ES2242451T3 - Conector de prueba. - Google Patents
Conector de prueba.Info
- Publication number
- ES2242451T3 ES2242451T3 ES99970473T ES99970473T ES2242451T3 ES 2242451 T3 ES2242451 T3 ES 2242451T3 ES 99970473 T ES99970473 T ES 99970473T ES 99970473 T ES99970473 T ES 99970473T ES 2242451 T3 ES2242451 T3 ES 2242451T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- contact
- pins
- block
- contact pins
- test connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Dry Shavers And Clippers (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
Conector de prueba, que comprende: un primer alojamiento (51) realizado en un material aislante que presenta un espesor predeterminado y que presenta una abertura (51a) en su parte central; un segundo alojamiento (52; 66) realizado en un material aislante e instalado de manera insertada en la abertura (51a) del primer alojamiento (51) de manera que unas paredes laterales respectivas del primer alojamiento y del segundo alojamiento son adyacentes entres sí; y unos primer y segundo elastómeros (53, 54; 64, 65) instalados respectivamente en unas superficies superior e inferior (52a, 52b) del segundo alojamiento (52; 66); caracterizado porque el conector de prueba comprende además un bloque (55) de clavijas de contacto que presenta una pluralidad de clavijas (55a; 61; 61a) metálicas dispuestas con separaciones constantes, presentando las clavijas (55a) metálicas unos granos en una dirección constante sobre las mismas en la dirección de grano y estando dobladas en una dirección perpendicular a la dirección de grano, y que presenta una cinta (55b; 62; 62a) aislante pegada a un lado o a ambos lados de las clavijas metálicas para fijar la pluralidad de clavijas (55a; 61; 61a) para que puedan moverse juntas; y porque el bloque (55) de clavijas de contacto está instalado de manera insertada entre los primer y segundo alojamientos (51, 52; 66) y está en contacto con los primer y segundo elastómeros (53, 54; 64, 65) en las proximidades de ambas partes finales (55c; 63) de las clavijas (55a; 61; 61a) de contacto.
Description
Conector de prueba.
La presente invención se refiere a una estructura
de conexión eléctrica entre un dispositivo de circuito integrado
(CI) y una placa de circuito impreso, y en particular, a una
estructura de un conector de prueba para comprobar un circuito
integrado.
Un circuito integrado, fabricado mediante
procesos complicados, se somete a varias pruebas eléctricas para
medir sus características o inspeccionar su calidad. En este
sentido, frecuentemente se emplea un conector a fin de conectar
eléctricamente un circuito de prueba de una placa de circuito
impreso instalada en un equipo de prueba a un terminal exterior
(conductor exterior) del dispositivo CI. Es decir, para comprobar
el dispositivo CI, el conector sirve como interfaz para conectar
eléctricamente la placa de circuito impreso del equipo de prueba y
un dispositivo CI.
A continuación, se describirá una estructura
convencional de conector de prueba con referencia a los dibujos
adjuntos.
En general, tal como se muestra en la figura 1,
un conector de prueba de un dispositivo CI incluye un alojamiento 10
de conector y una pluralidad de dedos 11 de contacto (terminales de
contacto). El dedo de contacto se forma curvado en forma de
semicírculo a fin de que tenga una fuerza elástica de muelle por una
presión de apriete descendente. El número de referencia 12 denota
una clavija de fijación para fijar el dispositivo CI, de manera que
la conexión eléctrica entre el dedo de contacto y el conductor
exterior del dispositivo semiconductor no resulte inestable
mientras se prueba el dispositivo CI.
La figura 2 muestra un dispositivo 14 sometido a
prueba (DUT) como si estuviese montado en el conector. El
dispositivo 14 sometido a prueba está montado en el conector de una
manera en la que un conductor 15 exterior del dispositivo 14
sometido a prueba queda contactado por un terminal superior 11a del
dedo 11 de contacto. Para realizar la prueba, el terminal inferior
11b del dedo 11 de contacto está montado para que forzosamente sea
contactado en un circuito impreso (no mostrado) de la placa de
circuito impreso del equipo de prueba.
A continuación, el dispositivo 14 sometido a
prueba es apretado hacia abajo por una unidad de apriete (no
mostrada) para que el conductor exterior del dispositivo sometido a
prueba y el terminal superior 11a de la clavija de contacto del
conector estén conectados eléctricamente por el contacto de
apriete, y el terminal inferior 11b de la clavija de contacto y una
red de circuito (no mostrada) formada sobre la superficie de la
placa del equipo de prueba también están conectados eléctricamente
por el contacto de apriete.
La unidad de apriete de dispositivos (no
mostrada) hace que los conductores exteriores globales del
dispositivo sometido a prueba montado en el conector estén en
contacto con el terminal superior de los dedos de contacto, y en
este momento, la presión hacia abajo presenta un valor elevado. Por
consiguiente, si en cada prueba se aplica a los mismos una presión
hacia abajo tan intensa, la frecuencia de las pruebas se vuelve
mayor, lo que resulta en el deterioro de la fuerza elástica de
muelle del dedo de contacto del conector, o posiblemente se produce
una diferencia en la fuerza elástica de muelle con respecto a cada
dedo de contacto.
Al producirse esos problemas, con el tiempo, un
dedo de contacto con una fuerza elástica de muelle debilitada de
entre la pluralidad de dedos de contacto ocasionaría una
inferioridad de contacto o una inestabilidad de contacto en tal
conexión entre el dispositivo sometido a prueba y el terminal
exterior, aunque el dispositivo sometido a prueba se apriete hacia
abajo mediante la presión de apriete.
Un dedo de contacto así con la fuerza elástica de
muelle debilitada debe sustituirse por un nuevo dedo normal. En
este sentido, en caso de que un conector que tenga el dedo de
contacto y el alojamiento de conector como uno incorporado, aunque
se produzca un deterioro del contacto o una inestabilidad del
contacto para un único dedo de contacto, resulta necesario sustituir
el propio conector, de precio elevado, lo que inevitablemente
incurre en un gran gasto para las pruebas con residuos
abundantes.
Para resolver un problema así, la patente US nº
5.634.801 da a conocer un conector de prueba que presenta una
estructura en la que se sustituye individualmente una clavija de
contacto defectuosa, tal como se ilustra en las figuras 3A y 3B,
cuyos detalles se describirán a continuación.
El conector mostrado en la figura 3A incluye un
alojamiento 30, una pluralidad de ranuras 31 receptoras de clavijas
de contacto, dispuestas cada una en paralelo a intervalos
predeterminados dentro del alojamiento 30, unas cavidades superior
32a e inferior 32b, formada cada una en una superficie superior y
una superficie inferior del alojamiento. La cavidad superior 32a,
formada en la superficie superior del alojamiento 30, y la cavidad
inferior 32b, formada en la superficie inferior del alojamiento 30,
están colocadas en unas partes marginales en lados mutuamente
opuestos de la ranura.
Dentro de las cavidades superior 32a e inferior
32b están instalados respectivamente unos elastómeros 33a y 33b.
Dentro de cada una de las ranuras 31 receptoras de clavijas de
contacto están insertadas respectivamente unas clavijas 34 de
contacto con forma de S, de las cuales una parte final superior y
una parte final inferior se apoyan respectivamente sobre los
elastómeros.
El número de referencia 35 denota una placa de
circuito impreso del equipo de prueba, y el número de referencia 36
denota una red de circuito formada sobre la placa de circuito
impreso, la cual está conectada a la superficie inferior de la
clavija 34 de contacto.
La figura 3B es una vista en sección longitudinal
tomada a lo largo de la línea IV-IV de la figura
3A.
Tal como se ha descrito más arriba, el conector
convencional presenta una ventaja porque, puesto que cada clavija
34 de contacto está instalada individualmente en cada ranura 31
receptora de clavija de contacto, cualquier clavija de contacto
defectuosa puede sustituirse por una normal siempre que ocurra.
No obstante, también adolece de desventajas en
los siguientes aspectos.
En primer lugar, en caso de que una pluralidad de
clavijas 34 de contacto sea defectuosa, cada clavija de contacto
debería sustituirse una a una, creando inconvenientes y llevando
mucho tiempo sustituir las clavijas de contacto.
