CN103516350A - 输出驱动器以及使用所述输出驱动器的数据输出驱动电路 - Google Patents
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Abstract
提供一种输出驱动器以及使用所述输出驱动器的数据输出驱动电路。所述输出驱动器包括:上拉驱动器和下拉驱动器,其中,上拉驱动器包括以三阶或更多阶的堆栈结构在高压和输出节点之间连接的至少三个上拉晶体管,下拉驱动器包括以三阶或更多阶的堆栈结构在接地节点和输出节点之间连接的至少三个下拉晶体管。
Description
本申请要求于2012年6月27日提交的第10-2012-0069125号韩国专利申请的优先权,该申请的全部内容通过引用包含于此。
技术领域
在此的发明构思涉及一种半导体装置的驱动电路,更具体地讲,涉及一种输出驱动器和使用所述输出驱动器的数据输出驱动电路。
背景技术
在最近的半导体芯片中,通常使用要求低电源电压和高速度操作的高速接口IP。作为在芯片中构成操作电路的装置,具有针对1.8V的操作的介质栅极氧化膜的CMOSFET比具有针对3.3V的厚栅极氧化膜的CMOSFET更经常被使用。
然而,输入/输出电路仍然需要支持要求1.8V至3.3V的接口电压的应用。当施加3.3V电压时,通过具有针对1.8V的操作的介质栅极氧化膜的CMOSFET制造的输入/输出电路由于装置的破坏而难以进行操作。
使用低压晶体管制造的用于高压的通用输入/输出(GPIO)电路可能面临以下问题中的至少一个:由于过压引起的晶体管装置的可靠性下降;静态功耗的增加;操作速度的下降和宽范围性能的限制。即,GPIO难以可靠并迅速地支持移动领域或高速应用领域。
发明内容
本总体发明构思提供一种具有可通过高压和宽范围电压操作使用的一个或多个晶体管的驱动器以及具有所述驱动器的输出电路装置。
本发明的另外方面和效用将在下面的描述中部分地阐明,并且从描述中部分是明显的,或者可通过本总体发明构思的实施可以被理解。
本发明构思的实施例的提供一种输出驱动器。所述输出驱动器可包括:在电压供应节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第一传导型的第一、第二和第三晶体管的上拉驱动器以及在接地节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第二传导型的第一、第二和第三晶体管。
本发明构思的实施例还提供一种数据输出驱动电路。所述数据输出驱动电路可包括:参考电压产生器,用于在不依据外部控制的情况下自治地将监控高压的电压和与电源电压进行比较,以不同地产生参考电压作为偏压;电平转换器,用于将输入数据转换到高压的摆动电平,以将转换的输入数据输出为上拉驱动控制电压;动态栅极控制单元,用于接收高压和参考电压作为操作电源,并响应于输出节点电压的电压电平、上拉驱动控制电压的电压电平和输入数据的电压电平,产生上拉栅极控制电压和下拉栅极控制电压;具有上拉驱动器和下拉驱动器的输出驱动器,其中,在上拉驱动器中,第一传导型的第一、第二和第三晶体管在电压供应节点和输出节点之间通过共源共栅结构被连接;在下拉驱动器中,第二传导型的第一、第二和第三晶体管在接地节点和输出节点之间通过共源共栅结构被连接;输出驱动器的驱动操作由动态栅极控制单元来控制。
本发明构思的实施例还提供一种电平转换器。所述电平转换器可包括:通过偏压单元彼此连接的上拉单元和下拉单元;加速单元,增加通过第一门控节点施加的输入数据的电平转换操作速度;连接在加速单元和上拉单元之间的数据争用防止单元,用于通过在下拉单元中的下拉晶体管进行操作之前截止上拉单元中的上拉晶体管来防止输出上拉驱动控制电压的输出端的数据争用;连接在偏压单元和下拉单元之间的热载流子注入防止单元,用于防止热载流子注入到下拉单元中的下拉晶体管。
本发明构思的实施例还提供一种控制输出驱动器的方法。所述方法可包括:形成作为输出驱动器的上拉驱动器和下拉驱动器,其中,在所述上拉驱动器中,第一传导型的第一、第二和第三晶体管以共源共栅结构在高于电源电压的高压供应节点和输出节点之间连接,在所述下拉驱动器中,第二传导型的第一、第二和第三晶体管以共源共栅结构在接地节点和输出节点之间连接;当依据输入数据上拉上拉驱动器时,控制第一传导型的第一、第二和第三晶体管中的每个晶体管的漏极和源极之间的电压差在电源电压的电平以下;当依据输入数据下拉下拉驱动器时,控制第二传导型的第一、第二和第三晶体管中的每个晶体管的漏极和源极之间的电压差在电源电压的电平以下。
本总体发明构思的上述和/或其他特征以及效用可通过一种输出驱动器来实现,所述输出驱动器包括:上拉驱动器,包括:在电压供应节点和板的输出节点之间连接的三个或更多个第一类型晶体管;下拉驱动器,包括:在板的输出节点和接地电位节点之间连接的三个或更多个第二类型晶体管。输出电压可根据上拉驱动器和下拉驱动器的交替操作通过板的输出节点被输出。
三个或更多个第一类型晶体管和三个或更多个第二类型晶体管可分别以低于电压供应节点的电压和输出节点的电压之间的差的操作电压和低于输出节点的电压和接地节点的电压之间的差的操作电压处于能够操作的状态。
上拉驱动器和下拉驱动器可选择性地将输出电压输出到板的输出节点;输出电压可具有与电压供应节点的电压相同的电压范围。
上拉驱动器和下拉驱动器可选择性地以电压供应节点的高压处于能够操作的状态,并且三个或更多个第一类型的晶体管和三个或更多个第二类型的晶体管可以以低于电压供应节点的高压的一半的低压处于能够操作的状态。
上拉驱动器和下拉驱动器可根据输入数据和电压供应节点的电压的电平选择性地处于能够操作的状态。
上拉驱动器的所述三个或更多个第一类型的晶体管可具有用于依次接收相应的栅极信号的栅极,以便上拉驱动器响应于电压供应节点的电压和输出节点的电压之间的差处于能够操作的状态。下拉驱动器的所述三个或更多个第二类型的晶体管可具有用于依次接收相应的栅极信号的栅极,以便下拉驱动器响应于输出节点的电压和接地节点的电压之间的差处于能够操作的状态。
电压供应节点和输出节点之间的上拉驱动器的电压的上拉电压范围可与输出节点和接地节点之间的下拉驱动器的电压的下拉电压范围相同。将被施加到每个晶体管的电压的电压范围可小于上拉电压范围和下拉电压范围。
晶体管具有小于电压供应节点的电压的操作电压。上拉驱动器和下拉驱动器中的每个驱动器的三个或多个晶体管的数量可以是至少二和与操作电压和电压供应节点的电压的比相应的数之和。
本发明构思的上述和/或其他特征以及效用可通过提供电子系统来实现,所述电子系统包括:输出驱动器控制单元,用于响应于输入数据和电压供应节点的电压,依次产生上拉栅极信号和下拉栅极信号;包括上拉驱动器和下拉驱动器的输出驱动器,其中,上拉驱动器包括根据连续的上拉栅极信号能够进行操作的在电压供应节点和板的输出节点之间串联连接的三个或更多个第一类型晶体管,以将输出电压输出到板的输出节点;下拉驱动器包括根据连续的下拉栅极信号能够进行操作的在板的输出节点和接地节点之间串联连接的三个或更多个第二类型晶体管,以将输出电压输出到板的输出节点。
所述系统还可包括连接到板的输出节点的功能电路,用于根据板的输出节点的输出电压执行所述功能电路的功能。输出节点的输出电压和电压供应节点的电压可具有最大电压范围,并且施加到各个晶体管的电压可具有低于最大电压范围的一半的电压范围。
附图说明
通过下面结合附图对实施例的描述,本总体发明构思的这些和/或其它特征和效用将变得清楚并更易于理解,其中:
图1是示出简单的两阶下拉驱动器的下拉操作的示图。
图2是示出根据本发明构思的实施例的输出驱动器的电路图。
