CN107097278B - 膜制造方法以及膜制造装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种膜制造方法以及膜制造装置。该膜制造方法包括通过将沿长边方向搬运的电池用的隔膜卷料(12b)沿长边方向分切而形成多个耐热隔膜(12a)的分切工序，分切工序包括对搬运的隔膜卷料(12b)的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定工序。

Description

膜制造方法以及膜制造装置
技术领域
本发明涉及膜制造方法以及膜制造装置。
背景技术
已知具有光学膜的片状产品的缺陷检验装置(专利文献1)。该缺陷检验装置将从保护膜检验部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA膜卷料的一端面。
在先技术文献
专利文献1：日本公开专利公报“特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)”
例如，在锂离子二次电池所使用的隔膜的制造中，在隔膜卷料上产生缺陷，为了确定隔膜卷料上产生的该缺陷的位置而投入大量的劳力。
在以往的制造工序中，在缺陷检测工序中，一边搬运隔膜卷料一边利用缺陷检测装置检测隔膜卷料的缺陷并记录缺陷的位置，然后在分切工序中，将隔膜卷料向切断装置搬运，通过切断装置将隔膜卷料切断(分切)成产品宽度，从而由一片隔膜卷料得到多个隔膜。
然而，在将隔膜卷料一边通过搬运装置搬运一边切断的情况下，隔膜卷料的宽度方向的位置根据搬运装置中的隔膜卷料的配置位置、所搬运的隔膜卷料的蛇行或者变形、以及搬运装置对隔膜卷料施加的张力而变化。其结果是，存在隔膜卷料的切断位置自原本的切断位置偏移的可能性。
其结果是，分切后的多个隔膜中的存在该缺陷的隔膜的确定变得困难。特别是，该缺陷的位置越靠近原本的分切线，存在该缺陷的隔膜被错误地确定的可能性越高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种在将膜卷料分切而得到多个膜时能够准确地确定膜卷料中的某个位置与膜的对应关系的膜制造方法以及膜制造装置。
用于解决课题的方案
为了解决上述的课题，本发明的膜制造方法包括通过将沿长边方向搬运的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜的分切工序，所述膜制造方法的特征在于，所述分切工序包括对搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定工序。
为了解决上述的课题，本发明的膜制造装置具备通过将沿长边方向搬运的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜的切断部，所述膜制造装置的特征在于，所述切断部具备对搬运至所述切断部的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定部。
发明效果
根据本发明，在将膜卷料分切而得到多个膜时，能够使膜卷料中的某个位置与膜准确地对应。
附图说明
图1是示出实施方式1的锂离子二次电池的剖面结构的示意图。
图2是示出图1所示的锂离子二次电池的详细结构的示意图。
图3是示出图1所示的锂离子二次电池的另一结构的示意图。
图4是用于对上述隔膜卷料的缺陷标记方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。
图5是用于对上述缺陷检测工序中的基材缺陷检验装置的结构进行说明的图。
图6是用于对上述缺陷检测工序中的涂敷缺陷检验装置的结构进行说明的图。
图7是用于对上述缺陷检测工序中的针孔缺陷检验装置的结构进行说明的图。
图8是用于对上述隔膜卷料上形成的缺陷码的位置的一例进行说明的图。
图9是示出对上述隔膜卷料进行分切的分切装置的结构的示意图。
图10是示出图9所示的分切装置的切断装置的结构的放大图、侧视图、主视图。
图11是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的读取工序、记号赋予工序、以及卷取工序进行说明的示意图。
图12是用于对测定上述隔膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的测定工序进行说明的示意图。
图13是用于对上述隔膜卷料的宽度方向的位置偏移以及宽度方向的伸缩进行说明的示意图。
图14是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的记号检测工序、以及缺陷去除工序进行说明的示意图。
图15是用于对实施方式2的隔膜卷料的缺陷标记方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。
图16是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的读取工序、记号赋予工序、以及卷取工序进行说明的示意图。
附图标记说明
4 耐热层
6 分切装置
7 切断装置(切断部)
12 隔膜
12a 耐热隔膜(隔膜、膜)
12b 耐热隔膜卷料(隔膜卷料、膜卷料)
12c 隔膜卷料
54 涂敷部
55 基材缺陷检验装置(缺陷检测部、隔膜制造装置)
57 涂敷缺陷检验装置(缺陷检测部、隔膜制造装置)
58 针孔缺陷检验装置(缺陷检测部、隔膜制造装置)
56、56a 缺陷信息记录装置
73、73a 读取部(确定部、测定部)
74 记号赋予装置
75a、75b 检测相机(测定部、缺陷码读取部)
76a 搬运机构(第一搬运机构)
76b 搬运部(第二搬运机构)
77 分切部
81、82 芯体
83 记号检测装置
84 缺陷去除装置
85 接合装置
86 最外周部
91 信息存储装置
D 缺陷
DC、DC2 缺陷码(位置信息)
L 记号
具体实施方式
以下，对本发明的实施方式进行详细说明。
〔实施方式1〕
以下，依次对实施方式1的锂离子二次电池、电池用的隔膜、耐热隔膜、耐热隔膜制造方法、分切装置、以及切断装置进行说明。
<锂离子二次电池＞
以锂离子二次电池为代表的非水电解液二次电池的能量密度高，因此当前作为在个人计算机、便携式电话、便携式信息终端等设备、机动车、航空器等移动体中使用的电池而被广泛使用，或者作为有助于电力的稳定供给的固定用电池而被广泛使用。
图1是示出锂离子二次电池1的剖面结构的示意图。如图1所示，锂离子二次电池1具备阴极11、隔膜12以及阳极13。在锂离子二次电池1的外部，在阴极11与阳极13之间连接外部设备2。而且，在锂离子二次电池1的充电时电子向方向A移动，在放电时电子向方向B移动。
