WO2018138850A1 - 磁性体の検査装置および磁性体の検査方法 - Google Patents

Abstract

この磁性体の検査装置（１００、２００、３００、４００）は、スチールワイヤロープ（Ｗ）に対して予め磁界を印加しスチールワイヤロープ（Ｗ）の磁化の方向を整える磁界印加部（１）を備え、磁界の変化を検知部（２）により検知する。

Description

磁性体の検査装置および磁性体の検査方法

　本発明は、磁性体の検査装置および磁性体の検査方法に関し、特に、磁性体の磁界を検知する検知部を備える磁性体の検査装置および磁性体の検査方法に関する。

　従来、磁性体の磁界を検知する検知部を備える磁性体の検査装置が知られている。このような磁性体の検査装置は、たとえば、特開２００３－３０２３７９号公報参照）。

　特開２００３－３０２３７９号公報には、長手方向に延びたスチールワイヤロープ（磁性体）の外周にスチールワイヤロープに対して相対移動可能に設けられたコイルホルダと、それぞれスチールワイヤロープを中心としてスチールワイヤロープの延びる方向に沿うようにコイルホルダの外周に巻き付けられて設けられる励磁コイル（検知部）および検出コイル（検知部）を備えるワイヤロープ断線検知装置（磁性体の検査装置）が開示されている。励磁コイル（検知部）は、スチールワイヤロープに対してスチールワイヤロープの長手方向に磁界を印加するように構成されている。また、検出コイル（検知部）は、スチールワイヤロープから生じるスチールワイヤロープの長手方向の漏洩磁化を検出（検知）して検知信号を出力するように構成されている。また、このワイヤロープ断線検知装置は、センサホルダとスチールワイヤロープとを長手方向に相対移動させることにより、スチールワイヤロープが断線した位置において生じる磁界の漏洩を検知して、スチールワイヤロープの断線を警報するように構成されている。

特開２００３－３０２３７９号公報

　しかしながら、特開２００３－３０２３７９号公報のワイヤロープ断線検知装置（磁性体の検査装置）では、スチールワイヤロープ（磁性体）が有する磁化のバラツキに起因するノイズを検出してしまう。具体的には、スチールワイヤロープ等の磁性体内部の磁化の方向は、製造時（製造後）に、一定の方向に揃っていない場合がある。さらに、滑車等を通過する際に応力や曲がり等が加わることによっても磁性体内部の磁化の方向が変化し、不均一となる。このため、スチールワイヤロープに断線がない均一な部分であっても、スチールワイヤロープが有する磁化の方向のバラツキに起因して、検出コイル（検知部）がノイズに基づいた信号を検出（検知）してしまう場合がある。その場合には、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができないという問題点がある。

　この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことが可能な磁性体の検査装置および磁性体の検査方法を提供することである。

　上記目的を達成するために、この発明の１の曲面における磁性体の検査装置は、検査対象である磁性体に対して予め磁界を印加し磁性体の磁化の方向を整える磁界印加部と、磁界印加部により磁界が印加された後に、磁性体の磁界又は磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部と、検知部により出力された検知信号に基づいて、磁性体の状態の判定を行う判定部とを備えるように構成されている。

　この発明の第１の局面による磁性体の検査装置では、上記のように、磁界印加部により予め磁界が印加された後の磁性体に対して、磁性体の磁界又は磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部と、検知部により出力された検知信号に基づいて、磁性体の状態の判定を行う判定部とを設ける。これにより、磁性体に対して予め磁界が印加されるので、磁性体の均一となる部分（傷等のない部分）の磁化は略整えられる。一方で、磁性体に傷等のある部分の磁界は整わない。その結果、検知部から出力される検知信号が傷等のある部分とない部分とで異なることにより、判定部において磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　なお、本発明において、磁性体の「傷等」とは、磁性体のスレ、局所的磨耗、素線断線、凹み、腐食、亀裂、折れ等により生じる検知方向に対する（磁性体内部で傷等が生じた場合の空隙に起因するものを含む）断面積の変化、磁性体の錆、溶接焼け、不純物の混入、組成変化等により生じる透磁率の変化、その他磁性体が不均一となる部分を含む広い概念である。また、磁界の変化とは、磁性体と検知部とを相対移動させることによる検知部で検知される磁界の強さの時間的な変化、および、磁性体に印加する磁界を時間変化させることによる検知部で検知される磁界の強さの時間的な変化を含む広い概念である。また、「交差」は、直交に限らず、斜め方向に交わることをも含むものとする。

