DE102005041064A1

DE102005041064A1 - Oberflächenmontierbares optoelektronisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung

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Publication number: DE102005041064A1
Application number: DE102005041064A
Authority: DE
Inventors: Harald Jäger; Thomas Dr. Höfer; Raimund Dr. Schwarz; Bert Dr. Braune; Herbert Brunner
Original assignee: Osram Opto Semiconductors GmbH
Current assignee: Ams Osram International GmbH
Priority date: 2005-08-30
Filing date: 2005-08-30
Publication date: 2007-03-01
Anticipated expiration: 2025-08-31
Also published as: JP2009506556A; US20090212316A1; KR101314374B1; DE102005041064B4; KR20080042911A; JP5618481B2; CN101300688A; EP1920470A1; EP1920470B1; TWI316747B; TW200746371A; WO2007025515A1; CN101300688B

Abstract

Es wird ein oberflächenmontierbares Bauelement, mit einem optoelektronischen Halbleiterchip (1), einem Formkörper (2), der an den Halbleiterchip (1) angeformt ist, einer Montagefläche (3), die zumindest stellenweise durch eine Oberfläche des Formkörpers (2) gebildet ist, und zumindest einer Anschlussstelle (4a, 4b), die lateral vom Formkörper (2) überragt wird oder bündig mit dem Formkörper (2) abschließt, angegeben. Ferner wird ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Bauelements angegeben.

Description

Es wird ein oberflächenmontierbares optoelektronisches Bauelement sowie ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Bauelements angegeben.

Eine Aufgabe besteht darin, ein oberflächenmontierbares optoelektronisches Bauelement anzugeben, bei dem das Verhältnis von Gehäusevolumen zu Chipvolumen möglichst klein ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements, weist das oberflächenmontierbare Bauelement einen optoelektronischen Halbleiterchip auf. Bei dem optoelektronischen Halbleiterchip kann es sich um einen strahlungsempfangenden oder um einen strahlungsemittierenden Halbleiterchip handeln. Beispielsweise handelt es sich bei dem Halbleiterchip um einen Lumineszenzdiodenchip wie etwa einen Leuchtdiodenchip oder einen Laserdiodenchip. Weiter ist es möglich, dass es sich bei dem optoelektronischen Halbleiterchip um einen Fotodiodenchip handelt. Ferner kann das optoelektronische Bauelement mehrerer solcher Halbleiterchips umfassen. Das optoelektronische Bauelement kann dabei insbesondere auch einen strahlungsempfangenden und einen strahlungserzeugenden Halbleiterchip umfassen. Weiter ist es möglich, dass das optoelektronische Bauelement Lumineszenzdiodenchips umfasst, die geeignet sind elektromagnetische Strahlung von untereinander verschiedener Wellenlänge zu erzeugen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des optoelektronischen Bauelements weist das optoelektronische Bauelement einen Formkörper auf. Bevorzugt ist der Formkörper zumindest stellenweise an den optoelektronischen Halbleiterchip angeformt. Das heißt, das Material des Formkörpers – die Formmasse – steht in Kontakt mit dem Halbleiterchip. Besonders bevorzugt umhüllt der Formkörper den Halbleiterchip zumindest stellenweise formschlüssig. Der Formkörper besteht dabei aus einem Material, das zumindest für einen Teil der elektromagnetischen Strahlung, die vom optoelektronischen Halbleiterchip im Betrieb des Bauelements emittiert wird oder von diesem empfangen werden soll, durchlässig ist. Bevorzugt handelt es sich bei dem Formkörper um einen Kunststoffformkörper, der einen Kunststoff enthält oder aus einem solchen besteht. Der optoelektronische Halbleiterchip ist bevorzugt mit der Formmasse des Formkörpers umgossen oder umspritzt. Das heißt, der Formkörper ist bevorzugt mittels eines Guss- oder Pressverfahrens hergestellt. Der Formkörper stellt dabei zugleich einen Verguss des Halbleiterchips und ein Gehäuse für das Bauelement dar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist das Bauelement eine Montagefläche auf, die durch einen Teil der Oberfläche des Formkörpers gegeben ist. Die Montagefläche des Bauelements bezeichnet dabei jene Fläche des Bauelements, die einem Träger – beispielsweise einer Leiterplatte – auf die das oberflächenmontierbare Bauelement montiert ist, zugewandt ist. Die Montagefläche kann dabei eine tragende Fläche sein, mit der das Bauelement auf dem Träger aufliegt. Dazu kann die Montagefläche zumindest stellenweise mit dem Träger in mechanischem Kontakt stehen. Weiter ist es möglich, dass sich die Montagefläche mit einem Anschlussmaterial – beispielsweise einem Lot, über das das oberflächenmontierbare Bauelement elektrisch kontaktiert ist, in Kontakt befindet, Das heißt, das Anschlussmaterial benetzt dann Teile der Montagefläche und damit Teile des Formkörpers.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist das oberflächenmontierbare Bauelement zumindest eine Anschlussstelle auf.

Die Anschlussstellen des oberflächenmontierbaren Bauelements sind dabei zur elektrischen Kontaktierung des Bauelements vorgesehen. Sie befinden sich bevorzugt zumindest teilweise im Formkörper. Bevorzugt sind die Anschlussstellen an der Montagefläche des oberflächenmontierbaren Bauelements von außen zugänglich. Das heißt, an der Montagefläche des oberflächenmontierbaren Bauelements ist das Bauelement elektrisch kontaktierbar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist das Bauelement ferner Seiteflächen auf, die mittels eines Vereinzelns hergestellt sind. Die Seitenflächen sind diejenigen Flächen des Bauelements, die die Montagefläche seitlich umschließen und beispielsweise in einer Richtung quer zur Montagefläche verlaufen.

Die Seitenwände sind bevorzugt mittels Vereinzeln erzeugt. Insbesondere sind Kontur und Form der Seitenwände also nicht durch eine Guss- oder Pressprozess erzeugt, sondern mittels eines Vereinzelungsprozesses des Formkörpers. Das Vereinzeln kann beispielsweise mittels Sägen, Schneiden oder Herstellen einer Bruchkante und anschließendes Brechen erfolgen. Das heißt, beim Vereinzeln zu einzelnen Bauelementen findet bevorzugt ein Materialabtrag statt. Die Seitenflächen des Formkörpers und damit die Seitenflächen des Bauelements sind dann mittels eines Materialabtrags erzeugt. Die Seitenflächen weißen dann bevorzugt Spuren eines Materialabtrags auf. Wird bei der Herstellung des oberflächenmontierbaren Bauelements sowohl durch den Formkörper als auch durch die Anschlussstellen vereinzelt, das heißt, wird beispielsweise auch durch die Anschlussstellen gesägt, geschnitten oder gebrochen, so schließen die Anschlussstellen an den Seitenflächen, das heißt, lateral bündig mit dem Formkörper ab.

Mit anderen Worten werden die Anschlussstellen bevorzugt lateral vom Formkörper überragt oder schließen lateral bündig mit dem Formkörper ab. Lateral bezeichnet dabei diejenigen Richtungen, die in einer Ebene verlaufen, die sich parallel oder im Wesentlichen parallel zur Montagefläche erstreckt. Das heißt, die Anschlussstellen befinden sich an der Montagefläche des Bauelements und ragen nicht über die Seitenflächen des oberflächenmontierbaren Bauelements hinaus. Die Seitenflächen können zum Beispiel eben ausgebildet sein. Mit anderen Worten sind die Seitenflächen in diesem Fall vorsprungsfrei ausgebildet. Dies ist vor allem deshalb möglich, weil die Seitenflächen durch Vereinzeln erzeugt sind und die Anschlussstellen daher vom Formkörper überragt werden oder bündig mit diesem abschließen und dadurch die Anschlussstellen die Seitenflächen nicht durchstoßen oder aus ihnen hervorragen können.

An der Montagefläche des oberflächenmontierbaren Bauelements sind bevorzugt sowohl die Anschlussstellen als auch ein Teil des Formkörpers frei zugänglich.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements weist das Bauelement einen optoelektronischen Halbleiterchip, einen Formkörper, der an den Halbleiterchip angeformt ist, eine Montagefläche, die zumindest stellenweise durch eine Oberfläche des Formkörpers gebildet ist, zumindest eine Anschlussstelle, sowie Seitenflächen auf, die durch Vereinzeln erzeugt sind.

