DE69217565T2 - Statische Direktzugriffspeicheranordnung mit an einem Bitleitungenpaar durch Kapazitäten gekoppelten Differenzverstärker - Google Patents
Statische Direktzugriffspeicheranordnung mit an einem Bitleitungenpaar durch Kapazitäten gekoppelten DifferenzverstärkerInfo
- Publication number
- DE69217565T2 DE69217565T2 DE69217565T DE69217565T DE69217565T2 DE 69217565 T2 DE69217565 T2 DE 69217565T2 DE 69217565 T DE69217565 T DE 69217565T DE 69217565 T DE69217565 T DE 69217565T DE 69217565 T2 DE69217565 T2 DE 69217565T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- digit line
- field effect
- voltage level
- pair
- random access
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims description 21
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 45
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 8
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Description
- Die Erfindung betrifft eine statische Direktzugriffsspeicheranordnung (static random access memory) und insbesondere eine Differenzverstärkerschaltung, um eine Differenzspannung an zugehörigen Digit-Leitungspaaren auszubilden.
- Ein typisches Beispiel einer Direktzugriffsspeicheranordnung vom statischen Typ ist in Fig. 1 gezeigt und umfaßt im wesentlichen ein Speicherzellenarray 1, eine primäre Vorladungsschaltung 2, eine sekundäre Vorladungsschaltung 3 und ein Leseverstärkerschaltungsarray 4. Obwohl desweiteren verschiedene periphere Schaltungen, wie etwa Zeilen- und Spaltenadressschaltungen, in der statischen Direktzugriffsspeicheranordnung enthalten sind, sind diese in Fig. 1 weggelassen, da sie unter dem Gesichtspunkt des Verständnis der vorliegenden Erfindung weniger wichtig sind.
- Das Speicherzellenärray 1 wird durch eine Mehrzahl von Speicherzellen MC1 bis MCn gebildet, die in Matrixform angeordnet sind, und jede Speicherzelle MC1,... oder MCn enthält eine Inverterschleife LP und ein Paar Feldeffekttransistoren TR1 und TR2 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die mit Speicherknoten N1 und N2 der Inverterschleife LP verbunden sind. Die Inverterschleife LP speichert ein Datenbit in Form eines Differenzspannungspegels an ihren Speicherknoten N1 und N2.
- Die Spalten des Speicherzellenarrays 1 sind jeweils einer Mehrzahl Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn zugeordnet, und jedes der Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn besteht aus zwei Digitleitungen DLa und DLb. Das Digit-Leitungspaar DLa und DLb ist jeweils über die Übertragungstransistoren TR1 bzw. TR2 vom n-Kanal-Anreicherungstyp mit den Speicherknoten N1 und N2 der Speicherzellen der zugehörigen Spalte des Speicherzellenarrays 1 verbindbar.
- Um eine Speicherzelle aus jeder der Spalten auszuwählen, sind Wortleitungen mit den Spalten des Speicherzellenarrays 1 verbunden, wobei nur eine der Wortleitungen gezeigt und mit WL bezeichnet ist. Die Wortleitung WL ist mit den Gateelektroden der Übertragungstransistoren TR1 und TR2 vom n- Kanal-Anreicherungstyp der zugehörigen Spalte des Speicherzellenarrays 1 verbunden und wird auf einen positiven Hochspannungspegel getrieben. Mit dem positiven Hochspannungspegel schalten alle Übertragungstransistoren TR1 und TR2 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die mit diesen verbunden sind, gleichzeitig AN und die Datenbits werden jeweils aus den Inverterschleifen LP der zugehörigen Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn ausgelesen.
- Die primäre Vorladungsschaltung 2 ist aus einer Mehrzahl Vorladungseinheiten 21 bis 2n oder aus Vorladungstransistorenpaaren TR1 und TR4 vom p-Kanal-Anreicherungstyp gebildet, die mit den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn verbunden sind, und die Vorladungstransistoren TR3 und TR4 vom p-Kanal-Anreicherungstyp sind gleichzeitig von einem Vorladungssignal PCH an einem Steuerknoten N3 abhängig, um eine positive Leistungsspannungsleitung Vdd und alle Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn zu verbinden.
- Die sekundäre Vorladungsschaltung 3 ist durch eine Mehrzahl Vorladungseinheiten 31 bis 3n ausgebildet, und jede der Vorladungseinheiten 31 bis 3n enthält ein Paar Vorladungstransistoren TR5 und TR6 vom p-Kanal-Anreicherungstyp, die zwischen der positiven Leistungsspannungsleitung Vdd und den Digit-Leitungen DLa und DLb des zugehörigen Digit-Leitungspaares geschaltet sind, und einen Ausgleichstransistor TR7 vom P-Kanal-Anreicherungstyp, der zwischen den Digit- Leitungen DLa und DLb des zugehörigen Digit-Leitungspaares geschaltet ist.