<隔膜＞
隔膜12配置在锂离子二次电池1的正极即阴极11与其负极即阳极13之间，并被阴极11与阳极13夹持。隔膜12是将阴极11与阳极13之间分离且能够使它们之间的锂离子移动的多孔质膜。作为隔膜12的材料，例如包括聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃。
图2是示出图1所示的锂离子二次电池1的详细结构的示意图，(a)示出通常的结构，(b)示出锂离子二次电池1升温后的情形，(c)示出锂离子二次电池1急剧地升温后的情形。
如图2的(a)所示，在隔膜12上设有许多孔P。通常，锂离子二次电池1的锂离子3能够经由孔P而往返。
在此，例如，有时由于锂离子二次电池1的过充电或外部设备的短路所引起的大电流等而导致锂离子二次电池1升温。在该情况下，如图2的(b)所示，隔膜12熔化或变得柔软而堵塞孔P。而且隔膜12收缩。由此，锂离子3的往返停止，因此上述的升温也停止。
但是，在锂离子二次电池1急剧地升温的情况下，隔膜12急剧地收缩。在该情况下，如图2的(c)所示，隔膜12有时破裂。然后，锂离子3从破裂的隔膜12漏出，因此锂离子3的往返不停止。因此，温度继续上升。
(耐热隔膜)
图3是示出图1所示的锂离子二次电池1的另一结构的示意图，(a)示出通常的结构，(b)示出锂离子二次电池1急剧地升温后的情形。
如图3的(a)所示，锂离子二次电池1还可以具备耐热层4。耐热层4与隔膜12形成耐热隔膜12a(隔膜)。耐热层4层叠在隔膜12的阴极11侧的单面上。另外，耐热层4也可以层叠在隔膜12的阳极13侧的单面上，还可以层叠在隔膜12的双面上。而且，在耐热层4也设有与孔P同样的孔。通常，锂离子3经由孔P和耐热层4的孔而往返。作为耐热层4的材料，例如包括全芳香族聚酰胺(芳族聚酰胺树脂)。
如图3的(b)所示，即便锂离子二次电池1急剧地升温而隔膜12熔化或变得柔软，由于耐热层4对隔膜12进行辅助，因此隔膜12的形状也得以维持。因此，停留在隔膜12熔化或变得柔软而堵塞孔P的状态。由此，由于锂离子3的往返停止，从而上述的过放电或过充电也停止。这样，隔膜12的破裂得以抑制。
<耐热隔膜卷料(隔膜卷料)的制造工序＞
锂离子二次电池1的耐热隔膜12a的制造不受特别限定，能够利用公知的方法来进行。以下，假设隔膜12的材料主要包括聚乙烯的情况来进行说明。但是，在隔膜12包括其他材料的情况下，也能够通过同样的制造工序来制造耐热隔膜12a。
例如，能够举出在向热塑性树脂添加无机填充剂或增塑剂而进行膜成形之后，利用适当的溶剂将该无机填充剂以及该增塑剂去除的方法。例如，在隔膜12是由包含超高分子量聚乙烯的聚乙烯树脂形成的聚烯烃隔膜的情况下，能够通过以下所示的方法进行制造。
该方法包括如下工序：(1)将超高分子量聚乙烯与无机填充剂(例如碳酸钙、二氧化硅)或增塑剂(例如低分子量聚烯烃、液体石蜡)混制而获得聚乙烯树脂组合物的混制工序；(2)使用聚乙烯树脂组合物来成形膜的压延工序；(3)从通过工序(2)获得的膜中去除无机填充剂或增塑剂的去除工序；以及(4)将通过工序(3)获得的膜拉伸而获得隔膜12的拉伸工序。需要说明的是，也可以在所述工序(2)与(3)之间进行所述工序(4)。
通过去除工序，在膜中设置许多微孔。通过拉伸工序拉伸后的膜的微孔成为上述的孔P。由此，形成具有规定的厚度和透气度的聚乙烯微多孔膜、即隔膜12。
需要说明的是，在混制工序中，也可以对超高分子量聚乙烯100重量份、重量平均分子量在1万以下的低分子量聚烯烃5～200重量份以及无机填充剂100～400重量份进行混制。
然后，在涂敷工序中，在隔膜12的表面形成耐热层4。例如，在隔膜12上涂布芳族聚酰胺/NMP(N-甲基吡咯烷酮)溶液(涂敷液)，形成作为芳族聚酰胺耐热层的耐热层4。耐热层4可以仅设置在隔膜12的单面上，也可以设置在双面上。另外，作为耐热层4，也可以涂敷包含氧化铝/羧甲基纤维素等填料的混合液。
另外，在涂敷工序中，也可以在隔膜12的表面涂布(涂布工序)聚偏氟乙烯二甲基乙酰胺溶液(涂敷液)，并使其凝固(凝固工序)，由此在隔膜12的表面形成粘接层。粘接层可以仅设置在隔膜12的单面上，也可以设置在双面上。
在隔膜12上涂敷涂敷液的方法只要是能够均匀地湿涂的方法即可，没有特别的限制，可以采用以往公知的方法。例如，可以采用毛细管涂布法、旋涂法、挤出式涂布法、喷涂法、浸涂法、辊式涂布法、丝网印刷法、柔性印刷法、棒涂法、凹版涂布法、模涂布法等。耐热层4的厚度能够通过调节由涂敷湿膜的厚度、涂敷液中的粘结剂浓度与填料浓度之和表示的固体成分浓度、填料与粘结剂之比来进行控制。
需要说明的是，作为在涂敷时对隔膜12进行固定或者搬运的支承体，能够使用树脂制的膜、金属制的传送带、卷筒等。
如上述那样，能够制造层叠有耐热层4的隔膜卷料12c即耐热隔膜卷料12b(图4)。制造出的耐热隔膜卷料12b由圆筒形状的芯体53卷取(图4)。需要说明的是，通过以上的制造方法制造出的对象并不限于耐热隔膜卷料12b。该制造方法也可以不包括涂敷工序。此时，制造出的对象是隔膜卷料12c。以下，主要以作为功能层而具有耐热层的耐热隔膜(膜)为例进行说明，但对不具有功能层的隔膜(膜)以及隔膜卷料(膜卷料)也能够进行同样的处理(工序)。
<缺陷检测工序＞
在锂离子二次电池所使用的耐热隔膜的制造中，在形成隔膜卷料上涂敷耐热层而成的耐热隔膜卷料的涂敷工序中，当通过检验装置检测出缺陷时，利用标识器在具有该缺陷的卷料上画线后卷取耐热隔膜卷料。然后，在接下来的分切工序中卷出耐热隔膜卷料。之后，当操作员在卷出的耐热隔膜卷料上目视检查到上述标识器画出的线后，操作员停止上述耐热隔膜卷料的卷出动作。接下来，操作员对与上述标识器画出的线对应的缺陷的耐热隔膜卷料的宽度方向的位置进行目视确认。接下来，通过切断装置沿长边方向对与上述标识器画出的线对应的耐热隔膜卷料的部分进行分切，从而形成多个耐热隔膜。之后，操作员在与上述标识器画出的线所对应的缺陷的宽度方向的位置相应的耐热隔膜的与缺陷对应的位置，以从该耐热隔膜露出的方式粘贴胶带。然后，以露出的方式粘贴有上述胶带的耐热隔膜由卷取辊卷取。
接下来，在重卷工序中，将卷取于卷取辊的上述耐热隔膜从卷取辊重卷至重卷辊。之后，当操作员在重卷中途发现以从该耐热隔膜露出的方式粘贴的胶带时，停止重卷动作。然后，操作员沿宽度方向对与该胶带对应的缺陷所处的耐热隔膜的部位进行切断并去除。接下来，将卷取辊侧的耐热隔膜与重卷辊侧的耐热隔膜接合。之后，重新进行重卷动作，从而将耐热隔膜全部重卷在重卷辊上。