Das oberflächenmontierbare Bauelement macht sich dabei unter anderem die Idee zunutze, dass ein Formkörper, der als Verguss und Gehäuse für einen oberflächenmontierbaren optoelektronischen Chip dient, ein Bauelement ermöglicht, das einen besonders kleinen Formfaktor aufweist. Das heißt, das Verhältnis von Gehäusevolumen zu Chipvolumen ist bei diesem Bauelement besonders klein. Sind zudem noch die elektrischen Anschlussstellen des Bauelements derart angeordnet, dass sie lateral höchstens mit dem Formkörper abschließen, und diesen lateral bündig nicht überragen – das heißt, sind Seitenflächen des Bauelements durch einen Vereinzelungsprozess erzeugt, so ergibt sich ein besonders kompaktes oberflächenmontierbares optoelektronisches Bauelement. Solch ein Bauelement eignet sich beispielsweise besonders gut für den Einsatz als Lumineszenzdiode oder optischer Detektor in besonders kleinen Geräten wie Handys, Fotohandys oder Digitalbildkameras. Bei diesen Geräten ist nur sehr begrenzt Raum für die Montage optoelektronischer Komponenten vorhanden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des optoelektronischen Bauelements ist der Formkörper an die Anschlussstellen des Bauelements angeformt. Das heißt, bevorzugt fasst der Formkörper die Anschlussstellen des Bauelements zumindest stellenweise formschlüssig ein. Die Anschlussstellen weisen dabei vorzugsweise jeweils eine Fläche auf, über die sie von außerhalb des Bauelements elektrisch kontaktierbar sind. Das heißt, zumindest an der Anschlussfläche ist die Anschlussstelle dann nicht vom Formkörper eingefasst.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des optoelektronischen Bauelements weist zumindest eine Anschlussstelle des Bauelements eine Verankerungsstruktur auf, die geeignet ist, eine Haftung des Formkörpers an der Anschlussstelle zu verbessern. Die Verankerungsstruktur kann dabei beispielsweise durch eine Aufrauung der Oberfläche der Anschlussstelle gegeben sein. Dabei sind aufgeraute Bereiche der Oberfläche der Anschlussstelle in Kontakt mit dem Formkörper. Durch das Aufrauen der Oberfläche der Anschlussstelle erhöht sich die Kontaktfläche zwischen Anschlussstelle und Formkörper.

Weiter kann die Verankerungsstruktur durch eine Unterschneidung der Anschlussstelle gegeben sein. Die Anschlussstelle weist in diesem Fall einen Überstand auf, der einem Delaminieren des Formkörpers entgegenwirkt. Besonders bevorzugt können die Verankerungsstrukturen auch als Widerhaken ausgebildet sein, die in den Formkörper eingreifen und diesen an den Anschlussstellen festhalten und fixieren.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist zumindest eine der Anschlussstellen des Bauelements eine pilzförmige Struktur auf. Dabei ist die Kappe der pilzförmig ausgebildeten Anschlussstelle bevorzugt auf der der Montagefläche des Bauelements abgewandten Seite der Anschlussstelle angeordnet. Eine solche pilzförmig ausgebildete Anschlussstelle kann vor allem ein Ablösen der Vergussmasse in Richtung von der Montagefläche weggerichtet hemmen oder verhindern. Beispielsweise kann eine solche pilzförmige Anschlussstelle durch Unterätzen oder Unterschneiden einer metallischen Anschlussstelle erzeugt sein.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist zumindest eine der Anschlussstellen des Bauelements eine geätzte Struktur auf. Beispielsweise handelt es sich bei der geätzten Struktur um eine Unterätzung. Die geätzte Struktur befindet sich dabei bevorzugt innerhalb des Formkörpers und ist von diesem formschlüssig eingefasst. Aufgrund der Unterätzung weist die Anschlussstelle bevorzugt in Richtung von der Montagefläche weggerichtet einen sprunghaft größer werdenden Durchmesser auf. Der Teil des Formkörpers, der an der Unterätzung an die Anschlussstelle angeformt ist, wirkt daher einem Ablösen des Formkörpers in Richtung von der Montagefläche weggerichtet entgegen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist zumindest eine der Anschlussstellen des oberflächenmontierbaren Bauelements eine Montagefläche auf, auf die der optoelektronische Halbleiterchip befestigt ist. Die Montagefläche der Anschlussstelle ist dabei bevorzugt durch eine der Montagefläche des optoelektronischen Halbleiterchips abgewandte Fläche der Anschlussstelle gebildet. Der Chip kann beispielsweise leitend mit der Montagefläche der Anschlussstelle verbunden sein. Dazu kann der Chip auf die Montagefläche gebondet, gelötet oder elektrisch leitend geklebt sein. Ein zweiter elektrischer Kontakt des optoelektronischen Halbleiterchips ist dann zum Beispiel durch eine Drahtkontaktierung gegeben, wobei ein Draht mit einer weiteren Anschlussstelle des Bauelements verbunden sein kann.

Weiter ist es möglich, dass der Chip elektrisch nicht leitend mit der Anschlussstelle, auf die er aufgebracht ist, verbunden ist. Ein elektrisches Kontaktieren des Chips kann dann durch zwei Drahtkontaktierungen realisiert sein, wobei Drähte mit zwei weiteren Anschlussstellen des Bauelements verbunden sind.

Darüber hinaus ist es auch möglich, dass der optoelektronische Halbleiterchip auf die Montageflächen zweier unterschiedlicher Anschlussstellen in so genanter Flip-Chip-Technik aufgebracht ist. Eine Drahtkontaktierung kann in dieser Ausführungsform entfallen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist zumindest eine der Anschlussstellen des Bauelements eine Montagefläche auf, auf die ein ESD (electro static discharge) Schutzelement aufgebracht ist. Dabei kann es sich um diejenige Anschlussstelle handeln, auf die auch der Chip schon aufgebracht ist. Bevorzugt ist das ESD-Schutzelement jedoch auf eine weitere Anschlussstelle aufgebracht. Das ESD-Schutzelement ist geeignet, Spannungsspitzen, die beispielsweise in Sperrrichtung des optoelektronischen Halbleiterchips auftreten, abzuleiten. Bei dem ESD-Schutzelement handelt es sich beispielsweise um eines der folgenden Komponenten: Varistor, Leuchtdiodenchip, Zenerdiode, Widerstand. Das ESD-Schutzelement ist dabei parallel beziehungsweise antiparallel zum optoelektronischen Halbleiterchip verschaltet.

Handelt es sich bei dem ESD-Schutzelement etwa um einen Leuchtdiodenchip, so ist dieser antiparallel zum optoelektronischen Halbleiterchip verschaltet. Dieser Leuchtdiodenchip kann dann ebenfalls zur Strahlungserzeugung genutzt werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist zumindest eine der Anschlussstellen des Bauelements eine Anschlussfläche auf, über die der Halbleiterchip elektrisch kontaktiert werden kann. Die Anschlussfläche ist bevorzugt von außerhalb des Bauelements elektrisch kontaktierbar. Beispielsweise ist die Anschlussfläche durch die Fläche der Anschlussstelle gegeben, die der Montagefläche des Bauelements zugewandt ist. Die Anschlussfläche der Anschlussstelle ist dann zum Beispiel einer Montagefläche der Anschlussstelle abgewandt. Bevorzugt ist die Anschlussstelle an der Montagefläche des Bauelements frei zugänglich und dort elektrisch kontaktierbar. Besonders bevorzugt weist jede Anschlussstelle des Bauelements eine solche Anschlussfläche auf.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements schließt die Anschlussfläche zumindest einer Anschlussstelle des Bauelements bündig mit der Montagefläche des Bauelements ab. Das heißt, die Anschlussstelle überragt die Montagestelle nicht. Mit anderen Worten ist die Montagefläche im Bereich der Anschlussstelle durch die Anschlussfläche der Anschlussstelle gebildet. Eine solche Ausführungsform der Anschlussfläche resultiert zu einem besonders kompakten oberflächenmontierbaren Bauelement bei dem die äußere Form lediglich durch den Formkörper bestimmt ist, und keine weiteren Komponenten aus diesem hervorragen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ragt die Anschlussfläche zumindest einer Anschlussstelle des Bauelements über die Montagefläche des Bauelements hinaus. Das heißt, die Anschlussstelle steht in dieser Ausführungsform des Bauelements zumindest ein wenig über die Montagefläche des Bauelements über. Besonders bevorzugt ist der Überstand der Anschlussstelle klein gegen die Gesamthöhe des oberflächenmontierbaren Bauelements. Die Gesamthöhe des Bauelements ist dabei durch den Abstand der Anschlussfläche der Anschlussstelle zu der der Montagefläche gegenüberliegenden Oberfläche des Bauelements gegeben. In dieser Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements sind die Anschlussstellen besonders leicht von außen zugänglich und kontaktierbar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ist die Anschlussfläche zumindest einer der Anschlussstellen des Bauelements in einer Ausnehmung der Montagefläche angeordnet. Das heißt, die Montagefläche weist beispielsweise ein Loch auf, über das die Anschlussfläche zugänglich ist. Die Anschlussfläche befindet sich in dieser Ausführungsform vollständig im Formkörper. Ein Anschlussmaterial – beispielsweise eine Lot – kann etwa durch Kapillarkräfte in die Ausnehmung der Montagefläche gezogen werden und kontaktiert auf diese Weise das oberflächenmontierbare Bauelement an der Anschlussfläche. Weiter ist es möglich, dass die Anschlussfläche derart mit einem Anschlussmaterial beschichtet ist, dass das Anschlussmaterial bündig mit der Montagefläche des Bauelements abschließt oder diese geringfügig überragt. Diese Bauform des oberflächenmontierbaren Bauelements resultiert in einer besonders flachen Montage des Bauelements. Das Bauelement kann mit seiner Montagefläche direkt auf einem Träger aufliegen, wobei sich kein oder kaum Anschlussmaterial zwischen Träger und Montagefläche befindet.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ist zumindest eine Anschlussfläche des Bauelements zumindest stellenweise mit einem Material beschichtet, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper zu verbessern. Dabei sind bevorzugt nur Bereiche der Anschlussstellen beschichtet, die sich in Kontakt mit dem Formkörper befinden. Insbesondere die Anschlussfläche der Anschlussstelle bleibt vorzugsweise von dem Material frei. Besonders bevorzugt sind alle Anschlussstellen des Bauelements mit dem Material beschichtet.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ist der optoelektronische Halbleiterchip zumindest stellenweise mit dem Material beschichtet, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper zu verbessern.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ist das ESD-Schutzelement, das dem optoelektronischen Halbleiterchip parallel oder antiparallel geschaltet ist, zumindest stellenweise mit dem Material beschichtet, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper zu verbessern.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements ist ein Kontaktierungsdraht, der zur elektrischen Kontaktierung der optoelektronischen Halbleiterchips vorgesehen ist, zumindest stellenweise mit dem Material beschichtet, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper zu verbessern.

