CN101981438A - 偏光薄膜的检查方法 - Google Patents

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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104204785A (zh) * 2012-03-23 2014-12-10 东丽株式会社 被测长产品的检查方法以及检查装置
CN104280405A (zh) * 2013-07-08 2015-01-14 住友化学株式会社 缺陷检查方法
CN104949996A (zh) * 2015-06-29 2015-09-30 广东溢达纺织有限公司 不停机自动标识纺织面料疵点的方法及系统
CN105247351A (zh) * 2013-06-12 2016-01-13 住友化学株式会社 缺陷检查系统
CN106796182A (zh) * 2014-10-10 2017-05-31 住友化学株式会社 隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷绕体、隔膜卷料卷绕体、以及隔膜卷料制造装置
CN107024482A (zh) * 2015-12-15 2017-08-08 住友化学株式会社 缺陷检查用拍摄装置及系统、膜制造装置及制造方法、缺陷检查用拍摄方法、缺陷检查方法
CN107097278A (zh) * 2015-09-18 2017-08-29 住友化学株式会社 膜制造方法以及膜制造装置
CN107407642A (zh) * 2015-04-09 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
CN107407641A (zh) * 2015-03-20 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
CN108535272A (zh) * 2017-03-03 2018-09-14 住友化学株式会社 缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
CN108535259A (zh) * 2017-03-03 2018-09-14 住友化学株式会社 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片
CN109313302A (zh) * 2016-06-08 2019-02-05 三星Sdi株式会社 用来处理薄膜的装置以及方法
CN114846321A (zh) * 2019-12-10 2022-08-02 日东电工株式会社 功能膜检查方法、检查系统以及料卷
CN115870233A (zh) * 2022-09-30 2023-03-31 杭州利珀科技有限公司 偏光膜rtp前制程与rtp制程的联动方法及系统

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5306053B2 (ja) * 2009-05-19 2013-10-02 三菱レイヨン株式会社 連続する多孔質電極基材の外観欠陥自動検査方法とその記録媒体を添付してなる多孔質電極基材の巻体
JP4503690B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置
JP4503692B1 (ja) * 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法
JP4503693B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置
KR101435126B1 (ko) 2009-12-25 2014-09-01 닛토덴코 가부시키가이샤 액정표시소자의 연속제조방법 및 장치
JP5569791B2 (ja) * 2010-04-14 2014-08-13 住友化学株式会社 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法
JP5966307B2 (ja) * 2011-10-12 2016-08-10 日立化成株式会社 光導波路の製造方法
JP6421519B2 (ja) * 2014-09-25 2018-11-14 大日本印刷株式会社 包装材料
JP6484127B2 (ja) * 2015-06-26 2019-03-13 シグマ紙業株式会社 識別子を含む媒体
CN106353332B (zh) * 2015-07-15 2019-05-28 明眼有限公司 利用图案透光板的偏光膜检查装置
JP6556008B2 (ja) * 2015-09-30 2019-08-07 日東電工株式会社 長尺状偏光子の検査方法
JP2018054356A (ja) * 2016-09-27 2018-04-05 株式会社日本マイクロニクス ガス検知用フィルム、ガス検知装置、及びガス検知方法
JP7299219B2 (ja) * 2018-07-30 2023-06-27 日本化薬株式会社 マーキング装置、マーキング方法、偏光板の製造方法および偏光板
CN111781209A (zh) * 2020-05-26 2020-10-16 纽聚技术有限公司 连续物料检测系统及方法、物料缺陷检测系统
JP7587966B2 (ja) * 2020-11-19 2024-11-21 住友化学株式会社 積層光学フィルムの製造方法、印字装置及び積層光学フィルムの製造装置
CN116215088A (zh) * 2023-02-24 2023-06-06 安徽利珀科技有限公司 一种智能打标控制系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091834A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Optimax Technology Corp 光学型板表面図形の自動印刷方法
CN1804601A (zh) * 2005-01-13 2006-07-19 长濑产业株式会社 缺陷标记装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001305070A (ja) * 2000-04-19 2001-10-31 Sumitomo Chem Co Ltd シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4343456B2 (ja) * 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP3974400B2 (ja) * 2002-01-07 2007-09-12 日東電工株式会社 シート状成形体の検査結果記録方法及び検査結果記録システム及びロール状成形体
JP4233813B2 (ja) * 2002-06-17 2009-03-04 日東電工株式会社 シート状成形体の加工方法
JP2005062165A (ja) * 2003-07-28 2005-03-10 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置
JP2005114624A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
JP2009069142A (ja) * 2007-08-23 2009-04-02 Nitto Denko Corp 積層フィルムの欠陥検査方法およびその装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091834A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Optimax Technology Corp 光学型板表面図形の自動印刷方法
CN1804601A (zh) * 2005-01-13 2006-07-19 长濑产业株式会社 缺陷标记装置

