions based on polyethers obtained by reactions forming an ether link in the main chain; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D171/02—Polyalkylene oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D183/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D183/16—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers in which all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/22—Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
- H01L21/2225—Diffusion sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/22—Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
- H01L21/225—Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities using diffusion into or out of a solid from or into a solid phase, e.g. a doped oxide layer
- H01L21/2251—Diffusion into or out of group IV semiconductors
- H01L21/2254—Diffusion into or out of group IV semiconductors from or through or into an applied layer, e.g. photoresist, nitrides
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
Composición filmógena para constituir una película de difusión proporcionada para difundir un elemento dopanteen una oblea de silicio, comprendiendo la composición filmógena: (A) un compuesto de silicio polimérico; (B) unóxido del elemento dopante, o una sal inorgánica o una sal orgánica que incluye el elemento dopante; y (C) unporógeno, en donde el contenido del componente (C) en la composición filmógena con respecto al peso total de lacomposición filmógena está entre el 2 y el 20 % en peso, caracterizada porque el componente (C) es un agente reductor para reducir el componente (B).
Description
Composición filmógena y método de difusión
[0001] La presente invención se refiere a una composición filmógena usada en la difusión de un dopante utilizado cuando se produce un semiconductor con dopante.
[0002] Las técnicas de producción de semiconductores son técnicas indispensables en la producción de piezas electrónicas, tales como circuitos integrados, y en la actualidad están jugando un papel importante en la industria de los componentes electrónicos. En el proceso de producción de semiconductores, un dopante se dopa en un semiconductor intrínseco, tal como silicio o germanio, mediante lo cual se producen semiconductores con dopante, tales como semiconductores de tipo P que tienen un hueco positivo, o semiconductores de tipo N que tienen un electrón libre. Aunque estos semiconductores con dopante no conducen en general la corriente eléctrica, se pueden cambiar fácilmente para conducir corriente eléctrica mediante la aplicación de un cierto voltaje puesto que se requiere solamente una pequeña cantidad de energía para excitar el electrón desde la banda de valencia a la banda de conducción.
[0003] El elemento dopante que se puede usar en el dopaje en un sustrato de silicio es un elemento del grupo 13, tal como boro o galio en el caso de semiconductores de tipo P, o un elemento del grupo 15 tal como fósforo, arsénico o antimonio en el caso de semiconductores de tipo N. Como método para la difusión de un dopante, se ha desarrollado una variedad de métodos de difusión, y los métodos conocidos incluyen un método de difusión gaseosa, un método de difusión sólida, un método de difusión por recubrimiento, y similares.
[0004] Por ejemplo, el documento de patente 1 da a conocer un método para difundir un dopante por medio del método de difusión sólida, y una película dopante usada en el método.
[0005] Por contraposición, en el método de difusión por recubrimiento, una solución de recubrimiento que contiene un dopante se usa para aplicar un recubrimiento sobre un sustrato de semiconductor, y el disolvente se volatiliza para formar una capa fuente de difusión de dopante, seguido por un tratamiento de difusión térmica para permitir que el elemento dopante se difunda en el sustrato semiconductor. Este método es ventajoso en la medida en la que se puede formar una región dopante mediante una manipulación comparativamente sencilla sin usar un aparato caro.
[0006] Al mismo tiempo, en la formación de una película aislante, una película de aplanamiento o una película protectora sobre un sustrato semiconductor, se ha usado una solución de recubrimiento para formar una película de recubrimiento basada en sílice. Esta solución de recubrimiento para formar una película de recubrimiento basada en sílice contiene un hidrolizado tal, por ejemplo, alcoxisilano, y de este modo se puede formar una película de recubrimiento que incluye dióxido de silicio como componente principal, mediante el recubrimiento de la solución sobre un sustrato semiconductor, y a continuación con calentamiento (por ejemplo, véase el documento de patente 2).
Documento de patente 1: patente japonesa n.º 2639591
Documento de patente 2: solicitud de patente japonesa publicada n.º H9-183948 A
[0007] En el documento US4793862 A se dan a conocer composiciones filmógenas para constituir una película de difusión proporcionada para difundir un elemento dopante en una oblea de silicio y métodos para difundir un elemento dopante en una oblea de silicio.
Exposición de la invención
[0008] La presente invención se define por medio de las reivindicaciones 1 y 8.
[0009] No obstante, debido a que la película dopante descrita en el documento de patente 1 no contiene silicio, no se puede lograr un objetivo tal como la prevención de la contaminación de otro contaminante mediante la formación de una película de recubrimiento basada en sílice de forma concomitante con la difusión del dopante. Adicionalmente, puesto que la difusión del dopante que usa una película dopante, descrita en el documento de patente 1, se lleva a cabo mediante un método de difusión sólida, se requiere un aparato caro, lo cual deriva en desventajas en la medida en la que el método no es adecuado para la producción a gran escala. Por otra parte, aún cuando en la solución de recubrimiento para formar una película de recubrimiento basada en sílice, descrita en el documento de patente 2, se incluye además óxido de boro o similares, no se puede lograr una difusión suficiente del dopante. Por lo tanto, no se puede proporcionar el valor deseado de resistencia.
[0010] La presente invención se llevó a cabo considerando los problemas anteriores, y es un objetivo de la invención proporcionar una composición filmógena para su uso en un método de difusión por recubrimiento, con capacidad de difundir un dopante con una concentración mayor, y con capacidad además de formar de manera concomitante una película de recubrimiento basada en sílice.