然而，在耐热隔膜卷料上检测出缺陷时仅利用上述标识器画线，因此在接下来的分切工序中，若操作员目视检查到上述标识器，则操作员需要使上述耐热隔膜卷料的卷出动作停止并目视确认上述缺陷的宽度方向的位置。因此，为了确定将耐热隔膜卷料分切而成的多个耐热隔膜上的缺陷位置，需要花费大量的时间。
图4是用于对上述耐热隔膜卷料12b的缺陷标记方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图，图4的(a)是两工序的主视图，图4的(b)是两工序的俯视图。图5是用于对缺陷检测工序中的基材缺陷检验装置55的结构进行说明的图。图6是用于对缺陷检测工序中的涂敷缺陷检验装置57的结构进行说明的图。图7是用于对缺陷检测工序中的针孔缺陷检验装置58的结构进行说明的图。
如图4的(a)所示，通过涂敷部54对隔膜卷料12c涂敷耐热层而成的耐热隔膜卷料12b被搬运机构76a(第一搬运机构)搬运并由芯体53卷取。通过在隔膜卷料12c的送出工序与涂敷工序之间配置的基材缺陷检验装置55(缺陷检测部、隔膜制造装置)来实施对隔膜卷料12c的缺陷D进行检验的基材检验工序(缺陷检测工序)。基材缺陷检验装置55以光源55a与检测器55b夹着搬运中的隔膜卷料12c的方式配置，通过检测器55b检测从光源55a向与隔膜卷料12c的表面、背面垂直的方向射出并透过隔膜卷料12c的透射光，从而检验隔膜卷料12c上存在的缺陷D(确定缺陷D的位置)(缺陷检测工序)。上述隔膜卷料12c上存在的缺陷D包括与贯通孔(针孔)有关的缺陷、与膜厚不正有关的缺陷以及与异物有关的缺陷。
通过在涂敷工序与芯体53的卷取工序之间配置的涂敷缺陷检验装置57(缺陷检测部、隔膜制造装置)来实施对搬运中的隔膜卷料12c上涂敷的耐热层4的缺陷D进行检验的涂敷检验工序(缺陷检测工序)。涂敷缺陷检验装置57具有在耐热隔膜卷料12b的耐热层4侧配置的光源57a以及检测器57b。涂敷缺陷检验装置57通过由检测器57b检测从光源57a射出并被耐热层4反射的反射光，从而检测耐热层4上存在的缺陷D(确定缺陷D的位置)。上述耐热层4上存在的缺陷D包括与条纹有关的缺陷、与剥离有关的缺陷、与弹起有关的缺陷以及与表面不良有关的缺陷。上述与弹起有关的缺陷是指如下的缺陷：因异物、油分等导致涂敷液从隔膜卷料12c的表面弹起从而局部未形成耐热层4，或者即使形成耐热层4，也仅形成了极薄的耐热层4。上述与表面不良有关的缺陷是指与耐热层4的膜厚不良有关的缺陷。
通过在涂敷缺陷检验装置57与缺陷信息记录装置56之间配置的针孔缺陷检验装置58(缺陷检测部、隔膜制造装置)来实施对搬运中的耐热隔膜卷料12b上产生的针孔所导致的缺陷D进行检验的针孔检验工序(缺陷检测工序)。针孔缺陷检验装置58具有：在在耐热隔膜卷料12b的隔膜卷料12c侧配置的光源58a；供从光源58a朝向与耐热隔膜卷料12b的表面、背面垂直的方向射出的光通过的狭缝58c；以及根据通过狭缝58c而透过耐热隔膜卷料12b的光来检测缺陷D(确定缺陷D的位置)的检测器58b。上述针孔导致的缺陷D具有几百微米至几毫米的直径。
在针孔缺陷检验装置58与芯体53之间配置有缺陷信息记录装置56。缺陷信息记录装置56将缺陷码DC以二维码、QR码(注册商标)等码数据的形式记录在与耐热隔膜卷料12b的长边方向上的缺陷D的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部，所述缺陷码DC表示通过基材缺陷检验装置55、涂敷缺陷检验装置57、针孔缺陷检验装置58检测出的缺陷D的位置信息。上述位置信息表示耐热隔膜卷料12b的长边方向以及宽度方向上的缺陷D的位置。上述位置信息也可以包含能够区别出缺陷D的种类的信息。缺陷D的种类例如包括：由基材缺陷检验装置55检验出的基材的构造缺陷、由涂敷缺陷检验装置57检验出的与涂敷相关的缺陷、由针孔缺陷检验装置58检验出的与穿孔相关的缺陷。
隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b的膜张力通常为200N/m以下，优选为120N/m以下。此处，“膜张力”是指对行进的膜的宽度方向的每单位长度施加的行进方向的张力。例如，若膜张力为200N/m，则对膜的宽度1m施加有200N的力。若膜张力高于200N/m则会沿膜的行进方向形成皱褶，从而缺陷检验的精度可能会降低。另外，膜张力通常为10N/m以上，优选为30N/m以上。若膜张力低于10N/m则可能会发生膜的松弛、蛇行。在隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b上形成有孔P，其膜张力比光学膜等不存在孔的膜的膜张力小。因此，隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b具有比光学膜等不存在孔的膜更容易拉伸的物性。因此，若在与耐热隔膜卷料12b的长边方向上的缺陷D的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部记录缺陷码DC，则即使耐热隔膜卷料12b沿长边方向延伸，缺陷D的长边方向的位置与缺陷码DC的长边方向的位置实质上也不会偏移。因此，即使耐热隔膜卷料12b沿长边方向延伸，也能够容易地确定缺陷D的长边方向的位置。
在端部记录有缺陷码DC的耐热隔膜卷料12b由芯体53卷取。卷取有耐热隔膜卷料12b的芯体53被送往接下来的分切工序。搬运机构76a与搬运部76b相互独立，利用互不相同的卷取辊的张力来搬运隔膜卷料12b。通过缺陷检测工序后的隔膜卷料12b被搬运机构76a暂时卷取。卷取后的隔膜卷料12b再次被搬运部76b卷出并通过分切工序。
图8是用于对隔膜卷料12b上形成的缺陷码DC的位置的一例进行说明的图。缺陷信息记录装置56(图4)将表示缺陷D的位置信息的缺陷码DC记录在与耐热隔膜卷料12b的长边方向上的缺陷D的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部。缺陷D与缺陷码DC之间的沿长边方向的距离LMD例如优选为100mm以下，更优选为30mm以下。缺陷码DC与耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部之间的距离LTD例如优选为50mm以下，更优选为20mm以下。另外，耐热隔膜卷料12b中宽度方向的端部容易起纹，因此距离LTD优选为3mm以上。
<分切装置＞
由耐热隔膜卷料12b(以下称为“隔膜卷料”)形成的耐热隔膜12a(以下称为“隔膜”)、或者由隔膜卷料12c形成的隔膜12优选具有与锂离子二次电池1等应用产品相适应的宽度(以下称为“产品宽度”)。但是，为了提高生产性，以使其宽度达到产品宽度以上的方式制造隔膜卷料。然后，一旦制造完成，则隔膜卷料被切断(分切)成产品宽度而成为隔膜。