- Das Leseverstärkerschaltungsarray 4 ist durch eine Mehrzahl von Leseverstärkerschaltungen 41 bis 4n gebildet, die jeweils den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn zugeordnet sind, und jede der Leseverstärkerschaltungen 41 bis 4n enthält eine erste Reihenschaltung mit einem Feldeffekttransistor TR8 vom p-Kanal-Anreicherungstyp und einem Feldeffekttransistor TR9 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die zwischen der Leistungsspannungsleitung Vdd und einem gemeinsamen Knoten N4 geschaltet sind, eine zweite Reihenschaltung mit einem Feldeffekttransistor TR10 vom p-Kanal-Anreicherungstyp und einem Feldeffekttransistor TR11 vom n-Kanal-Anreichreicherungstyp, die parallel zu der ersten Reihenschaltung geschaltet sind, und einen Aktivierungstransistor TR12 vom n- Kanal-Anreicherungstyp, der zwischen dem gemeinsamen Knoten N4 und einer Massespannungsleitung GND geschaltet ist. Beide Feldeffekttransistoren TR8 und TR10 vom p-Kanal-Anreicherungstyp sind mit dem gemeinsamen Drain-Knoten N5 der ersten Reihenschaltung verbunden, und die Feldeffekttransistoren TR9 und TR11 vom n-Kanal-Anreicherungstyp werden jeweils durch die Digit-Leitungen DLa bzw. DLb des zugehörigen Digit-Leitungspaares geschaltet. Der Aktivierungstransistor TR12 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist von einem Auswahlsignal SE abhängig, und der gemeinsame Knoten N4 wird bei Anheben des Auswahlsignals SE auf einen positiven Hochspannungspegel geerdet. Dann entwickeln die Feldeffektransistoren TR9 und TR11 vom n-Kanal-Anreicherungstyp den Differenzspannungspegel, der das Datenbit anzeigt, und ein großer Differenzspannungspegel, der ebenfalls das Datenbit anzeigt, tritt zwischen den gemeinsamen Drain-Knoten N5 und N6 auf. Das Datenbit an dem gemeinsamen Drainknoten N6 wird an die Datenausgabeschaltung OUT übertragen.
- Fig. 2 zeigt die Signalverläufe der Spannungspegel an wesentlichen Leitungen und Knoten, und die so ausgebildete statische Direktzugriffsspeichervorrichtung verhält sich wie folgt. Unter der Annahme, daß ein Adressensignal die Speicherzelle MC1 festlegt, die ein durch einen niedrigen Spannungspegel am Speicherknoten N1 sowie einen hohen Spannungspegel am Speicherknoten N2 angezeigtes Datenbit speichert, geht das Vorladungssignal PCH auf einen niedrigen Spannungspegel oder den Massespannungspegel zum Zeitpunkt t1 herab, und sowohl die primäre als auch die sekundäre Vorladungsschaltung 2 und 3 verbinden die positive Leistungsspannungsleitung Vdd mit allen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn. Es schalten nämlich alle der Vorladungstransistoren TR3, TR4, TR5 und TR6 vom p-Kanal-Anreicherungstyp und der Ausgleichstransistor TR7 vom p-Kanal-Anreicherungstyp gleichzeitig AN, und die positive Leistungsspannungsleitung Vdd lädt die Digit-Leitungen DLa und DLb aller Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn sowie die Eingabeknoten N7 und N8 der Leseverstärkerschaltungen 4l bis 4n. Dann beginnen die Digit-Leitungen DLa und DLb und die zugehörigen Eingabeknoten N7 und N8 auf den positiven Leistungsspannungspegel Vdd zu steigen.
- Nachdem sie den positiven Leistungsspannungspegel Vdd erreicht haben, erholt sich das Vorladungssignal PCH zum Zeitpunkt t2 auf den hohen Spannungspegel, und die Wortleitung WL geht hoch auf den positiven hohen Spannungspegel. Die Wortleitung WL erlaubt es den Übertragungstransistoren TR1 und TR2 vom n-Kanal-Anreicherungstyp der Speicherzellen MCl bis MCn AN zu schalten, und die in den Speicherzellen MCl bis MCn gespeicherten Datenbits werden jeweils an den zugehörigen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn ausgelesen. Kleine Differenzspannungspegel treten an den jeweiligen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn auf, und das Datenbit in der Speicherzelle MCl verursacht, daß die Digit-Leitung DLa langsam abfällt. Die Digit-Leitung DLb wird jedoch auf den positiven Leistungsspannungspegel Vdd gehalten. Wenn keine Leseverstärkerschaltung zusammen mit den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn vorgesehen ist, sind die Teil-Transistoren der Schleife LP so klein in ihrer Größe und dementsprechend in der Stromtreiberfähigkeit, daß die Digit-Leitung DLa aufgrund der großen Streukapazität, die mit der Digit-Leitung DLa sowie mit dem Eingabeknoten N7 verbunden ist, extrem langsam herabgeht.
- Das Auswahisignal SE wird zum Zeitpunkt t2 auf den hohen Spannungspegel angehoben, und die Leseverstärkerschaltung 41 wird aktiviert, um so die kleine Differenzspannung an dem zugehörigen Digit-Leitungleitungspaar DL1 auszubilden. Der Feldeffekttransistor TR9 vom n-Kanal-Anreicherungstyp senkt allmählich seine Kanalleitfähigkeit zusammen mit dem Spannungspegel an der Digit-Leitung DLa, und der Feldeffekttranistor TR9 vom n-Kanal-Anreicherungstyp unterbricht die Verbindung zwischen dem gemeinsamen Drainknoten N5 und der Massespannungsleitung GND. Der Spannungspegel an dem gemeinsamen Drainknoten N5 steigt schnell an, und die Feldeffekttransistoren TR8 und TR10 vom p-Kanal-Anreicherungstyp werden schnell AUS-geschaltet.
- Andererseits erlaubt es die Digit-Leitung DLb mit dem positiven Leistungsspannungspegel Vdd dem Feldeffekttransistor TR11 vom n-Kanal-Anreicherungstyp AN zu schalten, und der gemeinsame Knoten N6 wird über den Feldeffekttransistor TR11 vom n-Kanal-Anreicherungstyp und den Aktivierungstransistor vom n-Kanal-Anreicherungstyp geerdet. Der gemeinsame Drainknoten N6 fällt schnell ab, und der so schnell abgefallene Spannungspegel wird an die Datenausgabeschaltung OUT zur Erzeugung eines Ausgabedatensignals geliefert.
