TW535333B - Test socket - Google Patents

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TW535333B TW088117391A TW88117391A TW535333B TW 535333 B TW535333 B TW 535333B TW 088117391 A TW088117391 A TW 088117391A TW 88117391 A TW88117391 A TW 88117391A TW 535333 B TW535333 B TW 535333B
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Description

五、發明說明(1 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 技術頜垃 本發明關係及一種介於一積體電路(IC)元件及印刷電 路板間之電氣連接結構,尤其是關係及一種用以測試一積 體電路之測試插頭結構。 J知枯術 一經過複雜製造程序之積體電路,經過一特徵測度或 質量檢查等不同的電氣測試。在此方面,一插座經常被使 用,以使一设置在測試儀器外側之印刷電路板的測試電路 與該1C元件之一外部端子(外引線)電氣連接。即,為測 试該1C兀件,該插座是作為一用以使該測試儀器之印刷電 路板與一 1C元件電氣連接之介面。 參考附圖以說明一習知之測試插座結構。 般而5,如第1圖所示,一 IC元件之測試插座包括 一插座殼體10及多數個接觸指(接觸端子)n。該接觸指 是形成半圓形的彎曲形,以使其能藉一向下壓的壓力而形 成彈簧彈力。參照號碼12是用以固定該IC元件之一固定 銷,所以,當測試該IC元件時,該接觸指與該半導體元件 之外引線間的電氣連接不會不穩定。 第2圖顯示一女裝於該插座之受測元件(DUT) 14 ^該 又測7L件14疋以該接觸指n之一上端子丨Ia接觸該受測元 件14之-外引線15安裝於該插座上。為執行測試,該接觸 “ 11之下端子1 lb疋必須接觸安裝於該測試儀器之印刷電 路板上的印刷電路(圖未示)。 然後,以-下壓元件(圖未示)下壓該受測元件14, 本紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格⑵Q x 297 --— -- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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"35333 .五、發明說明(2) 而使該受測元件之外引線及該插座之接觸銷上的上端子 11a因下壓接觸而電氣連接,且該接觸銷之下端子llfc與形 成於該測试儀器板部表面之一電路圖案(圖未示)亦以下 壓接觸而電氣連接。 藉由該元件下壓元件(圖未示)使安裝於該插座之受 測元件的全部外引線接觸於該等接觸指之上端子,同時, 該向下壓力具有一較大值。因為,如果在每一次測試時, 供以此一強大的向下壓力,該測試的頻率變得較高,導致 該插座接觸指之彈簧彈力壞掉,或對應每一接觸指的彈簧 彈力可能產生不同。 由於此等問題發生,結果,在該等多數個接觸指間有 一具有變弱的彈簧彈力的接觸指,使得該受測元件及該外 部端子間之連接,產生接觸不良或接觸不穩的結果。 當一接觸指的彈簧彈力變弱時,必須以一新的正常者 取代之。在此方面,若插座是接觸指與該插座殼體合成一 體者’如果有一接觸指產生接觸不良或接觸不穩的情形, 泫尚價位插座本身必須以一新的更換外,其不可避免地因 奢侈浪費的測試而蒙受一大筆花費。 為解決此一問題’美國專利第5,634,801號所揭露的一 種測試插座,具有一可單獨替換之有缺陷接觸銷之結構, 如第3A及3B圖所示,其詳細内容敘述如下。 第3 A圖所示之插座,包括一殼體3〇、多數個以預定 間隔平行配置於該殼體30中之接觸銷納置槽31、分別形成 於該殼體之上表面及下表面之一上及一下凹槽32&及32b。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) — — — — — — — — — — — — — · I---— II ^* — — — — 1 — I 1^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 535333 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 — ____ B7__ 五、發明說明(3 ) 該上凹槽32a形成於該殼體30之上表面,及該下凹槽321)形 成於該殼體30之下表面,定位於該槽的相互相反側之邊緣 部分。— 彈性體33a及33b是個別地安裝在該上及下凹槽32&及 32b中。每一接觸銷納置槽3丨内側,分別嵌置有s型接觸 銷34,其上端部分及下端部分是分別靠在該等彈性體上。 參照號碼35是該測試儀器之一印刷電路板,以及參照 號碼36是一形成於該印刷電路板之電路圖案,其連接至該 接觸銷3 4之下表面。 第3B圖是沿第3A圖之IV-IV線所取的縱向剖示圖。 如上所述,該習知插座之一優點在於每一接觸銷34是 單一地安裝於每一接觸銷納置槽31,當任何有缺陷的接觸 銷皆可被一正常者所取代。 雖然如此,其亦具有下列之缺點。 第一,如果多數個接觸銷34有缺陷,每一接觸銷必須 一個一個替換,造成不便及花許多的時間更換該等接觸 銷。 第二,為進行測試,當該1C元件向下(,a,方向)下 壓時,如同被裝設於該接觸銷之上端部分,該接觸銷34之 下表面部分34a以水平該該電路圖案方向移動,即,以一 朝向該插座内部之’b’方向,以和該印刷電路板之電路圖 案3 6接觸。 另外’結束測試後’當該半導體元件向上(’ c ’方向) 升起時,該接觸銷34之下表面部分34a以水平方向移動, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _____ B7______ 五、發明說明(4 ) 即,與該’b,方向相反的’d’方向。 由於,該半導體元件在反覆地測試後,不論是以,b, 或’d’方向移動,該接觸銷34a之下表面部分都會接觸該電 路圖案36。