KR950007502Y1 - 가변연장 회로 시험 기구 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

가변연장 회로 시험 기구

제1도는 본 고안에 따른 가변연장 회로시험기구의 사용상태를 도시한 설명도.

제2도는 본 고안에 따른 가변연장 회로시험기구의 사시도.

제3도는 제2도의 A-A'선 단면도.

제4도는 본 고안의 제2실시예를 도시한 사시도.

제5도는 본 고안의 제3실시예를 도시한 사시도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 몸체부 13 : 소켓부

15 : 구멍 20 : 핀

30 : 관통보울트 31 : 너트

32 : 절연패킹 100 : 주 PCB기판

200 : 콘넥터(CONNECTOR)

본 고안은 PCB(PRINT CIRCUIT BOARD)기판을 시험하는 기구에 관한 것으로, 보다 상세히는 콘넥터(CONNECTOR)의 핀스에 알맞게 핀수를 가변조절하여 PCB기판을 시험하도록 된 가변연장 회로 시험기구에 관한 것이다.

일반적으로 주(main)PCB기판(100)에는 다수개의 보조(sub)PCB기판(150)(사용자가 선택하는 PCB기판)이 각각 다른 핀(Pin)수를 갖춘 콘넥터(200)를 매개로 연결되고, 상기 콘넥터(200)는 주 PCB기판(100)상에 서로 근접하여 위치됨으로서 전자기기의 본체(250)내에서 좁은 공간을 효과적으로 활용하도록 구성된다.

그러나, 상기와 같은 주 PCB기판(100) 또는 보조 PCB기판(150)은 회로에 이상이 발생하거나, 정기적인 수리를 위해서는 수시로 점검이 필요한 것이고, 이때 작업자는 주 PCB기판(100)으로부터 점검하고자 하는 회로와 연결되는 보조 PCB기판(150)을 콘넥터(200)로 부터 뽑아낸 다음, 회로시험기구를 이용하여 회로를 점검하는 것이었다. 한편, 상기 콘넥터(200)는 여러개의 핀(미도시)을 조합하여 제작되는 것이고, 종류도 다양하며, 주 PCB기판(100)으로부터 돌출하는 높이도 매우 낮은 것이었다. 따라서 작업자는 각각의 콘넥터(200)에 결합가능한 다양한 핀수의 회로시험기구를 갖추어야만 하는 것이고, 특히 점검작업도중에는 상기 콘넥터(200)가 서로 근접하여 위치되고, 인접한 보조 PCB기판(150)의 방해로 인하여 점검작업이 수월하게 이루어 지지 못하는 문제점을 갖춘 것이었다.

본 고안은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위하여 안출된 것으로서 콘넥터의 핀수에 알맞게 핀수를 가변적으로 조절 가능하고, 일정길이를 갖추어 인접한 보조 PCB기판에 의해 점검작업이 방해 받지 않음으로서 작업생산성이 향상될 수 있는 가변 연장회로시험기구를 제공함에 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 일측단부에는 콘넥터로 삽입되는 핀 받침대가 돌출형성되고, 타측단부에는 보조 PCB기판의 핀이 삽입되는 요홈 형상의 소켓부가 형성되며, 다수개의 구멍이 횡방향으로 형성되는 일정길이의 몸체부; 상기 몸체부에 내장되고, 일측단부가 상기 핀 받침대의 상,하면으로 돌출형성되며, 타측단부가형으로 절곡되어 상기 소켓부내에서 마주 하도록 위치되는 한편, 상기 소켓부 근방의 몸체부 상,하면으로 단자핀이 각각 돌출형성되는 한쌍의 핀; 을 갖추어 PCB기판의 회로를 시험하는 장치에 있어서, 상기 몸체부의 구멍을 각각 관통하여 삽입되고, 너트를 매개로 다수개의 몸체부를 고정하며, 양측단부에는 각각 절연패킹이 형성된 다수개의 관통보울트에 의해 몸체부의 수량을 조절할 수 있음을 특징으로 하는 가변연장 회로 시험기구를 마련함에 의한다.

