CN1608336A - 测试用插座 - Google Patents

测试用插座 Download PDF

Info

Publication number
CN1608336A
CN1608336A CNA02826259XA CN02826259A CN1608336A CN 1608336 A CN1608336 A CN 1608336A CN A02826259X A CNA02826259X A CN A02826259XA CN 02826259 A CN02826259 A CN 02826259A CN 1608336 A CN1608336 A CN 1608336A
Authority
CN
China
Prior art keywords
axle
framework
tested object
test
flat spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA02826259XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN1327575C (zh
Inventor
谷幸央
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Publication of CN1608336A publication Critical patent/CN1608336A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1327575C publication Critical patent/CN1327575C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R33/00—Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
    • H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
    • H01R33/76—Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/50—Fixed connections
    • H01R12/51—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
    • H01R12/52—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures connecting to other rigid printed circuits or like structures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

本发明涉及一种测试用插座，通过向测试对象作用均衡的按压力，进行可靠的测试。该测试用插座10将测试对象1向测试装置4的测试面按压。其包括：框架11，其可拆卸地安装在一个基座8上，基座8上具有用于放置电路装置等测试对象1的开口部8a，并被安装在测试面上，所述框架能打开和闭合开口部8a；操作件12，具有一个安装在框架11上、在规定角度范围内可以正逆旋转的轴16，向测试对象1方向突出的接合部18；板弹簧13，具有沿轴16的旋转方向倾斜式升高并与接合部18一起滑动的弹簧片13b，并且安装在轴16上，可以进行移动，以与所述测试对象1接触，或从所述测试对象上脱离。