　上記第１の局面による磁性体の検査装置において、好ましくは、磁界印加部は、検査対象である磁性体に対して予め第１方向に磁界を印加し磁性体の磁化の方向を整え、検知部は、磁界印加部により第１方向に磁界が印加された後の磁性体に対して、第１方向に交差する第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化のうち少なくともいずれか一方を検知するとともに、検知した磁性体の第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化に基づく検知信号を出力し、判定部は、検知部により出力された検知信号に基づいて、磁性体の状態の判定を行うように構成されている。このように構成すれば、磁性体に対して、磁界または磁界の変化の検知方向である第２方向と交差する第１方向に予め磁界が印加されるので、磁性体の均一となる部分（傷等のない部分）の磁化は略第１方向に整えられる。その結果、第１方向に予め磁界を印加しない場合と比較して、第２方向の磁界は小さくなる。すなわち、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減し、かつ、検知方向と交差する方向を向くので、このバラツキに起因するノイズの発生を抑制することができる。その結果、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　この場合、好ましくは、磁性体は、長尺材からなり、磁界印加部は、長尺材の長手方向と交差する方向に磁界を印加し、検知部は、長尺材からなる磁性体の第１方向に交差する第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている。このように構成すれば、短手方向（長手方向に交差する方向）に磁界を印加するため、比較的長い長手方向に印加する場合と比較して、磁性体の磁化が小さくなりかつ検知部の検出方向と交差する方向に向く。これにより、ノイズがより低減されるので、磁性体の状態（傷等の有無）の判定をより容易に行うことができる。

　上記長尺材からなる磁性体の検査装置において、好ましくは、磁界印加部は、出力される磁界が検知部での検知に影響しないように、検知部から長尺材が延びる第２方向に離間した位置に設けられている。ここで、検知部と磁界印加部との相対的な位置が変わると、検知部で検知される磁界にノイズが発生する要因となる。また、このノイズは、検知部と磁界印加部との距離が近いほど大きくなる。そのため、磁界印加部を、検知部における磁界の検知に影響がない程度にまで離間させて配置することにより、検知信号のＳ／Ｎ比の精度が上がる。その結果、検知部と磁界印加部との相対的な位置が変わることに起因するノイズの発生を抑制することができる。

　この場合、好ましくは、磁界印加部は、長尺材からなる磁性体に対して第１方向に磁界を印加する第１磁界印加部と、第２方向において、検知部の第１磁界印加部の側とは反対側に設けられ、長尺材からなる磁性体に対し第２方向に交差する面に平行な方向に沿って磁界を印加する第２磁界印加部とを含むように構成されている。このように構成すれば、磁界印加部と磁性体とを第２方向の一方側または第２方向の他方側に対して相対移動させることにより第２方向の磁界の変化を検知する場合に、第２方向の一方側および第２方向の他方側のうちいずれの方向に相対移動させても、検知部による磁界が検知されるよりも前に、磁界印加部により磁性体の磁化の方向を第１方向に整えることができる。

　上記長尺材からなる磁性体の検査装置において、好ましくは、検知部は、長尺材からなる磁性体を中心として磁性体を取り囲み磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられ、磁性体の第２方向の磁界の変化を検知して検知信号を発生する検知コイルを含むとともに、判定部は、検知信号に基づいて長尺材からなる磁性体の状態を判定するように構成されている。このように構成すれば、検知コイルは、検知コイルの有する磁性体の延びる方向に沿って巻回される導線が形成する閉曲線内部の全磁束あるいは全磁束の変化により電圧を発生するので、容易に磁性体の第２方向の磁界の変化を検知することができる。

　この場合、好ましくは、検知コイルは、差動コイルを含み、判定部は、第２方向の磁界により差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する各々の検知信号の大きさの差に基づいて長尺材からなる磁性体の状態を判定するように構成されている。このように構成すれば、差動コイルの一のコイル部分と他のコイル部分とにより発生する磁性体の傷等により生じる検知信号の差を検知することにより、磁性体の状態（傷等の有無）の局所的な変化をより容易に検知することができる。

　上記第１の局面による磁性体の検査装置において、好ましくは、判定部は、検知部により出力された検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた場合に、検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えたことを示す１つまたは複数の閾値信号を外部に出力するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の状態（傷等の有無）が不均一となる部分を、閾値信号に基づいて容易に判定することができる。ここで、本発明では、磁性体の磁化の方向を第１方向に整えているので、第２方向の磁界の検知にノイズが生じにくく、Ｓ／Ｎ比が良好となる。このため、閾値による判定であっても誤った判定が行われることが起こりにくくすることができる。