En segundo lugar, a fin de realizar las pruebas,
cuando el dispositivo CI (no mostrado) se aprieta hacia abajo
(sentido "a") al montarse sobre la parte superior de la
clavija de contacto, la parte de superficie inferior 34a de la
clavija 34 de contacto se mueve en la dirección horizontal a la red
de circuito, es decir, en un sentido "b" hacia el interior del
conector, mientras se pone en contacto con la red 36 de circuito de
la placa de circuito impreso.
Además, después de terminar las pruebas, cuando
el dispositivo semiconductor se eleva (sentido "c"), la parte
de superficie inferior 34a de la clavija 34 de contacto se mueve en
la dirección horizontal, es decir, en el sentido "d" opuesto
al sentido "b".
Por consiguiente, si la prueba del dispositivo
semiconductor se realiza repetidamente, la parte de superficie
inferior 34a de la clavija 34 de contacto siempre está en contacto
con la red 36 de circuito siempre que se mueve en los sentidos
"b" y "d". Por consiguiente, el movimiento repetido de la
parte de superficie inferior 34a genera una abrasión en la parte de
la red 36 de circuito en la que la clavija de contacto está
continuamente en contacto con la misma, lo que crea un problema de
deterioro de la placa de circuito impreso del equipo de prueba de
precio elevado.
Un método de fabricación de la clavija de
contacto o del dedo de contacto del conector de prueba convencional
es el siguiente.
Tal como se muestra en la figura 4A, se forma una
placa 40 metálica, que presenta granos 41 rectos en una dirección,
por moldeo por extrusión. Y, tal como se muestra en la figura 4B,
se dibuja una clavija de contacto o un dedo 42 de contacto en
diseños tales como una "forma de C" o una "forma de S". Y
luego, tal como se muestra en la figura 4C, un diseño conformado en
un dedo de contacto se corta del mismo, para así formar un dedo 42
de contacto.
Sin embargo, en este sentido, el dedo de contacto
hecho mediante ese método se rompe fácilmente a lo largo de los
granos del metal durante las pruebas, ya que un movimiento
ascendente y descendente se repite cientos y miles de veces.
Además, a medida que se repite el movimiento en
la dirección perpendicular a la dirección de los granos del metal,
su fuerza elástica se debilita, de manera que el dedo de contacto
se deforma fácilmente, lo que resulta en un acortamiento de la
durabilidad del conector.
La patente US nº 5.742.171 describe un
dispositivo de prueba para comprobar un circuito integrado
multicontacto. Ese dispositivo de prueba incluye un grupo de cuatro
unidades de clavijas de contacto alojado dentro de una cavidad
central de una base de conector y sujeto en su sitio por un
retenedor interior de tipo armazón.
Por tanto, es un objetivo de la presente
invención proporcionar una estructura de conector de prueba en la
que una clavija de contacto de un conector defectuoso se sustituya
por una unidad en bloque.
Otro objetivo de la presente invención es
proporcionar una estructura de conector de prueba en la que una red
de una placa de circuito impreso de un equipo de prueba no resulte
excoriada durante la prueba de un dispositivo semiconductor.
Otro objetivo adicional de la presente invención
es proporcionar un conector de prueba en el que un elastómero esté
instalado en una parte en la que una parte final de una clavija de
contacto está en contacto con un alojamiento de conector para
mantener sucesivamente una fuerza elástica de muelle en la parte
final de la clavija de contacto, prolongando así una durabilidad de
la clavija de contacto, y se reduce la desviación en altura de cada
clavija de contacto, de manera que se obtenga una fiabilidad de una
conexión eléctrica entre la clavija de contacto y un conductor
exterior de un dispositivo sometido a prueba.
Además, otro objetivo de la presente invención es
proporcionar un método de fabricación para una clavija de contacto
para un conector de prueba, para que un conector de prueba tenga
una fuerza elástica de muelle intensa y no se deforme fácilmente o
se fatigue fácilmente.
Para obtener estas y otras ventajas, y de acuerdo
con la finalidad de la presente invención, tal como se pone en
práctica y describe en líneas generales en la presente memoria, se
proporciona un conector de prueba que incluye: un primer
alojamiento realizado en un material aislante que presenta un
espesor predeterminado; un segundo alojamiento realizado en un
material aislante, una pared lateral del cual es adyacente a una
pared lateral del primer alojamiento; unos primer y segundo
elastómeros instalados respectivamente en unas superficies superior
e inferior del segundo alojamiento; en el que el conector de prueba
incluye además un bloque de clavijas de contacto que presenta una
pluralidad de clavijas metálicas dispuestas con separaciones
constantes, teniendo las clavijas metálicas granos en una dirección
constante sobre las mismas en la dirección de grano y estando
dobladas en una dirección perpendicular a la dirección de grano, y
que presenta una cinta aislante pegada a un lado o a ambos lados de
las clavijas metálicas para fijar la pluralidad de clavijas de
contacto para que puedan moverse juntas; y en el que el bloque de
clavijas de contacto está instalado de manera insertada entre los
primer y segundo alojamientos y está en contacto con los primer y
segundo elastómeros en las proximidades de ambas partes finales de
las clavijas de contacto.
El primer alojamiento del conector de prueba de
la presente invención es el material aislante que presenta una
abertura en su parte central, mientras que el segundo alojamiento
es un tapón aislante instalado de manera insertada en la abertura
del primer alojamiento.
De acuerdo con otro aspecto de la presente
invención, también se proporciona un conector de prueba que incluye:
un primer alojamiento realizado en un material aislante que
presenta una hendidura en la parte central de su superficie
superior y un rebaje receptor en la parte central de su superior
inferior; una unidad izquierda de soporte y una unidad derecha de
soporte instaladas, respectivamente, de manera insertada dentro del
rebaje receptor del primer alojamiento; un primer elastómero
instalado de manera sobresaliente tanto en una pared lateral de la
unidad izquierda de soporte como en una pared lateral de la unidad
derecha de soporte; un bloque izquierdo de clavijas de contacto
soportado por la pared lateral de la unidad izquierda de soporte; y
un bloque derecho de clavijas de contacto soportado por la pared
lateral de la unidad derecha de soporte; en el que cada bloque de
clavijas de contacto comprende una pluralidad de clavijas metálicas
dispuestas con separaciones constantes, teniendo las clavijas
metálicas granos en una dirección constante sobre las mismas en la
dirección de grano y estando dobladas en una dirección perpendicular
a la dirección de grano, y teniendo una cinta aislante pegada a un
lado o a ambos lados de las clavijas metálicas; y en el que el
bloque izquierdo de clavijas de contacto y el bloque derecho de
clavijas de contacto presentan, respectivamente, al menos una parte
doblada, las clavijas de contacto están dobladas hacia fuera con
respecto a cada pared lateral de la unidad izquierda de soporte y de
la unidad derecha de soporte, y la parte doblada del bloque
izquierdo de clavijas de contacto y la del bloque derecho de
clavijas de contacto se cierran entre sí.
De acuerdo con otro aspecto de la presente
invención, también se proporciona un método de fabricación de un
bloque de clavijas de contacto de un conector de prueba según la
invención, que incluye las etapas de: preparar una placa metálica
moldeada por extrusión para que presente granos en una dirección
constante sobre la misma; cortar la placa metálica en la dirección
de grano para formar una tira metálica; doblar o curvar la tira
metálica en una dirección perpendicular a los granos para hacer una
clavija de contacto para un conector; y disponer la pluralidad de
clavijas de contacto en separaciones constantes y pegar una cinta
aislante a un lado o a ambos lados de las clavijas de contacto para
formar así un bloque de contacto.
