DE10053906A1 - Synchrones Masken-Rom-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann - Google Patents

Synchrones Masken-Rom-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann

Info

Publication number
DE10053906A1
DE10053906A1 DE10053906A DE10053906A DE10053906A1 DE 10053906 A1 DE10053906 A1 DE 10053906A1 DE 10053906 A DE10053906 A DE 10053906A DE 10053906 A DE10053906 A DE 10053906A DE 10053906 A1 DE10053906 A1 DE 10053906A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
word
data
mode
clock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE10053906A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10053906B4 (de
Inventor
Yong-Seok Seo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of DE10053906A1 publication Critical patent/DE10053906A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10053906B4 publication Critical patent/DE10053906B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1045Read-write mode select circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/002Isolation gates, i.e. gates coupling bit lines to the sense amplifier

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

Ein Masken-ROM-Bauelement, das synchron mit einem externen Taktsignal betrieben werden kann, weist einen Einzelwortmodus oder einen Doppelwortmodus auf. Ein Wortdecodierer (200) und eine Auswahlschaltung (150) sind für das Masken-ROM-Bauelement vorgesehen, wobei während einer Leseoperation des Einzelwortmodus der Wortdecodierer (200) ein Wortsignal in einem Deaktivierungsintervall eines internen Taktsignals um 2 Taktzyklen früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, nach einem Auftreten eines Lesebefehls hält, und die Auswahlschaltung (150) entweder höhere oder niedrigere Daten entsprechend Spalten, die durch eine Spaltenansteuerschaltung (140) angesteuert werden, als Reaktion auf Ansteuersignale, die vom Wortdecodierer erzeugt werden, zu einer Ausgabepufferschaltung (160) überträgt und dann fortlaufend die restlichen der Daten zu dieser überträgt. Gemäß einer solchen Steuerungsweise kann auf Wortdaten ohne Kollision mit vorher ausgegebenen Daten zugegriffen werden.

Description

Diese Anmeldung bezieht sich hinsichtlich der Priorität auf die Koreanische Patentanmeldung Nr. 1999-48932, eingereicht am 5. November 1999, deren Inhalt durch die Bezugnahme in seiner Gesamtheit hierin aufgenommen wird.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Masken-ROM- Bauelement und insbesondere ein Masken-ROM-Bauelement, das synchron mit einem Taktsignal betrieben werden kann.
Ein Masken-ROM-Bauelement als nicht-flüchtiges Speicherbauelement wurde für ein Programmspeicherelement oder einen BIOS-Chip mit variabler Bitstruktur verwendet. Verfahren mit variabler Bitstruktur für das Masken-ROM- Bauelement sind in "KM23V16205CSG" und "KM23V32005BG" im SAMSUNG DATA BOOK, veröffentlicht im Februar 1995, offenbart. Wie in der Bezugsquelle offenbart, ist das Masken-ROM-Bauelement ein asynchrones Speicherbauelement in einem typischen Trend. Gemäß der Anzahl von Bits von Ausgangsdaten weist das Masken-ROM-Bauelement einen Einzelwortmodus (×16) oder einen Doppelwortmodus (×32) auf. Abwechselnd wird einer der Einzel- und Doppelwortmodi in Abhängigkeit von einem Spannungspegel an einem externen Anschlußstift, WORD, welcher zum Bauelement geliefert wird, ausgewählt.
Das asynchrone Masken-ROM-Bauelement umfaßt im allgemeinen eine Speicherzellenmatrix zum Speichern von Daten. Wenn das Bauelement im Doppelwortmodus arbeitet, werden Doppelwortdaten (d. h. 32 Datenbits), die aus der Speicherzellenmatrix ausgelesen werden, durch einen Lesebefehl simultan aus dem Bauelement nach außen geliefert. Wenn ein allgemeines Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet, werden die ausgelesenen Doppelwortdaten andererseits aus dem Bauelement auf zweimal durch zwei Lesebefehle ausgegeben. Das heißt, höher- (oder niedrigerwertige) der ausgelesenen Wortdaten werden aus diesem ausgegeben. Um eine Kollision mit Daten zu vermeiden, die zu einem vorherigen Lesebefehl gehören, werden niedrigere (oder höhere) der ausgelesenen Wortdaten aus dem Bauelement nach einer vorbestimmten Zeit ausgegeben.
Es ist neuerdings erforderlich, daß Halbleiterspeicherbauelemente mit einer höheren Bandbreite betrieben werden können. Ein Systemtaktsignal, das in einem System verwendet wird, auf das ein Masken-ROM-Bauelement angewendet wird, wird ebenfalls zum Masken-ROM-Bauelement geliefert, um auf den Bedarf für einen schnellen Betrieb zu reagieren. Wenn ein Masken-ROM-Bauelement, das mit einem Taktsignal synchronisiert wird, im Einzelwortmodus arbeitet, werden die höherwertigen (oder die niedrigerwertigen) Wortdaten und die niedrigeren (höheren) Wortdaten fortlaufend (ohne Unterbrechung oder Kollision zwischen den Daten) aus dem Bauelement ausgegeben, um eine viel schnellere Betriebsgeschwindigkeit zu erzielen.
Daher ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen synchronen Masken-ROM bereitzustellen, der fortlaufende Leseoperationen in einem Einzelwortmodus ausführen kann.
Gemäß einem Aspekt der Erfindung weist ein synchroner Masken-ROM einen Doppelwortmodus, in dem Doppelwortdaten während eines Zyklus eines externen Taktsignals ausgegeben werden, und einen Einzelwortmodus, in dem Einzelwortdaten während eines Zyklus des externen Taktsignals ausgegeben werden, auf. Das Bauelement führt eine Leseoperation während des Einzelwortmodus aus. Das Bauelement umfaßt einen Wortdecodierer und eine Auswahlschaltung. Während der Leseoperation des Einzelwortmodus hält der Wortdecodierer ein Wortsignal in einem Deaktivierungsintervall eines internen Taktsignals, von dem ein Taktzyklus um 2 Taktzyklen früher ist als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, nach einem Vorkommen eines Lesebefehls. Und der Wortdecodierer erzeugt Ansteuersignale mit komplementären Logikzuständen als Reaktion auf das gehaltene Wortsignal und ein Modusauswahlsignal. Das Modusauswahlsignal wählt einen des Einzelwortmodus und des Doppelwortmodus aus, und das Wortsignal wählt entweder die niedrigeren Wortdaten oder die höheren Wortdaten aus. Während der Leseoperation des Einzelwortmodus überträgt das Ansteuersignal die höheren/niedrigeren der Daten (die von einer Leseverstärkerschaltung gelesen werden) entsprechend Spalten, die von einer Spaltenansteuerschaltung angesteuert werden, zu einer Ausgabepufferschaltung als Reaktion auf die Ansteuersignale, und überträgt fortlaufend die höheren/niedrigeren Daten zur Ausgabepufferschaltung.