Description

测试用插座
技术领域
本发明涉及一种测试用插座，其用于在测试板使IC、印刷电路板、液晶显示板等形成图案的电路装置等测试对象电导通。
背景技术
图32及图33给出了进行上述电路装置1的导通测试的状态，在电路装置1上以图案形式形成触点部1a，把此电路装置1固定在测试装置2内部进行测试。测试装置2具有测试板3和安装在测试板3的触点探测器4，测试板上的电极部3a形成图案。
如图33所示，触点探测器4具有绝缘外壳4a和整列配置在绝缘外壳4a内的导电接触元件4b，导电接触元件的轴向两端呈针状。导电接触元件4b被容纳在沿绝缘外壳4a厚度方向贯通形成的容纳孔4c内，通过螺旋弹簧4d激发，而使轴向的两端部分突出绝缘外壳4a。此触点探测器安装在测试板3，并使导电接触元件4b的位于测试板3一侧的端部与电极部3a对应。
如图32所示，当在测试板3上安装触点探测器4后，用螺钉之类的连接件6把板状的安装件5固定在测试板3上。通过安装件5的安装，触点探测器4就被夹持在测试板3和安装件5之间。
安装件5上形成有开口部5a，在该开口部5a内插入电路装置1并进行固定。通过插入，使得电路装置1的触点部1a与触点探测器4的导电接触元件4b相对，电路装置1通过导电接触元件4b，与测试板3导电连接，从而可以进行电路装置1的测试。
在进行这样的测试中，由于导电接触元件4b必须与测试板3的电极部3a、电路装置1的触点部1a可靠地接触，所以，通常使用一种测试用插座将电路装置1压靠在触点探测器4上。
图34及图35给出了一种常规的测试用插座100。该测试用插座100具有一个基座110和一个插座主体120，基座110固定在测试装置2的安装件5上，插座主体120安装在基座110中并可自由转动。基座110上形成一个开口部113，电路装置1插入其中。
插座主体120可以用来打开和关闭基座110的开口部113，其具有一个框架部121，安装在基座110上且可以转动，一个压块部122，相对框架121部可以自由进退。另外，还具有一个锁闭部123，安装在框架部121上，并通过卡爪可拆卸地固定到基座110上。
压块部122安装有一个手柄124。手柄124具有一个轴126，其外表面形成螺纹部125，轴126的螺纹部125与螺纹孔127旋合，螺纹孔沿框架部121的厚度方向贯通。
利用这种构造，在图34所示的插座主体120开启状态下，把电路装置1插入基座110的开口部113。然后，如图3 5所示，将插座主体120闭合，使锁闭部123固定在基座110，以保持闭合状态。在此状态下，沿螺纹旋入方向旋转手柄124。通过此旋转，如图35的右半部所示，轴126沿框架121的板厚方向移动，从而，压块部122向着触点探测器4按压电路装置1，以进行电路装置1的测试。
图36及图37给出了现有的其他的测试插座200。此测试插座200用于进行作为电路装置的半导体组件210的导通测试，为此，在测试板3上形成与半导体组件210的端子211对应的电极部。
测试插座200具有一个框架部220，覆盖测试板3及组件210，和一个锁闭部230，安装在框架部220两侧外表面。另外，用于向测试板3按压半导体组件210的压块240安装在框架部220的面向测试板一侧的表面上。压块240利用压缩弹簧之类的弹簧250安装在框架部220上。
在此构造中，如图36所示，在将半导体组件210安装在测试板3上后，测试用插座200覆盖实验板3。并且，如图37所示，锁闭部230通过卡爪固定在测试板3上，以保持闭合状态。通过此锁闭，弹簧250被压缩，所以，由于弹簧250的反作用力，压块240将半导体组件210向测试板3按压，进行测试。
然而，图34及图35所示的现有测试用插座100在测试时需要紧固螺钉，所以操作性差。另外，当紧固螺钉，将压块122向电路装置按压下时，紧固力根据进行螺钉拧紧的人而有所不同。由此，难以在稳定条件下进行测试，可靠性差。而且，如果螺钉紧固太弱，电路装置1就会导通不良，而如果紧固太强时，则又容易损坏电路装置1。
图36及图37所示的现有的测试用插座200，需要克服弹簧250的弹力来固定测试插座200，所以，当弹力很大时，会给操作者进行测试带来很大的负担。另外，当打开锁闭部230，以将测试插座200与测试板分开时，由于弹簧250的反作用力，测试插座瞬间被弹开，这很危险。
发明内容
鉴于以上现有问题，本发明目的在于提供一种测试用插座，其可以对电路装置作用均衡的按压力，由此进行可靠的测试，同时，提高可操作性，并具有高安全性。
根据本发明权利要求1的测试用插座用于把待测试对象向测试装置的测试面按压，其特征在于：包括一个按压件，其可以将待测试对象弹性地压靠在测试面上，并且在测试完成后可与所述待测试对象分开；以及一个操作件，其可绕按压件的轴正逆旋转，按压件和操作部件接合在一起，随着操作件的正旋转，对测试对象的按压力增加，随着逆旋转按压力减小。
在这样的权利要求1的发明中，由于操作件正旋转时，按压件的按压力增加，逆旋转时按压力减小，所以，可以利用对操作件的旋转操作，进行测试对象的按压及其松开。在此发明中，利用按压件的压力，把测试对象向测试装置的测试面按压，可以实现均衡的按压，能进行可靠的测试。另外，操作部件逆旋转时，按压件的压力减小，所以，能使按压件缓慢地从测试对象脱离，提高安全性。
权利要求2的发明的测试用插座是把测试对象向测试装置的测试面按压的插座，其特征在于具有：框架，可拆卸地安装在一个基座上，基座具有放置测试对象的开口部，基座安装在测试面上，框架能开启和闭合所述开口部；操作件，具有一个安装在所述框架上、可以在预定角度范围内正逆旋转的轴，同时，形成有向测试对象方向突出的接合部；板弹簧，具有沿所述轴的旋转方向倾斜式升高并与所述接合部一起滑动的弹簧片，并且安装在轴上，可以进行移动，以与测试对象接触，或从测试对象上脱离。
在权利要求2的发明中，当轴旋转时，操作件的接合部与板弹簧的弹簧片一起滑动。由于弹簧片沿轴的旋转方向倾斜升高，所以，当轴正旋转时，接合部与弹簧片一起滑动，由此，板弹簧向测试对象的方向移动，将测试对象向测试装置的测试面按压。另一方面，当轴逆旋转时，板弹簧对测试对象的按压力减小，所以能松开按压。
在此发明中，由于通过轴在规定角度范围内的正逆旋转，能够进行板弹簧对测试对象的按压及其松开，所以，能提高可操作性。另外，由于弹簧板以均衡的载荷按压测试对象，所以可以进行可靠的测试。
权利要求3所述的本发明的用于将测试对象向测试装置的测试面按压的测试用插座，其特征在于：包括由操作件和板弹簧组装的组件，该操作件具有可以在预定角度范围内正逆旋转的轴，同时，形成有向测试对象方向突出的接合部，该板弹簧具有沿轴的旋转方向倾斜式升高并与该接合部成对滑动的弹簧片，并且安装在轴上，可以进行移动，以与测试对象接触，或从测试对象上脱离。该轴可拆卸地安装于框架上，该框架可拆卸地安装在一个基座上，基座具有用于放置测试对象的开口部，并安装在测试面上，所述框架可以开启或闭合开口部。
在权利要求3的发明中，当轴件正旋转时，板弹簧按压测试对象，当轴件逆旋转时，板弹簧的按压力减小，所以，随轴在规定角度范围内进行正逆旋转，能进行板弹簧对测试对象的按压及其松开，所以，能够提高可操作性，同时，可以进行可靠的测试。
在权利要求3的发明中，由操作部件及板弹簧形成组件，此组件可以自由装卸于框架，所以，可以用作通用性的插座。
权利要求4的发明涉及权利要求2或3记载的测试用插座，其特征在于设置了按压/松开件，其对板弹簧进行施压，使其与测试对象分开。
在权利要求4的发明中，利用按压/松开件的施压，板弹簧与测试对象分开，所以板弹簧不会意外地按压测试对象，能防止测试错误。
权利要求5的发明涉及权利要求2～4中之一记载的测试用插座，其特征在于对该测试对象和板弹簧的间隔进行调整的间隔调整机构设置在轴和框架之间。
在权利要求5的发明中，利用间隔调整机构能进行板弹簧和测试对象的间隔调整，所以，能适应测试对象的厚度或大小，进行范围更广的通用性的测试。
权利要求6的发明涉及权利要求2～5任一记载的测试用插座，其特征在于沿轴的旋转方向间隔地设置有多对接合部及弹簧片。
在权利要求6的发明中，因为多对接合部和弹簧片以相等间隔布置，所以，板弹簧对测试对象的按压力均衡。由此，测试对象被均衡地按压在测试面，从而能进行可靠的测试。
权利要求7的发明涉及权利要求5记载的测试用插座，其特征在于该间隔调整机构具有至少两个调整板，二者以可以相互滑动地叠置在一起，同时，在二者内插入轴，所述轴不能相对框架进行旋转并且，二者配置在所述框架和轴之间，其中一个调整板可以垂直于框架进行移动，并且，每个调整板的叠置面形成沿移动方向倾斜的倾斜面。
在权利要求7的发明中，调整板的叠置面为倾斜面，所以，当一个调整板移动时，其他调整板在厚度方向上移动。由于这种移动可使轴接近框架或从框架上脱离，所以，能够调整板弹簧与测试对象之间的间隔。在此构造中，通过一个调整板的移动进行间隔调整，能够简单地进行间隔调整。另外，利用连续的、没有台阶的倾斜面进行间隔调整，能够进行连续的无级调整，从而可以进行细微调整。
权利要求8的发明涉及权利要求2或3记载的测试用插座，其特征在于在基座上形成用于安装该框架的支轴，同时，在框架形成用于安装框架的安装臂，安装臂上具有可以插入支轴的大致成U字形的安装槽，在支轴及安装槽上形成平行面。
在权利要求8的发明中，除了使支轴及安装槽上形成的平行面彼此相向之外，安装臂不能从支轴脱离，所以，可以把框架稳定地安装在基座上。另外，由于在平面相对的状态下，可以将支轴取出安装槽，所以，能简单地将框架从基座上卸下。
权利要求9的特征在于具有：旋转板，其配置在该接合部与框架或间隔调整机构之间，利用轴的插入，可以绕轴自由旋转；滑动部件，其配置在旋转板与框架或间隔调整机构之间。
在权利要求9的发明中，由于球体旋转产生的摩擦力，球体上部连接的旋转板沿与轴及球体的反方向旋转。此时，旋转板的上表面与滑动件的下表面接触并在其上滑动。此滑动件可以采用一个减摩件来减小滑动产生的摩擦，由此，能进一步降低手柄的操作力。
权利要求10的特征在于，包括锁闭臂，可转动地安装在所述框架上，使所述框架保持锁闭所述基座的开口部，突起部，形成于安装在所述轴的上端的手柄上，当所述框架闭合时进行联锁。
在权利要求10的发明中，在测试用插座的闭合状态，利用设置在手柄及控制杆的突起部的相互联锁，不能打开装有控制杆的锁闭臂。所以，在此状态下，不能打开测试用插座，不能取出作为测试对象的电路装置，所以，能防止手柄闭合状态下开启测试用插座这一误动作。