因此,該下表面34a之反覆移動,使得該電路 圖案36為接觸銷連續接觸之部分被麼損,而產生一該高價 • 值測試儀器之印刷電路板被磨損之問題。 如下所述,是該習知測試插座之接觸銷或接觸指的製 造方法。 如第4A圖所示,一金屬板40具有以一方向之直紋 41,是以擠壓成形。及如第4 B圖所示,晝出,C,或,S, 形圖案之一接觸銷或接觸指42,然後,如第4 C圖所示, 將畫出之該接觸指圖形切割下,以形成一接觸指42。 在此方向,不論如何,以此方法製成之該接觸銷,容 易在數百及數千次反覆的上下移動之測試時,在沿著該接 觸銷之金屬紋路斷裂。 此外,以垂直於該金屬紋路方向之方向反覆移動,其 彈簧彈力變弱,而使該接觸指容易變形,導致該插座之耐 久性縮短。 登明之詳細說.明 本發明之目的在於提供一種測試插座結構,其中,在 一有缺陷的插座之一接觸銷,是以塊體單元替換。 本發明之另一目的在於提供一種測試插座結構,其 中’-測試儀器之-印刷電路板的圖案,不會在測試半導 體元件時被磨損。 — — — — — — — — — — — 1. · I I I I I I I ·1111111· ^^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
535333 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(5 ) 本發明之再一目的在於提供一種測試插座,其中,在 與一接觸銷末端部分接觸之一插座殼體部分,安裝有一彈 性體,以成功地維護該接觸銷末端部分之彈簧彈力,藉此 延長該接觸銷之耐久性,以及每一接觸銷之高脫執率降 低,以使該接觸銷及一受測元件間之電氣連接能獲得一可 靠度。 本發明之又一目的在於提供一種測試插座之接觸銷的 製造方法,措此,該接觸銷不易變形,且其彈簧彈力可維 持一長時間。 本發明之又再一目的在於提供一用於一測試插座之接 觸銷的製造方法,其係沿一金屬紋路方向由一金屬板切割 下之一金屬條,以一垂直於該金屬紋路方向彎曲或捲曲製 成,以使一插座銷具有一強韌之彈簧彈力,且不易變形或 疲勞。 本發明為實現之上述優點及目的,如實施例所述,其 提供一種測試插座,其包括:一第一殼體,其係由一具有 一預定厚度的絕緣材料製成;一第二殼體,以一絕緣材料 製成,其一側壁鄰近該第一殼體之一側壁;一個第一及一 個第二彈性體,分別設置於該第二殼體之上及下表面;及 一接觸銷塊,具有以預定間距配置之多數個接觸銷,以及 一用以固定該等多數個接觸銷之固定元件,以使其可一起 移動1中1接觸銷塊是嵌置在該第一及該第二殼體之 間,且該接觸銷接近兩端部份與該第一及該第二彈性體接 觸0 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
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五、發明說明(6 ) Φ0 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明之測試插座的該第一殼體是一絕緣材料,其中 心部分具有一孔,而該第二殼體是一絕緣插頭,嵌置在該 第一殼體之孔。 本發明另一種實施例提供之一種測試插座,其包括: 一第一殼體,以一絕緣材料製成,具有一位於上表面中心 部分之隙縫,及一位於下表面中心部分之納置凹槽;一左 支樓單元及一右支標單元,分別嵌置在該第一殼體之納置 溝槽中;該左支撐單元之一側壁及該右支撐單元之一側壁 皆凸設有一第一彈性體;一左接觸銷塊,其係被該左支撐 單元之一側壁所支撐;及一右接觸銷塊,其係被該右支撐 單元之一側壁所支撐;其中,該左接觸銷塊及該右接觸銷 塊各具有至少一彎曲部分,該等接觸銷是向外彎曲於該左 支撑單元及右支撐單元之每一側壁,且該左接觸銷塊之彎 曲部分與該右接觸銷塊之彎曲部分彼此接近。 為達成本發明之目的,其提供一種測試插座,其包括: 一第一殼體,以一絕緣材料製成,其上表面中心部分具有 一隙縫’且其下表面中心部分具有一納置凹槽;一右支標 單元及左支撐單元分別嵌置在該第一殼體之納置溝槽中; 一第一及一第二彈性體,是以依預定間隔分別凸設在每一 側壁之上側及下側;一左接觸銷塊,其係由該左支撐單元 之一側壁所支撐;及,一右接觸銷塊,其係由該右支撐單 元之一側壁所支撐;其中,該左接觸塊及該右接觸塊,具 有由該側壁凸出的二凸面彎曲部分,以及形成於該等凸面 彎曲部分之間且與該支撐單元側壁方向相反的一凹面彎曲 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝--------訂----I----線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 535333 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明( 部分,該右接觸銷塊及該左側接觸銷塊之每一凸面彎曲部 分彼此封閉。 為達成本發明之目的,其亦提供一種製造一測試插座 之接觸銷塊的製造方法,其步驟包括:製備一經擠壓成形 的金屬板,俾使其具有一定方向之紋路;沿該紋路方向切 割該金屬板,以形成一金屬條;沿一垂直於該等紋路之方 向弯曲或捲曲該以固定方向金屬條,以製成一插座之接觸 銷;及以一定間距配置多數個該等接觸銷,再以一絕緣膜 貼附在該接觸銷之一側或兩側,藉此形成一接觸塊。 圖示之簡單說明 第1圖是一習知之測試插座之縱載面圖; 第2圖所示是一安裝於第1圖的測試插座之受測元 件 第3 A圖是另一種習知測試插座的實施例之外觀立體 圖 第3 B圖是沿IV-IV線所取之測試插座的縱截面圖; 第4 A至4 C圖是習知測試插座的接觸銷之製作程序 的順序; 第5 A圖是本發明測試插座之第一實施例的外觀立體 圖; 第5 B圖是沿第5圖中Vb-Vb線所取之測試插座的 縱截面圖; 第5 C圖是本發明第5圖之測試插座的分解立體圖; 第6 A至6 C圖是分解圖,顯示本發明測試插座之接 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 10 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(8) 觸銷的不同變形; 第7 A和7 B圖是本發明測試插座之接觸銷塊的外觀 立體圖;' 第8A至8 C圖是本發明測試插座的接觸銷之製作程 序的順序; 第9 A圖是本發明第二較佳實施例測試插座的平面 圖; 第9 B圖是本發明第9 A圖中IX b — IX b所取的測試 插座縱截面圖; 第9 C圖是本發明第9 B圖分解時,每一構件之截面 圖; 第1 Ο A圖是本發明測試插座之第三實施例的截面 圖;及 第1 Ο B圖是本發明第1 〇A圖分解時,每一構件之 截面圖。 