图3是根据本发明构思的实施例的图2的输出驱动器的操作波形。
图4是根据本发明构思的实施例的图2的输出驱动器的操作波形。
图5是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图2的输出驱动器的输出驱动电路的示图。
图6是示出根据本总体发明构思的实施例的图5的电平转换器的电路图。
图7是示出根据本总体发明构思的实施例的图5的电压产生器的电路图。
图8是示出根据本总体发明构思的实施例的图5的动态栅极控制单元的电路图。
图9是根据本总体发明构思的实施例的图5的数据输出驱动电路的操作波形。
图10是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图5的数据输出驱动电路的数据处理系统的框图。
图11是示出根据本总体发明构思的实施例的图10的数据处理系统的芯片布局结构的示图。
图12是被施加到图11的电源板的电压波形的示例。
图13是根据本总体发明构思的实施例的使用图5的数据输出驱动电路的半导体存储器装置的框图。
图14是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图5的数据输出驱动电路的电子系统的框图。
具体实施方式
将参照附图更充分地描述本发明构思的实施例,其中,在附图中示出本发明的实施例。然而,本发明可以以许多不同形式被实现,而不应该被解释为限于在此阐述的实施例。相反,这些实施例被提供以使此公开是彻底和完整的,并将向本领域的技术人员充分传达本发明构思的范围。在附图中,为了清楚,可夸大层和区域的尺寸和相对尺寸。相同标号始终表示相同元件。
图1是示出简单的两阶下拉驱动器2的下拉操作的示图。参照图1,由两阶堆栈结构构成的下拉驱动器2可设置在输出板和地面之间。
下拉驱输出板驱动器2的漏极包括:第一N型MOS晶体管NM1,具有连接到输出板的漏极和用于接收偏压的栅极;第二N型MOS晶体管NM2,具有分别连接到第一N型MOS晶体管NM1和地面的漏极和源极以及用于接收下拉驱动电压G3的栅极。
如果第一N型MOS晶体管NM1和第二N型MOS晶体管NM2被制造为将在低压操作中使用的装置,则因为可靠性下降所以难以将晶体管NM1和NM2应用于高压操作。在晶体管NM1和NM2被制造为具有针对1.8V操作的介质栅极氧化膜的情况下,当在高压操作中施加高压(例如,3.3V的电压)时,晶体管NM1和NM2的操作可靠性会由于热载流子注入(HCI)特性的脆弱性而严重下降。
在图1的曲线图4中,水平轴表示时间,垂直轴表示电压。参照曲线图图4,当下拉操作在高压操作(例如,在3.3V的操作)中开始时,第一N型MOS晶体管NM1的漏极和源极之间的电压Vds可具有电压差W。在曲线图图4中,G1指示下拉驱动器2的输出板的电压,G2指示第一N型MOS晶体管NM1的源极的电压。G3指示施加到第二N型MOS晶体管NM2的栅极的电压。
在3.3V的操作中,如果正被施加到第二N型MOS晶体管NM2的栅极的下拉驱动电压G3从OV向1.8V上升,则第二N型MOS晶体管NM2导通。此时,G2的电压电平的下降速度比G1的电压电平的下降速度块。这是因为连接到输出板的第一N型MOS晶体管NM1的负载大于第二N型MOS晶体管NM2的负载。因此,在开始下拉操作时由电压差W来表示第一N型MOS晶体管NM1的漏极和源极之间的电压Vds。W是1.98V或大于1.98V。如果制造用于1.8V操作的第一N型MOS晶体管NM1的漏极和源极之间的电压是1.98V或大于1.98V,则热载流子注入(HCI)现象可被包括在第一N型MOS晶体管NM1中。由于晶体管的栅极氧化膜可能被破坏或损坏,因此操作可靠性会下降。如果由针对低压操作的制造处理所制造的输出驱动器被使用在高压操作,则由于正被堆栈的晶体管的热载流子注入(HCI)特性的脆弱性,输出驱动器难以可靠地执行高压操作和高速操作。
由于具有简单的下拉驱动器的输出驱动器需要使用单独的外部管脚来控制偏压,因此在不使用单独的外部PIN的情况下,难以具有宽范围的电压操作。
在本发明构思的实施例中,可准备输出驱动器以包括通过三阶共源共栅结构连接源极-漏极通道或漏极-源极通道的上拉驱动器或下拉驱动器。
图2是示出根据本发明构思的实施例的输出驱动器的电路图。
参照图2,输出驱动器包括上拉驱动器10和下拉驱动器20,其中,上拉驱动器10在电压供应节点OVDD和输入节点NO1之间具有通过共源共栅结构连接的多个晶体管(例如,第一传导型(P型)晶体管的第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3),下拉驱动器20在接地节点VSS和输出节点NO1之间具有通过共源共栅结构连接的多个晶体管(例如,第二传导型(N型)晶体管的第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3)。
高压(或当被触发时的第一电源电压)、第一电源电压(或当被触发时的高压)和接地电压(或当被触发时的第一电源电压)可被分别顺序地施加到第一传导型(P型)晶体管的第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3的栅极,并且接地电压(当被触发时的第二电源电压)、第二电源电压和高压(或当被触发时的第二电源电压)可被分别顺序地施加到第二传导型(N型)晶体管的第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3的栅极。
高压OVDD可以是3.3V,第二电源电压可以是1.8V。第一电源电压是通过从高压减去第二电源电压而获得的电压,并可大约为1.5V。因此,第二电源电压高于第一电源电压。
可使用针对1.8V的操作的CMOS制造处理来制造第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3以及第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3。构成图2的输出驱动器的晶体管是具有针对1.8V的操作的介质栅极氧化膜的CMOSFET。
这里,N型MOS晶体管可被称为NMOSFET,P型MOS晶体管可被称为PMOSFET。
连接到输出驱动器的输出板PAD的输出节点NO1的电压摆动范围可以是从0V到3.3V。如果逻辑“低”的输入数据被施加,则输出节点NO1的电压通过驱动上拉驱动器10来变成3.3V。如果输入数据转变为逻辑“高”,则输出节点NO1的电压通过驱动下拉驱动器20而被触发为0V。
图3示出根据本总体发明构思的实施例的图2的输出驱动器的操作波形,图4示出根据本总体发明构思的实施例的图2的输出驱动器的操作波形。
参照图3,水平轴表示时间,垂直轴表示电压。曲线图GR1表示PMOS晶体管PM1的漏极节点PD1的电压波形,曲线图GR2表示PMOS晶体管PM2的漏极节点PD2的电压波形。曲线图GR3表示当执行上拉操作时连接到输出节点NO1的PAD的电压波形。
参照图4,水平轴表示时间,垂直轴表示电压。曲线图GR12表示NMOS晶体管NM1的漏极节点ND1的电压波形,曲线图GR11表示NMOS晶体管NM2的漏极节点ND2的电压波形。曲线图GR10表示当执行下拉操作时连接到输出节点NO1的PAD的电压波形。
参照图4,当执行3.3V的操作时,如图4的曲线图中所示,节点PAD、ND2和ND1的电压电平分别为3.3V、2.75V和1.5V。在此状态下,如果第一N型MOS晶体管NM1、第二N型MOS晶体管NM2和第三N型MOS晶体管NM3通过他们的栅极电压开始导通,则第三N型MOS晶体管NM3的漏极和源极之间的电压Vds在下拉操作开始时具有电压差W1,并且第二N型MOS晶体管NM2的漏极和源极之间的电压Vds在下拉操作开始时具有电压差W2。