Bevorzugt sind alle Kontaktierungsdrähte des Bauelements in dieser Weise mit dem Material beschichtet.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements sind alle Komponenten des Bauelements, die sich innerhalb des Formkörpers befinden, zumindest stellenweise mit dem Material beschichtet, das geeignet ist, eine Haftung zwischen den Komponenten des Bauelements und dem Formkörper zu verbessern.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält das Material, das zur Verbesserung der Haftung an den Formkörper geeignet ist, ein Silikat. Bevorzugt wird die Silikatschicht vor dem Vergießen oder Umspritzen des Bauelements mit dem Formkörper aufgebracht. Beispielsweise wird die Silikatschicht mittels Flammenpyrolyse aufgebracht. Auf diese Weise ist es möglich, eine Schicht aufzubringen, die maximal 40 Nanometer, bevorzugt maximal 20 Nanometer, besonders bevorzugt maximal 5 Nanometer dick ist. Bei einer auf diese Weise aufgebrachten Silikatbeschichtung handelt es sich dann um eine extrem dünne, sehr dichte, festhaltende Schicht, die eine große Oberflächenenergie aufweist und daher geeignet ist, die Haftung des Formkörpers an die Komponenten des Bauelements wie Anschlussstellen, Chip, ESD-Schutzelement und Kontaktierungsdrähte zu verbessern.

Zumindest in einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper ein Silikon. Bevorzugt enthält der Formkörper eine reaktionshärtende Silikonformmasse oder besteht aus einer solchen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper ein Epoxidharz oder besteht aus einem solchen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper ein Epoxid-Silikon-Hybridmaterial oder besteht aus einem solchen. Bei Formmassen, die neben einem Epoxidharz auch ein Silikon enthalten, ist die Alterungsstabilität des Formkörpers verbessert. Der Formkörper ist dann beispielsweise besonders stabil gegen ultraviolette Strahlung. Weiter kann die Formmasse beispielsweise mittels des Mischverhältnisses von Silikon und Epoxidharz an die Anforderungen des Bauelements und des Herstellungsprozesses angepasst sein. So härten Epoxid-Silikon-Hybridmaterialien in der Regel schneller aus, als reine Silikonformmassen und zeichnen sich durch eine verbesserte mechanische Stabilität aus. Ein Formkörper aus diesem Material lässt sich daher leichter aus einem Guss oder Presswerkzeug entfernen. Zudem sind kürzere Prozesszeiten möglich, was eine kostengünstigere Herstellung des Bauelements ermöglicht. Besonders vorteilhaft erweist sich dabei zum Beispiel eine Formmasse, die circa 50 Prozent Silikon und circa 50 Prozent Epoxidharz enthält.

Das hier beschriebene oberflächenmontierbare Bauelement macht sich dabei unter anderem die Erkenntnis zunutze, dass mittels geeigneter Ausführung der Anschlussstellen – beispielsweise durch Anschlussstellen mit Verankerungsstrukturen oder pilzförmige Anschlussstellen, einer Beschichtung der Komponenten mit einem Material, das die Haftung zwischen Formkörper und Komponenten des Bauelements verbessert und einer Formmasse, die ein Silikon enthält ein mechanisch besonders stabiles Bauelement erreicht ist. Die Kombination der beschriebenen Maßnahmen ergibt ein Bauelement mit sehr geringer Delaminierungsneigung, hoher mechanischer Stabilität und verbesserten Alterungseigenschaften. Durch die Anordnung der Anschlussstellen des Bauelements an der Montagefläche ist zudem eine sehr kompakte Bauform realisiert.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper Diffusorpartikel. Bei den Diffusorpartikeln handelt es sich um Partikel, die geeignet sind vom optoelektronischen Halbleiterchip zu emittierende oder zu empfangende elektromagnetische Strahlung zu streuen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper strahlungsabsorbierende Partikel, die geeignet sind, elektromagnetische Strahlung eines bestimmten Wellenlängenbereichs zu absorbieren. Solche Partikel können im Bauelement als Filter eingesetzt werden. Handelt es sich bei dem optoelektronischen Halbleiterchip beispielsweise um einen Detektor, ist auf diese Weise ein Detektor realisiert, der in einem bestimmten Wellenlängenbereich eine besonders große Empfindlichkeit aufweist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper Glasfasern. Die Glasfasern können beispielsweise die mechanische Stabilität des Formkörpers weiter verbessern.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements enthält der Formkörper ein Formtrennmittel. Das Formtrennmittel kann sich bei der Herstellung des Bauelements als besonders vorteilhaft erweisen, da unter Verwendung des Formtrennmittels das Ablösen des Formkörpers aus dem Guss- oder Presswerkzeug erleichtert ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform enthält der Formkörper ein Lumineszenzkonversionsmaterial. Das Lumineszenzkonversionsmaterial ist bevorzugt geeignet, zumindest einen Teil einer vom optoelektronischen Halbleiterchip im Betrieb emittierten und/oder vom Halbleiterchip zu empfangenen elektromagnetischen Strahlung eines ersten Wellenlängenbereichs zu absorbieren und elektromagnetische Strahlung zu emittieren, die aus einem zweiten Wellenlängenbereich stammt, der vom ersten Wellenlängenbereich verschieden ist. Insbesondere anorganische Leuchtstoffpulver lassen sich auf besonders einfache Weise in silikonhaltige Formmassen einmischen. Beispielhaft seien diesbezüglich Cer-dotierte Yttriumaluminiumgranat- und Cer-dotierte Terbiumaluminiumgranatpulver genannt. Geeignete organische und anorganische Leuchtstoffe sind beispielsweise in den Druckschriften WO 01/50540A1 und WO 98/12757A1 aufgeführt, deren Offenbarungsgehalt die Leuchtstoffe betreffend hiermit durch Rückbezug aufgenommen ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist der Formkörper eine weitere innere Schicht auf. Die innere Schicht des Formkörpers ist an den optoelektronischen Halbleiterchip angeformt. Das heißt, die innere Schicht fasst den optoelektronischen Halbleiterchip ein. Ferner weist der Formkörper eine äußere Schicht auf, die vom Halbleiterchip entfernt liegt und beispielsweise durch die der Montagefläche abgewandten Oberfläche des Formkörpers begrenzt ist. Zwischen der äußeren und der inneren Schicht befindet sich dann eine Schicht, die ein Lumineszenzkonversionsmaterial enthält. Das heißt, die Leuchtstoffpartikel des Lumineszenzkonversionsmaterials sind in einer Schicht über dem optoelektronischen Halbleiterchip angeordnet. Bevorzugt sind die innere und die äußere Schicht dabei frei von einem Lumineszenzkonversionsmaterial. Diese Schichten können jedoch andere Materialien wie beispielsweise lichtstreuende Partikel enthalten.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des oberflächenmontierbaren Bauelements weist der Formkörper des Bauelements eine linsenartig ausgebildete Strahlungsdurchtrittsfläche auf. Die Strahlungsdurchtrittsfläche ist dabei beispielsweise durch die der Montagefläche abgewandte Oberfläche des Formkörpers gebildet. Linsenartig ausgebildet kann dabei heißen, dass die Strahlungsdurchtrittsfläche eine Krümmung aufweist. Zum Beispiel kann die Strahlungsdurchtrittsfläche konvex nach außen gewölbt sein. Die Strahlungsdurchtrittsfläche kann dann nach Art eines sphärischen, einer elliptischen oder einer asphärischen Linse gewölbt sein. Die Krümmung der Strahlungsdurchtrittsfläche kann zum einen zur Strahlformung aus dem Bauelement austretender oder in das Bauelement eintretender elektromagnetischer Strahlung dienen. Zum anderen ist es möglich, dass sich aufgrund der Krümmung der Strahlungsdurchtrittsfläche die Wahrscheinlichkeit für den Lichtaustritt aus dem Formkörper erhöht. Dies ist dadurch begründet, dass beispielsweise eine sphärische Krümmung der Strahlungsdurchtrittsfläche die Wahrscheinlichkeit für Totalreflexion vor. elektromagnetischer Strahlung beim Austritt aus dem Formkörper reduziert.