較佳實施例之實施槿式 參考附圖對本發明不同較佳實施例之插座結構進行詳 細說明。 參閱第5 A至5 C圖,說明本發明之一種用以測試封 裝於一QPF(quad flat package,方形扁平包裝)型中之半導 體的測試插座結構。 第5 A圖是本發明第一較佳實施例之測試插座的外觀 立體圖;第5 B圖是由本發明第5圖中Vb-Vb線所取之 測試插座的縱截面圖;以及第5 C圖是本發明第5 A圖之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐 ----------—I -裝-----訂 --------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 11 535333 A7 五、發明說明( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 測試插座的分解立體圖。 本發明第一實施例之一種測試插座,包括以一絕緣材 料製成之一第一殼體51,其中心部分具有一孔5U :以及 一以絕緣材料製成,可嵌設於該第一殼體之孔51&中的第 二殼體52 (或一絕緣插頭)。 環繞四個角落形成有穿套51b,以供一插座固定於一 印刷電路板,而形成一測試電路。因為,該測試插座是以 該穿套51b直接固定於一測試儀器之印刷電路板,使得該 插座之一接觸銷的下端部分與該印刷電路板上之一電路圖 案固定地彼此貼附,而在連接及低接觸抵抗力上,具有一 良好的可靠性。 此外,與習知之不同處在於,該插座接觸銷與該測試 儀器之印刷電路板是直接連接,且其間並無一插座板,以 使在该爻測元件之一外引線及該印刷電路板之電路圖案間 之一電氣連接通路較短,其適合測試一高頻半導體元件。 再者,測試時,不論該封裝之裝設或拆卸的機械動作,可 保證其連接之穩定性。 該第二殼體52之上、下表面具有一溝型之第一及第二 穴52a及52b。一第一彈性體53嵌置於該第一穴52a,而一 第一彈性體54則嵌置於該第二穴wb。 如圖所示,該第二殼趙52是嵌入於該第一殼趙51之孔 51a中,且該接觸銷塊55是嵌置在該第一殼體51及第二殼 體52之間。 該接觸銷塊55包括多數個以固定間距排列之接觸銷 (請先M讀背面之注意事項再填寫本頁)
I 1 ϋ ·1 -^OJ· I n I I I I _ 線
12 535333 A7 B7 五、發明說明(
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 55a,以及一貼附於每一接觸銷55a_側或兩側之熱黏絕緣 膜55b。該絕緣膜55b維持接觸銷彼此間之間距,以固定該 等接觸銷,使其可同時一起移動,並減少每一接觸銷之脫 軌率。 由於’本發明第一實施例之測試插座中,該等接觸銷 於形成塊體,所以該等接觸銷在有缺陷時,可以塊體更換。 所以,其優點在於該接觸銷可簡易迅速地更換。 此外’由於僅須更換該有缺陷之接觸銷塊,而不需捨 棄整個插座,所以更可節省成本。 再者’由於該等接觸銷是將銷塊以相同間距固定形成 在聚醯亞胺膜上,而不是分成一個接一個,在每一獨立接 觸銷間的該等間格,不需一個接一個地分別調整。 該接觸銷塊55彎曲成一,C,型,以使其接觸該第二殼 體之一上表面、一側壁及一下表面。該接觸銷塊55是由該 第二殼體52之一側壁以簡易嵌入設置,此方法類似嵌入 一夾子,因此,一有缺陷接觸銷之更換是相當容易的。 該接觸銷可改變為如第6A至6C圖所示之不同的形 狀。 第6A至6 C圖是本發明測試插座之接觸銷的不同的 變形。 第一,如第6 A圖所示,該接觸銷61是在由該絕緣膜 62外側裸露之部分彎曲,且該接觸銷61之末端部分是以向 該殼體66之外的方向彎曲。裝設時,該接觸銷61以其接近 彎曲部分63處接觸該彈性體64及65。尤其,該接觸銷内部, ----I----I--- -裝 i I -S青1ST濟頃辱真霉仁罠) --線. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 13 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 535333 A7 --—— _ B7 五、發明說明(11) 該臂曲部分基部’該接觸銷端部的相對側接觸於彈性體64 及65。一位於該殼體66上表面之該接觸銷61的第一端67&, 及一位於該殼體66下表面之第二端67b,是在相同的垂直 線。 . 如第6 B圖所示,該接觸銷61a在由該絕緣膜62a向外 裸露處二次彎曲,其中,每一彎曲部分63a及63b是以彼此 相反的方向彎曲。該彎曲部分63a接觸於分別嵌在該殼體 66a之上及下表面之彈性體64&及65&。 如第6 C圖所示,位於該殼體66b上表面之該接觸銷 6lb的上端部分67c及位於該殼體66b下表面之下端部分67d 之形成’該下端部分67d在水平方向較該上端部分67c短,d, 間距,反之亦同,而不同於前以同一垂直線所形成。 即,該接觸銷之該上端部分(測試時,與該受測儀器 的一外引線連接)及該下端部分(測試時,與該印刷電路 板之一電路連接)’可在同一垂直線之上/下方向形成, 或者在水平方向具有一,d,間距長度之差異。換句話說, 各別安裝的該上端部分與該下端部分,可作為一種適合該 受測儀器之一外部端子’或適合連接至該印刷電路板之電 路圖案上。 由於該接觸銷塊上之該接觸銷的長度是可以調整的, 所以本發明之測試插座可以使用在具有不同形狀及不同大 小之印刷斷路板的不同種類之測試儀器。 