- Bei diesem bekannten Direktzugriffsspeichervorrichtungstyp tritt jedoch ein Problem darin auf, daß ein relativ langer Zeitabschnitt für den Vorladungsvorgang zur Erzeugung des Ausgabedatensignals benötigt wird. Dies liegt daran, daß die Leseverstärkerschaltung tatsächlich damit beginnt, einen Differenzspannungspegel zu entwickeln, wenn eine der Digit-Leitungen etwa die Hälfte des positiven Leistungsspannungspegels Vdd/2 zum Zeitpunkt t3 erreicht hat. Wie vorangehend beschrieben wurde, wird von dem Teutransistor der Schleife LP nicht nur erwartet, die mit der Digit-Leitung verbundene Streukapazität zu entladen, sondern auch die mit dem zugehörigen Eingabeknoten des Leseverstärkers verbundene Streukapazität, und dieser Teutransistor mit einer geringen Stromtreiberfähigkeit braucht einen langen Zeitabschnitt. Tatsächlich benötigt die bekannte Direktzugriffsspeicheranordnung einige 10 bis 100 Nanosekunden zum Auslesen eines Datenbits.
- Es ist deshalb eine wichtige Aufgabe der Erfindung, eine Direktzugriffsspeicheranordnung vom statischen Typ zu schaffen, die es einer externen Vorrichtung erlaubt, auf darin gespeicherte Daten mit erhöhter Geschwindigkeit zuzugreifen.
- Um diese Aufgabe zu lösen, schlägt die Erfindung vor, ein Paar Kondensatoren zwischen einem Paar von Digit-Leitungen und Eingabeknoten einer Leseverstärkerschaltung zu schalten.
- Erfindungsgemäß wird eine statische Direktzugriffsspeichervorrichtung geschaffen, die auf einem einzelnen Halbleiterchip hergestellt ist, mit:
- a) einer Mehrzahl Speicherzellen, die in Zeilen und Spalten angeordnet sind und jeweils Datenbits in Form eines Differenzspannungspegels speichern;
- b) einer Mehrzahl Digit-Leitungspaare, die jeweils den Spalten der Mehrzahl Speicherzellen zugeordnet sind und betrieben werden, um die Differenzspannungspegel, die jeweils die Datenbits anzeigen, zu übertragen;
- c) einer Mehrzahl Wortleitungen, die jeweils den Zeilen der Mehrzahl Speicherzellen zugeordnet sind und wahlweise auf einen aktiven Pegel getrieben werden, um die Mehrzahl der Digit-Leitungen mit den mit ihnen verbundenen Speicherzellen zu verbinden;
- d) einer Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen, die jeweils der Mehrzahl Digit-Leitungspaare zugeordnet sind und je ein Eingangsknotenpaar haben und auf den Differenzspannungspegel an dem zugehörigen Digit-Leitungspaar ansprechen, um so schnell einen Differenzspannungspegel zu entwickeln, der eines der Datenbits an dem zugehörigen Digit-Leitungspaar zwischen darin vorgesehenen internen Knotenpaaren anzeigt;
- e) einer Vorladeschaltung, die mit der Mehrzahl Digit-Leitungspaare zum Vorladen auf einen der hohen und niedrigen spannungspegel verbunden ist;
- f) einer Mehrzahl Kupplungsmittel, die kapazitiv zwischen dem Digit-Leitungspaar und dem Paar Eingabeknoten der Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen geschaltet sind; und
- g) einem Zwischenspannungserzeugungsmittel, das mit dem Paar Eingabeknoten in der Leseverstärkerschaltung verbunden ist, um jeden der Eingabeknoten auf einen Zwischenspannungspegel zwischen dem hohen und dem niedrigen Spannungspegel vorzuladen.
- Die Merkmale und Vorteile der erfindungsgemäßen statischen Direktzugriffsspeicheranordnung werden aus der folgenden Beschreibung in Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen besser verstanden, in denen zeigt:
- Fig. 1 ein Schaltdiagramm, das die Anordnung der bekannten statischen Direktzugriffsspeicheranordnung zeigt;
- Fig. 2 eine Zeitverlaufstafel, die das Schaltungsverhalten der bekannten statischen Direktzugriffsspeicheranordnung zeigt;
- Fig. 3 ein Schaltdiagramm, das die Anordnung der erfindungsgemäßen statischen Direktzugriffsspeicheranordnung zeigt;
- Fig. 4 eine Zeitverlaufstafel, die das Schaltungsverhalten der in Fig. 3 gezeigten statischen Direktzugriffsspeicheranordnung zeigt; und
- Fig. 5 ein Schaltdiagramm, das die Anordnung einer weiteren erfindungsgemäßen statischen Direktzugriffsspeicheranordnung zeigt.
- In Fig. 3 der Zeichnungen ist eine erfindungsgemäße statische Direktzugriffsspeicheranordnung auf einem einzelnen Halbleiterchip 10 ausgebildet und umfaßt im wesentlichen ein Speicherzellenarray 11, eine primäre Vorladungsschaltung 12, eine sekundäre Vörladungsschaltung 13, ein Leseverstärkerschaltungsarray 14 und eine Zwischenspannungserzeugungsschaltung 15. Obwohl desweiteren verschiedene penphere Schaltungen, wie Zeilen- und Spaltenadresschaltungen in der statischen Direktzugriffsspeicheranordnung inkorporiert sind, werden sie, ähnlich der Darstellung der bekannten statischen Direktzugriffsspeicheranordnung, in Fig. 3 weggelassen.