权利要求11的发明涉及权利要求1～10的任一记载的测试用插座，其特征在于该测试对象是其上形成图案的电路装置，该测试装置包括形成了电极部的测试板，触点探测器通过螺旋弹簧施压，安装在实验板上，多个两端均呈针状的与电极部相匹配的导电接触元件，成直线地容纳在外壳中，同时，导电接触元件轴向的端部突出到外壳的外部。
在权利要求11的发明中，由于电路装置和测试板通过触点探测器电连接，所以，能对电路装置进行可靠的测试。
附图说明
图1是本发明第一实施例的纵断面图。
图2是第一实施例的平面图。
图3是第一实施例的侧面图。
图4给出了第一实施例使用的轴，(a)是平面图，(b)是侧面图，(c)是底面图。
图5给出了第一实施例使用的板弹簧，(a)是平面图，(b)是侧面图。
图6(a)及(b)是把框架安装于基座的构造的部分正面图。
图7是第一实施例的框架处于打开状态的透视图。
图8(a)～(c)是按顺序说明第一实施例的动作的纵截面图。
图9是本发明第二实施例的纵断面图。
图10是第二实施例的平面图。
图11是第二实施例的侧面图。
图12给出了间隔调整机构，(a)是第一调整板的平面图，(b)是第二调整板的平面图。
图13(a)、(b)是给出了间隔调整机构动作的纵截面图。
图14是本发明第三实施例的纵断面图。
图15是给出了第三实施例使用的轴，(a)是平面图，(b)是纵断面图，(c)是侧面图。
图16是第三实施例使用的旋转板的平面图。
图17是给出了第三实施例使用的压缩弹簧和板弹簧的关系的侧面图。
图18是本发明第四实施例的纵断面图。
图19是第四实施例的平面图。
图20是第四实施例使用的组件的平面图。
图21是组件的侧面图。
图22是组件的纵断面图。
图23给出了第四实施例使用的轴衬，(a)是平面图，(b)是侧面图，(c)是底面图。
图24是给出了本发明第五实施例的框架闭合状态的纵断面图。
图25是图24的平面图。
图26是第五实施例的操作部的接合部的主要部分放大截面图。
图27是给出了本发明第五实施例的框架的开启状态的纵断面图。
图28是图27的平面图。
图29(a)、(b)分别给出了轴的其他形态的侧面图及纵断面图。
图30是给出了板弹簧的另一实施例的侧面图。
图31(a)、(b)给出了按压/松开部件的另一实施例的纵截面图。
图32给出了用于电路装置测试的一种构造的纵截面图。
图33是给出了触点探测器的内部的纵截面图。
图34是现有的测试用插座在测试前的纵截面图。
图36是另一现有的测试用插座在测试前的纵截面图。
图37是其他现有的测试用插座在测试过程中的纵截面图。
实施发明的优选方式
以下，将参照图中所示的实施例具体说明本发明。并且，在各实施例，同一部件对应使用同一标号。
第一实施例
图1～图8给出了本发明第一实施例的测试用插座10，图1是纵断面图，图2是平面图，图3是左侧面图。
如图32及33所示，此实施例中的测试用插座10，把触点探测器4安装在形成有电极部的测试板3，利用触点探测器4测试电路装置1。所以，测试板3为测试装置，电路装置1为测试对象。另外，触点探测器4朝向电路装置1的上表面为测试面。
本发明第一实施例中所用的触点探测器4与图33相似，如图8所示，包括绝缘外壳4a和导电接触元件4b，导电接触元件4b整列配置在外壳4a内，其轴向端部呈针状，并容纳在贯通外壳4a的容纳孔4c内，通过螺旋弹簧4d施压，导电接触元件4b的轴向两端从外壳4a突出。将触点探测器4安装在测试板3上，导电接触元件4b的位于测试板3一侧的端部与电极部3a对应。
如图1所示，触点探测器4利用固定在测试板3的基座8安装在测试板3上。基座8具有插入电路装置1的开口部8a，开口部8a的周围是把触点探测器4向测试板按压的阶梯形部8b。另外，在基座8上设置支轴9，在此实施例中，该支轴支撑可自由转动的测试用插座10。在支轴9的对侧形成钩部8c，用来在闭合状态下锁闭测试用插座10。另外，可以使触点探测器4及基座8形成为一体，并且固定在测试板3上。
测试用插座10包括框架11、安装在框架11的操作部件12、以及作为按压件的板弹簧13，通过对操作部件12的操作，该板弹簧可沿一个能与电路装置1的接合或脱离的方向(上下方向)移动。
框架11从平面看大致成矩形，从侧面看成一马蹄形。另外，框架11可拆卸地安装于基座8上。为了将框架11安装到基座8上，在框架11的长度方向的一端侧面上形成与支轴90接合的安装臂11a。
在框架11的安装臂11a的对侧安装了锁闭臂14。锁闭臂14通过与基座8的钩部8c接合，从而使框架11保持锁闭基座8的开口部8a的状态(测试用插座10的闭合状态)。锁闭臂14安装在锁闭轴11b，并可以转动，同时，通过扭簧、压缩弹簧之类的锁闭用弹簧15提供压力，可以向与钩部8c接合的方向旋转。由于锁闭臂14与钩部8c的接合，所以测试用插座10能稳定地保持闭合状态。
操作部件12具有一个轴16，其贯通框架11，可以进行旋转操作。图4示出了轴16，其由圆柱状的轴部16a、与轴部16a沿垂直相交方向延伸的圆板形状的凸缘部16b一体形成。
轴16的轴部16a作为操作部件12的旋转中心，从下方向上方突出并贯通框架11。可以在贯通框架11的突出端可拆卸地安装一个手柄17，以作为操作部件12旋转操作的把手。此手柄17通过一个沿与轴部16a垂直相交方向插入的穿销17a安装在操作部件12上。
轴16(操作部件12)被安装在框架11上，并能在规定的角度范围内正逆旋转。为此，在框架11形成规定长度的圆弧状的旋转限制孔11d(参见图2)的同时，在轴16的轴部16a上形成有在旋转限制孔11d内旋转的突出状的挡块16d。
另一方面，轴16的凸缘部16b的上表面与框架11面接触。作为接合部的球体18被安装在此凸缘部16b。为进行球体18的安装，在凸缘部16b形成有能使球体18落入并能使其旋转的球孔16c。球孔16c在轴16的圆周方向等间隔地形成于轴16的旋转中心周围的3个位置上，由此，将球体18等间隔地配置在轴16的圆周方向。
随着操作部件12的旋转，作为接合部，球体18边转动边在板弹簧13上滑动。使后述的板弹簧13向电路装置1接近，由于球体18的转动，可操作性得以提高。
在框架11的操作部件12的旋转始端及终端对应的位置，形成作为卡锁部的卡锁槽11e、11f。操作部件12旋转时，球体18落入这些卡锁槽11e、11f中，由此，能产生卡锁感，从而能确认旋转的起始点及终止点，所以，能提高可操作性。
另外，可以取代球体18，在凸缘部16b装入随着操作部件12的旋转而旋转的滚轴。
板弹簧13作为按压件，安装在操作部件12的轴16上，把电路装置1向触点探测器4按压。为将板弹簧13安装到轴16上，如图5所示，在板弹簧13的中央部分具有一个轴孔13a，轴16的轴部16a沿板厚度方向贯通该轴孔13a。轴孔13a的孔径比轴16的轴部16a的外径大一些，由此，轴16的旋转就不会传递到板弹簧13。另外，板弹簧13从平面看形成矩形板状的外形。板弹簧13的外形尺寸比框架11宽度方向的内部尺寸要小一些，由此，安装在轴16上时，板弹簧13位于框架11内侧。利用以上构造，可对板弹簧13的旋转进行限制，使之只能在与电路装置1的接合脱离方向移动。
板弹簧13上形成多个弹簧片13b。各弹簧片13b沿轴16的向前的正旋转方向倾斜升高。上述操作部件12一侧的球体18边转动边在各弹簧片13b上滑动，所以，弹簧片13的个数及位置与球体18是对应的，从而形成配对。并且，球体18的滑动随操作部件12的旋转进行，通过球体18在弹簧片13b上滑动，板弹簧13向下移动，以接近电路装置1。
在此实施例，球体18等间隔地配置在轴16的圆周方向，所以，与球体18配对的弹簧片13b也等间隔地配置在轴16的圆周方向。这样，通过多对球体18及弹簧片13b等间隔地配置，板弹簧13按压电路装置1，使电路装置1对触点探测器4按压的按压力均衡一致，因此，电路装置1可以均衡地向触点探测器4按压，从而能够对电路装置1进行可靠的测试。
另外，用于制造板弹簧13的材料可以是具有足以按压电路装置1的弹簧负载的材料，例如，作为板弹簧13所用材料，最好采用符合JIS标准的SUS304-CSP或者SK5。
板弹簧13上安装有具有规定厚度的板状的按压块20。按压块20安装在与形成弹簧片13b的表面相反侧(电路装置1)的表面上，并且直接按压电路装置1。按压块20用作缓冲件，可以使用不会损伤电路装置1的塑料、橡胶或其他材料制成。在这种情况下，按压块20的外形可以做成与板弹簧13的外形相同，从而限制其相对于框架11的旋转，以此来间接地限制板弹簧13的旋转。由此，扩大了板弹簧13加工的自由度，其加工变得容易。
另外，在以上构造的基础上，本实施例还设置有拉伸弹簧19，对板弹簧施加拉力，从而使其与电路装置分开。如图3所示，拉伸弹簧19连挂在框架11和板弹簧13之间，通过向上拉起板弹簧13，对板弹簧施加拉力，使其脱离电路装置1。由此，在通常状态，板弹簧13会脱离电路装置1，所以，板弹簧13不会意外地按压电路装置1，从而能防止操作错误。
下面，说明此实施例的动作。图1的左半部分给出了压下电路装置1前的状态，右半部分给出了压下电路装置1时的状态。
如图7所示，在打开状态，框架11立起，这时将电路装置1插入基座8的开口部8a。使框架11向闭合方向转动，使锁闭臂14固定在基座8的钩部8c，从而闭合框架11。在此状态，使手柄17正旋转。
图8给出了通过手柄17的正旋转，球体18作用于板弹簧13的状态的变化。在手柄17正旋转前，板弹簧13被拉伸弹簧19拉起，所以，如同图8(a)所示，球体18位于弹簧片13b的升高的起点部分。在此状态，板弹簧13(即，按压块20)与电路装置1呈分离状态。另外，球体18落入框架11的始端一侧的卡锁槽11e。
通过手柄17的向前的正旋转操作，轴16沿同方向旋转。通过此旋转，如同图8(b)所示，球体18边转动边沿弹簧片13b的斜面移动，所以，弹簧片13b挠曲，板弹簧13因弹簧片13b的弹力而向电路装置1方向移动，按压同一电路装置1。在此过程，板弹簧13受到触点探测器4的螺旋弹簧4d的反作用力，但通过调节板弹簧13的刚度，可以使得在紧固结束时板弹簧13作用于电路装置1的载荷比触点探测器4的反作用力要大，由此，板弹簧13能边挠曲边弹性按压电路装置1。另外，板弹簧13利用挠曲时的挠曲量，可以吸收电路装置1的厚度偏差。