　この場合、好ましくは、所定の閾値は、第１閾値と第１閾値よりも大きい値となる第２閾値とを含み、判定部は、検知部により出力された検知信号が第１閾値を超えた場合に、検知信号が第１閾値を超えたことを示す第１閾値信号を外部に出力するとともに、検知部により出力された検知信号が第２閾値を超えた場合に、検知信号が第２閾値を超えたことを示す第２閾値信号を外部に出力するように構成されている。このように構成すれば、比較的小さな第１閾値を超えた第１閾値信号により、経過観察等注意を要する程度の小さな傷等を有する磁性体の状態を判定するとともに、比較的小さな第２閾値を超えた第２閾値信号により、早急に交換等を行う必要がある比較的大きな傷等を有する磁性体の状態を判定することができる。

　上記第１の局面による磁性体の検査装置において、好ましくは、判定部は、検知部により出力された検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた回数を各々カウントするとともに、カウントされた回数が各々所定の回数を超えた場合に、カウントされた回数が所定の回数を超えたことを示す信号を外部に出力するように構成されている。このように構成すれば、傷等の数に基づいて、磁性体の劣化等の状態を判定することができる。

　上記長尺材からなる磁性体の検査装置において、好ましくは、検知部は、磁性体の磁化の状態を励振するための励振コイルをさらに含むとともに、励振コイルに流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振された磁性体の第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている。このように構成すれば、励振コイルにより磁性体の傷等の部分の磁化の状態が励振されるので、磁性体の傷等の部分からの第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化を容易に検知することができる。特に、交流電流等を励振コイルに流すことにより磁性体の磁化の状態に時間変化する励振を与える場合には、磁性体の磁界も時間変化する。そのため、磁性体と検知部とを相対移動させることなく、検知部により検知される磁界を変化させ、検知することができる。

　この場合、好ましくは、磁界印加部によって磁性体に印加される磁界は、励振コイルが磁性体の磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きくなるように構成されている。ここで、磁性体の磁化の方向が、予め磁界印加部が印加する大きい磁界により第１方向に整えられているので、磁性体の状態の判定において、第２方向に磁化の状態を励振するために必要な磁界は、第１方向で印加される磁化より小さいものでも検知には十分な大きさである。すなわち、第１方向に磁化の方向が整えられていない場合と比較して、磁化の状態を励振するために必要な磁界の大きさを小さくすることができる。

　上記長尺材からなる磁性体の検査装置において、必要に応じて、検知部は、磁性体を検知部に対して第２方向に相対移動させることにより検知部の検知位置における磁性体の第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の検知部に磁界を検知される部分が相対移動に伴って変化するので、傷等のある部分とない部分との比較により、容易に傷等を検知することができる。

　上記第１の局面による磁性体の検査装置において、好ましくは、検知部は、磁性体の磁界または磁界の変化を検知する少なくとも１つの磁気センサ素子を含むように構成されている。このように構成すれば、検知部を、その内部に磁性体を通過させるようにコイルを設ける場合と異なり、磁性体の大きさあるいは設置状況の制限が緩和され、応用範囲が広がる。

　上記第１の局面による磁性体の検査装置において、好ましくは、磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにＸ線撮影装置に設けられる、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部または被検体を透過したＸ線を検知するＸ線検知部の少なくともいずれか一方を移動させるためのワイヤを含み、検知部は、ワイヤの第２方向の磁界を検知するように構成されている。このように構成すれば、Ｘ線撮影装置に用いられるワイヤの状態（傷等の有無）を容易に判定することができる。

　上記目的を達成するために、この発明の第２の局面における磁性体の検査方法は、検査対象である磁性体に対して予め第１方向に磁界を印加し磁性体の磁化の方向を整えるステップと、第１方向に磁界を印加した後、磁性体に対して、第１方向に交差する第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化を検知するとともに、検知した磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップと、磁性体の状態を判定するステップとを備えるように構成されている。

　この発明の第２の局面による磁性体の検査方法では、上記のように、磁界印加部により第１方向に磁界を印加した後、磁性体に対して、第１方向に交差する第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化のうち少なくともいずれか一方を検知するとともに、検知した磁性体の第２方向の磁界または第２方向の磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部を設ける。これにより、磁性体に対して、磁界または磁界の変化の検知方向である第２方向と交差する第１方向に予め磁界が印加されるので、磁性体に対して、磁界または磁界の変化の検知方向である第２方向と交差する第１方向に予め磁界が印加されるので、磁性体の均一となる部分（傷等のない部分）の磁化は略第１方向に整えられる。その結果、第１方向に予め磁界を印加しない場合と比較して、第２方向の磁界は小さくなる。すなわち、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減し、かつ、検知方向と交差する方向を向くので、このバラツキに起因するノイズの発生を抑制することができる。その結果、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　本発明によれば、上記のように、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