La figura 1 es una vista en sección longitudinal
de un conector de prueba convencional;
la figura 2 muestra un dispositivo sometido a
prueba montado en el conector de prueba de la figura 1;
la figura 3A es una vista en perspectiva exterior
de un conector de prueba de acuerdo con otra realización de la
técnica convencional;
la figura 3B es una vista en sección longitudinal
del conector de prueba tomada a lo largo de la línea
IV-IV;
las figuras 4A a 4C muestran secuencialmente el
orden del proceso de fabricación de una clavija de contacto de un
conector de prueba en la técnica convencional;
la figura 5A es un vista en perspectiva exterior
de un conector de prueba de acuerdo con un primer aspecto de la
presente invención;
la figura 5B es una vista en sección longitudinal
del conector de prueba tomada a lo largo de la línea
Vb-Vb de la figura 5A de acuerdo con la presente
invención;
la figura 5C es una vista en perspectiva en
despiece del conector de prueba de la figura 5A de acuerdo con la
presente invención;
las figuras 6A a 6C son vistas en corte que
muestran varias modificaciones de la clavija de contacto para el
conector de prueba de acuerdo con la presente invención;
las figuras 7A a 7B son vistas en perspectiva
exterior de un bloque de clavijas de contacto de acuerdo con la
presente invención;
las figuras 8A a 8C muestran el orden del proceso
de fabricación de la clavija de contacto para el conector de prueba
de acuerdo con la presente invención;
la figura 9A es una vista en planta de un
conector de prueba de acuerdo con un segundo aspecto de la presente
invención;
la figura 9B es una vista en sección longitudinal
del conector de prueba tomada a lo largo de la línea
IXb-IXb de la figura 9A de acuerdo con la presente
invención;
la figura 9C es una vista en corte de cada
elemento de la figura 9B en despiece de acuerdo con la presente
invención;
la figura 10A es una vista en corte del conector
de prueba de acuerdo con una segunda realización del segundo aspecto
de la presente invención; y
la figura 10B es una vista en corte de cada
elemento de la figura 10A en despiece de acuerdo con la presente
invención.
A continuación se describirán, con referencia a
los dibujos adjuntos, varias realizaciones de las estructuras de
conector de acuerdo con la presente invención.
A continuación se describirá, con referencia a
las figuras 5A a 5C, una estructura de conector de prueba, para
comprobar un dispositivo semiconductor sellado en un encapsulado de
tipo QPF (quad flat package), de acuerdo con un primer aspecto de
la presente invención.
La figura 5A es una vista en perspectiva exterior
de un conector de prueba de acuerdo con un primer aspecto de la
presente invención; la figura 5B es una vista en sección
longitudinal de conector de prueba tomada a lo largo de la línea
Vb-Vb de la figura 5A de acuerdo con la presente
invención; y la figura 5C es una vista en perspectiva en despiece
del conector de prueba de la figura 5A de acuerdo con la presente
invención.
Un conector de prueba de acuerdo con un primer
aspecto de la presente invención incluye un primer alojamiento 51
realizado en un material aislante que presenta una abertura 51a en
su parte central; y un segundo alojamiento 52 (o un tapón aislante)
realizado en un material aislante montado de manera insertada en la
abertura 51a del primer alojamiento.
Alrededor de las cuatros esquinas están formadas
ranuras 51b roscadas para fijar un conector a una placa de circuito
impreso en la que está formado un circuito de prueba. Puesto que el
conector de prueba se fija directamente sobre la placa de circuito
impreso de un equipo de prueba utilizando las ranuras 51b roscadas,
una parte final inferior de una clavija de contacto del conector y
una red de circuito de la placa de circuito impreso están
firmemente sujetas la una a la otra, presentando una buena
fiabilidad en la conexión y un baja resistencia de contacto.
Además, a diferencia de la técnica convencional,
la clavija de contacto de conector y la placa de circuito impreso
del equipo de prueba se conectan directamente, sin insertar una
placa de conector entre las mismas, de manera que se acorta un
camino de conexión eléctrica entre un conductor exterior del
dispositivo sometido a prueba y la red de circuito de la placa de
circuito impreso, lo cual resulta adecuado para comprobar un
dispositivo semiconductor de alta frecuencia. Además, durante las
pruebas, puede garantizarse una estabilidad en su conexión incluso
para un movimiento mecánico tal como cuando el encapsulado se
monta y desmonta.
El segundo alojamiento 52 presenta unas primera y
segunda cavidades 52a y 52b con forma de foso en sus superficies
superior e inferior. Un primer elastómero 53 está instalado de
manera insertada en la primera cavidad 52a, mientras que un segundo
elastómero 54 está instalado de manera insertada en la segunda
cavidad 52b.
Tal como se muestra en los dibujos, el segundo
alojamiento 52 está insertado en la abertura 51a del primer
alojamiento 51, y el bloque 55 de clavijas de contacto está
instalado de manera insertada entre el primer alojamiento 51 y el
segundo alojamiento 52.
El bloque 55 de clavijas de contacto incluye una
pluralidad de clavijas 55a de contacto dispuestas con separaciones
constantes, y una cinta 55b aislante termoadhesiva pegada a un lado
o a ambos lados de cada clavija 55a de contacto. La cinta 55b
aislante sirve para mantener las separaciones constantes entre cada
clavija de contacto, para fijar la pluralidad de clavijas de
contacto para que puedan moverse juntas al mismo tiempo y para
reducir una desviación en altura de cada clavija de contacto.
Por consiguiente, en cuanto el conector de prueba
de acuerdo con el primer aspecto de la presente invención, la
pluralidad de clavijas de contacto se forma en bloque, de manera
que las clavijas de contacto pueden sustituirse en bloque cuando
posiblemente sean defectuosas. Por tanto, resulta mucho más
ventajoso porque la sustitución de las clavijas de contacto se
realiza fácil y rápidamente.
Además, por consiguiente, sólo se sustituye el
bloque de clavijas de contacto defectuoso en vez de tirar el
conector entero, de manera que puede ahorrarse en gran parte su
coste.
Además, puesto que las clavijas de contacto están
fijadas en bloque con las mismas separaciones por la cinta de
poliimida, no separadas una a una, no resulta necesario ajustar las
separaciones entre cada clavija de contacto individual por separado
una a una.
El bloque 55 de clavijas de contacto está doblado
en forma de "C" para hacer contacto suficientemente con una
superficie, una pared lateral y una superficie inferior del segundo
alojamiento 52. El bloque 55 de clavijas de contacto se instala
simplemente insertándose desde el lado del segundo alojamiento 52,
parecido a como se inserta un clip, por tanto, la sustitución de una
clavija de contacto defectuosa es bastante sencilla.
La clavija de contacto puede cambiarse en varias
formas, tal como se muestra en las figuras 6A a 6C.
Las figuras 6A a 6C son vistas en corte que
muestran varias modificaciones de la clavija de contacto para el
conector de prueba de acuerdo con la presente invención.
En primer lugar, tal como se muestra en la figura
6A, la clavija 61 de contacto está doblada una vez en una parte en
la que está expuesta hacia fuera con respecto a la cinta aislante
62, y la parte final de la clavija 61 de contacto está doblada en
el sentido hacia fuera del alojamiento 66. La clavija 61 de
contacto está montada para hacer contacto con la superficie superior
de los elastómeros 64 y 65 en las proximidades de la parte 63
doblada. En especial, el interior de la clavija de contacto, es
decir, el lado opuesto al extremo de la clavija de contacto sobre la
base de la parte doblada, está en contacto con los elastómeros 64 y
65. Un primer extremo 67a, colocado en la superficie superior del
alojamiento 66 de la clavija 61 de contacto, y un segundo extremo
67b, colocado en la superficie inferior del alojamiento 66, están
formados como cogidos en la misma línea vertical.
Tal como se muestra en la figura 6B, la clavija
de contacto 61a está doblada dos veces en un parte en la que está
expuesta hacia fuera con resppecto a la cinta 62a aislante cada
parte 63a y 63b doblada de la cual está doblada en el sentido
opuesto entre sí. La parte 63a doblada está en contacto con los
elastómeros 64a y 65a instalados en las superficies superior e
interior del alojamiento 66a, respectivamente.
Tal como se muestra en la figura 6C, la parte
final superior 67c, colocada en la superficie superior del
alojamiento 66B de la clavija 61b de contacto, y la parte final
inferior 67d, colocada en la superficie inferior del alojamiento
66b, pueden formarse de manera que la parte inferior 67d sea más
corta, en una distancia "d" en la dirección horizontal, que la
parte superior 67c, o viceversa, en vez de formarse como cogidas en
la misma línea vertical.