需要说明的是，“隔膜的宽度”是指与隔膜延伸的平面平行且与隔膜的长边方向垂直的方向上的隔膜的长度。另外，分切是指沿着长边方向(制造中的膜的流动方向，MD：Machine direction)切断隔膜卷料。切割(cut)是指沿横切方向(TD：transversedirection)切断隔膜卷料或者隔膜。横切方向(TD)是指与隔膜的长边方向(MD)和厚度方向大致垂直的方向(宽度方向)。
图9是示出对隔膜卷料12b进行分切的分切装置6的结构的示意图，(a)示出整体的结构，(b)示出分切隔膜卷料12b前后的结构。
如图9的(a)所示，分切装置6具备被支承为能够旋转的圆柱形状的卷出辊(unwindroll)61、辊62～65和多个卷取辊69U、70L。在分切装置6中，还设有后述的切断装置7(图10)。辊62～64构成了对隔膜卷料12b、耐热隔膜12a进行搬运的搬运部76b(第二搬运机构)。
<分切前＞
在分切装置6中，卷绕有隔膜卷料12b的圆筒形状的芯体53嵌于卷出辊61。如图9的(a)所示，隔膜卷料12b从芯体53向路径U或者L卷出。卷出的隔膜卷料12b经由辊63向辊64以例如100m/分钟的速度搬运。在搬运的工序中，隔膜卷料12b沿长边方向分切成多个耐热隔膜12a。
<分切后＞
如图9的(a)所示，多个耐热隔膜12a的一部分分别卷绕到嵌于多个卷取辊69的各芯体81(绕筒)上。另外，多个耐热隔膜12a的另一部分分别卷绕到嵌于多个卷取辊69的各芯体81(绕筒)上。需要说明的是，将卷绕成辊状的隔膜称为“隔膜卷绕体”。
<切断装置＞
图10是示出图9的(a)所示的分切装置6的切断装置7(切断部)的结构的图，(a)是切断装置7的侧视图，(b)是切断装置7的主视图。
如图10的(a)、(b)所示，切断装置7具备支架71和刀片72。支架71固定于分切装置6所具备的框体等。而且，支架71保持刀片72，使得刀片72与被搬运的隔膜卷料12b之间的位置关系固定。刀片72通过研磨得锋利的边缘来分切隔膜的卷料。
图11是用于对耐热隔膜12a的缺陷位置确定方法的测定工序、读取工序、切断工序、确定工序、记号赋予工序以及卷取工序进行说明的示意图。隔膜卷料12b从芯体53(图9)以恒定速度(例如80m/分钟)卷出。
如图11所示，隔膜制造装置(膜制造装置)具备分切装置6。分切装置6上设有分切部77、搬运部76b、读取部73以及记号赋予装置74。分切部77具备多个切断装置7。各切断装置7的刀片72规定刀具位置。在分切工序中，在通过刀具位置且沿着搬运方向(MD)的分切线处分切沿长边方向搬运的隔膜卷料12b，从而得到多个耐热隔膜12a。
<隔膜卷料的宽度方向的尺寸或位置的测定＞
读取部73具有检测相机75a、75b(测定部、缺陷码读取部)，该检测相机75a、75b配置在分别对隔膜卷料12b的宽度方向的两端进行拍摄的位置。检测相机75a、75b对正在向分切装置6搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置(测定工序)进行光学地测定。对隔膜卷料12b进行的上述测定与分切是对由相同的搬运部76b搬运来的耐热隔膜12a进行的。
图12是用于对测定隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的测定工序进行说明的示意图。检测相机75a、75b对隔膜卷料12b的宽度方向的位置偏移或者宽度方向的伸缩进行测定。
隔膜卷料12b的宽度方向的位置偏移是指相对于由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的原本的配置位置的、隔膜卷料12b的宽度方向的位置偏移，或者相对于图4中的前述的缺陷检测工序中搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的位置的、隔膜卷料12b的宽度方向的位置偏移。
另外，隔膜卷料12b的宽度方向的伸缩是指相对于由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的原本的尺寸的、隔膜卷料12b的宽度方向的伸缩，或者相对于图4中的前述的缺陷检测工序中搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸的、隔膜卷料12b的宽度方向的伸缩。
具体而言，首先，检测相机75a对由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的一端与检测相机75a的基准位置(例如拍摄范围的外侧的端部)之间的距离X1进行测定。而且，检测相机75b对隔膜卷料12b的宽度方向的另一端与检测相机75b的基准位置(例如拍摄范围的外侧的端部)之间的距离X2进行测定。
接下来，读取部73(测定部、确定部)根据由检测相机75a测定出的距离X1与由检测相机75b测定出的距离X2来计算隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸Lc。读取部73计算由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的宽度方向上的尺寸相对于缺陷检测工序中的尺寸的伸缩。另外，读取部73根据距离X1与距离X2来计算隔膜卷料12b的宽度方向的位置。之后，读取部73计算由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的宽度方向上的位置距原本的位置的位置偏移。
像这样，根据本实施方式的隔膜制造方法，在分切工序中，通过测定由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，能够考虑到隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的偏差而分切隔膜卷料。例如，通过准确地获取分切工序中搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的信息，能够使隔膜卷料12b的某个位置与多个分切后的隔膜中的一个隔膜准确地对应。
<存在缺陷的隔膜的确定＞
图13是用于对隔膜卷料12b的宽度方向的位置偏移以及宽度方向的伸缩进行说明的示意图。图13的(a)的隔膜卷料12b的宽度方向的位置示出了搬运部76b中的隔膜卷料12b的原本的位置。原本的位置是指，期望隔膜卷料12b处于的规定的位置。图13的(b)的隔膜卷料12b的宽度方向的位置示出了图11以及图12所示的测定工序中由搬运部76b搬运的隔膜卷料12b的位置的一例。