此外,本發明之測試插座結構,在該受測元件在受測 時被該下壓壓力所下壓時,由於該接觸銷之下端部分是辞 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ϋ «ϋ ϋ ϋ ϋ mMMm^OJ· ϋ ϋ »ϋ ϋ 線· 14 535333 A7 B7 12, ί 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 上/下方向之向下下壓壓力使與該印刷電路板之電路圖案 彼此相接觸,而沒有發生水平方向之移動,所以該印刷電 路板之電路圖案不會被磨損,而避免該測試儀器耐久性變 短。 如第7A和7B圖所示,也是本發明測試插座之接觸 銷塊’是藉由調整向外裸露於該絕緣膜70a及70b外之該接 觸銷71a及71b之長度L1及L2,以控制該接觸銷之一彈性。 詳言之,該長度L1及L2較短時,該彈性(彈簧彈力) 較強,而該長度L1及L2較長時,該彈性較虛弱。因此, 可控制該絕緣膜70a及70b之寬度,以在測試時具有一較佳 之彈性,基於該受測元件之外部端子與該接觸銷末端部分 間之接觸抵抗力的考慮,加強該向下壓力及該測試電路之 電氣特徵。 參考第8A至8C圖,說明本發明之測試插座的接觸 銷之製造方法。 第一 ’如第8A圖所示,是一形成有一固定方向之金 屬紋路(擠壓成形)之金屬基層。 然後’如第8 B圖所示,該金屬基層8〇具有一預定寬 度,在該紋路方向切割以形成一金屬條82。 再來,如第8C圖所示,該金屬條82以垂直於在該金 屬紋路81方向上之,Γ方向彎曲或捲曲,以形成一接觸銷 83 〇 然後,該等彎曲或捲曲成之金屬條形成多數個接觸銷 以預定間距排列,且一絕緣膜貼附在其一側或兩側,藉此 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) — — — — — — — — — — — — — ·1111111 ·11111111 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 15 ^5333 A7
五、發明說明(13) 製造成使用於本發明之測試插座的插座銷塊。 如上所述,其方法是將該金屬板是由該金屬之紋路方 向所切割下,然後以垂直於該金屬紋路方向之方向彎曲或 捲曲’以形成該接觸銷,即使是該插座接觸銷被長時間使 用’其彎曲或捲曲處,不易因材料疲乏而形成變形或斷裂, 而可使該插座銷之耐久性延長。 參考第9A至9 C圖,說明本發明第二實施例之一種 多功能片單元元件之測試插座結構。 第9 A圖是本發明第二較佳實施例之一測試插座的平 面圖;第9B圖是本發明第9A圖中Kb—Kb所取之該 測試插座的縱截面圖;及第9 C圖是本發明第9 B圖分解 時之每一元件的截面圖。 本發明第二實施例提供之一種測試插座,其中,該受 測元件疋一多功此片早元。該測試插座包括一位於其上表 面中央部分之隙縫91,一該受測元件之外引線納置及分離 穿過該處,以及一第一殼體90具有一納置凹槽9ib,此處 一用以支撐一接觸銷塊之支撐單元安裝在其中心處。該凹 槽91 a及該納置凹槽91b彼此連接。 該接觸銷支撐單元是以分開的一左支撐單元93a及一 右支撐單元93b嵌入於該納置凹槽91b中。 該左及右支撑單元93a及93b的上端部分分別具有一溝 槽,供該接觸銷納置其中。 該左及右支撐單元93a及93b分別形成一較窄的上側及 一較寬的下側。所以,一穴99是形成於該左支撐單元93& 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 Χ 297公釐) (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本買)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 16 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 535333 A7 B7 五、發明說明() 與該右支撐單元93b上側間,上側較下側窄,而該左支撐 單元93a及右支撐單元93b之下側幾乎接觸。 第一穴94a及94b分別形成於該左及右支撐單元93a及 93b相互之一側壁,且第一彈性體95a及95b分別嵌入該等 第一穴94a及94b中。該等第一彈性體95a及95b較該左及右 支撐單元93a及93b向外凸出形成。 第二穴96a及96b分別形成於該左及右支撐單元93a及 93b之表面,且一第二彈性鱧97a及97b分別嵌入該等第二 穴96a及96b中。該等第二彈性體97a及97b由該等支撐單元 之下表面略向下凸出地形成。 左及右接觸塊98a及98b安裝於該左及右支撐單元93a 及93b之間。 該右及左接觸銷塊98a及98b分別包括多數個以預定間 距配置之接觸銷100,且一絕緣膜101貼附於每一接觸銷100 之一側或二側。 該等多數個接觸銷貼附於該絕緣膜101被製成塊體, 所以可以一起移動。因此,在測試時,若有某些接觸銷有 缺陷,其可以貼附於該絕緣膜101之塊體更換。 該等接觸銷100之末端部分各別藉由窄的絕緣線型膜 100a而接觸。該接觸銷塊具有以窄間距之接觸銷,被固定 至該左及右支撐單元,該線型膜100a被作為防止接觸銷間 的間距在該等接觸銷上端部分變寬,或避免該等接觸銷彼 此間距離太窄,而使該等接觸銷間可能產生短路。 該接觸銷塊之接觸銷100的上端部分102,是彎曲為一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝--------訂---------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 17 535333 A7 ___ _ B7 五、發明說明(15) 鉤形,且該上端部分102之邊緣部分是嵌設在該左及右支 撐單元93a及93b之溝槽92中。 當該等接觸銷塊安裝於該左及右支樓單元,然後嵌入 該第一设體90中’該接觸銷之上端部分1〇2被定位於該第 一殼體90下方。因此,當該等接觸銷〗00之上端部分1〇2被 固定於殼體内部,而不是裸露於外側,該等接觸銷不易因 納置或分離該受測元件之外力而變形。因此,延長該插座 接觸銷的耐久性。 每一接觸銷至少彎曲二次,具有一第一彎曲部分1〇4 及一第二彎曲部分105。該第一彎曲部分1〇4是形成於靠近 該接觸銷100之上端部分102,而該第二變曲部分1〇5是形 成於靠近該接觸銷之下端部分103。