DE3244327C2 - Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung - Google Patents
Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-VorspannungInfo
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Abstract
Es ist eine Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung beschrieben, in welcher ein internes RAS -Signal (Zeilen-Adressier-Impuls oder -Takt) und ein internes CAS -Signal (Spalten-Adressier-Impuls- oder Takt), welche mit externen RAS - bzw. CAS -Signalen, die von außen her zugeführt werden, synchronisiert sind, Schaltungen aktivieren, welche Kondensatoren und Gleichrichterelemente aufweisen, um dadurch den Leistungsverbrauch während der Haltezeit eines Schreib-/Lesespeichers (RAM) zu vermindern und einen größeren Ladungspumpstrom im Betrieb zu erhalten.
Description
Bei mikrominiaturisierten MOS-Transistoren erscheint neuerlich als großes Problem, daß der Substrat-Strom
durch Diffusion von Löchern über das Substrat vergrößert wird, welche in dem starken elektrischen
Feld um den Drain-Bereich des MOS-Transistors erzeugt werden, so daß die Substrat-Vorspannung verringert
wird. Die oben beschriebene konventionelle Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung hat jedoch
die Nachteile , daß — wenn der Ladungspumpstrom verstärkt werden soll — der Leistungsverbrauch
in dem selbsterregten Oszillator im Betriebs- wie auch im Haltezustand erhöht wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung
der eingangs genannten Art zu schaffen, bei welcher der Leistungsverbrauch während der Haltezeit des RAM
minimiert ist und die dennoch einen vergrößerten Ladepumpstrom im Betrieb erzeugt
Zur Lösung dieser Aufgabe ist durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs gegeben.
Bei der Schaltung nach der Erfindung wird ein internes /?AS(Zeilen-Adressen-Takt-)Signal
und ein internes CAS (Spalten-Adressen-Takt-)Signal je mit einem externen
Ä/tS-Signal bzw. einem externen G4S-Signal
synchronisiert, die dem selbsterregten Oszillator von außen zugeführt werden, wodurch Schaltungen mit
Kondensatoren und Gleichrichtelementen so aktiviert werden, daß der Leistungsverbrauch während der Haltezeit
des RAM reduziert und gleichzeitig ein vergrößerter Ladepumpstrom im Betrieb erhalten wird.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung ist im folgenden anhand schematischer Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine konventionelle Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung,
F i g. 2 eine bekannte Schaltung eines selbsterregten Oszillators, wie er in der Schaltung nach F i g. 1 verwendet
ist.
tes einer Pufferschaltung mit MOS-Transistoren 106, 107 angelegt Der Ausgang der Pufferschaltung ist mit
einer Elektrode des Kondensators 108 verbunden, dessen andere Elektrode mit einer Gleichrichterschaltung
mit MOS-Transistoren 109 und 110 in Verbindung stehen^
Ein VÄS-S\gna\, das in Phase mit einem externen
C45-Signal ist und ein C45-SignaL das in entgegengesetzter
Phase mit dem externen C45-Signal ist, wobei diese beiden Signale in der CAS-Pufferschaltung 30 erzeugt
sind, werden in eine Pufferschaltung mit MOS-Transistoren 111 und 112 eingegeben. Der Ausgang der
Pufferschaltung steht in Verbindung mit der einen Elektrode des Kondensators 113, dessen andere Elektrode
mit einer Gleichrichterschaltung mit MOS-Transistoren 114 und 115 in Verbindung stehen.
Der Betrieb der Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung gemäß der Erfindung sei nun anhand
der Fig.5 erläutert Es seien die externen RAS- und C/45-Signale gemäß F i g. 5 angelegt. Ausgangssignale
Φ des selbsterregten Oszillators 10 werden periodisch unabhängig von den genannten externen Signalen erzeugt
Die internen Signale RAS und RAS in der RAS-Pufferschaltung
20 werden geringfügig verzögert gegenüber dem externen Ä/45-Signal erzeugt.