在轴16的旋转终止位置，挡块16d与框架11的旋转限制孔11d的终端接触。此时，如同图8(c)所示，球体18到达弹簧片升高顶端，弹簧片13b成最大挠曲状态。由此，板弹簧13利用按压块20以最大弹力把电路装置1向触点探测器4按压(图1的左半部分)。因此，能利用导电接触元件4b导通电路装置1和测试板3，进行电路装置1的测试。
另外，在移动的终点位置，球体18落入在框架11的终端一侧形成的卡锁槽11f，所以，可以通过卡锁感觉来确认到达终端。
在上述操作过程中，板弹簧13的总载荷PI与包括螺旋弹簧4d的触点探测器4的总载荷PC相比，设定PI＞PC。并且，以电路装置1的厚度公差的下限值的尺寸来设定此PI，即使在电路装置1为公差上限值时，只要增加板弹簧13的挠曲，就能维持PI＞PC的关系。由此，能确实地将电路装置1向触点探测器4按压。
电路装置1的按压松开可以通过使手柄17逆向旋转、使轴16沿该逆向旋转进行。在轴16的逆向旋转时，球体18在弹簧片13b上沿上述方向的反方向移动，所以，弹簧片13b的挠曲减小。另外，板弹簧13被拉伸弹簧19拉起，回复到初始状态(图1的右半部分)。
在此实施例中，能利用轴16的正逆旋转进行板弹簧13对电路装置1的按压及其松开，所以，可操作性得以提高，同时，板弹簧以稳定的载荷按压电路装置1，所以，能进行可靠的测试。另外，按压解除时，轴16的逆旋转使板弹簧13的弹力逐渐减小，能保证安全操作。
图6给出了此实施例的支轴9和框架11的安装臂11a的关系。在安装臂11a形成有大致呈U字形的安装槽11g，支轴9可以嵌入其中。另外，在支轴9的一部分形成与直径方向垂直的平行面9h，同时，在安装槽11g中也形成平行面11h。
通过这样的构造，如图6(a)所示，除了形成于支轴9及安装槽11g的平行面9h、11h处于相向位置外，安装臂11a不会从支轴9脱离。因此，能使框架11确实地安装于基座8，能使框架11稳定地旋转。另外，安装臂11a(框架)对支轴9的装卸如图6(b)所示，在平行面9h、11h相向的状态下，能把安装臂11a从支轴9取出。由此，可以简便地进行框架11向基座8的装卸。
另外，支轴9和安装臂11a的关系并不限定于此，也可以把支轴9做成具有圆形截面的普通的轴，安装臂11a的安装槽11h也做成圆形的普通的槽。
第二实施例
图9～图13给出了本发明第二实施例的测试用插座30，在图9，左半部分给出了电路装置1压下前的状态，右半部分是电路装置1的压下时的状态。
在此实施例的测试用插座30，设置了间隔调整机构31。间隔调整机构31设置在框架11和轴16的凸缘部16b之间，通过进行板弹簧13和电路装置1的间隔调整，调整作用于电路装置1上的板弹簧13的载荷。
间隔调整机构31具有叠置的第一调整板32及第二调整板33和进行调整的调节器34。第一调整板32位于框架11一侧(上侧)与框架11的下表面接触，另一方面，第二调整板33位于轴16的凸缘部16b一侧，与凸缘部16b的上表面接触。调节器34以和框架11平行的水平状态安装在第一调整板32上。
如图12所示，第一调整板32形成有用于调节器34拧合的螺孔部32a。另外，在第一调整板32形成有用于轴16的轴部16a插入的长孔32b。长孔32b沿调节器34的长度方向延伸，由此，在调节器34进行旋转和操作时，第一调整板32可以沿与轴16的轴部16a垂直相交的水平方向移动。
第二调整板33形成有可以使轴16的轴部16a贯通的圆形轴孔33a。轴孔33a的直径与轴16的轴部16a的外径相同或大一些，使轴部16a可以贯通并能旋转。这样，通过轴16的轴部16a的贯通，第二调整板33在水平方向的移动被限制，但可以沿轴部16a的轴方向上下移动。
在第二调整板33上形成有与第一实施例的卡锁槽11e、11f相同的卡锁槽33e、33f。与此相对，如图9所示，圆周上等间隔的多个球体18插入轴16的凸缘部16b。每个球体18的一部分向凸缘部16b的上方突出一些，突出部与第二调整板33的下表面接触。因此，球体18可以落入卡锁孔33e、33f，由此，与第一实施例相同，操作者可以通过用手感知卡锁感觉来确认轴16旋转的起始点及终止点。
第一调整板32及第二调整板33的叠置面分别为倾斜面32c、33c。这些倾斜面32c、33c沿第一调整板32的长孔32b延伸的方向倾斜形成。另外，倾斜面32c、33c倾斜角度大致相同，倾斜面32c叠置在倾斜面33c上，它们的倾斜方向相反。这样，由于以倾斜方向相反的状态叠置倾斜面32c、33c，那么，如果一个调整板(第一调整板32)移动，则另一个调整板(第二调整板33)就能在上下方向移动。
并且，从平面看，第一调整板32及第二调整板33形成矩形外形，同时，在框架11形成与这些调整板32、33的侧面接触的支撑片11g(参见图11)。支撑片11g在与调整板32、33的侧面接触时进行滑动，通过侧面与支撑片11g接触，调整板32、33被限制旋转，第一调整板32只能在水平方向直线移动，第二调整板33只能在上下方向移动。
在此实施例，使调节器34在一方向旋转，沿直线方向推进第一调整板32，如图13所示，第一调整板32滑动。与此滑动联动，其倾斜面33c与第一调整板32的倾斜面32c叠置的第二调整板33根据倾斜面32c、33c的倾斜角度向板弹簧13方向移动(向下移动)。通过此移动，凸缘部16b与第二调整板33接触的轴16沿同方向移动，所以，凸缘部16b的球体18接触的弹簧片13挠曲，板弹簧13被下压，向电路装置1的方向移动。由此，可以调整板弹簧13和电路装置1的间隔。另一方面，使调节器34沿反方向旋转时，第二调整板33向与板弹簧13脱离的方向移动(向上移动)，所以，板弹簧13也向与电路装置1脱离的方向移动，这样，同样可以进行反方向的间隔调整。
在此实施例中，与第一实施例一样，在板弹簧13上形成有弹簧片13b，同时，随着构成操作部件12的轴16沿正方向旋转，球体18移动，使弹簧片13挠曲，从而，板弹簧13通过按压块20将电路装置1向触点探测器4弹性地按压。因此，与第一实施例一样，可以进行电路装置1的电气测试。
另外，在此实施例中，由于可以利用间隔调整板31调整板弹簧13与电路装置1的间隔，所以，可以测试厚度不同的电路装置1。另外，对于厚度相同的复式电路装置1，由于能变更板弹簧13的挠曲量，所以能够调整板弹簧13的紧固载荷。因此，本发明能适应与电路装置1接触的触点探测器4的导电接触元件4b的数量的变更。
并且，对于间隔调整机构31，由于其倾斜面32c、33c是平滑连续的，没有台阶，所以，利用这种倾斜面32c、33c，通过叠置的第一及第二调整板32、33的滑动，可以调整板弹簧13与电路装置1之间的间隔，从而，本发明使连续的调整成为可能，能够进行细微的间隔调整。
另外，在本实施例中，第一及第二调整板32、33与框架11的支撑片11g接触。但本发明并不限于此结构，第一及第二调整板也可以利用直线状的导向槽，和嵌入导向槽的导向突起或框架11的侧面内侧进行接触。
第三实施例
图14～图17给出了本发明第三实施例的测试用插座40。在此实施例，在板弹簧13上也形成有弹簧片13b，通过球体18随构成操作部件12的轴42的旋转而移动，使弹簧片13b挠曲。另外，通过设置间隔调整装置31，可以进行框架11和板弹簧13的间隔调整。
在此实施例中，在可沿正逆方向旋转的轴42上安装有旋转板41。如图16所示，旋转板41由圆形板构成，其中心部分贯通设置一个圆形两侧具有平行平面的非圆形状的轴孔41a。轴42贯通此轴孔41a，从而将旋转板41安装在轴42上。另外，轴42旋转的手柄17通过螺钉44固定在轴42的上端部分(参见图14)。
如图15所示，轴42包括：第一轴部42a，其形成有与旋转板41的轴孔41a相应的非圆形外形；第二轴部42b，其形成有圆形外形，与第二轴部42a连接并设在其下侧；凸缘部42c，其形成于第二轴部42b的下端，直径大一些。并且，通过第一轴部42a贯通旋转板41的轴孔41a，旋转板41被安装在轴42上，并能和轴42一体旋转。另外，旋转板41与第一轴部42a和第二轴部42b之间的阶梯部接触，能防止从轴42上脱落。
在旋转板41圆周的三个位置上等间隔地形成有沿厚度方向贯通的三个贯通孔41b。如图14所示，沿板弹簧13的弹簧片13b移动的球体18固定在各贯通孔41b中。并且，当旋转板41随轴42旋转时，球体18使弹簧片13b发生挠曲，这样，板弹簧13就可以通过按压块20，把电路装置1向触点探测器4弹性地按压。在此基础上，如图12(b)所示，在间隔调整板31的第二调整板33上形成有通过球体18落入产生卡锁感的卡锁孔33e、33f。
在这样的实施例，旋转板41具有与第一实施例及2的凸缘部16b同样的作用，可以使相当于凸缘部16b的旋转板41与轴42分离。这样，在这种轴42与旋转板41分离的构造中，轴42的外形简单，所以具有加工容易的优点。
压缩弹簧43套置在轴42的第二轴部42b上。如图14及图17所示，压缩弹簧43的下端被凸缘部42c固定防止脱出，上端通过被板弹簧13按压防止脱出。
压缩弹簧43以被凸缘部42c和板弹簧13压缩的状态套置在轴42上，由此，板弹簧13被向上施加压力，以与电路装置1脱离。所以，压缩弹簧43用作使板弹簧13从电路装置1脱离的脱离施压部件。
在这样的构造中，通过使轴42沿正方向旋转，球体18使弹簧片13挠曲，因此，板弹簧13利用按压块20把电路装置1向触点探测器4弹性按压，以对电路装置1进行电气测试。另一方面，在使轴42沿反方向旋转的状态，由于压缩弹簧43的弹力，板弹簧处于和电路装置1脱离的状态，所以，板弹簧13不会意外地把电路装置1向触点探测器4弹性按压，因而能防止操作错误。
并且，作为脱离施压部件的压缩弹簧43在被轴42的凸缘部42c和板弹簧13夹持的状态下被安装，所以压缩弹簧43不会从轴42上脱离，而板弹簧被向上施压，能与电路装置1实现稳定的脱离。
第四实施例
图18～图23给出了本发明第四实施例的测试用插座50。在图18，左半部分是电路装置1的压下前的状态，右半部分是电路装置1的压下时的状态。
在此实施例中，如图20～22所示，一个组件51用作将电路装置1向触点探测器4按压的机构，此组件51可拆卸地安装于框架11上。组件51通过把操作部件12及板弹簧13组装在一起而成。
组件51的操作部件12具有轴53、轴衬54和安装在轴53上端的手柄17。
轴53由轴部53a、从轴部53a沿垂直相交方向延伸的凸缘部53b一体形成。手柄17被螺钉44固定在轴部53a的上端部分，通过使手柄17沿正逆方向旋转，轴53沿同方向旋转。轴部53a的下端部分插入板弹簧13的轴孔13a中。