該第一變曲部分1 〇4 ·靑 曲成凸出於該左及右支撐單元之側壁之凸面,其頂點是位 於該插座之中心線C — C,如該縫隙之同垂直線。 該左接觸銷塊98a之接觸銷的第一變曲部分1 〇4接觸設 在該左支樓單元93a之第一彈性體95a,而該右接觸銷塊98b 之第一彎曲部分104接觸設在該右支撐之第一彈性體95b。 該左接觸銷塊之接觸銷的第一彎曲部分與該右接觸塊 之接觸銷的第一彎曲部分以一面對方式彼此接近。 在測試時,該受測元件之外引線嵌入該左及右接觸銷 的第一彎曲部分之間。詳言之,當該受測元件之外引線嵌 入時,該左及右接觸銷塊打開,該左及右接觸銷塊之第一 彎曲部分於中央線處被往外開推,當該受測元件被取出 時,他們會貼附。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先Μ讀背面之注意事項再填窵本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 18 535333 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(16) 一般而言,在多數的情況下,當完成反覆的測試,該 第一彎曲部分之彈性虛弱,而使該受測元件之外引線與該 接觸銷之間的電氣連接之可靠度減低。 不論如何,如上所述,由於本發明之該彈性體是設置 於該接觸銷之第一彎曲部分與該支撐單元之一側壁之間, 其避免該受測元件之外引線與接觸銷間之接觸普遍的不穩 定’導致該接觸銷彎曲部分之彈性(彈簧彈力)變得虛弱。 加之,不同於習知之點接觸方法,該受測元件之外引 線接觸該接觸銷之範圍較廣,使得該接觸銷與該外引線間 之電氣連接的穩定性大大的改進。 該第二彎曲部分105形成於該左及右支撐單元933及 93b之下角側,且該接觸銷之下端部分1〇3向外凸出於該左 及右支撐單元93a及93b。 該接觸銷100之下端部分103位於左及右支撐單元93a 及93b相互之下表面,尤其,接觸設置於該左及右支撐單 元93a及93b下表面之第二彈性體97a及97b。 因此,即使該接觸銷經過反覆的上下移動,而該測試 反覆進行,位於該下端部分103接觸該印刷電路板之印刷 電路處之彈性維持穩定。加之,由於該等接觸銷下端部分 103之脫軌率均等,藉此使該印刷電路與該接觸銷間之連 接獲得一可信度。 該接觸銷100可在該第一彎曲部分104與第二彎曲部分 間形成一第三彎曲部分106。 測試時,該受測元件之引導銷嵌入該左及右接觸銷塊 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) — — — — — — — — — — — II ·1111111 ·1111111 (請先闓讀背面之注意事項再填寫本頁) 19 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 535333 A7 __ B7 五、發明說明() 98a及98b之第一彎曲部分104間,以連接至該插座之接觸 接觸銷。此時,在該受測元件被一向下壓力下壓的同時, 該受測元件之引導銷嵌入該左及右接觸銷塊之第一 f曲部 間,該接觸銷之下端部分103連接至該測試儀器乏印刷電 路。 如本發明之第一實施例、本發明之第二實施例之測試 插座的優點在於,由於該接觸銷是形成塊體,藉由在該等 多數個接觸銷貼附聚酿亞胺膜,當該測試插座之任何接觸 銷有缺陷時,其可輕易以塊體更換。加之,可藉由改變裸 露於該聚醢亞胺膜外側之接觸銷長度,以控制該接觸銷之 彈性。再者,可減低每一接觸銷間之高脫軌率。此外,為 避免該接觸銷彈性虛弱之該等彈性體,被設在連接嵌入之 該受測元件的外引線處,以藉此使該接觸銷之耐久性免於 短暫。加之,製造該接觸銷時,由於該金屬板是在該金屬 紋路方向切割,並以垂直該金屬紋路之方向彎曲或捲曲, 因此該接觸銷之彈簧彈性不易虛弱或變形。 第1 0 A圖是本發明第三實施例之測試插座的截面 圖;以及第10B圖是本發明第i〇A圖分解時,每一元 件之截面圖。 本發明第三實施例之一種測試插座,亦具有一供測試 一多功能片單元元件之結構。尤其,測試設於該測試儀器 之一板體為一垂直型印刷電路板。 本發明第三實施例的一種測試插座,包括一縫隙 111a,位於其上表面中心部分,一受測儀器的外引線被納 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁)
20 535333 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 置或取出穿過該處,以及一第一殼體110,位於其下表面 之中心部分,具有一納置凹槽1 1 lb。該縫隙1 i la與該納置 凹槽111b彼此連接。 一接觸銷支撐單元112被嵌入該納置凹槽lllb*。該 接觸銷支禮單元112是分開為一左支撑單元n 2a及一右支 撐單元112b,兩者之間嵌設有一接觸銷塊。 一第一穴113a及一第二穴113b形成於該左及右支撐單 元112a及112b彼此接觸之相互的一側壁。該第一穴1133及 第二穴113b是形成於該側壁上及下側之一預定位置。 一第一彈性體115被嵌置在形成於該側壁上側的第一 穴113a,且向外凸出該側壁,而一第二彈性體116被嵌置 在該第二穴113b,且向外凸出該側壁。 該左支撐單元及右支撐單元之側壁是形成相對的相同 的形狀,且每一第一彈性體115及每一第二彈性體166形成 於接觸地形成於相互之側壁。 一左及右接觸銷塊117及11 8具有一沿該側壁形狀的·彎 曲,是安裝在該左及右支撐單元112a及112b之側壁。 詳而言之,該等接觸銷塊117及11 8在其接觸該第一及 第二彈性體之部分,分別具有一由每一支撑單元之側壁向 外凸出的彎曲,且該支樓單元之側壁接近於該第一彈性體 及第一彈性體之間的中間部分,分別具有一内凹之變曲。 因此,該左接觸銷塊及該右接觸銷塊之每一凸面變曲部分 彼此接觸。 一隔離件119是以一絕緣材質製成,設置在該左接觸 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝-------訂---------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 21 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 535333 A7 B7 五、發明說明(19) 銷塊117及右接觸銷塊118之間,且是位在該等左及右接觸 銷塊117及118的彎曲凹面處。