在3.3V的操作中,图1的电压差W通过第三NMOS晶体管NM3和第二NMOS晶体管NM2被划分为电压差W1和W2。由于电压(例如,1.8V或小于1.8V)被给予或施加在针对低压操作(例如,1.8V的操作)制造的第一N型MOS晶体管NM1、第二N型MOS晶体管NM2和第三N型MOS晶体管NM3的漏极-源极之间,因此可减小或防止热载流子注入(HCI)的现象。
因此,防止晶体管的栅极氧化膜的破坏,从而提高输出驱动器的操作可靠性。即使在通过针对具有低压的低压操作的制造处理制造的输出驱动器被使用在具有高压的高压操作中的情况下,如果输出驱动器具有堆栈了三阶或更多阶的共源共栅结构,则输出驱动器可免于HCI特定的脆弱性。
图5是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图2的输出驱动器的数据输出驱动电路的示图。
参照图5,数据输出驱动电路包括:输入门控单元50、电平转换器100、参考电压产生器200、动态栅极控制单元300和输出驱动器30。这里,输入门控单元50、电平转换器100、参考电压产生器200、动态栅极控制单元300可被称为输出驱动器控制单元30a,以根据高偏压电压和参考电压产生将被适时地施加到具有要求低偏压的晶体管的输出驱动器30的控制信号(栅极控制信号)和输入数据,以便输出驱动器的晶体管可以以高偏压进行操作,以输出与高偏压相应的输出信号。
输入门控单元50根据输出使能(OE)信号的状态对输入数据DATA_IN进行门控,以将作为电源电压VDD的摆动电平的门控数据输出到第一门控节点ND10和第二门控节点ND11。输入门控单元50可包括NAND门GA1、反转器GA2和NOR门GA3。NAND门GA1接收输入数据DATA_IN和输出使能(OE)状态,以将NAND响应产生到第一门控节点ND10。反转器GA2使输出使能(OE)信号的状态反相。NOR门GA3接收NAND门GA1的输出被反转的逻辑,并输出反转器GA2的输出逻辑以将NOR响应(即,电压(或下拉驱动电压)NG1)产生到第二门控节点ND11。
在没有依据外部控制的情况下,参考电压产生器200自治地将与高压OVDD相应的电压和与电源电压VDD相应的电压进行比较,以不同地产生参考电压作为偏压PBIAS。可如图7所示实现参考电压产生器200。
电平转换器100将正被施加到第一门控节点ND10的NAND响应转换为高压OVDD的摆动电平,以将转换的数据作为上拉驱动控制电压PG1输出到P型MOS晶体管PM1。可如图6所示实现电平转换器100。
动态栅极控制单元300接收高压OVDD和参考电压PBIAS作为操作电源电压,并响应于PAD的输出节点(NO1)电压、上拉驱动控制电压PG1和作为通过第二门控节点ND11正被施加的输入数据的电压电平的电压NG1,来产生上拉栅极控制电压PG1和下拉栅极控制电压NG3。
动态栅极控制单元300接收输出节点NO1电压的反馈,以控制控制电压PG3和NG3的电平。如果连接到PAD的输出节点NO1为低,则PG3变成1.8V(VDD)。如果连接到PAD的输出节点NO1为高,则PG3变成1.5V(OVDD-VDD)并且NG3变成3.3V(OVDD)。可如图8所示实现动态栅极控制单元300。
输出驱动器30包括上拉驱动器10和下拉驱动器20,其中,上拉驱动器10具有在高压OVDD和输出节点NO1之间通过共源共栅结构连接的第一传导型的第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3,下拉驱动器20具有在接地节点和输出节点NO1之间通过共源共栅结构连接的第二传导型的第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3。由动态栅极控制单元300来控制输出驱动器30的驱动操作。
输出驱动器30可如图2所示被实现为上拉驱动器10和下拉驱动器20具有三阶堆栈共源共栅结构的输出驱动器。
在图5中,P型第一晶体管PM1的源极和栅极分别接收高压OVDD和上拉驱动控制电压PG1。
P型第二晶体管PM2的源极被连接到P型第一晶体管PM1的漏极,并且P型第二晶体管PM2的栅极接收偏压PBIAS作为栅极电压。P型第三晶体管PM3的源极被连接到P型第二晶体管PM2的漏极,P型第三晶体管PM3的栅极接收上拉栅极控制电压PG3并且P型第三晶体管PM3的漏极被连接到输出节点NO1。
N型第三晶体管NM3的漏极被连接到输出节点NO1并且N型第三晶体管NM3的栅极接收下拉栅极控制电压NG3。
N型第二晶体管NM2的漏极被连接到N型第三晶体管NM3的源极,并且N型第二晶体管NM2的栅极接收电源电压VDD。
N型第一晶体管NM1的漏极被连接到N型第二晶体管NM2的源极,N型第一晶体管NM1的栅极接收通过第二门控节点ND11正被施加的输入数据的电压电平,N型第一晶体管NM1的源极被连接到接地节点VSS。
第一传导型(P型)的第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3的栅极可分别接收上拉驱动控制电压PG1、偏压PBIAS或PG2和上拉栅极控制电压PG3。上拉驱动控制电压PG1、偏压(PBIAS或PG2)和上拉栅极控制电压PG3的摆动电平可分别是1.5V至3.3V、1.5V至3.3和0至1.5V。第一传导型(P型)的第一晶体管PM1、第二晶体管PM2和第三晶体管PM3可以以低于电压供应节点的高压的一半的低压进行操作。
第二传导型(N型)的第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3的栅极可接收通过第二门控节点ND11正被施加的输入数据的电压电平、电源电压VDD和下拉栅极控制电压NG3。输入数据的电压电平NG1、电源电压VDD和下拉控制电压NG3的摆动电平可分别是0V至1.8V、1.8V和1.8V至3.3V。第二传导型(N型)的第一晶体管NM1、第二晶体管NM2和第三晶体管NM3可以以低于电压供应节点的高压的一半的低压进行操作。
连接到输出板PAD的输出节点NO1的电压摆动范围可以从高压OVDD改变为接地电平VSS。高压OVDD的电平大约为3.3V。
偏压PBIAS可以是从高压OVDD减去电源电压VDD而获得的电压。
在第二PMOS晶体管PM2的栅极节点PG2和电源电压VDD之间连接的电容器C1是提供稳定以对电压流动进行缓冲的装置。
在图5中,电平转换器100具有作为上拉驱动器10的使能信号的上拉驱动控制电压PG1的高压耐受功能。
图5的数据输出驱动电路由低压装置构成,并用于高速和高压的电路,其中所述高压具有从OV触发至3.3V或从OV触发至1.8V的宽范围电压输出性能。尽管晶体管由针对1.8V的操作的制造处理制造,但是晶体管具有在3.3V的操作中减小或防止晶体管的损坏的结构。当执行宽范围操作时,电路的最大操作频率是200KHz或大于200KHz,即使在没有外部装置的控制操作的情况下,根据输入/输出(I/O)电压的偏压也被自动控制。
响应于作为上拉驱动器使能信号的上拉驱动控制电压PG1被施加到PM1的栅极,P型第一晶体管PM1导通或截止。通过电平转换器100来确定上拉驱动控制电压PG1的电压电平。
当上拉驱动控制电压PG1的电平达到导通设置电压PBIAS+Vtp(Vtp是电平转换器100的上拉晶体管的阈值电压)时,P型第一晶体管PM1导通。
当施加了高压(OVDD=3.3V)的上拉驱动控制电压PG1时,P型第一晶体管PM1截止。施加到P型第一晶体管PM1的栅极线端的电压被从PBIAS+Vtp触发到OVDD或从OVDD触发到PBIAS+Vtp。