[0011] Los presentes inventores observaron que usando una composición pelicular que contiene un compuesto de silicio polimérico, un óxido de un elemento dopante o una sal que incluye el elemento dopante, y porógeno, el dopante se puede difundir en una oblea de silicio con una concentración elevada, y puede formar de manera concomitante una película de recubrimiento basada en sílice. Por consiguiente, se ha completado la presente invención.
[0012] Específicamente, la presente invención proporciona lo siguiente.
[0013] Un aspecto de la presente invención proporciona una composición filmógena según la reivindicación 1.
[0014] La composición filmógena de la presente invención se puede usar en un método de difusión por recubrimiento, tiene la capacidad de difundir un elemento dopante con una concentración mayor en una oblea de silicio, y tiene la capacidad además de formar una película de recubrimiento basada en sílice, que puede servir como película protectora, de manera concomitante con la difusión del dopante. Consecuentemente, se hace posible una difusión más eficaz del elemento dopante al mismo tiempo que se elimina la contaminación de un contaminante durante la difusión de un dopante.
[0015] En lo sucesivo, en la presente, se explicarán detalladamente modalidades para llevar a cabo la presente invención.
[0016] La composición filmógena según esta realización es una composición filmógena que contiene: (A) un compuesto de silicio polimérico; (B) un óxido de un elemento dopante, o una sal que incluye el elemento dopante; (C) porógeno; y
(D) un disolvente con capacidad de disolver el compuesto de silicio polimérico. (A) Compuesto de Silicio Polimérico
[0017] El compuesto de silicio polimérico incluido en la composición filmógena según esta realización no está limitado en particular, y puede ser, por ejemplo, uno o más seleccionados del grupo compuesto por un compuesto polimérico de siloxano que tiene un enlace Si-O en una cadena principal, un compuesto polimérico de carburo de silicio que tiene un enlace Si-C en una cadena principal, un compuesto polimérico de polisilano que tiene un enlace Si-Si en una cadena principal, y un compuesto polimérico de silazano que tiene un enlace Si-N en una cadena principal. Por otra parte, se puede usar cualquier mezcla de estos compuestos. Además, entre los mismos se usa de forma particularmente preferente un compuesto polimérico de siloxano.
[0018] Es preferible que el compuesto polimérico de siloxano en calidad de compuesto de silicio polimérico en la composición filmógena según esta realización sea un producto de polimerización por condensación hidrólisis preparado con el uso de por lo menos un tipo de alcoxisilanos representados por la siguiente fórmula (F) como material de partida.
R1n-S i (OR2)4-n (F)
en donde, R1 representa un átomo de hidrógeno o un grupo orgánico monovalente; R2 representa un grupo orgánico monovalente; y n es un entero de 1 a 3.
[0019] En este caso, como grupos orgánicos monovalentes, se pueden ilustrar, por ejemplo, un grupo alquilo, un grupo arilo, un grupo alilo, y un grupo glicidilo. Entre los mismos, los preferidos son un grupo alquilo y un grupo arilo. Es especialmente preferido el grupo alquilo que tiene entre 1 y 5 átomos de carbono, tal como, por ejemplo, un grupo metilo, un grupo etilo, un grupo propilo y un grupo butilo. Además, el grupo alquilo puede ser lineal o ramificado, y puede incluir la sustitución de un átomo de hidrógeno con un átomo de flúor. Como grupo arilo, los preferidos son aquellos que tienen entre 6 y 20 átomos de carbono, tales como por ejemplo, un grupo fenilo y un grupo naftilo.
[0020] Los ejemplos específicos del compuesto representado por la fórmula (F) incluyen los siguientes:
- (i)
- en el caso de n=1, monoalquiltrialcoxisilano tal como monometiltrimetoxisilano, monometiltrietoxisilano, monometiltripropoxisilano, monoetiltrimetoxisilano, monoetiltrietoxisilano, monoetiltripropoxisilano, monopropiltrimetoxisilano y monopropiltrietoxisilano, y monofeniltrialcoxisilano tal como monofeniltrioxisilano y monofeniltrietoxisilano;
- (ii)
- en el caso de n=2, dialquildialcoxisilano tal como dimetildimetoxisilano, dimetildietoxisilano, dimetildipropoxisilano, dietildimetoxisilano, dietildietoxisilano, dietildipropoxisilano, dipropildimetoxisilano y dipropildietoxisilano, y difenildialcoxisilano tal como difenildimetoxisilano y difenildietoxisilano; y
(iii) en el caso de n=3, trialquilalqoxisilano tal como trimetilmetoxisilano, trimetiletoxisilano, trimetilpropoxisilano, trietilmetoxisilano, trietiletoxisilano, trietilpropoxisilano, tripropilmetoxisilano y tripropiletoxisilano, y trifenilalcoxisilano tal como trifenilmetoxisilano y trifeniletoxisilano, y similares.
[0021] Entre ellos, se pueden usar preferentemente monometiltrialcoxisilano, tal como monometiltrimetoxisilano, monometiltrietoxisilano y monometiltripropoxisilano.
[0022] En la composición filmógena según esta realización, el peso molecular medio en masa del compuesto polimérico de siloxano puede ser preferentemente no menor que 200 y no mayor que 50.000, y más preferentemente no menor que 1.000 y no mayor que 3.000. Ajustando el peso molecular medio en masa de manera que se sitúe dentro del intervalo descrito anteriormente, se pueden mejorar las propiedades de recubrimiento y la capacidad filmógena. Adicionalmente, el compuesto polimérico de siloxano se incluye preferentemente en una cantidad de entre el 1 y el 60 % en masa, y preferentemente entre el 10 y el 30 % en masa basándose en la masa de la composición completa filmógena.