- Das Speicherzellenarray 1 wird durch eine Mehrzahl Speicherzellen MC11, MC1n, MCm1 und MCmn gebildet, die in Zeilen und Spalten angeordnet sind, und jede Speicherzelle MC11, MC1n, MCm1 oder MCmn enthält eine Inverterschleife LP und ein paar Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n- Kanal-Anreicherungstyp, die mit Speicherknoten M11 und M12 in der Inverterschleife LP verbunden sind. Die Inverterschleife LP speichert ein Datenbit in Form eines Differenzspannungspegels an ihren Speicherknoten N11 und N12.
- Die Spalten des Speicherzellenarrays 11 sind jeweils mit einer Mehrzahl Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn verbunden, und jedes der Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn besteht aus zwei Digit-Leitungen DLa und DLb. Das Digit-Leitungspaar DLa und DLb ist jeweils über die Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n-Kanal-Anreicherungstyp mit den Speicherknoten N11 bzw. N12 der Speicherzellen der zugehörigen Spalte des Speicherzellenarrays 11 verbunden.
- Eine Mehrzahl Wortleitungen WL1 bis WLm sind mit den jeweiligen Zeilen des Speicherzellenarrays 1 verbunden, und nur eine der Wortleitungen wird auf einen hohen Spannungspegel getrieben. Die Wortleitungen WL1 bis WLm sind mit den Gateelektroden der Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n-Kanal-Anreicherungstyp der zugehörigen Zeilen des Speicherzellenarrays 11 verbunden, und alle Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die damit verbunden sind, werden gleichzeitig AN-geschaltet, um so die Speicherknoten N11 und N12 mit den zugehörigen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn zu verbinden. Wenn alle Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die mit den Wortleitungen verbunden sind, auf den hohen Spannungspegel getrieben wurden, schalten sie gleichzeitig AN, wobei die Datenbits jeweils aus den Inverterschleifen LP der zugehörigen Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn ausgelesen werden.
- Die primäre Vorladungsschaltung 12 ist durch eine Mehrzahl Vorladungseinheiten 121 bis 12n oder durch Paare von Vorladungstransistoren TR13 und TR14 vom p-Kanal-Anreicherungstyp gebildet, die mit den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn verbunden sind, und die Vorladungstransistoren TR13 und TR14 vom p-Kanal-Anreicherungstyp schalten gleichzeitig in Abhängigkeit von einem Vorladungssignal PCH AN, um die positive Leistungsspannungsleitung Vdd und alle Digit- Leitungspaare DL1 bis DLn zu verbinden.
- Die sekundäre Vorladungsschaitung 13 ist durch eine Mehrzahl Vorladungseinheiten 131 bis 13n gebildet, und jede der Vorladungseinheiten 131 bis 13n enthält ein Paar Vorladungstransistoren TR15 und TR16 vom p-Kanal-Anreicherungstyp, die zwischen dem Ausgabeknoten der Zwischenspannungserzeugungsschaltung 15 und den Digit-Leitungen DLa und DLb des zugehörigen Digit-Leitungspaares geschaltet sind, und einen Ausgleichstransistor TR17 vom p-Kanal-Anreicherungstyp, der mit den Digit-Leitungen DLa und DLb des zugehörigen Digit-Leitungspaares verbunden ist.
- Das Leseverstärkerschaltungsarray 14 ist durch eine Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen 141 bis 14n gebildet, die jeweils den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn zugeordnet sind, und jede der Leseverstärkerschaltungen 141 bis 14n enthält eine erste Reihenschaltung mit einem Feldeffekttransistor TR18 vom p-Kanal-Anreicherungstyp und einem Feldeffekttransistor TR19 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die zwischen der positiven Leistungsspannungsleitung Vdd und einem gemeinsamen Knoten N13 geschaltet sind, eine zweite Reihenschaltung mit einem Feideffekttransistor TR20 vom p- Kanal-Anreicherungstyp und einem Feldeffekttransistor TR21 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, die parallel zur ersten Reihenschaltung geschaltet sind, und einen Aktivierungstransistor TR22 vom n-Kanal-Anreicherungstyp, der zwischen dem gemeinsamen Knoten N13 und einer Massespannungsleitung GND geschaltet ist. Beide Feldeffekttransistoren TR18 und TR20 vom p-Kanal-Anreicherungstyp sind mit dem gemeinsamen Drainknoten N14 der ersten Reihenschaltung verbunden, und die Feldeffekttransistoren TR19 und TR21 vom n-Kanal-Anreicherungstyp werden jeweils über die Eingabeknoten N16 bzw. N17 geschaltet. Der Aktivierungstransistor TR22 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist von einem Auswahisignal SE abhängig, und der gemeinsame Knoten N13 wird bei Anheben des Auswahlssignals SE auf einen positiven Hochspannungspegel geerdet. Wenn das zugehörige Aktivierungssignal SE auf den hohen Spannungspegel geht, schaltet der Aktivierungstransistor TR22 vom n-Kanal-Anreicherungstyp AN, um den gemeinsamen Knoten N13 zu erden, und die so aktivierte Leseverstärkerschaltung erzeugt einen Differenzspannungspegel zwischen den gemeinsamen Drainknoten N14 und N15. Deshalb dienen die gemeinsamen Drainknoten N14 und N15 als interne Knoten. Der gemeinsame Drainknoten N15 ist mit einer Datenzwischenspeicherschaltung OUT verbunden, und der Spannungspegel am gemeinsamen Drainknoten N15 zeigt ein Datenbit an, das aus den Speicherzellen MC11 bis MCmn ausgelesen bzw. in sie eingeschrieben wird.