Ferner wird ein Verfahren zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements angegeben. Beispielsweise kann mittels des Verfahrens ein Bauelement nach einem der vorherigen Ausführungsformen hergestellt werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird zunächst eine Vielzahl von optoelektronischen Halbleiterchips in der Kavität eines Press- oder Gusswerkzeuges angeordnet. Die optoelektronischen Halbleiterchips sind dabei beispielsweise schon auf Anschlussstellen aufgebracht und elektrisch zum Beispiel mittels Anschlussdrähte kontaktiert. Die Anschlussstellen können zum Beispiel auf einem gemeinsamen Substrat aufgebracht sein. Weiter ist es möglich, dass die Anschlussstellen teil eines Leiterrahmens (Leadframes) oder einer Folie sind.

Anschließend werden die Halbleiterchips mit einem gemeinsamen Formkörper umhüllt. Das heißt, die optoelektronischen Halbleiterchips werden zusammen mit den anderen Komponenten des Bauelements gemeinsam in der Kavität vergossen oder umspritzt. Auf diese Weise entsteht ein Block mit einer Vielzahl von optoelektronischen Halbleiterchips, die von einer gemeinsamen Formmasse umgeben sind. Nach dem Aushärten der Formmasse bildet die Formmasse einen Formkörper, der an die optoelektronischen Halbleiterchips angeformt ist.

In einem folgenden Verfahrensschritt wird der gemeinsame Formkörper dann zur Vereinzelung der Bauelemente durchtrennt. Dabei ist es nicht zwingend erforderlich, dass Bauelemente mit jeweils nur einem einzigen optoelektronischen Halbleiterchip erzeugt werden. Es ist zum Beispiel auch möglich, dass mehrere optoelektronische Halbleiterchips in einem einzelnen Bauelement zusammengefasst sind. Dabei kann es sich insbesondere auch um unterschiedliche optoelektronische Halbleiterchips handeln wie beispielsweise Lumineszenzdioden unterschiedlicher Emissionswellenlänge oder Lumineszenzdiodenchips und Fotodiodenchips.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren Bauelements wird zum Vereinzeln des Bauelements ausschließlich der Formkörper durchtrennt. Das heißt, zur Vereinzelung des Bauelements wird nicht durch die Anschlussstellen des Bauelements vereinzelt. In diesem Fall sind die Anschlussstellen allseitig vom Formkörper umgeben und nur an ihrer Anschlussflächen an der Montagefläche des Bauelements zugänglich. Der Formkörper überragt dann die Anschlussstellen in lateraler Richtung.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren Bauelements wird beim Vereinzeln der Bauelemente zumindest eine Anschlussstelle des Bauelements durchtrennt. Das heißt, es wird nicht nur durch den Formkörper vereinzelt, sondern auch durch zumindest eine Anschlussstelle des Bauelements. Es resultiert dann ein Bauelement, bei dem der Formkörper lateral bündig mit einer Anschlussstelle abschließt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren Bauelements erfolgt das Vereinzeln mittels Sägen oder Schneidens.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren Bauelements sind die Anschlussstellen durch einen Leiterrahmen gebildet. Der Leiterrahmen kann beispielsweise aus einem gut elektrisch leitenden Material wie Kupfer gebildet sein. Sind die Anschlussstellen als Teil eines Leiterrahmens ausgebildet, so wird bevorzugt durch die Anschlussstellen vereinzelt. Der Leiterrahmen weist zwischen den Anschlussstellen bevorzugt Ausnehmungen auf, die beim Umspritzen oder Vergießen mit der Formmasse gefüllt werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren Bauelements sind die Anschlussstellen durch den Teil einer Kunststofffolie gegeben, die eine elektrisch leitende Beschichtung beispielsweise aus Kupfer aufweist. Das heißt, die einzelnen Anschlussstellen sind durch eine Kunststofffolie miteinander verbunden die nach dem Umspritzen oder Vergießen mit der Formmasse entweder entfernt wird oder sich innerhalb des Formkörpers befindet. Beim Vereinzeln der Bauelemente wird dann gegebenenfalls sowohl durch die Anschlussstellen als auch durch die Kunststofffolie vereinzelt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform enthält die Formmasse die nach dem Aushärten den Formkörper bildet, zumindest eines der folgenden Materialen: Epoxid, Silikon, Epoxid-Silikon-Hybridmaterial. Bevorzugt sind diese Materialien dabei reaktionshärtend. Die Formmasse kann dabei vor dem Umgießen oder Umspritzen in flüssiger oder pastoröser Form vorliegen.

Besonders bevorzugt handelt es sich bei der Formmasse um ein vorreagiertes Material, das vor dem Weiterverarbeiten in Festform vorliegt. Dies erweist sich insbesondere auch für Epoxid-Silikon-Hybridmaterialien als besonders vorteilhaft für die Weiterverarbeitung.

Das hier beschriebene Verfahren macht sich dabei unter anderem die folgende Erkenntnis zunutze. Insbesondere Formmassen, die ein Silikon enthalten, weisen bei der Verarbeitung in einem Guss- oder Presswerkzeug eine besonders niedrige Viskosität auf. Diese niedrige Viskosität führt beim Vergießen von Bauelementen in Einzelkavitäten zu vermehrter Grat- oder Flash-Bildung. Dickenschwankungen und Schwankungen der Oberflächenrauhigkeit beispielsweise eines Substrats, auf dem sich die Anschlussstellen befinden, können beim Umhüllen in Einzelkavitäten nur schwer ausgeglichen werden. Es hat sich aber gezeigt, dass diese Schwierigkeiten bei der Verwendung silikonhaltiger Formmassen durch ein Umgießen von mehreren optoelektronischen Bauelementen in einer einzigen Kavität vermieden werden können.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des hier beschriebenen Verfahrens werden die Komponenten des Bauelements vor dem Umhüllen mit der Formmasse mit einem Material beschichtet, das geeignet ist, die Haftung zum Formkörper zu erhöhen. Bei dem Material handelt es sich vorzugsweise um ein Silikat. Das Material kann dabei mittels Flammenpyrolyse auf die Komponenten des Bauelements aufgebracht werden. Auf diese Weise entsteht eine maximal 40 Nanometer, bevorzugt maximal 20 Nanometer, besonders bevorzugt maximal 5 Nanometer dicke Schicht aus Silikat, die zumindest Teile der Komponenten des Bauelements umhüllt und eine besonders gute Haftung zur Formmasse vermittelt.