Somit bildet der Ausgang der Pufferschaltung mit den MOS-Transistoren 106 und 107 eine Wellenform wie A
in Fig.5. In gleicher Weise bildet der Ausgang der Schaltung ausgehend von Schaltung 30 über die Pufferschaltung
mit den MOS-Transistoren 111 und 112 eine Wellenform wie B in F i g. 5. Folglich ist der über den
Ausgangsanschluß 102 der Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung abgegebene Strom / die
Summe des Ladungspumpstromes /(, welcher durch Aktivieren
des selbsterregten Oszillators 10 des Kondensators 101 und der Gleichrichterschaltung erzeugt ist, des
Ladungspumpstromes /2, welcher unter der Treibwirkung
des in dem RAS-Zwe\g angetriebenen Kondensators
108 und der Gleichrichterschaltung erzeugt ist, und
des Ladungspumpstromes /3, welcher durch Aktivieren F i g. 3 ein Diagramm von Wellenformen der Poten- 40 über ein Signal von dem C45-Zweig des Kondensators
tiale an verschiedenen Knotenpunkten in der Schaltung 113 und dazugehörigen Gleichrichterschaltung erzeugt
gemäß F i g. 1, ist, um somit einen großen Ladungsstrom zu erzeugen.
Fig.4 eine Schaltung zum Erzeugen einer Substrat- In dem dynamischen Schreib-/Lesespeicher gibt es
Vorspannung gemäß der Erfindung, verschiedene Arten von Betriebsweisen abhängig von
F i g. 5 ein Diagramm von Wellenformen der Poten- 45 den zugeführten externen RAS- und CAS-Signalen. Im
tiale an verschiedenen Knotenpunkten in der Schaltung allgemeinen ist die zeitliche Beziehung zwischen dem
externen RAS- und C4S-Signalen gemäß F i g. 6 als
7?/4S-»Auffrischungsweise« bezeichnet, wobei die Speicherzelle
durch Verändern von H—► L—► H—► L-Signalen
»aufgefrischt« wird bezüglich dem externen ÄÄ?-Signal, wobei das externe C4S-Signal bei dem
Wert »H« gehalten wird. In diesem Fall ist der gesamte Ladungspumpstrom die Summe des Ladungspumpstroms
/ι des selbsterregten Oszillators und des La-
chronisieren der externen /MS-Signale angewendet 55 dungspumpstroms /2, welcher von einem Signal aus dem
werden, während eine CAS-Pufferschaltung 30 ver- RAS-Zweig erzeugt ist. Die Zeitbeziehung zwischen
schiedene Taktsignale erzeugt, welche im RAM zum Synchronisieren der externen G4S-Signalen verwendet
gemäß F i g. 4 und
F i g. 6 und 7 die zeitliche Beziehung zwischen dem externen RAS- und G4S-Signalen zur Darstellung verschiedener
Betriebsweisen des dynamischen RAM gemäß der Erfindung.
Der selbsterregte Oszillator 10 gemäß Fig.4 ist von
üblicher Bauart, und eine RAS-Pufferschaltung 20 erzeugt
verschiedene Taktimpulse, die im RAM zum Syn-
werden. Die Bezugszahlen 101,108 und 113 bezeichnen
Kondensatoren und die Bezugszahl 102 einen Ausgangsanschluß der Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung
gemäß der Erfindung. Die Bezugszahlen 103 und 105 bezeichnen MOS-Transistoren in
einer Gleichrichterschaltung. Ein /?AS-Signal, das in
den externen RAS- und CAS-Signalen gemäß F i g. 7
wird als »Nage«-Betriebsweise (nibble mode) oder als »Blatt«-Betriebsweise (page mode) bezeichnet, wobei
Daten mit hoher Geschwindigkeit durch Ändern von H —► L-* H —► L bezüglich des externen C45-Signals
unter Aufrechterhalten des externen /?/4S-Signals bei
dem Wert »L« ausgelesen werden. In diesem Fall wird der gesamte Ladungspumpstrom die Summe des Pump-
Phase mit dem externen RAS-Signal ist und ein /?/tS-Si- 65 stromes /1 vom selbsterregten Oszillator und des La-
gnal, das in entgegengesetzter Phase mit dem externen dungspumpstromes /3, welcher von einem Signal aus
/?A5-Signal ist, wobei diese Signale beide in der RAS- dem C45-Zweig gesteuert ist.
Pufferschaltung 20 erzeugt werden, werden an die Ga- Somit ist es gemäß der Erfindung möglich, in jeder
Betriebsweise einen großen Ladungspumpstrom dadurch zu erhalten, daß ein Ladungspumpstrom ausgehend
von einem internen Signal erzeugt wird, welches sowohl mit dem externen RAS-Signa.1 als auch mit dem
externen C45-Signal synchronisiert ist.
Bei der beschriebenen Ausführung ist nur eine Ladungspumpschaltung
durch vom /MSZweig bzw. vom
CAS-Zweig erzeugte Signale aktiviert dargestellt. Es ist
jedoch auch möglich, mehrere Ladungspumpschaltungen an jedem Ort der Halbleiter-Vorrichtung anzuordnen,
wo diese Signalleitungen und Leistungsstrom-Leitungen verfügbar sind, um einen noch größeren Ladungspumpstrom
zu erhalten.