- Eine Mehrzahl Kondensatorpaare Opi bis OPN sind jeweils den Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn zugeorndet, und die Eingabeknoten N16 und N17 der zugehorigen Leseverstärkerschaltungen 141 bis 14n und dementsprechend die Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn sind jeweils kapazitiv mit den Eingabeknoten N16 und N17 der zugehörigen Leseverstärkerschaltung 141 bis 14n verbunden. Die Teilkondensatoren eines jeden Paares sind jeweils mit CPa und CPb bezeichnet. Deshalb bilden die Kondensatorpaare CP1 bis CPn vorübergehend eine Mehrzahl Kopplungsmittel.
- Die Zwischenspannungserzeugungsschaltung 15 wird durch eine Reihenschaltung mit Ladetransistoren TR23 und TR24 vom n- Kanal-Anreicherungstyp gebildet, die zwischen der positiven Leistungsspannungsleitung Vdd und der Massespannungsleitung GND verbunden sind. Die Gateelektroden des Ladetransistors TR23 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist mit einem Ausgabeknoten N18 der Zwischenspannungerzeugungsschaltung 15 zwischen dem Ladetransistoren TR23 und TR24 verbunden, und die Gateelektrode des Ladetransistors TR24 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist geerdet. Die Reihenschaltung der Ladetransistoren TR23 und TR24 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist so angeordnet, daß sie einen Zwischenspannungspegel Vdd/2, so groß wie die Hälfte des positiven Leistungsspannungspegels Vdd, an dem Ausgabeknoten N18 erzeugt.
- Nun wird unter Bezug auf Fig. 4 das Schaltungsverhalten der statischen Direktzugriffsspeicheranordnung beschrieben. Angenommen sei, daß ein Adressensignal die Speicherzelle MCn1 festlegt, die ein Datenbit speichert, welches durch einen niedrigen Spannungspegel am Speicherknoten N11 sowie durch einen hohen Spannungspegel am Speicherknoten N12 angezeigt wird, wobei das Vorladungssignal PCH zum Zeitpunkt t11 auf einen niedrigen Spannungspegel oder den Massespannungspegel geht, und sowohl die primäre als auch die sekundäre Vorladungsschaltung 12 und 13 in Betrieb versetzt werden. Alle Vorladungstransistoren TR13, TR14, TR1S und TR16 vom p-Kanal-Anreicherungstyp und der Ausgleichtransistor TR17 vom p-Kanal-Anreicherungstyp schalten gleichzeitig AN, und die Digit-Leitungspaare DL1 bis DLn und die Eingabeknoten N16 und N17 werden jeweils auf die Differenzspannungspegel vorgeladen. Die primäre Vorladungsschaltung 12 verbindet nämlich die positive Leistungsspannungsleitung Vdd mit allen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn, und die sekundäre Vorladungsschaltung 13 verbindet die Eingabeknoten N16 und N17 der zugehörigen Leseverstärkerschaltungen 141 bis 14n mit dem Ausgabeknoten N18 der Zwischenspannungserzeugungsschaltung 15.
- Nachdem der positive Leistungsspannungspegel Vdd und der Zwischenspannungspegel Vdd/2 erreicht wurden, erholt sich das Vorladungssignal PCH auf den hohen Spannungspegel zum Zeitpunkt t12, und die Wortleitung WLN geht auf den positiven hohen Spannungspegel. Die Wortleitung WLm ermöglicht es, den Übertragungstransistoren TR11 und TR12 vom n-Kanal- Anreicherungstyp aller Speicherzellen Monl bis MCmn AN zu schalten, und die Datenbits, die in den Speicherzellen Monl bis MCmn gespeichert sind, werden zu den jeweiligen zugehörigen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn ausgelesen. Kleine Differenzspannungspegel treten an den jeweiligen Digit-Leitungspaaren DL1 bis DLn auf, und das Datenbit in den Speicherzellen Mornl verursacht, daß die Digit-Leitung DLa langsam absinkt. Die Digit-Leitung DLb des Digit-Leitungspaares DL1 wird auf dem positiven Leistungsspannungspegel Vdd gehalten.