从参考电压产生器200提供施加到P型第二晶体管PM2的偏压PG2。如果偏压PG2被施加到P型第二晶体管PM2的栅极,则防止大于1.8V的电压被施加在P型第一晶体管PM1的栅极和源极之间、在P型第一晶体管PM1的栅极和漏极之间、在P型第二晶体管PM2的栅极和源极之间以及在P型第二晶体管PM2的栅极和漏极之间。偏压BIAS是从I/O电源电压OVDD减去第二电源电压VDD而获得的电压。
P型第三晶体管PM3的栅极接收动态栅极控制单元300的上拉栅极控制电压PG3。当位于输出节点NO1的PAD的电压低(0V)时,提供0V的上拉栅极控制电压PG3,当PAD的电压高(3.3V或1.8V)时,提供PBIAS电压电平(OVDD-VDD)的上拉栅极控制电压PG3。如果PAD的电压从低电平转变为高电平,则P型第三晶体管PM3的漏极和源极之间的电压Vds通过PBIAS电压电平的上拉栅极控制电压PG3而维持在电源电压电平(1.8V)以下。
下拉驱动器20以与输出驱动器30的上拉驱动器10的操作相同的方式进行操作。N型第一晶体管NM1的栅极接收作为NOR门GA3的输出电压的下拉驱动控制电压NG1。如果下拉驱动控制电压为0V,则N型第一晶体管NM1截止。如果下拉驱动控制电压是电源电压VDD=1.8V,则N型第一晶体管NM1导通。N型第二晶体管NM2通过其栅极接收电源电压VDD。N型第二晶体管NM2可防止大于1.8V的电压被施加在N型第一晶体管NM1的栅极和源极之间、在N型第一晶体管NM1的栅极和漏极之间、在N型第二晶体管NM2的栅极和源极之间以及在N型第二晶体管NM2的栅极和漏极之间。
N型第三晶体管NM3的栅极接收下拉栅极控制电压NG3。当PAD的电压低时,提供具有电源电压VDD的电平的下拉栅极控制电压NG3。当PAD的电压高时,提供具有高压OVDD的电平的下拉栅极控制电压NG3。因此,即使当PAD的电压从高转变为低,在N型第三晶体管NM3的漏极和源极之间的电压Vds也维持在电源电压(VDD-1.8V)的电平以下。因此,保护构成下拉驱动器的晶体管不受由于HCI引起的装置劣化。
然而,本领域普通技术人员应理解,上拉驱动器和下拉驱动器中的每个驱动器中的晶体管的数量不限于三个,所述晶体管的数量可以至少是二和与操作电压和电压供应节点的电压的比相应的数之和。
图6示出根据本总体发明构思的实施例的图5的电平转换器100。
参照图6,电平转换器100包括通过由PMOSFET P4和P5构成的偏压单元140而彼此连接的上拉单元130和下拉单元150。
电平转换器100包括增加通过第一门控节点施加到线L10的输入数据的电平转换操作速度的加速单元160。
电平转换器100包括数据竞争防止单元170,数据争用防止单元170通过在下拉单元150中的下拉晶体管N2操作之前使上拉单元130中的上拉晶体管P2截止来防止用于输出上拉驱动控制电压PG1的输出节点NO30的数据竞争。电平转换器100连接在加速单元160和上拉单元130之间。
电平转换器100可包括用于防止热载流子注入到下拉单元150的下拉晶体管N2至N9的热载流子注入防止单元180。热载流子注入防止单元180可连接在偏压单元140和下拉单元150之间。
图6的电平转换器100是高压耐受电平转换器,并接收具有从0V到VDD的摆动电平的输入数据以将具有从PBIAS+Vtp到OVDD的摆动电平的上拉驱动控制电压PG1输出到输出节点NO30。如果输入数据从OV触发到VDD,则作为上拉驱动器10的使能信号的上拉驱动控制电压PG1也从PBIAS+Vtp触发到OVDD。如果输入数据从VDD触发到0V,则上拉驱动控制电压PG1从OVDD触发到PBIAS+Vtp。Vtp指示PMOSFET P2和P6的阈值电压。
热载流子注入防止单元180可包括P型MOS晶体管P14至P17以及N型MOS晶体管N16和N17,以便可控制下拉单元150中的下拉晶体管N4和N5的漏极和源极之间的电压差Vds。当下拉驱动控制电压被触发时,热载流子注入防止单元180减小下拉晶体管N4和N5的漏极-源极电压。结果,抑制电平转换器的HCI现象的出现。
数据争用防止单元170可包括P型MOS晶体管P8和P10,其中,所述P型MOS晶体管P8和P10的栅极分别连接到P型MOS晶体管P10和P8的彼此的漏极。
加速单元160连接在高压OVDD和连接到第一门控节点ND10的线L10之间,并可包括多个P型MOS晶体管P9、P11至P13以及多个N型MOS晶体管N10至N15以启动(kick)(开始)数据争用防止单元170的操作。加速单元160使数据争用防止单元170平滑地执行数据争用防止操作(预先截止P型MOS晶体管P2的操作)。结果,加速单元160可增加电平转换操作速度。如果被施加到线L10的输入数据的电平从0V转变到1.8V,则下拉单元150中的N型MOS晶体管N2开始导通。此时,P型MOS晶体管P2在特定时间段维持导通状态,而不截止。在P型MOS晶体管P2的导通操作期间,在节点NO70处的信号ND4的电压电平保持在大约OVDD的电平。因此,为了迅速降低ND4的电压电平,在加速单元160中的N型MOS晶体管N14导通,随后加速单元中的N型MOS晶体管N13和P型MOS晶体管P13依次导通。N型MOS晶体管N11通过输入数据导通并且N型MOS晶体管N10通过输入数据导通。信号ND4的电压电平迅速向接地电平下降。由于P型MOS晶体管P9的栅极电压向低电平下降,因此数据争用防止单元170的P型MOS晶体管P8导通,从而用于上拉单元130中的上拉的P型MOS晶体管P2最终导通。如果在用于在下拉单元150中的下拉的N型MOS晶体管N2操作之前截止用于上拉单元130中的上拉的P型MOS晶体管P2,则输出上拉驱动控制电压PG1的输出端NO30的数据争用可被防止或最小化。
图6中,当给予1.8V的高压OVDD时,N型MOS晶体管N6和N8通过其栅极接收高电平的使能信号EN18以进行操作。在此情况下,电平转换器用作1.8V的电平转换器。反转器I1连接在节点NO30和节点NO50之间,反转器I2连接在节点NO50和下拉单元150之间。
在图6的电平转换器中,可使用针对1.8V的操作的COMS晶体管制造处理来制造构成数据争用防止单元170、加速单元160和热载流子注入防止单元180的晶体管元件。
图6的电平转换器是转换VDD和OVDD之间可变的电平的电平转换器。
如果输入数据的电平是0V,则上拉驱动控制电压PG1的电平变成PBIAS+Vtp。如果输入数据从OV触发到VDD,则上拉驱动控制电压PG1从PBIAS触发到OVDD。
上拉单元130的PMOSFET P2和P3以及下拉单元150的NMOSFET N2和N3构成锁定型电平转换器。PMOSFET P4和P4通过其栅极接收偏压PBIAS。通过设置PMOSFET P4和P5,上拉单元130的PMOSFET P2和P3的漏极-源极电压维持在电源电压(VDD=1.8V)的电平以下。由于高压未施加在上拉单元130的PMOSFET P2和P3的漏极和源极之间,因此防止HCI现象的发生。
另外,通过设置NMOSFET N4和N5,下拉单元150的NMOSFET N2和N3的漏极-源极电压维持在电源电压(VDD=1.8V)的电平以下。由于高压未施加在上下拉单元150的NMOSFET N2和N3的漏极和源极之间,因此防止HCI现象的发生。
在输出节点NO30的输出电压改变的转变操作中,NMOSFET N4和N5的Vds可以是VDD或大于VDD。为了防止由于HCI而引起的装置劣化,准备热载流子防止单元180。热载流子注入防止单元180使NMOSFET N4和N5的Vds变成VDD或小于VDD。