Im Folgenden wird die hier beschriebene Leuchtdiodenanordnung anhand von Ausführungsbeispielen und den dazugehörigen Figuren näher erläutert.
1a zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines ersten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
1b zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
1c zeigt eine schematische Aufsicht auf die Montagefläche eines dritten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
2a zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines vierten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
2b zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines fünften Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
3a zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines sechsten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
3b zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines siebten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
4 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines achten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
5 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines neunten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
6 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines zehnten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
7 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines elften Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
8 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines zwölften Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
9a, 9b, 9c, 9d, 9e, 9f und 9g zeigen schematische Schnittdarstellungen zur Erläuterung eines ersten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen Verfahrens.
10 zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines mittels eines zweiten Ausführungsbeispiels des Verfahrens hergestellten oberflächenmontierbaren Bauelements.
In den Ausführungsbeispielen und Figuren sind gleiche oder gleich wirkende Bestandteile jeweils mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Die dargestellten Elemente sind nicht als maßstabsgerecht anzusehen, vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis übertrieben groß dargestellt sein.
1a zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines ersten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements.
Das oberflächenmontierbare optoelektronische Bauelement weist einen optoelektronischen Halbleiterchip 1 auf. Bei dem optoelektronischen Halbleiterchip 1 handelt es sich beispielsweise um einen Lumineszenzdiodenchip – etwa um einen Laserdiodenchip oder einen Leuchtdiodenchip. Es kann sich beim optoelektronischen Halbleiterchip 1 aber auch um einen Detektorchip wie beispielsweise eine Fotodiode handeln. Beispielsweise handelt es sich bei dem Halbleiterchip 1 dann um einen Si-Fotodiodenchip.
Bevorzugt handelt es sich bei dem optoelektronischen Chip 1 um ein in Dünnfilmtechnik hergestelltes optoelektronisches Halbleiterbauelement. Das heißt, in wenigstens einem Ausführungsbeispiel weist der Halbleiterchip 1 eine Strahlungsauskoppelfläche auf, durch die ein Großteil der vom Halbleiterchip 1 emittierten elektromagnetischen Strahlung ausgekoppelt wird. Besonders bevorzugt tritt die gesamte vom Halbleiterchip 1 emittierte Strahlung durch die Strahlungsauskoppelfläche aus. Die Strahlungsauskoppelfläche ist beispielsweise durch einen Teil der Oberfläche des Halbleiterchips 1 gegeben. Bevorzugt ist die Strahlungsauskoppelfläche durch eine Hauptfläche des Halbleiterchips 1 gegeben, die beispielsweise parallel zu einer Epitaxieschichtenfolge des Halbleiterchips 1 angeordnet ist, welche geeignet ist, elektromagnetische Strahlung zu erzeugen.
Dazu kann die Epitaxieschichtenfolge beispieisweise einen pn-Übergang, eine Doppelheterostruktur, einen Einfach-Quantentopf oder besonders bevorzugt eine Mehrfach-Quantentopfstruktur (MQW) aufweisen. Die Bezeichnung Quantentopfstruktur umfasst im Rahmen der Anmeldung jegliche Struktur, bei der Ladungsträger durch Einschluss ("confinement") eine Quantisierung ihrer Energiezustände erfahren. Insbesondere beinhaltet die Bezeichnung Quantentopfstruktur keine Angabe über die Dimensionalität der Quantisierung. Sie umfasst somit unter Anderem Quantentröge, Quantendrähte und Quantenpunkte und jede Kombination dieser Strukturen.
Bevorzugt handelt es sich bei dem Halbleiterchip 1 um einen Halbleiterchip bei dem das Aufwachssubstrat zumindest teilweise entfernt ist und auf dessen dem ursprünglichen Aufwachssubstrat abgewandte Oberfläche ein Trägerelement aufgebracht ist.
Das Trägerelement kann, verglichen mit einem Aufwachssubstrat, relativ frei gewählt werden. Bevorzugt wird ein Trägerelement gewählt, das hinsichtlich seines Temperaturausdehnungskoeffizienten besonders gut an die strahlungserzeugende Epitaxieschichtenfolge angepasst ist. Weiter kann das Trägerelement ein Material enthalten, das besonders gut Wärme leitend ist. Auf diese Weise wird die im Betrieb vom Halbleiterchip 1 erzeugte Wärme besonders effizient an die Anschlussstelle 4a abgeführt.
Solche, durch das Entfernen des Aufwachssubstrats hergestellten Halbleiterchips 1, werden oftmals als Dünnfilmhalbleiterchips bezeichnet und zeichnen sich bevorzugt durch die folgenden Merkmale aus:

– An einer zum Trägerelement hingewandten ersten Hauptfläche der strahlungserzeugenden Epitaxieschichtenfolge ist eine reflektierende Schicht oder Schichtenfolge aufgebracht oder ausgebildet, die zumindest einen Teil der in der Epitaxieschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung in diese zurückreflektiert.
– Die Epitaxieschichtenfolge weist bevorzugt eine Dicke von maximal 20 μm, besonders bevorzugt von maximal 10 μm auf.
– Weiter enthält die Epitaxieschichtenfolge bevorzugt mindestens eine Halbleiterschicht mit zumindest einer Fläche, die eine Durchmischungsstruktur aufweist. Im Idealfall führt diese Durchmischungsstruktur zu einer annähernd ergodischen Verteilung des Lichts in der Epitaxieschichtenfolge, d.h. sie weist ein möglichst ergodisch, stochastisches Streuverhalten auf.

