CN1302433A - 光学的信息记录重放装置 - Google Patents

Abstract

为了校正因物镜偏离光检测头的中心位置而引起的跟踪误差信号的偏置及其振幅的变动,预先查出相对物镜偏离光检测头的中心位置的偏移量的跟踪误差信号的偏置量和振幅值,利用物镜偏离探测器,根据跟踪校正信号推算物镜的偏移量。此外,预先检测出与光检测头2的移动方向有关的倾斜误差信号的偏置并记录下来,在旋转方向检测部检测出光检测头的移动方向时,根据上述记录的偏置校正倾斜误差信号。

Description

光学的信息记录重放装置

技术领域

本发明涉及使用光点在光盘上记录或重放信号的光学的信息记录重放装置。

背景技术

在以DVD-R装置和DVD-RAM装置为代表的光学的信息记录重放装置中，对设在盘上的约O.74μm间距的信息轨道照射直径约0.5μm的光点，进行信息的记录重放。当光点照射在盘面上时，进行聚焦控制，使光点在盘面上以垂直方向约±0.5μm以上的精度进行跟踪。此外，进行跟踪控制时，信息轨道和光点的跟踪偏差大约在±0.1μm以下。

使光点跟踪轨道的先有的方法之一，有一束推挽方式。

下面，使用图41说明使用了该一束推挽方式的先有例的光学的信息记录重放装置。图41是表示上述先有例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。在图41中，具有已放大示出的螺旋状或同心圆状的信息轨道1的盘2利用主轴电机3进行旋转。利用光检测头4进行对盘2的信息轨道的记录和重放。光检测头4上装有半导体激光器5、平行光管透镜6、分光器7、物镜8、分成两半的PD(光检测头)9和作为透镜移动装置的跟踪传动装置10。跟踪传动装置10由固定在物镜8上的线圈11和固定在光检测头4的筐体上的磁铁13构成，线圈11经弹簧12与磁铁13连接。当线圈通过电流时在线圈11和磁铁13之间产生电磁力，物镜8沿跟踪方向移动。在光检测头不工作时、即跟踪传动装置10没有输入信号时，物镜8停在光检测头4的中间位置。

跟踪误差检测电路14根据分成两半的各PD输出的差生成反映物镜8相对信息轨道中心的偏移量的跟踪误差信号101并输出给跟踪控制电路15。跟踪控制电路15根据跟踪误差信号向跟踪驱动电路16输出跟踪驱动信号103。跟踪驱动电路16向跟踪传动装置10供给与跟踪驱动信号103对应的电流。将用于该跟踪控制的一个环路称作跟踪控制环路201。

其次，说明具体动作。从半导体激光器5射出的光束经平行光管透镜变成平行光，再经分光器7、物镜8在盘2的信息轨道1上聚光。利用盘2的一部分反射光进行聚焦控制，使由物镜8聚焦的光束的焦点位置始终在盘2的面上。但是，因聚焦控制与本发明无直接关系，故省略其详细说明。

从盘2来的一部分反射光经物镜8和分光器7入射到分成两半的PD9上。分成两半的PD9输出表示由各PD检测的光量的电压。跟踪误差检测电路14算出分成两半的PD9的各输出的差，并向跟踪控制电路15输出表示光束焦点和信息轨道1的位错量的跟踪误差信号101。跟踪控制电路15利用跟踪控制环路201作用向跟踪驱动电路16输出跟踪驱动信号103，使跟踪误差信号101的振幅为0，即使光束位于轨道1的中心位置。跟踪驱动电路16使线圈11流过电流，产生电磁力，使物镜8移动。通过这样的构成，即使盘2有偏心，在光盘2旋转时，也能够控制物镜8，使光点跟踪信息轨道的中心位置。

图42是表示跟踪控制环路201从OFF状态(跟踪控制环路201不工作的状态)切换到ON状态(跟踪控制环路201工作的状态)时的跟踪误差信号101随时间的变化的图。在跟踪控制环路201为OFF状态时，因对图41所示的跟踪传动装置10没有施加驱动力，故物镜8停止在光检测头4的中间位置。若起因于装载盘2的主轴电机3的偏心和盘2本身的偏心哪怕只有一点点，信息轨道1就会相对旋转中心偏心。因此，信息轨道1横切物镜8的焦点位置，与盘2的旋转同步输出正弦波形状的跟踪误差信号101。当跟踪控制环路201处于ON状态时，如前所述那样，利用跟踪控制环路201的作用，可以控制物镜8，使光点跟踪信息轨道1的中心位置，所以，跟踪误差信号101的振幅大致为0。

在上述图41～44的构成中，若因某种原因物镜8的中心偏离光检测头4的中间位置，则物镜8的中心偏离半导体激光器5射出的光束的中心而产生偏置。结果，从盘2向分成两半的PD9的入射光的分布发生变动，跟踪误差信号101的波形跟着变化，引起对信息轨道的跟踪控制的不稳定。

物镜8的中心偏离所产生的第1个问题是跟踪误差信号101的偏置。图43的(a)是表示物镜8的光轴偏离光束的中心位置时的反射光束和分成两半的PD9的位置关系的侧面图。当物镜8从实线所示的位置偏移到双点划线所示的位置、光束的中心位置A偏到位置B时，从光盘2反射并入射到分成两半的PD9的光束的中心偏移距离x。因此，入射到分成两半的PD9的检测区域a的入射光量比检测区域b的入射光量少，在两者之间出现不平衡。跟踪误差检测电路14通过算出该检测区域a和b光量差，检测出跟踪误差信号101。因此，当在分成两半的PD9的检测区域a和b之间产生不平衡时，跟踪误差信号101便产生偏置。

第2个问题是引起跟踪误差信号振幅的减小。在图43的(a)中，因物镜8的位置偏离使反射光束从分成两半的PD9的检测区域露出一段距离y，所以，入射光的总光量减小。

图43(b)是表示物镜8横切信息轨道1时的物镜8的偏移量x和从跟踪误差检测电路14输出的跟踪误差信号101的关系的图。随着物镜8的偏移距离x的增大，振幅中心的偏置增大，同时，跟踪误差信号的振幅减小。

图43(c)是表示当物镜8发生位置偏离时、跟踪控制环路201从OFF状态切换到ON状态时的跟踪误差信号101随时间的变化的图。实线表示物镜8发生位置偏离的情况，双点划线表示物镜8不发生位置偏离的情况。关于物镜8不发生位置偏离的情况，因与图42相同，故省略其说明。在跟踪控制环路201为OFF状态时，如图43的(c)所示那样，跟踪误差信号101输出正弦波形状的信号。但是，若如前所述那样物镜8的位置出现偏离，则如图43(c)的实线所示那样，与该偏移量对应，在跟踪误差信号101的振幅的中心产生由点划线表示的偏置，同时，振幅减小。

若跟踪控制环路201为0N状态通过控制环路的作用，跟踪误差信号101的振幅大致为0。但是，因为信息轨道1的中心相当于由点划线表示的位置，所以，将跟踪误差信号101的振幅控制在0，就会使物镜8跟踪偏离信息轨道1的中心的位置，从而发生偏离轨道误差(物镜8和轨道中心的偏差)。进而，因与物镜8的位置偏移量对应跟踪误差信号101的振幅减小，故跟踪误差检测电路14的检测增益(偏离轨道误差和跟踪误差信号101的振幅比)变小，跟踪控制环路201的一次增益变小，控制性能降低。这样，当产生物镜8的位置偏离时，必须进行跟踪误差信号的偏置校正和振幅校正。

第3个问题是不仅在物镜8发生位置偏离的情况下，即使在物镜8的光轴与盘面不保持垂直而向轨道的切线方向倾斜的情况下，跟踪误差信号101也会发生偏置和振幅变动。

图44(a)是表示光盘2相对光检测头4的光轴倾斜时发射光束和分成两半的PD9的位置关系的侧面图。当光轴从实线所示那样的对光盘2垂直入射的C状态倾斜、偏离倾角z、而变成双点划线所示的D的状态时，从光盘2反射并入射到分成两半的PD9的光束偏到双点划线所示的位置。因此，分成两半的PD9的检测区域a的光量比检测区域b的光量少而出现不平衡。因此，与产生物镜8的位置偏离的情况一样，如图20(b)所示，从跟踪误差检测电路14输出的跟踪误差信号101产生偏置，同时，振幅减小，产生偏离轨道误差，使控制性能降低。因此，不但要使用物镜8的位置偏离的信息，而且有必要使用相对光盘2的倾角信息来进行跟踪误差信号的校正。

本发明的目的首先是解决上述第1至第3问题，大幅度提高跟踪控制的稳定性。

当在光点照射到盘上时物镜的光轴相对盘面不垂直、产生向与信息轨道的切线垂直的方向倾斜(tilt)的情况时，光点也照射相邻轨道，因而混入相邻轨道的信息。因此，有必要进行倾斜控制，使光轴相对与盘面垂直的方向的倾角为0。

下面，使用附图说明另一个先有的光学的信息记录重放装置的倾斜控制。图45是表示先有的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

在图45中，盘301位于包含光检测头302和丝杠305的机械部的跟前(纸面的上方)，为了便于容易理解，在图中用实线表示机械部，用点划线表示盘301。经安装有光检测头302的物镜303将光束302A照射在在盘301上形成同心圆状或螺旋状的信息轨道上，进行信息的记录和重放。在光检测头302的侧面固定有导引齿条304。导引齿条304具有突起304A，突起304A镶嵌在丝杠305的螺旋状的沟内，可以在里面移动。丝杠305的端部与光检测头的移动电机306的电机轴306A直接连接。使光检测头302能够沿盘301的半径方向移动的2根导引轴307的各一端安装在导引轴承308上，弯曲成L形的另一端插入倾斜凸轮309的孔中。安装在导引齿条304上的倾斜传感器310如图46和图47(a)所示，具有光源327和作为光检测器的分成两半的PD326，从光源向盘301的平面照射光束327A，经盘301反射的光束327B由分成两半的PD326检测出来。倾斜传感器310输出表示光束327A的光轴相对与盘301的平面垂直的方向的倾角(以下只称为倾角)的信号。表示倾角的信号经图45的倾斜误差检测电路311处理，输出与倾角对应的倾斜误差信号401。

倾斜控制电路312对倾斜驱动电路313施加控制信号，控制倾斜电机314，使偏心安装在与倾斜电机轴直接连接的倾斜轴315和倾斜轴315的倾斜凸轮309旋转。

其次，详细说明动作。从光检测头302输出的光束302A经物镜303聚焦在盘301的信息轨道331上。在光检测头302中，进行聚焦控制和跟踪控制，聚焦控制是利用经盘301反射的部分反射光使物镜303在与盘301垂直的方向上移动，使由物镜303聚焦的光束302A的焦点位置始终在盘301上，跟踪控制是使物镜303沿与信息轨道331垂直的方向移动，使光束302A位于信息轨道的中心。因聚焦控制和跟踪控制与本发明没有直接关系，故省略其详细说明。为了对目标轨道进行记录和重放，利用光检测头移动电机306使丝杠305旋转，利用将突起304A镶嵌在丝杠305的螺旋状的沟内的导引齿条304，使光检测头302沿盘301的半径方向移动。安装在导引齿条304上的倾斜传感器310检测出光束302A相对盘面的倾斜，利用倾斜误差检测电路311生成倾斜误差信号401并向倾斜控制电路312输出。

倾斜控制电路312向倾斜驱动电路313输出驱动指令，使光束302A的光轴与盘301的平面垂直，使倾斜误差信号401的电平为0。倾斜驱动电路313根据驱动指令使倾斜电机314流过电流并使其旋转。倾斜电机314经倾斜轴315使倾斜凸轮309旋转。由此，导引轴307以导引轴承308为支点转动，使光检测头302、导引齿条304和倾斜传感器310倾斜。按照该结构，即使产生相对盘301的倾斜，也能够控制光检测头302的倾斜，使从光检测头302输出的光束302A始终与盘301的平面垂直照射。

图46是表示倾斜传感器310和倾斜误差检测电路311的具体构成的平面图。如图46所示，倾斜传感器310的分成两半的PD326沿呈同心圆状或螺旋状记录在盘301上的信息轨道331A的切线方向分割成两半。光源327的光束327A配置成位于与分成两半的PD326的分割线重合的切线331A的延长线上，使其光轴相对盘301上的信息轨道331的切线331A的方向垂直(即与光检测头302的光束的光轴平行)，而且使从盘301来的反射光入射到分成两半的PD326的中央。倾斜误差检测电路311具有减法电路328，可以求出分成两半的PD326的各PD部326a、326b的输出差。

使用图47和图48说明倾斜控制的具体动作。图47的(b)是表示当从倾斜传感器310的光源327射出的光束327A照射在盘301上时反射光的光束327B入射到分成两半的PD326的位置的平面图。如图48(a)所示，用实线301A表示盘301，当光束327A从对盘301垂直入射的状态倾斜倾角z、而变成虚线301B所示的状态时，从盘301反射并入射到分成两半的PD326的光束327B偏到图47(b)的虚线所示的位置。结果，分成两半的PD326的PD326b的光量比PD326a的光量少，如图48(b)的上面的图和中间的图所示那样，分成两半的PD326的PD32a和PD326b的各输出电平发生变化。由倾斜误差检测电路310的减法电路328求出PD326a和PD326b的两输出电平的差，得到如图48(b)的下面的图所示的倾斜误差信号401。这样，倾斜误差检测电路310输出的倾斜误差信号401的电平与横轴所示的盘301的倾角对应发生变化。当光束327A与盘301的平面垂直入射时，PD32a和PD326b的输出电平相等，倾斜误差信号401的电平为0。通过控制成为一体的光检测头302和倾斜传感器310的倾斜度使该倾斜误差信号401的电平为0，可以控制从光检测头302输出的光束327A，使其垂直照射盘301的表面。不管光束327A是否垂直入射到盘301的表面，只要倾斜误差信号401的电平为0，就认为“产生了偏置”，并称该电平为“偏置量”。

在上述图45的先有例中，当因某种原因倾斜传感器310检测出的倾斜误差信号401发生偏置时，若进行控制使倾斜误差信号401的电平为0，则光检测头302的光轴相对盘301的垂直平面倾斜相当于偏置量的角度，使倾斜控制的精度变差。产生偏置的原因有下面所述的原因。

有时，伴随光检测头302的移动导引齿条会发生变形而使倾斜传感器倾斜。因该倾斜而使从光检测头302输出的光束302A的光轴和从倾斜传感器310的光源射出的光327A的光轴不能保持平行，从而产生倾斜误差信号401的偏置。图49是表示当丝杠305旋转时作用在导引齿条304上的力的侧面图。在图49中，在导引齿条304的侧面形成突起304A，嵌入丝杠305的沟内。当丝杠305沿箭头W的方向旋转时，丝杠305的沟305A沿箭头C的视在方向移动，这时，导引齿条304在箭头D方向受沟305A的作用力。因此，导引齿条304在象点划线所示的顺时钟方向旋转的同时，在箭头E的方向也产生少量的偏移。因该旋转和偏移的作用，安装在图45所示的导引齿条304上的倾斜传感器310发生倾斜，从光检测头302输出的光束302A的光轴和从倾斜传感器310的光源射出的光327A的光轴不平行。结果，如图49(a)的各图中的点划线所示那样，从倾斜传感器310的分成两半的PD326来的输出信号产生电平偏移，从而使倾斜误差信号401发生偏置。当丝杠305沿与箭头W相反的方向旋转时，导引齿条304在与箭头E相反的方向产生偏移，如图50(a)的各图中的双点划线所示那样，发生与上述情况相反方向的偏置。图50(a)的各图中的实线示出导引齿条304没有偏移时的各个输出。

进而，因倾斜传感器310和导引齿条304周围温度的变化也会产生偏置。当倾斜传感器310和导引齿条304周围温度的变化时，倾斜传感器310内部的分成两半的PD326的各PD部326a、326b的检测灵敏度不均衡，从而发生倾斜误差信号401的偏置。此外，导引齿条304本身变形使光检测头302的光轴和倾斜传感器310的光源327的光轴不平行，从而发生倾斜误差信号401的偏置。