在锁定型电平转换器中的PMOSFET P2、NMOSFET N2、PMOSFET P3和NMOSFET N3可具有它们同时导通的争用操作部分。争用操作部分可成为降速的原因。由PMOSFET P8和P9构成的数据争用防止单元170在NMOSFET N2导通之前截止PMOSFET P2,并减小或移除争用操作部分。
可通过构成加速单元160和数据争用防止单元170的晶体管N10至N14以及P8至P13来最小化或减小PMOSFET P3的尺寸。因此,当NMOSFET N3导通时,PMOSFET P3导通的争用操作部分被最小化。
节点NO20的PGB电压向通过PMOSFET P8的导通操作设置的高电平上升,并且在PGB电压上升到高电平之后,PMOSFET P8截止。其后,PGB电压通过PMOSFET P3维持高电平。尽管PMOSFET P3的尺寸小,但是PGB电压通过构成加速单元160和数据争用防止单元170的晶体管来维持高电平。加速单元160使电平转换器在例如200MHz或大于200MHz的频率上进行操作。
图7示出根据本总体发明构思的实施例的图5的参考电压产生器200。
参照图7,参考电压产生器200可包括电压产生器220和电流缓冲器230。
电压产生器单元220包括差分放大器式的比较器Amp1并可不同地产生参考电压PBIAS,其中,所述比较器Amp1将通过将高压OVDD除以电阻R1和R2所获得的电压与电源电压VDD进行比较。连接到电源电压VDD的电阻器R3和连接到高压OVDD的电阻器R1可具有相同的电阻。
参考电压PBIAS可以是高压OVDD和电源电压VDD之差(即,通过从高压OVDD减去电源电压VDD而获得的电压)。
电流缓冲器230可包括两个比较器Amp2和Amp3以及晶体管NM10和PM10。电流缓冲器230连接到比较器的输出端子以对参考电压PBIAS的波动(fluctuation)进行缓冲。电流缓冲器230执行将高电流供应到PBIAS的功能。当输出驱动器转变时,可由于感应电流而发生参考电压PBIAS的波动。电流缓冲器230最小化所述波动以使参考电压的电平稳定。
I/O电源被改变为宽范围,使得参考电压产生器200的参考电压PBIAS的输出电平自动改变。即,在没有分离的外部控制的情况下,由OVDD-VDD来表示参考电压PBIAS。
根据I/O电压改变偏压可从包括芯片设计的系统电平设计来考虑。然而,如果使用参考电压产生器200,则不需要考虑改变偏压。因此,根据本总体发明构思的实施例,具有第一偏压的系统在没有改变第一偏压的情况下,将第一偏压施加到输出驱动器,其中,所述输出驱动器具有需要低于第一偏压的第二偏压的晶体管。
图8示出根据本总体发明构思的实施例的图5的动态栅极控制单元300。
动态栅极控制单元300包括第一MOS晶体管NM20、第二NMOS晶体管NM21、第一PMOS晶体管PM20和第二PMOS晶体管PM21。每个晶体管可以是场效应晶体管(FET)。
第一NMOS晶体管NM20包括用于接收参考电压PBIAS的漏极、用于接收输出节点NO1电压的栅极以及用于接收上拉栅极控制电压PG3的源极。
当第二NMOS晶体管NM21响应于正被施加到其栅极的输入数据电压时,第二NMOS晶体管NM21的漏极-源极通道连接在第一NMOS晶体管NM20的源极和电位(例如,接地节点的电位)之间。
第一PMOS晶体管PM20包括用于接收高压OVDD的源极和用于输出响应于上拉驱动控制电压PG1的下拉栅极控制电压NG3的漏极。
当第二PMOS晶体管PM21通过其栅极接收输出节点NO1的电压时,第二PMOS晶体管PM21的漏极-源极通道连接在下拉栅极控制电压NG3和电源电压(VDD,NG2)之间。
如果NG1和PG1高,则在节点NO1上的PAD的板电压变低。因此,第一NMOS晶体管NM20截止并且第二NMOS晶体管NM21导通,从而PG3变成0V。第一PMOS晶体管PM20截止并且第二PMOS晶体管PM21导通,从而NG3变成OVDD电平。
图9是示出图5的数据输出驱动电路的操作波形的曲线图。
图9示出当在诸如200MHz的频率下根据诸如5pF负载的负载对图5的数据输出驱动电路进行操作时获得的仿真结果。
曲线图包括三种情况。水平轴表示时间,垂直轴表示电压。
第一情况CA1的波形表示当OVDD是3.3V并且VDD是1.8V时的输出驱动器的PG1、PAD和PBIAS的波形。
PAD波形的高部分中,PBIAS的电平升到大约1.6V或大于1.6V。
第二情况CA2的波形表示当OVDD是2.5V并且VDD是1.8V时的输出驱动器的PG1、PAD和PBIAS的波形。
第三情况CA3的波形表示当OVDD是1.8V并且VDD是1.8V时的输出驱动器的PG1、PAD和PBIAS的波形。
通过图9的仿真结果,由针对低压制造的晶体管构成的输出驱动电路可以以高速度和高压操作以及宽范围输出性能进行操作。
图10是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图5的电路的数据处理系统的框图。
参照图10,数据处理系统包括半导体集成电路1000和第一电路2100以及第二电路2200。
第一电路2100可以是用于3.3V操作的电路,第二电路2200可以是用于1.8V操作的电路。第一电路2100和第二电路2200可以是用于根据从半导体集成电路1000发送到相应的第一电路2100和/或第二电路2200的信号来执行数据处理系统的功能的功能装置或单元。第一电路2100和第二电路2200可还包括用于执行与信号相应的功能的机械元件和/或电子元件。
半导体集成电路1000可包括第一电路块1100、第二电路块1200和第三电路块1300。第一电路块1100可以是半导体存储器、控制器、CPU或微处理器。第二电路块1200是接口电路。第三电路块1300是可应用图5中所示的电路的输出电路。
当从第一电路块1100输出的数据高时,数据的电平可约为1.0V。第二电路块1200可对1.0V到1.8V电平的数据进行交互。第三电路块1300对1.0V到1.8V电平的数据进行电平转换,以通过输出节点PA1将3.3V的电平转换的数据提供给第一电路2100。
当第三电路块1300具有1.8V的电平转换输出时,第二电路块1200被移除。在此情况下,第三电路块1300通过输出节点PA1将1.8V的电平转换的数据提供给第二电路2200。
如果以如图5中所示的数据输出驱动电路来实现第三电路块1300,则即使使用针对低压制造的装置,可可靠地实现高速和高压操作。
如果第一电路块1100是半导体存储器,则可以以易失性存储器装置或非易失性存储器装置来实现第一电路块1100。
当以易失性存储器装置来实现第一电路块1100时,易失性存储器装置可以是DRAM或SRAM。
当以非易失性存储器装置来实现第一电路块1100时,非易失性存储器装置可以是掩模型ROM、电可擦可编程ROM(EEPROM)、可擦可编程ROM(EEPROM)等。由于EEPROM可电可擦或写入数据,因此EEPROM的应用向需要连续更新或辅助存储器装置的系统编程扩展。由于与传统的EEPROM相比,闪速EEPROM具有高集成度,因此可有利地施加到大量存储辅助存储器装置。
图11示出根据本总体发明构思的实施例的图10的数据处理系统的第一电路块1100的芯片布局结构。
参照图11,核逻辑102布置在数据处理系统的第一电路块1100的芯片的中心。I/O电路104布置得与核电路102相比靠近于芯片的边缘。
在触板109至104当中,触板112是输入的专用板,触板111是输出的专用板。触板110是用于输入和输出两者的板。