如图13的(a)、(b)所示，当测定工序中的隔膜卷料12b的宽度方向的位置因搬运的隔膜卷料12b的蛇行、变形而自原本的位置偏移时，隔膜卷料12b的分切线SL1、SL2、SL3、SL4也相对于隔膜卷料12b沿宽度方向偏移，因此含有缺陷D的耐热隔膜12a也可能改变。例如，若隔膜卷料12b的位置未沿宽度方向偏移，则如图13的(a)所示，原本应当在第二个耐热隔膜12a中含有缺陷D。另一方面，如图13的(b)所示，当隔膜卷料12b的位置沿宽度方向偏移时，会以在第一个耐热隔膜12a中含有缺陷D的方式对隔膜卷料12b进行分切。
于是，读取部73根据由缺陷检测工序检测出的隔膜卷料12b上存在的缺陷D的宽度方向的位置与由测定工序测定出的隔膜卷料12b的宽度方向的位置，对分切后的多个耐热隔膜12a中的存在缺陷D的耐热隔膜12a进行确定(确定工序)。
另外，图4所示的缺陷检测工序中作用于隔膜卷料12b的张力的大小与图11以及图12所示的测定工序中作用于隔膜卷料12b的张力的大小不同，从而导致测定工序中的隔膜卷料12b沿宽度方向伸缩。
例如，当测定工序中由搬运部76b作用于隔膜卷料12b的张力比缺陷检测工序中由搬运机构76a作用于隔膜卷料12b的张力大时，则如图13的(c)所示，在测定工序中隔膜卷料12b会沿宽度方向收缩。相反，当搬运部76b的张力比搬运机构76a的张力小时，在测定工序中隔膜卷料12b会沿宽度方向伸长。
像这样，当隔膜卷料12b沿宽度方向伸缩时，隔膜卷料12b的分切线SL1、SL2、SL3、SL4相对于隔膜卷料12b的位置与原本的分切线相比会发生变化。因此，含有缺陷D的耐热隔膜12a也可能会变化。
于是，读取部73根据由缺陷检测工序检测出的隔膜卷料12b上存在的缺陷D的宽度方向的位置与由测定工序测定出的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸，对分切后的多个耐热隔膜12a中的存在缺陷D的耐热隔膜12a进行确定(确定工序)。
读取部73上设置的检测相机75a对隔膜卷料12b的宽度方向的端部的位置进行检测，并且读取隔膜卷料12b的宽度方向的端部上记录的缺陷码DC(缺陷码读取工序)。然后，分切装置6上设置的多个切断装置7沿长边方向分切隔膜卷料12b而形成多个耐热隔膜12a(分切工序)。
在前述的实施方式中，示出了通过共用的检测相机75a来实施对缺陷码DC进行读取的上述读取工序与对隔膜卷料12b的宽度方向的端部的位置进行检测的工序这双方。然而，本发明并不限定于此。也可以相互独立地实施对缺陷码DC进行读取的上述读取工序与对隔膜卷料12b的宽度方向的端部的位置进行检测的工序。例如，也可以通过检测相机75a、75b来检测上述宽度方向的端部的位置，而通过其他的检测相机来读取缺陷码DC。
像这样，通过将检测相机75a兼用于测定工序中的隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的测定与读取工序中的缺陷码的读取，能够简化制造工序所需的设备。
根据本实施方式的隔膜制造方法，即使作用于在分切工序中搬运的隔膜卷料12b的张力与缺陷检测工序中的张力不同，或者因分切工序中搬运的隔膜卷料12b的蛇行、变形而导致隔膜卷料12b相对于切断装置7的位置与原本的位置不同，从而造成隔膜卷料12b的分切线从预先设定的分切线偏移的情况下，也能够准确地确定存在缺陷的耐热隔膜12a。
需要说明的是，如图13的(a)以及(b)所示，隔膜卷料12b中检测出的缺陷的位置越靠近原本的分切隔膜卷料12b的位置，则存在缺陷的耐热隔膜12a被错误地确定的可能性越高。于是，在确定工序中，优选也考虑到分切隔膜卷料12b的位置而确定多个耐热隔膜12a中的存在缺陷的耐热隔膜12a。
<缺陷去除工序＞
接下来，记号赋予装置74在与上述确定的一个耐热隔膜12a的缺陷D对应的位置赋予记号L(记号赋予工序)。需要说明的是，当存在多个缺陷D时，读取部73会确定多个耐热隔膜12a。此处，作为优选的记号L可以列举标签，作为优选的记号赋予装置74可以列举标签机。
记号L可以取代标签而采用用笔描绘的记号，也可以采用通过喷射器涂敷的记号。另外，记号L可以是通过对由树脂构成的耐热隔膜12a进行加热来印字的感热标签，还可以通过利用激光在耐热隔膜12a上开孔来形成记号L。
通过切断装置7分切的多个耐热隔膜12a分别由多个芯体81卷取(卷取工序)。
然后，记号赋予装置74将由缺陷码DC表示的缺陷D的隔膜卷料12b的长度方向的位置信息作为缺陷码DC2，记录在卷取有上述确定的一个耐热隔膜12a的最外周部86及/或芯体81上。
图14是用于对耐热隔膜12a的缺陷位置确定方法的记号检测工序以及缺陷去除工序进行说明的示意图，图14的(a)是用于对记号检测工序进行说明的示意图，图14的(b)是用于对缺陷去除工序进行说明的示意图。首先，记号检测装置83读取最外周部86及/或芯体81上记录的缺陷码DC2。然后，接收到记号检测装置83所读取的信息，开始通过记号赋予装置74而贴合有记号L的耐热隔膜12a的从芯体81向芯体82的重卷动作。接下来，根据由读取的缺陷码DC2表示的缺陷D的隔膜卷料12b的长度方向的位置信息，当缺陷D的位置靠近时，记号检测装置83使耐热隔膜12a的上述重卷动作的速度减速。
然后，通过记号检测装置83来检测耐热隔膜12a的与缺陷D对应的位置上贴附的记号L(记号检测工序)。当通过记号检测装置83检测出记号L时，记号检测装置83停止耐热隔膜12a的重卷动作。之后，缺陷去除装置84沿宽度方向切断与记号L对应的缺陷D的上游侧以及下游侧的耐热隔膜12a的部位而将缺陷D从耐热隔膜12a去除(缺陷去除工序)。该缺陷去除工序也可以取代缺陷去除装置84而由操作者通过手工操作来实施。然后，接合装置85将切断了的耐热隔膜12a接合(接合工序)。该接合工序也可以取代接合装置85而由操作者通过手工操作来实施。接下来，接合装置85重新进行耐热隔膜12a的重卷动作。然后，耐热隔膜12a的从芯体81向芯体82的重卷结束。此处，分割成两个的耐热隔膜12a也可以不接合而分别重卷在不同的芯体上。即，将切断前的部分重卷在芯体82上，将切断后的部分重卷在芯体82以外的芯体上即可。
〔实施方式2〕
在实施方式1中，示出了在隔膜卷料12b的端部记录隔膜卷料12b上存在的缺陷D的位置信息的例子。然而，本发明并不限定于此。也可以构成为在信息存储装置中记录缺陷D的位置信息。
图15是用于对实施方式2的隔膜卷料12b的缺陷标记方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。图16是用于对耐热隔膜12a的缺陷位置确定方法的测定工序、读取工序、分切工序、确定工序、记号贴合工序以及卷取工序进行说明的示意图。对实施方式1中的前述的结构要素标注相同的附图标记。因此，不重复进行上述结构要素的详细说明。