Der Wortdecodierer erzeugt ein Wartezeit-Kennzeichensignal als Reaktion auf das Spaltenadressen-Freigabesignal. Der Wortdecodierer umfaßt: eine Wartezeitsignal- Erzeugungseinheit, die das Wartezeit-Kennzeichensignal aktiviert, wenn das Spaltenadressen-Freigabesignal aktiviert wird, und das Wartezeit-Kennzeichensignal gemäß einem Übergang eines internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel, das um 2 Taktzyklen früher ist als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS- Wartezeit entspricht, deaktiviert, wobei das interne Taktsignal das Wartezeit-Kennzeichensignal aktiviert, wenn das Spaltenadressen-Freigabesignal aktiviert wird; eine Speichersignal-Erzeugungseinheit, die ein Wortspeichersignal mit Impulsform erzeugt, wenn das Wartezeit-Kennzeichensignal deaktiviert wird; und eine Ansteuersignal-Erzeugungseinheit, die das Wortsignal hält, wenn das Wortspeichersignal aktiviert wird, und eines der Ansteuersignale als Reaktion auf das gehaltene Wortsignal und das Modusauswahlsignal während der Leseoperation des Einzelwortmodus aktiviert.
Das Wortspeichersignal wird bei einem Übergang eines internen Taktsignals von einem hohen auf einen niedrigen Pegel um 2 Taktzyklen früher entsprechend einer vorbestimmten CAS-Wartezeit aktiviert, und wird bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel um 1 Taktzyklus früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, deaktiviert.
Die Ausgabepufferschaltung empfängt über die Auswahlschaltung übertragene Daten nur an einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel.
Gemäß dem Bauelement ist es möglich, während der Leseoperation des Einzelwortmodus niedrigere (oder höhere) Wortdaten auszugeben und dann fortlaufend die höheren (oder niedrigeren) Wortdaten ohne Kollision der niedrigeren (oder höheren) Wortdaten mit den höheren (oder niedrigeren) Wortdaten auszugeben.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 ein Blockdiagramm, das ein synchrones Masken-ROM- Bauelement gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
Fig. 2 ein Diagramm einer in Fig. 1 dargestellten Auswahlschaltung;
Fig. 3 ein Diagramm eines in Fig. 1 dargestellten Speichersignalgenerators;
Fig. 4 ein Diagramm eines in Fig. 1 gezeigten Ansteuersignalgenerators;
Fig. 5 ein Diagramm einer in Fig. 1 gezeigten Ausgabepufferschaltung; und
Fig. 6 eine Zeitablaufdarstellung, die fortlaufende Leseoperationen in einem Einzelwortmodus gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt.
Ein Masken-ROM-Bauelement dieser Erfindung ist ein synchrones Masken-ROM-Bauelement, das mit einem extern angelegten Taktsignal CLK (z. B. einem Systemtaktsignal) synchronisiert und betrieben wird und eine Bitbündel- Leseoperation unterstützt, die auf dem Fachgebiet gut bekannt ist. Das Masken-ROM-Bauelement weist einen Einzelwortmodus oder einen Doppelwortmodus auf, wobei es in einem des Einzel- und des Doppelmodus gemäß einer Polarität eines Befehlssignals WORD betrieben werden kann. Wenn das Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet, wird eine Hälfte von Datenbits (z. B. Datenbits, die dem Doppelwortmodus entsprechen), die aus einem Informationsspeicherbereich eines synchronen Masken-ROM- Bauelements ausgelesen werden, nacheinander gemäß einer Bitbündellänge BL ausgegeben, nachdem ein Lesebefehl in dieses eingespeist wurde und Taktzyklen entsprechend einer CAS-Wartezeit CL abgelaufen sind. Die anderen Datenbits werden gemäß der BL nacheinander ausgegeben, nachdem der nächste Lesebefehl eingegeben wurde und der Taktzyklus entsprechend CL vergangen ist. Das heißt, das synchrone Bitbündel-Masken-ROM-Bauelement dieser Erfindung unterstützt eine lückenlose Leseoperation. Und wenn das Masken-ROM-Bauelement im Doppelwortmodus arbeitet, werden Datenbits (z. B. Datenbits, die einem Doppelwort entsprechen), die während einer Leseoperation aus einem Informationsspeicherbereich des synchronen Masken-ROM- Bauelements ausgelesen werden, nacheinander gemäß der BL ausgegeben, nachdem der Lesebefehl in dieses eingespeist wurde und Taktzyklen entsprechend CL abgelaufen sind. Der Betrieb desselben wird nun nachstehend genauer beschrieben.
Mit Bezug auf Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm ein synchrones Masken-ROM-Bauelement, um fortlaufende Leseoperationen zu erzielen. Alle Signale (WORD, RAS, CAS, MR, Adressensignal usw.), die von außen (z. B. einem System, auf das ein Speicherbauelement angewendet wird) zum synchronen Masken-ROM-Bauelement geliefert werden, werden an einer steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK gehalten (oder abgetastet). Das synchrone Masken-ROM-Bauelement umfaßt eine Speicherzellenmatrix 110 als Informationsspeicherbereich. Obwohl in den Zeichnungen nicht dargestellt, umfaßt das synchrone Masken-ROM- Bauelement Wortleitungen, die sich in Richtung von Zeilen ausbreiten, Bitleitungen, die sich in Richtung von Spalten ausbreiten, und Speicherzellen, die an den Schnittpunkten zwischen den Wortleitungen und den Bitleitungen angeordnet sind. Eine Zeilenansteuerschaltung 120 steuert eine der Zeilen, d. h. Wortleitungen, gemäß einer über einen Puffer 240 gelieferten Zeilenadresse an. Eine Leseverstärkerschaltung 130 liest und hält Datenbits aus der Speicherzellenmatrix 110 über Bitleitungen. Eine Spaltenansteuerschaltung 140 überträgt einen Teil der gehaltenen Datenbits (z. B. 32 Datenbits einer Doppelworteinheit) gemäß einer Zeilenadresse, die über einen Puffer 250 geliefert wird, zu einer Auswahlschaltung 150.
Obwohl in den Zeichnungen nicht dargestellt, ist es für Fachleute ersichtlich, daß ein Bitbündel-Adressengenerator (oder ein Bitbündelzähler) für die Zeilenansteuerschaltung 140 vorgesehen ist. Der Bitbündelzähler erzeugt intern unter Verwendung einer Spaltenadresse als anfängliche Spaltenadresse eine Reihe von Bitbündeladressen gemäß einer Bitbündellänge BL. Beispiele des Bitbündelzählers sind im US-Patent Nr. 5 319 759 mit dem Titel "BURST ADDRESS SEQUENCE GENERATOR", US-Patent Nr. 5 452 261 mit dem Titel "SERIAL ADDRESS GENERATOR FOR BURST MEMORY", US-Patent Nr. 5 594 765 mit dem Titel "INTERLEAVED AND SEQUENTIAL COUNTER", und US-Patent Nr. 5 708 688 mit dem Titel "HIGH SPEED PROGRAMMABLE BURST ADDRESS GENERATION CIRCUIT" offenbart.