在触板109至114当中,触板112是用于供应电源电压VDD的板。触板113是用于供应接地电压VSS的板。触板112和113可连接到核逻辑102。
触板114是用于供应高压OVDD或用于I/O的电压的板,并可连接到I/O电路104。
I/O电路104接收高压OVDD、电源电压VDD和接地电压VSS,以执行图5的数据输出驱动电路的功能。
在此情况下,将参照图12解释高压的电平和电源电压的电平。
图12示出正被施加到图11的电源板的电压波形。
波形121示出正被施加到板114的高压OVDD的电平。波形120示出正被施加到板112的电源电压VDD的电平。在图12中,水平轴表示时间,垂直轴表示电压。
由于I/O电路104接收通过如图11中所示的板112和113设置的电压电平来执行图5的电路功能,因此I/O电路104提供图5的电路所具有的高压和高速度操作。可可靠地实现I/O电路的设计的功能。
图11的芯片可包括各种类型的封装(例如,PoP(堆栈封装)、球栅阵列(BGA)、芯片级封装(CSP)、塑料引脚芯片载体(PLCC)、塑料双列直插式封装(PDIP)、窝伏尔封装芯片(die)、晶圆式芯片(die)、板上芯片(COB)、陶瓷双列直插式封装(CERDIP)、金属四方扁平封装(MQFP)、薄塑封四角扁平封装(TQFP)、小外型集成电路(SOIC)、窄间距小外型塑封(SSOP)、薄型小尺寸封装(TSOP)、薄塑封四角扁平封装(TQFP)、系统级封装(SIP)、多芯片封装、晶圆级组合封装(WFP)和晶圆级处理的堆栈封装(WSP))。
图13示出根据本总体发明构思的实施例的使用图5的电路的半导体存储器装置的框图。
参照图13,半导体装置1400可包括存储器阵列730、行解码器760、列解码器770、命令/地址/写入数据缓冲器728以及输出数据缓冲器724。
存储器阵列730可包括多个DRAM存储单元、SRAM存储单元、NAND型EEPROM单元和NOR型EEPROM单元。
命令/地址/写入数据缓冲器728接收命令、地址和写入数据以执行缓冲。
行解码器760对行地址进行解码以选择存储器阵列730的行。列解码器770对列地址进行解码以选择存储器阵列730的列。
输出数据缓冲器724对从存储器阵列730输出的数据进行缓冲。在读取操作模式中,输出数据缓冲器724将输出数据输出到I/O总线734。
可使用图5的电路来实现输出数据缓冲器724。在此情况下,半导体存储器装置可执行高压操作和高速操作。可在输出数据缓冲器724中实现宽范围电压操作以将宽范围输出性能提供给系统。
图14是示出根据本总体发明构思的实施例的使用图5的电路的电子系统2000的框图。
参照图14,电子系统2000可包括计算机电路802,所述计算机电路802包括:存储器1400、输入装置804、输出装置806和数据存储装置808。为了便于用户,还可在电子系统2000中包括用户输入812。用户输入端812可以是包括数字键、功能键等的输入装置,并执行使电子系统2000与人进行交互的功能。
在图14中,在还包括显示单元的情况下,显示单元可以以具有背光的液晶装置、具有LED光源的液晶装置或OLED装置来实现。显示单元用作通过颜色显示图像(例如,字符、数字、画面等)的输出装置。
电子系统2000可在需要时通过添加和减去构成元件来用作移动通信装置或智能卡。
电子系统2000可通过分离的接口连接到外部通信装置。通信装置可以是数字通用盘(DVD)播放器、计算机、机顶盒(STB)、游戏机器、数字摄像机等。
尽管未在附图中示出,但是电子系统还可包括应用芯片集、相机图像处理器(CIS)、移动DRAM等。
数字存储装置808可存储具有各种类型的数据(诸如,文本、图形、软件代码等)的信息。
数据存储装置808可以以电可擦可编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器、磁随机存取存储器(MRAM)、自旋转移矩MRAM、导体桥接RAM(CBRAM)、铁电RAM(FeRAM)、被称为奥氏标准化存储器的相变RAM(PRAM)、阻变RAM(RRAM)、纳米管RRAM、聚合物RAM(PoRAM)、纳米管浮栅存储器(NFGM)、全息图存储器、分子电子存储器装置或绝缘体阻变存储器来实现。
由用于低压的晶体管构成的图5的电路可被安装在计算机电路802、数据存储装置808或输出装置806中。在此情况下,输出操作的速度增加以提高电子系统2000的性能。
根据本发明构思的一些实施例,可通过针对低压制造的晶体管来可靠地实现高压操作和高速操作。在输出装置或使用输出驱动器的数据输出驱动电路中实现宽范围电压操作。
上述说明本发明构思而不被解释为限制本发明构思。尽管已描述了本发明构思的一些实施例,但本领域的技术人员将易于理解,在实质上不脱离本发明的新颖的教导和优点的情况下,可在实施例中进行许多改变。因此,所有这样的修改意图被包括在由权利要求来限定的本发明的范围中。本发明通过权利要求以及将被包括的权利要求的等同物来限定。
Claims (42)
1.一种输出驱动器,包括:
上拉驱动器,包括:在电压供应节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管;
下拉驱动器,包括:在接地节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第二传导型的第一、第二和第三晶体管。
2.如权利要求1所述的输出驱动器,其中,第一高压、第一电源电压和接地电压被施加到第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管的各个栅极。
3.如权利要求2所述的输出驱动器,其中,接地电压、第二电源电压和第二高压被施加到第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管的各个栅极。
4.如权利要求3所述的输出驱动器,其中,第二电源电压高于第一电源电压。
5.如权利要求3所述的输出驱动器,其中,第一高压施加到电压供应节点。
6.如权利要求3所述的输出驱动器,其中,第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管是PMOSFET,第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管是NMOSFET。
7.如权利要求3所述的输出驱动器,其中,第一高压、第一电源电压和第二电源电压分别是3.3V、1.5V和1.8V。
8.如权利要求3所述的输出驱动器,其中,第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管是使用针对1.8V的操作电压的CMOS制造处理制造的输出驱动器。
9.如权利要求8所述的输出驱动器,其中,输出节点的电压摆动范围是从0V到3.3V。
10.一种数据输出驱动电路,包括:
参考电压产生器,用于在不依据外部控制的情况下自治地将与高压相应的电压与电源电压进行比较,以不同地产生参考电压作为偏压;
电平转换器,用于将输入数据转换到高压的摆动电平,以将转换的输入数据输出为上拉驱动控制电压;
动态栅极控制单元,用于接收高压和参考电压作为操作电源,并响应于输出节点电压的电压电平、上拉驱动控制电压的电压电平和输入数据的电压电平,产生上拉栅极控制电压和下拉栅极控制电压;