在凸缘部53b，作为接合部分的多个(本例中为3个)球体18被等间隔地配置在圆周上。同时，为了配置球体18，在凸缘部53b的圆周上等间隔的三个位置上形成有贯入球体18的贯通孔53c。球体18放置在贯通孔53c中，球体的一部分突出于各贯通孔53c的上方。
轴衬54呈阶梯结构，由上轴衬部54a及下轴衬部54b构成。图23给出了该轴衬54，其中央部分形成有轴孔54c，轴孔中贯入可旋转的轴53的轴部53a。如图20所示，上轴衬部54a及下轴衬部54b形成圆形两侧具有平行平面的非圆形外形，下轴衬部54b形成比上轴衬部54a更大面积的凸缘形状。上轴衬部54a被压入框架11上所形成的轴衬孔11h中。因此，轴衬孔11h形成与上轴衬部54a的外形相应的非圆形形状。
在上轴衬部54a被压入框架11的轴衬孔11h时，轴衬54不能旋转。此时，下轴衬部54b与框架11的下表面接触。另外，轴衬54的上表面与轴53的凸缘部53b接触，并且，手柄17固定在轴53的轴部53a上。通过这种构造，由于手柄17和轴衬54夹持框架11，所以，轴53不会从框架11上脱出。
另外，如图23所示，在轴衬54的下表面形成圆弧状的导向槽54d，各球体18可在其中移动。导向槽54d用于限制球体18的移动范围，在球体18的移动始端(相对于轴53的旋转起点)及移动终端(相对于轴53的旋转终点)的对应位置形成卡锁孔54e、54f。
板弹簧13通过拉伸弹簧19连接到轴衬54的端部。从而，将板弹簧13安装在轴衬54上，并将其向上拉伸，以脱离电路装置1。按压块20通过螺钉55固定在板弹簧13的下表面(参见图22)。并且，相应的球体18可自由滚动地与从板弹簧13上以一定角度倾斜升高的弹簧片13b接触。通过这样的结构，轴53、轴衬54、手柄17及具有按压块20的板弹簧13互相组装在一起，形成组件51。
在这样的组件51内，与板弹簧13和轴衬54组装在一起的轴53可与手柄17分离。将轴53从框架11的底部插入，然后，将轴衬54的上轴衬部54a压入框架11的轴衬孔11h中。并且，手柄17通过螺钉44固定在轴53上，轴53从框架11向上突出，从而，将组件51安装在框架11上。另一方面，把手柄17从轴53的轴部53a取下后，可从框架11取出轴53，从而把组件51从框架11上拆下。
框架11设计成适合基座8的规格，并且由于组件51对于框架11可自由安装拆卸，所以，可以选择与电路装置1的厚度和大小、或者触点探测器4的导电接触元件4b的个数和载荷等相对应的组件51，以用于进行测试。因此，可以作为具有通用性的测试插座50。
第五实施例
图24～图28给出了本发明第五实施例的测试用插座60。
在此实施例中，板弹簧13上也形成有弹簧片13b，通过球体18随构成操作部件12的轴42的旋转而移动，可使弹簧片13b发生挠曲。并且，与第三实施例相同，设置有间隔调整装置31，可以对框架11与板弹簧13之间的间隔进行调整。
并且，与第三实施例相同，旋转板41被安装在可沿正逆两个方向旋转的轴42上。
另外，如图24所示，用于使轴42旋转的手柄62通过固定螺钉64安装在轴42的上端部，并且不能相对轴42旋转。
在此实施例中，框架11、轴42、间隔调整机构31、旋转板41、球体18、板弹簧13及压缩弹簧43的构成及功能都与第三实施例相同，因此，省略对它们的详细说明。
当旋转板41随着轴42的旋转而旋转时，球体18能使弹簧片13b发生挠曲，板弹簧13通过按压块20，将电路装置向触点探测器弹性地按压(未示出)。
在此实施例中，特征在于具有：旋转板65，其配置在球体18和第二调整板33之间，球体18的上部突出于旋转板41的上表面；滑动部件66，其配置在旋转板65和第二调整板33之间，这样，旋转板65可绕插入其中的轴42自由旋转。
图26是第五实施例的操作/接合部分的主要部分放大截面图，在该实施例中包括球体18。
在没有旋转板65或滑动部件66时，如果操作者抓住手柄62使轴42沿正方向，即图26中的A方向旋转，不旋转的第二调整板33的下表面与球体18的上部接触，在其接触面上产生妨碍球体18旋转的摩擦力。其结果，按其摩擦力的大小，手柄62的操作力相应增加。
可是，在本实施例中具有旋转板65及滑动部件66，由于球体18旋转产生的摩擦力的反作用力，与球体18的上部接触的旋转板65沿B方向转动，该方向与轴42及旋转板41的旋转方向相反。因此，旋转板65的上表面在与滑动部件66的下表面接触时进行滑动。此滑动部件66由诸如氟树脂系列垫板、含有润滑剂的干燥轴承、或推力轴承之类的减摩材料制造，能减轻该滑动产生的摩擦。由此，能进一步降低手柄62的操作力。
另外，作为一种改变方式，可以省去此实施例中的间隔调整机构31。即此时滑动部件66直接配置在框架11与旋转盘65之间。
另外，旋转板41可以如同该第一实施例或第二实施例一样与轴42一体形成圆形凸缘。
并且，可以取代球体18使用滚轴。
另外，图24是给出了此实施例的测试用插座60的闭合状态的纵断面图，图25是其闭合状态的平面图，图27是给出了其开启状态的纵断面图，图28是其开启状态的平面图。
在此实施例，框架11的安装臂11a、将测试用插座60锁闭在闭合状态的基座8的钩部8c、以及与钩部8c接合的锁闭臂14等的结构与第二实施例、第三实施例相同。可是，该实施例的第二个特征在于，在测试用插座60的闭合状态，在与锁闭臂14一体成形的控制杆61的上端设置了突起部61a，与处于紧固位置的手柄62联锁。
如图24、图25所示，此实施例的手柄62包括一个槽部62b，其上部两端被切成台阶形，其圆柱中央部分的两侧也切成相同形状，以及一个旋钮部62a，位于手柄62的中央部分。为将手柄62安装到轴42上，手柄62的非圆形的孔和轴42的端部相互嵌合，不能旋转，并通过固定螺钉64固定。
在这样的实施例中，当测试用插座60处于闭合状态，且手柄62的旋钮部62a旋转到紧固位置时，如图24及图25所示，控制杆61的突起部61a与手柄62的抓持部62a的端面接触并联锁，控制杆61不能打开锁闭臂14。所以，在此状态，不能开启测试用插座60，不能取出作为测试对象的电路装置。
按照这样的实施例，手柄62的抓持部62a可以确保防止误动作，例如开启处于紧固位置的测试用插座60。
另一方面，当手柄62的抓持部62a旋转到朝向测试用插座60的开启状态的方向，使测试插座60处于开启位置时，如图27及图28所示，控制杆61的突起部61a位于手柄62的槽部62b的上部，与手柄62的抓持部62a不联锁，可以使锁闭臂14保持在开启状态。所以，在此状态，可以开启测试用插座60，拿出作为测试对象的电路装置。
另外，此实施例中的突起部61a也可以从手柄62的侧面突出，从而与控制杆61联锁。即，此时，控制杆61的突起部61a被切除形成大致的垂直面形状，此垂直面可以和手柄62一侧的突起部联锁。并且，随着使手柄61沿开启测试用插座60的方向旋转，该突起部与控制杆61的垂直面分离，由此，可以容易地松开该突起部的联锁。
另外，锁闭臂14和控制杆61可以一体形成。
其他实施例
图29～图31给出了其他实施例。在图29的实施例中，在轴16的凸缘部16b形成向板弹簧13方向突出的突起61。突起61等间隔地形成于凸缘部16b的圆周方向，与板弹簧13上所形成的升高状弹簧片13b成组对应接触。随着使轴16在正逆方向旋转，突起61在弹簧片13b上滑动，通过滑动，弹簧片发生挠曲，使板弹簧13对电路装置1进行按压。
图30给出了把多个板弹簧13叠置的形态。通过把多个板弹簧13叠置，能增大按压电路装置13的载荷。因此，不必采用形状或重量大的弹簧，就能得到大的弹力，从而能实现在小空间内配置弹簧。
图31给出了脱离施压部件的另一实施例，在这种情况下，该脱离施压部件对板弹簧13施压，使板弹簧13与电路装置13脱离。在图31(a)的构造中，是在框架11安装压缩弹簧63，利用压缩弹簧63对板弹簧13施压，使其与电路装置1脱离。另外，在图31(b)的构造中，板弹簧13的端部形成槽状，并直接固定在框架11进行施压。
本发明并不限于以上实施例，其可以进行各种变更。例如，作为支持框架11使之可以在基座8上转动的支轴9，可以是圆柱状。另外，本发明可以用于除将电路装置1向触点探测器4按压以外的测试。
工业实用性
按照权利要求1的发明，由于利用按压件的弹力，将测试对象向测试装置的测试面按压，可以实现均衡的按压，所以，能够进行可靠的测试。另外，由于操作部件逆旋转时按压件的弹力减小，所以，能使按压件缓慢地从测试对象脱离，提高安全性。
按照权利要求2的发明，由于板弹簧是在轴的规定角度范围内分别进行正逆旋转，以对测试对象进行按压及松开，所以，能提高可操作性。并且，板弹簧以均衡的载荷按压测试对象，可以进行可靠的测试。
按照权利要求3的发明，由于板弹簧是在轴的规定角度范围内分别进行正逆旋转，以对测试对象进行按压及其松开，所以，能提高可操作性。并能进行可靠的测试。另外，由操作部件及板弹簧形成的组件可以自由装卸于框架，所以，可以作为通用性的插座。
按照权利要求4的发明，在具有权利要求2及3的发明的效果的基础上，板弹簧不会意外按压测试对象，能防止测试错误。
按照权利要求5的发明，在具有权利要求2～4的发明的效果的基础上，还能调整板弹簧和测试对象的间隔，能适应测试对象的厚度或大小，进行更宽范围的通用性测试。
按照权利要求6的发明，在具有权利要求2～5的发明的效果的基础上，由于板弹簧对测试对象的按压力均衡。所以，测试对象被均衡地按压在测试面，从而能进行可靠的测试。
按照权利要求7的发明，在具有权利要求5的发明的效果的基础上，由于是通过一个调整板的移动来进行间隔调整，所以能简单容易地进行间隔调整，同时，由于利用连续的倾斜面进行间隔调整，所以，能进行无级调整，从而可以进行细微调整。
按照权利要求8的发明，在具有权利要求2及3的发明的效果的基础上，能简单地将框架与基座连接及分离。
按照权利要求9的发明，在具有权利要求2～8的发明的效果的基础上，旋转板能减小球体的滑动阻力，并且，采用减摩材料制成的滑动部件减小对旋转板的滑动阻力，所以，能进一步降低手柄的操作力。
按照权利要求10的发明，在具有权利要求2～5的发明的效果的基础上，在测试用插座的闭合状态，设在手柄及控制杆的突起部相互牵制，确保防止意外开启测试用插座这一误动作。
按照权利要求11的发明，在具有权利要求1～8的发明的效果的基础上，由于电路装置和测试板通过触点探测器电连接，所以，能对电路装置进行可靠的测试。