Wenn das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Doppelwortmodus arbeitet, überträgt die Auswahlschaltung 150 die Datenbits, die durch die Spaltenansteuerschaltung 140 laufen, als Reaktion auf die Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD auf einmal (oder gleichzeitig) zu einer Ausgabepufferschaltung 160. Wenn das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet, überträgt die Auswahlschaltung 150 die höheren (oder niedrigeren) Wortdaten als Reaktion auf die Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD zur Ausgabepufferschaltung 160 und überträgt dann fortlaufend die niedrigeren (oder höheren) Wortdaten zur Ausgabepufferschaltung 160. Um beim Betrieb im Einzelwortmodus eine fortlaufende Leseoperation (oder lückenlose Leseoperation) zu erzielen, ist es erforderlich, die höheren (oder niedrigeren) Wortdaten zur Ausgabepufferschaltung 160 zu übertragen und dann fortlaufend (unaufhörlich) die niedrigeren (oder höheren) Wortdaten ohne Kollision mit den höheren (oder niedrigeren) Wortdaten zur Schaltung 160 zu übertragen.
Mit Bezug auf Fig. 2 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer Auswahlschaltung, die in Fig. 1 gezeigt ist, dargestellt. Beim bevorzugten Ausführungsbeispiel empfängt eine in Fig. 1 dargestellte Auswahlschaltung 150 32 Datenbits SAOUT<0<~SAOUT<31< einer Doppelworteinheit, die über eine Spaltenansteuerschaltung 140 übertragen werden. Niedrigere Datenbits entsprechen SAOUT<0<~SAOUT<15<, während höhere Datenbits jeweils SAOUT<16<~SAOUT<31< entsprechen. Ferner zeigt Fig. 2 Elemente, die einem SAOUT<0< der niedrigeren Datenbits und einem SAOUT<16< der höheren Datenbits entsprechen. Die Auswahlschaltung 150 besteht aus vier Zwischenspeichern 151-154, drei Transfergattern 155, 156 und 157 und zwei Invertern 158 und 159. Jeder der Zwischenspeicher 151-154 besteht aus zwei Invertern. Jedes der Transfergatter 155, 156 und 157 besteht aus einem Inverter, einem NMOS- Transistor und einem PMOS-Transistor. Die anderen niedrigeren Datenbits SAOUT<1<-SAOUT<15< und die anderen höheren Datenbits SAOUT<17<-SAOUT<31< können genauso wie in Fig. 2 gezeigt zusammengesetzt sein.
Der Betrieb der Auswahlschaltung 150 wird im folgenden beschrieben. Es wird angenommen, daß das synchrone Masken- ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet (das WORDF- Signal schaltet auf einen hohen Pegel) und ein Ansteuersignal CA_WORD auf einem niedrigen Pegel liegt, während ein Ansteuersignal nCA_WORD auf einem hohen Pegel liegt. Die Transfergatter 155 und 157 werden freigegeben, während das Transfergatter 156 gesperrt wird, so daß ein niedrigeres Datenbit SAOUT<0<, das in einem Zwischenspeicher 151 gehalten wird, über das Transfergatter 155 zu einem Zwischenspeicher 153 übertragen wird, während ein höheres Datenbit SAOUT<16<, das in einem Zwischenspeicher 152 gehalten wird, gestoppt wird.
Gleichzeitig wird das niedrigere Datenbit SAOUT<0< über die Transfergatter 155 und 157 zu einem Zwischenspeicher 154 übertragen.
Es wird angenommen, daß das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet (das WORDF-Signal schaltet auf einen hohen Logikpegel) und das Signal CA_WORD auf einem hohen Pegel liegt, während das Signal nCA_WORD auf einem niedrigen Pegel liegt. Die Gatter 156 und 157 werden freigegeben, während das Gatter 155 gesperrt wird, so daß ein höheres Datenbit SAOUT<16<, das im Zwischenspeicher 152 gehalten wird, über das Gatter 156 zum Zwischenspeicher 154 übertragen wird, während ein niedrigeres Datenbit SAOUT<0<, das im Zwischenspeicher 151 gehalten wird, gestoppt wird. Gleichzeitig wird das höhere Datenbit SAOUT<16< über die Gatter 156 und 157 zum Zwischenspeicher 153 übertragen.
Wenn das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Doppelwortmodus arbeitet (das WORDF-Signal schaltet auf einen niedrigen Pegel), werden die Signale CA_WORD und nCA_WORD simultan aktiviert. Dann werden die Gatter 155 und 156 freigegeben, während das Gatter 157 gesperrt wird. Folglich wird das niedrigere Datenbit SAOUT<0< über das entsprechende Gatter 155 zum Zwischenspeicher 153 übertragen, während das höhere Datenbit SAOUT<16< über das entsprechende Gatter 156 zum Zwischenspeicher 154 übertragen wird.
Wenn das synchrone Masken-ROM-Bauelement wie vorstehend beschrieben im Einzelwortmodus betrieben wird, wird nur einer von einem Übertragungsweg eines niedrigeren (oder höheren) Datenbits und jenem eines höheren (oder niedrigeren) Datenbits gemäß den Logikzuständen der Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD, die aus einem Wortdecodierer 200 ausgegeben werden, gebildet. Das heißt, die Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD weisen komplementäre Logikzustände auf, so daß entweder die höheren Wortdaten oder die niedrigeren Wortdaten während der Leseoperation des Einzelwortmodus übertragen werden.
Unter weiterer Bezugnahme auf Fig. 1 erzeugt der Wortdecodierer 200 die Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD zum Erfüllen einer Bedingung der vorstehend erwähnten fortlaufenden Leseoperation. Wenn das synchrone Masken-ROM- Bauelement dieser Erfindung im Doppelwortmodus arbeitet, aktiviert der Wortdecodierer 200 simultan CA_WORD und nCA_WORD, so daß Datenbits einer Doppelworteinheit simultan zur Ausgabepufferschaltung 160 übertragen werden. Wenn das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet, aktiviert der Wortdecodierer 200 eines von CA_WORD und nCA_WORD und aktiviert dann das andere, nachdem Taktzyklen, die einer Bitbündellänge entsprechen, fortgeschritten sind. Dies veranlaßt, daß die höheren (niedrigeren) Wortdaten und die niedrigeren (höheren) Wortdaten nacheinander ausgegeben werden. Der Wortdecodierer 200 umfaßt eine Wartezeitsignal- Erzeugungseinheit 170, eine Speichersignal- Erzeugungseinheit 180 und eine Ansteuersignal- Erzeugungseinheit 190.
Die Wartezeitsignal-Erzeugungseinheit 170 erzeugt ein Wartezeit-Kennzeichensignal CL-2_Flag als Reaktion auf ein Spaltenadressensignal CAS, ein CAS-Wartezeit-Anzeigesignal CL und ein Taktsignal PCLK von einem Taktpuffer 210 (internes Taktsignal, das mit einem Systemtaktsignal synchronisiert ist). Das Signal CL-2_Flag wird synchron an einer steigenden Flanke eines Taktsignals PCLK4 aktiviert, an dem ein Bitbündel-Lesebefehl angelegt wird (wenn die Signale CAS, CS auf einem niedrigen Pegel liegen, während ein Signal MR auf einem hohen Pegel liegt), und wird synchron an einer fallenden Flanke eines Taktsignals PCLK deaktiviert, dessen Taktzyklus um 2 Taktzyklen früher ist als jener der CAS-Wartezeit CL. Wenn beispielsweise die CAS-Wartezeit CL 5 ist, wird das Signal CL-2_Flag während 3 Taktzyklen entsprechend einer CL von 3 aktiviert (siehe Fig. 6). Die Wartezeitsignal-Erzeugungseinheit 170 kann aus einem Zähler bestehen.