输出驱动器,包括:上拉驱动器和下拉驱动器,其中,上拉驱动器包括在电压供应节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管;下拉驱动器包括在接地节点和输出节点之间通过共源共栅结构连接的第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管;输出驱动器的驱动操作由动态栅极控制单元控制。
11.如权利要求10所述的数据输出驱动电路,其中,第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管的栅极分别接收上拉驱动控制电压、偏压和上拉栅极控制电压。
12.如权利要求11所述的数据输出驱动电路,其中,第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管的栅极接收输入数据的电压电平、电源电压和通过第二门控节点施加的下拉栅极控制电压。
13.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,其中,输出节点的电压摆动范围在高压电平和接地电平之间。
14.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,其中,第一传导型是P型,第二传导型是N型。
15.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,还包括:
输入门控单元,根据输出使能状态信号对输入数据进行门控,以通过第一门控节点将门控的输入数据输出到电平转换器作为电源电压的摆动电平,并通过第二门控节点将门控的输入数据输出到动态栅极控制单元作为电源电压的摆动电平。
16.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,其中,偏压是通过从高压减去电源电压而获得的电压。
17.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,其中,使用针对1.8V的操作电压的CMOS晶体管制造处理来制造第一传导型和第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管的栅极氧化层。
18.如权利要求12所述的数据输出驱动电路,其中:
第一传导型是P型,第二传导型是N型;
P型第一晶体管的源极接收高压,P型第一晶体管的栅极接收上拉驱动控制电压;
P型第二晶体管的源极连接到P型第一晶体管的漏极,P型第二晶体管的栅极接收偏压;
P型第三晶体管的源极连接到P型第二晶体管的漏极,P型第三晶体管的栅极接收上拉栅极控制电压,并且P型第三晶体管的漏极连接到输出节点。
19.如权利要求18所述的数据输出驱动电路,其中:
N型第三晶体管的漏极连接到输出节点,N型第三晶体管的栅极接收下拉栅极控制电压;
N型第二晶体管的漏极连接到N型第三晶体管的源极,N型第二晶体管的栅极接收电源电压;
N型第一晶体管的漏极连接到N型第二晶体管的源极,N型第一晶体管的栅极接收通过第二门控节点被施加的输入数据的电压电平,并且N型第一晶体管的源极连接到接地节点。
20.如权利要求18所述的数据输出驱动电路,其中,输入门控单元包括:
NAND门,用于接收输入数据和输出使能状态,以通过第一门控节点产生NAND响应;
反转器,用于使输出使能状态反相;
NOR门,用于接收将NAND门的输出反相后的逻辑和反转器的输出逻辑,以通过第二门控节点产生NOR响应。
21.如权利要求18所述的数据输出驱动电路,其中,参考电压产生器包括:差分放大器式比较器,用于将通过将高压除以电阻而获得的电压和电源电压进行比较来不同地产生参考电压。
22.如权利要求18所述的数据输出驱动电路,其中,电平转换器包括:
通过偏压单元彼此连接的上拉单元和下拉单元;
加速单元,增加通过第一门控节点施加的输入数据的电平转换操作速度;
连接在加速单元和上拉单元之间的数据争用防止单元,用于通过在下拉单元中的下拉晶体管进行操作之前预先截止上拉单元中的上拉晶体管来防止输出上拉驱动控制电压的输出端的数据争用;
连接在偏压单元和下拉单元之间的热载流子注入防止单元,用于防止热载流子注入到下拉单元中的下拉晶体管。
23.如权利要求18所述的数据输出驱动电路,其中,动态栅极控制单元包括:
第一NMOS晶体管,具有用于接收参考电压的漏极,用于接收输出节点电压的栅极和用于输出上拉栅极控制电压的源极;
第二NMOS晶体管,具有连接在第一NMOS晶体管的源极和接地节点之间的漏极-源极通道,以响应输入数据的电压电平;
第一PMOS晶体管,具有用于接收高压的源极和用于输出响应于上拉驱动控制电压的下拉栅极控制电压的漏极;
第二PMOS晶体管,具有在下拉栅极控制电压和电源电压之间的源极-漏极通道和用于接收输出节点电压的栅极。
24.如权利要求21所述的数据输出驱动电路,其中,参考电压产生器还包括:连接到比较器的输出端的电路缓冲器,以对参考电压的电流流动进行缓冲。
25.如权利要求22所述的数据输出驱动电路,其中,热载流子注入防止单元包括:P型MOS晶体管和N型MOS晶体管,用于减小在下拉单元中的下拉晶体管的漏极和源极之间的电压差。
26.如权利要求22所述的数据输出驱动电路,其中,数据争用防止单元包括两个P型MOS晶体管,所述两个P型MOS晶体管具有分别连接到P型MOS晶体管的彼此的漏极的栅极。
27.如权利要求22所述的数据输出驱动电路,其中,加速单元连接在高压和第一门控节点之间,并包括多个P型MOS晶体管和N型MOS晶体管以启动数据争用防止单元的操作。
28.如权利要求22所述的数据输出驱动电路,其中,数据输出驱动电路包括:半导体存储器、控制器、中央处理单元和微处理器中的一个。
29.一种电平转换器,包括:
通过偏压单元彼此连接的上拉单元和下拉单元;
加速单元,增加通过第一门控节点施加的输入数据的电平转换操作速度;
连接在加速单元和上拉单元之间的数据争用防止单元,用于通过在下拉单元中的下拉晶体管进行操作之前预先截止上拉单元中的上拉晶体管来防止输出上拉驱动控制电压的输出端的数据争用;
连接在偏压单元和下拉单元之间的热载流子注入防止单元,用于防止热载流子注入到下拉单元中的下拉晶体管。
30.如权利要求29所述的电平转换器,其中,至少三个上拉晶体管被连接到上拉驱动器,以将上拉驱动控制电压施加到所述至少三个上拉晶体管中的一个上拉晶体管的栅极,其中,所述上拉驱动器以三阶或大于三阶的堆栈结构连接在高压和输出节点之间。
31.如权利要求30所述的电平转换器,其中,上拉驱动控制电压在高压和大于偏压单元的偏压的电压之间摆动。
32.一种控制输出驱动器的方法,所述方法包括:
形成作为输出驱动器的上拉驱动器和下拉驱动器,其中,上拉驱动器包括以共源共栅结构在高于电源电压的高压供应节点和输出节点之间连接的第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管,下拉驱动器包括以共源共栅结构在接地节点和输出节点之间连接的第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管作为输出驱动器;
当依据输入数据上拉上拉驱动器时,控制第一传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管中的每个晶体管的漏极和源极之间的电压差在电源电压的电平以下;
当依据输入数据下拉下拉驱动器时,控制第二传导型的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管中的每个晶体管的漏极和源极之间的电压差在电源电压的电平以下。
33.一种输出驱动器,包括:
上拉驱动器,包括:在电压供应节点和板的输出节点之间连接的三个或更多个第一类型晶体管;