[0023] La condensación del alcoxisilano representado por la fórmula (F) se lleva a cabo hidrolizando alcoxisilano en un disolvente orgánico en el cual se adiciona un catalizador ácido, y dejando que el hidrolizado resultante se condense y polimerice. Con respecto al alcoxisilano adicionado al sistema de reacción, el mismo se puede usar solo o en combinación de dos o más.
[0024] La hidrólisis y la polimerización por condensación del alcoxisilano se pueden llevar a cabo, por ejemplo, adicionando una solución acuosa que contenga un catalizador ácido, gota a gota, a un disolvente orgánico que contenga uno o más del alcoxisilano representado por la fórmula (F), y dejando que la misma reaccione.
[0025] Aunque el grado de hidrólisis del alcoxisilano se puede ajustar por la cantidad de agua adicionada, en general, el número de moles de agua adicionada está entre 1,0 y 10,0 veces el número de moles de alcoxisilano representado por la fórmula anterior (F). Cuando la cantidad de agua adicionada en moles es no menor que 1,0 veces el número de moles de alcoxisilano, es posible incrementar de manera suficiente el grado de hidrólisis, facilitando así la formación de la película de recubrimiento. Por contraposición, cuando la cantidad de agua adicionada en moles es no mayor que 10,0 veces el número de moles de alcoxisilano, es posible evitar la gelificación mediante la supresión de la producción del polímero que tiene ramificaciones a través de polimerización por condensación, mediante lo cual se puede mejorar la estabilidad de la composición filmógena.
[0026] Por otra parte, el catalizador ácido adicionado al llevar a cabo la reacción de hidrólisis y la reacción de polimerización por condensación del alcoxisilano representado por la fórmula (F) no está limitado en particular, sino que se puede usar cualquiera de los ácidos orgánicos y ácidos inorgánicos usados convencionalmente. Entre los ejemplos del ácido orgánico se incluyen ácidos carboxílicos, tales como ácido acético, ácido propiónico y ácido butílico, y entre los ejemplos del ácido inorgánico se incluyen ácido clorhídrico, ácido nítrico, ácido sulfúrico, ácido fosfórico, y similares. El catalizador ácido se puede adicionar directamente a un disolvente orgánico en el que se disolvió alcoxisilano, o se puede adicionar en forma de una solución acuosa ácida después de su disolución en agua a usar en la hidrólisis de alcoxisilano.
[0027] Puesto que en la composición filmógena se incluye el compuesto de silicio polimérico según se ha descrito anteriormente, en el tratamiento de difusión térmica se produce dióxido de silicio, y por lo tanto se puede formar una película de recubrimiento basada en sílice. Esta película de recubrimiento basada en sílice sirve como película protectora, por medio de lo cual se puede evitar la contaminación de un contaminante que no sea el elemento dopante para el cual está destinada la difusión.
[0028] Los ejemplos del elemento dopante adicionado a la composición filmógena según esta realización incluyen elementos del grupo 13 tales como boro, galio, etcétera, elementos del grupo 15 tales como fósforo, arsénico, antimonio, etcétera, y otros elementos tales como cinc y cobre, y similares. El elemento dopante se adiciona en forma del óxido, la sal inorgánica tal como nitrato, sulfato, etcétera, o la sal de ácido orgánico tal como ácido acético, a la composición filmógena. Específicamente, se incluyen compuestos de fósforo tales como P2O5, NH4-H2PO4, (RO)3PO, (RO)2P2O3(OH)3, compuestos de boro tales como B2O3, y R2B(OH), compuestos de antimonio tales como H3Sb4O4, SbOX, y Sb4O5X, compuestos de arsénico, tales como H3AsO3, H2AsO4, R3AsO, y compuestos de cinc tales como Zn(OR)2, y Zn(NO2)2, compuestos de galio y similares (en donde, R representa un átomo de halógeno, un grupo alquilo, un grupo alquenilo o un grupo arilo, y X representa un átomo de halógeno).
[0029] Entre estos compuestos, se pueden usar preferentemente óxido de boro, óxido de fósforo y similares.
[0030] Por consiguiente, puesto que la composición filmógena contiene un óxido de un elemento dopante o una sal que incluye el elemento dopante, el dopante se puede difundir en una oblea de silicio mediante recubrimiento de la composición pelicular sobre una oblea de silicio, y mediante sometimiento a un tratamiento de difusión térmica.
[0031] Se prefiere que la relación en masa del compuesto polimérico de siloxano (A) con respecto al óxido de un elemento dopante o una sal que incluya el elemento dopante (B) se sitúe dentro del intervalo de entre 1:0,01 y 1:1. Incluyendo el componente (A) de manera que se sitúe dentro del intervalo anterior, el dopante se puede difundir con una alta concentración, y también se facilita la formación de una película de recubrimiento uniforme.