Die Speichersignal-Erzeugungseinheit 180 erzeugt ein Wortspeichersignal WORD_LCH mit Impulsform als Reaktion auf die Signale CL-2_Flag und PCLK. Mit Bezug auf Fig. 3 besteht eine Speichersignal-Erzeugungseinheit 180 aus einem Impulsgenerator 181, einer Impulsbreiten- Verzögerungsschaltung 182, Invertern 38, 42 und 44 und einem NICHT-ODER-Gatter 40. Der Impulsgenerator 181 erzeugt ein kurzes Impulssignal SP als Reaktion auf einen Übergang eines Wartezeit-Kennzeichensignals CL-2_Flag von einem hohen auf einen niedrigen Pegel. Die Verzögerungsschaltung 182 erzeugt ein Signal SPD, das den Übergang des kurzen Impulssignals SP von einem hohen auf einen niedrigen Pegel für eine vorbestimmte Zeit verzögert. Das NICHT-ODER-Gatter 40 erzeugt ein Wortspeichersignal WORD_LCH mit Impulsform über die Inverter 42 und 44 als Reaktion auf die Signale SPD und PCLK.
In einem synchronen Masken-ROM-Bauelement mit einer CAS- Wartezeit von 5 behält das Wortspeichersignal WORD_LCH einen hohen Pegel bei, nachdem die siebten Impulse der Taktsignale PCLK und CLK eines Taktzyklus entsprechend einer CAS-Wartezeit von 3 auf einen niedrigen Pegel schalten, bis die achten Impulse der Taktsignale PCLK und CLK entsprechend einer CAS-Wartezeit von 4 auf einen hohen Pegel schalten, wie in Fig. 6 gezeigt.
Wenn man wieder zu Fig. 1 zurückkehrt, hält die Ansteuersignal-Erzeugungseinheit 190 das Wortsignal PCA_WORD zum Auswählen entweder der höheren Wortdaten oder der niedrigeren Wortdaten, wenn das Wortspeichersignal WORD_LCH aktiviert wird. Und als Reaktion auf ein Modusauswahlsignal WORDF, das einen des Einzelwortmodus und des Doppelwortmodus angibt, und auf das gehaltene Wortsignal PCA_WORD erzeugt die Einheit 190 die Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD. Das Signal PCA_WORD ist ein Ausgangssignal aus einem Puffer 230 zum Empfangen einer Wortadresse A1, die geliefert wird, wenn ein Lesebefehl vorkommt. Die Einheit 190 besteht aus einem Transfergatter 191, einem Zwischenspeicher 192, Invertern 50, 56, 58, 60 und 62, einem NMOS-Transistor 64 und NICHT- UND-Gattern 50 und 52.
Ein Betrieb der Ansteuersignal-Erzeugungseinheit 190 wird nun im folgenden beschrieben. Es wird angenommen, daß das synchrone Masken-ROM-Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet (das Signal WORDF einen hohen Logikpegel beibehält). Wenn ein Wortspeichersignal WORD_LCH auf einen hohen Pegel schaltet, wird ein Wortsignal PCA_WORD mit einem vorbestimmten Logikzustand über ein Transfergatter 191 zu einem Zwischenspeicher 192 übertragen. Wenn das Signal PCA_WORD auf einem hohen Logikpegel liegt, schaltet ein Ausgangssignal (d. h. ein Ansteuersignal nCA_WORD) des NICHT-UND-Gatters 52 auf einen niedrigen Pegel, während ein Ausgangssignal (d. h. ein Ansteuersignal CA_WORD) des NICHT- UND-Gatters 54 auf einen hohen Pegel schaltet (da das Signal WORDF einen hohen Logikpegel beibehält). Dies veranlaßt, daß höhere Wortdaten über die Auswahlschaltung 150 zu einer Ausgabepufferschaltung 160 übertragen werden. Wenn das Wortsignal PCA_WORD auf einem niedrigen Pegel liegt, schaltet ein Ausgangssignal (d. h. ein Ansteuersignal nCA_WORD) des NICHT-UND-Gatters 54 auf einen hohen Pegel, während ein Ausgangssignal (d. h. ein Ansteuersignal CA_WORD) des NICHT-UND-Gatters 54 auf einen niedrigen Pegel schaltet. Dies veranlaßt, daß die niedrigeren Wortdaten über die Auswahlschaltung 150 zur Ausgabepufferschaltung 160 übertragen werden. Wenn das synchrone Masken-ROM- Bauelement im Doppelwortmodus arbeitet (d. h. das Signal WORDF einen niedrigen Pegel beibehält), schalten alle Ansteuersignale CA_WORD und nCA_WORD ungeachtet der Logikzustände des Wortsignals PCA_WORD auf einen hohen Pegel. Dies veranlaßt, daß die Doppelwortdaten über die Auswahlschaltung 150 zur Ausgabepufferschaltung 160 übertragen werden.
Gemäß der vorliegenden Erfindung muß ein Datenübertragungsweg der Auswahlschaltung 150 so geändert werden, daß eine fortlaufende Leseoperation mit dem Einzelwortmodus ausgeführt wird. Die Wegumstellung ist in einer Zeit erhältlich, die zwischen einem Übergang des elften Impulses von PCLK von einem hohen auf einen niedrigen Pegel (siehe Fig. 6), wo Wortdaten Qa3 (siehe Fig. 6), die zur vorherigen Leseoperation gehören, zur Ausgabepufferschaltung 160 übertragen werden, und einem Übergang des zwölften Impulses von PCLK von einem niedrigen auf einen hohen Pegel (siehe Fig. 6), wo Wortdaten Qb0 (siehe Fig. 6), die zur nächsten Leseoperation gehören, zur Schaltung 160 übertragen werden, definiert ist. Daher wird ein Wortspeichersignal WORD_LCH zum Halten eines Wortsignals PCA_WORD unter Verwendung eines Wartezeit- Kennzeichensignals CL-2_Flag erzeugt, welches von der Wartezeitsignal-Erzeugungseinheit 170 erzeugt wird, so daß es möglich ist, den Datenübertragungsweg der Auswahlschaltung 150 ohne Auswirkung auf die vorherige Datenausgabe zu ändern.