該絕緣隔離件119使該等接 觸銷之左及右接觸銷塊117及118分別固定於該左及右支樓 單元,且避免該接觸銷由該支標單元或其位置脫離。 該等接觸銷塊117及118各包括有多數個接觸銷12〇, 且一聚醯亞胺膜121貼附於每一接觸銷之一側或二側。 一絕緣線型膜121a連接於該等接觸銷120之上端部 分。以該線型膜121a維持該每一接觸銷間之間距固定,以 及避免可能因該等接觸銷間之間距變窄時產生短路。 如本發明之測試插座’即使穿過該測試元件之引導銷 重複地嵌入及取出數百及數千次,在該左及右接觸銷彼此 接觸以進行測試之部分,由於該接觸銷支撐單元丨12&及 112b及接觸銷塊間存有彈性體,使該接觸銷之彈性固定地 維持,藉此,避免該引導銷在測試時接觸不良。 如上所述,本發明之測試插座具有以下所述之優點。 第一 ’即使經過數百及數千次之測試,由於該測試插 座之接觸銷是重複地上/下移動,該印刷電路板難以被磨 損。 第二,當該測試插座中有一有缺陷接觸銷時,僅需將 有問題之接觸銷以一正常者替換之,而不需更換插座本 身’所以’該半導體元件之測試成本可以降低。 第二,由於該等多數個接觸銷是貼附於該絕緣膜以形 成一塊體,當其具有一有缺陷之接觸銷時,該接觸銷可以 塊體更換,藉此,更換該接觸銷容易且快速。 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁)
22 >35333 A7 B7 五、發明說明( 20, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第四’該彈性體是設在該殼體與接觸銷接觸之該接觸 銷兩端部分之部分,以維持該接觸銷之彈簧彈力。其間, 由於每一接觸銷之高脫軌率變得與該彈性體均等,使得測 試時之該插座接觸銷與該受測元件的外引線間之電氣連接 更穩定。 第五,由於如本發明之測試插座,是用以固定於該測 試儀器之印刷電路板,該插座之接觸銷與該印刷電路板之 印刷電路間的電氣連接更為穩定,且連接阻抗更為降低。 最後,該插座的接觸銷之製造,由於是以一垂直於該 金屬板紋路之方向彎曲或捲曲形成,該接觸銷不易變形, 而使付該接觸鎖之耐久性延長。 對熟悉此藝者而言將是明顯的,在不逸脫本發明之精 神與範疇下,可在本發明的材料之表面上的電漿聚合中做 出不同的修飾與變化,因此,本發明意欲涵蓋本發明之此 等修飾與變化,設若他們落在隨文檢附的申請專利範圍之 範疇内,以及此等之等效物。 儘管本發明以三實施例圖示說明,但仍不應以此為 限,因為在本發明如下所述申請權利範圍之整體範圍中, 仍可作會改變或修飾。
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經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖號元件對照表: 10 插座殼體 11 接觸指(接觸端子) 11a' 上端子 lib 下端子 12 固定銷 14 .受測元件 15 外引線 30 殼體 · 31 接觸銷納置槽 32a 下凹槽 32b下凹槽 33a 彈性體 33b 彈性體 34 s型接觸銷 34a 下表面 35 印刷電路板 36圖案 40 金屬板 41 直紋 42 接觸銷接觸指 51 第一殼體 51a 子L 51b 穿套 52 第二殼體 52a 第一穴 52b 第二穴 53 第一彈性體 54 第二彈性體 55 接觸銷 55a 接觸銷 55b 絕緣膜 61 接觸銷 61a 接觸銷 61b 接觸銷 62 絕緣膜 62a 絕緣膜 63 彎曲部分 63a 彎曲部分 63b 彎曲部分 64 彈性體 64a 彈性體 65 彈性體 65a 彈性體 66 殻體 66a 殼體 66b 殼體 67a 第一端 67b 第二端 67 c 上端部分 67d 下端部分 70a 絕緣膜 70b 絕緣膜 71a 接觸銷 71b 接觸銷 80 金屬基層 81 金屬紋路 82 金屬條 83 接觸銷 90 第一殼體 91a 隙縫 91b 凹槽 93a 左支撐單元 93b 右支撐單元 94a 第一穴 94b 第一穴 95a 第一彈性體 95b 第一彈性體96a 第二穴 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 24 ^5333 A7 五、 發明說明( 96b第二穴 97a第二彈性體97b第二彈性體 98a左支接觸塊98b右接觸銷塊100接觸銷 100a絕緣線型膜1〇1絕緣膜 102上端部分 103下端部分 104第一臂曲部分 105第二彎曲部分 106第三彎曲部分 110第一殼體 111a缝隙 111b納置凹槽 112接觸銷支撐單元 112a左支撐單元 112b右支撐單元113a第一穴 113b第二穴 115第一彈性體 116第二彈性體 117左接觸銷塊 118右接觸銷塊119隔離件 120接觸銷 121聚醯亞胺膜 --------------裝--------訂· {請先閲讀背面之注意Ϋ項再填寫本頁) -線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 25

Claims (1)

  1. 535333 Λ B c D 、申請專利範圍 第088117391號專利再審查案申 卞τ %專利範圍修正本 修正日期:92年〇3月 1 · 一種測試插座,其包括: 一第一殼體,其係由一 # 材料製成; 預定厚度的絕緣 一第二殼體’以一絕緣材料製成,其-側壁鄰近 該第一殼體之一側壁; 例土砷近 -個第-及一個第二彈性體,分別 殼體之上及下表面;及 乐一 一接觸鎖塊,具有予g金 4…田 間距配置之多數個固定 韻,及一用以固定該等接觸銷之固定元件,⑽其可 以一起移動; 其中,該接觸銷塊是嵌置在該第一及該第二殼體 之間,且與該接觸銷二端部附近之該第一. 性體接觸;和 乐一弹 其令,該接觸銷塊包含:以-定間距配置多數個 :::屬條’和在一金屬板上沿垂直於該等紋路乏方向 二曲甘以及以一絕緣膜貼附在該金屬條之—側或兩 :卜其中該金屬條藉由切割在該等紋路之方向具有一 定方向紋路之金屬板而製造。 2·如曰申一請專利範圍第.1項之測試插座,其中,該第一殼體 =一在中央部具有-孔之絕緣材料,而該第二殼體是 嵌置在該第一殼體之孔的絕緣插頭。 如”專利範圍第】項之測試插座,其中,該接觸鐵塊 尽紙張尺度刪 _7^^Τ^Γ(_-2Ι0Χ297公:fT—-τ_ 535333