[0032] Según la presente invención, porógeno significa un material que se descompone durante la cocción de la película de recubrimiento formada a partir de la composición filmógena, y forma poros en la película de recubrimiento basada en sílice finalmente formada. Como porógeno, por ejemplo, se pueden incluir polialquilenglicol o un producto del mismo alquilado en los extremos; un monosacárido tal como glucosa, fructosa, o galactosa, o un derivado de las mismas; un disacárido tal como sacarosa, maltosa o lactosa, o un derivado de las mismas; o un polisacárido, o un derivado del mismo. Entre estos compuestos orgánicos, se prefiere el polialquilenglicol, y se prefiere aún más el polipropilenglicol. El porógeno tiene un peso molecular medio en masa preferentemente no menor que 300 y no mayor que 10.000, y más preferentemente no menor que 500 y no mayor que 5.000. El peso molecular medio en masa no menor que 300 conduce a una inhibición de la descomposición y la volatilización cuando la composición filmógena se recubre y seca, y por lo tanto el porógeno puede actuar satisfactoriamente durante el tratamiento de difusión térmica. Por contraposición, el peso molecular medio en masa no mayor que 10.000 deriva en una facilidad de descomposición durante el tratamiento de difusión térmica, con lo cual el porógeno puede actuar satisfactoriamente.
[0033] El contenido de porógeno en la composición filmógena está preferentemente entre el 2 % en masa y el 20 % en masa, y más preferentemente entre el 3 % en masa y el 10 % en masa sobre la base de la masa de la composición filmógena completa.
[0034] Incluyendo porógeno tal como se ha descrito anteriormente, se puede formar una película de recubrimiento basada en sílice, porosa, a partir de la composición filmógena aplicada como recubrimiento sobre la oblea de silicio. Proporcionando una película de recubrimiento basada en sílice, porosa, se mejora la velocidad de migración del elemento dopante en la película de recubrimiento basada en sílice, y se cree por lo tanto que se acelera la difusión del elemento dopante en la oblea de silicio. Adicionalmente, puesto que la película de recubrimiento basada en sílice, formada según se ha descrito anteriormente, puede ser porosa, se puede reducir el periodo de tiempo sucesivo para el ataque químico. Por otra parte, incluyendo el porógeno según se ha descrito anteriormente, se puede mejorar el efecto de evitar que el elemento dopante, que se deriva desde el exterior de la película formada a partir de la composición filmógena, se difunda en la oblea de silicio.
[0035] Adicionalmente, se prefiere que el porógeno actúe como agente reductor para reducir el elemento dopante. En otras palabras, la composición filmógena según esta realización constituye una película de difusión para difundir un elemento dopante en una oblea de silicio, incluyendo la composición filmógena: (A) un compuesto de silicio polimérico;
(B) un óxido del elemento dopante, o una sal que contiene el elemento dopante; y (C) un porógeno que es un agente reductor que reduce el componente (B).
[0036] Los ejemplos específicos del porógeno que actúa como agente reductor incluyen polialquilenglicoles, tales como polietilenglicol y polipropilenglicol, y productos alquilados en los extremos, de los mismos; monosacáridos tales como glucosa, fructosa y galactosa, y derivados de las mismas; disacáridos tales como sacarosa, maltosa y lactosa, y derivados de las mismas; y polisacáridos, y derivados de los mismos, y similares. Entre estos compuestos orgánicos, se prefiere el polialquilenglicol, y se prefiere aún más el polipropilenglicol.
[0037] Se prefiere que el agente reductor no deje su óxido en la película de recubrimiento basada en sílice después del tratamiento de difusión térmica. Mediante el uso de un compuesto de este tipo, se pueden eliminar influencias adversas sobre las características del semiconductor.
[0038] La cantidad de porógeno se puede determinar apropiadamente en función de la cantidad del óxido del elemento dopante adicionada a la composición filmógena, y del contenido del compuesto de silicio polimérico. El contenido del agente reductor en la composición filmógena está preferentemente entre el 2 % masa y el 20 % en masa, y más preferentemente entre el 3 % en masa y el 10 % en masa, basándose en la masa de la composición filmógena completa.
[0039] Tal como se ha descrito anteriormente, incluyendo el agente reductor destinado a ser usado en la reducción del elemento dopante, el óxido del elemento dopante o una sal que contiene el elemento dopante se reduce para proporcionar el elemento dopante, mediante lo cual se puede facilitar la difusión en la oblea de silicio. De este modo, se puede obtener fácilmente un semiconductor con dopante que tiene un valor de resistencia deseado.
[0040] Desde la perspectiva de lograr un grosor de película y una homogeneidad de recubrimiento mejorados de los componentes, y de las propiedades de recubrimiento, es preferible que la composición filmógena según esta realización contenga un disolvente. En tal caso, como disolvente se puede utilizar cualquier disolvente orgánico que se haya usado convencionalmente. Los ejemplos específicos del disolvente incluyen alcoholes monovalentes tales como metanol, etanol, propanol, butanol, 3-metoxi-3-metil-1-butanol, y 3-metoxi-1-butanol; ésteres de ácido alquilcarboxílico tales como metil-3-metoxipropionato, y etil-3-etoxipropionato; alcoholes polihídricos tales como etilenglicol, dietilenglicol, y propilenglicol; derivados de alcohol polihídrico tales como éter monometílico de etilenglicol, éter monoetílico de etilenglicol, éter monopropílico de etilenglicol, éter monobutílico de etilenglicol, éter monometílico de propilenglicol, éter monoetílico de propilenglicol, éter monopropílico de propilenglicol, éter monobutílico de propilenglicol, acetato de éter monometílico de etilenglicol, acetato de éter monoetílico de etilenglicol, y acetato de éter monometílico de propilenglicol; ácidos grasos tales como ácido acético, y ácido propiónico; cetona tal como acetona, metil etil cetona, y 2-heptanona; estos disolventes orgánicos se pueden usar solos, o en combinación.