Mit Bezug auf Fig. 5 besteht eine Ausgabepufferschaltung 160 aus Invertern 66, 76, 78, 80, 86, 88, 90, 92, 102, 104, 106, 114 und 116, PMOS-Transistoren 68, 70, 94 und 96, NMOS-Transistoren 72, 74, 98 und 100, NICHT-ODER-Gattern 82 und 108 und NICHT-UND-Gattern 84 und 114. Wenn ein Taktsignal auf einen hohen Pegel schaltet, werden die Signale SAOUT<0<' und SAOUT<16<', die von der in Fig. 2 gezeigten Auswahlschaltung 150 erzeugt werden, zu einer Ausgabepufferschaltung 160 geliefert und darin zwischengespeichert. Insbesondere wenn ein Taktsignal PCLK auf einem hohen Pegel liegt, werden die NMOS-Transistoren 72 und 98 und die PMOS-Transistoren 70 und 96 durchgesteuert. In Abhängigkeit von den Logikzuständen des Signals SAOUT<0<' und SAOUT<16<' werden die Speicherzustände eines Zwischenspeichers 161, der aus den Invertern 76 und 78 besteht, und eines Zwischenspeichers 162, der aus den Invertern 102 und 104 besteht, festgelegt. Wenn das Taktsignal PCLK auf einem niedrigen Pegel liegt, können die Signale SAOUT<0<' und SAOUT<16<' nicht in der Schaltung 160 gehalten werden, da die NMOS-Transistoren 72 und 98 und die PMOS-Transistoren 70 und 96 gesperrt sind.
In Fig. 6 bezeichnen die Signale CKE, CS, WORD und MR ein Taktaktivierungssignal, ein Chipansteuersignal, ein Signal zum Auswählen eines Einzelwortmodus und eines Doppelwortmodus bzw. ein Modusregister-Setzsignal. Nun wird nachstehend eine Leseoperation eines synchronen Masken-ROM- Bauelements unter der Annahme, daß die CAS-Wartezeit 5 Taktzyklen beträgt und die Bitbündellänge BL 4 ist, beschrieben.
Wenn bei der Leseoperation mit dem Einzelwortmodus ein Lesebefehl nach 2 Taktzyklen nach einem Zeilenaktivierungsbefehl auftritt, werden höhere (oder niedrigere) Wortdaten nacheinander der Reihe nach in vier Takten nach 5 Taktzyklen zeitverschachtelt verarbeitet. Und ein neuer Lesebefehl wird in dieses nach 4 Taktzyklen nach dem Eingang des vorherigen Leseaktivierungsbefehls eingespeist. Dann werden höhere (oder niedrigere) Wortdaten, die einem ersten Lesebefehl entsprechen, der Reihe nach in vier Takten zeitverschachtelt verarbeitet und niedrigere (höhere) Wortdaten, die dem nächsten Lesebefehl entsprechen, werden nacheinander in vier Takten ausgegeben. Eine solche Operation wird nachstehend genauer beschrieben.
Wenn die Signale CKE, CAS und MR auf hohen Pegeln liegen, während die Signale CS und RAS auf niedrigen Pegeln liegen, wird ein Zeilenaktivierungsbefehl (d. h. eine Zeilenadresse & ein Speicherbefehl) mit der zweiten steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK, das in das ROM-Bauelement geliefert werden soll, synchronisiert. Eine Zeilenansteuerschaltung 120 aktiviert eine Zeile der Speicherzellenmatrix 110 als Reaktion auf eine Zeilenadresse RAa, die geliefert wird, wenn der Zeilenaktivierungsbefehl auftritt. Eine Leseverstärkerschaltung 130 liest und hält Datenbits aus der Speicherzellenmatrix 110 über Bitleitungen, die zur angesteuerten Zeile gehören.
Wenn nach 2 Taktzyklen die Signale CKE, RAS und MR auf einen hohen Pegel schalten, während die Signale CS und CAS auf einen niedrigen Pegel schalten, wird ein Lesebefehl (d. h. eine Spaltenadresse & ein Speicherbefehl) mit der vierten steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK, das in das ROM-Bauelement geliefert werden soll, synchronisiert. Eine Spaltenansteuerschaltung 140 steuert einen Teil von Datenbits (z. B. Doppelwortdaten), die in der Leseverstärkerschaltung 130 gehalten werden, als Reaktion auf eine Spaltenadresse CAa, die geliefert wird, wenn ein Lesebefehl eingegeben wird, an. Gleichzeitig mit der Eingabe des Lesebefehls werden ein Signal WORD mit niedrigem Pegel zum Auswählen von einem des Einzelwortmodus und des Doppelwortmodus und ein Signal A1 mit niedrigem Pegel zum Auswählen entweder der höheren Wortdaten oder der niedrigeren Wortdaten in den Puffern 220 und 230 als Reaktion auf PCLK bzw. CAS gehalten. In diesem Fall schalten, wie in Fig. 6 gezeigt, die Ausgangssignale WORDF und PCA_WORD aus den jeweiligen Puffern 220 und 230 auf einen hohen bzw. niedrigen Pegel. Das Signal WORDF mit hohem Pegel zeigt an, daß das synchrone Masken-ROM- Bauelement im Einzelwortmodus arbeitet. Und das Signal PCA_WORD mit niedrigem Pegel zeigt an, daß niedrigere der Doppelwortdaten, die aus der Zeilenansteuerschaltung 130 ausgegeben werden, ausgewählt werden.
Wenn ein Lesebefehl synchron mit der vierten steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK eingegeben wird (d. h. wenn ein Spaltenadressen-Freigabesignal CAS synchron mit dem vierten Anstieg von CLK auf einen niedrigen Pegel abfällt), aktiviert eine Wartezeitsignal-Erzeugungseinheit 170 eines Wortdecodierers 200 ein Wartezeit- Kennzeichensignal CL-2_Flag als Reaktion auf einen Übergang des Signals CAS von einem hohen auf einen niedrigen Pegel. Dann wird das Wartezeit-Kennzeichensignal CL-2_Flag synchron mit den siebten steigenden Flanken der Taktsignale PCLK und CLK nach 3 Taktzyklen deaktiviert (die siebte steigende Flanke der Taktsignale PCLK und CLK ist um 2 Taktzyklen früher als jene, die einer CAS-Wartezeit von 5 entspricht).
Eine Speichersignal-Erzeugungseinheit 190 des Wortdecodierers 200 erzeugt ein Wortspeichersignal WORD_LCH mit Impulsform als Reaktion auf einen Übergang des Wartezeit-Kennzeichensignals CL-2_Flag von einem hohen auf einen niedrigen Pegel. Wie in Fig. 6 gezeigt, ist das Wortspeichersignal WORD_LCH am siebten Übergangspunkt eines Taktsignals PCLK von einem hohen auf einen niedrigen Pegel aktiv und ist am achten Übergangspunkt eines Taktsignals PCLK von einem niedrigen auf einen hohen Pegel inaktiv.