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104204785A (zh) * 2012-03-23 2014-12-10 东丽株式会社 被测长产品的检查方法以及检查装置
TWI626439B (zh) * 2013-06-12 2018-06-11 日商住友化學股份有限公司 缺陷檢查系統
CN105247351A (zh) * 2013-06-12 2016-01-13 住友化学株式会社 缺陷检查系统
CN104280405A (zh) * 2013-07-08 2015-01-14 住友化学株式会社 缺陷检查方法
CN106796182B (zh) * 2014-10-10 2018-11-23 住友化学株式会社 隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷料卷绕体
US10168285B2 (en) 2014-10-10 2019-01-01 Sumitomo Chemical Company, Limited Production method for separator sheet, production method for separator, separator sheet wound body, and separator sheet production device
CN107076679A (zh) * 2014-10-10 2017-08-18 住友化学株式会社 膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体
CN106796182A (zh) * 2014-10-10 2017-05-31 住友化学株式会社 隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷绕体、隔膜卷料卷绕体、以及隔膜卷料制造装置
US10355256B2 (en) 2014-10-10 2019-07-16 Sumitomo Chemical Company, Limited Film production method and film production device
CN109616602A (zh) * 2014-10-10 2019-04-12 住友化学株式会社 膜制造方法及膜制造装置
US10665838B2 (en) 2014-10-10 2020-05-26 Sumitomo Chemical Company, Limited Method for manufacturing separator web, method for manufacturing separator, separator web, and apparatus for manufacturing separator web
CN106796183B (zh) * 2014-10-10 2018-07-24 住友化学株式会社 膜制造方法、膜制造装置
CN109616602B (zh) * 2014-10-10 2021-09-24 住友化学株式会社 膜制造方法及膜制造装置
US10177358B2 (en) 2014-10-10 2019-01-08 Sumitomo Chemical Company, Limited Film production method and film production device
CN107076679B (zh) * 2014-10-10 2018-11-13 住友化学株式会社 膜制造方法、膜制造装置
CN107407641A (zh) * 2015-03-20 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
TWI718132B (zh) * 2015-03-20 2021-02-11 日商住友化學股份有限公司 層積光學薄膜的缺陷檢查方法,光學薄膜的缺陷檢查方法及層積光學薄膜的製造方法
CN115728308A (zh) * 2015-03-20 2023-03-03 住友化学株式会社 层叠光学膜、光学膜的缺陷检查方法及层叠光学膜的制法
CN107407642B (zh) * 2015-04-09 2020-04-03 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
CN107407642A (zh) * 2015-04-09 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
CN104949996A (zh) * 2015-06-29 2015-09-30 广东溢达纺织有限公司 不停机自动标识纺织面料疵点的方法及系统
CN107097278A (zh) * 2015-09-18 2017-08-29 住友化学株式会社 膜制造方法以及膜制造装置
CN107097278B (zh) * 2015-09-18 2019-08-20 住友化学株式会社 膜制造方法以及膜制造装置
CN107024482A (zh) * 2015-12-15 2017-08-08 住友化学株式会社 缺陷检查用拍摄装置及系统、膜制造装置及制造方法、缺陷检查用拍摄方法、缺陷检查方法
CN109313302A (zh) * 2016-06-08 2019-02-05 三星Sdi株式会社 用来处理薄膜的装置以及方法
CN108535259A (zh) * 2017-03-03 2018-09-14 住友化学株式会社 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片
CN108535272A (zh) * 2017-03-03 2018-09-14 住友化学株式会社 缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
CN114846321A (zh) * 2019-12-10 2022-08-02 日东电工株式会社 功能膜检查方法、检查系统以及料卷
CN115870233A (zh) * 2022-09-30 2023-03-31 杭州利珀科技有限公司 偏光膜rtp前制程与rtp制程的联动方法及系统

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Publication number Publication date
SK50392010A3 (sk) 2011-03-04
JP2009244064A (ja) 2009-10-22
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CZ2010740A3 (cs) 2010-11-24
WO2009123002A1 (ja) 2009-10-08
TW200946994A (en) 2009-11-16
PL392794A1 (pl) 2011-02-28

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