[0041] La cantidad del disolvente no está limitada en particular, aunque la misma se usa preferentemente para proporcionar un contenido de sólidos de entre el 1 y el 100 % en masa, y a la luz de las propiedades de recubrimiento mejoradas, la misma se usa más preferentemente para proporcionar un contenido de sólidos de entre el 3 y el 20 % en masa.
Otros aditivos
[0042] En la composición filmógena según esta realización se puede incluir un surfactante en la medida en la que se crea necesario. Es posible mejorar las propiedades de recubrimiento sobre la oblea de silicio, la uniformidad y las propiedades de extensión adicionando surfactante. Los mismos se pueden usar solos, o en combinación.
[0043] Es posible incluir otras resinas, aditivos y similares en la composición filmógena según esta realización, dentro de un intervalo tal que no perjudique los efectos de la invención. Estas resinas, y aditivos se pueden seleccionar apropiadamente y se pueden adicionar en función del uso deseado de la composición filmógena.
[0044] La composición filmógena según esta realización se aplica como recubrimiento sobre una oblea de silicio para formar una película, y después de esto se somete a un tratamiento de difusión térmica, llevando a cabo así la formación de una película de recubrimiento basada en sílice, y una difusión del dopante. Cuando la difusión del dopante se permite únicamente sobre una cierta región, la formación de una película protectora, la creación de motivos y similares se llevan a cabo antes del recubrimiento de la composición filmógena.
[0045] El recubrimiento de la composición filmógena se puede llevar a cabo con un método apropiado, que es ejecutado habitualmente por expertos en la materia. Entre los ejemplos específicos del método de recubrimiento se incluyen un método de pulverización, un método de recubrimiento por rodillo, un método de recubrimiento por rotación, y similares. La cantidad de recubrimiento de la composición filmógena se puede predeterminar apropiadamente en función del contenido de sólidos.
[0046] Después de que la composición filmógena se haya aplicado como recubrimiento sobre una oblea de silicio, se prefiere que la composición filmógena aplicada como recubrimiento sobre la oblea de silicio se someta a un tratamiento de calentamiento. Por consiguiente, sobre la oblea de silicio se puede formar una película de recubrimiento.
[0047] Se lleva a cabo un tratamiento de difusión térmica para difundir en la oblea de silicio el elemento dopante desde la película de recubrimiento formada sobre la oblea de silicio, y formar adicionalmente una película de recubrimiento basada en sílice. El tratamiento de difusión térmica se lleva a cabo, por ejemplo, a entre 600 ºC y 1.200 ºC. La película de recubrimiento basada en sílice, formada en el tratamiento de difusión térmica, puede actuar como película protectora para evitar la difusión de otro contaminante en la oblea de silicio durante el tratamiento de difusión térmica. Así, la precisión del valor de la resistencia del semiconductor con dopante formado se puede mantener a un nivel alto.
[0048] La película de recubrimiento basada en sílice después del tratamiento de difusión térmica se elimina por ataque químico. Para el ataque químico, se pueden usar ácido fluorhídrico, una mezcla de ácido fluorhídrico y ácido nítrico, una solución acuosa de hidróxido de sodio o hidróxido de potasio, o similares. En este proceso, la película protectora formada sobre la capa subyacente de la película de recubrimiento basada en sílice para la formación de motivos se puede eliminar de manera concomitante.
Ejemplos
[0049] Usando “OCD T-1 B type” (fabricado por Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd), se preparó una composición filmógena adicionando óxido de boro para proporcionar una concentración de 1,5 g/100 ml, y polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 2.000 para proporcionar una concentración del 5 %, basándose en la cantidad total.
[0050] La composición filmógena se aplicó como recubrimiento por rotación sobre una oblea de silicio “6 inch CZ-N lt;100gt;” (fabricado por Mitsubishi Materials Corporation). Se llevó a cabo un tratamiento de calentamiento a 80 ºC, 150 ºC, y 200 ºC, cada uno de ellos durante 60 segundos, para formar una película.
[0051] La oblea de silicio sobre la cual se formó la película se sometió a un tratamiento de difusión térmica por cocción bajo un entorno de nitrógeno en un horno de cocción a 1.000 ºC durante 15 minutos, 30 minutos, y 45 minutos.
[0052] La oblea de silicio después del tratamiento de difusión térmica se sumergió en ácido fluorhídrico al 5 % a temperatura ambiente, durante 10 minutos, para eliminar la película de la oblea de silicio por ataque químico.
Ejemplo 2
[0053] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1, excepto que se adicionó polipropilenglicol al 10 % con un peso molecular medio en masa de 2.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico.
Ejemplo 3
[0054] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1, excepto que se adicionó polipropilenglicol al 3 % con un peso molecular medio en masa de 2.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico.
Ejemplo 4
[0055] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1, excepto que se adicionó polipropilenglicol al 6 % con un peso molecular medio en masa de 2.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico. El tratamiento de difusión térmica se llevó a cabo durante un periodo de tiempo de 30 minutos.
Ejemplo 5
[0056] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1 excepto que se adicionó polipropilenglicol al 7 % con un peso molecular medio en masa de 2.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico. El tratamiento de difusión térmica se llevó a cabo durante un periodo de tiempo de 30 minutos.
Ejemplo 6
[0057] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1, excepto que se adicionó polipropilenglicol al 5 % con un peso molecular medio en masa de 400, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico. El tratamiento de difusión térmica
5 se llevó a cabo durante un periodo de tiempo de 15 minutos.
Ejemplo 7
[0058] Usando “OCD T-1” (fabricado por Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.), se preparó una composición filmógena
10 adicionando P2O5 para proporcionar una concentración de 1,5 g/100 ml, y polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 4.000 para proporcionar una concentración del 6 %, basándose en la cantidad total.