Wenn das Wortspeichersignal WORD_LCH aktiv ist, hält die Ansteuersignal-Erzeugungseinheit 190 ein Signal PCA_WORD mit niedrigem Pegel und gibt ein Ansteuersignal nCA_WORD mit hohem Pegel und ein Ansteuersignal CA_WORD mit niedrigem Pegel als Reaktion auf ein Signal WORDF mit hohem Pegel und das gehaltene Signal PCA_WORD aus. Folglich werden die Transfergatter 155 und 157 einer Auswahlschaltung 150 freigegeben (da WORDF auf einem hohen Pegel liegt), während ein Transfergatter 156 derselben gesperrt wird. Die Auswahlschaltung 150 wählt dann niedrigere Qa0 aus den Doppelwortdaten aus, die von der Zeilenansteuerschaltung 140 geliefert werden. Das ausgewählte Datenbit Qa0 wird in der Ausgabepufferschaltung 160 synchron mit der achten steigenden Flanke eines Taktsignals PCLK zwischengespeichert. Die zwischengespeicherten Daten Qa0 werden synchron mit der neunten steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK aus dem Bauelement ausgegeben.
Danach werden die Doppelwortdaten fortlaufend gemäß einer Bitbündellänge über die Zeilenansteuerschaltung 140 zur Auswahlschaltung 150 übertragen. Und die übertragenen niedrigeren Wortdaten werden über die Ausgabepufferschaltung 160 in derselben Weise wie vorstehend erwähnt aus dem Bauelement ausgegeben. Folglich werden vier niedrigere Wortdatenbits Qa0, Qa1, Qa2 und Qa3 entsprechend der Bitbündellänge aus dem Bauelement ausgegeben, wobei sie nacheinander mit einem Taktsignal synchronisiert werden.
Wie in Fig. 6 gezeigt, tritt der nächste Lesebefehl synchron mit der achten steigenden Flanke eines Systemtaktsignals CLK auf. Auf den Lesebefehl hin werden ein Signal WORD mit niedrigem Pegel und ein Signal A1 mit hohem Pegel in entsprechenden Puffern 220 bzw. 230 gehalten. Alle Signale WORDF und PCA_WORD aus den jeweiligen Puffern 220 und 230 schalten dann auf hohe Pegel. Das Signal PCA_WORD mit hohem Pegel zeigt an, daß höhere der Doppelwortdaten, die von der Zeilenansteuerschaltung 130 geliefert werden, ausgewählt werden. Dies bedeutet, daß die in der vorherigen Bindbündel-Leseoperation erzeugten Wortdaten niedrige Wortdaten sind, während die Wortdaten von der nächsten Bindbündel-Leseoperation höhere Daten sind.
Wenn der Lesebefehl synchron mit der achten steigenden Flanke des Systemtaktsignals CLK auftritt (d. h. das Spaltenadressensignal CAS synchron mit CLK auf einen niedrigen Pegel fällt), aktiviert die Wartezeitsignal- Erzeugungseinheit 170 des Wortdecodierers 200 das Wartezeit-Kennzeichensignal CL-2_Flag als Reaktion auf CAS. Synchron mit den elften steigenden Flanken der Taktsignale PCLK und CLK (oder die steigenden Flanken der Taktsignale PCLK und CLK sind um 2 Taktzyklen früher als jene, die einer CAS-Wartezeit von 5 entsprechen) wird das Wartezeit-Kennzeichensignal CL-2_Flag deaktiviert.
Die Speichersignal-Erzeugungseinheit 190 des Wortdecodierers 200 erzeugt dann ein Wortspeichersignal WORD_LCH mit Impulsform als Reaktion auf den Übergang des Wartezeit-Kennzeichensignals CL-2_Flag von einem hohen auf einen niedrigen Pegel. Das Wortspeichersignal WORD_LCH wird am elften Übergang des Taktsignals PCLK von einem hohen auf einen niedrigen Pegel aktiviert und wird bei einem zwölften Übergang des Taktsignals PCLK von einem niedrigen auf einen hohen Pegel deaktiviert, wie in Fig. 6 gezeigt. Wenn WORD_LCH aktiviert wird, hält die Einheit 190 das Signal PCA_WORD mit hohem Pegel. Als Reaktion auf das Signal WORDF mit hohem Pegel und das gehaltene Signal PCA_WORD mit hohem Pegel gibt die Einheit 190 ein Signal nCA_WORD mit niedrigem Pegel und ein Signal CA_WORD mit hohem Pegel aus. Somit werden die Transfergatter 156 und 157 der Auswahlschaltung 150 durchgesteuert, während ein Transfergatter 155 derselben gesperrt wird. Das heißt, ein Datenübertragungsweg ändert sich zwischen dem Zeitpunkt des elften Übergangs des Taktsignals PCLK von einem hohen auf einen niedrigen Pegel und dem Zeitpunkt des zwölften Übergangs des Taktsignals PCLK von einem niedrigen auf einen hohen Pegel. Da die niedrigeren Wortdaten Qa3, die zur vorherigen Leseoperation gehören, in der Ausgabepufferschaltung 160 synchron mit der elften steigenden Flanke von PCLK gehalten werden, kann sich ein Datenübertragungsweg in einer Auswahlschaltung ohne Kollision der niedrigen Wortdaten mit den höheren Wortdaten (ohne Einfluß auf die vorherige Datenausgabe) ändern.
Infolge der Umstellung für den Datenübertragungsweg überträgt die Auswahlschaltung 150 höhere aus den Doppelwortdaten, die von der Zeilenansteuerschaltung 130 geliefert werden, in die Ausgabepufferschaltung 160. Wenn der zwölfte Impuls des Taktsignals PCLK auf einen hohen Pegel schaltet, hält die Ausgabepufferschaltung 160 die höheren Wortdaten aus der Auswahlschaltung 150. Die zwischengespeicherten Wortdaten werden aus dem Bauelement synchron mit der dreizehnten steigenden Flanke des Taktsignals PCLK ausgegeben. Folglich werden die vier höheren Wortdatenbits Qb0, Qb1, Qb2 und Qb3 synchron mit einem Taktsignal nacheinander aus dem Bauelement nach außen ausgegeben.
Wie vorstehend beschrieben, wird beim fortlaufenden Ausgeben der höheren (oder niedrigeren) Wortdaten und der niedrigeren (oder höheren) Wortdaten bei einer Leseoperation während eines Einzelwortmodus das Wortspeichersignal WORD_LCH während eines Deaktivierungsintervalls eines Taktsignals, das um 2 Taktzyklen früher ist als jenes, das der CAS-Wartezeit entspricht, als aktiviert festgelegt. Da ein Datenübertragungsweg durch die Auswahlschaltung 150 hindurch mit Hilfe des Signals WORD_LCH gesteuert wird, ist es möglich, den Datenübertragungsweg ohne Kollision der niedrigeren (oder höheren) Wortdaten mit den höheren (oder niedrigeren) Wortdaten (ohne Einfluß auf die vorherige Datenausgabe) zu ändern.
Obwohl die Erfindung insbesondere mit Bezug auf deren bevorzugte Ausführungsbeispiele gezeigt und beschrieben wurde, ist es für Fachleute selbstverständlich, daß verschiedene Änderungen in der Form und den Einzelheiten vorgenommen werden können, ohne vom Gedanken und Schutzbereich der Erfindung abzuweichen.