Claims (11)

1.一种用于将测试对象向测试装置的测试面按压的测试用插座，
包括：
按压件，其可以进行移动，以与所述测试对象接触或从所述测试对象上移开，并且当所述测试面接近所述测试对象时，可将所述测试对象弹性地向所述测试面按压；
操作件，其可在所述按压件的轴周围正逆旋转，
所述按压件和操作件相互接合在一起，当所述操作件正旋转时，对所述测试对象的压力增加，当所述操作件逆旋转时，对所述测试对象的压力减小。
2.一种用于将测试对象向测试装置的测试面按压的测试用插座，包括：
框架，可拆卸地安装在一个基座上，所述基座具有用于放置所述测试对象的开口部，所述基座安装在所述测试面上，所述框架能够开启和闭合所述开口部；
操作件，具有一个安装在所述框架上、可以在预定角度范围内正逆旋转的轴，同时，形成有向所述测试对象方向突出的接合部；以及
板弹簧，具有沿所述轴的旋转方向倾斜式升高并与所述接合部一起滑动的弹簧片，并且安装在所述轴上，可以进行移动，以使所述按压件与所述测试对象接触，或从所述测试对象上脱离。
3.一种用于将测试对象向测试装置的测试面按压的测试用插座，
包括：
由操作件和板弹簧组装的组件，所述操作件具有可以在预定角度范围内正逆旋转的轴，同时，形成有向所述测试对象方向突出的接合部，所述板弹簧具有沿所述轴的旋转方向倾斜式升高并与所述接合部成对滑动的弹簧片，并且安装在所述轴上，可以进行移动，以与所述测试对象接触，或从所述测试对象上脱离，
所述轴可拆卸地安装于一个框架上，所述框架可拆卸地安装在一个基座上，所述基座具有一个用于放置所述测试对象的开口部，并安装在所述测试面上，所述框架可以打开或闭合所述开口部。
4.根据权利要求2或3所述的测试用插座，其特征在于，设置有按压/松开件，对所述板弹簧进行施压，使所述板弹簧与所述测试对象脱离。
5.根据权利要求2～4中任一项所述的测试用插座，其特征在于，在所述轴和框架之间设置有间隔调整机构，对所述测试对象和板弹簧之间的间隔进行调整。
6.根据权利要求2～5中任一项所述的测试用插座，其特征在于沿所述轴的旋转方向等间隔地设置有多对所述接合部及弹簧片。
7.根据权利要求5所述的测试用插座，其特征在于，所述间隔调整机构具有至少两个调整板，二者可以相互滑动地叠置在一起，同时，在二者内插入轴，所述轴相对所述框架的旋转被限制，并且，二者配置在所述框架和轴之间，其中一个所述调整板可以垂直于所述轴进行移动，并且，每个所述调整板的叠置面形成沿所述移动方向倾斜的倾斜面。
8.根据权利要求2～7中任一项所述的测试用插座，其特征在于，在所述基座上形成用于安装所述框架的支轴，同时，在所述框架上形成用于安装所述框架的安装臂，所述安装臂具有可以插入所述支轴的大致成U字形的安装槽，在所述支轴和所述安装槽上形成相互平行的表面。
9.根据权利要求2～8中任一项所述的测试用插座，其特征在于，包括：
旋转板，其配置在所述接合部与所述框架或所述间隔调整机构之间，通过插入所述轴，可以绕所述轴自由旋转；以及
滑动件，其配置在所述旋转板与所述框架或所述间隔调整机构之间。
10.根据权利要求2～9中任一项所述的测试用插座，其特征在于，还包括锁闭臂，可转动地安装在所述框架上，使所述框架保持锁闭所述基座的开口部；以及突起部，形成于安装在所述轴的上端的手柄上，当所述框架闭合时进行联锁。
11.根据权利要求1～10中任一项所述的测试用插座，其特征在于，所述测试对象是其上形成有图案的电路装置，
所述测试装置包括其上形成有电极部的测试板和触点探测器，所述触点探测器通过螺旋弹簧施压，并安装在所述测试板上，使多个两端均呈针状的与所述电极部相匹配的导电接触元件，沿直线地容纳在一个外壳内，同时，所述导电接触元件轴向端部突出到所述外壳的外部。
CNB02826259XA 2001-12-28 2002-12-27 测试用插座 Expired - Fee Related CN1327575C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP401432/2001 2001-12-28
JP2001401432 2001-12-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1608336A true CN1608336A (zh) 2005-04-20
CN1327575C CN1327575C (zh) 2007-07-18