Ein Grundprinzip eines Dünnfilmhalbleiterchips ist beispielsweise in der Druckschrift I. Schnitzer at al., Appl. Phys. Lett. 63(16), 18. Oktober 1993, Seiten 2174 bis 2176 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt das Grundprinzip eines Dünnfilmhalbleiterchips betreffend hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.
Ein solcher in Dünnfilmchip hergestellter optoelektronischer Halbleiterchip hat dabei unter anderem den Vorteil, dass er wegen seiner geringen Höhe ein oberflächenmontierbares Bauelement besonders geringer Bauhöhe ermöglicht.
Der optoelektronische Halbleiterchip 1 des Ausführungsbeispiels der 1 ist auf eine Anschlussstelle 4a des Bauelements aufgebracht und mit dieser elektrischer kontaktiert. Beispielsweise ist der optoelektronische Halbleiterchip 1 auf die Anschlussstelle 4a gelötet, leitend geklebt oder gebondet. Die Anschlussstelle 4a kann dazu eine Beschichtung 5 aufweisen, die die Kontaktierbarkeit des Halbleiterchips an der Anschlussstelle 4a verbessert. Die Beschichtung 5 kann zum Beispiel Gold enthalten.
Die Anschlussstellen 4a, 4b des oberflächenmontierbaren Bauelements enthalten zum Beispiel Kupfer oder bestehen aus Kupfer. Sie sind bevorzugt durch eine Abfolge von Ätzschritten und galvanischen Beschichtungsschritten erzeugt. Die Anschlussstellen 4a, 4b weisen inklusive Beschichtung 5 bevorzugt eine Höhe von 30 bis 60 μm auf.
Die Anschlussstellen 4a, 4b des Ausführungsbeispiels der 1 sind pilzförmig ausgebildet. Sie weisen eine Verankerungsstruktur 13 auf, die als Vorsprung oder Überhang ausgebildet ist. Die Länge des Vorsprungs beträgt dabei in lateraler Richtung, das heißt in Richtung parallel zur Montagefläche 3 des Bauelements, wenigstens 3 μm. Die Höhe der Anschlussstellen 4a und 4b bis zum Überhang beträgt wenigstens 20 μm. Der Abstand zwischen den beiden Anschlussstellen 4a und 4b des in Verbindung mit 1 beschriebenen Ausführungsbeispiels des oberflächenmontierbaren Bauelements beträgt bevorzugt wenigstens 140 μm.
Der optoelektronische Halbleiterchip 1 ist im Ausführungsbeispiel der 1 durch einen Kontaktierungsdraht 7 mit der zweiten Anschlussstelle 4b des Bauelements elektrisch leitend verbunden. Der Kontaktierungsdraht 7 ist beispielsweise durch einen Golddraht gegeben. Die zweite Anschlussstelle 4b kann zur Verbesserung der Kontaktierbarkeit des Kontaktierungsdrahtes 7 ebenfalls eine Beschichtung 5 aufweisen. Der Kontaktierungsdraht 7 ist zum Beispiel mittels eines Bondpads 6 auf der Oberseite des optoelektronischen Halbleiterchips 1 kontaktiert.
An die Komponenten des Bauelements wie den optoelektronischen Halbleiterchip 1, die Anschlussstellen 4a, 4b und den Kontaktierungsdraht 7 ist zumindest stellenweise ein Formkörper 2 angeformt. Der Formkörper 2 enthält bevorzugt zumindest eines der folgenden Materialien: Epoxidharz, Silikon, Epoxid-Silikon-Hybridmaterial. Bevorzugt enthält der Formkörper 2 ein Epoxid-Silikon-Hybridmaterial mit einem Anteil von circa 50 Prozent Silikon und circa 50 Prozent Epoxid. Dabei kann es sich um ein reaktionshärtendes Material handeln, das vor dem Anformen an die Komponenten des Bauelements vorreagiert worden ist. Der Formkörper 2 ist zumindest teilweise für vom optoelektronischen Halbleiterchip 1 auszusendende oder zu empfangende elektromagnetische Strahlung durchlässig. Das heißt, der Formkörper 2 ist zumindest in einem bestimmten Wellenlängenbereich für elektromagnetische Strahlung transparent oder transluzent.
Die Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements sind nach dem Aushärten des Formkörpers 2 mittels Vereinzeln erzeugt. Das heißt, sie sind beispielsweise mittels Sägen, Schneidens oder Brechens erzeugt, wobei beim Brechen zunächst eine Sollbruchkante erzeugt wird. Die Seitenflächen 2a, 2b können also Spuren eines Materialabtrags aufweisen. Die Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements sind daher im Wesentlichen eben oder glatt ausgebildet. Insbesondere sind die Seitenflächen 2a, 2b frei von makroskopischen Vorsprüngen. Das heißt es ragen beispielsweise keine Anschlussstellen des Bauelements aus den Seitenflächen 2a, 2b hervor. Der Formkörper überragt die Anschlussstellen 4a, 4b also in lateraler Richtung, das heißt in einer Richtung parallel zur Montagefläche 3 und quer zu den Seitenflächen 2a, 2b.
Die Unterseite des Formkörpers bildet zumindest einen Teil der Montagefläche 3 des Bauelements. Bei dem oberflächenmontierbaren Bauelement ist die Montagefläche 3 einem Bauelementträger (nicht gezeigt) zugewandt und kann sich zumindest stellenweise mit solch einem Bauelementträger in Kontakt befinden.
Auf die der Montagefläche 3 zugewandten Anschlussflächen 80a, 80b der Anschlussstellen 4a, 4b ist jeweils eine Lotschicht 8a, 8b aufgebracht. Die Lotschichten 8a, 8b sind zum Beispiel durch eine Nickel-Gold-Schichtfolge gegeben. Das Bauelement kann dann zum Beispiel durch einen Reflow-Lötprozess montierbar sein.
Die Länge L des Bauelements des Ausführungsbeispiels der 1 beträgt bevorzugt zwischen 1,5 und 2,1 Millimeter, besonders bevorzugt circa 1,8 Millimeter. Die Gesamthöhe H plus h des Bauelements beträgt zwischen 0,5 und 0,9 Millimeter, bevorzugt 0,7 Millimeter. Dabei beträgt die Höhe H des Formkörpers wenigstens 0,3 Millimeter.
1b zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements.
Abweichend vom Ausführungsbeispiel der 1 sind die Anschlussstellen 4a, 4b in diesem Ausführungsbeispiel durch Teile eines Leiterrahmens gegeben. Der Leiterrahmen ist dabei durch wenigstens einen Ätzprozess strukturiert und weist Überhänge 14 auf, die zur Verankerung der Anschlussstellen 4a, 4b in der Formmasse 2 dienen. Ebenfalls im Unterschied zum Ausführungsbeispiel der 1a sind die Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements in diesem Ausführungsbeispiel stellenweise durch die Anschlussstellen 4a, 4b gebildet. Das heißt, im in Verbindung mit 1b beschriebenen Ausführungsbeispiel des Bauelements schließt der Formkörper 2 lateral bündig mit den Anschlussstellen 4a, 4b ab. Lateral bezeichnet dabei diejenige Richtung, die quer zu den Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements verläuft. Das heißt, die Anschlussstellen 4a, 4b überragen die Montagefläche 3 lateral nicht. Die Anschlussstellen 4a, 4b stehen nicht über die Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements über, sondern schließen bündig mit diesen ab.
1c zeigt eine Aufsicht auf die Montagefläche 3 eines dritten Ausführungsbeispiels eines der hier beschriebenen optoelektronischen Bauelemente. Beispielsweise kann es sich um die Unterseite eines Bauelements gemäß oder ähnlich der 1a oder 1b handeln.
Auf der Unterseite des oberflächenmontierbaren Bauelements an der Montagefläche 3, die durch eine Oberfläche des Formkörpers 2 gebildet ist, sind die Anschlussflächen 80a, 80b der Anschlussstellen 4a, 4b frei zugänglich. Beispielsweise sind diese Anschlussstellen mit einer oben beschriebenen Beschichtung 8a, 8b versehen.
Die Anschlussstellen 4b können dabei durch eine Mehrzahl von Anschlussstellen – im Ausführungsbeispiel der 1c sind es vier Anschlussstellen 4b – gegeben sein. Die Anschlussstellen 4a und 4b des Bauelements sind dann unterschiedlich dimensioniert. Das heißt, das Bauelement weist unterschiedlich dimensionierte Anschlussstellen 4a, 4b auf. Es ist aber auch möglich, dass lediglich eine einzelne zweite Anschlussstelle 4b vorhanden ist, deren Anschlussfläche 80b beispielsweise die gleichen Abmessungen wie die Anschlussfläche 80b der ersten Anschlussstelle 4a aufweisen kann.
Im Ausführungsbeispiel der 1c beträgt die Länge der Anschlussstellen 4a l = 1,7 +/– 0,035 Millimeter. Die Länge L des Bauelements beträgt 1,8 +/– 0,05 Millimeter. Die Breite der Anschlussfläche 80a beträgt l – T = 1,15 +/– 0,05 Millimeter. Der Abstand der Anschlussflächen 80a, 80b von den Seitenflächen 2a, 2b des Bauelements beträgt t = 0,05 +/– 0,03 Millimeter. Der Abstand der Anschlussflächen 80b voneinander beträgt D = 0,2 +/– 0,05 Millimeter. Die Breite der Anschlussflächen 80b beträgt b = 0,275 +/– 0,05 Millimeter.
Die 2a und 2b zeigen schematische Schnittdarstellungen eines vierten und eines fünften Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements. In diesen Ausführungsbeispielen schließen die Beschichtungen 8a, 8b der Anschlussflächen 80a, 80b des Bauelements bündig mit der Montagefläche 3 ab. Die Anschlussflächen 80a, 80b der Anschlussstellen 4a, 4b sind daher in einer Ausnehmung der Montagefläche 3 angeordnet.
Die 3a und 3b zeigen schematische Schnittdarstellungen eines sechsten und eines siebten Ausführungsbeispiels des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements. In diesem Ausführungsbeispiel ragen die Anschlussstellen 4a, 4b leicht über die Montagefläche 3 hinaus. Die Anschlussflächen 80a, 80b der Anschlussstellen 4a, 4b sind außerhalb des Formkörpers 2 angeordnet. Der Überstand der Anschlussflächen 4a, 4b ist dabei gering im Verhältnis zur Höhe des Formkörpers 2.
4 zeigt ein achtes Ausführungsbeispiel des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements. In Ergänzung beispielsweise zum in Zusammenhang mit 2a beschriebenen Ausführungsbeispiel des Bauelements ist in Formkörper 2 hier ein weiteres Material 9 vorhanden. Bei dem weiteren Material 9 handelt es sich zum Beispiel um Partikel die geeignet sind, elektromagnetische Strahlung zu streuen (Diffusorpartikel), zu absorbieren (Absorber) oder Wellenlängen zu konvertieren (Leuchtstoffe). Weiter ist es möglich, dass der Formkörper 2 zumindest zwei dieser Partikelsorten enthält. Das heißt, der Formkörper 2. kann zum Beispiel Diffusorpartikel und Leuchtstoffpartikel aufweisen.
Handelt es sich beim Material 9 beispielsweise um Leuchtstoffpartikel eines Lumineszenzkonversionsmaterials, dann kann das optoelektronische Bauelement geeignet sein, weißes Licht zu emittieren.