[0059] Esta composición filmógena se usó en la formación de la película de recubrimiento de una manera similar al Ejemplo 1, y se sometió al tratamiento de difusión térmica a 900 ºC. El tratamiento de difusión térmica se llevó a cabo 15 durante un periodo de tiempo de 30 minutos.
[0060] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 1, excepto que no se adicionó 20 polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 2.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico.
25 [0061] Se preparó una composición filmógena de una manera similar al Ejemplo 7, excepto que no se adicionó polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 4.000, y a continuación se llevaron a cabo la formación de la película de recubrimiento, el tratamiento de difusión térmica y el ataque químico.
30 [0062] Con respecto a la oblea de silicio después del ataque químico en los Ejemplos y los Ejemplos Comparativos antes descritos, se determinó el valor de resistencia. En la siguiente Tabla 1 se muestra la variación del valor de resistencia en función de la diferencia en el contenido de polipropilenglicol, y el periodo de tiempo del tratamiento de difusión térmica.
35 Tabla 1
- valor de resistencia (˖༿)
- Tiempo de difusión
- 15 min 30 min 45 min
- Ejemplo 1
- 115, 1 110,8 94,1
- Ejemplo 2
- 379, 7 250, 2 211, 2
- Ejemplo 3
- 474, 3 287, 7 237, 3
- Ejemplo 4
- - 103,4 -
- Ejemplo 5
- - - 87,0
- Ejemplo 6
- 187, 8 - -
- Ejemplo 7
- - 187, 7 -
- Ejemplo Comparativo 1
- 657, 7 357, 4 365, 1
- Ejemplo Comparativo 2
- - 180,9 -
[0063] A partir del Ejemplo 1, el Ejemplo 2 y el Ejemplo Comparativo 1, se observó que la oblea de silicio del Ejemplo 1 presentaba un valor de resistencia menor en comparación con la del Ejemplo Comparativo 1. Más específicamente, se
40 observó que el óxido de boro se reducía adicionando polipropilenglicol, por medio de lo cual se permitía una difusión eficaz en la oblea de silicio. Por contraposición, el Ejemplo 2 mostró claramente un grado inferior de reducción en el valor de resistencia en comparación con el caso del Ejemplo 1.
[0064] A partir del Ejemplo 1, el Ejemplo 3, y el Ejemplo Comparativo 1, se observó que la oblea de silicio del Ejemplo 3
45 presentaba un valor de resistencia menor en comparación con la del Ejemplo Comparativo 1, y que el Ejemplo 1 presentaba un valor de resistencia todavía menor.
[0065] Además, a partir del Ejemplo 1, y del Ejemplo 4 al Ejemplo 6 se puso de manifiesto que el polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 2.000 conduce a un valor inferior de resistencia a medida que el contenido del 50 mismo aumenta. Adicionalmente, cuando se compara, en un contenido del 5 % con respecto a polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 2.000 y polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 400, se puso de
manifiesto que se proporcionaba un valor de resistencia inferior cuando se usaba polipropilenglicol con un peso molecular medio en masa de 2.000 (es decir, en la práctica, se prefiere un polipropilenglicol que tenga un peso molecular más alto).
[0066] Además, se mostró claramente, a partir del Ejemplo 7 y el Ejemplo Comparativo 2, que se obtenía un valor de resistencia equivalente al correspondiente cuando no se adicionaba polipropilenglicol, en el caso en el que se adicionaba polipropilenglicol aún cuando se adicionara el dopante en una cantidad de una veinteava parte.
Claims (9)
- REIVINDICACIONES1. Composición filmógena para constituir una película de difusión proporcionada para difundir un elemento dopante en una oblea de silicio, comprendiendo la composición filmógena: (A) un compuesto de silicio polimérico; (B) un óxido del elemento dopante, o una sal inorgánica o una sal orgánica que incluye el elemento dopante; y (C) un porógeno,en donde el contenido del componente (C) en la composición filmógena con respecto al peso total de la composición filmógena está entre el 2 y el 20 % en peso, caracterizada porqueel componente (C) es un agente reductor para reducir el componente (B).
-
- 2.
- Composición filmógena según la reivindicación 1, que comprende además (D) un disolvente que puede disolver el compuesto de silicio polimérico,
en donde el compuesto (C) es un compuesto orgánico que tiene un peso molecular medio en masa de entre 300 y 10.000, el cual se puede disolver en el disolvente. -
- 3.
- Composición filmógena según la reivindicación 1 ó 2, en la que el componente (C) es polialquilenglicol.
-
- 4.
- Composición filmógena según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, en la que el componente (C) es polipropilenglicol.
-
- 5.
- Composición filmógena según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4, en la que el componente (C) tiene un peso molecular medio en masa no menor que 500.
-
- 6.
- Composición filmógena según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5, en la que el elemento dopante es un elemento del grupo 13 ó un elemento del grupo 15.
-
- 7.
- Composición filmógena según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, en la que el elemento dopante es boro
o fósforo. - 8. Método para difundir un elemento dopante en una oblea de silicio, comprendiendo el método
- (1)
- formar una película mediante pulverización, sobre una oblea, de una composición filmógena, comprendiendo la composición filmógena: (A) un compuesto de silicio polimérico; (B) un óxido del elemento dopante, o una sal inorgánica o una sal de ácido orgánico que incluye el elemento dopante; y (C) un porógeno,
en donde el contenido del componente (C) en la composición filmógena con respecto al peso total de la composición filmógena está entre el 2 y el 20 % en peso, y- (2)
- realizar un tratamiento de difusión térmica del elemento dopante, caracterizado porque el componente (C) es un agente reductor para reducir el componente (B).