Bei der beschriebenen Ausführung stellt der Ausdruck ViT— Vr(V) eine Amplitude der Wellenform gemaß
A und B nach F i g. 5 aus Signalen des RAS-Zwe'iges
und des CAS-Zweiges dar. Die Amplitude kann jedoch auch durch Erhöhen der Potentiale, welche den
Drainelektroden der MOS-Transistoren 106 und 111 gemäß
Fig.4 zugeleitet werden, auf einen Wert Vn-(V)
größer als ein durch den Ausdruck V11-+ Vr(V) gegebenen
Wert erhöht werden, um einen noch größeren Ladungspumpstrom zu gewinnen.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
30
35
40
45
50
55
Claims (1)
1. Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vor- sistor. Sowohl die Drain-Elektrode als auch die Gatespannung für einen dynamischen Schreib-Lese-Spei- 5 Elektrode des MOS-Transistors 2 sind mit dem Ausgang
eher (RAM), dem externe RAS- und C4S-Signale 2 verbunden, während die Source-Elektrode des MOS-zugeführt werden, mit einem selbsterregten Oszilla- Transistors 3 mit der anderen Elektrode 4 des Kondentor (10), dessen periodisches Ausgangssignal (Φ)
sators 1 verbunden ist Sowohl die Drain-Elektrode als über einen ersten Kondensator (101) einer ersten auch die Gate-Elektrode des MOS-Transistors 5 sind
Gleichrichterschaltung (103,105) zugeführt wird, de- io mit dem Knotenpunkt 4 verbunden. Die Source-Elekren Ausgang (102) mit dem Substrat verbunden ist trodedes MOS-Transistors 5 ist geerdet
g e k ennz eichnetdurch Ein Ring-Oszillator, der eine ungerade Anzahl von in
eine 7JÄ$-Pufferschaltung (20), die ein mit dem ex- Reihe geschalteten Invertern aufweist, kann als Ausfiih-
tern zugeführten &4S-Signal synchrones ÄAS-Aus- rung des selbsterregten Oszillators gemäß Fig.2 ge-
gangssignal erzeugt das über einen zweiten Kon- 15 wählt werden. Bei der Ausführung nach F i g. 2 kann die
densator (108) einer zweiten Gleichrichterschaltung Amplitude des Ausganges durch den Ausdruck
(109, \\ϋ\ deren Ausgang mit dem Ausgang (102) V„— W(V) dargestellt werden, wobei Kc die Betriebs-
der ersten Gleichrichterschaltung (103,105) verbun- spannung und W die Schwellenspannung des MOS-
den ist, zugeführt wird, und Transistors in der Schaltung zum Erzeugen einer Sub-
eine CAS-Pufferschaltung (30), die ein mit dem ex- 20 strat-Vorspannung sind.
tern zugeführten C45-Signal synchrones CAS-Aus-
Der Betrieb der bekannten Schaltung zum Erzeugen
gangssignal erzeugt das über einen dritten Konden- einer Substrat-Vorspannung wird im folgenden anhand
sator (113) einer dritten Gleichrichterschaltung (114, der F i g. 1 und 3 geschildert wobei F i g. 3 Variationen
115), deren Ausgang ebenfalls mit dem Ausgang der Potentiale an den Knotenpunkten 2 und 4 in der
(102) der ersten Gleichrichterschaltung (103, 105) 2s SchaltunggemäBFig.l zeigt
verbunden ist zugeführt wird. Der selbsterregte Oszillator 10 schwingt mit der Am-
2. Schaltung nach Anspruch 2, bei welcher die er- plitude zwischen 0 (V) und V«. (V). Das Potential am
ste Gleichrichterschaltung aus zwei in Reihe ge- Knotenpunkt 4 ändert sich wegen der kapazitiven
schalteten MOS-Transistoren (103,105) besteht der Kopplung des Kondensators 1. Wenn das Potential am
Drain- und Gate-Anschluß des einen MOS-Transi- 30 Knotenpunkt 4 größer als die Schwellenspannung W
stors (103) mit dem zum Substrat führenden Aus- (V) des Transistors 5 wird, wird das Η-Niveau des Knogang (102), der Verbindungspunkt der beiden MOS- tenpunkts 4 auf dem Potential VV(V) gehalten, um den
Transistoren (103,105) einerseits mit dem Gate-An- Transistor 5 zu schalten. Somit ändert sich das Potential
schluß des anderen MOS-Transistors (105) und an- am Knotenpunkt 4 ins Negative um den Wert — Kv(V),
dererseits mit dem ersten Kondensator (101) ver- 35 so daß das niedrigste Potential am Knotenpunkt 4 eine
bunden ist und der Source-Anschluß des anderen Größe entsprechend dem Ausdruck VV- Vn (V) erhält.