이하, 본 고안을 도면에 따라 보다 상세히 설명한다.

제1도에는 본 고안의 회로시험기구(1)가 콘넥터(200)와 보조 PCB기판(150)을 연결하고 있다. 상기 회로시험기구(1)는 일정길이를 갖춘 몸체부(10)와, 상기 몸체부(10)내에 내장되는 핀(20) 및, 상기 몸체부(10)를 다수개 고정하는 관통보울트(30)를 갖추고 있다. 상기 몸체부(10)는 일측 단부에, 콘넥터(200)로 삽입될 수 있는 크기의 핀 받침대(11)가 돌출형성되고, 타측단부에는 보조 PCB기판(150)의 핀(미도시)이 삽입될 수 있는 크기의 요홈으로 된 소켓부(13)가 형성되며, 중앙부분에는 횡방향으로 다수개의 구멍(15)이 형성된 절연물질로 구성되어 있다.

그리고, 상기 몸체부(10)내에 내장되는 한쌍의 핀(20)은, 상기 몸체부(10)의 핀받침대(11) 상,하면(11a)(11b)으로 일측단부가 돌출되어 압착되고, 몸체부(10)내부에서 길이방향을 따라 연장되며, 타측단부는형으로 절곡되어 상기 소켓부(13)의 일정공간(S)으로 돌출형성된다. 상기형으로 절곡된 핀(20)의 타측단부는 한쌍이 서로 마주하여 위침됨으로서 보조PCB기판(150)의 핀이 삽입되는 경우 상기 핀과 탄력적으로 결합함으로서 견고한 결합관계를 유지하도록 구성되어 있다. 또한 상기 핀(20)은 각각 상기 소켓부(13)근방에 형성되는 몸체부(10)의 상,하면(10a)(10b)으로 돌출형성되는 단자핀(22)을 갖추고 있다. 따라서, 상기 핀(20)은 일측단부에서 타측단부에 까지 또한 상기 단자핀(22)까지 전기적인 연결통로를 구성하게 된다. 한편, 상기 핀(20)이 내장된 몸체부(10)는 다수개가 관통보울트(30)에 의해 결합되는데 상기 몸체부(10)가 결합되는 숫자는 본고안의 회로시험기구(1)가 끼워지는 콘넥터(200)의 핀수와 일치한다.

상기 관통보울트(30)는 몸체부(10)의 구멍(15)을 각각 관통하여 삽입되고, 일측으로는 너트(31)가 나사결합하여 상기 몸체부(10)를 서로 견고히 밀착시켜 고정한다. 그리고, 각각의 양측단부에는 주변의 전자기기와 절연관계를 유지하기 위해 착탈가능한 절연패킹(32)이 끼워지게 된다.

상기와 같이 구성된 본 고안의 회로시험기구(1)는 관통보울트(30)에 의해 점검하고자 하는 콘넥터(200)의 핀수에 맞추어 다수개가 고정된 상태에서 제1도에 도시된 바와 같이 핀 받침대(11)가 콘넥터(200)로 삽입되고, 소켓부(13)에 보조 PCB기판(150)의 핀(미도시)이 삽입된다. 상기와같이 장착된 상태에서는 본 고안의 가변연장 회로시험기구(1)에 내장된 핀(20)이 상기 콘넥터(200)와 보조 PCB기판(150)의 핀을 전기적으로 연결하게 된다.