本発明の第１～第３実施形態による磁性体の検査装置を備える移動型Ｘ線透視装置の全体構成を示した図である。 本発明の第１～第３実施形態による磁性体の検査装置の全体構成を示したブロック図である。 本発明の第１実施形態による磁界印加部の磁界の印加方向を説明するための図である。 本発明の第１実施形態による励振コイルおよび検知コイルを説明するための図である。 本発明の第１実施形態による励振コイルの磁化の励振を説明するための図である。 スチールワイヤロープに傷等がある場合を示す図である。 本発明の第１実施形態による電子回路部を示したブロック図である。 比較例よるスチールワイヤロープの磁化の方向を説明するための図である。 本発明の第１実施形態および比較例による磁性体の検知信号の値のグラフである。 本発明の第２実施形態による電子回路部を示したブロック図である。 本発明の第３実施形態による励振コイルと磁気センサ素子を説明するための図である。 本発明の第３実施形態による電子回路部を示したブロック図である。 本発明の第４実施形態による磁界印加部を説明するための図である。 本発明の第１～第３実施形態の変形例による磁界印加部を説明するための図である。 本発明の第４実施形態の変形例による磁界印加部を説明するための図である。 本発明の第１および第２実施形態の変形例による励振コイルおよび検知コイルを説明するための図である。 本発明の第１～第３実施形態の変形例による励振コイルおよび検知コイルを説明するための図である。 本発明の第１～第４実施形態の変形例による検知コイルを説明するための図である。 本発明の第１～第４実施形態の変形例による励振コイルおよび検知コイルを説明するための図である。 本発明の第１～第４実施形態の変形例によるＸ線撮影装置を説明するための図である。

　以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

　（第１実施形態）
　まず、図１～図９を参照して、第１実施形態による検査装置１００の構成について説明する。第１実施形態では、移動型Ｘ線撮影装置（回診車）９００に内蔵されているスチールワイヤロープＷを検査するために検査装置１００が用いられる例について説明する。

　図１に示すように、移動型Ｘ線撮影装置９００は、柱Ｐに対して上下（Ｘ方向）移動可能に構成されているＸ線照射部Ｅ１と、可搬型のＸ線検出部Ｅ２とを備え、車輪により移動可能に構成されている。Ｘ線照射部Ｅ１は、被検体にＸ線を照射する。また、Ｘ線検出部Ｅ２は、被検体を透過したＸ線を検出し、Ｘ線画像を受像する。また、Ｘ線照射部Ｅ１とＸ線検出部Ｅ２とは、たとえば、それぞれＸ管とＦＰＤ（フラットパネルディテクター）により構成されている。また、柱Ｐ内には、Ｘ線照射部Ｅ１を牽引し支えるスチールワイヤロープＷと、スチールワイヤロープＷの延びる上下方向（Ｘ方向）に対して移動可能に構成されている検査装置１００が内蔵されている。なお、スチールワイヤロープＷは、特許請求の範囲の「磁性体」、「長尺材」および「ワイヤ」の一例である。

　スチールワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成され、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。また、図示は省略したが、スチールワイヤロープＷは、Ｘ線照射部Ｅ１を移動させる際に滑車等の機構を通過し、滑車等による応力が加えられる。スチールワイヤロープＷに劣化による切断が起こりＸ線照射部Ｅ１が落下するのを防ぐために、普段からスチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を監視し、劣化が進行したスチールワイヤロープＷを早い段階で交換することが必要である。

　図３（ａ）に示すように、検査装置１００は、スチールワイヤロープＷの磁界（磁束）の変化を検知するように構成されている。また、検査装置１００は、フレームＦに設けられる磁界印加部１、検知部２および電子回路部３を含む検査ユニットＵ（図２参照）と、検査ユニットＵをスチールワイヤロープＷに対して移動可能にするドライバ（図示なし）および駆動部（図示なし）とを備える。Ｙ方向およびＺ方向はスチールワイヤロープＷの延びる方向に垂直な面内で直交する２つの方向である。なお、電子回路部３は、特許請求の範囲の「判定部」の一例である。