5 zeigt ein neuntes Ausführungsbeispiel des hier beschriebenen optoelektronischen Bauelements. Im Ausführungsbeispiel der 5 ist das zusätzliche Material 9 in einer Schicht 22c angeordnet. Zum Beispiel handelt es sich bei der Schicht 22c um eine Schicht des Formkörpers 2, die Leuchtstoffpartikel enthält. Das Bauelement gemäß dem Ausführungsbeispiel der 5 weist zudem eine Schicht 22a des Formkörpers 2 auf, die frei von dem weiteren Material 9 ist, und den Halbleiterchip 2 einfasst. Weiter weist das Bauelement eine Schicht 22b auf, die ebenfalls kein weiteres Material 9 enthält. Die Schicht 22b ist durch die Oberfläche des Bauelements begrenzt, die der Montagefläche 3 des Bauelements abgewandt ist.
6 zeigt ein zehntes Ausführungsbeispiel des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements. In diesem Ausführungsbeispiel ist die Strahlungsdurchtrittsfläche 10 des Bauelements linsenartig ausgebildet. Dazu kann die Strahlungsdurchtrittsfläche zumindest stellenweise nach Art einer sphärischen, elliptischen oder asphärischen Linse gewölbt sein. Ferner ist es möglich, dass die Strahlungsdurchtrittsfläche zumindest stellenweise nach Art einer Fresnel-Linse, einer Zonenoptik oder einer holografischen Optik ausgebildet ist. Die Strukturierung der Strahlungsdurchtrittsfläche 10 kann dabei zum einen der Strahlformung von in das Bauelement eintretender oder aus dem Bauelement austretender Strahlung vorgesehen sein. Zum anderen ist es möglich, dass sich durch die Ausgestaltung der Strahlungsdurchtrittsfläche die Wahrscheinlichkeit für Totalreflexion an der Strahlungsdurchtrittsfläche 10 verringert. Auf diese Weise kann mehr Licht in das Bauelement ein- oder ausgekoppelt werden.
7 zeigt ein elftes Ausführungsbeispiel des hier beschriebenen oberflächenmontierbaren Bauelements. Im Ausführungsbeispiel der 7 ist dem Halbleiterchip 1 ein ESD-Schutzelement parallel geschaltet. Beispielsweise ist dem Halbleiterchip 1 eine Leuchtdiode 11 als ESD-Schutzelement antiparallel geschaltet. Die Leuchtdiode 11 ist dazu auf der Montagefläche der zweiten Anschlussstelle 4b aufgebracht und durch einen Kontaktierungsdraht 70 mit der ersten Anschlussstelle 4a verbunden. Der Kontaktierungsdraht 70 kann beispielsweise mittels eines Bondpads 60 mit der Leuchtdiode 11 kontaktiert sein. Die Leuchtdiode 11 kann neben einer Eigenschaft als ESD-Schutzelement für den optoelektronischen Halbleiterchip 1 auch zur Strahlungserzeugung dienen. Dazu kann an die Anschlussstellen 4a, 4b beispielsweise Strom wechselnder Richtung mittels einer Pulsweitenmodulationsschaltung angelegt sein. Dies erweist sich beispielsweise besonders vorteilhaft, wenn es sich beim Halbleiterchip 1 selbst um eine Leuchtdiode handelt und der Formkörper 2 ein Lumineszenzkonversionsmaterial enthält. Das Bauelement ist dann beispielsweise durch Mischung des blauen Lichts des optoelektronischen Halbleiterchips 1 und dem wellenlängenkonvertierten Anteil der Strahlung – beispielsweise gelbes Licht – geeignet, weißes Licht zu erzeugen. Die Leuchtdiode 11 kann dann geeignet sein, Licht zu erzeugen, das den Farbwiedergabeindex des vom Bauelement emittierten Lichts erhöht. Beispielsweise handelt es sich dabei um rotes Licht.
Alternativ zu einer Leuchtdiode 11 kann das ESD-Schutzelement auch durch eines der folgenden Komponenten gegeben sein: Varistor, Widerstand, Zener-Diode.
In Verbindung mit 8 ist ein zwölftes Ausführungsbeispiel des hier angegebenen oberflächenmontierbaren Bauelements angegeben. In diesem Ausführungsbeispiel ist auf die Komponenten des Bauelements zumindest stellenweise eine Beschichtung 12 aufgebracht, die ein Material enthält, das die Haftung der Komponenten wie Anschlussstellen 4a, 4b, optoelektronischem Halbleiterchip 1, Kontaktierungsdraht 7 an den Formkörper 2 verbessert. Das heißt, diese Beschichtung 12 dient zur Vermeidung eines Delaminierens des Formkörpers 2 von den Komponenten des Bauelements.
Bevorzugt enthält die Beschichtung 12 ein Silikat. Sie kann beispielsweise mittels Flammenpyrolyse auf zumindest einzelne Komponenten des Bauelements aufgebracht sein. Die Schichtdicke der Beschichtung 12 beträgt maximal 40 Nanometer, bevorzugt maximal 20 Nanometer, besonders bevorzugt maximal 5 Nanometer. Die Beschichtung 12 zeichnet sich durch eine starke Haftkraft an die Komponenten des Bauelements und eine hohe Oberflächenenergie aus. Die Schicht 12 ist dadurch geeignet, eine Haftung zwischen den Komponenten und dem Formkörper 2, der die Schicht 12 bevorzugt vollständig benetzt, zu vermitteln.
Beispielsweise kann es sich bei dem Silikat um ein stöchiometrisches Silikat oder um ein nicht stöchiometrisches Silikat (Si_xO_y) handeln. Weiter kann das Silikat organische Seitengruppen, zumindest eine organische Seitengruppe umfassen, wie zum Beispiel eine der folgenden Seitengruppen: Vinyl, Epoxy, Amino.
Ferner sind alternativ zu den genannten Silikatarten auch andere Materialien als Haftvermittler denkbar. In Frage kommen beispielsweise oxidische Schichten anderer Halbleiter oder Metalle.
An dieser Stelle sei darauf hingewiesen, dass insbesondere auch Kombinationen der Ausgestaltungen der Ausführungsbeispiele 4 bis 8 möglich sind. Insbesondere können diese Ausgestaltungen in den Ausführungsbeispielen der 1 bis 3 Anwendung finden.
In Verbindung mit den 9a bis 9g ist ein Ausführungsbeispiel des hier beschriebenen Verfahrens angegeben. Das Herstellungsverfahren ist zur Herstellung eines Ausführungsbeispiels des Bauelements wie es in Verbindung mit 2a beschrieben ist, geeignet. Das Verfahren kann prinzipiell aber zur Herstellung aller hier beschriebenen Ausführungsbeispiele des Bauelements Verwendung finden. In den 9a bis 9g ist das Verfahren mittels schematischer Schnittdarstellungen erläutert.
Wie in 9a gezeigt, wird zunächst ein Substrat 20 mit einer Vielzahl von Anschlussstellen 4a, 4b zur Verfügung gestellt. Die Anschlussstellen 4a, 4b sind dabei einem zweidimensionalen Array angeordnet, von dem in den Schnittdarstellungen der 9a bis 9g lediglich eine Reihe gezeigt ist. Das Substrat 20 besteht beispielsweise aus Kupfer oder enthält Kupfer. Es ist bevorzugt wenigstens 120 μm dick.
Die Anschlussstellen 4a, 4b werden zunächst mit einer Beschichtung 5 versehen, die zum Beispiel Gold enthält. Die Beschichtung 5 verbessert die Kontaktierbarkeit des optoelektronischen Halbleiterchips 1 und des Kontaktierungsdrahts 7 an den Anschlussstellen 4a, 4b. Auf die Anschlussstelle 4a wird im Folgenden ein optoelektronischer Halbleiterchip 1 aufgebondet, leitend aufgeklebt oder aufgelötet. Die optoelektronischen Halbleiterchips 1 sind beispielsweise mit ihren p-Seiten auf die Anschlussstellen 4a aufgebondet.
Im Folgenden (9b) werden die optoelektronischen Halbleiterchips 1 zum Beispiel n-seitig mittels eines Bondpads 9 an einen Kontaktierungsdraht 7 mit den Anschlussstellen 4a elektrisch leitend verbunden.
Beispielsweise im Anschluss kann eine Silikatbeschichtung 12 (aus Gründen der Übersichtlichkeit nicht dargestellt) auf die Komponenten des Bauelements aufgebracht werden. Die Silikatbeschichtung 12 kann zum Beispiel mittels Flammenpyrolyse auf die Komponenten aufgebracht sein.
Im Folgenden werden die Komponenten des Bauelements zum Erzeugen eines Formkörpers 2 in die Kavität eines Guss- oder Presswerkzeuges eingebracht. Eine Formmasse wird dann mittels Spritzpressen oder Spritzgießen in die Kavität des Werkzeuges eingefüllt. Bei der Formmasse handelt es sich um eine epoxid- oder silikonhaltige Formmasse. Bevorzugt handelt es sich bei der Formmasse um ein Epoxid-Silikon-Hybrid-Material. Silikone beziehungsweise Hybrid-Materialen, die Silikone enthalten, weisen eine relativ niedrige Viskosität auf. Bei Verarbeitung in Einzelkavitäten erhöht sich dadurch die Flashneigung der Materialien vor allem in Verbindung mit Leadframe-basierten Bauelementen da die Abdichtung zwischen Leadframe oder Substrat 20 und der Metalloberfläche des Werkzeuges schwierig ist. In diesem Fall ist eine Vielzahl von Schließflächen vorhanden, die Dickenschwankungen und Schwankungen der Oberflächenrauhigkeiten innerhalb des Substrats 20 können in einem Werkzeug kaum ausgeglichen werden. Weiter sind Silikone beziehungsweise Hybrid-Materialien, die ein Silikon enthalten, erfahrungsgemäß spröder als Epoxidharz-basierte Pressmassen. Dadurch ergibt sich ein sehr kleines Prozessfenster bei Deflash-Verfahren wie zum Beispiel beim elektrolytischen Deflashen oder Wasserstrahldeflashen. Ein Vergießen einer Vielzahl von Bauelementen in einer gemeinsamen Kavität erweist sich daher bei diesen Materialien als besonders vorteilhaft.
Weiter kann beim Spritzpressen des Formkörpers 2 ein Folienmolding-Prozess zum Einsatz kommen. Dabei wird die Kavität des Werkzeugs mit einer Folie ausgelegt, die eine geringe Haftung zur verwendeten Formmasse aufweist. Es kann in diesem Fall auf ein Formtrennmittel verzichtet werden. Dadurch erhöht sich die Haftung des Formkörpers an die Komponenten des Bauelements.
Im nachfolgenden Verfahrensschritt wird wie in 9d gezeigt, das Substrat 20 der Anschlussstellen 4a, 4b entfernt. Dies kann beispielsweise durch einen Ätzprozess erfolgen.
In einem weiteren, in Verbindung mit 9e gezeigten Verfahrensschritt, wird eine Lotschicht 8a, 8b auf die Anschlussflächen 80a, 80b der Anschlussstellen 4a, 4b aufgebracht, die bündig mit der Montagefläche 3 des Bauelements abschließt oder diese überragt.
9f zeigt das Array von Bauelementen zur weiteren Bearbeitung auf eine Folie auflaminiert.
9d zeigt das Vereinzeln der Bauelemente, das beispielsweise mittels Sägen, Schneiden, Laserschneiden, Wasserstrahlschneiden oder Brechen erfolgen kann.
Alternativ zu Anschlussflächen 4a, 4b auf einem Kupfersubstrat 20 kann ein gemeinsames Vergießen auch auf einer Folie 40 erfolgen, die eine Kunststofffolie 41 und eine auf die Kunststofffolie 41 auflaminierte Kupferfolie umfasst. Ein Ausführungsbeispiel eines solchen Bauelements ist in 10 gezeigt. Die Kupferfolie ist mittels fototechnischer und ätztechnischer Prozessschritte zu Anschlussstellen 4a, 4b prozessiert. Auch für ein solches Bauelement sind die in Verbindung mit den 1 bis 8 beschriebenen Ausgestaltungen möglich.
Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.