Claims (15)

1. Synchrones Speicherbauelement mit einem Doppelwortmodus, der in einem Zyklus eines externen Taktsignals auf Doppelwortdaten zugreift, oder einem Einzelwortmodus, der in einem Zyklus des externen Takts auf Einzelwortdaten zugreift, wobei das Bauelement folgendes umfaßt:
eine Matrix (110) aus einer Vielzahl von Speicherzellen, die in einer Matrixform von Zeilen und Spalten angeordnet sind;
eine Leseverstärkerschaltung (130) zum Lesen von Daten aus der Matrix über die Spalten;
eine Spaltenansteuerschaltung (140) zum Ansteuern eines Teils der Spalten als Reaktion auf eine Spaltenadresse, die erzeugt wird, wenn ein Lesebefehl vor kommt;
einen Wortdecodierer (200) zum Halten eines Wortsignals während eines Deaktivierungsintervalls eines internen Taktsignals, das um 2 Taktzyklen früher ist als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, nach dem Vorkommen des Lesebefehls in der Leseoperation des Einzelwortmodus, und zum Erzeugen von Ansteuersignalen als Reaktion auf das gehaltene Wortsignal und ein Modusauswahlsignal; und
eine Auswahlschaltung (150) zum Empfangen von Daten, die den angesteuerten Spalten entsprechen, und zum Übertragen von höheren/niedrigeren der empfangene Daten zu einer Ausgabepufferschaltung (160) als Reaktion auf die Ansteuersignale, und dann zum fortlaufenden Übertragen von niedrigeren/höheren der empfangenen Daten zur Ausgabepufferschaltung.
2. Bauelement nach Anspruch 1, wobei das Modusauswahlsignal einen des Einzelwortmodus und des Doppelwortmodus auswählt und das Wortsignal entweder die niedrigeren Wortdaten oder die höheren Wortdaten auswählt.
3. Bauelement nach Anspruch 1, wobei der Lesebefehl auftritt, wenn ein Chipansteuersignal und ein Spaltenadressen-Freigabesignal niedrige Pegel aufweisen, während ein Zeilenadressen-Freigabesignal und ein Modusregister-Setzsignal hohe Pegel aufweisen.
4. Bauelement nach Anspruch 3, wobei der Wortdecodierer (200) ein Wartezeit-Kennzeichensignal als Reaktion auf das Spaltenadressen-Freigabesignal erzeugt, wobei der Wortdecodierer folgendes umfaßt:
eine Wartezeitsignal-Erzeugungseinheit (170), die das Wartezeit-Kennzeichensignal aktiviert, wenn das Spaltenadressen-Freigabesignal aktiviert wird, und das Wartezeit-Kennzeichensignal gemäß einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel, das um 2 Taktzyklen früher ist als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, deaktiviert, wobei das interne Taktsignal das Wartezeit- Kennzeichensignal aktiviert, wenn das Spaltenadressen- Freigabesignal aktiviert wird;
eine Speichersignal-Erzeugungseinheit (180), die ein Wortspeichersignal mit Impulsform erzeugt, wenn das Wartezeit-Kennzeichensignal deaktiviert wird; und
eine Ansteuersignal-Erzeugungseinheit (190), die das Wortsignal hält, wenn das Wortspeichersignal aktiviert wird, und eines der Ansteuersignale als Reaktion auf das gehaltene Wortsignal und das Modusauswahlsignal während der Leseoperation des Einzelwortmodus aktiviert.
5. Bauelement nach Anspruch 4, wobei das Wortspeichersignal bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem hohen auf einen niedrigen Pegel um 2 Taktzyklen früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, aktiviert wird, und bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel um 1 Taktzyklus früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, deaktiviert wird.
6. Bauelement nach Anspruch 4, wobei die Ansteuersignal- Erzeugungseinheit (190) die Ansteuersignale gleichzeitig ungeachtet eines Logikzustands des Wortsignals aktiviert, so daß Daten, die den angesteuerten Spalten entsprechen, während der Leseoperation des Doppelwortmodus über die Auswahlschaltung (150) auf einmal zur Ausgabepufferschaltung (160) übertragen werden.
7. Bauelement nach Anspruch 1, wobei die Ausgabepufferschaltung (160) Daten, die über die Auswahlschaltung (150) übertragen werden, nur bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel empfängt.
8. Bauelement nach Anspruch einem der Ansprüche 1 bis 7, das ein Masken-ROM-Bauelement umfaßt.
9. Verfahren zum fortlaufenden Lesen für ein synchrones Speicherbauelement mit einem Doppelwortmodus, der in einem Zyklus eines externen Taktsignals auf Doppelwortdaten zugreift, oder einem Einzelwortmodus, der in einem Zyklus des externen Takts auf Einzelwortdaten zugreift, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt:
Lesen von Daten aus einem Informationsspeicherbereich des synchronen Speicherbauelements;
Erzeugen von Ansteuersignalen als Reaktion auf ein Wortsignal und ein Modusauswahlsignal in einem Deaktivierungsintervall eines internen Taktsignals um 2 Taktzyklen früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, während des Einzelwortmodus; und
Übertragen eines Teils der gelesenen Daten in eine Ausgabepufferschaltung als Reaktion auf die Ansteuersignale, und dann fortlaufend Übertragen des restlichen Teils der gelesenen Daten in den Ausgabepuffer während des Einzelwortmodus.
10. Verfahren nach Anspruch 9, wobei das Modusauswahlsignal einen des Einzelwortmodus und des Doppelwortmodus auswählt und das Wortsignal einen Teil aus den gelesenen Daten auswählt.
11. Verfahren nach Anspruch 9, wobei der Lesebefehl auftritt, wenn ein Chipansteuersignal und ein Spaltenadressen-Freigabesignal niedrige Pegel aufweisen, während ein Zeilenadressen-Freigabesignal und ein Modusregister-Setzsignal hohe Pegel aufweisen.
12. Verfahren nach Anspruch 11, wobei der Schritt des Erzeugens der Ansteuersignale folgendes umfaßt:
Erzeugen eines Wartezeit-Kennzeichensignals als Reaktion auf das Spaltenadressen-Freigabesignal;
Erzeugen eines Wortspeichersignals mit Impulsform, wenn das Wartezeit-Kennzeichensignal deaktiviert wird;
Halten des Wortsignals, wenn das Wortspeichersignal aktiviert wird; und
Aktivieren von einem der Ansteuersignale als Reaktion auf das gehaltene Wortsignal und das Modusauswahlsignal während der Leseoperation des Einzelwortmodus,
wobei das Wartezeit-Kennzeichensignal aktiviert wird, wenn das Spaltenadressensignal aktiviert wird, und gemäß einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel um 2 Taktzyklen früher als ein Taktzyklus, der der CAS-Wartezeit entspricht, deaktiviert wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12, wobei das Wortspeichersignal bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem hohen auf einen niedrigen Pegel um 2 Taktzyklen früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, aktiviert wird, und bei einem Übergang eines internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel um 1 Taktzyklus früher als ein Taktzyklus, der einer vorbestimmten CAS-Wartezeit entspricht, deaktiviert wird.