　磁界印加部１は、検査対象であるスチールワイヤロープＷに対して予めＹ方向に磁界を印加し磁性体の磁化の方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部１は、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対してＹ２方向に磁界を印加する第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂと、Ｘ方向において、検知部の第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂの側とは反対側に設けられ、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対しＸ方向に交差する面に平行かつＹ２方向と反対方向となるＹ１方向に沿って磁界を印加する第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂとを含む。すなわち、磁界印加部１は、長尺材の長手方向であるＸ方向と略直交する方向に磁界を印加するように構成されている。なお、Ｙ方向（Ｙ１方向およびＹ２方向）は、特許請求の範囲の「第１方向」の一例である。また、Ｘ方向（Ｘ１方向およびＸ２方向）は、特許請求の範囲の「第２方向」の一例である。

　具体的には、磁界印加部１（第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂと、第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂと）は、フレームＦに対して固定されている（図２参照）。また、磁界印加部１は、たとえば、永久磁石により構成されている。磁界印加部１により印加される磁界の大きさは、スチールワイヤロープＷの磁化の方向を（傷等のない部分においては）Ｙ方向に略均一に整えるために、比較的強い磁界を印加することが可能に構成されている。

　また、第１磁界印加部１１ａと１１ｂとは、第１磁界印加部１１ａのＹ２方向に向けられたＮ極（斜線あり）と第１磁界印加部１１ｂのＹ１方向に向けられたＳ極（斜線なし）とがスチールワイヤロープＷを挟んで対向するように設けられている。これにより、第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂの間を通過したスチールワイヤロープＷは、図３（ｂ）に示すように、第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂにより磁界が印加され、スチールワイヤロープＷの延びる方向と直交するＹ２方向に磁化の方向が整えられる。

　また、第２磁界印加部１２ａと１２ｂとは、第２磁界印加部１２ａのＹ２方向に向けられたＳ極（斜線なし）と第２磁界印加部１２ｂのＹ１方向に向けられたＮ極（斜線あり）とがスチールワイヤロープＷを挟んで対向するように設けられている。これにより、第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂの間を通過したスチールワイヤロープＷは、第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂにより磁界が印加され、スチールワイヤロープＷの延びる方向と直交するＹ１方向に磁化の方向が整えられる（磁化方向の図示は省略）。

　ここで、検査ユニットＵをＸ１方向に移動させることにより、検査ユニットＵに設けられた磁界印加部１および検知部２とスチールワイヤロープＷとを相対移動させる場合、第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂによって検知部２により検査される部分に予め磁界が印加され、磁化の方向が整えられる。また、検査ユニットＵをＸ２方向に移動させることにより、検査ユニットＵに設けられた磁界印加部１および検知部２とスチールワイヤロープＷとを相対移動させる場合、第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂによって検知部２により検査される部分に予め磁界が印加され、磁化の方向が整えられる。したがっていずれの方向に相対移動させる場合にも、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷに対して、予め磁界を印加して磁化の方向を整えることができる。

　また、第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂと、第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂとは、磁界を印加する方向がＹ２方向とＹ１方向となり反対方向である。したがって、検査の前後において、磁界印加部１によりスチールワイヤロープＷが磁化される方向が、逆になるので、検査後のスチールワイヤロープＷに磁化が残存しにくい。

　また、磁界印加部１は、出力される磁界が検知部２での検知に影響しないように、検知部２から長尺材であるスチールワイヤロープＷが延びるＸ方向に離間した位置に設けられている。具体的には、スチールワイヤロープＷのたわみや、磁界印加部１と検知部２とが固定するフレームＦのガタツキなどにより、スチールワイヤロープＷに対する磁界印加部１および検知部２の相対位置の関係が変化すると、検知信号にノイズが生じる原因となる。そのため、磁界印加部１は、検知部２に与える影響が問題とならない程度に離間した位置に設けられている。

　また、磁界印加部１によって磁性体に印加される磁界は、励振コイル２１（後述）がスチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きくなるように構成されている。具体的には、磁界印加部１により印加される磁界は、スチールワイヤロープＷの磁化の方向を略Ｙ２方向に整える（揃える）ために、比較的大きくする必要がある。一方で、励振コイル２１によりスチールワイヤロープＷの磁化を励振するのに必要な磁界は、比較的小さいもので十分である。詳しくは後に説明する。

　検知部２は、図４に示すように、励振コイル２１と検知コイル２２とを含む。また、励振コイル２１および検知コイル２２は、図３（ａ）および図４に示すように、長尺材からなる磁性体であるスチールワイヤロープＷの延びる方向を中心軸として、長手方向に沿うように複数回巻回され、スチールワイヤロープＷの延びるＸ方向（長手方向）に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、巻回される導線の形成する面は、長手方向に略直交し、スチールワイヤロープＷはコイルの内部を通過する。また、検知コイル２２は、励振コイル２１の内側に設けられている。