- Das Auswahlsignal SE wird zum Zeitpunkt t12 auf den hohen Spannungspegel angehoben, und die Leseverstärkerschaltung 141 wird eingeschaltet, um so einen Differenzspannungspegel um den gemeinsamen Drainknoten N14 und N15 in Abhängigkeit des Differenzspannungspegels an dem zugehörigen Digit-Leitungspaar DL1 zu erzeugen. Da die Eingabeknoten N16 und N16 bereits auf den Zwischenspannungspegel Vdd/2 vorgeladen wurden, wird über die Teilkondensatoren CPa und CPb der Differenzspannungspegel von etwa Vdd/2 angelegt, und die Leseverstärkerschaltung 141 beginnt augenblicklich mit der Erzeugung des Differenzspannungspegels zwischen dem gemeinsamen Drainknoten N14 und NiS beim Auftreten einer geringen Änderung des Spannungspegels an den Digit-Leitungen DLa aufgrund des Datenbits, das in der Speicherzelle MCm1 gespeichert ist. Der Verstärkungsfaktor jedes Feldeffekttransistors TR1g oder TR21 vom n-Kanal-Anreicherungstyp ist üblicherweise maximal, und der Differenzspannungspegel zwischen den gemeinsamen Drainknoten N14 und N15 wird schnell entwickelt. Der Feldeffekttranistor TR19 vom n-Kanal-Anreicherungstyp senkt nämlich schnell seine Kanalleitfähigkeit, und der Feldeffekttransistor TR19 vom n-Kanal-Anreicherungstyp unterbricht die Verbindung des gemeinsamen Drainknotens N14 mit der Massespannungsleitung GND. Der Spannungspegel am gemeinsamen Drainknoten N14 steigt schnell an, und die Feldeffekttransistoren TR18 und TR20 vom p-Kanal-Anreicherungtyp werden schnell AUS geschaltet. Da die Digit-Leitung DLb auf dem positiven Leistungsspannungspegel Vdd es dem Feldeffekttransistor TR21 vom n-Kanal-Anreicherungtyp ermöglicht AN zu schalten, wird der gemeinsame Drainknoten N15 über den Feldeffekttransistor TR21 vom n- Kanal-Anreicherungstyp und den Aktivierungstransistor TR22 vom n-Kanal-Anreicherungstyp geerdet. Der gemeinsame Drainknoten N15 sinkt schnell ab, und der so schnell abgefallene Spannungspegel wird der Datenzwischenspeicherschaltung OUT zur Erzeugung eines Ausgabedatensignals zugeführt.
- Wie aus der vorangehenden Beschreibung ersichtlich ist, liegt der halbe positive Leistungsspannungspegel Vdd/2 bereits zwischen den Digit-Leitungen DLa und DLb und den Eingabeknoten N16 und N17 an, und eine kleine Änderung im Spannungspegel erlaubt es der zugehörigen Leseverstärkerschaltung, augenblicklich mit der Erzeugung des Differenzspannungspegels zwischen den gemeinsamen Drainknoten N14 und N15 mit maximalem Verstärkungsfaktor zu beginnen. Deshalb wird das Datenbit schnell aus einer der Speicherzellen MC11 bis MCmn ausgelesen, und der Auslesevorgang dauert nur einige Nanosekunden.
- In Fig. 5 der Zeichnungen ist eine weitere statische Direktzugriffsspeicheranordnung gezeigt, und die die zweite Ausführungsform verkörpernde statische Direktzugriffsspeicheranordnung ist ähnlich der ersten Ausführungsform mit Ausnahme der Kupplungsmittel 21. Die anderen Schaltkomponenten sind mit denselben Bezugszeichen entsprechend den Schaltkomponenten der ersten Ausführungsform gekennzeichnet. Das Kupplungsmittel 21 hat ein Paar Feldeffekttransistoren 21a und 21b, wobei die Source- und Drainanschlüsse jedes Feldeffekttransistoren 21a oder 21b jeweils miteinander verbunden sind, um eine Kondensator-Elektrode zu bilden. Die andere Elektrode wird durch die Gateelektrode eines jeden der Feldeffekttransistoren 21a oder 21b gebildet. Da von der kapazitiven Kupplung zwischen einer Digit-Leitung und einem Eingabeknoten in einer Leseverstärkerschaltung erwartet wird, daß sie eine Kapazität von etwa 0,1 pF hat, können die so miteinander verbundenen Feldeffektransistoren 21a oder 21b eine hinreichende Kapazität bilden, und der durch das Kupplungsmittel eingenommene Raum wird effektiv verringert.
- Das Schaltverhalten der statischen Direktzugriffsspeicheranordnung, die die zweite Ausführungsform verkörpert, ist ähnlich jener der ersten Ausführungsform, und eine weitere Beschreibung wird zur Vermeidung von Wiederholungen hier nicht gegeben.
- Obwohl bestimmte Ausführungsformen der Erfindung gezeigt und beschrieben wurden, ist es für den Fachmann offensichtlich, daß verschiedene Änderungen und Modifikationen vorgenommen werden können, ohne vom Rahmen der Erfindung abzuweichen. Zum Beispiel kann jede kapazitive Kupplung als Kupplungsmittel verwendet werden, und Feldeffekttransistoren vom p-Kanal-Anreicherungsptyp können gegen Feldeffekttransistoren vom n-Kanal-Anreicherungstyp ausgetauscht werden.
Claims (7)
1. Statische Direktzugriffsspeichervorrichtung, die auf
einem einzelnen Halbleiterchip (10) hergestellt ist, mit:
a) einer Mehrzahl Speicherzellen (MC11 bis Mcmn), die in
Zeilen und Spalten angeordnet sind und jeweils Datenbits in
Form eines Differenzspannungspegels speichern;
b) einer Mehrzahl Digit-Leitungspaare (DL1 bis DLn), die
jeweils den Spalten der Mehrzahl Speicherzellen zugeordnet
sind und betrieben werden, um die Differenzspannungspegel,
die jeweils die Datenbits anzeigen, zu übertragen;
c) einer Mehrzahl Wortleitungen (WLL bis WLm), die jeweils
mit den Seilen der Mehrzahl Speicherzellen zugeordnet sind
und wahlweise auf einen aktiven Pegel getrieben werden, um
die Mehrzahl der Digit-Leitungen mit den mit ihnen
verbundenen Speicherzellen zu verbinden;
d) einer Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen (141 bis 14n),
die jeweils der Mehrzahl Digit-Leitungspaare zugeordnet
sind und je ein Eingangsknotenpaar (N16, N17) haben und auf
den Differenzspannungspegel an dem zugehörigen Digit-
Leitungspaar ansprechen, um so schnell einen
Differenzspannungspegel zu entwickeln, der eines der Datenbits an dem
zugehörigen Digit-Leitungspaar zwischen den darin
vorgesehener internen Knoten (N14/N15) anzeigt; und
e) einer Vorladeschaltung (12), die mit der Mehrzahl Digit-
Leitungspaare zum Vorladen auf einen der hohen und
niedrigen Spannungspegel verbunden ist,
f) einem Spannungserzeugungsmittel (15), das mit dem Paar
Eingabeknoten (N16, N17) einer jeden
Leseverstärkerschaltung zum Vorladen der Eingabeknoten verbunden ist;
gekennzeichnet durch:
g) eine Mehrzahl Kopplungsmittel (CP1 bis CPn; 21), die
kapazitiv zwischen dem Digit-Leitungspaar und dem Paar
Eingabeknoten (N16/N17) der Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen
verbunden sind, und dadurch, daß
h) das Spannungserzeugungsmittel ein
Zwischenspannungserzeugungsmittel (15) ist, um die Eingabeknoten (N16, N17)
auf einen Zwischenspannungspegel (Vdd/2) zwischen dem hohen
und dem niedrigen Spannungspegel vorzuladen.
2. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 1,
bei der die Mehrzahl Speicherzellen enthalten:
einen ersten Inverter mit einem Eingabeknoten und einem
Ausgabeknoten (N12),
einen zweiten Inverter mit einem Eingabeknoten und einem
Ausgabeknoten (N11), die jeweils mit dem Ausgabeknoten bzw.
dem Eingabeknoten des ersten Inverters verbunden sind,
einen ersten Übertragungstransistor (TR11), der zwischen
einer der Teil-Digitleitung des zugehörigen
Digit-Leitungspaares und dem Ausgabeknoten des zweiten Inverters
geschaltet ist, und
einen zweiten Übertragungstransistor (TR12), der zwischen
der anderen Teil-Digitleitung des zugehörigen
Digitleitungspaares und dem Ausgabeknoten des ersten Inverters
geschaltet ist,
wobei der erste und zweite Transistor durch die zugehörigen
Wortleitungen geschaltet werden.
3. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 1,
bei der jede der Mehrzahl Leseverstärkerschaltungen
enthält:
eine erste Reihenschaltung aus einem ersten
Feldeffekttransistor (TR18) eines ersten Kanalleitfähigkeitstyps und
einem zweiten Feldeffekttransistor (TR19) eines zweiten
Kanalleitfähigkeitstyps, der dem ersten
Kanalleitfähigkeitstyp entgegengesetzt ist, die zwischen einer
Leistungsspannung
(Vdd) und einem gemeinsamen Knoten (M13) geschaltet
sind,
eine zweite Reihenschaltung aus einem dritten
Feldeffekttransistor (TR20) des erstem Kanalleitfähigkeitstyps und
einem vierten Feldeffekttransistors (TR2L) des zweiten
Kanalleitfähigkeitstyps, die zwischen der Leistungsspannung
(Vdd) und dem gemeinsamen Knoten geschaltet sind, und einen
fünften Feldeffekttransistor (TR22) des zweiten
Kanalleitfähigkeitstyps, der von einem Auswahlsignal abhängig ist
und zwischen den gemeinsamen Knoten und einer
Konstantspannungsquelle (GND) geschaltet ist,
wobei die Gateelektroden des ersten und dritten
Feldeffekttransistors mit einem der Paare interner Knoten
zwischen dem ersten und zweiten Feldeffekttransistor verbunden
sind, die zweiten und vierten Feldeffekttransistoren
jeweils mit ihren Gateelektroden mit dem zugehörigen Paar
Eingabeknoten verbunden sind, die anderen des Paares
interner Knoten als Ausgabeknoten für jeden der Mehrzahl
Leseverstärkerschaltungen dienen, und wobei die
Konstantspannungsquelle den niedrigen Spannungspegel erzeugt.
4. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 3,
bei der die zweiten und vierten Feldeffekttransistoren
(TR19/TR21) um den Zwischenspannungspegel in der
Verstärkung maximiert sind.
5. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 1, bei
der die Vorladeschaltung enthält:
eine Mehrzahl Vorladeeinheiten (121 bis 12n), die jeweils
mit der Mehrzahl Digit-Leitungspaare verbunden sind, wobei
jede der Vorladungseinheiten einen sechsten
Feldeffekttransistor (TR13) des ersten Kanalleitfähigkeitstyps und einen
siebten Feldeffekttransistor (TR14) des zweiten
Kanalleitfähigkeitstyps hat, die jeweils zwischen einer Quelle des
Leistungsspannungspegels (Vdd) und dem zugehorigen Digit-
Leitungspaar geschaltet sind, wobei die sechsten und
siebten
Feldeffekttransistoren mit einem Vorladungssignal (PCH)
geschaltet werden und die Quelle des
Leistungsspannungspegels den Hochspannungspegel erzeugt.
6. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 1,
wobei jedes der Mehrzahl Verbindungsmittel einen ersten
Kondensator (CPA) enthält, der zwischen einer Teil-Digit-
Leitung des zugehörigen Digit-Leitungspaares und einem Paar
der Ausgabeknoten der zugehörigen Leseverstärkerschaltung
geschaltet ist, und einen zweiten Kondensator (CPB), der
zwischen der anderen Teil-Digitleitung und dem anderen
Eingabeknoten des Paares geschaltet ist.