Family

ID=19189775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB02826259XA Expired - Fee Related CN1327575C (zh) 2001-12-28 2002-12-27 测试用插座

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7042238B2 (zh)
JP (1) JP4304699B2 (zh)
KR (1) KR100964848B1 (zh)
CN (1) CN1327575C (zh)
AU (1) AU2002359952A1 (zh)
MY (1) MY131059A (zh)
TW (1) TWI221529B (zh)
WO (1) WO2003058768A1 (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101082632B (zh) * 2006-06-02 2012-11-14 金宝电子工业股份有限公司 电路板测试治具
CN102830340A (zh) * 2012-08-03 2012-12-19 东莞光韵达光电科技有限公司 一种翻盖式电子芯片检测治具
CN102841302A (zh) * 2012-08-03 2012-12-26 东莞光韵达光电科技有限公司 一种旋扣式电子芯片检测治具
TWI425214B (zh) * 2011-03-09 2014-02-01
CN105322328A (zh) * 2015-11-12 2016-02-10 宁波瑞祥电器有限公司 一种接线板
CN108663546A (zh) * 2017-03-27 2018-10-16 Nts株式会社 测试插座
CN111628315A (zh) * 2019-02-27 2020-09-04 上海莫仕连接器有限公司 电连接器组合
TWI808024B (zh) * 2017-03-03 2023-07-01 美商艾爾測試系統 匣盒以及測試一或多個電子裝置的方法