　また、励振コイル２１に励振電流が流されることにより、励振コイル２１の内部において、励振電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿って印加されるように構成されている。これにより、励振コイル２１は、スチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。具体的には、図５（ａ）のように、磁界印加部１により予め磁化の方向が整えられているので、励振コイル２１による磁界の印加がない場合には、傷等のない部分において、スチールワイヤロープＷの磁化の方向は、Ｙ２方向に略揃っている。ここで、図５（ｂ）に示すように、励振コイル２１に一定の大きさかつ一定の周波数を有する交流電流（励振電流）が外部から流されることにより、スチールワイヤロープＷの延びるＸ方向に振動する（Ｘ１方向への磁界とＸ２方向への磁界が周期的にあらわれる）ように磁界が印加される。また、励振コイル２１に流れる時間変化する励振電流の向き（実線または点線）に伴って、励振コイル２１により印加される磁界（実線または点線）の方向も変化する。

　したがって、時間変化する磁界によりスチールワイヤロープＷの磁化の方向が励振され、スチールワイヤロープＷから発せられる磁界も時間変化する。その結果、スチールワイヤロープＷと検知コイル２２との相対位置を変化させることなく、スチールワイヤロープＷの同じ部分による磁界が時間変化するため、磁界の変化を検知する検知コイル２２（後述）により、スチールワイヤロープＷの状態を判定することができる。

　また、検知コイル２２は、磁性体のＸ方向の磁界の変化を検知して電圧を発生するように構成されている。また、検知コイル２２は、磁界印加部１によりＹ２方向に磁界が印加されたスチールワイヤロープＷに対して、Ｙ２方向に交差するＸ方向の磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化に基づく電圧を出力するように構成されている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

　また、検知コイル２２は、２つのコイル部分である検知コイル２２ａおよび２２ｂからなる差動コイルとなっている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１に流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振されたスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知する。

　図６は、傷等のあるスチールワイヤロープＷの例である。図６において、素線の編まれ方は、簡略化して示されている。図６（ａ）のスチールワイヤロープＷは、表面部分の素線が断線している。そのため、素線断線の生じた部分から磁界が漏れ出ている。また、図６（ｂ）のスチールワイヤロープＷは、スレもしくは打痕により表面部に凹みが生じている。また、図６（ｃ）のスチールワイヤロープＷは、内部に素線断線が生じている。これら傷等のある位置の断面積Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３は、傷等のない部分の断面積Ｓ０と比較して、それぞれ小さくなっているため、スチールワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）は傷等のある部分で小さくなる。以上のように、磁界の漏れや、全磁束の減少が生じるため、傷等のある部分では検知される磁界に変化が生じる。

　その結果、たとえば、傷等のある場所に位置する検知コイル２２ａの検知電圧の値が検知コイル２２ｂと比較して減少するため、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）が大きくなる。すなわち、傷等のない部分での検知信号は略ゼロとなり、傷等のある部分では検知信号がゼロより大きい値を持つので、差動コイルにおいて、傷等の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部３（後述）は、検知信号の差の値に基づいてスチールワイヤロープＷの傷等の存在を検出することができる。また、傷等の大きさ（断面積の減少量の大きさ）が大きいほど、検知信号の値が大きくなるため、傷等の大きさを判定（評価）する際に、ある程度以上に大きな傷等があれば、検知信号が所定の第１閾値Ｔｈ１または第２閾値Ｔｈ２（後述）を超えたことを自動で判定することが可能となる。なお、傷等には錆等による透磁率の変化も含まれ、同様に検知信号としてあらわれる。

　図７に示すように、電子回路部３は、検知コイルからの信号に基づいて長尺材からなるスチールワイヤロープＷの状態を判定するように構成されている、また、電子回路部３は、交流電源３１と、増幅器３２と、ＡＤ変換器３３と、ＣＰＵ３４と、デジタル出力インターフェース３５とを含む。交流電源３１は、励振コイル２１に交流電流を流す（出力する）。増幅器３２は、検知コイル２２から出力される検知信号（スチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の強さに基づく電流）を増幅し、ＡＤ変換器３３に出力する。ＡＤ変換器３３は、増幅器３２により増幅されたアナログの検知信号を、デジタルの検知信号に変換する。ＣＰＵ３４は、ＡＤ変換器３３から出力される検知信号から交流成分を取り除く処理を行い、検知信号の絶対値の変化に対応した信号（ＤＣレベル信号）に変換する同期検波整流処理を行うとともに、検知信号が後述する所定の閾値を超えた場合に、警報信号を出力する。また、ＣＰＵ３４は、交流電源３１により出力される電流の強さを制御する。また、傷等の大きさを判定する機能をＣＰＵ３４に持たせている。デジタル出力インターフェースは、外部の図示しないＰＣなどに接続され、処理がされた検知信号や警報信号のデジタルデータを出力する。また、外部のＰＣは、入力された信号の大きさをメモリに保存や、信号の大きさの時間経過に伴うグラフの表示とともに、ＣＰＵ３４を介して、検知部２（一体構成されたフレーム）のスチールワイヤロープＷに対する移動速度の制御等を行う。

　また、電子回路部３は、検知コイル２２（検知部２）により出力された検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えた場合に、検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えたことを示す第１閾値信号を外部に出力するとともに、検知部２により出力された検知信号が第２閾値Ｔｈ２を超えた場合に、検知信号が第２閾値Ｔｈ２を超えたことを示す第２閾値信号を外部に出力するように構成されている。

　（比較例）
　ここで、磁界印加部１が設けられていないことを除いて同様に構成されている比較例による磁性体の検査装置１０１と比較しながら、検査装置１００の磁界印加部１による磁化について説明する。

　磁界印加部１が設けられていない比較例による磁性体の検査装置１０１（図示省略）では、励振コイル２１により、Ｘ方向に磁場が印加される。このとき、傷等の無い均一な部分で検知される検知信号（移動や励振等に伴う磁界の時間変化も含む磁性体の磁界の大きさ）が等しくなるように、励振コイル２１によりＸ方向に印加する磁界を大きくする必要がある。また、予め磁化の方向を整えて（揃えて）いないので、励振コイル２１によりＸ方向に印加される磁界は、磁化の方向を略Ｘ方向に揃える程度に大きくする必要がある。

　ここで、図８に示すように、磁界を印加する前において、磁性体であるスチールワイヤロープＷ内は、製造時点で、内部の構造ごとに磁化の方向がバラついている。また、滑車等の機構を通過し、応力等の外力が加えられることによっても、これらの磁化の方向は変化していく。したがって、傷等の無い均質な部分であっても、励振コイル２１により磁化の方向をＸ方向に励振しても磁化の方向のバラツキが消しきれないため、スチールワイヤロープＷの場所ごとの磁化の大きさおよび方向のバラツキにより検知信号にノイズが生じる原因となる。

　一方で、予め磁界を印加することにより磁化の大きさおよび方向を整えて（揃えて）おく場合は、磁性体の傷等のない部分の磁界は概ね一定の大きさとなって検知されるため、傷からの信号と区別が容易となる。

　特に、長尺材であるスチールワイヤロープＷであれば、長手方向（Ｘ方向）に磁化させる場合と比較して、短手方向（Ｙ方向）に磁化させる場合のスチールワイヤロープＷ（一般に磁性体）の磁化の大きさは、スチールワイヤロープＷの太さに応じて数十分の１から数千分の１程度に小さくなり、かつ、短手方向（Ｙ方向）に磁化の方向を整えるため、残留磁化の問題が緩和される。

　図９のグラフは、比較例および第１実施形態における、スチールワイヤロープＷの磁界の変化のグラフである。グラフの縦軸は、検知信号の大きさに対応し、グラフの横軸は、検知位置（スチールワイヤロープＷの検知される場所）に対応している。ＣＰＵ３４により同期検波整流処理がされているため、励振コイル２１により印加される磁界の時間変化の影響は取り除かれている。

　磁界印加部１を設けない比較例による磁性体の検査装置１０１において、図９の整磁前のグラフに示すように、傷等の無い部分であっても、磁化の大きさおよび方向のバラツキによるノイズが検知されている。そのため、このような比較例による磁性体の検査装置１０１では、経験や知識（たとえば、特徴的な検知信号のあらわれのパターン方など）のない非専門化が傷等の有無を判断することは難しい。特に、閾値等を設けて信号の大きさのみに基づいて判定する場合、誤判定の原因となる。

　一方で、磁界印加部１が設けられた第１実施形態による検査装置１００において、図９の整磁後のグラフに示すように、ノイズはほとんど検知されない。具体的には、ノイズ大きさが相対的に小さく、Ｓ／Ｎ比の良好なグラフとなり、検知信号が明確にあらわれている。したがって、磁界印加部１により、非専門家や閾値による判定であっても、誤判定が生じない程度にノイズを低減することができる。なお、図９の整磁後のグラフにおいて、スチールワイヤロープＷの傷等のある部分の位置が差動コイルの一方側から他方側に移ったことによる検知信号の正負の逆転が明瞭にあらわれていることがわかる。