상기에서는 다수개의 몸체부(10)가 관통보울트(30)에 의해 결합되는 실시예에 대하여 설명하였지만, 제4도에는 상기와는 다른 제2실시예가 도시되어 있다. 제2실시예에 따른 가변연장 회로시험기구(1')는 몸체부(10')가 각각 양측면에 형성된 다수개의 요홈(12')과 블록돌기(14')에 의해 결합된다. 즉, 제1실시예의 가변연장회로 시험기구(1)에서 구멍(15)을 관통하여 몸체부(10)를 결합시키는 관통보울트(30) 대신에 요홈(12')으로 볼록돌기(14')가 각각 끼워 맞춤됨으로서 콘넥터(200)의 핀수만큼 몸체부(10')가 연결가능하다. 상기 양측면에 형성된 요홈(12')과 볼록돌기(14')를 제외한 나머지 기술적인 구성은 제1실시예와 제2실시예가 동일하다.

또한 제5도에는 상기와는 또다른 제3실시예가 도시되어 있다. 제3실시예에 따른 가변연장 회로시험기구(1")는 몸체부(10")를 결합시키도록형 클램프(15")를 다수개 사용하고 있다. 상기형 클램프(15")는 다수개의 몸체부(10")를 서로 중첩시켜 고정보울트(15a")를 회전시킴으로서 고정한다. 대신, 몸체부(10")의 양측면에는 아무런 고정수단을 갖추지 않아도 무방하고, 그 밖의 기술적인 구성은 제1 및 제2실시예와 동일하다.

상기와 같이 구성된 본 고안에 의하면, 하나의 회로시험기구로서도 다수개의 콘넥터를 점검하기 위하여 몸체부(10)를 가변적으로 구성할 수 있기 때문에, 서로 핀수가 다른 콘넥터에 대해서도 각각 별도의 회로시험기구를 사용하지 않고서도 용이하게 점검이 가능하다. 또한 점검작업 도중에 인접하여 위치된 보조PCB기판(150)의 방해를 받지 않도록 몸체부(10)가 일정길이를 갖추어 주변의 보조 PCB기판(150)외부로 소켓부(13)가 연장 형성되기 때문에, 점검하고자하는 회로와 연결되는 콘넥터에 인접하여 다수개의 보조 PCB기판(150)이 위치하는 경우에도, 점검 작업에는 아무런 지장도 받지 않게 된다. 따라서 작업능률이 향상되고, 작업시간이 단축되어 현저히 생산성이 향상되는 실용상의 효과가 얻어진다.

Claims (3)

1. 일측단부에는 콘넥터(200)로 삽입되는 핀 받침대(11)가 돌출형성되고, 타측단부에는 보조 PCB기판(150)의 핀이 삽입되는 요홈 형상의 소켓부(13)가 형성되며, 다수개의 구멍(15)이 횡방향으로 형성된 일정길이의 몸체부(10); 상기 몸체부(10)에 내장되고, 일측단부가 상기 핀받침대(11)의 상,하면(11a)(11b)으로 돌출형성되며, 타측단부가형으로 절곡되어 소켓부(13)내에서 마주하도록 위치하는 한편, 상기 소켓부(13) 근방의 몸체부(10) 상,하면(10a)(10b)에서 단자핀(22)이 각각 돌출되는 한쌍의 핀(20);을 갖추어 PCB기판의 회로를 시험하는 기구에 있어서, 양측단부에 각각 절연패킹(32)이 형성된 다수개의 관통보울트(30)는 너트(31)를 매개로 콘넥터(200)의 핀수에 부합되는 갯수의 몸체부(10)를 고정함으로서 서로 핀수가 다른 콘넥터(200)의 점검이 가능토록 함을 특징으로 하는 가변연장 회로 시험기구.
2. 제1항에 있어서, 상기 몸체부(10')는 양측면에 형성된 요홈(12')과 볼록돌기(14')가 서로 끼워 맞춤되어 서로 다수개가 연결구성됨을 특징으로 하는 가변연장 회로 시험기구.
3. 제1항에 있어서, 상기 몸체부(10")는 복수개의형 클램프(15")에 의해 다수개가 서로 연결구성됨을 특징으로 하는 가변연장 회로 시험기구.