Concretamente, la parte final superior (que está
conectada a un conductor exterior del dispositivo sometido a prueba
durante las pruebas) y la parte final inferior (que está conectada
a un circuito de la placa de circuito impreso durante las pruebas)
de la clavija de contacto pueden encontrarse como cogidas en la
misma línea vertical en la dirección arriba-abajo o
pueden presentar una diferencia tan larga como la distancia
"d" o mayor en la dirección horizontal. En otras palabras,
puede diseñarse adecuadamente una posición respectiva de la parte
final superior y de la parte final inferior a fin de ajustarse a un
terminal exterior del dispositivo sometido a prueba a conectarse a
las mismas o a la red de circuito formada sobre la placa de
circuito impreso.
Por consiguiente, mediante el ajuste de la
clavija de contacto del bloque de clavijas de contacto, el conector
de prueba de acuerdo con la presente invención puede aplicarse
fácilmente a varios tipos de equipos de prueba que presenten placas
de circuito impreso con formas diferentes y distintos tamaños.
Además, en cuanto a la estructura de conector de
prueba de acuerdo con la presente invención, cuando el dispositivo
sometido a prueba se aprieta mediante la presión de apriete durante
las pruebas, puesto que la parte final inferior de la clavija de
contacto y la red de circuito de la placa de circuito impreso están
conectadas la una a la otra por la presión descendente de apriete en
el sentido arriba-abajo, sin que se produzca un
movimiento en la dirección horizontal, la red de circuito de la
placa de circuito impreso no resultará excoriada, lo que evita que
se acorte la durabilidad de la placa del equipo de prueba.
Tal como se muestra en las figuras 7A y 7B, en
cuanto al bloque de clavijas de contacto de acuerdo con la presente
invención, una elasticidad de la clavija de contacto puede
controlarse ajustando las longitudes L1 y L2 de las clavijas 71a y
71b de contacto expuestas hacia fuera con respecto a las cintas 70a
y 70b aislantes.
Más detalladamente, cuanto más cortas sean las
longitudinales L1 y L2, más fuerte será la elasticidad (fuerza
elástica de muelle), mientras que cuanto más largas sean las
longitudinales L1 y L2, más débil será la elasticidad. Por
consiguiente, la anchura de las cintas 70a y 70b aislantes puede
controlarse para presentar una elasticidad adecuada durante las
pruebas, en consideración a una resistencia de contacto entre el
terminal exterior del dispositivo sometido a prueba y la parte
final de la clavija de contacto, la intensidad de la presión
descendente y las características eléctricas del circuito de
prueba.
A continuación se describirá, con referencia a
las figuras 8A a 8C, un método de fabricación de la clavija de
contacto para un conector de prueba de acuerdo con la presente
invención.
En primer lugar, tal como se muestra en la figura
8A, se forma un sustrato metálico que presenta granos de metal
(formados durante la extrusión) en una dirección constante.
A continuación, tal como se muestra en la figura
8B, el sustrato 80 metálico, que presenta una archivo
predeterminada, se corta en la dirección de grano para formar una
tira 82 metálica.
A continuación, tal como se muestra en la figura
8C, la tira 82 metálica se dobla o curva en la dirección "f"
perpendicular a la dirección de los granos 81 metálicos para formar
una clavija 83 de contacto.
Y a continuación, la pluralidad de clavijas de
contacto formadas doblando o curvando las tiras metálicas se
dispone con separaciones constantes, y se pega una cinta aislante a
un lado o a los dos lados de la misma, para fabricar de esta manera
el bloque de clavijas de conector a usar para el conector de la
presente invención.
Tal como se ha descrito anteriormente, en caso de
que la placa metálica se corte en la dirección de grano del metal,
que luego se dobla o curva en la dirección perpendicular a la
dirección de grano para formar la clavija de contacto, difícilmente
se producirá deformación o rotura de la forma doblada o curvada
debido a la fatiga del material, aunque la clavija de contacto de
conector se utilice durante largo tiempo, de manera que se prolonga
la durabilidad de la clavija de conector.
A continuación se describirá, con referencia a
las figuras 9A a 9C, una estructura de conector de prueba de un
dispositivo modular multichip de acuerdo con un segundo aspecto de
la presente invención.
La figura 9A es una vista en planta de un
conector de prueba de acuerdo con un segundo aspecto de la presente
invención; la figura 9B es una vista en sección longitudinal del
conector de prueba tomada a lo largo de la línea
IXb-IXb de la figura 9A de acuerdo con la presente
invención; y la figura 9C es una vista en corte de cada elemento de
la figura 9B en despiece de acuerdo con la presente invención.
Un conector de prueba de acuerdo con el segundo
aspecto de la presente invención es aplicable al caso en el que el
dispositivo sometido a prueba es un módulo multichip. El conector
de prueba incluye una hendidura 91a en la parte central de su
superficie superior, a través de la cual se mete y saca un conductor
exterior del dispositivo sometido a prueba, y un primer alojamiento
90 que presenta un rebaje 91b receptor, en el que se monta en el
centro del mismo una unidad de soporte para soportar un bloque de
clavijas de contacto. La hendidura 91a y el rebaje 91b receptor
están conectados el uno al otro.
La unidad de soporte de clavijas de contacto se
inserta dividiéndose en una unidad izquierda de soporte 93a y una
unidad derecha de soporte 93b en el rebaje 91b receptor.
Las unidades izquierda y derecha de soporte 93a y
93b presentan, respectivamente, una ranura en una parte superior
predeterminada en la que se mete la parte final superior de la
clavija de contacto.
Las unidades izquierda y derecha de soporte 93a y
93b están formadas, respectivamente, con un lado superior más
estrecho y un lado inferior más ancho. Por consiguiente, una
cavidad 99 está formada entre la unidad izquierda de soporte 93a y
la unidad derecha de soporte 93b en el lado superior más estrecho
que el lado inferior, mientras que la unidad izquierda de soporte
93a y la unidad derecha de soporte 93b casi entran en contacto en
el lado inferior.
Unas primeras cavidades 94a y 94b están formadas,
respectivamente, en cada pared lateral de las unidades izquierda y
derecha de soporte 93a y 93b, y unos primeros elastómeros 95a y 95b
están insertados, respectivamente, en las primeras cavidades 94a y
94b. Los elastómeros 95a y 95b están formados sobresaliendo hacia
fuera más que la pared lateral de las unidades izquierda y derecha
de soporte 93a y 93b.
Unas segundas cavidades 96a y 96b están formadas,
respectivamente, en la superficie de las unidades izquierda y
derecha de soporte 93a y 93b, y unos segundos elastómeros 97a y 97b
están insertados, respectivamente, en las segundas cavidades 96a y
96b. Los segundos elastómeros 97a y 97b están formados
sobresaliendo algo hacia abajo con respecto a la superficie inferior
de las unidades de soporte.
Unos bloques izquierdo y derecho de clavijas de
contacto 98a y 98b están instalados entre las unidades izquierda y
derecha de soporte 93a y 93b.
Los bloques izquierdo y derecho de clavijas de
contacto 98a y 98b incluyen, respectivamente, una pluralidad de
clavijas 100 de contacto, dispuesta con separaciones
predeterminadas, y una cinta aislante 101 pegada a un lado o a
ambos lados de cada una de la pluralidad de clavijas 100 de
contacto.
La pluralidad de clavijas de contacto pegadas a
la cinta aislante 101 está formada en bloque para poder moverse
juntas. Por consiguiente, si algunas clavijas de contacto resultan
defectuosas durante las pruebas, se sustituyen en bloque ya que
están pegadas a la cinta aislante 101.
Las partes finales de las clavijas 100 de
contacto están conectadas por unas cintas lineales aislantes
estrechas 100a, respectivamente. Cuando el bloque de clavijas de
contacto, que presenta las clavijas de contacto delgadas con
separaciones estrechas, se fija a las unidades izquierda y derecha
de soporte, las cintas lineales 100a sirven para evitar que las
separaciones entre clavijas de contacto se ensanchen en la parte
final superior de las clavijas de contacto, o para evitar un
cortocircuito entre las clavijas de contacto provocado posiblemente
cuando las separaciones entre las mismas se vuelven demasiado
estrechas.