- 9. Método según la reivindicación 8, en el que el tratamiento de difusión térmica se realiza a una temperatura de entre 600 ºC y 1.200 ºC.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006194921A JP5026008B2 (ja) | 2006-07-14 | 2006-07-14 | 膜形成組成物 |
JP2006194921 | 2006-07-14 | ||
PCT/JP2007/063251 WO2008007576A1 (en) | 2006-07-14 | 2007-07-02 | Film-forming composition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2401462T3 true ES2401462T3 (es) | 2013-04-19 |
Family
ID=38923138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES07768026T Active ES2401462T3 (es) | 2006-07-14 | 2007-07-02 | Composición filmógena y método de difusión |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20090292053A1 (es) |
EP (1) | EP2043136B1 (es) |
JP (1) | JP5026008B2 (es) |
KR (1) | KR100993156B1 (es) |
CN (1) | CN101479833B (es) |
ES (1) | ES2401462T3 (es) |
TW (1) | TWI462158B (es) |
WO (1) | WO2008007576A1 (es) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101631711B1 (ko) | 2008-03-21 | 2016-06-17 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 확산용 인 페이스트 및 그것을 이용한 태양 전지의 제조 방법 |
JP5660750B2 (ja) * | 2008-04-09 | 2015-01-28 | 東京応化工業株式会社 | 拡散層の形成方法及び不純物拡散方法 |
JP5357442B2 (ja) * | 2008-04-09 | 2013-12-04 | 東京応化工業株式会社 | インクジェット用拡散剤組成物、当該組成物を用いた電極及び太陽電池の製造方法 |
US8518170B2 (en) * | 2008-12-29 | 2013-08-27 | Honeywell International Inc. | Boron-comprising inks for forming boron-doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and methods for fabricating such boron-comprising inks |
JP5555469B2 (ja) * | 2009-10-05 | 2014-07-23 | 東京応化工業株式会社 | 拡散剤組成物、および不純物拡散層の形成方法 |
JP5691268B2 (ja) * | 2010-07-07 | 2015-04-01 | 日立化成株式会社 | p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法 |
WO2012005253A1 (ja) * | 2010-07-07 | 2012-01-12 | 日立化成工業株式会社 | 不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法 |
JP5691269B2 (ja) * | 2010-07-07 | 2015-04-01 | 日立化成株式会社 | n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法 |
JP5666254B2 (ja) | 2010-11-11 | 2015-02-12 | 東京応化工業株式会社 | 拡散剤組成物および不純物拡散層の形成方法 |
US8629294B2 (en) | 2011-08-25 | 2014-01-14 | Honeywell International Inc. | Borate esters, boron-comprising dopants, and methods of fabricating boron-comprising dopants |
US8975170B2 (en) | 2011-10-24 | 2015-03-10 | Honeywell International Inc. | Dopant ink compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, and methods for fabricating dopant ink compositions |
WO2013125252A1 (ja) * | 2012-02-23 | 2013-08-29 | 日立化成株式会社 | 不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層付き半導体基板の製造方法及び太陽電池素子の製造方法 |
JP5991846B2 (ja) * | 2012-04-24 | 2016-09-14 | 東京応化工業株式会社 | 膜形成用組成物、拡散剤組成物、膜形成用組成物の製造方法、及び拡散剤組成物の製造方法 |
WO2014014542A2 (en) | 2012-04-27 | 2014-01-23 | Burning Bush Group | High performance silicon based coating compositions |
US10138381B2 (en) | 2012-05-10 | 2018-11-27 | Burning Bush Group, Llc | High performance silicon based thermal coating compositions |
CN104812543B (zh) | 2012-07-03 | 2017-06-13 | 伯宁布什集团有限公司 | 硅基高性能涂料组合物 |
US9006355B1 (en) | 2013-10-04 | 2015-04-14 | Burning Bush Group, Llc | High performance silicon-based compositions |
KR102426200B1 (ko) * | 2018-01-23 | 2022-07-27 | 동우 화인켐 주식회사 | 절연막 형성용 조성물 및 이로부터 형성된 절연막 |
CN112466746B (zh) * | 2020-04-29 | 2022-04-15 | 山东芯源微电子有限公司 | 一种膜状扩散源成型机 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3658584A (en) * | 1970-09-21 | 1972-04-25 | Monsanto Co | Semiconductor doping compositions |
JPS6366929A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-25 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | アンチモン拡散用シリカ系被膜形成組成物 |
JP2639591B2 (ja) | 1989-10-03 | 1997-08-13 | 東京応化工業株式会社 | ドーパントフィルム及びそれを使用した不純物拡散方法 |
US5527872A (en) * | 1990-09-14 | 1996-06-18 | At&T Global Information Solutions Company | Electronic device with a spin-on glass dielectric layer |
JP2647304B2 (ja) * | 1992-05-22 | 1997-08-27 | 東京応化工業株式会社 | ドーパント拡散被膜形成用塗布液 |