倾斜误差信号401偏置的大小有时因盘301的反射率而变化。图50(b)的各图示出在倾斜误差信号401发生偏置的状态下盘301的反射率和倾斜误差信号401的输出的关系。在图50(b)中，实线示出盘的反射率为30％时的分成两半的PD326的各PD部326a、326b的输出信号和倾斜误差信号。当盘301的反射率达到50％时，如图50(b)中的点划线所示那样，各PD部326a、326b的检测电平因反射率的增加而增加，相对盘301的倾角的输出电平也变大。因此，倾斜误差信号的相对盘301的倾角的输出电平变大，盘301的倾角为0时的倾斜误差信号401的偏置随着反射率的增加而变大。

当盘301是可记录的光盘时，存在下面要说明的问题。图51示出光检测头302的光束的光强度分布和盘上形成的沟槽的状态以及从光检测头302读出的重放信号的关系。利用记录形成的沟槽部的光反射率比其它部分低。该反射率的不同可以通过从光检测头302射出的光束的反射光量的不同来检测。图51(a)和(b)是表示从光检测头302射出的光束的跟踪方向TD的光强度分布的图。首先，如图51(a)所示，说明光束的强度分布相对光束的光轴OC对称的情况。

当光束照射的盘301的光轴OC附近的区域A和B的感光度相等时，若在光盘301上记录单一的数据(沟的长度和沟间的长度相同的数据)，则如图51(c)所示，与轨道中心线TC对称的沟P被记录下来。当利用光检测头302读出已记录的单一的数据时，在光束通过沟P时所得到反射光的强度低，在没有沟的区域得到的反射光的强度高。如图51(d)所示，从该反射光可以得到与沟P的有无相对应的信号电平变化的RF信号。用RF信号的中心值SL分割该RF信号，使之2值化，假定在中心值以上为Hi，在中心值以下为Low，可以得到图51(e)所示的已2值化的RF信号。当记录的是单一的数据时，读出的RF信号的各Hi和Low的时间TH和TL相同。

例如，当上述区域A的感光度比区域B的感光度低时，如图51(f)所示，已记录的沟P不是相对轨道中心线T对称的形状，是偏向一边的形状。例如，如图51(b)所示，当光束的强度分布相对光束的光轴OC不对称而偏向图的右边时，即使盘301的区域A和B的感光度相同，已记录的沟P也如图51(f)所示，成为相对轨道的中心线TC偏向一边的形状。这样，若利用光检测头302读出相对轨道的中心线TC偏向一边的沟P，便得到图51(g)所示那样的RF信号。其理由是因为光束通过沟P的端部，所以，通过沟P时的电平和通过没有沟P的区域时的电平的差很小。此外，随着沟P相对轨道中心线TC偏向一边，光束到达沟P上的时间产生延迟。若用RF信号的中心值SL分割图51(g)的RF信号使之2值化，假定在中心值以上为Hi，在中心值以下为Lo，可以得到图51(e)所示的已2值化的RF信号。Hi和Low的时间不相同，时间TH比时间TL长。结果，重放的数据变长为与记录的单一数据不同数据。这样，相对轨道中心线偏向一边的沟P在重放时不能正确地检测出来。

象图51(b)所示那样的光束强度的分布的偏离因光束的射出光的强度而异。例如，在图51(i)中，记录时强度高的光强度分布用实线表示，这是因为，当光束的射出光的强度高时，因光检测头周围的温度变化引起射出光的波长的变动或光检测头的机械部发生变形。此外，因装置周围的温度、湿度、压力等各种环境条件的变化也产生光束强度分布的偏离。这是由于因环境条件的变化而使装置的机械部产生变形的缘故。装置的机械部有时也因长年变化而产生变形。进而，光盘表面的反射率和沟P的反射率也因盘的制造者而异。因它们的反射的不同而使RF信号的振幅RFA变化，有时会出现时间TH和TL不同的情况。进而，为了提高记录容量的密度，有必要使盘上轨道间隔缩短，或使记录沟P的宽度减小，这更增加了重放时错误。

发明的公开

本发明的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：沿轨道记录信息的盘；具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的光检测头；检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；包含用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的补偿运算部的跟踪控制部；根据上述补偿运算部的输出推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；检测上述跟踪误差信号的偏置的偏置检测部；将上述偏置检测部的输出和上述物镜偏离推算部的输出成对存储的存储部；和从上述存储部输出与上述物镜偏离推算部的输出对应的上述偏置检测部的输出并对上述跟踪误差信号的偏置进行校正的偏置校正部。

从成对存储在存储部中的偏置检测部的输出和物镜偏离推算部的输出得到与物镜偏离推算部的输出对应的偏置检测部的输出。从得到的输出求出跟踪信号，校正跟踪信号的偏置。因此，能够校正光检测头的物镜的位置偏离，能够正确地将光点定在盘的轨道的位置上。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：沿轨道记录信息的盘；具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的光检测头；检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；包含用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的补偿运算部的跟踪控制部；根据上述补偿运算部的输出推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；检测上述跟踪误差信号的振幅的振幅检测部；将上述振幅检测部的输出和上述物镜偏离推算部的输出一一对应存储的存储部；和从上述存储部输出与上述物镜偏离推算部的输出对应的上述振幅检测部的输出并对上述跟踪误差信号的振幅值进行校正的振幅校正部。

从一一对应存储在存储部中的振幅检测部的输出和物镜偏离推算部的输出得到与物镜偏离推算部的输出对应的跟踪误差信号的振幅值。使用得到的振幅值校正跟踪信号。因此，能够校正光检测头的物镜的位置偏离，能够正确地将光点定在盘的轨道的位置上。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：沿轨道记录信息的盘；具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的光检测头；检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的跟踪控制环路；与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制环路；推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；和用来与上述物镜偏离推算部推算的物镜的光轴的偏移量对应控制上述透镜移动部的跟踪校正控制环路。

在跟踪控制环路中与跟踪误差信号对应控制透镜移动部，在跟踪校正控制环路中与物镜光轴的偏移量对应控制透镜移动部。因此，能够校正跟踪误差，同时，能够校正物镜光轴的偏离。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：沿轨道记录信息的盘；具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的光检测头；检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制部；检测物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离检测部；检测上述跟踪误差信号的偏置的偏置检测部；检测上述光检测头的光束和上述盘面的在与信息轨道垂直方向上的倾斜量的倾斜检测部；使上述偏置检测部的输出和上述物镜偏离检测部的输出一一对应存储的存储部；和从上述存储部输出与上述物镜偏离检测部的输出和上述倾斜检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述跟踪误差信号的偏置的偏置校正部。

从一一对应存储在存储部中的偏置检测部的输出和物镜偏离检测部的输出及倾斜检测部的输出得到与物镜偏离检测部的输出和倾斜检测部的输出对应的偏置检测部的输出。从得到的输出求出跟踪信号，校正跟踪信号的偏置。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：沿轨道记录信息的盘；具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的光检测头；检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制部；检测物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离检测部；检测上述光检测头的光束和上述盘面的在与信息轨道垂直方向上的倾斜量的倾斜检测部；检测上述跟踪误差信号的振幅的振幅检测部；使上述振幅检测部的输出和上述物镜偏离检测部的输出及上述倾斜检测部的输出一一对应存储的存储部；和从上述存储部输出与上述物镜偏离检测部的输出和上述倾斜检测部的输出对应的上述振幅检测部的输出并校正上述跟踪误差检测部的跟踪误差信号的振幅值的振幅校正部。

根据存储在存储部中的振幅检测部的输出和物镜偏离检测部的输出及倾斜检测部的输出得到与物镜偏离检测部的输出和倾斜检测部的输出校正与它们对应的跟踪信号的振幅值。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头；具有使上述光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；检测上述检测头的移动方向的光检测头移动方向检测部；检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜并作为倾斜误差信号输出的倾斜误差检测部；使上述光检测头和上述倾斜误差检测部一体倾斜的倾斜驱动部；用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的倾斜控制部；检测上述倾斜误差信号的偏置的偏置检测部；使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出成对存储的存储部；和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的偏置校正部。

预先存储与光检测头的移动方向有关的倾斜误差信号的偏置量，与利用旋转方向检测部检测出的光检测头的移动方向对应读出上述存储的偏置来校正倾斜误差信号。由此，可以抑制与移动方向有关的控制误差，当盘发生倾斜时，能控制该倾斜，使从光检测头射出的光束始终垂直照射在盘上。结果，能够大幅度提高信息记录重放装置的稳定性。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头；具有使上述光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；检测上述检测头的移动方向的光检测头移动方向检测部；设在上述光检测头上、具有检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾角的倾斜传感器并输出表示上述倾角的倾斜误差信号的倾斜误差检测部；使上述光检测头和上述倾斜传感器一体倾斜的倾斜驱动部；用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的倾斜控制部；检测上述倾斜误差信号的偏置的偏置检测部；配置在上述倾斜传感器的附近的温度检测部；使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出及上述温度检测部的输出成组存储的存储部；和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出和上述温度检测部输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的偏置校正部。

预先测定相对周围温度的偏置的变化量，将两者成对地存储在存储部中。在装置使用时，从上述存储部读出周围的温度和与该温度对应的偏置量，利用已读出的偏置量校正倾斜误差信号的偏置。由此，即使周围温度变化也能始终进行正确的偏置校正。

本发明另一方面的光学的信息记录重放装置的特征在于，包括：包含物镜、将光点照射在在信息轨道上记录或重放信息的光盘的记录面上的光检测头；包含使上述光检测头沿横切上述信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜量并作为倾斜误差信号输出的倾斜误差检测部；使上述光检测头和上述倾斜检测部一体倾斜的倾斜驱动部；用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部使倾斜量与表示规定的倾斜量的倾斜控制目标值相等的倾斜控制部；和使上述倾斜控制部的控制目标值变化的控制目标值变更部。

通过改变倾斜控制部的控制目标值，使光检测头始终保持最佳的倾斜角，从而提高盘的记录重放的可靠性。

本发明的光学的信息记录重放方法的特征在于，包括：使为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的步骤；检测上述检测头的移动方向的步骤；检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜并作为倾斜误差信号从倾斜误差检测部输出的步骤；使上述光检测头和上述倾斜误差检测部一体倾斜的步骤；根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的步骤；利用偏置检测部检测上述倾斜误差信号的偏置的步骤；使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出成对存储的步骤；和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的步骤。

本发明另一方面的光学的信息记录重放方法的特征在于，包括：使为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的步骤；检测上述光检测头的移动方向的步骤；利用设在上述光检测头上的倾斜传感器检测光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾角的步骤；检测表示上述倾角的倾斜误差信号并输出的步骤；使上述光检测头和上述倾斜传感器一体倾斜的步骤；根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的步骤；利用偏置检测部检测上述倾斜误差信号的偏置的步骤；检测上述倾斜传感器附近的温度的步骤；使上述偏置检测部的输出、上述光检测头移动方向的检测输出和上述温度的检测输出成对存储的步骤；和从上述存储部读出与上述光检测头移动方向的检测输出和上述温度的检测输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的步骤。

本发明另一方面的光学的信息记录重放方法的特征在于，包括：使包含物镜并将光点照射在在信息轨道上记录或重放信息的光盘的记录面上的光检测头沿横切上述信息轨道的方向移动的步骤；检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜量并作为倾斜误差信号输出的步骤；使上述光检测头和上述倾斜检测部一体倾斜的步骤；根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部使倾斜量与表示规定的倾斜量的倾斜控制目标值相等的步骤；和使上述倾斜控制部的控制目标值变化的控制目标值变更步骤。

附图的简单说明

图1是表示本发明实施例1的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图2的(a)是表示本发明实施例1的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。(b)和(c)是表示本发明实施例1的光学的信息记录重放装置的存储电路的内容的图表。

图3的(a)是表示本发明实施例1的光学的信息记录重放装置的通常模式时的动作的流程图。(b)是表示本发明实施例1的使跟踪控制环路从OFF切换到ON时的跟踪误差信号的电平变化的图。

图4的(a)是表示本发明实施例1的光学的信息记录重放装置的初始化模式时的动作的流程图。(b)是表示本发明实施例1的使跟踪控制环路从OFF切换到ON时的跟踪误差信号的电平变化的图。

图5是表示本发明实施例1的跟踪控制电路和物镜偏离探测器的构成的方框图。

图6的(a)和(b)是本发明实施例1的相位补偿滤波器传输特性图。

图7的(a)和(b)是本发明实施例1的等效滤波器传输特性图。

图8的(a)和(b)是本发明实施例1的光检测头的传输特性图。

图9是表示本发明实施例2的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图10是表示本发明实施例2的光检测头传输特性检测电路和物镜偏离探测器的构成的方框图。

图11的(a)是表示本发明实施例2的光学的信息记录重放装置的学习模式时的动作的流程图，(b)和(c)是表示本发明实施例2的光学的信息记录重放装置的存储电路的内容的图表。

图12是表示本发明实施例2的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图13是表示本发明实施例3的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图14是表示本发明实施例3的光学的信息记录重放装置的通常模式时的动作的流程图。

图15的(a)和(b)是表示本发明实施例3的光学的信息记录重放装置的存储电路的内容的图表。

图16是表示本发明实施例3的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图17是表示本发明实施例4的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图18的(a)是表示本发明实施例4的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图，(b)是表示本发明实施例4的光学的信息记录重放装置的存储电路的内容的表。

图19是表示本发明实施例4的光学的信息记录重放装置的通常模式时的动作的流程图。

图20是表示本发明实施例5的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图21是表示本发明实施例5的间隙检测部的动作的流程图。

图22是表示本发明实施例5的倾斜控制电路的具体构成的方框图。

图23的(a)和(b)是表示本发明实施例5的相位补偿滤波器的传输特性的图。

图24是表示本发明实施例6的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图25是表示本发明实施例6的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图26是表示本发明实施例6的光学的信息记录重放装置的存储电路的内容的表。

图27是表示本发明实施例6的光学的信息记录重放装置的通常模式时的动作的流程图。

图28是表示本发明实施例7的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图29是表示本发明实施例7的倾斜传感器和规格化倾斜误差检测电路的构成的方框图。

图30的(a)到(e)是表示本发明实施例7的盘的倾角和规格化倾斜误差检测电路的输出信号的关系的图。

图31是表示本发明实施例8的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图32是表示本发明实施例8的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图33是表示本发明实施例8的光学的信息记录重放装置的通常模式时的动作的流程图。

图34是表示本发明实施例9的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图35是表示本发明实施例9的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图36是表示本发明实施例10的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图37是表示本发明实施例10的光学的信息记录重放装置的学习模式时的动作的流程图。

图38的(a)是表示本发明实施例11的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图，(b)是表示同实施例11的学习模式时的动作的流程图。

图39是表示本发明实施例12的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图40是表示本发明实施例12的光学的信息记录重放装置的校正模式时的动作的流程图。

图41是表示先有的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图42是表示先有的光学的信息记录重放装置的在物镜没有发生偏离的状态下跟踪控制环路从OFF状态切换到ON状态时的跟踪误差信号101的电平变化的图。

图43的(a)是表示物镜发生偏离时的光轴和分成两半的PD的位置关系的侧面图，(b)是表示跟踪误差信号的电平相对物镜的位置偏移量的变化的图，(c)是表示在先有的光学的信息记录重放装置中当物镜发生位置偏离时跟踪控制环路从OFF状态切换到ON状态时的跟踪误差信号的图。

图44(a)是表示盘发生倾斜时光轴和分成两半的PD的位置的侧面图，(b)是表示与由盘的倾斜引起的物镜的位置偏离对应的跟踪误差信号的图。

图45是表示先有的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

图46是表示先有的光学的信息记录重放装置的倾斜传感器和倾斜误差检测电路的构成的方框图。

图47的(a)是表示先有的光学的信息记录重放装置的倾斜传感器的光源和分成两半的PD的位置关系的侧面图，(b)是先有的光学的信息记录重放装置的接受光束的分成两半的PD的平面图。

图48的(a)是表示盘301的倾斜的侧面图，(b)是表示分成两半的PD的PD部的输出和倾斜误差信号相对盘的倾角的变化的曲线图。

图49是表示在先有的光学的信息记录重放装置中当丝杠旋转时作用在导引齿条上的力的侧面图。

图50的(a)是表示在先有的光学的信息记录重放装置中当丝杠旋转时盘的倾角和分成两半的PD的输出及倾斜误差信号的关系的图，(b)是表示在先有的光学的信息记录重放装置中当盘的反射率变化时盘的倾角和分成两半的PD的输出及倾斜误差信号的关系的图。

图51的(a)、(b)和(i)是光检测头的光束的光强度的分布的图，(c)和(f)是沟槽的图，(d)、(e)、(g)、(h)是检测信号的波形图。

实施发明的最佳形态

参照图1到图40说明本发明的合适的实施例。

《实施例1》

下面，参照图1至图8说明本发明的实施例1。再有，对于具有与前述的先有例相同的构成和功能的部件附加相同的符号并省略其说明。

图1是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。在图1中，使用一次控制环路构成跟踪控制环路201，该环路包括光检测头4、跟踪误差检测电路14、后面将详细说明的系统控制部件25和跟踪驱动电路16。跟踪误差检测电路14的输出端与系统控制方框25、偏置检测电路17和振幅检测电路18的输入端连接，对它们施加根据分成两半的PD(光检测器)9的两PD的输出的差生成的跟踪误差信号。偏置检测电路17检测跟踪误差信号101的振幅的中心值，将该中心值和规定的基准值的差作为偏置量检测出来。振幅检测电路18检测物镜8横切盘2的信息轨道1时的跟踪误差信号101。

系统控制方框25包括跟踪控制电路15、物镜偏离探测器19、第1存储电路20、第2存储电路21、偏置校正电路22、振幅校正电路23、系统控制器24、开关26和开关27。在系统控制方框25中，跟踪误差检测电路14的输出端与偏置校正电路23的输入端连接。振幅校正电路23的输出端与跟踪控制电路15的输入端连接。跟踪控制电路15的输出端与跟踪驱动电路16的输入端连接。偏置检测电路17的输出端与第1存储电路20的输入端连接，振幅检测电路18的输出端与第2存储电路21的输入端连接。偏置检测电路17的输出端和第1存储电路20的输出端经切换型开关26与偏置校正电路22的另一个输入端连接。此外，振幅检测电路18的输出端和第2存储电路21的输出端经切换型开关27与偏置校正电路23的另一个输入端连接。

跟踪控制电路15的另一组输入输出端子分别与物镜偏离探测器19的输入输出端子连接，形成后面将详细说明的跟踪校正控制环路202。物镜偏离探测器19的输出端还与第1和第2存储电路20、21的其它输入端连接。再有，系统控制方框25中的各个电路与系统控制器24连接，从系统控制器24输入控制信号，为了使图面简单起见，没有示出其连接线。

列举本发明的实施例1的要点如下。

(1)如后面将要详细说明的那样，在校正模式中，代替通常的跟踪控制环路201而使跟踪校正控制环路202工作。

(2)在跟踪校正控制环路202中，由物镜偏离探测器19模拟光检测头的动作，推算物镜8的位置偏移量。

(3)同时，偏置检测电路17和振幅检测电路18学习跟踪误差信号101的偏置量和振幅值。

(4)根据该学习的检测结果，在后述的通常模式下，使用与物镜8的位置偏移推算量对应的偏置量和振幅值对跟踪误差信号进行校正。

物镜偏离探测器19根据从跟踪控制电路15输出的跟踪校正信号104推算物镜8的中心偏离光束的中心的偏移量。第1存储电路20是用来成对地存储由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105和由偏置检测电路17检测出的跟踪误差信号101的偏置量的存储电路。第2存储电路21是用来成对地存储由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105和由振幅检测电路18检测出的跟踪误差信号101的振幅值的存储电路。再有，各存储电路20、21由省略图示的数字电路或系统控制器24内的存储器构成。而且，在存储时，通过系统控制器24内部的A/D变换器将模拟值变换成数字值。

开关26是用来根据从系统控制器24来的指令切换使用由偏置检测电路17检测出的偏置量或从第1存储电路20输出的偏置量作为偏置校正电路22的输入的开关装置，开关27是用来根据从系统控制器24来的指令切换使用由振幅检测电路18检测出的振幅量或从第2存储电路21输出的偏置量作为振幅校正电路23的输入信号的开关装置。再有，各开关2、27是具有持续存储当前的输出值并输出相同的值的保持功能的数字电路，利用系统控制器24内的软件进行控制。

偏置校正电路22将经开关26从第1存储电路20或偏置检测电路17读出的偏置量与跟踪误差信号101进行加减计算来校正偏置量。振幅校正电路23使用经开关27从第2存储电路21或振幅检测电路18读出的振幅值去校正从偏置校正电路22输出的偏置校正后的跟踪误差信号的振幅，并输出校正跟踪误差信号102。跟踪控制电路15根据校正跟踪误差信号102或由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105，向跟踪驱动电路16输出跟踪驱动信号103。系统控制器24是运算电路，由CPU等构成，根据从外部输入的本实施例的光学的信息记录重放装置的工作模式，进行系统控制方框25内的各电路的工作状态的控制和运算处理。

对于象以上那样构成的本发明的实施例1的光学的信息记录重放装置的动作，分别就跟踪误差信号校正动作中的校正模式、通常模式和初始化模式进行说明。

校正模式是对偏置校正量和振幅校正量预先进行学习的模式。通常模式是根据校正模式时学习的结果去校正跟踪控制环路201的模式。初始化模式是在转移到通常模式之前初始化根据控制环路201内的控制信号的模式。

首先，说明校正模式。图2的(a)是表示本实施例的校正模式时的动作的流程图。通常，校正模式是在装置的最初起动时和交换盘时执行。当转移到校正模式时，使跟踪控制环路201处于OFF状态(停止跟踪控制环路201的动作)，使跟踪校正控制环路202处于ON状态(使跟踪校正控制环路202动作)(步骤S1)。而且，进行第1存储电路20和第2存储电路21的存储地址的初始化。该初始化例如通过将存储器地址设定为N(N是0以上的整数)来进行(步骤S2)。其次设定物镜8的初始位置。该初始位置例如是物镜8的可动范围内的一端。从跟踪控制电路15向跟踪驱动电路16输出跟踪驱动信号103，驱动跟踪传动装置10，使物镜8移动到初始位置(步骤S3)。这时，将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105和由偏置检测电路17检测出的偏置量存储在第1存储电路20中。此外，将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105和由振幅检测电路18检测出的振幅值存储在第2存储电路21中(步骤S4)。使第1和第2存储电路20、21的存储器地址与+2相加(步骤S5)。而且，判别物镜8的偏离是否从一端到达另一端(步骤S6)。若物镜8的的位置不是从一端到达另一端则使物镜8的位置移动ΔL(步骤S7)，返回步骤S4重复同样的处理。若物镜8的位置是从一端到达另一端则终止该校正模式。通过进行以上的处理，如图2的(b)和(c)所示，可以将相对某物镜偏移量的跟踪误差信号101的偏置量和振幅值分别记录在第1存储电路20和第2存储电路21中。

其次，说明通常模式。图3(a)是表示本实施例的通常模式时的动作的流程图。通常模式是在后述的待机模式执行之后执行，使跟踪控制环路201处于ON状态。

在通常模式下，首先，物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105，并存储在第1和第2存储电路20和21中(步骤S11)。其次，计算记录推算出来的物镜偏移量105的第1存储电路20和第2存储电路21的存储器地址(步骤S12)。解除开关26和开关27的保持，分别切换到存储电路一侧、即Q1和Q2侧(步骤S13)。从第1和第2存储电路20和21分别读出偏置量和振幅值(步骤S14)。然后，由系统控制器24算出偏置的相加量和振幅的增益，使校正跟踪误差信号102的值与物镜8的偏移量为0时的跟踪误差信号相等(步骤S15)。这样，利用偏置校正电路22与求得的偏置加算量相加，利用振幅校正电路23乘以振幅增益，由此进行跟踪误差信号的校正(步骤S16)。跟踪控制环路201从跟踪控制电路15向跟踪驱动电路16输出驱动指令。跟踪驱动电路16使线圈流过电流，产生电磁力，使物镜8移动。

图3(b)是表示本实施例在发生物镜偏离的状态下、跟踪控制环路201从OFF切换到ON时的跟踪误差信号101和校正跟踪误差信号102随时间变化的波形图。如图3(b)所示，跟踪控制环路201在OFF状态下，跟踪误差信号101输出正弦波形状的波形。因跟踪控制电路15的动作停止，故跟踪驱动信号103和跟踪校正信号104的值不稳定。由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105也不定。因此，不能执行偏置校正电路22和振幅校正电路23的校正，校正跟踪误差信号102与跟踪误差信号相等。如双点划线所示，信号振幅的中心值从0电平开始增加，相对信息轨道的中心位置产生偏置当与跟踪控制环路201变成ON状态的同时转移到通常模式时，因校正跟踪控制误差信号201的偏置控制环路出现过渡状态的不稳定，故存在直到稳定之前不能进行记录重放的问题。为了解决这一问题，在蟀跟踪控制环路201从ON切换到OFF时，执行初始化模式的处理。下面，说明初始化模式。

图4(a)是表示本实施例的初始化模式时的动作的流程图。

当转移到初始化模式时，开关26切换到偏置检测电路17的输出侧(P1)，开关27切换到偏置检测电路18的输出侧(P2)(步骤S21)。偏置校正电路22检测偏置检测电路17输出的跟踪误差信号101的偏置量。振幅校正电路23检测振幅检测电路18输出的振幅值(步骤S22)。接着，利用系统控制器24算出偏置加算量和振幅增益，使校正跟踪误差信号102的值与物镜偏移量为0时的跟踪误差信号101相等(步骤S23)。利用偏置校正电路22加上这样求出的偏置加算量，利用振幅校正电路23乘以振幅增益，由此，进行跟踪误差信号的校正(步骤S24)。

其次，使跟踪控制环路201处于ON状态，开始跟踪控制，使校正跟误差信号102为0(步骤S25)。只是，在跟踪控制环路201处于ON状态下，使将校正跟误差信号102控制为0检测出偏置量和振幅值变得困难。因此，在跟踪控制环路处于ON状态的同时使开关26和开关27处于保持状态(步骤S26)，可以防止因偏置量和振幅值的误检测而引起的跟踪控制环路201的误动作。系统控制器24在经过规定时间后(步骤S27)将动作模式切换到通常模式(步骤S28)。即，解除开关26、开关27的保持状态，分别切换到存储电路20、21一侧，通过利用物镜偏离探测器19检测出的物镜偏移量105，进行偏置的校正。

图4(b)是表示在发生物镜8的位置偏离的状态下跟踪控制环路201从OFF切换到ON时的跟踪误差信号101和校正跟踪误差信号102随时间的变化的图。再有，双点划线所示的波形是偏置校正电路22的输出信号。如图4(b)所示，在待机状态和跟踪控制环路201为OFF的状态下，跟踪误差信号以正弦波的波形输出。偏置检测电路17和振幅检测电路18将该正弦波形状的跟踪误差信号的中心值和振幅分别作为偏置量和振幅值检测出来。根据这样检测出的偏置量和振幅值对跟踪误差信号101进行校正。利用偏置校正电路22校正的跟踪误差信号101如图4(b)的双点划线所示，可以使信号的中心值、即信息轨道的中心位置与0电平一致。进而，由振幅校正电路23输出的校正的跟踪误差信号102也可以与不发生物镜8的位置偏离时的信号相等。即，通过控制校正跟踪误差信号102使其为0，可以使物镜8跟踪信息轨道1的中心。

在通常模式下，通过与物镜8的位置偏离对应校正跟踪误差信号101的偏置量和振幅值的变化，如图4(b)的实线所示那样，可以使校正跟踪误差信号102的0电平和信息轨道的中心位置一致。进而，也可以使决定振幅值的跟踪误差信号的检测出的增益与不发生物镜偏离时相等。即，即使发生物镜8的位置偏离，也可以得到和位置偏离为0的状态相同的跟踪控制性能。

其次，说明跟踪控制电路15和物镜偏离探测器19的详细动作。图5是表示本实施例的跟踪控制电路15和物镜偏离探测器19的具体构成的方框图。如图5所示，跟踪控制电路15由A/D变换器501、开关502、积分运算电路503、比例运算电路504、微分运算电路505、D/A变换器506和透镜偏移设定电路513构成。

开关502的一个切换接点P3输入校正跟踪误差信号，另一个切换接点Q3输入加法器525的输出。开关502的公共接点连接到A/变换器501的输入端。A/D变换器501的输出端与积分运算电路503、比例运算电路504、微分运算电路505的各输入端连接。积分运算电路503和比例运算电路504的输出端与加法器526的两个输入端连接，加法器526的输出端与加法器527和物镜偏离探测器19的各输入端连接。微分运算电路505的输出端与加法器527的另一个输入端连接，加法器527的输出端与D/A变换器506的输入端连接。从D/A变换器506的输出端输出跟踪驱动信号103。物镜偏离探测器19的输出端和透镜偏移设定电路513的输出端分别与加法器525的2个输入端连接。

积分运算电路503具有增益GA的乘法器507、增益GB的乘法器508和延迟电路509。比例运算电路504具有增益GC的乘法器510。微分运算电路505具有增益GD的乘法器511和延迟电路512。物镜偏离探测器19由具有增益GE的乘法器516、增益GF的乘法器517、增益GG的乘法器518和延迟电路519、520的等效滤波器514构成。

其次，对于跟踪控制电路15的详细动作，使用图5分别就前述的作为跟踪误差信号校正的动作模式的初始化模式、通常模式、校正模式和待机模式进行说明。

首先，说明初始化模式和通常模式。在初始化模式下，当跟踪控制环路201为OFF时，跟踪控制电路15处于动作停止状态。在待机模式下且跟踪控制环路201为0N时和在通常模式下，开关502切换到切换接点P3，向A/D变换器501输入校正跟踪误差信号102，将模拟信号变换成数字信号。将数字的校正跟踪误差信号102输入积分运算电路503、比例运算电路504和微分运算电路505。

设在积分运算电路503、比例运算电路504和微分运算电路505中的各乘法器507、508、510、511的各增益GA、GB、GC、GD的值由图1系统控制器24设定。乘法器507、508、510、511和加法减法器528、529、530按规定的采样周期T动作。延迟电路509、512将输入的数字信号延迟周期T后输出。将增益GA、GB、GC、GD分别设定成规定的值，通过将积分运算电路503、比例运算电路504和微分运算电路505不但输出相加，可以实现作为补偿滤波器的功能，用来确保控制系统的低频区增益和相位裕度。

图6示出该补偿滤波器的频率传输特性。图6(a)示出相位补偿滤波器的增益特性，同图的(b)示出相位补偿滤波器的相位特性。图6的(a)和(b)的横轴是用对数来表示的频率轴，增益用dB值表示，相位用度来表示。跟踪控制系统的增益交点(增益为0的频率)一般为1kHz左右，在1kHz附近相位变化快。将该补偿滤波器的输出输入到D/A变换器506，变换成模拟信号后作为跟踪驱动信号103输出。

其次，使用图5说明校正模式时的动作。在校正模式下，开关502与初始化模式和通常模式不同，切换到切换接点Q3。因此，由物镜偏离探测器19推算的表示物镜偏移量的信号与透镜位于设定电路的信号的差信号经开关503输入A/D变换器501。A/D变换器501的输出输入到构成补偿滤波器的积分运算电路503、比例运算电路504和微分运算电路505。按照该构成，在图2(a)的流程图的步骤S3和步骤S7设定的表示物镜8的位置的偏移量的信号从透镜偏移设定电路513输出，可以使物镜8移动到规定的位置。

其次，使用图5，对前述的跟踪误差信号校正的每一个动作模式说明物镜偏离探测器19的详细动作。首先，说明初始化模式和通常模式时的动作。在初始化模式中，在跟踪控制环路201为OFF的情况下，物镜偏离探测器19的动作处于停止状态。在其它情况下，设在等效滤波器514中的乘法器516、517、518的各增益GE、GF、GG的值由图1系统控制器24设定。乘法器516、517、518和图中的加法减法器531、532按采样周期T动作，延迟电路519、520将输入的数字信号延迟周期T后输出。

在图1所示的光检测头4中，装有物镜8的线圈11与弹簧12的一端连接，弹簧12的另一端与与磁铁13连接。因弹簧12两个腿的连接部具有黏性，故物镜8对跟踪驱动信号103的偏移的频率传输特性G(s)如式(1)所示那样变成2阶系统。G(s)=GH×K·t/(m×s₂+D×s+Ke)  …(1)

在式(1)中，GH是图1的跟踪驱动电路16的增益。Kt表示推力常数，m表示包含物镜8和线圈11的可动部的重量，D表示黏性系数，Ke表示弹簧常数。以后，将对向跟踪传动器10发出的驱动指令的物镜8的偏移的频率传输特性G(s)表示成光检测头传输特性。

通过将等效滤波器514内部的乘法器516、517、518的增益GE、GF、GG设定成规定的值，可以使等效滤波器514的频率传输特性与式(1)表示的频率传输特性相等。例如，通过利用式(2)所示的3个关系式求出各增益GE、GF、GG的值，可以，近似求出传输特性。

在式(2)中，各系数GH、Kt、m、D和Ke与式(1)相同，代入和式(1)相同的系数值。此外，T表示采样周期。式(2)的3个关系式可以利用式(3)所示的双一次变换得到，式(3)是用来从用模拟形式表示的传输特性式得到频率传输特性大致相等的数字滤波器的变换公式之一。(参考文献：‘数字信号处理和控制’木村英纪著，昭晃堂出版)s=(l-z^-1)/T  …(3)若将式(3)代入式(1)，可以得到式(4)。Gt(z)=GH×Kt/{(m/T²)×z^-2+(2×m/T²+D/T)×z^-1+m/T²+D/T+Ke}  …(4)比例运算电路504和积分运算电路503输出的相加信号输入到等效滤波器517中。而且，这样来设定物镜偏离探测器19，使光检测头4的传输特性(即向光检测头4输入的指令值和光检测头(物镜)的偏移量的比)和物镜偏离探测器19的传输特性(即向物镜偏离探测器19的输入信号和输出信号的比)大致相等。当向物镜偏离探测器19输入和光检测头4的输入信号大致相同的信号时，物镜偏离探测器19的输出与光检测头(物镜)的偏移量大致相等。因此，只使用将包含在跟踪驱动信号103中的高频成分除去后的信号成分来推算物镜的偏移量。一般，采样频率(1/T)比盘2的旋转频率高很多，按照本实施例的构成，完全可以推算出因盘2的偏心引起的物镜的偏离。

在本实施例中，光检测头4的传输特性用2阶传输函数表示，利用双一次变换求得等效滤波器514的特性。但是，光检测头4的传输特性的阶数和对数字滤波器的变换方式并不限于本实施例的阶数和方式。通过将阶数设定成3阶以上并使用近似精度高的变换方式，可以更加提高物镜偏离的推算精度。此外，在本实施例中，是使用等效滤波器514来推算物镜偏离的，但若使用用光学的方法来检测物镜8的位置的位置传感器，也可以得到同样的效果。进而，作为物镜偏离探测器19的输入信号的跟踪驱动信号103使用跟踪控制电路15内的比例运算电路504的输出和积分运算电路503的输出的和信号。因积分运算电路503的输出包含物镜偏移量，故只用积分运算电路503的输出就可以推算物镜偏移量，能得到同样的效果。

在实施例1中，使用等效滤波器514，根据作为跟踪控制电路15的内部信号的跟踪校正信号104来推算物镜偏移量。图8的(a)和(b)是表示当跟踪传动器10附近的温度变时光检测头4的传输特性的图。图8(a)示出用dB值表示的增益特性，图8(b)示出相位特性。图8(a)和图8(b)的横轴都表示对数频率。如8图(a)和(b)所示，当跟踪传动器10附近的温度变时，一次共振频率下的DC增益发生变化。所谓一次共振频率是指由包含上述物镜8和线圈11的可动部的重量m、黏性系数D、弹簧常数Ke决定的共振点的频率，其中心频率可由式(5)计算。驱动信号只有直流成分时的增益(DC增益)可以利用(7)式进行计算。 $\sqrt{\mathrm{Ke}/m}/2\×\mathrm{\π}\·\·\·\left(5\right)$ $\sqrt{m\×\mathrm{Ke}}/D\·\·\·\left(6\right)$ GH×Kt/Ke  …(7)

在从式(5)到式(7)中，GH表示跟踪驱动电路16的增益，Kt表示推力常数。m表示包含物镜8和线圈11的可动部的重量，D表示黏性系数D，Ke表示弹簧常数。当跟踪传动器10周围的温度变时，构成跟踪传动器10的主要部件的弹簧12和弹簧两端的接合部的特性发生变化。即，式(5)到式(7)中的弹簧常数Ke和黏性系数D变化，使光检测头的频率传输特性变化。因该变化而使其与按式(2)计算的等效滤波器514的频率传输特性之间产生差异，一旦物镜偏移量的推算发生误差，控制系统就会变得不稳定。

《实施例2》

参照图9到图12说明本发明的实施例2的光学的信息记录重放装置。对于具有和实施例1相同的构成和功能的部件附加相同的符号并省略重复的说明。实施例2的要点如下。

(1)在后述的学习模式中，代替通常的跟踪控制环路201而使跟踪学习控制环路203工作。

(2)在跟踪学习控制环路203中，利用光检测头检测电路31学习光检测头的频率传输特性，同时算出等效滤波器514内部的各乘法器的增益。

(3)根据该学习的结果，在后述的校正模式下，校正等效滤波器514的频率传输特性。

图9是表示实施例2中的光学信息重放装置的构成的方框图。在图9中，使用一次控制环路构成跟踪学习控制环路203，该环路包括光检测头4、跟踪误差检测电路14、光检测头传输特性检测电路31、开关30和跟踪驱动电路16。作为温度检测装置的温度传感器28检测光检测头4的传动器10附近的温度，输出传动器温度数据。

开关30是用来根据从系统控制器24来的指令切换使用跟踪驱动信号103或从光检测头传输特性检测电路31输出的跟踪学习信号106作为跟踪驱动电路16的驱动信号的开关装置。系统控制方框29由跟踪控制电路15、物镜偏离探测器19、第1存储电路20。第2存储电路21、偏置校正电路22、振幅校正电路23、系统控制器24、光检测头传输特性检测电路31、第3存储电路32和传输特性校正电路33构成。再有，系统控制方框29内的各电路与系统控制器24连接，从系统控制器24输入控制信号，但为了简化图面，没有示出连接线。

光检测头传输特性检测电路31经开关30向跟踪驱动电路16输出跟踪学习信号106。光检测头传输特性检测电路31是根据这时的跟踪误差信号101检测光检测头传输特性并计算图10所示的物镜偏离探测器19内部的等效滤波器514的乘法器516、517、518的各增益GE、GF、GG的值的运算电路。第3存储电路32由成对地存储由温度检测传感器28检测出的跟踪传动器10附近的温度和由光检测头传输特性检测电路31计算的乘法器的增益GE、GF、GG的值的存储电路等构成。第3存储电路32由数字电路或系统控制器24内的存储器构成，存储时，通过系统控制器24内部的A/D变换器将模拟量变换成数字值。传输特性校正电路33从第3存储电路32读出乘法器的增益GE、GF、GG的值，将读出的增益值设定在等效滤波器514内部的乘法器中。

图10是表示实施例2中的光检测头传输特性检测电路31和物镜偏离探测器19的一例具体电路构成的方框图。如图10所示，物镜偏离探测器19具有等效滤波器514。等效滤波器514具有增益GE的乘法器516、增益GF的乘法器517、增益GG的乘法器518和延迟电路519、520。再有，各乘法器的增益GE、GF、GG的值可以利用传输特性校正电路33进行改变。乘法器518和加法减法器531、532按规定的采样周期T动作，延迟电路519、520使输入的数字信号延迟周期T后输出。

光检测头传输特性检测电路31具有扰动频率设定电路34、扰动振幅设定电路35、学习扰动信号发生器36、物镜偏移检测电路37、增益计算电路38、第4存储电路39和传输特性计算电路40。学习扰动信号发生器36是输出正弦波形状的跟踪学习信号106的信号发生器，其频率由扰动频率设定电路34设定，振幅由扰动振幅设定电路35设定。物镜偏移检测电路37由用来根据跟踪误差信号101对物镜8横切轨道的根数进行计数的数字电路等构成。

增益计算电路38由根据利用物镜偏移检测电路36检测出的物镜8的移动距离和跟踪学习信号106的值计算光检测头4的传输增益的运算电路构成。第4存储电路39由成对地存储利用增益计算电路38计算出的光检测头的传输增益和跟踪学习信号106的频率的存储电路构成。再有，第4存储电路39由数字电路或系统控制器24内的存储器构成，存储时，通过系统控制器24内部的A/D变换器将模拟量变换成数字值。传输特性计算电路40具有CPU等的运算电路，用来根据第4存储电路39存储的光检测头4的增益和频率的关系计算物镜偏离探测器19内部的等效滤波器514的乘法器516、517、518的各增益GE、GF、GG的值。

对于象以上那样构成的本发明的实施例2的光学的信息记录重放装置的动作，分别就物镜偏离探测器19的频率传输特性校正的各动作模式、即学习模式和校正模式进行说明。

下面，按照每一个动作模式，参照图11说明图9所示的本实施例的系统控制方框29内的各电路的动作。

首先，说明学习模式。图11是表示本实施例的学习模式时的包含在系统控制方框29中的各电路和开关30的动作的流程图。当转移到学习模式时，使跟踪控制环路201处于OFF状态，使跟踪学习控制环路203处于ON状态，即，将开关30切换到P4一侧，使跟踪控制电路16与光检测头传输特性检测电路31的输出端连接(步骤S41)。其次，进行第3存储电路39的存储器地址的初始化。该初始化例如通过将存储器地址设定为N(N是0以上的整数)进行(步骤S42)。对扰动频率设定电路34设定初始值，对扰动振幅设定电路35设定规定的振幅值。从扰动信号发生器36输出正弦波形状的跟踪学习信号106(步骤S43)。跟踪学习信号106的频率初始值例如在跟踪传动器10附近的温度为40℃时设定为光检测头传输特性的一次共振频率的1/10。振幅设定为使物镜8移动其可动范围的1/2的值。

跟踪学习信号106经开关30和跟踪驱动电路16驱动跟踪传动器10，使物镜8以与跟踪学习信号相同的频率移动。物镜偏移检测电路37通过对跟踪信号101的过零点的次数、即物镜8横切轨道的个数进行计数并使其与轨道间距(轨道间的距离)相乘，可以求出该物镜8的偏移量(步骤S44)。

其次，增益计算电路38通过将利用物镜偏移检测电路37检测出的偏移量除以跟踪学习信号106的振幅、即扰动振幅设定电路35的设定振幅，可以求出光检测头4的增益(步骤45)。将该增益值和跟踪学习信号106的频率、即扰动频率设定电路34的设定频率成对地存储在第4存储电路39中(步骤S46)。接着，判别扰动频率设定电路34所示的频率的设定值是否达到规定的频率。若该频率例如没有达到跟踪传动器10附近的温度为40℃时的光检测头传输特性的一次共振频率的10倍(步骤S47)，则将扰动频率设定电路34的频率设定为比上述频率高Δf(步骤48)，使存储器地址变成N+2(步骤49)，返回步骤S44反复进行同样的处理。若达到了，则如图11(b)所示，将频率和光检测头4的增益值成对地记录在第4存储电路39中。接着，利用传输特性计算电路40将增益的最大值和这时的频率作为一次共振增益求出，按照式(5)和式(6)的关系式求出弹簧常数Ke和黏性系数D(步骤S49)。这里，因(5)和式(6)的除弹簧常数Ke和黏性系数D之外的变量的值不随温度变化，故使用和式(1)相同的系数值。

使用这样求得的弹簧常数Ke和黏性系数D，根据式(2)计算等效滤波器514内部的乘法器516、517、518的各增益GE、GF、GG(步骤S50)。这里，对Ke、D以外的系数GH、Kt、m代入和式(1)相同的系数值。接着，将增益GE、GF、GG的值和由温度检测传感器28检测出的传动器温度数据107存储在第3存储电路32中(步骤S51)。

使跟踪传动器10周围的温度例如从20℃到60℃一度一度地变化，反复进行从步骤S41到步骤S51的一连串的处理。通过将得到的数据从地址N开始按顺序存储在第3存储电路32的存储器中，可以象图11(c)所示那样，将温度和与此对应的等效滤波器514内部的乘法器的增益GE、GF、GG的值成对地记录在第3存储电路32中。再有，在学习模式中，等效滤波器校正电路33和物镜偏离探测器19的动作处于停止状态。

其次，说明校正模式。图12是表示本实施例校正模式时的系统控制方框29内的各电路的动作的流程图。当转移到校正模式时，使图9中的跟踪控制环路201处于ON状态，使跟踪学习控制环路203处于OFF状态。即，将开关30切换到Q4一侧，使跟踪驱动电路16的输出端与跟踪控制电路15的输入端连接。而且，停止光检测头传输特性检测电路31的动作(步骤S61)。其次，利用温度检测传感器28检测出跟踪传动器10附近的温度(步骤S62)，求出存储传动器温度数据107的第3存储电路32的存储器地址(步骤S63)。从第3存储电路32读出与传动器温度数据107成对存储的增益GE、GF、GG的值(步骤S64)。利用等效滤波器特性校正电路33更新等效滤波器514内的乘法器516、517、518的增益GE、GF、GG的值(步骤S65)。接着，开始物镜偏离探测器19的动作。

这样一来，预先学习光检测头4在跟踪传动器10附近温度下的频率传输特性，与温度变化对应适当地切换等效滤波器514内的乘法器516、517、518的增益。因此，即使光检测头4的传输特性随温度变化，也可以使等效滤波器514的频率传输特性和光检测头4的传输特性相等。结果，可以抑制物镜偏离探测器19推算精度的下降，进行稳定的跟踪信号的校正。进而，通过在起动时或更换盘时执行学习模式，即使当温度变化或出现光检测头4的传输特性的长期变化和个体差时，也可以使等效滤波器514的频率传输特性和光检测头4的传输特性一致。因此，可以抑制推算精度的下降，实现稳定的跟踪控制性能。

《实施例3》

下面，参照图13到图16说明本发明的实施例3。再有，对于具有和实施例1相同的构成和功能的部件附加相同的符号并省略其说明。图13是表述本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。

在图13中，倾斜传感器44是检测盘2的倾斜的传感器，检测表示光束和盘2的平面在与信息轨道垂直的方向上的倾斜的倾角108。倾斜传感器44例如使半导体激光以规定的角度照射在盘2的表面上，通过分成两半的PD检测其反射光。当盘2倾斜时，因分成两半的PD的输入变化，故能够检测倾斜。光检测头4利用未图示的作为使光检测头4倾斜的装置的倾斜传动器，可以将它与盘面的角度设定成任意的值。系统控制方框41具有跟踪控制电路15、物镜偏离探测器19、第5存储电路42、第4存储电路41、偏置校正电路22、振幅校正电路23和系统控制器24。再有，系统控制方框41内的各电路与系统控制器25连接，从系统控制器25输入控制信号，但为了简化图面，没有示出连接线。

第5存储电路42是将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105、由倾斜传感器检测出的倾角108和由偏置检测电路17检测出的轨道误差信号的偏置值成组地存储的存储器。第6存储电路43是将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105、由倾斜传感器检测出的倾角108和由振幅检测电路18检测出的跟踪误差信号的振幅值成组地存储的存储器。再有，存储电路42、43由数字电路或系统控制器24内的存储器构成，存储时，通过系统控制器24内部的A/D变换器将模拟量变换成数字值。系统控制器24是运算电路，由CPU等构成，根据从外部输入的本实施例的光学的信息记录重放装置的工作模式，进行系统控制方框41内的各电路的工作状态的控制和运算处理。

对于象以上那样构成的本发明的实施例3的光学的信息记录重放装置的动作，分别就作为跟踪误差信号校正的动作模式的校正模式和通常模式进行说明。校正模式是对偏置校正量和振幅校正量预先进行学习的模式。通常模式是根据校正模式时学习的结果去校正跟踪控制环路201的模式。

首先，说明校正模式。图14是表示本实施例的校正模式时的包含在系统控制方框41中的各电路的动作的流程图。通常，校正模式是在装置的最初起动时和交换盘时执行。当转移到校正模式时，使跟踪控制环路201处于OFF状态，使跟踪校正控制环路202处于ON状态(步骤S71)。接着，设定倾角108的初始角度。该初始角度例如假定是未图示的倾斜传动器的可动范围内的一端。驱动倾斜传动器，控制光检测头4或盘2的倾斜，使其达到该角度(步骤72)。

其次，进行第5存储电路42和第6存储电路43的存储地址的初始化。该初始化例如通过将存储器地址设定为N(N是0以上的整数)来进行(步骤S73)。其次设定物镜8的初始位置。该初始位置例如是物镜8的可动范围内的一端，由跟踪控制电路15向跟踪驱动电路16输出跟踪驱动信号103，使其达到该位置。由此，驱动跟踪传动器10，使物镜8移动(步骤S74)。这时，将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105、由倾斜传感器检测出的倾角108和由偏置检测电路17检测出的轨道误差信号的偏置量成组地存储在第5存储电路42中。将由物镜偏离探测器19推算的物镜偏移量105、由倾斜传感器检测出的倾角108和由振幅检测电路18检测出的跟踪误差信号的振幅值成组地存储在第6存储电路43中(步骤S75)。设定存储器地址，使各存储器地址+3(步骤S76)。接着，判断物镜8的偏离是否从物镜可动范围的一端到达另一端(步骤S77)。若物镜8没有从一端到达另一端则使物镜8的位置移动微小的距离ΔL(步骤S78)，返回步骤S74，重复步骤75到步骤77的处理。若物镜8从一端到达另一端，则判断倾角是否从可变范围的一端达到另一端(步骤S79)。若倾角没有从可变范围的一端达到另一端则使倾角增加微细的角度ΔT(步骤S80)，返回步骤S75重复同样的处理。若倾角达到可变范围的另一端，则校正模式结束。通过以上的处理，如图15(a)和(b)所示，可以将与物镜偏移量、倾角及与其对应的跟踪误差信号的偏置量成组地记录在第5存储电路42中。此外，可以将与物镜偏移量、倾角及与其对应的振幅值成组地记录在第6存储电路43中。

其次，说明通常模式。图16是表示本实施例通常模式时的动作的流程图。通常模式在图13中的跟踪控制环路ON之后执行。在通常模式中，首先，利用物镜偏离探测器19推算物镜偏移量105，并利用倾斜传感器44检测出倾角(步骤S81)。接着，特别指定记录已推算的物镜偏移量和倾角的偏置量和振幅值的第5存储电路42和第6存储电路43的存储器地址(步骤S82)，从各存储电路42、43读出偏置量和振幅值(步骤S83)。接着，利用系统控制器24算出偏置相加量和振幅增益，使校正跟踪误差信号102的值与物镜偏移量为零、倾角为零时的跟踪误差信号101相等(步骤S84)。

在偏置校正电路22中与这样求得的偏置相加量相加，并利用振幅校正电路23乘以振幅增益，由此，进行跟踪误差信号的校正(步骤S85)。由跟踪控制电路15向跟踪驱动电路16输出驱动指令，使该校正跟踪误差信号102为零。驱动指令使线圈11流过电流、产生电磁力，从而使物镜8移动。这样，根据物镜偏移量和倾角去校正跟踪误差信号。结果，即使发生物镜偏离和倾斜，也可以实现与物镜偏离和倾斜为零的状态同等的跟踪控制性能。

再有，实施例3若再加上实施例1所示的初始化模式，则可以提高跟踪控制环路从OFF转移到ON时的稳定性。此外，实施例3若进行实施例2所示的等效滤波器特性的学习和温度校正，则可以改善对温度变化的稳定性。此外，若使校正模式下的数据采样间隔、即微细距离ΔL和微小角度ΔT减小，则可以提高校正精度，但存储数据样品的存储量也增加了，这对降低成本不利。因此，减少样品数，在数据样品之间例如通过采取加权平均求出应校正的振幅量和偏置量，这样，也可以实现与本实施例同样的跟踪控制性能。

《实施例4》

参照图17到图19说明本发明的实施例4。

图17是表示实施例4的光学的信息记录重放装置(以下单称作‘装置’)的构成的方框图。在图17中，盘301位于包含光检测头302和丝杠305的机械部的跟前(纸面的上方)，为了便于容易理解，在图中用实线表示上述机械部，用点划线表示盘301。支持光检测头302并可使其移动的2根导引轴307配置在盘301的半径方向。由此，可以使光检测头302在与盘301的信息轨道垂直的方向上倾斜。2根导引轴307的一方的端部分别由导引轴承308支持。在各导引轴307的另一方的端部设置形成为L形的插入部307A。插入部307A插入倾斜凸轮309的孔309A中。倾斜凸轮309是偏心凸轮，偏心地安装在倾斜轴315上。导引轴307的附近设有丝杠305。在丝杠305的沟305A内，插入装在光检测头302的侧面的导引齿条304的突起304A。丝杠305的一端装有由电机驱动电路340驱动检测头移动电机306。利用检测头移动电机306的旋转使丝杠305旋转，光检测头302在导引轴307上移动。

倾斜轴315利用装在其一端的倾斜电机314进行旋转。导引轴307利用倾斜轴的旋转，以导引轴承308为中心进行旋转，使盘301的平面与导引轴307的角度变化。旋转角检测电路316检测出检测头移动电机306的旋转角，同时，利用旋转方向检测部317检测出旋转方向，从而检测出光检测头302的移动方向。旋转角和旋转方向的检测例如可以利用已经知道的旋转检测器进行，该旋转检测器将等间距配置了永久磁铁的磁化板安装在检测头移动电机306的旋转轴上，并在磁化板的附近以上述间距的二分之一的间隔设置霍尔元件等磁检测器。在导引齿条304上设置倾斜传感器310，检测光检测头302相对盘301的平面的倾斜。倾斜传感器310因与例如在图46所示的先有的技术项中已详细说明了的已经倾斜传感器相同，故省略重复说明。倾斜传感器310的输出输入倾斜误差检测电路311，输出倾斜误差信号401。输出倾斜误差信号401输入到偏置检测电路318和偏置校正电路320。偏置检测电路318将倾斜误差信号401的中心值作为偏置量检测出来。偏置检测电路318的输出输入到存储电路319。

存储电路319在后面详细说明校正模式中，成对地存储由旋转方向检测部317检测出的光检测头302的移动方向和由偏置检测电路318检测出的倾斜误差信号401的偏置量。存储电路319具有数字电路DRAM存储器等，存储时，利用存储电路319内部的D/A变换器将模拟量变换成数字值。存储电路319的输出输入到偏置校正电路320。

偏置校正电路320在后面详细说明的通常模式中，从存储电路319读出预先存储的偏置量，与倾斜误差信号401的电平进行加减计算来校正偏置。偏置校正后的倾斜误差信号作为校正误差信号402输出。倾斜控制电路312接收校正倾斜误差信号402，向倾斜驱动电路313输出倾斜驱动信号403。倾斜驱动电路313根据倾斜驱动指令驱动403驱动倾斜电机314。

以下，详细说明实施例4的光学的信息记录重放装置的动作中的校正模式和通常模式的动作。

校正模式是为了校正因光检测头302和包含丝杠305的机械部的制造时的误差产生的偏置而预先求出偏置校正量的动作，在装置制造时进行。通常模式是根据校正模式求得的结果去校正倾斜误差信号401的动作，是装置通常使用状态下的动作。

首先，参照图17和图18说明校正模式。图18(a)是表示本实施例的校正模式时的动作的流程图。通常，校正模式的动作是在装置安装调整时进行。在校正模式下，停止倾斜控制电路312的动作(以下称作OFF)，而且，将倾斜凸轮309的旋转角设定为初始角。初始角是当盘301不倾斜、光检测头302的光垂直入射到盘301时倾斜凸轮的旋转角(步骤S301)。其次，进行存储电路319的存储器地址的初始化。该初始化例如通过将存储器地址设定为N来进行(N是0以上的整数)(步骤S302)。使检测头移动电机306旋转，使光检测头302向盘301的内圆周方向移动并停在规定的位置(步骤S303)。如图18(b)所示，将由旋转方向检测部317检测出的表示光检测头302向内圆周移动的‘移动方向(0)’和由偏置检测电路318检测出的‘偏置量(1)’成对地存储在存储电路319的存储器地址N和N+1中(步骤S304)。使存储器地址+2(步骤S305)。使检测头移动电机306旋转，使光检测头302向盘301的外圆周方向移动并停在规定的位置(步骤S306)。这时，将由旋转方向检测部317检测出的表示光检测头302向外圆周移动的‘移动方向(1)’和由偏置检测电路318检测出的‘偏置量(1)’成对地存储在存储电路319的存储器地址N+2和N+3中(步骤S307)。结束校正模式的动作。通过以上校正模式的处理，如图18(b)所示，与光检测头302的2个移动方向(0)和(1)对应的各倾斜信号401的偏置量存储在存储电路319中。

其次，参照图17和图19说明通常模式。图19是表示本实施例的通常模式时的动作的流程图。通常模式的动作是从光学的信息记录重放装置的电源接通到断开之间的通常使用状态时的动作，这期间，倾斜控制电路312处于工作状态，必要时进行倾斜控制。

在通常模式下，首先，利用旋转方向检测部317检测出光检测头302的移动方向(步骤S311)。求出存储与在步骤S311检测出的光检测头302的移动方向相同的移动方向的存储电路319的存储器地址(步骤S312)。从求得的存储器地址读出存储的偏置量(步骤S313)。在偏置校正电路320中，将读出的偏置量与由倾斜误差检测电路311检测出的倾斜误差信号401相加，进行倾斜误差信号的校正(步骤S314)。倾斜控制电路312向倾斜驱动电路313输出驱动指令，使倾斜电机314旋转并使安装在倾斜轴315上的倾斜凸轮309旋转，使该校正倾斜误差信号402的电平为0。导引轴307利用倾斜凸轮309的旋转以导引轴承308为支点进行旋转，控制光检测头302的倾斜，使光检测头302发出的光束302A始终垂直照射在盘301的表面上。

若按照实施例4，在校正模式下预先求出因光检测头302的移动方向引起的倾斜误差信号401的偏置量并存储起来，在通常模式下，与由旋转方向检测部317检测出的光检测头302的移动方向对应，根据上述存储的偏置量去校正倾斜误差信号401。由此，可以校正因光检测头302的移动方向引起的倾斜控制误差，即使盘301产生倾斜时，也可以控制光检测头302的倾斜，使从光检测头302射出的光束始终垂直照射在盘301上。再有，本实施例使用了在旋转角检测电路316和旋转方向检测部317中使用了霍尔元件322的已经知道的旋转检器，但也可以在检测头移动电机306上使用步进电机，作为驱动指令，给出表示电机的转动步进数和转动方向的信号。这时，可以从驱动指令信号检测出转动方向。

《实施例5》

参照图20到图23说明本发明的实施例5。在图20中，在丝杠305的沟部305A和导引齿条304的突起304A之间存在间隙、即齿隙。若没有齿隙，则产生突起304A和沟部305A的磨擦增加、光检测头302的移动困难、移动时需要较大的力矩的问题。因该齿隙的存在，当检测头电机306的旋转方向反向时光检测头302的移动方向不能即时反向。因此，如实施例4那样，若根据检测头移动电机306的旋转方向的变化判定光检测头302的移动方向的变化，则在检测头移动电机306的旋转方向的变化和光检测头302的移动方向的变化之间产生时间差，不能进行正确的倾斜量的校正。因此，倾斜控制电路312在通常模式时的控制有可能变得不稳定。

本发明的实施例5是为了解决该问题的光信息记录重放装置。在实施例5中，根据旋转角检测电路316和旋转方向检测部317的检测结果判定有没有齿隙。当有齿隙时，在齿隙的影响没有消失之前，不输出表示光检测头移动方向的反向的检测结果，在齿隙的影响消失的时刻，输出检测结果。当有齿隙影响时，将倾斜控制电路312的增益切换到规定值，在齿隙的影响消失的时刻，再使倾斜控制电路312的增益回到初始值。

下面，参照图20和图23详细说明本发明的实施例5。

图20是表示实施例5的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。对与实施例4相同的构成部件附加相同的符号并省略重复说明。在图20中，齿隙检测部321输入表示由旋转角检测电路316检测出的检测头移动电机306的旋转角和由旋转方向检测部317检测出的检测头移动电机306的旋转方向的各个信号，利用这些信号检测丝杠305和导引齿条304之间有没有齿隙。即，当旋转方向变化时，若旋转角没有变化，则判定为有齿隙。旋转方向检测部317的输出还输入到旋转方向保持电路322。齿隙检测部321的输出输入到旋转方向保持电路和控制电路切换部323。旋转方向保持电路322根据齿隙检测部321检测出的齿隙的有无，将表示由旋转方向检测部317检测出的方向的信号保持下来(保持上次的检测信号并作为输出使用)或使其通过(将这次的检测信号作为输出使用)后，存储在存储电路319中。控制电路切换部323根据齿隙检测部321检测出的齿隙的有无，切换倾斜控制电路312A的内部增益。其余的构成和实施例4相同。

其次，说明齿隙检测部321的详细动作。图21是表示本实施例的齿隙检测部321的动作的流程图。齿隙检测部321取入表示由旋转方向检测部317检测出的旋转方向的信号，判定检测头移动电机306的旋转方向是否反向(步骤S371)。当没有反向时，返回步骤S371。当反向时，将用于齿隙检测的信号输出到旋转方向保持电路322和控制电路切换部323(步骤S372)。齿隙检测部321取入利用旋转角检测电路316检测出的旋转角的信号，检测出反向后的旋转角(步骤S373)，判定反向后的检测头移动电机306的旋转角是否达到了规定的旋转角(例如，与预先测定的丝杠305和导引齿条304的齿隙相当的旋转角)(步骤S374)。若反向后的检测头移动电机306的旋转角达到了规定的旋转角，齿隙检测部321向方向保持电路322和控制电路切换部323输出表示无齿隙的信号(步骤S375)，使处理返回步骤S371。若旋转角没有达到规定的旋转角，则返回步骤S372的同时，齿隙检测部321持续输出表示有齿隙的信号。

其次，说明倾斜控制电路312A的详细构成。图22是表示本实施例的倾斜控制电路312A的具体构成的方框图。在图22中，倾斜控制电路312A具有A/D变换器801、积分运算电路802、比例运算电路803、微分运算电路804和D/A变换器805。积分运算电路802具有增益GA的乘法器806、增益GB的乘法器807、加法器821和延迟电路808。比例运算电路803具有增益GC的乘法器809。微分运算电路804具有增益GD的乘法器810、加法器822、823和延迟电路811。各乘法器806、807、809、810的增益可以任意设定。

使用图22说明倾斜控制电路312A和控制电路切换部323的动作。控制电路切换部323根据齿隙检测部321对齿隙有无的判定进行设定，当有齿隙时，将倾斜控制电路312A的各乘法器806、807、809、810的增益设定成规定值，例如设定为0。通过使增益为0，使倾斜控制电路312的输出与动作停止状态的值相等，从而，防止因齿隙产生的偏置的误校正而使控制不稳定。当没有齿隙时，使倾斜控制电路312A内部的各乘法器806、807、809、810的增益返回不是0的初始设定值。而且，将由偏置校正电路320校正了的校正倾斜误差信号402输入到A/D变换器801，将模拟信号变换成数字信号，并输入到积分运算电路802、比例运算电路803和微分运算电路804。

乘法器806、807、809、810的各增益GA、GB、GC、GD的值由控制电路切换部323设定。乘法器806、807、809、810的乘法运算和加法器821、822、823、824、825的加减运算按规定的采样周期进行。延迟电路808、811将输入的数字信号延迟采样周期T后输出。将乘法器806、807、809、810的各增益GA、GB、GC、GD设定成规定的初始值，在加法器824、825中使其与积分运算电路802、比例运算电路803和微分运算电路804的输出相加，由此，可以实现用来确保控制系统的低端增益和相位裕度的补偿滤波器的功能。图23示出补偿滤波器的频率传输特性。图23(a)示出相位补偿滤波器的增益特性，(b)示出其相位特性。图23的(a)和(b)的横轴表示对数频率。倾斜控制系统的增益交叉点一般在1Hz左右，在1Hz附近相位变化最快。该补偿滤波器的输出输入到D/A变换器805，变换成模拟信号后加在倾斜驱动电路313上。

如上所述，根据旋转角检测电路316和旋转方向检测部317的检测结果判别有无齿隙，切换倾斜控制电路312A的增益，确定光检测头302的移动方向。由此，可以防止因齿隙产生的倾斜误差信号401的偏置校正量的误差，从而防止出现控制的不稳定。当盘301产生倾斜时，利用倾斜控制电路313控制光检测头302的倾斜，使光检测头302射出的光束始终垂直照射在盘301上。

《实施例6》

下面，参照图24到图27说明本发明的实施例6。再有，对和实施例4相同的构成部件附加相同的符号并省略其说明。

图24是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。在图24中，作为温度检测部的温度传感器324设在倾斜传感器310的附近，检测倾斜传感器310周围的温度。温度传感器324的检测输出输入存储电路319。存储电路319如图26所示，成对地存储由旋转方向检测部317检测出的光检测头302的移动方向和由偏置检测电路必18检测出的倾斜误差信号401的偏置量以及由温度传感器324检测出的温度。存储电路319由数字电路和DRAM等构成，存储时，由设在存储电路319内部的A/D变换器将模拟量变换成数字值后存储起来。其余的构成与实施例4相同。

就倾斜误差信号的校正模式和通常模式说明实施例6的光学的信息记录重放装置的动作。

校正模式和通常模式的定义与实施例4中已说明过的相同。

首先，参照图24、图25和图26说明校正模式的动作。图25是表示本实施例的校正模式的动作的流程图，图26是表示存储电路319的存储内容的表。校正模式的动作在调整该光学的信息记录重放装置时将整个装置放入恒温槽中进行。在校正模式下，使倾斜控制电路312处于OFF状态，设定倾斜凸轮309的旋转角为初始角。该初始角是当盘301不倾斜、光检测头302的光垂直入射到盘301上时倾斜凸轮309的旋转角(步骤401)。其次，进行存储电路319的存储器地址的初始化。该初始化例如通过将存储器地址设定为N来进行(N是0以上的整数)(步骤S302)。利用温度传感器324检测倾斜传感器310周围的温度并存储在存储电路319中(步骤S403)，使存储器地址+1(步骤S404)。使检测头移动电机306旋转，并使光检测头302向盘301的内圆周方向移动(步骤S405)。这时，将由偏置检测电路318检测出的偏置量作为内圆周方向偏置存储在存储电路319(步骤S406)，并使存储器地址+1(步骤S407)。使检测头移动电机306旋转，并使光检测头302向盘301的外圆周方向移动(步骤S408)。这时，将由偏置检测电路318检测出的偏置量作为外圆周方向偏置存储在存储电路319中(步骤S409)，并使存储器地址+1(S410)。使倾斜传感器310周围的温度例如从20℃到60℃一度一度地变化，反复执行从步骤S403到步骤S410的一连串的处理，并将温度、内圆周方向偏置量和外圆周方向偏置量作为一组数据存储在存储电路319中。

其次，参照图24和图27说明通常模式的动作。图27是表示本实施例的通常模式时的动作的流程图。通常模式是倾斜控制电路处于ON的状态时进行的。

由温度传感器324检测倾斜传感器310周围的温度并将检测数据输入存储电路319中。利用旋转方向检测部317检测出光检测头302的移动方向并将检测数据输入存储电路319中(步骤S421)。求出从校正模式时存储的倾斜传感器310周围的温度、光检测头302的移动方向的内圆周方向偏置和外圆周方向偏置的多组数据中搜寻与上述温度的检测数据和移动方向的数据一致的数据组并进行存储的存储电路319的存储器地址(步骤S422)。与移动方向对应从求得的存储电路319的存储器地址中读出内圆周方向偏置量和外圆周方向偏置量(步骤S423)。在偏置校正电路320中，将读出的内圆周方向偏置量和外圆周方向偏置量与倾斜误差信号401相加，进行倾斜误差信号401的校正并将校正倾斜误差信号401加在倾斜控制电路312上(步骤S424)。倾斜控制电路312向倾斜驱动电路313输出驱动指令，使该校正倾斜误差信号402的电平为0。倾斜驱动电路313根据驱动指令驱动倾斜电机314，经倾斜轴315使倾斜凸轮309旋转，导引轴307以导引轴承308为支点进行旋转，使具有导引齿条304和倾斜传感器310的光检测头302倾斜。由此，可以补偿因装置周围温度的变化引起的倾斜传感器310的偏置。当偏置补偿的结果使盘301产生倾斜时，可以控制光检测头302的倾斜，使从光检测头302射出的光束始终垂直照射在盘301上。

《实施例7》

下面，参照图28到图30说明本发明的实施例7。对和实施例4相同的构成部件附加相同的符号并省略其说明。

图28是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。在图28中，倾斜传感器310的输出输入规格化倾斜误差检测电路325。规格化倾斜误差检测电路325将后面要详细说明的规格化倾斜误差信号413输入到偏置检测电路318和偏置校正电路320。规格化倾斜误差检测电路325输出与由倾斜传感器310检测出的盘面相对光束的光轴的倾角对应的规格化倾斜误差信号413。与实施例4的不同点在于：设置规格化倾斜误差检测电路325去代替倾斜误差检测电路311，对偏置检测电路318和偏置校正电路320施加规格化倾斜误差信号413。

下面，说明规格化倾斜误差检测电路325的详细动作。图29是表示本实施例的倾斜传感器310和规格化倾斜误差检测电路325的构成的方框图。在图29中，倾斜传感器310与图46所示的先有的传感器相同，具有分成两半的PD326和光源327。分成两半的PD326沿在盘301上呈同心圆状或螺旋状记录的信息轨道331的切线方向分成两半。将分成两半的各部分表示成PD部326a和PD部326b。光源327的光束的光轴相对盘301上的信息轨道331的切线方向垂直，与光检测头302的光束的光轴平行。当盘301不倾斜时，设定分成两半的PD326和光源327的位置关系，使光源327的光束经过盘301的反射光入射到分成两半的PD326的中央部。规格化倾斜误差检测电路325具有减法电路328和加法电路329，减法电路求出分成两半的PD326的各PD部326a、326b的输出电平的差并将其作为倾斜误差信号401输出，加法电路求出分成两半的PD326的各PD部326a、326b的输出电平的和并将其作为和信号414输出。规格化倾斜误差检测电路325进而具有用和信号414除倾斜误差信号401的除法电路330，将除法运算的结果作为规格化倾斜误差信号413输出。

使用图30的(a)到(e)的曲线说明规格化倾斜误差检测电路325的动作。在图30的各曲线中，实线表示盘301的表面反射率(以下称作面反射率)为30％时的情况，点划线表示盘301的表面反射率为50％时的情况。如图30的(a)和(b)所示，当面反射率大时，各PD部326a、326b的检测输出电平增加，相对盘301的倾角的电平变化也大。因此，倾斜误差信号401相对盘301的倾角的变化也和该图的(c)所示那样变大。盘301的倾角为零时的倾斜误差信号401的偏置量也大。此外，如该图的(d)所示，若面反射率大则将各PD部326a、326b的输出相加的和信号414的电平也增加。盘301的面反射率因盘301的制造厂家而异，此外也因制造方法和材料的不同而异。当把面反射率各不相同的多个盘301在一台装置上使用时，因使用的盘301不同偏置量发生变化。在实施例7中，通过用和信号414去除倾斜误差信号401，可以使倾斜误差信号规格化。由此，可以消除因盘301的反射率的不同而产生的倾斜误差信号401的偏置。图30(e)示出规格化倾斜误差信号413的曲线。在图30(e)的规格化倾斜误差信号413的曲线中，实线和点划线一致，反映因面反射率的不同而产生的倾斜误差信号401的变动没有了。

在本实施例中，存储规格化倾斜误差信号413的偏置，利用旋转方向检测部317检测出光检测头的移动方向，根据存储的偏置量去校正规格化倾斜误差信号413。由此，可以抑制因盘301的面反射率的变动而引起的倾斜误差信号的偏置的变动和因光检测头302的移动方向而引起的倾斜控制误差。当盘301倾斜时，通过控制光检测头302的倾斜使从光检测头射出的光束始终垂直照射盘301，可以大幅度提高装置的稳定性。再有，在本发明的实施例中，作为产生倾斜误差信号的偏置的主要原因，将检测头移动方向和倾斜传感器周围温度综合起来进行了说明，但如果构成为使用其中任何一方来抵消偏置也可以提高装置的稳定性。

《实施例8》

参照图31到图33及图51说明本发明的实施例8。对和上述各实施例相同的构成部件附加相同的符号并省略重复说明。图31是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。图中，信息重放信号检测电路341使其输入端与光检测头302的输出端连接，根据从在盘301上形成的数据沟来的反射光输出模拟RF信号341A。RF信号是与在盘面的光检测头302的光束照射的位置上有没有沟的情况相对应电平发生变化的信号，根据沟的形状、形成位置和沟与光束的位置关系其振幅RFA如图51的(d)和(g)那样发生变化，表示振幅RFA的RF信号341A输入重放信号振幅检测电路342A，检测出RF信号341A的振幅RFA并输出RF振幅信号342A。RF振幅信号342A输入到系统控制器343。系统控制器343根据后面详细说明的各动作模式，向光检测头302输出记录重放切换信号343A。系统控制器343对偏置施加电路345设定偏置量343B，并输出偏置量信号345A。偏置量信号345A输入偏置检测电路344并输出偏置值。偏置值存储在存储电路346中。偏置量信号345A加在切换开关347A的接点347A上。切换开关347A的接点347A与存储电路346的输出端连接。作为控制目标变更部的偏置校正电路320将从存储电路346和偏置施加电路345输出的偏置量信号与倾斜误差信号401的电平进行加减运算。由此，使倾斜控制电路412的控制目标值只变化相当于偏置量信号的偏置量。系统控制器343的另一端343C、343D分别加在存储电路346和切换开关347上，对它们进行控制。系统控制器343由微处理器和数字电路构成。存储电路343由包含A/D变换器和DRAM的数字电路构成。

本实施例的基本动作如下。

在校正模式下，在图31的盘301的规定的轨道上记录采样数据。这时，从偏置施加电路345输出偏置量信号345A，经切换开关347、偏置校正电路320和倾斜控制电路312加在倾斜驱动电路313上。这时，逐级改变倾角，对每一个倾角将相同的采样数据记录在别的轨道上。

对每一个轨道检测出已记录的采样数据，并进行相互比较，特别指定RF信号341A的振幅RFA最大的轨道。将与该轨道记录时的倾角对应的倾斜误差信号的电平作为记录时的偏置量存储在存储电路346中。

在通常模式下，在偏置校正电路320中，将存储电路存储的记录时的偏置量与倾斜误差信号进行加减计算来校正倾角。

其次，分校正模式和通常模式详细说明本实施例的动作。

首先，参照图32的流程图说明校正模式。将图31的光检测头302移动到盘301的初始轨道的位置。初始轨道(以后称第1轨道)是盘301的最内一圈的轨道，是不作为一般的数据记录用的区域。将切换开关347切换到接点347A(图32的流程图的步骤S601)。系统控制器343设定从偏置施加电路345输出的偏置量的初始值(步骤S602)。该初始值例如是使倾斜凸轮309旋转时倾斜误差检测电路311输出的倾斜误差信号401的最小值。其次，系统控制器343向光检测头302输出指示采样数据的记录的记录重放切换信号343A。在步骤S603光检测头302开始采样数据的记录。在步骤S604进行一个轨道的记录，在步骤S605结束记录。在步骤S606使光检测头302向盘的外圆周方向移动一个轨道。将该轨道称作第2轨道。在偏置校正电路320中，加上预先决定的微小的偏置量ΔT。在步骤S607开始对第2轨道进行采样数据的记录，在步骤S608进行第2轨道的记录，在步骤S609结束记录。

在步骤610利用偏置检测电路344检测偏置施加电路345设定的偏置量。在步骤S611将偏置量与轨道值进行比较，若偏置值没有达到规定值则返回步骤S606，进一步将光检测头302移动到向外圆方向的第3轨道，进行从步骤S606到S611的处理。

偏置量的规定值例如是使倾斜凸轮309旋转时倾斜误差信号401的最大值。

在步骤S611中，当偏置量达到规定值以上，将处理转移到S612。在步骤S612中，使图31的光检测头302移动到第1轨道，将偏置量设定成初始值。利用系统控制器343将光检测头302切换到重放，重放已记录的采样数据，检测表示输出的振幅RFA的RF振幅值(步骤S613)。将检测出的RF振幅值、偏置量和轨道位置成对地存储在存储电路346中(步骤S614)。系统控制器343使当前的偏置量加上ΔT(步骤S615)。再次重放已记录的采样数据，检测RF振幅值(步骤S616)。读出存储在存储电路346中的RF振幅值，与当前的RF振幅值进行比较(步骤S617)，当存储的RF振幅值小时，将当前的RF振幅值、偏置量和轨道位置存储在存储电路346中(步骤S618)。当存储的RF振幅值大于当前的RF振幅值时，进入步骤S619。利用偏置检测电路344检测从偏置施加电路345输出的偏置量，若没有达到规定值，则返回步骤S615，系统控制器343使从偏置施加电路345输出的偏置量加上ΔT(步骤S620)。当偏置量大于规定值时，则进入步骤S620，将偏置量设定成初始值。其次，在步骤S621中，使光检测头302向外圆周方向移动一个轨道，在步骤S622判定移动到的轨道是不是上述从步骤S601到S609已记录采样数据的轨道。当是记录采样数据的轨道时，返回步骤S615，当没有记录采样数据时，在步骤S623根据存储在存储电路346中的轨道位置算出已记录该轨道时的记录时偏置量，使记录时偏置量存储在存储电路346中，从而结束校正模式的动作。通过上述校正模式的动作，将RF信号的振幅RFA的最大值以及RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中。

在上述校正模式下，通过改变偏置量，与此对应改变光检测头302的倾角。通过改变倾角，使图51的(a)或(b)所示的光检测头302的光束的强度分布发生变化。如图51(B)所示，当光束的强度分布相对光轴OC不对称时，若倾角为规定值，则光轴象点划线所示的光轴OC-1那样倾斜。逐级改变偏置量，同时将采样数据记录在多个轨道上，并重放已记录的采样数据。通过从重放的采样数据中求出重放信号振幅值最大的采样数据的偏置量，可以求出上述倾角的规定值。将与上述‘倾角的规定值’对应的倾斜误差信号的电平称作‘记录时偏置量’。此外，将重放信号振幅值342A最大的偏置量称作‘重放时偏置量’。在偏置校正电路320中，通过记录时使用记录时偏置量、重放时使用重放时偏置量进行校正，使光束的强度分布如虚线所示那样变化并相对不倾斜的原来的光轴OC对称。因此，记录的沟如图51(c)所示那样相对轨道中心线对称。上述效果对图51(a)中的盘301的区域A和B的感光度不同的情况也一样。

其次，说明通常模式的动作。图33是表示通常模式的动作的流程图。在步骤S631中，系统控制器343使开关347切换到接点341B。在步骤S632中，系统控制器判别是记录动作还是重放动作，若是重放动作则向光检测头302输出指示重放动作的记录重放切换信号343A，并进入步骤S633。在步骤S633中，从存储电路346读出重放时的偏置量，并在步骤S635中经切换开关347将其加给偏置校正电路320，进行偏置校正。当在步骤S632中判定是记录动作时，系统控制器343向光检测头302输出表示记录动作的记录重放切换信号343A，并进入步骤S634。在步骤S634中，从存储电路346读出记录时偏置量，并在步骤S635中经切换开关347将其加给偏置校正电路320，进行偏置校正。通过上述通常模式的动作，如图51(c)所示那样，形成相对轨道中心线TC对称的沟。此外，重放时，如图51(d)所示那样，RF信号341A的振幅RFA变成最大。

在本实施例中，以依次使偏置量只改变ΔT再一个轨道一个轨道地进行采样数据的记录为例进行了说明。但是，记录各采样数据的轨道数并不限于1个，也可以记录在多个轨道上。因此，可以得到最佳的‘记录时偏置量’和‘重放时偏置量’。

《实施例9》

参照图31、图32、图34、图35和图51说明本发明的实施例9。对和上述各实施例相同的构成部件附加相同的符号并省略重复说明。图34是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。图中，2值化电路348在RF信号超过规定电平时将Hi、在RF信号不到规定电平时将Low的电压作为2值RF信号348A输出。2值化RF信号348A与光检测头302的光束照射在盘面上的位置上的沟的长度对应改变重放信号的Hi和Low的区间的时间宽度(以下称脉冲宽度)。当记录沟的长度和沟的间隔相等的采样数据时，将其重放信号的Hi和Low的区间的时间宽度的差称作‘脉冲宽度变动量’。RF2值化信号348A输入脉冲宽度变动检测电路349，检测出RF2值化信号348A的脉冲宽度变动量，输出脉冲变动信号349A。脉冲宽度变动信号349A输入系统控制器343。系统控制器343与后面要详细说明的各动作模式对应，向光检测头302输出记录/重放切换信号343A。

本实施例的基本动作如下。

在校正模式下，对图31的盘301的规定的轨道记录采样数据。这时，从偏置施加电路345输出偏置量信号345A，经切换开关347、偏置校正电路340和倾斜量控制电路312加在倾斜驱动电路313上。这时，与上述实施例8的情况一样逐级改变倾角，对每一个倾角分别将相同的采样数据记录在别的轨道上。

对各轨道检测已记录的采样数据，特别指定RF2值化信号348A的脉冲宽度变动量最小的轨道。将与向该轨道记录时的倾角对应的倾斜误差信号的电平作为记录时偏置量存储在存储电路346中。

在通常模式下，利用偏置校正电路320将存储在存储电路中的记录时偏置量与倾斜误差信号401相加减，对倾角进行校正。

其次，说明本实施例的校正模式时的动作。

参照图35的流程图说明校正模式。

步骤S701～S712的处理因与图32的S601～S612相同，故省略重复说明。

在步骤S712中，使光检测头302在第1轨道上移动，设定偏置量的初始值，利用系统控制器343光光检测头302切换到重放，重放已记录的采样数据。2值化重放信号后检测2值化RF信号348A的脉冲宽度变动量(步骤S713)。将检测出的脉冲宽度变动量、偏置量和轨道位置成对地存储在存储电路346中(步骤S714)。系统控制器343使当前的偏置量加ΔT(步骤S715)。再次重放已记录的采样数据，并检测脉冲宽度变动量(步骤S716)。读出存储在存储电路346中的脉冲宽度变动量，并与当前的脉冲宽度变动量进行比较(步S717)，当存储的脉冲宽度变动量大时，将当前的脉冲宽度变动量、偏置量和轨道位置存储在存储电路346中(步骤S718)。当存储的脉冲宽度变动量在当前的脉冲宽度变动量以下时，进入步骤S719。因步骤S719～S723与图32的步骤S619～S623相同，故省略重复说明。

通过上述校正模式的动作，将已把重放信号2值化的2值化RF信号348A的脉冲宽度变动量的最小值以及脉冲宽度变动量最小时的记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中。

在上述校正模式下，通过改变偏置量，可以与其对应改变光检测头302的倾角。通过改变倾角，使图51的(a)或(b)所示的光检测头302的光束的强度分布发生变化。如图51(b)所示，当光束的强度分布相对光轴不对称时，若倾角是规定角，则光轴象点划线所示的光轴OC1那样倾斜。在逐级改变偏置量的同时向多个轨道记录采样数据，重放已记录的采样数据。通过从重放的采样数据中求出脉冲宽度变动量最小时的偏置量，可以求出上述倾角的规定值。将与上述‘倾角的规定值’对应的倾斜误差信号401的电平称作‘记录时偏置量’。此外，将重放信号振幅值342A最大的偏置量称作‘重放时偏置量’。结果，使光束的强度分布如虚线所示那样变化，相对不倾斜的原来的光轴0C对称。因此，记录的沟如图51(c)所示那样相对轨道中心TC对称。上述效果对图51(a)中的盘301的区域A和B的感光度不同的情况也一样。

《实施例10》

DVD-R等一次性写入盘(只能记录一次的盘)存在可以使用上述实施例8和9的校正模式的区域受到限制、校正时追记次数受到限制的问题。此外，还存在采样数据的记录需要较长时间的问题。为了解决上述问题，事先将记录时偏置量和重放时偏置量的差作为记录时相加偏置量求出来。记录数据时，只读出重放偏置量，实施与记录时相加偏置量相加后作为记录时偏置量的模式(以下称学习模式)。实施例10的通常模式时的动作因与实施例9相同故省略其说明。

参照图31、图32、图36、图37和图51说明本发明的实施例10。对和上述各实施例相同的构成部件附加相同的符号并省略重复说明。图34是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成与实施例8的图31相同。

本实施例的基本动作如下。

在规定的时间(例如装置出厂时)实施实施例8或实施例9的校正模式，将记录时偏置量和重放时偏置量的差作为‘记录时相加偏置量’存储在存储电路346中。当对盘301记录数据时，在学习模式下，将采样数据记录在盘301的规定的轨道上。这里，切换开关347与接点347A和347B都不连接，变成释放状态。一边进行倾斜控制使由倾斜误差检测电路311检测出的倾角为0，一边记录采样数据。其次，逐级改变倾角来重放已记录的采样数据，特别指定RF信号342A的振幅RFA最大时的偏置量并将其作为‘重放时偏置量’存储在存储电路346中。此外，将记录时相加偏置量与重放时偏置量相加的偏置量作为‘记录时偏置量’存储在存储电路346中。

在通常模式下，在偏置校正电路320中将存储在存储电路中的记录时偏置量与倾斜误差信号相加减，进行倾角校正。

其次，详细说明本实施例的校正模式和学习模式时的动作。

首先参照图36的流程图说明校正模式。处理A表示图32的步骤S601～S623的处理。在步骤S624中，系统控制器343从存储电路346读出记录时偏置量和重放时偏置量，算出它们的差并将其作为记录时相加偏置量存储在存储电路346中。通过该校正模式将RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量的差存储在存储电路346中。

其次，参照图37的流程图说明学习模式。使光检测头移动到盘301的初始轨道位置上。初始轨道是在盘301的未记录的轨道中最里一圈的轨道，在一般的数据记录不使用的区域内。切换开关347与接点347A和347B都不连接，变成释放状态，使加在偏置校正电路上的偏置量为0，进行倾斜控制，使由倾斜误差检测电路311检测出的倾角为0(步骤S801)。其次，系统控制器343向光检测头302输出指示数据的记录的记录重放切换信号。在步骤S802中，光检测头302开始采样数据的记录。在步骤S803中，进行1轨道的记录，在步骤S804中结束记录。在步骤S805中使光检测头302移动到初始轨道上，在步骤S806中，将开关347切换到接点347A，将偏置量设定成初始值。该初始值例如是倾斜凸轮309旋转时从倾斜误差检测电路311输出的倾斜误差信号401的最小值。其次，利用系统控制器343使光检测头302切换到重放，重放已记录的采样数据，检测表示输出的振幅RFA的RF振幅值(步骤S807)。将检测出的RF振幅值和偏置量成对地存储在存储电路346中(步骤S808)。系统控制器343使当前的偏置量与偏置量ΔT相加(步骤S809)。再重放已记录的采样数据，并检测出RF振幅值(步骤S810)。读出存储在存储电路346中的RF振幅值，将其与当前的RF振幅值比较(步骤S811)，当存储的RF振幅值小时，把当前的RF振幅值和偏置量存储在存储电路346中(步骤S812)。当存储的RF振幅值大于当前的RF振幅值时，进入步骤S813。利用偏置检测电路344检测从偏置施加电路345输出的偏置量，若没有达到规定值，则返回步骤S809。接着，利用系统控制器343使从偏置施加电路345输出的偏置量与偏置量ΔT相加。当偏置量在规定值以上时进入步骤S814，读出存储在存储电路346中的记录时相加偏置量和重放时偏置量。在步骤S815中，使记录时相加偏置量和重放时偏置量相加，并将其作为记录时偏置量存储在存储电路346中，结束学习模式。通过上述学习模式，将RF信号振幅的最大值以及RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中。在通常模式下，通过进行和实施例9相同的记录/重放动作，如图51(c)所示那样，形成相对轨道中心线TC对称的沟。此外，重放时，RF信号341A的振幅值最大，大大提高了记录/重放信号的检测精度。与实施例8相比的不同点是一旦实施了校正模式后只实施学习模式即可。学习模式因只进行1个轨道的采样数据的记录故能够减少调整时使用的盘的区域和调整时间。

再有，本实施例学习RF信号的振幅最大时的偏置量，但若和实施例9一样，学习2值化RF信号的脉冲宽度变动量最小时的偏置量，也可以得到同样的效果。本实施例的通常模式时的动作因与上述实施例8相同，故省略其说明。

《实施例11》

参照图31、图37、图38和图51说明本发明的实施例11。本实施例的光学的信息记录重放装置的构成与实施例8的图31相同。

本实施例的基本动作如下。

在规定的时间(例如盘出厂时)实施实施例8或实施例9的校正模式，将记录时偏置量和重放时偏置量的差作为‘记录时相加偏置量’记录在盘301上。当对盘301记录数据时，在学习模式下，将采样数据记录在盘301的规定的轨道上。这里，切换开关347与接点347A和347B都不连接，变成释放状态。一边进行倾斜控制使由倾斜误差检测电路311检测出的倾角为0，一边将采样数据记录在盘301上。其次，逐级改变倾角来重放已记录的采样数据，特别指定RF信号342A的振幅RFA最大时的偏置量并将其作为‘重放时偏置量’存储在存储电路346中。此外，将记录时相加偏置量与重放时偏置量相加的偏置量作为‘记录时偏置量’存储在存储电路346中。

在通常模式下，在偏置校正电路320中将存储在存储电路中的记录时偏置量与倾斜误差信号401相加减，进行倾角校正。

其次，详细说明本实施例的校正模式和学习模式时的动作。

首先参照图38(a)的流程图说明校正模式。处理A表示图32的步骤S601～S623的处理。在步骤S625中，系统控制器343在校正模式下使光检测头移动到记录采样数据用的轨道的1轨道的外圆周一侧的轨道上。其次，在步骤S626中从存储电路346读出记录时偏置量和重放时偏置量，算出它们的差并将其作为记录时相加偏置量记录在盘301上。通过该校正模式将RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量的差存储在存储电路346中。

其次，参照图38(b)的流程图说明学习模式。处理B表示图37的步骤S801～S814的处理。

在步骤S816中，使光检测头移动到在1轨道内圆周的校正模式时记录记录时相加偏置量的轨道上，读出记录时相加偏置量和重放偏置量。在步骤S817中，使记录时相加偏置量和重放时偏置量相加，并将相加的结果作为记录时偏置量存储在存储电路346中，结束学习模式。通过上述学习模式，将RF信号振幅的最大值以及RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中。在通常模式下，通过进行和实施例8同样的记录/重放动作，如图51(c)所示那样，形成相对轨道中心线TC对称的沟。因此，重放时，RF信号341A的振幅值最大，大大提高了记录/重放信号的检测精度。与实施例8相比的不同点是一旦实施了校正模式后只实施学习模式即可。学习模式因只进行1个轨道的采样数据的记录故能够减少调整时使用的盘的区域和调整时间。

再有，本实施例学习RF信号的振幅RFA最大时的偏置量，但若和实施例9一样，学习2值化RF信号的脉冲宽度变动量最小时的偏置量，也可以得到同样的效果。本实施例的通常模式时的动作因与上述实施例8相同，故省略其说明。

《实施例12》

参照图39、图40和图51说明本发明的实施例12。对和上述各实施例相同的构成部件附加相同的符号并省略重复说明。本实施例的校正模式、学习模式和通常模式时的动作与上述实施例8到实施例10相同，但根据装置周围温度和装置的使用时间适当选择各模式的动作去执行这一点与上述各实施例8～10不同。图39是表示本实施例的光学的信息记录重放装置的构成的方框图。在图39中，实施例12的装置除实施例8的各部件之外还具有测定装置工作的总时间的定时器352和记录装置识别部351，记录装置识别部351为了识别记录装置记录有能够唯一地指定例如具有记录装置的制造厂家的名称、型号和生产号的装置的信息(以后称装置号)。此外，还具有检测装置周围的温度的温度传感器324。将定时器352的时间信息、从记录装置识别部351读出的装置识别号和温度传感器的温度信息输入到系统控制器343中。下面说明象上述那样构成的实施例12的光学的信息记录重放装置的动作。

本实施例的基本动作如下。

在规定的时间(例如盘出厂时)实施本发明实施例8或实施例9的校正模式，将记录时偏置量和重放时偏置量的差作为记录时相加偏置量记录在盘301的记录了校正模式下的采样数据的轨道的1轨道外圆周一侧的轨道上。在装置的使用期间，必要时根据下面示出的条件实施校正模式或学习模式。在盘301的感光特性和光检测头302的光学特性因长期变化和装置的使用环境(例如温度、湿度、气压)的变化而发生变动的情况下才有必要实施校正模式。

图40是表示本实施例的校正模式的详细动作的流程图。

首先，系统控制器343从定时器352读出装置工作的总时间(步骤S901)，判别装置工作的总时间是否超过了规定的时间(步骤S902)。若已超过则初始化定时器352并进入步骤S909。该规定时间最好是例如保证光检测头302工作的时间的1/10。若装置工作的总时间在规定时间以下，则进入S903，从盘301读出前面记录时的装置温度和装置号。若前面没有记录数据(步骤S904)，则进入S909。若前面有记录数据，则由记录装置识别部351读出当前装置号，与前面已进行记录的装置号比较(步骤S905)。若装置号不一致，则进入S909。若装置号一致则进入步骤S906，利用温度传感器324检测出当前的装置温度，将前面记录时的温度和当前的装置温度进行比较(步骤S905)。当温度一致或温度差在规定的范围之内时，进入步骤S908，从盘301读出前面记录时的记录时偏置量和重放时偏置量，并存储在存储电路346中，结束处理。当温度不一致或超过了规定的温度差时，进入步骤S909，实施从实施例8到实施例10所示的校正模式。接着，将记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中(步骤S910)。其次，利用温度传感器324检测当前的装置温度(步骤S911)，将记录时偏置量、重放时偏置量、装置温度和装置号记录在盘301上(步骤S912)。通过上述动作将RF信号振幅RFA的最大值以及RF信号的振幅RFA最大时的记录时偏置量和重放时偏置量存储在存储电路346中。通过进行和实施例9相同的通常模式下的记录/重放动作，如图51(c)所示那样，形成相对轨道中心线TC对称的沟。此外，重放时，RF信号341A的振幅值最大，大大提高了记录/重放信号的检测精度。

进而，与实施例8相比，当记录装置和记录时的温度等记录环境相同时，因不进行2次以上的采样记录，故可以减少调整时使用的盘的区域和调整时间。再有，本实施例学习RF信号的振幅最大时的偏置量，但若和实施例9一样，学习2值化RF信号的脉冲宽度变动量最小时的偏置量，也可以得到同样的效果。此外，在步骤S909中实施了校正模式，但通过实施学习模式，可以进一步减少调整时使用的盘的区域和调整时间。此外，利用定时器352测定装置工作的总时间并与规定值进行了比较，但如果例如将绝对时间(包含装置不工作的时间)或装置已进行记录动作的总时间与规定时间进行比较，也可以得到同样的效果。通过使用湿度传感器或压力传感器去代替温度传感器324，可以根据湿度或压力去执行校正模式的动作。再有，在本实施例中，已就通过学习光检测头的光轴和上述盘面在与信息轨道垂直的方向上的最佳倾角始终将其控制在最佳的控制目标值上的装置进行了说明，但是，控制的倾斜方向并不限于与信息轨道垂直的方向，通过改变导引轴307的结构，也可以通过学习在与信息轨道的切线平行的方向上的最佳倾角始终将其控制在最佳的控制目标值上。

工业上利用的可能性

如通过上述各实施例详细说明的那样，本发明的光学的信息记录重放装置即使在因温度环境的变化和构成光检测头的部件老化等影响而使光检测头的特性发生变动时，通过适当改变等效滤波器的特性，也可以利用跟踪传动器的驱动指令高精度地检测出物镜对光检测头的中心的偏移量。即，预先求出物镜的偏移量和跟踪误差信号的偏置及振幅的关系，对跟踪误差信号的偏置进行校正，使其和物镜偏移量为0的状态下的值相等。因此，即使物镜发生位置变动，也能够进行稳定的跟踪控制动作。进而，求出物镜的偏移量及倾斜量和跟踪误差信号的偏置及振幅的关系，对跟踪误差信号的偏置进行校正，使其和物镜偏移量为0且倾角为0的状态下的值相等。因此，即使发生物镜位置变动和盘倾斜的情况，也能够进行稳定的跟踪控制动作。此外，在本发明的光学的信息记录重放装置中，预先存储与光检测头的移动方向有关的倾斜误差信号的偏置。利用旋转方向检测部检测光检测头的移动方向，根据上述存储的偏置去校正倾斜误差信号，因此，即使在因伴随温度环境的变化和光检测头的移动出现的导引齿条的变形而使倾斜误差信号的偏置变动的情况下，也能够抑制与移动方向有关的倾斜控制误差。可以控制从光检测头发出的光束的倾斜，使其始终垂直照射在盘301上，可以大幅度提高信息记录重放装置的稳定性。此外，对于可记录的盘来说，通过在校正模式时对盘进采样数据的记录或重放，可以求出倾角的控制目标。通过与装置所处的环境条件对应去改变该控制目标值，可以始终保持最佳的控制目标值。进而，预先学习记录时和重放时的最佳控制目标值的差，并存储在装置的存储装置或盘中。记录数据时只求出重放时的最佳控制目标值，使其与预先存放的记录时和重放时的最佳控制目标值的差相加后作为记录时的控制目标值。因此，可以缩短求最佳控制目标值所需要的盘的记录区域和时间。

Claims (35)

1．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

沿轨道记录信息的盘；

包括具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的装置的光检测头；

检测上述光点和记录在上述光盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；

使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；

包含用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的补偿运算部的跟踪控制部；

根据上述补偿运算部的输出推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；

检测上述跟踪误差信号的偏置的偏置检测部；

将上述偏置检测部的输出和上述物镜偏离推算部的输出成对存储的存储部；

和从上述存储部输出与上述物镜偏离推算部的输出对应的上述偏置检测部的输出并对上述跟踪误差信号的偏置进行校正的偏置校正部。

2．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

沿轨道记录信息的盘；

包括具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的装置的光检测头；

检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；

使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；

包含用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的补偿运算部的跟踪控制部；

根据上述补偿运算部的输出推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；

检测上述跟踪误差信号的振幅的振幅检测部；

将上述振幅检测部的输出和上述物镜偏离推算部的输出一一对应存储的存储部；

和从上述存储部输出与上述物镜偏离推算部的输出对应的上述振幅检测部的输出并对上述跟踪误差信号的振幅值进行校正的振幅校正部。

3．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

沿轨道记录信息的盘；

包括具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的装置的光检测头；

检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；

使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；

用来与上述跟踪误差信号对应控制上述透镜移动部的跟踪控制环路；

与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制环路；

推算物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离推算部；

和用来与上述物镜偏离推算部推算的物镜的光轴的偏移量对应控制上述透镜移动部的跟踪校正控制环路。

4．权利要求1记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：上述跟踪控制部至少具有积分运算部和比例运算部，

上述物镜偏离推算部包括具有与上述透镜移动部的传输特性大致相等的传输特性的探测器部

5．权利要求2记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：上述跟踪控制部至少具有积分运算部和比例运算部，

上述物镜偏离推算部包括具有与上述透镜移动部的传输特性大致相等的传输特性的探测器部。

6．权利要求1记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：将上述积分运算部的输出或把上述积分部和上述比例运算部的输出相加的信号输入给上述探测器部。

7．权利要求2记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：将上述积分运算部的输出或把上述积分部和上述比例运算部的输出相加的信号输入给上述探测器部。

8．权利要求1记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：当上述跟踪控制部从动作停止状态开始动作时，将利用上述偏置检测部检测出的偏置量输入上述偏置校正部，将利用上述振幅检测部检测出的振幅值输入上述振幅校正部，上述跟踪控制部在开始动作且经过一定时间之后，将上述第1存储部的输出输入上述偏置校正部，而且，使上述第2存储部的输出输入上述振幅校正部。

9．权利要求2记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：当上述跟踪控制部从动作停止状态开始动作时，将利用上述偏置检测部检测出的偏置量输入上述偏置校正部，将利用上述振幅检测部检测出的振幅值输入上述振幅校正部，上述跟踪控制部在开始动作且经过一定时间之后，将上述第1存储部的输出输入上述偏置校正部，而且，使上述第2存储部的输出输入上述振幅校正部。

10．权利要求1记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有检测上述跟踪移动部附近的温度的温度检测部，根据上述温度检测部的输出改变上述探测器部的传输特性。

11．权利要求2记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有检测上述跟踪移动部附近的温度的温度检测部，根据上述温度检测部的输出改变上述探测器部的传输特性。

12．权利要求1记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有检测上述跟踪移动部附近的温度的温度检测部，根据上述温度检测部的输出改变上述探测器部的传输特性。

13．权利要求2记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有检测上述跟踪移动部附近的温度的温度检测部，根据上述温度检测部的输出改变上述探测器部的传输特性。

14．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

沿轨道记录信息的盘；

包括具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的装置的光检测头；

检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；

使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；

与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制部；

检测物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离检测部；

检测上述跟踪误差信号的偏置的偏置检测部；

检测上述光检测头的光束和上述盘面的在与信息轨道垂直方向上的倾斜量的倾斜检测部；

使上述偏置检测部的输出和上述物镜偏离检测部的输出以上述倾斜检测部的输出一一对应存储的存储部；

和从上述存储部输出与上述物镜偏离检测部的输出和上述倾斜检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述跟踪误差信号的偏置的偏置校正部。

15．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

记录信息的盘；

包括具有物镜并在上述盘的记录面照射光点的装置的光检测头；

检测上述光点和记录在上述盘上的信息轨道的位置偏移量并与位置偏移量对应输出跟踪误差信号的跟踪误差检测部；

使上述光检测头的物镜沿横切上述信息轨道的方向移动的透镜移动部；

与上述跟踪误差信息对应控制上述透镜移动部的跟踪控制部；

检测物镜的光轴相对上述光检测头的光束的中心位置的偏离的物镜偏离检测部；

检测上述光检测头的光束和上述盘面的在与信息轨道垂直方向上的倾斜量的倾斜检测部；

检测上述跟踪误差信号的振幅的振幅检测部；

使上述振幅检测部的输出和上述物镜偏离检测部的输出及上述倾斜检测部的输出一一对应存储的存储部；

和从上述存储部输出与上述物镜偏离检测部的输出和上述倾斜检测部的输出对应的上述振幅检测部的输出并校正上述跟踪误差检测部的跟踪误差信号的振幅值的振幅校正部。

16．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头；

具有使上述光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；

检测上述光检测头的移动方向的移动方向检测部；

检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜并作为倾斜误差信号输出的倾斜误差检测部；

使上述光检测头和上述倾斜误差检测部一体倾斜的倾斜驱动部；

用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的倾斜控制部；

检测上述倾斜误差信号的偏置的偏置检测部；

使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出成对存储的存储部；

和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的偏置校正部。

17．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头；

具有使上述光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；

检测上述光检测头的移动方向的光检测头移动方向检测部；

设在上述光检测头上、具有检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾角的倾斜传感器并输出表示上述倾角的倾斜误差信号的倾斜误差检测部；

使上述光检测头和上述倾斜传感器一体倾斜的倾斜驱动部；

用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的倾斜控制部；

检测上述倾斜误差信号的偏置的偏置检测部；

配置在上述倾斜传感器的附近的温度检测部；

使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出及上述温度检测部的输出成组存储的存储部；

和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出和上述温度检测部输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的偏置校正部。

18．权利要求16记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：当在正方向或负方向旋转中的上述检测头移动电机向相反方向转动一个转动角时，上述检测头移动方向检测部使检测头移动方向的检测方向反向。

19．权利要求16记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：上述倾斜控制部至少具有可变积分运算部和比例运算部，根据上述光检测头的移动状态切换上述积分运算部和比例运算部的增益。

20．权利要求16记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：上述倾斜误差检测部具有对上述盘的记录面照射光的光源、从上述盘接收反射光的分成两半的光检测器、使上述分成两半的光检测器的各输出相加的加法运算部、使上述分成两半的光检测器的各输出相减的减法运算部和用上述加法运算部的输出去除上述减法运算的输出的除法运算部，将上述除法运算部的输出作为倾斜误差信号输出。

21．一种光学的信息记录重放装置，其特征在于，包括：

包含物镜、将光点照射在在信息轨道上记录或重放信息的光盘的记录面上的光检测头；

包含使上述光检测头沿横切上述信息轨道的方向移动的检测头移动电机的检测头移动部；

检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜量并作为倾斜误差信号输出的倾斜误差检测部；

使上述光检测头和上述倾斜检测部一体倾斜的倾斜驱动部；

用来根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部使倾斜量与表示规定的倾斜量的倾斜控制目标值相等的倾斜控制部；

和使上述倾斜控制部的控制目标值变化的控制目标值变更部。

22．权利要求21记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有在对上述盘进行重放动作时和记录动作时切换上述控制目标值的切换部。

23．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放信号振幅检测部和控制目标值计算部，重放信号振幅检测部检测利用上述光检测头读出的信息重放信号的振幅值，控制目标计算部在使上述控制目标值在规定的范围内变化来进行记录动作并对上述已记录的区域进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号振幅检测部检测出的重放信号的振幅最大的记录动作时和重放动作时的上述控制目标值。

24．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放信号脉冲宽度变动量检测部和控制目标值计算部，重放信号脉冲宽度变动量检测部检测由上述光检测头读出的信息重放信号的脉冲宽度变动量，控制目标值计算部在使上述控制目标值在规定的范围内变化来进行记录动作并对上述已记录的区域进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号脉冲宽度变动量检测部检测出的变动量最小的记录动作时和重放动作时的上述控制目标值。

25．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放信号振幅检测部、控制目标差存储部和重放时控制目标值计算部，重放信号振幅检测部检测利用上述光检测头读出的信息重放信号的振幅值，控制目标差存储部存储上述记录动作时和上述重放动作时的上述控制目标值的差，重放时控制目标计算部在将上述控制目标值设定成规定的值来进行记录动作并对上述已记录的区域进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号振幅检测部检测出的重放信号的振幅最大时的上述控制目标值。

在记录动作时将由上述重放时控制目标计算部算出的控制目标值和上述控制目标差存储部的存储值的和作为控制目标值。

26．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放信号脉冲宽度变动量检测部、控制目标差存储部和重放时控制目标值计算部，重放信号脉冲宽度变动量检测部检测由上述光检测头读出的信息重放信号的脉冲宽度变动量，控制目标差存储部存储上述记录动作时和上述重放动作时的上述控制目标值的差，重放时控制目标值计算部在将上述控制目标值设定成规定值来进行记录动作并对上述已记录的区域进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号脉冲宽度变动量检测部检测出的变动量最小时的上述控制目标值。

在记录动作时将由上述重放时控制目标计算部算出的控制目标值和上述控制目标差存储部的存储值的和作为控制目标值。

27．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放时控制目标计算部，在上述盘具有的根据检测由上述光检测头读出的信息重放信号的振幅值的重放信号振幅检测部的输出存储上述记录动作时和上述重放动作时的上述控制目标值的差的区域内，在将上述控制目标值设定成规定值来进行记录动作并对上述记录的区域内进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号振幅检测部检测出的重放信号的振幅最大时的上述控制目标值，

在记录动作时将由上述重放时控制目标计算部算出的控制目标值和上述控制目标差存储部的存储值的和作为控制目标值。

28．权利要求22记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：具有重放时控制目标计算部，在上述盘具有的根据检测由上述光检测头读出的信息重放信号的脉冲宽度变动量的重放信号脉冲宽度变动量检测部的输出存储上述记录动作时和上述重放动作时的上述控制目标值的差的区域内，在将上述控制目标值设定成规定值来进行记录动作并对上述记录的区域内进行重放动作时，算出这时的由上述重放信号脉冲宽度变动量检测部检测出的重放信号的脉冲宽度变动量最小时的上述控制目标值，

在记录动作时将由上述重放时控制目标计算部算出的控制目标值和上述控制目标差存储部的存储值的和作为控制目标值。

29．权利要求21记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：当光学的信息记录重放装置的环境条件变化超过规定的范围时，改变上述控制目标值。

30．权利要求29记载的光学的信息记录重放装置，其特征在于：上述环境条件的变更包括光学的信息记录重放装置的实环境的温度、湿度、气压、长期变化、光学存储装置的变更和盘的变更的任何一种变更。

31．一种光学的信息记录重放方法，其特征在于，包括：

使为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的步骤；

检测上述检测头的移动方向的步骤；

检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜并作为倾斜误差信号从倾斜误差检测部输出的步骤；

使上述光检测头和上述倾斜误差检测部一体倾斜的步骤；

根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的步骤；

利用偏置检测部检测上述倾斜误差信号的偏置的步骤；

使上述偏置检测部的输出和上述光检测头的移动方向检测部的输出成对存储的步骤；

和从上述存储部读出与上述光检测头的移动方向检测部的输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的步骤。

32．一种光学的信息记录重放方法，其特征在于，包括：

使为了在盘的信息轨道上记录或重放信息而经物镜将光点照射在上述盘的记录面上的光检测头沿横切上述盘的信息轨道的方向移动的步骤；

检测上述检测头的移动方向的步骤；

利用设在上述光检测头上的倾斜传感器检测光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾角的步骤；

检测表示上述倾角的倾斜误差信号并输出的步骤；

使上述光检测头和上述倾斜传感器一体倾斜的步骤；

根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部的步骤；

利用偏置检测部检测上述倾斜误差信号的偏置的步骤；

检测上述倾斜传感器附近的温度的步骤；

使上述偏置检测部的输出、上述光检测头移动方向的检测输出和上述温度的检测输出成对存储的步骤；

和从上述存储部读出与上述光检测头移动方向的检测输出和上述温度的检测输出对应的上述偏置检测部的输出并校正上述倾斜误差信号的偏置的步骤。

33．一种光学的信息记录重放方法，其特征在于，包括：

使包含物镜并将光点照射在在信息轨道上记录或重放信息的光盘的记录面上的光检测头沿横切上述信息轨道的方向移动的步骤；

检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜量并作为倾斜误差信号输出的步骤；

使上述光检测头和上述倾斜检测部一体倾斜的步骤；

根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部使倾斜量与表示规定的倾斜量的倾斜控制目标值相等的步骤；

和使上述倾斜控制部的控制目标值变化的控制目标值变更的步骤。

34．一种光学的信息记录重放方法，其特征在于，包括：

使包含物镜并将光点照射在在信息轨道上记录或重放信息的光盘的记录面上的光检测头沿横切上述信息轨道的方向移动的步骤；

检测上述光检测头的光束的光轴和上述盘面的倾斜量并作为倾斜误差信号输出的步骤；

使上述光检测头和上述倾斜检测部一体倾斜的步骤；

根据上述倾斜误差信号控制上述倾斜驱动部使倾斜量与表示规定的倾斜量的倾斜控制目标值相等的步骤；

使上述倾斜控制部的控制目标值变化的控制目标值变更步骤；

和将上述倾斜控制目标值记录在上述盘的规定的区域内的步骤。

35．权利要求34记载的光学的信息记录重放方法，其特征在于：上述盘的规定区域设在比决定作为数据记录区的区域靠内圆周一侧，使用该区域来记录上述倾斜控制目标值。

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