La parte final superior 102 de las clavijas 100
de contacto del bloque de clavijas de contacto está doblada con
forma de gancho, y su parte marginal de la parte final superior 102
está insertada en la ranura 92 de las unidades izquierda y derecha
de soporte 93a y 93b.
A medida que los bloques de clavijas de contacto
se montan en las unidades izquierda y derecha de soporte y se
insertan luego en el primer alojamiento 90, la parte final superior
102 de las clavijas de contacto se colocan debajo del primer
alojamiento 90. Por consiguiente, puesto que la parte final superior
102 de las clavijas 100 de contacto se coloca dentro del
alojamiento en vez de dejarse fuera al descubierto, las clavijas de
contacto difícilmente se deformarán debido a cualquier fuente
exterior cuando el dispositivo sometido a prueba se meta y saque.
Por tanto, se prolonga la durabilidad de la clavija de contacto de
conector.
Cada clavija 100 de contacto está doblada al
menos dos veces, presentando un primera parte 104 doblada y una
segunda parte 105 doblada. La primera parte 104 doblada esta
formada cerca de la parte final superior 102 de la clavija 100 de
contacto, mientras que la segunda parte 105 doblada está formada
cerca de la parte final inferior 103 de la clavija 100 de contacto.
La primera parte 104 doblada se dobla para ser convexa hacia el
exterior de la pared lateral de las unidades izquierda y derecha de
soporte, un vértice de la cual está colocado en la línea
C-C central del conector, es decir, en la misma
línea vertical que la hendidura.
La primera parte 104 doblada de las clavijas de
contacto del bloque izquierdo de clavijas de contacto 98a está en
contacto con el primer elastómero 95a instalado en la unidad
izquierda de soporte 93a, mientras que la primera parte 104 doblada
del bloque derecho de clavijas de contacto 98b está en contacto el
primer elastómero 95b instalado en la unidad derecha de
soporte.
La primera parte doblada de la clavija de
contacto del bloque izquierdo de clavijas de contacto y la primera
parte doblada de la clavija de contacto del bloque derecho de
clavijas de contacto se encuentran más próximas entre sí de manera
enfrentada.
Durante las pruebas, el conductor exterior del
dispositivo sometido a prueba se inserta entre las primeras partes
dobladas de las clavijas de contacto izquierdas y derechas. Más
detalladamente, cuando se inserta el conductor exterior del
dispositivo sometido a prueba, los bloques izquierdo y derecho de
clavijas de contacto se abren a medida que las primeras partes
dobladas de los bloques izquierdo y derecho de clavijas de contacto
se empujan hacia fuera con respecto a la línea central, y cuando se
saca el conductor exterior del dispositivo sometido a prueba,
quedan sujetas.
En general, en la mayor parte de los casos, a
medida que las pruebas se realizan repetidamente, la elasticidad de
la primera parte doblada se debilita, lo que deteriora una
fiabilidad de la conexión eléctrica entre el conductor exterior del
dispositivo sometido a prueba y la clavija de contacto.
Sin embargo, según la presente invención descrita
anteriormente, puesto que el elastómero se instala entre la parte
doblada del bloque de clavijas de contacto y la pared lateral de la
unidad de soporte, se evita una inestabilidad en la conexión entre
el conductor exterior del dispositivo sometido a prueba y la
clavija de contacto provocada normalmente a medida que la
elasticidad (fuerza elástica de muelle) en la parte doblada de la
clavija de contacto se vuelve débil.
Además, a diferencia del método de contacto por
punto de la técnica convencional, una superficie más extensa del
conductor exterior del dispositivo sometido a prueba está en
contacto con la clavija de contacto, de manera que se mejora
bastante la estabilidad de la conexión eléctrica entre la clavija de
contacto y el conductor exterior.
La segunda parte 105 doblada está formada en un
lado esquinero inferior de las unidades izquierda y derecha de
soporte 93a y 93b, y la parte final inferior 103 de la clavija de
contacto se hace sobresalir hacia fuera con respecto a las unidades
izquierda y derecha de soporte 93a y 93b.
La parte final inferior 103 de la clavija 100 de
contacto está colocada en la superficie inferior de cada una de las
unidades izquierda y derecha de soporte 93a y 93b y, especialmente,
está en contacto con los segundos elastómeros 97a y 97b instalados
en la superficie inferior de las unidades izquierda y derecha de
soporte 93a y 93b.
Por consiguiente, aunque se repita un movimiento
ascendente y descendente de la clavija de contacto mientras se
realiza la prueba repetidamente, la elasticidad de la parte en la
que la parte final inferior 103 está en contacto con el circuito
impreso de la placa de circuito impreso se mantiene constantemente.
Además, puesto que la desviación en altura de la parte final
inferior 103 de las clavijas de contacto es uniforme, se logra una
fiabilidad en la conexión entre el circuito impreso y la clavija de
contacto.
La clavija 100 de contacto puede formar una
tercera parte 106 doblada entre la primera parte 104 doblada y la
segunda parte 105 doblada.
Durante las pruebas, el conductor exterior del
dispositivo sometido a prueba se inserta entre las primeras partes
104 dobladas de los bloques izquierdo y derecho de clavijas de
contacto 98a y 98b para conectarse a las clavijas de contacto del
conector. En este instante, cuando el dispositivo sometido a prueba
se aprieta mediante una presión descendente al mismo tiempo que la
clavija del conductor del dispositivo sometido a prueba se inserta
entre las primeras partes dobladas de los bloques izquierdo y
derecho de clavijas de contacto, la parte final inferior 103 de la
clavija de contacto se conecta al circuito impreso del equipo de
prueba.
Al igual que en el primer aspecto de la presente
invención, el conector de prueba de acuerdo con el segundo aspecto
de la presente invención resulta ventajoso porque las clavijas de
contacto se forman en bloque pegando la cinta de poliimida a la
pluralidad de clavijas de contacto, y cuando cualquier clavija de
contacto del conector de prueba es defectuosa, puede sustituirse
fácilmente en bloque. Además, la elasticidad de la clavija de
contacto puede controlarse fácilmente cambiando la longitud de la
clavija de contacto expuesta fuera de la cinta de poliimida. Además,
puede reducirse la desviación en altura entre cada clavija de
contacto. Además, los elastómeros para evitar que se debilite la
elasticidad de la clavija de contacto se proporcionan en la posición
en la que el conductor exterior del dispositivo sometido a prueba
se inserta para conectarse, para evitar así el acortamiento de la
durabilidad de la clavija de contacto. Además, al fabricar la
clavija de contacto, puesto que la placa metálica se corta en la
dirección de grano del metal y se dobla o curva en la dirección
perpendicular a la dirección de grano, la fuerza elástica de muelle
de la clavija de contacto difícilmente se debilita o
deforma.
deforma.
La figura 10A es una vista en corte de un
conector de prueba de acuerdo con una segunda realización del
segundo aspecto de la presente invención; y la figura 10B es una
vista en corte de cada elemento de la figura 10A en despiece de
acuerdo con la presente invención.
Un conector de prueba de acuerdo con una segunda
realización del segundo aspecto de la presente invención también
presenta una estructura para comprobar un dispositivo modular
multichip. Especialmente, resulta aplicable al caso en el que una
placa del equipo de prueba es una placa de circuito impreso de tipo
vertical.
El conector de prueba de la segunda realización
del segundo aspecto de la presente invención incluye una hendidura
111a en la parte central de su superficie superior, a través de la
cual se mete y saca un conductor exterior del dispositivo sometido
a prueba, y un primer alojamiento 110 que presenta un rebaje 111b
receptor en la parte central de su superficie inferior. La hendidura
111a y el rebaje 111b receptor están conectados el uno al otro.
Una unidad 112 de soporte de clavijas de contacto
está insertada en el rebaje 111b receptor. La unidad 112 de soporte
de clavijas de contacto está dividida en una unidad izquierda de
soporte 112a y una unidad derecha de soporte 112b, entre las cuales
está instalado un bloque de clavijas de contacto.