JPH07297276A (ja) * | 1992-09-22 | 1995-11-10 | At & T Corp | 半導体集積回路の形成方法 |
JP4079383B2 (ja) | 1995-12-29 | 2008-04-23 | 東京応化工業株式会社 | シリカ系被膜形成用塗布液 |
DE19910816A1 (de) * | 1999-03-11 | 2000-10-05 | Merck Patent Gmbh | Dotierpasten zur Erzeugung von p,p+ und n,n+ Bereichen in Halbleitern |
US6495479B1 (en) * | 2000-05-05 | 2002-12-17 | Honeywell International, Inc. | Simplified method to produce nanoporous silicon-based films |
US6271273B1 (en) * | 2000-07-14 | 2001-08-07 | Shipley Company, L.L.C. | Porous materials |
JP2002043423A (ja) * | 2000-07-24 | 2002-02-08 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 被膜の処理方法およびこの方法を用いた半導体素子の製造方法 |
CN1275294C (zh) * | 2003-12-26 | 2006-09-13 | 金小玲 | 含磷二氧化硅乳胶源扩散制备大功率半导体器件的方法 |
JP2005260040A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-09-22 | Sony Corp | ドーピング方法、半導体装置の製造方法および電子応用装置の製造方法 |
US7060638B2 (en) * | 2004-03-23 | 2006-06-13 | Applied Materials | Method of forming low dielectric constant porous films |
JP4894153B2 (ja) * | 2005-03-23 | 2012-03-14 | 株式会社アルバック | 多孔質膜の前駆体組成物及びその調製方法、多孔質膜及びその作製方法、並びに半導体装置 |
JP5283824B2 (ja) * | 2006-01-18 | 2013-09-04 | 東京応化工業株式会社 | 膜形成組成物 |
-
2006
- 2006-07-14 JP JP2006194921A patent/JP5026008B2/ja active Active
-
2007
- 2007-07-02 US US12/307,848 patent/US20090292053A1/en not_active Abandoned
- 2007-07-02 CN CN200780024402.3A patent/CN101479833B/zh active Active
- 2007-07-02 WO PCT/JP2007/063251 patent/WO2008007576A1/ja active Application Filing
- 2007-07-02 KR KR1020087031907A patent/KR100993156B1/ko active IP Right Grant
- 2007-07-02 EP EP07768026A patent/EP2043136B1/en active Active
- 2007-07-02 ES ES07768026T patent/ES2401462T3/es active Active
- 2007-07-12 TW TW096125439A patent/TWI462158B/zh active
-
2011
- 2011-07-01 US US13/175,341 patent/US8563409B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200811928A (en) | 2008-03-01 |
KR100993156B1 (ko) | 2010-11-09 |
EP2043136B1 (en) | 2012-12-19 |
TWI462158B (zh) | 2014-11-21 |
EP2043136A4 (en) | 2010-08-11 |
US20090292053A1 (en) | 2009-11-26 |
JP2008021951A (ja) | 2008-01-31 |
CN101479833B (zh) | 2012-06-06 |
EP2043136A1 (en) | 2009-04-01 |
US8563409B2 (en) | 2013-10-22 |
JP5026008B2 (ja) | 2012-09-12 |
KR20090026310A (ko) | 2009-03-12 |
CN101479833A (zh) | 2009-07-08 |
US20110263110A1 (en) | 2011-10-27 |
WO2008007576A1 (en) | 2008-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES2401462T3 (es) | Composición filmógena y método de difusión | |
EP3018699B1 (en) | Impurity-diffusing composition and method for producing semiconductor element | |
TWI439434B (zh) | 用於二氧化矽及氮化矽層之可印刷蝕刻介質 | |
US8748301B2 (en) | Diffusing agent composition for ink-jet, and method for production of electrode or solar battery using the composition | |
AU2012224974B2 (en) | Formulations of printable aluminium oxide inks | |
JP2009253145A (ja) | 拡散層形成時の前処理方法 | |
TW201705222A (zh) | p型不純物擴散組成物、使用其的半導體元件的製造方法以及太陽電池及其製造方法 | |
CN105814157A (zh) | 用于抗反射的硅氧烷纳米颗粒涂料 | |
CN113169248B (zh) | 半导体元件的制造方法和太阳能电池的制造方法 | |
WO2006112230A1 (ja) | シリカ系被膜形成用組成物 | |
TWI716384B (zh) | 用於光電應用中之聚矽氧烷調配物及塗層 | |
KR100334550B1 (ko) | 기판상의 실리카계 피막 및 그 도포액 | |
JPS63223185A (ja) | 支持体上にガラス層を製造するための被覆溶液および支持体に縦じわのない被覆を製造するための方法 | |
JPH09181009A (ja) | ホウ素拡散用塗布液 | |
JP7102118B2 (ja) | 透明導電性膜、透明導電性膜を形成するためのコーティング組成物、及び透明導電性膜の製造方法 | |
JP2006336002A (ja) | シリカ系コーティング剤、それを用いたシリカ系薄膜および構造体 | |
JP2007254678A (ja) | シリカ系被膜形成用組成物およびシリカ系被膜 | |
JP2006199854A (ja) | 低屈折率膜 | |
TW201250841A (en) | Silica coated film forming composition for inkjet, forming method of silica coated film, semiconductor device and solar battery system | |
WO2007111271A1 (ja) | シリカ系被膜形成用組成物およびシリカ系被膜 | |
US10242875B2 (en) | Impurity diffusion agent composition and method for manufacturing semiconductor substrate | |
JP6772836B2 (ja) | p型不純物拡散組成物、それを用いた半導体素子の製造方法および太陽電池の製造方法 | |
JPH09198925A (ja) | 透明導電性膜及び製造法 | |
JPH0465477A (ja) | シリカ系被膜形成用組成物およびシリカ系被膜の製造法 |