下拉驱动器,包括:在板的输出节点和接地电位节点之间连接的三个或更多个第二类型晶体管;
其中,输出电压根据上拉驱动器和下拉驱动器的交替操作通过板的输出节点被输出。
34.如权利要求33所述的输出驱动器,其中,三个或更多个第一类型晶体管和三个或更多个第二类型晶体管分别以低于电压供应节点的电压和输出节点的电压之间的差的操作电压和低于输出节点的电压和接地节点的电压之间的差的操作电压处于能够操作的状态。
35.如权利要求34所述的输出驱动器,其中:
上拉驱动器和下拉驱动器选择性地将输出电压输出到板的输出节点;
输出电压具有与电压供应节点的电压相同的电压范围。
36.如权利要求33所述的输出驱动器,其中:
上拉驱动器和下拉驱动器选择性地以电压供应节点的高压处于能够操作的状态,三个或更多个第一类型的晶体管和三个或更多个第二类型的晶体管以低于电压供应节点的高压的一半的低压处于能够操作的状态。
37.如权利要求33所述的输出驱动器,其中,上拉驱动器和下拉驱动器根据输入数据和电压供应节点的电压的电平选择性地处于能够操作的状态。
38.如权利要求33所述的输出驱动器,其中:
上拉驱动器的所述三个或更多个第一类型的晶体管具有用于依次接收相应的栅极信号的栅极,以便上拉驱动器响应于电压供应节点的电压和输出节点的电压之间的差处于能够操作的状态;
下拉驱动器的所述三个或更多个第二类型的晶体管具有用于依次接收相应的栅极信号的栅极,以便下拉驱动器响应于输出节点的电压和接地节点的电压之间的差处于能够操作的状态。
39.如权利要求33所述的输出驱动器,其中:
电压供应节点和输出节点之间的上拉驱动器的电压的上拉电压范围与输出节点和接地节点之间的下拉驱动器的电压的下拉电压范围相同;
将被施加到每个晶体管的电压的电压范围小于上拉电压范围和下拉电压范围。
40.如权利要求33所述的输出驱动器,其中:
晶体管具有小于电压供应节点的电压的操作电压;
上拉驱动器和下拉驱动器中的每个驱动器的三个或多个晶体管的数量至少是二和与操作电压和电压供应节点的电压的比相应的数之和。
41.一种系统,包括:
输出驱动器控制单元,用于响应于输入数据和电压供应节点的电压,依次产生上拉栅极信号和下拉栅极信号;
输出驱动器,包括:
上拉驱动器,包括根据连续的上拉栅极信号能够进行操作的在电压供应节点和板的输出节点之间串联连接的三个或更多个第一类型晶体管,以将输出电压输出到板的输出节点;
下拉驱动器,包括将根据连续的下拉栅极信号能够进行操作的在板的输出节点和接地节点之间串联连接的三个或更多个第二类型晶体管,以将输出电压输出到板的输出节点。
42.如权利要求41所述的系统,还包括:
连接到板的输出节点的功能电路,用于根据板的输出节点的输出电压执行所述功能电路的功能,
其中,输出节点的输出电压和电压供应节点的电压具有最大电压范围,并且施加到各个晶体管的电压具有低于最大电压范围的一半的电压范围。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN103516350A true CN103516350A (zh) | 2014-01-15 |
CN103516350B CN103516350B (zh) | 2018-05-29 |
Family
ID=48700369
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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KR (1) | KR101989571B1 (zh) |
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CN107947784B (zh) * | 2017-10-20 | 2021-04-02 | 上海华力微电子有限公司 | 一种高性能输出驱动电路 |
CN110350909A (zh) * | 2018-04-02 | 2019-10-18 | 联发科技股份有限公司 | 一种接口电路 |
CN110350909B (zh) * | 2018-04-02 | 2023-07-18 | 联发科技股份有限公司 | 一种接口电路 |
CN110544496B (zh) * | 2018-05-29 | 2023-04-28 | 爱思开海力士有限公司 | 数据输出缓冲器和具有该数据输出缓冲器的存储装置 |
CN110544496A (zh) * | 2018-05-29 | 2019-12-06 | 爱思开海力士有限公司 | 数据输出缓冲器和具有该数据输出缓冲器的存储装置 |
CN108768381A (zh) * | 2018-08-27 | 2018-11-06 | 珠海市中科蓝讯科技有限公司 | Gpio电路及芯片 |
CN108768381B (zh) * | 2018-08-27 | 2024-01-23 | 深圳市中科蓝讯科技股份有限公司 | Gpio电路及芯片 |
CN109741778A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-05-10 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 一种dram输出驱动电路及其减小漏电的方法 |
CN111327278A (zh) * | 2020-04-10 | 2020-06-23 | 上海兆芯集成电路有限公司 | 输出级电路 |
CN111327278B (zh) * | 2020-04-10 | 2023-10-13 | 上海兆芯集成电路股份有限公司 | 输出级电路 |
WO2021249176A1 (zh) * | 2020-06-08 | 2021-12-16 | 长鑫存储技术有限公司 | 热载流效应耐受度的测试方法 |
US11953542B2 (en) | 2020-06-08 | 2024-04-09 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Test method for tolerance against the hot carrier effect |
CN113468089A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-10-01 | 上海类比半导体技术有限公司 | 输出驱动电路、gpio电路 |
CN114678046A (zh) * | 2022-05-27 | 2022-06-28 | 芯耀辉科技有限公司 | 驱动电路及存储装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20140006189A (ko) | 2014-01-16 |
US8994412B2 (en) | 2015-03-31 |
EP2680441B1 (en) | 2019-11-27 |
EP2680441A3 (en) | 2014-11-19 |
EP2680441A2 (en) | 2014-01-01 |
US20140002146A1 (en) | 2014-01-02 |
CN103516350B (zh) | 2018-05-29 |
KR101989571B1 (ko) | 2019-06-14 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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