    被彎曲為’c’型’且嵌入該第一殼體’以接觸該第一殼 體之上表面、側面及下表面。 4·如申請專利範圍第1項之測試插座,其中,該固定元件 是一絕緣膜。 5·如申請專利範圍第2項之測試插座,其中,該接觸銷塊 是由多數個以一定間距配置之接觸銷所構成,其一側 或兩側貼附在一具有均勻寬度的絕緣膜。 裝 6.如申請專利範圍第5項之測試插座,其中,被裸露於該 接觸銷塊之該絕緣膜外側之每一接觸銷的長度均等。 7·如申請專利範圍第5項之測試插座,其中,該接觸銷塊 的該等接觸銷,分別在被裸露於該絕緣膜外側的部 分,具有至少一彎曲部分。 訂 8.如申請專利範圍第7項之測試插座,其中,該等接觸銷 係被設置成在該彎曲部分附近接觸該第一彈性體或第 二彈性體。 9· 一種測試插座,其包括: 線 一第一殼體,以一絕緣材料製成,具有一紅於其 上表面中心部分之隙縫,及一位於下表面中心部分之 納置凹槽; 一左支撐單元及一右支撐單元,其等被分別被嵌 置在該閉一殼體之納置溝槽中; 一第一彈性體,其被凸設在該左支撐單元之一側 壁及該右支撐單元之一側壁; 一左接觸銷,其係被該左支撑單元一側壁所支 尽纸張尺度適用中0國家標準(cnS) A4規格(;21〇Χ:Ζ974Ϊ1 ^ -- 535333 A B c D 六、申請專利範圍 撐;及 一右接觸銷’其係被該右支撐單元一側壁所支 撐, 其中’該左接觸銷塊及該右接觸銷塊分別具有至 少一彎曲部分,該左支撐單元及該右支撐單元之每一側 壁的該等接觸銷是向外彎曲,且該左接觸銷塊與該右接 觸銷塊之彎曲部分彼此封閉,以及 其中,該接觸銷塊包含:以一定間距配置多數個 該金屬條,和在一金屬板上沿垂直於該等紋路之方向彎 曲,以及以一絕緣膜貼附在該金屬條之一側或兩側,其 中該金屬條藉由切割在該等紋路之方向具有一定方向 紋路之金屬板而製造。 1〇_如申請專利範圍第9項之測試插座,其中,該第一彈性 體是設於該左側支撐單元之側壁與該左側接觸銷塊之· 彎曲部分之間,及該右支撐單元之側壁與該右支樓銷 塊之彎曲部分之間。 11 ·如申请專利範圍第9項之測試插座,其中,該左友右接 觸銷塊包括: 多數個以一定間距配置之接觸銷;及 一貼附於每一接觸銷之一側或二侧之絕緣膜。 12·如申請專利範圍第11項之測試插座,其中,該等接觸 銷之邊緣部分是以一絕緣線型膜連接。 13 ·如申請專利範圍第9項之測試插座,其中,該等左及右 支撐單元之下表面形成有一穴,該第二彈性體嵌設於 核張尺度適用中s Λ β c D _請專利範圍 该穴中,且該接觸銷塊之接觸 ^ 安碼鋼的下端部分接觸於該 第二彈性體。 14·如申請專利範圍第8項之測試插座,其中,每—左及右 支擇單元之上表面形成有一溝样 /再^,且该接觸銷之邊緣 部分是設於該溝槽内。 15· —種測試插座,其包括: 一第一殼體,以一絕緣材料製成,具有一位於上 表面中心部分之隙縫,及一位於 1 卜表面中心部分之納 裝 置凹槽; 分別嵌置在該第一殼體之納置溝槽中的一右支 撐單元及左支撐單元; 訂 一第一及一第二彈性體,是以一預定間隔分別凸 设在每一側壁之上側及下側; 一左接觸銷塊,其係由該左支擔單元一側壁所支 撐;及 撐; 右接觸銷塊,其係由該右支撐單元一側壁所支 線 其中’邊左接觸銷塊及該右接觸銷塊具有二凸出 地形成於一遠離該側壁方向之凸面部分,及一形成在 該等凸面部分間且與該支撐單元側壁方向相反之凹面 部分,右支撐單元之每一側壁的該等接觸銷是向外彎 曲’且該右接觸銷塊與該左接觸銷塊之每一凸面彎曲 部分彼此封閉,以及 其中,該接觸銷塊包含··以一定間距配置多數個 -4- 本.’.氏水尺度過用中iS國準(CNS )八4規格(21〇\297公没) 六、申請專利範圍 該金屬條,和在一金屬板上沿垂直於該等紋路之方向 ’、弓曲’以及以一絕緣膜貼附在該金屬條之一側或兩 側’其中該金屬條藉由切割在該等紋路之方向具有一 定方向紋路之金屬板而製造。 6. 士申明專利範圍第1 5項之測試插座,其中,該等凸面 琴曲部分接觸於該第一彈性體或第二彈性體。 17·如申請專利範圍第15項之測試插座,其中,該左接觸 銷塊及該右接觸銷塊之凹面彎曲部分間設有一絕緣空 間。 1 8.如申請專利範圍第15項之測試插座,其中,該左及右 接觸銷塊包括: 多數個以一定間距配置之接觸銷;及 一貼附於每一接觸銷之一側或;側之絕緣膜,其 中’该等接觸銷之邊緣部分是以一絕緣線型膜連接。 19 ·如申請專利範圍第11項之測試插座,其中,該接觸銷 塊是以一製造方法形成,其步驟包括: 製備一經擠壓成形的金屬板,俾使其具有二定方 向之紋路; 沿該紋路方向切割該金屬板,以形成一金屬條; 沿垂直於該等紋路之方向彎曲或捲曲該金屬 條,以製成一插座之接觸銷;及 以一定間距配置多數個該等接觸銷,再以一絕緣 膜貼附在該接觸銷之一側或兩側,藉此形成一接觸 塊0
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY131059A (en) * 2001-12-28 2007-07-31 Nhk Spring Co Ltd Socket for inspection
DE10300531A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-29 Infineon Technologies Ag Sockel- bzw. Adapter-Vorrichtung, insbesondere für Halbleiter-Bauelemente, Verfahren zum Testen von Halbleiter-Bauelementen, sowie System mit mindestens einer Sockel- bzw. Adapter-Vorrichtung
DE10300532B4 (de) * 2003-01-09 2010-11-11 Qimonda Ag System mit mindestens einer Test-Sockel-Vorrichtung zum Testen von Halbleiter-Bauelementen
WO2008120278A1 (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Fujitsu Limited コネクタ、電子装置、及び、電子装置の製造方法
TW201107757A (en) * 2009-08-26 2011-03-01 Kodi S Co Ltd Contact-type integrated circuit probe unit for inspecting monitor and manufacture method thereof
US8337217B2 (en) * 2011-03-29 2012-12-25 Digi International Inc. Socket for surface mount module
SG11201610578WA (en) * 2014-06-20 2017-01-27 Xcerra Corp Test socket assembly and related methods
USD813171S1 (en) * 2016-04-08 2018-03-20 Abb Schweiz Ag Cover for an electric connector
USD824859S1 (en) * 2016-04-08 2018-08-07 Abb Schweiz Ag Electric connector
JP6627655B2 (ja) * 2016-06-17 2020-01-08 オムロン株式会社 ソケット
CN106340469B (zh) * 2016-11-16 2023-06-23 长电科技(滁州)有限公司 一种测试凹槽可调式晶体管封装体测试座及其操作方法
CN107742814A (zh) * 2017-09-25 2018-02-27 郑州华力信息技术有限公司 线夹孔心定位器
CN108318713B (zh) * 2018-01-30 2020-11-03 兰州大学 基于压力调节夹持面积和数量的接触电阻测试夹持装置
CN109085391B (zh) * 2018-09-19 2020-12-22 四川爱联科技股份有限公司 电子设备测试装置及电子设备
KR20230043016A (ko) 2021-09-23 2023-03-30 주식회사 지디텍 반도체 검사 소켓장치

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3517144A (en) * 1969-01-23 1970-06-23 Us Army Integrated circuit package programmable test socket
US4547031A (en) * 1984-06-29 1985-10-15 Amp Incorporated Chip carrier socket and contact
US4735580A (en) * 1986-12-22 1988-04-05 Itt Corporation Test adapter for integrated circuit carrier
JP2784570B2 (ja) * 1987-06-09 1998-08-06 日本テキサス・インスツルメンツ 株式会社 ソケツト
US4962356A (en) * 1988-08-19 1990-10-09 Cray Research, Inc. Integrated circuit test socket
US5634801A (en) * 1991-01-09 1997-06-03 Johnstech International Corporation Electrical interconnect contact system
US5388996A (en) * 1991-01-09 1995-02-14 Johnson; David A. Electrical interconnect contact system
US5069629A (en) * 1991-01-09 1991-12-03 Johnson David A Electrical interconnect contact system
JPH05343142A (ja) * 1992-06-02 1993-12-24 Minnesota Mining & Mfg Co <3M> Icソケット
KR960002806Y1 (ko) * 1992-07-08 1996-04-08 문정환 반도체 디바이스 테스트용 매뉴얼 소켓
JP3051596B2 (ja) * 1993-04-30 2000-06-12 フレッシュクエストコーポレーション 半導体チップテスト用ソケット
US5557212A (en) * 1994-11-18 1996-09-17 Isaac; George L. Semiconductor test socket and contacts
DE69632159T2 (de) * 1995-02-07 2004-09-02 Johnstech International Corp., Minneapolis Gerät zur Steuerung der Impedanz von elektrischen Kontakten
KR0130142Y1 (ko) * 1995-06-01 1999-02-01 김주용 반도체 디바이스 테스트용 소켓
JP2922139B2 (ja) * 1995-09-19 1999-07-19 ユニテクノ株式会社 Icソケット
JP2908747B2 (ja) 1996-01-10 1999-06-21 三菱電機株式会社 Icソケット
KR100259060B1 (ko) * 1997-12-06 2000-06-15 신명순 반도체 칩 테스트 소켓 및 콘텍터 제조방법

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