缺陷信息记录装置56a将位置信息记录在信息存储装置91中，所述位置信息表示由基材缺陷检验装置55、涂敷缺陷检验装置57、针孔缺陷检验装置58检测出的隔膜卷料12c、12b上存在的缺陷D的长边方向以及宽度方向上的位置。然后，读取部73a从信息存储装置91读取缺陷D的长边方向以及宽度方向上的位置信息。
〔实施方式3〕
在实施方式1中，对隔膜制造方法以及隔膜制造装置进行了说明，其中，检测相机75a、75b测定隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，读取部73根据隔膜卷料12b上存在的缺陷D的宽度方向的位置与隔膜卷料12b的宽度方向的位置或尺寸，确定分切的多个耐热隔膜12a中的存在缺陷D的耐热隔膜12a。然而，本实施方式的隔膜制造方法以及隔膜制造装置的方式不局限于此。
<刀具调节工序>
在本实施方式中，对隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定，在分切工序中，根据隔膜卷料12b的宽度方向的位置或尺寸，分切装置6对切断装置7的位置(切断装置7的刀片72的位置)进行调节(刀具调节工序)。
具体而言，使切断装置7的位置沿与搬运方向正交的方向移动，以在原本的适当的分切线处分切隔膜卷料12b。需要说明的是，可以使全部的切断装置7以相同的宽度向相同的方向移动，也可以使各切断装置7的间隔变化地移动。
由此，在分切工序中，能够在原本的分切位置分切隔膜卷料12b，能够制造分切成适当的尺寸而达到产品宽度的耐热隔膜12a。另外，由于能够在原本的分切位置分切隔膜卷料12b，因此容易确定多个耐热隔膜12a中的存在缺陷的耐热隔膜12a。
<搬运调节工序＞
另外，在本实施方式中，也可以对隔膜卷料12b的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定，在分切工序中，搬运部76b对搬运的隔膜卷料12b的宽度方向的位置或搬运张力进行调节(搬运调节工序)。
具体而言，使隔膜卷料12b的宽度方向的位置沿与搬运方向正交的方向(TD)移动，或者增减隔膜卷料12b的搬运张力，以在原本的分切位置分切隔膜卷料12b。
由此，在分切工序中，能够在原本的分切位置分切隔膜卷料12b，能够制造分切成适当的尺寸而达到产品宽度的耐热隔膜12a。另外，由于能够在原本的分切位置分切隔膜卷料12b，因此容易确定多个耐热隔膜12a中的存在缺陷的耐热隔膜12a。
(通过软件实现的实现例)
读取部73、缺陷信息记录装置56、56a以及信息存储装置91可以通过形成于集成电路(IC芯片)等的逻辑电路(硬件)来实现，也可以利用CPU(Central Processing Unit)而通过软件来实现。
在后者的情况下，读取部73、缺陷信息记录装置56、56a以及信息存储装置91具备：执行实现各功能的软件即程序的命令的CPU、以计算机(或CPU)能够读取的方式记录上述程序以及各种数据的ROM(Read Only Memory)或存储装置(将它们称为“记录介质”)、展开上述程序的RAM(Random Access Memory)等。而且，通过使计算机(或CPU)从上述记录介质中读取并执行上述程序，来实现本发明的目的。作为上述记录介质，能够利用“非易失性的有形介质”，例如带、盘、卡、半导体存储器、可编程逻辑电路等。另外，上述程序也可经由能够传送该程序的任意的传送介质(通信网络、广播波等)而提供给上述计算机。需要说明的是，即便是通过电子传输来实现上述程序的、嵌入载波中的数据信号的形态，也能够实现本发明。
对于本发明的实施方式，以隔膜为例而进行了说明，然而本发明不限定于隔膜的制造，也能够适用于其他的膜以及膜卷料的制造。多孔质的隔膜较为柔软，因此容易发生搬运机构中的蛇行或张力而导致的伸缩。因此，本发明特别能够适用于隔膜的制造方法。
(总结)
为了解决上述的课题，本发明的膜制造方法包括通过将沿长边方向搬运的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜的分切工序，所述膜制造方法的特征在于，所述分切工序包括对搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定工序。
根据上述的制造方法，能够测定分切工序中搬运的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置。由此，能够使膜卷料中的某个位置与膜准确地对应。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，所述膜制造方法包括：缺陷检测工序，对所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定；以及确定工序，根据由所述缺陷检测工序检测出的所述缺陷的位置与由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
根据上述的制造方法，能够根据由缺陷检测工序检测出的缺陷的位置与由分切工序中的测定工序测定出的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定存在缺陷的膜。
由此，即使作用于在分切工序中搬运的膜卷料的张力与原本的张力不同，或者因分切工序中搬运的膜卷料的蛇行、变形而导致膜卷料的位置与原本的位置不同，从而造成膜卷料的分切线从预先设定的分切线偏移的情况下，也能够准确地确定存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述确定工序中，根据分切所述膜卷料的位置来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
膜卷料中检测出的缺陷的位置越靠近原本的分切膜卷料的位置，则存在该缺陷的膜被错误地确定的可能性越高。
对此，根据上述的制造方法，由于根据分切膜卷料的位置来确定存在缺陷的膜，因此能够更准确地确定存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述缺陷检测工序中对由第一搬运机构搬运的所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定，在所述测定工序中对由与所述第一搬运机构不同的第二搬运机构搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定。
若搬运机构不同，则对膜卷料施加的张力也可能不同。根据上述的制造方法，即使在缺陷检测工序与测定工序中张力不同的情况下，也能够得知因张力的不同而导致的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的变化。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述测定工序中，对相对于所述缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的位置的、所述膜卷料的宽度方向的位置偏移进行测定。
根据上述的制造方法，即使在测定工序中的膜卷料的宽度方向的位置相对于缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的位置发生了偏移的情况下，也能够准确地确定存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述测定工序中，对相对于所述缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的尺寸的、所述膜卷料的宽度方向的伸缩进行测定。
根据上述的制造方法，即使在测定工序中的膜卷料的宽度方向的尺寸相对于缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的尺寸发生了变化的情况下，也能够准确地确定存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述分切工序中，在通过刀具位置且沿着搬运方向的分切线处分切所述膜卷料，所述分切工序包括根据由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节所述刀具位置的刀具调节工序。
根据上述的制造方法，能够根据由测定工序测定出的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节刀具位置而分切膜卷料。
由此，能够在适当调节后的刀具位置分切膜卷料，从而容易确定多个膜中的存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述分切工序中，在通过刀具位置且沿着搬运方向的分切线处分切所述膜卷料，所述分切工序包括根据由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节搬运的所述膜卷料的宽度方向的位置或搬运张力的搬运调节工序。
根据上述的制造方法，能够根据由测定工序测定出的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节膜卷料的宽度方向的位置或搬运张力而分切膜卷料。
由此，能够在适当设定后的分切线处分切膜卷料，从而容易确定多个膜中的存在缺陷的膜。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，所述缺陷检测工序将包含检测出的所述缺陷的位置信息的缺陷码赋予所述膜卷料，所述分切工序包括读取所述缺陷检测工序中赋予的缺陷码的缺陷码读取工序，所述确定工序根据由通过所述缺陷码读取工序读取的缺陷码表示的所述缺陷的位置与由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
根据上述的制造方法，将对膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定工序与读取缺陷码的缺陷码读取工序分成两个工序，因此与在同一工序中实施这双方相比，测定的可靠性以及读取的可靠性得以提高。
本发明的膜制造方法可以按照如下的方式设置，即，在所述测定工序中，对所述膜卷料的宽度方向的端部的位置进行检测，并且对形成于所述膜卷料且包含所述膜卷料上存在的缺陷的位置的信息的缺陷码进行读取。
根据上述的制造方法，由于能够在测定工序中进行膜卷料的宽度方向的端部的位置的检测与缺陷码的读取，因此能够简化制造工序。
为了解决上述的课题，本发明的膜制造装置具备通过将沿长边方向搬运的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜的切断部，所述膜制造装置的特征在于，所述切断部具备对搬运至所述切断部的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定的测定部。
根据上述的制造装置，能够测定搬运的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置。由此，能够使膜卷料中的某个位置与膜准确地对应。
本发明的膜制造装置可以按照如下的方式设置，即，所述膜制造装置还具备：缺陷检测部，其对所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定；确定部，其根据由所述缺陷检测部检测出的所述缺陷的位置与由所述测定部测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜，所述缺陷检测部将包含检测出的所述缺陷的位置信息的缺陷码赋予所述膜卷料，所述切断部包括对所述缺陷检测部中赋予的缺陷码进行读取的缺陷码读取部，所述确定部根据由通过所述缺陷码读取部读取的缺陷码表示的所述缺陷的位置与由所述测定部测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
根据上述的制造装置，将测定膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的测定部与读取缺陷码的缺陷码读取部分成两个部分，因此与通过同一构件来实施这双方相比，测定的可靠性以及读取的可靠性得以提高。
本发明的膜制造装置可以按照如下的方式设置，即，所述测定部对所述膜卷料的宽度方向的端部的位置进行检测，并且对形成于所述膜卷料且包含所述膜卷料上存在的缺陷的位置的信息的缺陷码进行读取。
根据上述的制造装置，由于测定部兼用于缺陷码的读取，因此能够简化制造工序所需的设备。
本发明的膜制造装置可以按照如下的方式设置，即，所述膜制造装置具备对所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定的缺陷检测部，所述缺陷检测部对由第一搬运机构搬运的所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定，所述测定部对由与所述第一搬运机构不同的第二搬运机构搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定。
根据上述的制造装置，即使在缺陷检测工序与分切工序中利用不同的搬运机构搬运膜卷料的情况下，也能够确定膜卷料上存在的缺陷的位置并且测定膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置。
本发明并不限定于上述各实施方式，在技术方案所示的范围内能够进行各种变更，将在不同的实施方式中分别公开的技术手段适当组合而得到的实施方式也包含在本发明的技术范围内。

Claims (12)

1.一种膜制造方法，其特征在于，包括：
缺陷检测工序，对沿长边方向搬运的膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定；
测定工序，对由所述缺陷检测工序检测出缺陷的位置的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定；
分切工序，通过将由所述测定工序测定出宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜；以及
确定工序，根据由所述缺陷检测工序检测出的所述缺陷的位置与由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜，
在所述缺陷检测工序中，对由第一搬运机构搬运的所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定，
在所述测定工序中，对由与所述第一搬运机构不同的第二搬运机构搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定，
所述第一搬运机构与所述第二搬运机构相互独立，所述第一搬运机构与所述第二搬运机构利用互不相同的张力来搬运所述膜卷料，
在所述测定工序中，对相对于所述缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的尺寸的、所述膜卷料的宽度方向的伸缩进行测定。
2.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述确定工序中，根据分切所述膜卷料的位置来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
3.根据权利要求1或2所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述测定工序中，对相对于所述缺陷检测工序中的膜卷料的宽度方向的位置的、所述膜卷料的宽度方向的位置偏移进行测定。
4.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，在通过刀具位置且沿着搬运方向的分切线处分切所述膜卷料，
所述分切工序包括根据由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节所述刀具位置的刀具调节工序。
5.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，在通过刀具位置且沿着搬运方向的分切线处分切所述膜卷料，
所述分切工序包括根据由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置来调节搬运的所述膜卷料的宽度方向的位置或搬运张力的搬运调节工序。
6.根据权利要求1或2所述的膜制造方法，其特征在于，
所述缺陷检测工序将包含检测出的所述缺陷的位置信息的缺陷码赋予所述膜卷料，
所述分切工序包括读取所述缺陷检测工序中赋予的缺陷码的缺陷码读取工序，
所述确定工序根据由通过所述缺陷码读取工序读取的缺陷码表示的所述缺陷的位置与由所述测定工序测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
7.根据权利要求1或2所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述测定工序中，对所述膜卷料的宽度方向的端部的位置进行检测，并且对形成于所述膜卷料且包含所述膜卷料上存在的缺陷的位置的信息的缺陷码进行读取。
8.根据权利要求1或2所述的膜制造方法，其特征在于，
所述膜卷料为非水电解液二次电池用隔膜卷料，
所述膜为非水电解液二次电池用隔膜。
9.一种膜制造装置，其特征在于，具备：
缺陷检测部，其对沿长边方向搬运的膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定；
测定部，其对由所述缺陷检测部检测出缺陷的位置的膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定；
切断部，其通过将由所述测定部测定出宽度方向的尺寸或宽度方向的位置的膜卷料沿长边方向分切而形成多个膜；以及
确定部，其根据由所述缺陷检测部检测出的所述缺陷的位置与由所述测定部测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜，
在所述缺陷检测部，对由第一搬运机构搬运的所述膜卷料上存在的缺陷的位置进行确定，
在所述测定部，对由与所述第一搬运机构不同的第二搬运机构搬运的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置进行测定，
所述第一搬运机构与所述第二搬运机构相互独立，所述第一搬运机构与所述第二搬运机构利用互不相同的张力来搬运所述膜卷料，
所述测定部测定相对于由所述缺陷检测部检测缺陷时的膜卷料的宽度方向的尺寸的、所述膜卷料的宽度方向的伸缩。
10.根据权利要求9所述的膜制造装置，其特征在于，
所述缺陷检测部将包含检测出的所述缺陷的位置信息的缺陷码赋予所述膜卷料，
所述切断部包括对所述缺陷检测部中赋予的缺陷码进行读取的缺陷码读取部，
所述确定部根据由通过所述缺陷码读取部读取的缺陷码表示的所述缺陷的位置与由所述测定部测定出的所述膜卷料的宽度方向的尺寸或宽度方向的位置，来确定所述多个膜中的存在所述缺陷的膜。
11.根据权利要求9所述的膜制造装置，其特征在于，
所述测定部对所述膜卷料的宽度方向的端部的位置进行检测，并且对形成于所述膜卷料且包含所述膜卷料上存在的缺陷的位置的信息的缺陷码进行读取。
12.根据权利要求9至11中任一项所述的膜制造装置，其特征在于，
所述膜卷料为非水电解液二次电池用隔膜卷料，
所述膜为非水电解液二次电池用隔膜。
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