Una primera cavidad 113a y una segunda cavidad
113b están formadas en cada pared lateral en el lado en el que las
unidades izquierda y derecha de soporte 112a y 112b están en
contacto la una a la otra. La primera cavidad 113a y la segunda
cavidad 113b están formadas en los lados superior e inferior de la
pared lateral en un espacio predeterminado.
Un primer elastómero 115 está instalado de manera
insertada en la primera cavidad 113a formada en el lado superior de
la pared lateral y sobresale hacia fuera con respecto a la pared
lateral, mientras que un segundo elastómero 116 está instalado de
manera insertada en la segunda cavidad 113b y sobresale hacia fuera
con respecto a la pared lateral.
Las paredes laterales de la unidad izquierda de
soporte y la unidad derecha de soporte presentan la misma forma
correspondiente, y cada primer elastómero 115 formado en cada pared
lateral de las mismas está en contacto y cada segundo elastómero
116 de las mismas está en contacto.
Unos bloques izquierdo y derecho de clavijas de
contacto 117 y 118, que presentan una curva a lo largo de la forma
de la pared lateral, están instalados en la pared lateral de las
unidades izquierda y derecha de soporte 112a y 112b.
Más detalladamente, los bloques izquierdo y
derecho de clavijas de contacto 117 y 118 presentan,
respectivamente, una curva convexa hacia fuera con respecto a la
pared lateral de cada unidad de soporte en la parte en la que están
en contacto con los primer y segundo elastómeros, y presentan,
respectivamente, una curva cóncava para estar cerca de la pared
lateral de la unidad de soporte en la parte central entre los primer
y segundo elastómeros. Por consiguiente, bloque izquierdo de
clavijas de contacto y el bloque derecho de clavijas de contacto
están en contacto el uno con el otro de manera enfrentada en cada
una de las partes dobladas convexas.
Un separador 119, realizado en un material
aislante, está instalado entre el bloque izquierda de clavijas de
contacto 117 y el bloque derecho de clavijas de contacto 118 en una
parte en la que los bloques izquierdo y derecho de clavijas de
contacto 117 y 118 están doblados de manera cóncava. El separador
119 aislante hace que los bloques izquierdo y derecho de clavijas
de contacto 118 y 119 de las clavijas de contacto estén fijos a las
unidades izquierda y derecha de soporte, respectivamente, y evita
que el bloque de clavijas de contacto se desmonte de la unidad de
soporte o que se suelte de su propia posición.
Los bloques de clavijas de contacto 117 y 118
incluyen, respectivamente, una pluralidad de clavijas 120 de
contacto y una cinta de poliimida 121 pegada a un lado o a ambos
lados de cada una de las clavijas de contacto.
Una cinta lineal aislante 121a conecta la parte
marginal de la parte superior de las clavijas 120 de contacto. La
cinta lineal 121a sirve para mantener constante la separación entre
cada clavija de contacto y evitar que se produzca un cortocircuito,
producido posiblemente cuando las separaciones entre las clavijas
de contacto se vuelven estrechas.
Según el conector de prueba de la presente
invención, aunque la clavija del conductor del dispositivo sometido
a prueba se inserte y saque repetidamente cientos y miles de veces
en la parte en la que las clavijas de contacto izquierdas y
derechas están en contacto las unas con las otras, puesto que los
elastómeros se encuentran entre la pared lateral de las unidades
izquierda y derecha de soporte 112a y 112b y el bloque de clavijas
de contacto, la elasticidad se mantiene constantemente, evitando
así la inferioridad de contacto de la clavija del conductor durante
las pruebas.
Tal como se ha descrito hasta ahora, el conector
de prueba de la presente invención presenta ventajas en los
siguientes aspectos.
En primer lugar, aunque las pruebas se realicen
repetidamente cientos y miles de veces, puesto que las clavijas de
contacto del conector de prueba se mueven repetidamente en la
dirección arriba-abajo, el circuito impreso apenas
se excoria.
En segundo lugar, cuando hay una clavija de
contacto defectuoso en el conector de prueba, sólo la clavija de
contacto en cuestión se sustituye por una normal, sin necesidad de
sustituir el propio conector, de manera que se reduce el gasto para
comprobar el dispositivo semiconductor.
En tercer lugar, puesto que la pluralidad de
clavijas de contacto está pegada a la cinta aislante para formar un
bloque, cuando existe una clavija de contacto defectuosa, la
clavija de contacto puede sustituirse por un bloque, lo que
presenta como resultado que la sustitución de la clavija de contacto
es fácil y rápida.
En cuarto lugar, el elastómero está instalado en
la parte en la que el alojamiento y la clavija de contacto están en
contacto en las dos partes finales de la clavija de contacto, para
mantener la fuerza elástica de muelle de la clavija de contacto.
Mientras tanto, puesto que la desviación en altura de cada clavija
de contacto se vuelve uniforme debido al elastómero, la conexión
eléctrica entre la clavija de contacto de conector y el conductor
exterior del dispositivo sometido a prueba se estabiliza mucho
durante las pruebas.
En quinto lugar, puesto que el conector de
acuerdo con la presente invención se emplea fijándose a la placa de
circuito impreso del equipo de prueba, la conexión eléctrica entre
la clavija de contacto del conector y el circuito impreso de la
placa de circuito impreso se estabiliza mucho, y la resistencia de
conexión también se reduce mucho.
Por último, al fabricar la clavija de contacto
del conector, puesto que se forma doblada o curvada en la dirección
perpendicular al grano de la placa metálica, la clavija de contacto
difícilmente se deforma, de manera que se prolonga la durabilidad
de la clavija de contacto.
Resultará evidente para los expertos en la
materia que pueden realizarse varias modificaciones y variaciones en
la polimerización por plasma sobre la superficie del material de la
presente invención sin apartarse por ello del alcance de la
invención. Por tanto, se pretende que la presente invención cubra
modificaciones y variaciones de esta invención, siempre que estén
comprendidas dentro del alcance de las reivindicaciones
adjuntas.
Claims (17)
1. Conector de prueba, que comprende:
un primer alojamiento (51) realizado en un
material aislante que presenta un espesor predeterminado y que
presenta una abertura (51a) en su parte central;
un segundo alojamiento (52; 66) realizado en un
material aislante e instalado de manera insertada en la abertura
(51a) del primer alojamiento (51) de manera que unas paredes
laterales respectivas del primer alojamiento y del segundo
alojamiento son adyacentes entres sí; y
unos primer y segundo elastómeros (53, 54; 64,
65) instalados respectivamente en unas superficies superior e
inferior (52a, 52b) del segundo alojamiento (52; 66);
caracterizado porque el conector de prueba
comprende además un bloque (55) de clavijas de contacto que
presenta una pluralidad de clavijas (55a; 61; 61a) metálicas
dispuestas con separaciones constantes, presentando las clavijas
(55a) metálicas unos granos en una dirección constante sobre las
mismas en la dirección de grano y estando dobladas en una dirección
perpendicular a la dirección de grano, y que presenta una cinta
(55b; 62; 62a) aislante pegada a un lado o a ambos lados de las
clavijas metálicas para fijar la pluralidad de clavijas (55a; 61;
61a) para que puedan moverse juntas; y
porque el bloque (55) de clavijas de contacto
está instalado de manera insertada entre los primer y segundo
alojamientos (51, 52; 66) y está en contacto con los primer y
segundo elastómeros (53, 54; 64, 65) en las proximidades de ambas
partes finales (55c; 63) de las clavijas (55a; 61; 61a) de
contacto.
2. Conector de prueba según la reivindicación 1,
caracterizado porque el bloque (55) de clavijas de contacto
está doblado en forma de "C" e insertado en el primer
alojamiento (51) para hacer contacto con la superficie superior, el
lado y la superficie inferior del primer alojamiento (51).
3. Conector de prueba según la reivindicación 1 o
la reivindicación 2, caracterizado porque las longitudes
(L1; L2) de cada clavija (55a; 61; 61a) de contacto expuesta fuera
de la cinta (55b; 62; 62a) aislante del bloque (55) de clavijas de
contacto son uniformes.
4. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, caracterizado porque las
clavijas (55a; 61; 61a) de contacto del bloque (55) de clavijas de
contacto presentan, respectivamente, al menos una parte doblada
(55c; 63) en la parte expuesta fuera de la cinta (55b; 62; 62a)
aislante.
5. Conector de prueba según la reivindicación 4,
caracterizado porque las clavijas (55a; 61; 61a) de contacto
están instaladas para estar en contacto con el primer elastómero
(53; 64) o el segundo elastómero (54; 65) en las proximidades de la
parte (55c; 63) doblada.
6. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, caracterizado porque cada
clavija (55a; 61; 61a) de contacto en el bloque (55) de clavijas de
contacto está formada a partir de una tira (82) metálica que
presenta granos (81) que se extienden en una dirección a lo largo de
la longitud de la tira, tira (82) que está doblada o curvada en una
dirección perpendicular a los granos (81).
7. Conector de prueba, que comprende:
un primer alojamiento (90; 110) realizado en un
material aislante que presenta una hendidura (91a; 111a) en la
parte central de su superficie superior y un rebaje (91b; 111b)
receptor en la parte central de su superior inferior;
una unidad izquierda de soporte (93a; 112a) y una
unidad derecha de soporte (93b; 112b) instaladas, respectivamente,
de manera insertada dentro del rebaje receptor (91b; 111b) del
primer alojamiento (90; 110);
un primer elastómero (95a, 95b; 115) instalado de
manera sobresaliente tanto en una pared lateral de la unidad
izquierda de soporte (93a; 112a) como en una pared lateral de la
unidad derecha de soporte (93b; 112b);
un bloque izquierdo de clavijas de contacto (98a;
117) soportado por la pared lateral de la unidad izquierda de
soporte;
y un bloque derecho de clavijas de contacto (98b;
118) soportado por la pared lateral de la unidad derecha de
soporte;
en el que cada bloque de clavijas de contacto
(98a, 98b; 117, 118) comprende una pluralidad de clavijas (101; 120)
metálicas dispuestas con separaciones constantes, teniendo las
clavijas (101; 120) metálicas granos en una dirección constante
sobre las mismas en la dirección de grano y estando dobladas en una
dirección perpendicular a la dirección de grano, y teniendo una
cinta aislante (101; 121) pegada a un lado o a ambos lados de las
clavijas (101; 120) metálicas;
y en el que el bloque izquierdo de clavijas de
contacto (98a; 117) y el bloque derecho de clavijas de contacto
(98b; 118) presentan, respectivamente, al menos una parte doblada
(104), estando dobladas las clavijas de contacto hacia fuera con
respecto a cada pared lateral de la unidad izquierda de soporte
(93a; 112a) y de la unidad derecha de soporte (93b; 112b), y la
parte doblada (104) del bloque izquierdo de clavijas de contacto
(98a; 117) y la del bloque derecho de clavijas de contacto (98b;
118) se cierran entre sí.
8. Conector de prueba según la reivindicación 7,
caracterizado porque el primer elastómero (95a, 95b; 115)
está colocado entre la pared lateral de la unidad izquierda de
soporte (93a; 112a) y la parte doblada (104) del bloque izquierdo
de clavijas de contacto (98a; 117) y entre la pared lateral de la
unidad derecha de soporte (93b; 112b) y la parte (104) doblada del
bloque derecho de clavijas de contacto (98b; 118).
9. Conector de prueba según la reivindicación 7 o
la reivindicación 8, caracterizado porque una cavidad (96a,
96b) está formada en una superficie inferior de las unidades (93a,
93b) izquierda y derecha de soporte, un segundo elastómero está
insertado en la cavidad (96a, 96b), y una parte doblada inferior
(105) de las clavijas (101) de contacto de los bloques (98a, 98b)
está en contacto con el segundo elastómero.
10. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones 7 a 9, caracterizado porque una ranura (92)
está formada en la superficie superior de cada una de las unidades
(93a, 93b; 112a, 112b) izquierda y derecha de soporte, y una parte
marginal de las clavijas (101; 120) de contacto está colocada
dentro de la ranura (92).
11. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones 7 a 10, caracterizado porque las partes
marginales de las clavijas (101; 120) de contacto están conectadas
por una cinta lineal aislante (100a; 120a).
12. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones 7 a 11, caracterizado porque cada clavija
(101; 120) de contacto en los bloques de clavijas de contacto (98a,
98b; 117, 118) está formada a partir de una tira (82) metálica que
presenta granos (81) que se extienden en una dirección a lo largo
de la longitud de la tira, tira (82) que está doblada o curvada en
una dirección perpendicular a los granos (81).
13. Conector de prueba según la reivindicación 9,
caracterizado porque los primeros elastómeros (115) y los
segundos elastómeros (116) están instalados, respectivamente, de
manera sobresaliente en un lado superior y un lado inferior de cada
pared lateral de las unidades (112a, 112b) izquierda y derecha de
soporte a intervalos predeterminados;
y porque el bloque izquierdo de contacto (117) y
el bloque derecho de contacto (118) presentan dos partes dobladas
convexas, formadas de manera convexa en la dirección distanciada
con respecto a la pared lateral, y una parte doblada cóncava,
formada entre las partes dobladas convexas y doblada en la dirección
adyacente a la pared lateral de la unidad (112a, 112b) de soporte,
y cada parte doblada convexa del bloque derecho de clavijas de
contacto (118) y del bloque izquierdo de clavijas de contacto (117)
cierra la otra.
14. Conector de prueba según la reivindicación
13, caracterizado porque la parte doblada convexa está en
contacto con el primer elastómero (115) o con el segundo elastómero
(116).
15. Conector de prueba según la reivindicación 13
o la reivindicación 14, caracterizado porque un separador
(119) aislante está instalado entre el bloque izquierdo de clavijas
de contacto (117) y el bloque derecho de clavijas de contacto (118)
en la parte doblada cóncava.
16. Conector de prueba según cualquiera de las
reivindicaciones 13 a 15, caracterizado porque unas partes
marginales de las clavijas de contacto están conectadas por una
cinta lineal aislante.
17. Método de fabricación de clavijas (55a; 61;
61a; 101; 120) de contacto para los bloques (55; 98a, 98b; 117,
118) de clavijas de contacto de un conector de prueba según una
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, estando dicho método
caracterizado por las etapas siguientes:
preparar una placa (80) metálica moldeada por
extrusión para que presente granos (81) en una dirección constante
sobre la misma;
cortar la placa (80) metálica en la dirección de
grano para formar una tira (82) metálica;
doblar o curvar la tira (82) metálica en una
dirección perpendicular a los granos (81) para hacer una clavija
(83) de contacto para un conector; y
disponer la pluralidad de clavijas (83) de
contacto en separaciones constantes y pegar una cinta (55b; 70a,
70b; 100; 121) aislante a un lado o a ambos lados de las clavijas
(83) de contacto para formar así un bloque (55; 98a, 98b; 117, 118)
de contacto.