Claims

Oberflächenmontierbares Bauelement, mit – einem optoelektronischen Halbleiterchip (1), – einem Formkörper (2), der an den Halbleiterchip (1) angeformt ist, – einer Montagefläche (3), die zumindest stellenweise durch eine Oberfläche des Formkörper (2) gebildet ist, – zumindest einer Anschlussstelle (4a, 4b), und – Seitenflächen (2a, 2b) des Bauelements, die mittels Vereinzeln erzeugt sind.
Bauelement nach dem vorherigen Anspruch, bei dem der Formkörper (2) an die Anschlussstelle (4a, 4b) angeformt ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) zumindest stellenweise vom Formkörper (2) eingefasst ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) Verankerungsstrukturen (13, 14) aufweist, die geeignet sind, eine Haftung des Formkörpers (2) an der Anschlussstelle (4a, 4b) zu verbessern.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) Widerhaken (13) zur Verankerung im Formkörper aufweist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) pilzförmig ausgebildet ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) geätzte Strukturen (14) aufweist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) eine Montagefläche (5) aufweist, auf die der optoelektronische Halbleiterchip (1) befestigt ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) eine Montagefläche (5) aufweist, auf die ein ESD-Schutzelement (11) für den Halbleiterchip aufgebracht ist.
Bauelement nach dem vorherigen Anspruch, bei dem als ESD-Schutzelement (11) eine Leuchtdiode vorgesehen ist, die zur Strahlungserzeugung geeignet sind.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) eine Anschlussfläche (80a, 80b) aufweist, über die der Halbleiterchip (1) von außerhalb des optoelektronischen Bauelements elektrisch kontaktierbar ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussfläche (80a, 80b) einer Anschlussstelle (4a, 4b) bündig mit der Montagefläche (3) abschließt.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussfläche (80a, 80b) einer Anschlussstelle (4a, 4b) über die Montagefläche (3) hinausragt.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussfläche (80a, 80b) einer Anschlussstelle (4a, 4b) in einer Ausnehmung der Montagefläche (3) angeordnet ist.
Halbleiter-Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die Anschlussstelle (4a, 4b) zumindest stellenweise mit einem Material (12) beschichtet ist, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper (2) zu verbessern.
Halbleiter-Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Halbleiterchip (1) zumindest stellenweise mit einem Material (12) beschichtet ist, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper (2) zu verbessern.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem das ESD-Schutzelement (11) für den Halbleiterchip (1) zumindest stellenweise mit einem Material (12) beschichtet ist, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper (2) zu verbessern.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem ein Kontaktierungsdraht (7), der zur elektrischen Kontaktierung des Halbleiterchips (1) vorgesehen ist, mit einem Material (12) beschichtet ist, das geeignet ist, die Haftung an den Formkörper (2) zu verbessern.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem das Material (12) zur Verbesserung der Haftung ein Silikat enthält.
Bauelement nach dem vorherigen Anspruch, bei dem das Material (12) eine Dicke von maximal 40 nm aufweist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) Silikon enthält.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) Epoxid enthält.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) ein Epoxid-Silikon-Hybridmaterial enthält.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) zumindest eines der folgenden Materialien (9) enthält: Licht streuende Partikel, Licht absorbierende Partikel, Glasfaser, Formtrennmittel.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) ein Lumineszenzkonversionsmaterial enthält.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) eine vom Halbleiterchip (1) entfernt liegende äußere Schicht (22b) und eine den Halbleiterchip einfassende innere Schicht (22a) aufweist, zwischen denen sich eine Schicht (22c) befindet, die ein zusätzlichen Material (9) enthält.
Bauelement nach dem vorherigen Anspruch, bei dem innere (22a) und äußere Schicht (22b) frei von einem zusätzlichen Material (9) sind.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Formkörper (2) eine Strahlungsdurchtrittsfläche aufweist.
Bauelement nach dem vorherigen Anspruch, bei dem die Strahlungsdurchtrittsfläche linsenartig ausgebildet ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Halbleiterchip (1) zur Strahlungserzeugung geeignet ist.
Bauelement nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem der Halbleiterchip (1) zur Strahlungsdetektion geeignet ist.
Verfahren zur Herstellung eines oberflächenmontierbaren optoelektronischen Bauelements, wobei – eine Vielzahl optoelektronischer Halbleiterchips (1) in einer Kavität eines Presswerkzeugs oder eines Gusswerkzeugs angeordnet wird, – die Halbleiterchips mit einem gemeinsamen Formkörper (2) umhüllt werden, und – der Formkörper (2) zur Vereinzelung der Bauelemente durchtrennt wird.
Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, wobei zum Vereinzeln der Bauelemente ausschließlich der Formkörper (2) durchtrennt wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 32 oder 33, wobei zum Vereinzeln der Bauelemente eine Anschlussstelle (4a, 4b) des Bauelements durchtrennt wird.
Verfahren nach Anspruch 34, wobei die Anschlussstelle (4a, 4b) durch einen Teil eines Leiterrahmens gebildet ist.
Verfahren nach Anspruch 34, wobei die Anschlussstelle durch einen Teil einer Kunststofffolie (41) mit elektrisch leitender Beschichtung gebildet ist.
Verfahren nach einem der Ansprüche 32 bis 36, wobei der Formkörper (2) eines der folgenden Materialien enthält: Epoxid, Silikon, Epoxid-Silikon-Hybridmaterial.
Verfahren nach Anspruch 37, wobei die Materialien reaktionshärtend sind.
Verfahren nach einem der Ansprüche 34 bis 38, wobei vor dem Umhüllen mit dem Formkörper (2) Komponenten des Bauelements (1, 4a, 4b, 11, 7, 70) mit einem Material (12) beschichtet werden, das geeignet ist, die Haftung zum Formkörper (2) zu erhöhen.
Verfahren nach Anspruch 39, wobei das Material (12) ein Silikat umfasst.
Verfahren nach Anspruch 39 oder 40, wobei die Beschichtung mittels Flammensilikatisierung erfolgt.