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004079587A (ja) * 2002-08-09 2004-03-11 Reitetsukusu:Kk ウエハ回転装置とこれを有する端部傷検査装置
US7202657B2 (en) * 2004-10-21 2007-04-10 Johnstech International Corporation Manual actuator for loading leadless microcircuit packages in a circuit tester
JP4825610B2 (ja) * 2006-07-27 2011-11-30 株式会社ヨコオ 検査用ソケット
US20080081489A1 (en) * 2006-09-29 2008-04-03 Macgregor Mike G Reliable land grid array socket loading device
JP5041955B2 (ja) * 2007-10-17 2012-10-03 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
KR101032980B1 (ko) * 2008-11-25 2011-05-09 주식회사 엔티에스 반도체칩 검사용 소켓
KR101036379B1 (ko) * 2009-02-18 2011-05-23 삼성전기주식회사 카메라 모듈 불량 측정용 지그
US9341671B2 (en) 2013-03-14 2016-05-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Testing holders for chip unit and die package
US9459312B2 (en) * 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
US20140340107A1 (en) * 2013-05-17 2014-11-20 Expert International Mercantile Corporation Bga test socket
KR101357020B1 (ko) 2013-11-27 2014-02-05 주식회사 티씨에스 전자부품 테스트용 소켓
KR101678845B1 (ko) 2015-02-05 2016-11-24 리노공업주식회사 검사장치
US9425313B1 (en) 2015-07-07 2016-08-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR101709305B1 (ko) * 2015-11-25 2017-02-23 주식회사 엔티에스 지문인식센서 테스트용 소켓
KR20170066756A (ko) 2015-12-04 2017-06-15 삼성전자주식회사 소켓 핀 및 반도체 패키지 테스트 시스템
KR101780935B1 (ko) * 2016-03-30 2017-09-27 리노공업주식회사 검사소켓유니트
CN107508111B (zh) * 2016-06-14 2023-12-29 东莞领航电子有限公司 一种插头的ac弹片和pin补偿式接触结构
DE102018000338A1 (de) * 2017-01-18 2018-07-19 vhf camfacture Aktiengesellschaft Blankhalter für eine Dentalfräsmaschine
KR101966316B1 (ko) * 2018-01-09 2019-04-08 (주)디팜스테크 완충 기능을 갖는 번인 소켓
JP2021063660A (ja) * 2019-10-10 2021-04-22 株式会社エンプラス ソケット及び検査用ソケット
CN110687426B (zh) * 2019-11-06 2022-05-03 中电科思仪科技股份有限公司 多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法
KR102089653B1 (ko) * 2019-12-30 2020-03-16 신종천 테스트 소켓 조립체
KR102213077B1 (ko) * 2020-01-07 2021-02-08 (주)마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 패키지 테스트 소켓

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4554505A (en) * 1983-06-10 1985-11-19 Rockwell International Corporation Test socket for a leadless chip carrier
US5087878A (en) * 1990-11-30 1992-02-11 Compaq Computer Corporation Top-accessible system, and related methods, for simultaneously testing the opposite sides of printed circuit board
US5245277A (en) * 1992-08-04 1993-09-14 Xilinx, Inc. Clamp for testing used integrated circuit devices
JP2548554Y2 (ja) * 1992-09-30 1997-09-24 日本航空電子工業株式会社 Ｌｓｉ用コネクタ
US5572144A (en) * 1993-02-22 1996-11-05 Seagate Technology Test jig and method for probing a printed circuit board
JPH06310232A (ja) * 1993-04-28 1994-11-04 Augat Inc Ｉｃソケット
JPH08213128A (ja) * 1995-02-08 1996-08-20 Texas Instr Japan Ltd ソケット
JPH08306455A (ja) * 1995-05-01 1996-11-22 Nec Eng Ltd Ｉｃソケット
US5729147A (en) * 1995-08-22 1998-03-17 Aries Electronics, Inc. Housing for surface mountable device packages
US5788526A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
US6377061B1 (en) * 1997-12-12 2002-04-23 Texas Instruments Incorporated Expanded lead pitch for semiconductor package and method of electrical testing
US6142809A (en) * 1998-02-27 2000-11-07 Enplas Corporation IC socket assembly with tracking structure
KR100276826B1 (ko) * 1998-04-20 2001-01-15 윤종용 패키지되지않은칩을테스트하기위한케리어
JP3750778B2 (ja) * 1998-05-01 2006-03-01 株式会社エンプラス Ｉｃキャリア
ES2242451T3 (es) * 1998-10-10 2005-11-01 Un-Young Chung Conector de prueba.
JP2001124823A (ja) * 1999-10-28 2001-05-11 Jsr Corp 検査装置
JP2001133515A (ja) * 1999-11-09 2001-05-18 Nec Corp 半導体装置のテスト治具
WO2001037381A1 (en) * 1999-11-17 2001-05-25 Advantest Corporation Ic socket and ic tester
JP2001318107A (ja) * 2000-05-01 2001-11-16 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101082632B (zh) * 2006-06-02 2012-11-14 金宝电子工业股份有限公司 电路板测试治具
TWI425214B (zh) * 2011-03-09 2014-02-01
CN102830340A (zh) * 2012-08-03 2012-12-19 东莞光韵达光电科技有限公司 一种翻盖式电子芯片检测治具
CN102841302A (zh) * 2012-08-03 2012-12-26 东莞光韵达光电科技有限公司 一种旋扣式电子芯片检测治具
CN102830340B (zh) * 2012-08-03 2015-10-28 东莞光韵达光电科技有限公司 一种翻盖式电子芯片检测治具
CN105322328A (zh) * 2015-11-12 2016-02-10 宁波瑞祥电器有限公司 一种接线板
TWI808024B (zh) * 2017-03-03 2023-07-01 美商艾爾測試系統 匣盒以及測試一或多個電子裝置的方法
CN108663546A (zh) * 2017-03-27 2018-10-16 Nts株式会社 测试插座
CN108663546B (zh) * 2017-03-27 2020-09-15 Nts株式会社 测试插座
CN111628315A (zh) * 2019-02-27 2020-09-04 上海莫仕连接器有限公司 电连接器组合
CN111628315B (zh) * 2019-02-27 2021-06-04 上海莫仕连接器有限公司 电连接器组合

Also Published As

Publication number Publication date
AU2002359952A1 (en) 2003-07-24
JPWO2003058768A1 (ja) 2005-05-19
CN1327575C (zh) 2007-07-18
KR20040071759A (ko) 2004-08-12
KR100964848B1 (ko) 2010-06-24
WO2003058768A1 (en) 2003-07-17
US20040070414A1 (en) 2004-04-15
TWI221529B (en) 2004-10-01
US7042238B2 (en) 2006-05-09
MY131059A (en) 2007-07-31
TW200301363A (en) 2003-07-01
JP4304699B2 (ja) 2009-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1608336A (zh) 测试用插座
CN2750924Y (zh) 墨盒和记录装置
CN1225821C (zh) 卡用连接装置
CN1132548C (zh) 具有简化的锁定和解锁装置的家用电动食品制备器具
CN1292513A (zh) 具有将第一和第二门板推向关闭位置的弹簧的门机构
JP5041955B2 (ja) 電気部品用ソケット
KR101625186B1 (ko) 드럼 용기용 커플러 지지유닛과 이를 이용한 커플러 착탈방법과, 이를 갖는 드럼 용기용 유체 라인 연결장치
CN1223060C (zh) 端子压折装置
CN1277704C (zh) 锁定机构、变速杆装置以及换挡锁定单元
CN101060761A (zh) 用于支架和电子装置的枢转机构
CN1242600C (zh) 移动式终端装置
TWI345063B (zh)
CN101073492A (zh) 内窥镜
CN1676436A (zh) 薄板支承容器用盖体
CN1162680C (zh) 一维测定器
CN1661650A (zh) 用于制造平板显示器的设备
CN1497786A (zh) 连接器
CN1166679A (zh) 断电装置
CN112447579B (zh) 一种等离子体处理器、晶片顶升装置及其方法
CN1784554A (zh) 用于设备壳体的开关装置及其双轴铰接装置
CN1790614A (zh) 基板处理装置的恢复方法、恢复程序、及基板处理装置
CN1156103A (zh) 转辙器
CN1302073A (zh) 杠杆开关及使用该开关的检测装置
CN1881503A (zh) 多向输入装置
CN1941517A (zh) 连接器及连接器组件

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20070718

Termination date: 20141227

EXPY Termination of patent right or utility model