Applications Claiming Priority (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR9819351 | 1998-10-10 | ||
KR2019980019351U KR19990003962U (ko) | 1998-10-10 | 1998-10-10 | 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리 |
KR19980023018 | 1998-11-25 | ||
KR9823017 | 1998-11-25 | ||
KR9823018U | 1998-11-25 | ||
KR19980023017 | 1998-11-25 | ||
KR2019990008830U KR19990034968U (ko) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 콘택트핑거를이용한반도체검사용소켓어셈블리 |
KR9908830 | 1999-05-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2242451T3 true ES2242451T3 (es) | 2005-11-01 |
Family
ID=27483286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES99970473T Expired - Lifetime ES2242451T3 (es) | 1998-10-10 | 1999-10-08 | Conector de prueba. |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6448803B1 (es) |
EP (1) | EP1038186B1 (es) |
JP (1) | JP2002527868A (es) |
KR (1) | KR100333526B1 (es) |
AT (1) | ATE296448T1 (es) |
AU (1) | AU6009399A (es) |
DE (1) | DE69925456T2 (es) |
ES (1) | ES2242451T3 (es) |
MY (1) | MY122475A (es) |
PT (1) | PT1038186E (es) |
TW (1) | TW535333B (es) |
WO (1) | WO2000022445A1 (es) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4304699B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2009-07-29 | 日本発條株式会社 | 検査用ソケット |
DE10300531A1 (de) * | 2003-01-09 | 2004-07-29 | Infineon Technologies Ag | Sockel- bzw. Adapter-Vorrichtung, insbesondere für Halbleiter-Bauelemente, Verfahren zum Testen von Halbleiter-Bauelementen, sowie System mit mindestens einer Sockel- bzw. Adapter-Vorrichtung |
DE10300532B4 (de) * | 2003-01-09 | 2010-11-11 | Qimonda Ag | System mit mindestens einer Test-Sockel-Vorrichtung zum Testen von Halbleiter-Bauelementen |
JP4957792B2 (ja) * | 2007-03-29 | 2012-06-20 | 富士通株式会社 | コネクタ、電子装置、及び、電子装置の製造方法 |
TW201107757A (en) * | 2009-08-26 | 2011-03-01 | Kodi S Co Ltd | Contact-type integrated circuit probe unit for inspecting monitor and manufacture method thereof |
US8337217B2 (en) * | 2011-03-29 | 2012-12-25 | Digi International Inc. | Socket for surface mount module |
US10037933B2 (en) * | 2014-06-20 | 2018-07-31 | Xcerra Corporation | Test socket assembly and related methods |
USD813171S1 (en) * | 2016-04-08 | 2018-03-20 | Abb Schweiz Ag | Cover for an electric connector |
USD824859S1 (en) * | 2016-04-08 | 2018-08-07 | Abb Schweiz Ag | Electric connector |
JP6627655B2 (ja) * | 2016-06-17 | 2020-01-08 | オムロン株式会社 | ソケット |
CN106340469B (zh) * | 2016-11-16 | 2023-06-23 | 长电科技(滁州)有限公司 | 一种测试凹槽可调式晶体管封装体测试座及其操作方法 |
CN107742814A (zh) * | 2017-09-25 | 2018-02-27 | 郑州华力信息技术有限公司 | 线夹孔心定位器 |
CN108318713B (zh) * | 2018-01-30 | 2020-11-03 | 兰州大学 | 基于压力调节夹持面积和数量的接触电阻测试夹持装置 |
CN109085391B (zh) * | 2018-09-19 | 2020-12-22 | 四川爱联科技股份有限公司 | 电子设备测试装置及电子设备 |
KR20230043016A (ko) | 2021-09-23 | 2023-03-30 | 주식회사 지디텍 | 반도체 검사 소켓장치 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3517144A (en) * | 1969-01-23 | 1970-06-23 | Us Army | Integrated circuit package programmable test socket |
US4547031A (en) * | 1984-06-29 | 1985-10-15 | Amp Incorporated | Chip carrier socket and contact |
US4735580A (en) * | 1986-12-22 | 1988-04-05 | Itt Corporation | Test adapter for integrated circuit carrier |
JP2784570B2 (ja) * | 1987-06-09 | 1998-08-06 | 日本テキサス・インスツルメンツ 株式会社 | ソケツト |
US4962356A (en) * | 1988-08-19 | 1990-10-09 | Cray Research, Inc. | Integrated circuit test socket |
US5069629A (en) * | 1991-01-09 | 1991-12-03 | Johnson David A | Electrical interconnect contact system |
US5634801A (en) * | 1991-01-09 | 1997-06-03 | Johnstech International Corporation | Electrical interconnect contact system |
US5388996A (en) | 1991-01-09 | 1995-02-14 | Johnson; David A. | Electrical interconnect contact system |
JPH05343142A (ja) * | 1992-06-02 | 1993-12-24 | Minnesota Mining & Mfg Co <3M> | Icソケット |
KR960002806Y1 (ko) * | 1992-07-08 | 1996-04-08 | 문정환 | 반도체 디바이스 테스트용 매뉴얼 소켓 |
JP3051596B2 (ja) * | 1993-04-30 | 2000-06-12 | フレッシュクエストコーポレーション | 半導体チップテスト用ソケット |
US5557212A (en) | 1994-11-18 | 1996-09-17 | Isaac; George L. | Semiconductor test socket and contacts |
DE69628686T2 (de) * | 1995-02-07 | 2004-04-29 | Johnstech International Corp., Minneapolis | Gerät zur Steuerung der Impedanz von elektrischen Kontakten |
KR0130142Y1 (ko) * | 1995-06-01 | 1999-02-01 | 김주용 | 반도체 디바이스 테스트용 소켓 |
JP2922139B2 (ja) | 1995-09-19 | 1999-07-19 | ユニテクノ株式会社 | Icソケット |
JP2908747B2 (ja) | 1996-01-10 | 1999-06-21 | 三菱電機株式会社 | Icソケット |
KR100259060B1 (ko) * | 1997-12-06 | 2000-06-15 | 신명순 | 반도체 칩 테스트 소켓 및 콘텍터 제조방법 |
-
1999
- 1999-10-08 KR KR1019990043491A patent/KR100333526B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-10-08 US US09/554,568 patent/US6448803B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-08 PT PT99970473T patent/PT1038186E/pt unknown
- 1999-10-08 TW TW088117391A patent/TW535333B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-10-08 EP EP99970473A patent/EP1038186B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-08 ES ES99970473T patent/ES2242451T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-08 DE DE69925456T patent/DE69925456T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1999-10-08 WO PCT/KR1999/000606 patent/WO2000022445A1/en active IP Right Grant
- 1999-10-08 AT AT99970473T patent/ATE296448T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-10-08 JP JP2000576291A patent/JP2002527868A/ja active Pending
- 1999-10-08 MY MYPI99004361A patent/MY122475A/en unknown
- 1999-10-08 AU AU60093/99A patent/AU6009399A/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PT1038186E (pt) | 2005-08-31 |
ATE296448T1 (de) | 2005-06-15 |
JP2002527868A (ja) | 2002-08-27 |
MY122475A (en) | 2006-04-29 |
WO2000022445A1 (en) | 2000-04-20 |
US6448803B1 (en) | 2002-09-10 |
TW535333B (en) | 2003-06-01 |
DE69925456T2 (de) | 2006-02-02 |
DE69925456D1 (de) | 2005-06-30 |
EP1038186B1 (en) | 2005-05-25 |
AU6009399A (en) | 2000-05-01 |
KR20000028942A (ko) | 2000-05-25 |
EP1038186A1 (en) | 2000-09-27 |
KR100333526B1 (ko) | 2002-04-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES2242451T3 (es) | Conector de prueba. | |
JP3054003B2 (ja) | Icコンタクタ | |
US6471524B1 (en) | IC socket | |
US5847572A (en) | Partly replaceable device for testing a multi-contact integrated circuit chip package | |
KR101178972B1 (ko) | 반도체 패키지에 사용되는 콘택트 어셈블리 및 소켓 | |
JP2001326046A (ja) | コンタクトピン集合体、コンタクトピン組立体及び電気部品用ソケット | |
KR101071371B1 (ko) | 반도체칩패키지 검사용 소켓 | |
US20090035960A1 (en) | Electrical connecting apparatus | |
KR100513941B1 (ko) | Ic 소켓 | |
US20030054676A1 (en) | Burn-in test socket | |
US9435853B2 (en) | Socket device for an IC test | |
US5742171A (en) | Test device for multi-contact integrated circuit | |
US6572388B2 (en) | Socket for testing IC package | |
US5813869A (en) | IC socket and guide member | |
CN111983424A (zh) | 测试治具及测试设备 | |
US4460237A (en) | Contacts for chip carrier socket | |
US20040219816A1 (en) | IC socket assembly | |
US7179120B2 (en) | Electrical connector having positioning mechanism | |
JP2972634B2 (ja) | Icソケット | |
JP4749359B2 (ja) | コンタクト及びそれを用いた集積回路用ソケット | |
KR19990019757A (ko) | 반도체 칩 검사용 소켓장치 | |
KR200273960Y1 (ko) | 모듈아이씨용컨넥터 | |
KR200142843Y1 (ko) | 반도체장치의 테스트소켓 | |
KR100729052B1 (ko) | 반도체패키지 테스트용 범용 소켓 | |
KR100563603B1 (ko) | 인서트 장치 |