14. Verfahren nach Anspruch 9, wobei die Ansteuersignale gleichzeitig ungeachtet eines Logikzustands des Wortsignals aktiviert werden, so daß Daten, die den angesteuerten Spalten entsprechen, während der Leseoperation des Doppelwortmodus über die Auswahlschaltung auf einmal zur Ausgabepufferschaltung übertragen werden.
15. Verfahren nach Anspruch 9, wobei die Ausgabepufferschaltung Daten, die über die Auswahlschaltung übertragen werden, nur bei einem Übergang des internen Taktsignals von einem niedrigen auf einen hohen Pegel empfängt.
DE10053906A 1999-11-05 2000-10-31 Synchrones Masken-ROM-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann Expired - Fee Related DE10053906B4 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990048932A KR100341181B1 (ko) 1999-11-05 1999-11-05 연속적인 읽기 동작을 지원하는 동기형 마스크 롬 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10053906A1 true DE10053906A1 (de) 2001-05-23
DE10053906B4 DE10053906B4 (de) 2007-05-16

Family

ID=19618795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10053906A Expired - Fee Related DE10053906B4 (de) 1999-11-05 2000-10-31 Synchrones Masken-ROM-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6347064B1 (de)
JP (1) JP3685709B2 (de)
KR (1) KR100341181B1 (de)
DE (1) DE10053906B4 (de)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100420125B1 (ko) * 2002-02-02 2004-03-02 삼성전자주식회사 비휘발성 반도체 메모리 장치와 그것의 파워-업 독출 방법
KR100439033B1 (ko) * 2002-08-01 2004-07-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 리드 방법
KR100510512B1 (ko) * 2002-11-18 2005-08-26 삼성전자주식회사 이중 데이터율 동기식 반도체 장치의 데이터 출력 회로 및그 방법
KR100540480B1 (ko) * 2003-04-30 2006-01-11 주식회사 하이닉스반도체 데이터 신호와 어드레스 신호의 스큐를 감소시킬 수 있는메모리 장치
JP2005056448A (ja) 2003-08-01 2005-03-03 Toshiba Corp 半導体記憶装置
KR100567065B1 (ko) * 2004-04-28 2006-04-04 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치용 입력 회로
KR100609617B1 (ko) * 2005-04-04 2006-08-08 삼성전자주식회사 동작 주파수에 따라 모드가 전환되는 데이터 출력버퍼 및이를 포함하는 반도체 메모리 장치
KR100589227B1 (ko) * 2005-05-23 2006-06-19 엠텍비젼 주식회사 메모리 인터페이스 공유 기능을 구비한 장치 및 그 공유방법
KR100733954B1 (ko) * 2006-06-15 2007-06-29 삼성전자주식회사 향상된 스캔 구조를 갖는 플래시 메모리 장치
US7623367B2 (en) * 2006-10-13 2009-11-24 Agere Systems Inc. Read-only memory device and related method of design
KR100945816B1 (ko) 2008-09-03 2010-03-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR101145784B1 (ko) 2010-10-11 2012-05-17 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그를 포함하는 메모리 시스템
KR20170007927A (ko) * 2015-07-13 2017-01-23 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치 및 반도체시스템
JP6239078B1 (ja) * 2016-11-04 2017-11-29 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置および読出し方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5319759A (en) 1991-04-22 1994-06-07 Acer Incorporated Burst address sequence generator
US5452261A (en) 1994-06-24 1995-09-19 Mosel Vitelic Corporation Serial address generator for burst memory
US5594765A (en) 1995-01-03 1997-01-14 Hyundai Electronics America Interleaved and sequential counter
US5708688A (en) 1996-05-23 1998-01-13 Etron Technology, Inc. High speed programmable burst address generation circuit
KR100291194B1 (ko) * 1998-12-30 2001-06-01 박종섭 디디알 에스디램에서의 읽기 구동 방법 및 장치
US6191997B1 (en) * 2000-03-10 2001-02-20 Mosel Vitelic Inc. Memory burst operations in which address count bits are used as column address bits for one, but not both, of the odd and even columns selected in parallel.

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001167593A (ja) 2001-06-22
KR100341181B1 (ko) 2002-06-20
US6347064B1 (en) 2002-02-12
KR20010045596A (ko) 2001-06-05
DE10053906B4 (de) 2007-05-16
JP3685709B2 (ja) 2005-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69923769T2 (de) Asynchrones halbleiterspeicher-fliessband
DE69832455T2 (de) Halbleiterspeicheranordnung
DE102004050080B4 (de) Halbleiterspeichervorrichtung mit Spaltenadresspfad darin zur Energieverbrauchsreduzierung
DE69838852T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur kopplung von signalen zwischen zwei schaltungen, in verschiedenen taktbereichen arbeitend
DE3727688C2 (de) Halbleiterspeichersystem
DE69535672T2 (de) Synchrone NAND DRAM Architektur
DE19882486B4 (de) Synchroner, nicht-flüchtiger Seitenmodus-Speicher
DE10236696B4 (de) Taktsynchrone Halbleiterspeichervorrichtung
DE10053906A1 (de) Synchrones Masken-Rom-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann
DE19647828A1 (de) Synchron-Halbleiterspeichervorrichtung mit leicht steuerbarem Autovorladebetrieb
DE19549532B4 (de) Synchrone Halbleiterspeichervorrichtung mit Selbstvorladefunktion
DE60214992T2 (de) Mehrbit-prefetch-ausgangsdatenweg
DE112004001676B4 (de) Direktzugriffsspeicher mit Postambel-Datenübernahmesignal-Rauschunterdrückung
DE19742700A1 (de) Synchrone Halbleiterspeichervorrichtung mit mehreren Bänken
DE19821215A1 (de) Mehrfach-Bank-Halbleiterspeichervorrichtung
DE69829039T2 (de) Signalverzögerungsvorrichtung zur Verwendung in Halbleiterspeichervorrichtung für verbesserte Operation in Burst-Betriebsart
DE3928902A1 (de) Halbleiterspeicher und verfahren zum betreiben desselben
DE19653114C2 (de) Synchron-Halbleiterspeichervorrichtung, bei der ein Burstzähler gemeinsam für ein Datenschreiben und für ein Datenlesen verwendet wird
DE19954564B4 (de) Steuerungsschaltung für die CAS-Verzögerung
DE3942386A1 (de) Zeitgabeschaltung fuer einen halbleiterspeicher
DE19944727B4 (de) Integrierte Schaltung und synchrones Halbleiterspeicherbauelement mit einer Takterzeugungsschaltung
DE19738893A1 (de) Schaltsignalgenerator und diesen verwendendes, synchrones SRAM
DE60100612T2 (de) Synchrone Halbleiterspeichervorrichtung
DE102005013238A1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Übertragen von Justierinformation für Datenschnittstellen-Treiber eines RAM-Bausteins
DE19752664C2 (de) Synchrone Halbleitervorrichtung mit Speicherchips in einem Modul zur Steuerung eines Freigabesignals als Auslöser beim Lesen von Daten

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20110502