CN110687426B - 多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法，包括测试仪本体，测试仪本体顶部具有盖板，盖板安装有测试端面部件，测试端面部件具有能够与负载板插接连接的定位销钉，所述盖板底面安装有连杆机构，所述连杆机构与设置在盖板顶面的滑块连接，连杆机构能够驱动滑块沿盖板顶面运动，滑块的一侧侧面上开设有滑槽，滑槽与负载板的边缘的固定销钉相匹配，负载板边缘的销钉能够伸入所述滑槽中，所述滑槽轴线与盖板呈夹角设置，滑块的运动能够带动负载板做升降运动，从而实现负载板与测试端面部件的连接和分离，本发明的测试仪能够保证测试端面部件各个连接器与负载板的压接一致性。
Description
技术领域
本发明涉及微波半导体测试仪技术领域，具体涉及多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪及方法。
背景技术
微波半导体芯片(RFIC)需要测试射频、数模、电源类参数，测试参数较多，就需要多种模块提供大量的测试通道进行测试，而测试通道需要通过测试仪上的负载板(LoadBoard)与整机测试端面部件密闭相连，保证负载板上高频(即射频微波类)、中频(即高速数字、中频类)、低频(即电源、低频类)接口相连但又不能损坏其连接器件。负载板与整机测试端面部件需要用到适当的力将其压紧，但又不能用太大力以防损坏接插件。
现有的微波半导体器件测试仪的负载板和整机测试端面部件以简单的螺丝进行固定，发明人发现，此种连接方式不方便负载板的拆卸和维修，连接器容易损坏，并且各个连接器的压接的一致性无法保证，测试通道的信号一致性不佳。
发明内容
本发明的目的是为克服现有技术的不足，提供多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，能够保证负载板与整机测试端面部件各个连接器压接的一致性，且方便拆卸，操作省时省力。
为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：
多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，包括测试仪本体，测试仪本体顶部具有盖板，盖板安装有测试端面部件，测试端面部件具有能够与负载板插接连接的定位销钉，盖板底面安装有连杆机构，所述连杆机构与设置在盖板顶面的滑块连接，连杆机构能够驱动滑块沿盖板顶面运动，滑块的一侧侧面上开设有滑槽，滑槽与负载板的边缘的固定销钉相匹配，负载板边缘的固定销钉能够伸入所述滑槽中，所述滑槽轴线与盖板呈夹角设置，滑块的运动能够带动负载板做升降运动，从而实现负载板与测试端面部件的连接和分离。
进一步的，所述滑块顶面设置有与滑槽相连通的放置槽，负载板边缘的固定销钉能够通过放置槽进入滑槽内部。
进一步的，所述连杆机构包括驱动杆，所述驱动杆的中心位置与盖板的底面转动连接，所述驱动杆端部与传动杆机构连接，驱动杆的转动能够通过传动杆机构带动滑块的运动。
进一步的，所述传动杆机构包括第一连杆、三角型杆及第二连杆，所述第一连杆一端与驱动杆的端部铰接，第一连杆的另一端与三角型杆的第一端部铰接，三角型杆的第二端部用于与测试仪盖板的底面转动连接，三角型杆的第三端部与第二连杆的一端铰接，第二连杆的与连接轴转动连接，所述连接轴通过盖板上设置的第一导向槽穿过盖板与滑块固定连接。
进一步的，驱动杆与盖板的连接点、三角型杆与盖板的连接点位于第一直线上，第二连杆与连接轴的连接点与三角型杆与盖板的连接点位于第二直线上，第一直线与第二直线相互垂直。
进一步的，所述滑块底面设置有至少一个导向柱，所述盖板设置多个与导向柱相匹配的第二导向槽，保证了滑块运动方向的精度。
进一步的，所述驱动杆与手柄连接，所述手柄位于盖板上方，手柄能够带动驱动杆的转动。
进一步的，所述手柄上设置有第一固定孔，所述盖板上设置有与所述第一固定孔相匹配的第二固定孔，第一固定孔和第二固定孔中能够插入固定销，实现手柄相对于盖板的固定。
进一步的，所述手柄与盖板之间设置有与盖板固定连接的牛眼万向球，用于减少手柄转动时与盖板之间的摩擦力。
本发明还公开了多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪与负载板的固定方法：将测试端面部件的定位销钉插入负载板设置的定位孔中，限制负载板的水平运动，同时负载板边缘的固定销钉伸入滑块的滑槽中，连杆机构带动滑块沿盖板的顶面运动，由于滑块的滑槽轴线相对于盖板倾斜设置，滑块通过滑槽带动负载板做下降运动，将负载板与测试端面部件上的连接器固定连接。
本发明的有益效果：
1.本发明的微波半导体器件测试仪，通过连杆机构和滑块带动负载板做升降运动，从而实现负载板与测试仪测试端面部件的连接和分离，连接时，能够保证负载板与测试端面部件各个连接器的压接一致性，测试通道的信号一致性好。
2.本发明的微波半导体器件测试仪，通过手柄驱动连杆机构工作，利用滑块的运动带动负载板做升降运动，实现负载板与测试仪测试端面部件的连接和分离，无需使用螺丝进行连接，连接时省时省力，工作效率高，劳动强度低。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的限定。
图1为测试端面部件与负载板结构示意图；
图2为本发明实施例1连杆机构结构仰视示意图；
图3为本发明实施例1拆除滑块后盖板俯视示意图；
图4为本发明实施例1连杆机构侧视示意图；
图5为本发明图4中的A处放大图；
图6为本发明实施例1第一滑块或第二滑块结构示意图；
图7为本发明实施例2负载板与测试端面部件装配俯视示意图；
图8为本发明实施例2负载板与测试端面部件装配仰视示意图；
其中，1.测试端面部件，1-1.SMP连接器，1-2.数模及电源连接器，1-3.定位销钉，2.负载板，2-1.固定销钉，3.盖板，4.第一滑块，5.第二滑块，6.驱动杆，7.中心轴，8.第一连杆，9.三角型杆，9-1.第二端部，10.第二连杆，11.连接轴，12.第一导向槽，13.导向柱，14.牛眼万向球，15.手柄，16.固定销，17.滑槽，18.放置槽。
具体实施方式
应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
为了方便叙述，本发明中如果出现“上”、“下”、“左”“右”字样，仅表示与附图本身的上、下、左、右方向一致，并不对结构起限定作用,仅仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
正如背景技术所介绍的，现有微波半导体器件测试仪的负载板和整机测试端面部件以简单的螺丝进行固定，不方便负载板的拆卸和维修，连接器容易损坏，并且各个压接的一致性无法保证，针对上述问题，本申请提出了多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪。
本申请的一种典型实施方式实施例1中，如图1-6所示，多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体顶部具有盖板3，所述盖板上安装有测试端面部件1，进行测试时，需要将测试端面部件与负载板2固定连接，所述测试仪本体、盖板及测试端面部件均采用现有的微波半导体器件测试仪及负载板的结构，其具体结构在此不进行详细叙述，所述测试端面部件具有SMP连接器1-1、数模及电源连接器1-2等多个连接器，进行测试时，需要将负载板与连接器进行连接，所述测试端面部件上设置有定位销钉1-3，所述负载板上设置有与所述定位销钉相匹配的定位孔，定位销钉能够插入定位孔中，限制负载板在水平方向上的移动，所述负载板的两个侧面均固定有四个固定销钉2-1。
所述盖板的底面安装有连杆机构，所述连杆机构与盖板顶面设置的第一滑块和第二滑块连接，连杆机构能够带动第一滑块4和第二滑块5在盖板顶面沿第一方向的运动。
所述连杆机构包括驱动杆6，所述驱动杆的中间部位与中心轴7通过键固定连接，中心轴与盖板转动连接，所述驱动杆的两端均与传动杆机构连接，两个传动杆机构分别与第一滑块和第二滑块连接，驱动杆的转动，能够通过两个传动杆机构带动第一滑块和第二滑块做沿第一方向的同步运动。
驱动杆一侧的所述传动杆机构包括第一连杆8、三角型杆和第二连杆，所述第一连杆的一端与驱动杆的端部铰接，第一连杆的另一端与三角型杆9的第一端部铰接，三角型杆的第二端部9-1与盖板的底面转动连接，三角型杆的第三端部与第二连杆10的一端铰接，第二连杆的另一端与连接轴11转动连接，所述连接轴通过盖板上设置的第一导向槽12穿过盖板与第一滑块固定连接。
驱动杆另一侧的传动杆机构与上述传动杆机构完全相同，其第二连杆所连接的连接轴与第二滑块固定连接。
所述驱动杆和盖板的连接点与三角型杆第二端部和盖板的连接点位于第一直线上，三角型杆第二端部和盖板的连接点与第二连杆和连接轴的连接点位于第二直线上，第一直线和第二直线相互垂直。
所述第一滑块和第二滑块的底面均固定有一个导向柱13，所述导向柱通过盖板上设置的第二导向槽穿过盖板。
所述第一导向槽和第二导向槽轴线均沿第一方向设置，能够保证第一滑块和第二滑块运动方向的精准度。
驱动杆转动，能够通过传动杆机构带动第一滑块和第二滑块做同步的运动。
所述中心轴穿过所述盖板与手柄15固定连接，工作人员能够通过手柄带动中心轴和驱动杆的转动，所述手柄与盖板顶面之间设置有牛眼万向球，所述牛眼万向球14与盖板固定连接，其球面与手柄的底面接触，用于减少手柄转动时与盖板之间的摩擦力，同时对手柄起到一定的支撑作用。
所述手柄上设置有第一固定孔，所述盖板上设置有与所述第一固定孔相匹配的第二固定孔，第一固定孔和第二固定孔中能够插入固定销16，实现手柄和盖板的锁紧固定，避免第一滑块和第二滑块的滑动。
第二固定孔的设置位置满足：负载板与测试端面部件的连接器压接固定好时，第一固定孔和第二固定孔同心。
所述第一滑块和第二滑块相对的两个侧面上开设有与负载板侧部的固定销钉相匹配的四个滑槽17，所述滑槽与盖板顶面呈夹角设置，所述第一滑块和第二滑块顶面设置有放置槽18，所述放置槽与所述滑槽相连通，负载板侧面的固定销钉能够通过放置槽进入滑槽内部。
当测试端面部件的定位销钉插入负载板的定位孔使定位孔的水平移动受到限制时，负载板的固定销钉进入滑槽中，第一滑块和第二滑块在盖板顶面做水平运动，在滑槽的作用下，负载板能够做升降运动，从而实现负载板与测试端面部件各个连接器的插接固定和分离。
实施例2：
本实施例公开了多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪与负载板的固定方法：如图7-8所示，将测试端面部件的定位销钉插入负载板的定位孔中，同时负载板的固定销钉通过放置槽落入滑槽内部，转动手柄，手柄通过连杆机构带动第一滑块和第二滑块做同步的运动，由于负载板的水平运动受到定位销钉的限制，负载板的固定销钉与滑槽产生相对运动，由于滑槽与盖板顶面呈夹角设置，第一滑块和第二滑块的运动可以通过滑槽带动负载板向下运动，从而将负载板与测试端面部件的连接器插接固定。
本实施例的测试端面部件与负载板的连接方式，操作省时省力，且负载板各个部位做同步运动，与测试端面部件的连接器的压接一致性好，保证了各个测试通道的信号一致性。
进行测试时，将固定销插入第一固定孔和第二固定孔中，锁紧手柄，防止手柄转动导致测试时负载板发生运动。
测试完成后，取下固定销，反向转动手柄，第一滑块和第二滑块反向运动，带动负载板上升，使负载板与测试端面部件的连接器分离。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (7)
1.多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，包括测试仪本体，测试仪本体顶部具有盖板，盖板安装有测试端面部件，测试端面部件具有能够与负载板插接连接的定位销钉，其特征在于，所述盖板底面安装有连杆机构，所述连杆机构与设置在盖板顶面的滑块连接，连杆机构能够驱动滑块沿盖板顶面运动，滑块的一侧侧面上开设有滑槽，滑槽与负载板的边缘的固定销钉相匹配，负载板边缘的固定销钉能够伸入所述滑槽中，所述滑槽轴线与盖板呈夹角设置，滑块的运动能够带动负载板做升降运动，从而实现负载板与测试端面部件的连接和分离；
所述连杆机构包括驱动杆，所述驱动杆的中心位置与盖板的底面转动连接，所述驱动杆端部与传动杆机构连接，驱动杆的转动能够通过传动杆机构带动滑块的同步运动；
所述传动杆机构包括第一连杆、三角型杆及第二连杆，所述第一连杆一端与驱动杆的端部铰接，第一连杆的另一端与三角型杆的第一端部铰接，三角型杆的第二端部用于与测试仪盖板的底面转动连接，三角型杆的第三端部与第二连杆的一端铰接，第二连杆的与连接轴转动连接，所述连接轴通过盖板上设置的第一导向槽穿过盖板与滑块固定连接；
驱动杆与盖板的连接点、三角型杆与盖板的连接点位于第一直线上，第二连杆与连接轴的连接点与三角型杆与盖板的连接点位于第二直线上，第一直线与第二直线相互垂直。
2.如权利要求1所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，其特征在于，所述滑块顶面设置有与滑槽相连通的放置槽，负载板边缘的固定销钉能够通过放置槽进入滑槽内部。
3.如权利要求1所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，其特征在于，所述滑块底面设置有至少一个导向柱，所述盖板设置多个与导向柱相匹配的第二导向槽，保证了滑块运动方向的精度。
4.如权利要求1所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，其特征在于，所述驱动杆与手柄连接，所述手柄位于盖板上方，手柄能够带动驱动杆的转动。
5.如权利要求4所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，其特征在于，所述手柄上设置有第一固定孔，所述盖板上设置有与所述第一固定孔相匹配的第二固定孔，第一固定孔和第二固定孔中能够插入固定销，实现手柄相对于盖板的固定。
6.如权利要求4所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪，其特征在于，所述手柄与盖板之间设置有与盖板固定连接的牛眼万向球，用于减少手柄转动时与盖板之间的摩擦力。
7.一种权利要求1-6任一项所述的多测试通道同步通断的微波半导体器件测试仪与负载板的固定方法，其特征在于，将测试端面部件的定位销钉插入负载板设置的定位孔中，限制负载板的水平运动，同时负载板边缘的固定销钉伸入滑块的滑槽中，连杆机构带动滑块沿盖板的顶面运动，由于滑块的滑槽轴线相对于盖板倾斜设置，滑块通过滑槽带动负载板做下降运动，将负载板与测试端面部件上的连接器固定连接。
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