7. Direktzugriffsspeichervorrichtung nach Anspruch 1,
bei der jedes der Mehrzahl Verbindungsmittel hat: einen
achten Feldeffekttransistor (21a), dessen Source- und
Drainknoten mit einer der Teil-Digitleitungen des
zugehörigen Digit-Leitungspaares verbunden sind und dessen
Gateelektrode mit einem Eingabeknoten des Paares der
zugehörigen Leseverstärkerschaltung verbunden ist, und einen
neunten Feldeffekttransistor (29b) dessen Source- und
Drainknoten beide mit der anderen Teil-Digitleitung verbunden sind
und dessen Gateelektrode mit dem anderen Eingabeknoten des
Paares verbunden ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3062253A JP2680939B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69217565D1 DE69217565D1 (de) | 1997-04-03 |
DE69217565T2 true DE69217565T2 (de) | 1997-09-18 |
Family
ID=13194797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69217565T Expired - Fee Related DE69217565T2 (de) | 1991-03-27 | 1992-03-18 | Statische Direktzugriffspeicheranordnung mit an einem Bitleitungenpaar durch Kapazitäten gekoppelten Differenzverstärker |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5289419A (de) |
EP (1) | EP0505915B1 (de) |
JP (1) | JP2680939B2 (de) |
KR (1) | KR950014259B1 (de) |
DE (1) | DE69217565T2 (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06162776A (ja) * | 1992-11-18 | 1994-06-10 | Nec Corp | 半導体メモリ回路 |
DE69524572T2 (de) * | 1995-04-28 | 2002-08-22 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Leseverstärkerschaltung für Halbleiterspeicheranordnungen |
US5672987A (en) * | 1995-06-08 | 1997-09-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Potential difference transmission device and semiconductor memory device using the same |
JP3093632B2 (ja) * | 1996-04-25 | 2000-10-03 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR20220051669A (ko) * | 2020-10-19 | 2022-04-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 입출력 장치, 그의 동작 방법, 및 이를 포함하는 데이터 처리 시스템 |
US20230420041A1 (en) * | 2022-06-22 | 2023-12-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Sense amplifier circuit, memory circuit, and sensing method thereof |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2615011B2 (ja) * | 1986-06-13 | 1997-05-28 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶回路 |
KR930000963B1 (ko) * | 1988-03-09 | 1993-02-11 | 가부시기가이샤 도오시바 | 불휘발성 메모리 회로장치 |
JPH03116488A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5032744A (en) * | 1989-10-31 | 1991-07-16 | Vlsi Technology, Inc. | High speed comparator with offset cancellation |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP3062253A patent/JP2680939B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-03-18 EP EP92104707A patent/EP0505915B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-18 DE DE69217565T patent/DE69217565T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-03-27 KR KR1019920005034A patent/KR950014259B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-03-27 US US07/858,600 patent/US5289419A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0505915B1 (de) | 1997-02-26 |
EP0505915A3 (en) | 1993-12-22 |
KR950014259B1 (ko) | 1995-11-23 |
US5289419A (en) | 1994-02-22 |
JPH04298896A (ja) | 1992-10-22 |
JP2680939B2 (ja) | 1997-11-19 |
KR920018765A (ko) | 1992-10-22 |
EP0505915A2 (de) | 1992-09-30 |
DE69217565D1 (de) | 1997-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3588247T2 (de) | Dynamischer Halbleiterspeicher mit einer statischen Datenspeicherzelle | |
DE3908723C2 (de) | ||
DE69124291T2 (de) | Halbleiterspeicher mit verbesserter Leseanordnung | |
DE4214970C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung und Betriebsverfahren dafür | |
DE3534356C2 (de) | Halbleiter-Speichervorrichtung | |
DE4141478C2 (de) | ||
DE3587592T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung mit Leseverstärkern. | |
DE69123409T2 (de) | Halbleiterspeicherschaltung | |
DE69130589T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung mit einer Treiberschaltung zur zweifachen Wortleitungsspannungserhöhung | |
DE69119208T2 (de) | Halbleiter-Speichereinrichtung mit Möglichkeit zum direkten Einlesen des Potentials von Bit-Lines | |
DE68919718T2 (de) | Pseudo-statischer Direktzugriffspeicher. | |
DE4002664C2 (de) | ||
DE3887284T2 (de) | Halbleiterspeicherschaltung mit einem verbesserten Rückschreibschema. | |
DE69120447T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung von dynamischem Typus | |
DE3586675T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung. | |
EP0282976B1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum parallelen Einschreiben von Daten in einen Halbleiterspeicher | |
DE69126912T2 (de) | Halbleiteranordnung und ihre Prüfungsverfahren | |
DE4108996C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE68921440T2 (de) | Halbleiterspeicherschaltung mit einer verbesserten Wiederherstellungssteuerschaltung. | |
DE3939849A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit einem geteilten leseverstaerker und verfahren zu deren betrieb | |
DE69112692T2 (de) | Dynamische Direktzugriffspeicheranordnung mit verbesserter Speisespannung für eine beschleunigte Wiedereinschreibung von von Speicherzellen gelesenen Informationsbits. | |
DE3685889T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung. | |
DE69217565T2 (de) | Statische Direktzugriffspeicheranordnung mit an einem Bitleitungenpaar durch Kapazitäten gekoppelten Differenzverstärker | |
EP0286852B1 (de) | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Testen von Speicherzellen | |
DE10121708A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung und Verfahren zum Ändern von Ausgangsdaten dieser Einrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: NEC ELECTRONICS CORP., KAWASAKI, KANAGAWA, JP |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |