KR19990003962U - 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리 - Google Patents

반도체소자 검사용 소켓 어셈블리 Download PDF

Info

Publication number
KR19990003962U
KR19990003962U KR2019980019351U KR19980019351U KR19990003962U KR 19990003962 U KR19990003962 U KR 19990003962U KR 2019980019351 U KR2019980019351 U KR 2019980019351U KR 19980019351 U KR19980019351 U KR 19980019351U KR 19990003962 U KR19990003962 U KR 19990003962U
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
socket
contact
board
contact finger
socket assembly
Prior art date
Application number
KR2019980019351U
Other languages
English (en)
Inventor
정운영
Original Assignee
정운영
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 정운영 filed Critical 정운영
Priority to KR2019980019351U priority Critical patent/KR19990003962U/ko
Publication of KR19990003962U publication Critical patent/KR19990003962U/ko
Priority to EP99970473A priority patent/EP1038186B1/en
Priority to JP2000576291A priority patent/JP2002527868A/ja
Priority to MYPI99004361A priority patent/MY122475A/en
Priority to ES99970473T priority patent/ES2242451T3/es
Priority to AT99970473T priority patent/ATE296448T1/de
Priority to PT99970473T priority patent/PT1038186E/pt
Priority to KR1019990043491A priority patent/KR100333526B1/ko
Priority to TW088117391A priority patent/TW535333B/zh
Priority to DE69925456T priority patent/DE69925456T2/de
Priority to US09/554,568 priority patent/US6448803B1/en
Priority to AU60093/99A priority patent/AU6009399A/en
Priority to PCT/KR1999/000606 priority patent/WO2000022445A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

본 제품은 메모리 칩의 성능 검사를 하기위한 중요한 부품의 하나인 CONTACT FINGER용 SOCKET ASSEMBLY로서 기존의 SOCKET 사용 시 SOCKET 수명이 다하여 교체 시 SOCKET 전체를 교환하여야 하나 본 제품은 CONTACT FINGER만 교체함으로 비용을 줄일 수 있으며, 또한 기존의 SOCKET 사용 시 P.C. BOARD상의 접촉 패턴과 SOCKET 간의 접촉을 위하여 SOCKET BOARD를 사용하여야 하나 본 고안은 CONTACT FINGER와 P.C BOARD와 직접 접촉하게 함으로서 원가 절감과 전체 회로선의 길이를 줄임으로 인한 주파수 특성이 양호함으로 고주파 및 SPEED 관련 특성의 소자 검사 시 수율 개선 과 수입품인 I.C SOCKET의 대체 효과와 비용 절감을 위한 제품이다.
또한 본 제품은 PLCC, QFP 소자 와 같이 4방향에서 소자의 다리(LEAD)가 구성되어 있는 PACKAGE용 SOCKET 구조임.

Description

반도체소자 검사용 소켓 어셈블리
본 고안 SOCKET ASSEMBLY는 기존의 SOCKET의 전기적 특성 문제점인 주파수 특성 및 스피드 특성 향상을 위하여 CONTACT FINGER(접촉핀)의 길이를 10mm 이하로 줄일수 있는 구조로 개선하였고, 또한 SOCKET 전체를 교체하지 않고 CONTACT FINGER 부분만 교체하게 함으로 교체 비용을 절감케 하였으며, 기존의 SOCKET은 도면 1에서 SOCKET(B)와 P.C BOARD(M) 위의 패턴(D) 간의 연결을 위하여 또 하나의 SOCKET BOARD를 사용하여야 하나 본 고안은 SOCKET BOARD가 필요치 않으며, 기존의 SOCKET은 CONTACT FINGER(C) 가 교체가 불가능한 고정형 이거나 낱개로 하나 하나씩 교체 하여야 하나 본 고안은 CONTACT FINGER(C)를 열 접착 고정 TAPE(H)을 사용하여 필요한 숫자만큼 연결하여 한꺼번에 교체 가능케 하였으며, 또한 실리콘 고무(G)를 CONTACT FINGER(C) 상/하단에 심어서 접촉 단자의 탄성을 항상 일정하게 유지 하도록 하였다.
또한 PLCC, QFP소자와 같이 다리(LEAD)가 4방향에서 나와 있는 소자에도 적용가능 하게 SOCKET(B)의 4방향에 CONTACT FINGER의 폭 만큼 홈을 만들어 CONTACT FINGER를 홈에 삽입 후 SOCKET 고정 장치(A)로 덮어 씌운 구조임.
이하에서 본 고안 장치의 구조 및 작동 상태를 첨부 도면을 참고로 하여 상세히 설명 한다.
1) 도면 제 1도 와 같이 접촉 단자 CONTACT FINGER(C)를 ㄷ 모양으로 만들어 SOCKET ASSEMBLY(B)의 4 방향에 CONTACT FINGER(C)의 폭 만큼 홈을 만든곳에 끼운 후 SOCKET 고정장치(A)를 위에서 아래로 덮은 후 SOCKET ASSEMBLY(B)를 P.C BOARD 상의 접촉 패턴(D)에 접촉되게 고정핀(F) 와 고정볼트(E)로 고정 한다.
2) 도면 제 1 도 와 같이 반도체소자(1)를 SOCKET ASSEMBLY (B)에 삽입 후 반도체소자(1)의 LEAD를 누르는 누름 장치(WORK PRESSER)를 이용하여 누르면CONTACT FINGER(C)와 P.C BOARD위의 접촉 패턴(D)간의 동시 접촉으로 인하여 검사가 수행된다.
이때 2)번 동작의 수십 만번이 되풀이 될 시 CONTACT FINGER(C)의 탄력성 유지를 위하여 실리콘 고무 판(G)을 CONTACT FINGER 상/하단에 고정 시킨다.
1) CONTACT FINGER(C)간 간격을 정확히 유지하기 위하여 열 접착 TAPE(H)을 사용하여 핀간을 연결하여 CONTACT FINGER(C)를 SOCKET ASSEMBLY(B)에 삽입 및 분해가 용이 하게 제작 한다.
상기의 식별자가 없습니다.
제 1도는 조립 단면도
제 2 도는 평면도
제 3 도는 분해 단면도
[도면의 주요 부분에 대한 설명]
A : SOCKET 고정 장치
B : 본 고안 장치의 SOCKET BODY(CONTACT FINGER가 고정되어 위치하는 SOCKET 몸체)
C : CONTACT FINGER
D : P.C BOARD 상 접촉 패턴
E : 고정 볼트 구멍 (SOCKET 과 P.C BOARD를 고정)
F : 위치 고정 핀 구멍
G : 실리콘 고무판
H : 열 접착 TAPE.
상기의 식별자가 없습니다.
상기의 식별자가 없습니다.

Claims (3)

  1. 교체 시 기존의 SOCKET과 같이 SOCKET 전체를 교체하지 않고 SOCKET(B)의 4 방향에 CONTACT FINGER(접촉핀) 폭 만큼 홈을 만들어 CONTACT FINGER(C)를 끼우고, SOCKET 고정 장치를 덮어 P.C BOARD에 고정한, CONTACT FINGER만 교체 가능케 한 반도체 검사용 SOCKET ASSEMBLY 구조장치.
  2. 기존의 반도체 검사용 SOCKET과 같이 SOCKET의 PIN과 P.C BOARD상의 접촉 패턴(D) 간의 연결 시 SOCKET BOARD 가 추가로 필요 하나 ,
    본 고안과 같이 SOCKET ASSEMBLY(B) 와 P.C BOARD 을 고정 핀(F) 와 고정볼트(E) 로 고정 함으로서 CONTACT FINGER(C)와 P.C BOARD접촉 패턴(D)와 연결되는 SOCKET ASSEMBLY 구조 장치.
  3. CONTACT FINGER(C)의 탄력성을 지속적으로 유지 하기 위하여 CONTACT FINGER의 상/하단 부위인 SOCKET ASSEMBLY(B)에 실리콘 고무(G)와 같은 고탄력/내열 고무를 삽입한 SOCKET ASSEMBLY 구조 장치.
KR2019980019351U 1998-10-10 1998-10-10 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리 KR19990003962U (ko)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019980019351U KR19990003962U (ko) 1998-10-10 1998-10-10 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리
PCT/KR1999/000606 WO2000022445A1 (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket
ES99970473T ES2242451T3 (es) 1998-10-10 1999-10-08 Conector de prueba.
JP2000576291A JP2002527868A (ja) 1998-10-10 1999-10-08 テスト・ソケット
MYPI99004361A MY122475A (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket
EP99970473A EP1038186B1 (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket
AT99970473T ATE296448T1 (de) 1998-10-10 1999-10-08 Prüfsockel
PT99970473T PT1038186E (pt) 1998-10-10 1999-10-08 Tomada de teste
KR1019990043491A KR100333526B1 (ko) 1998-10-10 1999-10-08 테스트 소켓 및 소켓용 콘택 핀 제조방법
TW088117391A TW535333B (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket
DE69925456T DE69925456T2 (de) 1998-10-10 1999-10-08 Prüfsockel
US09/554,568 US6448803B1 (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket
AU60093/99A AU6009399A (en) 1998-10-10 1999-10-08 Test socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019980019351U KR19990003962U (ko) 1998-10-10 1998-10-10 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19990003962U true KR19990003962U (ko) 1999-01-25

Family

ID=69710375

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019980019351U KR19990003962U (ko) 1998-10-10 1998-10-10 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR19990003962U (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488895B1 (ko) * 2001-02-19 2005-05-11 가부시키가이샤 엔프라스 전기부품용 소켓

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488895B1 (ko) * 2001-02-19 2005-05-11 가부시키가이샤 엔프라스 전기부품용 소켓

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5205741A (en) Connector assembly for testing integrated circuit packages
US5629837A (en) Button contact for surface mounting an IC device to a circuit board
US20170074902A1 (en) Contact unit and inspection jig
DE69133468D1 (de) Halbleiterchipanordnungen, Herstellungsmethoden und Komponenten für dieselbe
KR200200534Y1 (ko) 프로브 카드
KR19990003962U (ko) 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리
JPH08321368A (ja) Icソケット
KR19990034968U (ko) 콘택트핑거를이용한반도체검사용소켓어셈블리
KR200226638Y1 (ko) 테스트 소켓
KR100293243B1 (ko) 반도체소자검사용소켓구조
KR19980055731U (ko) 반도체소자(마이크로 비지에이 소자) 검사용 소켓 어셈블리
KR100320022B1 (ko) 반도체 칩 테스트 장치
KR19990003954U (ko) 반도체소자 검사용 소켓 어셈블리
KR200148755Y1 (ko) 아이씨 소켓
KR200287947Y1 (ko) 반도체장치 테스트용 다용도 소켓
KR950009876Y1 (ko) 반도체 테스트 장비의 테스트 보드장치
KR100273119B1 (ko) 패키지 측정용 지그
KR200281258Y1 (ko) 테스트 소켓
KR100258350B1 (ko) 슈퍼 bga 반도체패키지
KR950007502Y1 (ko) 가변연장 회로 시험 기구
KR20030067401A (ko) 테스트 소켓
KR19980014355U (ko) 반도체 검사용 contact finger 용 socket assembly
KR970066595A (ko) 노운 굿 다이 어레이(known-good die array)용 테스트 보오드(test board)
KR20000055989A (ko) 탄성 지지체를 갖는 집적회로 소자 검사 소켓
KR970032303A (ko) 포고핀을 적용한 노운 굿 다이용 인쇄회로기판

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G15R Request for early opening