MOS-Transistors (105) an Bezugspotential liegt da- Folglich erreicht der Ausgangsanschluß 2 der Schaltung
durch gekennzeichnet, daß die zweite und die dritte zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung ein Potenti-Gleichrichterschaltung den gleichen Aufbau wie die al, welches um den Schwellenwert VVhöher als am Knoerste Gleichrichterschaltung aufweisen, wobei der 40 tenpunkt 4 ist und schließlich einen Wert entsprechend
Verbindungspunkt der beiden MOS-Transistoren dem Ausdruck 2 K?—Kr(V) annimmt
(109, 110) der zweiten Gleichrichterschaltung mit Wenn das Potential am Ausgangsanschluß 2 der
dem zweiten Kondensator (108) und der Verbin- Schaltung 0 V wird, wird ein Ladungspumpstrom, der im
dungspunkt der beiden MOS-Transistoren (114,115) Transistor 3 fließt, gemäß der folgenden erhalten:
der dritten Gleichrichterschaltung mit dem dritten 45
Kondensator (113) verbunden ist. Z=Z-C-V (Gleichung 1)
3. Schaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das /MS-Ausgangssignal der worin
RAS-Pufferschaltung (20) gegenüber dem externen
/MS-Signal verzögert erzeugt wird und daß das 50 / die Schwingungsfrequenz des selbsterregten Oszil-
CAS-Ausgangssignal der CAS-Pufferschaltung (30) lators 10,
gegenüber dem externen C45-Signal verzögert er- C die Kapazität des Kondensators 1,
zeugt wird. V die Ausgangs-Amplitude des selbsterregten Oszil-
4. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, lators 10
dadurch gekennzeichnet, daß mehrere RAS- und 55
CAS-Pufferschaltungen (20,30) vorgesehen sind. sind.
Aus der angegebenen Gleichung ist ersichtlich, daß
der Ladungspumpstrom / durch Erhöhen der Schwingungsfrequenz /des selbsterregten Oszillators 10, Ver-60 großem deren Amplitude Voder Erhöhen der Kapazi-
Die Erfindung betrifft eine Schaltung zum Erzeugen tat Cdes Kondensators 1 vergrößert werden kann. Es ist
einer Substrat-Vorspannung der im Oberbegriff des Pa- jedoch erforderlich, eine dieser drei Möglichkeiten aus-
tentanspruchs 1 angegebenen Art. zuwählen, um die Aktivierungsfähigkeit bezüglich einer
F i g. 1 zeigt eine herkömmliche, aus der DE-OS Belastung des Kondensators zu verbessern oder um die
30 654 bekannte Schaltung zum Erzeugen einer Sub- 65 Schaltgeschwindigkeit in jeder Stufe der Inverter des
strat-Vorspannung der gattungsgemäßen Art. sclbsterregten Oszillators 10 gemäß F i g. 2 zu erhöhen.
In dieser Vorrichtung bezeichnet die Bezugszahl 1 Dies würde den Leistungsverbrauch in dem selbsterreg-
einen Kondensator, dessen Elektrode mit einem Aus- ten Oszillator 10 erhöhen.
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Family
ID=16494137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE3244327A Expired DE3244327C2 (de) | 1981-12-17 | 1982-11-30 | Schaltung zum Erzeugen einer Substrat-Vorspannung |
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JP (1) | JPS58105563A (de) |
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---|---|---|---|---|
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-
1981
- 1981-12-17 JP JP56204658A patent/JPS58105563A/ja active Granted
-
1982
- 1982-11-04 US US06/439,215 patent/US4455628A/en not_active Ceased
- 1982-11-11 GB GB08232181A patent/GB2111336B/en not_active Expired
- 1982-11-30 DE DE3244327A patent/DE3244327C2/de not_active Expired
-
1993
- 1993-10-29 US US08/142,931 patent/USRE35141E/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58105563A (ja) | 1983-06-23 |
USRE35141E (en) | 1996-01-09 |
US4455628A (en) | 1984-06-19 |
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JPS632151B2 (de) | 1988-01-18 |
GB2111336A (en) | 1983-06-29 |
DE3244327A1 (de) | 1983-06-30 |
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OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |