JP4265419B2 - 光ディスク装置および光ディスク装置の記録方法 - Google Patents
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Description
20にて、記録中の光ディスク101に照射されているパワーの熱効率の変化量として、演算される。ここで、図2のレベルA、B、Cは、記録中にレーザパワーの熱で光ディスクの有機色素を熱分解している瞬間であり、熱分解が進行すればするほど、反射光量は減少するという特性をもっているため、記録パワーの光ディスク盤面への効率がよければ、レベルCとなり、効率が悪くなればレベルB、Aと上昇する。従って、反射光A/D変換値比較手段121では、図2のレベルA、B及びレベルCの差分を算出し、その差分を打ち消すパワー補正量を演算し、レーザパワー制御手段122へ、補正パワー信号を出力する。レーザパワー制御手段122は、実際にレーザパワーを可変させるデジタル信号を出力し、レーザ駆動用電流変換手段123によって、電流値へと切り替えられ、レーザ駆動手段124に伝達され、光ピックアップモジュール内部のレーザダイオード114のレーザパワーが切り替わることで、記録中の最適記録パワーを一定に保つ制御となっている。
対物レンズを前記光ディスクの半径方向に傾けるチルト手段と、光ディスクからの反射光の反射光量を検出する反射光量検出手段と、起動処理時に予め光ディスク全面において半径位置に応じた初期チルト値とそのときの温度を取得し、記録中に光ディスクの所定の半径位置ごとに記録を中断させることなく対物レンズを傾かせて起動処理時に得られた初期チルト値とその初期チルト値に対して光ディスクの半径方向外周側のチルト値と光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、そのときの温度を取得し、求めたチルト値を、反射光量を検出した光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正する制御手段と、起動処理時における半径位置に応じた初期チルト値と温度ならびに記録中における所定の半径位置に応じたチルト値と温度を対応させた複数の組を記憶する記憶手段とを備えたものである。
対物レンズを光ディスクの半径方向に傾けるチルト手段と、光ディスクからの反射光の反射光量を検出する反射光量検出手段と、起動処理時に予め光ディスク全面において半径位置に応じた初期チルト値とそのときの温度を取得し、記録中に光ディスクの所定の半径位置ごとに記録を中断させることなく対物レンズを傾かせて起動処理時に得られた初期チルト値とその初期チルト値に対して光ディスクの半径方向外周側のチルト値と光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、そのときの温度を取得し、求めたチルト値を、反射光量を検出した光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正する制御手段と、起動処理時における半径位置に応じた初期チルト値と温度ならびに記録中における所定の半径位置に応じたチルト値と温度を対応させた複数の組を記憶する記憶手段とを備えたものである。
図1は本発明の実施の形態における光ディスク装置のチルト制御及びフォーカス制御のブロック図である。図1において101は光ディスク、102はピックアップモジュール、103はスピンドルモータ、104はフォーカス駆動コイル、105は対物レンズ、116は反射光受光手段、117は反射光演算手段、118は反射光検出手段、119は反射光A/D変換手段、120は反射光A/D変換値演算手段、121は反射光A/D変換値比較手段、131はチルト・フォーカス値演算手段、107はフォーカス制御手段、106はフォーカス駆動手段、132はチルト補正結果・ディスク半径位置・温度記憶手段、133はチルト・フォーカス制御許可・禁止認識手段、109はデジタルサーボコントローラ、134はCPUである。
施したのち、通常記録へ以降する。そして前回前記処理を行った位置から光ディスク半径位置に対して、1mm対物レンズが移動したことを検知したときに、再度前記同様の処理を実施する。
101 光ディスク
101a 保護層
101b 記録層
101c 記録面
102 ピックアップモジュール
103 スピンドルモータ
104 フォーカス駆動コイル
105 対物レンズ
106 フォーカス駆動手段
107 フォーカス制御手段
108 チルト値演算手段
109 デジタルサーボコントローラ
114 レーザダイオード
116 反射光受光手段
117 反射光演算手段
118 反射光検出手段
119 反射光A/D変換手段
120 反射光A/D変換値演算手段
121 反射光A/D変換値比較手段ーザパワー制御手段
123 レーザ駆動用電流変換手段
124 レーザ駆動手段
131 チルト・フォーカス値演算手段
132 チルト補正結果・ディスク半径位置・温度記憶手段
133 チルト・フォーカス制御許可・禁止認識手段
134 CPU
Claims (6)
- 記録型の光ディスクに対し、レーザ光の発光パターンを利用してデータを記録する光ディスク装置であり、前記レーザ光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に傾けるチルト手段と、
前記光ディスクからの反射光の反射光量を検出する反射光量検出手段と、
起動処理時に予め前記光ディスク全面において半径位置に応じた初期チルト値とそのときの温度を取得し、記録中に前記光ディスクの所定の半径位置ごとに記録を中断させることなく前記対物レンズを傾かせて起動処理時に得られた前記初期チルト値とその初期チルト値に対して前記光ディスクの半径方向外周側のチルト値と前記光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において前記光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、そのときの温度を取得し、前記求めたチルト値を、反射光量を検出した前記光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正する制御手段と、
起動処理時における前記半径位置に応じた前記初期チルト値と温度ならびに記録中における前記所定の半径位置に応じた前記チルト値と温度を対応させた複数の組を記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。 - 前記光ディスクの所定の半径位置ごとにチルト値を求めるか否かの情報を格納する認識手段を備え、
前記制御手段は、前記所定の半径位置ごとにチルト値を求めるか否かを認識し、チルト値を求めると認識したときに前記対物レンズを傾かせて起動処理時に得られた前記初期チルト値とその初期チルト値に対して前記光ディスクの半径方向外周側のチルト値と前記光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において前記光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、前記求めたチルト値を、反射光量を検出した前記光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記制御手段は、再生動作及び追記動作のときの温度に応じて、前記記憶手段に記憶された複数の組の中から最も近い温度の組のチルト値を選択してチルト補正することを特徴とする請求項1または請求項2記載の光ディスク装置。
- 起動処理時には予め記録型の光ディスク全面において半径位置に応じた初期チルト値とそのときの温度を取得し、
前記光ディスクに対しレーザ光を発光して記録するとき、
前記レーザ光を前記光ディスクに対物レンズを介して集光させ、
前記光ディスクの所定の半径位置ごとに記録を中断させることなく前記体物レンズを傾かせて起動処理時に得られた前記初期チルト値とその初期チルト値に対して前記光ディスクの半径方向外周側のチルト値と前記光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において前記光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、そのときの温度を取得し、前記求めたチルト値を、反射光量を検出した前記光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正し、起動処理時における前記半径位置に応じた前記初期チルト値と温度ならびに記録中における前記所定の半径位置に応じた前記チルト値と温度を対応させた複数の組を記憶することを特徴とする光ディスク装置のチルト制御方法。 - 前記所定の半径位置ごとにチルト値を求めるか否かを認識し、チルト値を求めると認識したときに前記対物レンズを傾かせて起動処理時に得られた初期チルト値とその初期チルト値に対して前記光ディスクの半径方向外周側のチルト値と前記光ディスクの半径方向内周側のチルト値の複数のチルト値において前記光ディスクからの反射光量を検出しその反射光量が最小となるチルト値を求め、前記求めたチルト値を、反射光量を検出した前記光ディスクの半径位置に対応したチルト値として生成してチルト補正することを特徴とする請求項4記載の光ディスク装置のチルト制御方法。
- 再生動作及び追記動作のときの温度に応じて、起動処理時における前記半径位置に応じた前記初期チルト値と温度ならびに記録中における前記所定の半径位置に応じた前記チルト値と温度を対応させた複数の組の中から最も近い温度の組のチルト値を選択してチルト補正することを特徴とする請求項4または請求項5記載の光ディスク装置のチルト制御方法。
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