　（第１実施形態の効果）
　本発明の第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

　本発明の第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１により予め磁界が印加された後のスチールワイヤロープＷに対して、スチールワイヤロープＷの磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部２と、検知部２により出力された検知信号に基づいて、スチールワイヤロープＷの状態の判定を行う電子回路部３とを設ける。これにより、スチールワイヤロープＷに対して予め磁界が印加されるので、スチールワイヤロープＷの均一となる部分（傷等のない部分）の磁化は略整えられる。一方で、スチールワイヤロープＷに傷等のある部分の磁界は整わない。その結果、検知部２から出力される検知信号が傷等のある部分とない部分とで異なることにより、電子回路部３においてスチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１によりＹ２方向に磁界が印加された後のスチールワイヤロープＷに対して、Ｙ方向に略直交するＸ方向の磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部２および電子回路部３を設ける。これにより、スチールワイヤロープＷに対して、磁界の変化の検知方向であるＸ方向と略直交するＹ方向に予め磁界が印加されるので、スチールワイヤロープＷの均一となる部分（傷等のない部分）の磁化は略Ｙ方向に整えられる。その結果、Ｙ方向に予め磁界を印加しない場合と比較して、Ｘ方向の磁界は小さく（略ゼロと）なる。すなわち、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減し、かつ、検知方向と直交する方向を向くので、このバラツキに起因するノイズの発生を抑制することができる。その結果、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、スチールワイヤロープＷは、長尺材からなり、磁界印加部１は、長尺材であるスチールワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）と略直交する方向（Ｙ方向）に磁界を印加し、検知部２および電子回路部３は、スチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、短手方向（長手方向に略直交する方向）に磁界を印加するため、比較的長い長手方向に印加する場合と比較して、スチールワイヤロープＷの磁化の方向がより整いやすくなる。その結果、ノイズがより低減されるので、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定をより容易に行うことができる。また、長手方向に磁化する場合と比較して、磁性体の磁化が小さくなりかつ検知部の検出方向と略直交する方向に向く。これにより、ノイズがより低減されるので、磁性体の状態（傷等の有無）の判定をより容易に行うことができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１は、出力される磁界が検知部２での検知に影響しないように、検知部２から長尺材が延びるＸ方向に離間した位置に設けられている。これにより、検知信号のＳ／Ｎ比の精度が上がる。その結果、検知部２と磁界印加部１との相対的な位置が変わることに起因するノイズを抑制することができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１を、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対してＹ２方向に磁界を印加する第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂと、Ｘ方向において、検知部２の第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂの側とは反対側に設けられ、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対しＸ方向に交差する面に平行なＹ１方向に沿って磁界を印加する第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂとを含むように構成する。これにより、磁界印加部１とスチールワイヤロープＷとをＸ方向の一方側であるＸ１方向側またはＸ方向の他方側であるＸ２方向側に対して相対移動させることによりＸ方向の磁界の変化を検知する場合に、Ｘ１方向側またはＸ２方向側うちいずれの方向に相対移動させても、検知部２において磁界が検知されるよりも前に、磁界印加部１によりスチールワイヤロープＷの磁化の方向をＹ方向（Ｙ１方向またはＹ２方向）に整えることができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、検知信号を発生する検知コイル２２を設けて、電子回路部３は、検知信号に基づいて長尺材からなるスチールワイヤロープＷの状態を判定するように構成されている。これにより、検知コイル２２は、検知コイル２２の有するスチールワイヤロープＷの延びるＸ方向に沿って巻回される導線が形成する閉曲線内部の全磁束に起因する誘電電圧が発生するので、容易にスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知することができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、検知コイル２２は、差動コイルを構成し、電子回路部３は、Ｘ方向の磁界により差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する電圧の大きさの差に基づいて長尺材からなるスチールワイヤロープＷの状態を判定するように構成されている。これにより、差動コイルの一のコイル部分と他のコイル部分とにより生じる電圧（検知信号）の差を検知することにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の局所的な変化をより容易に検知することができる。

　ここで、励振コイル２１および検知コイル２２の内部を通過するスチールワイヤロープＷは、たわみが生じることにより、検知コイル２２ａおよび２２ｂの中心軸から少しずれた位置（たとえば、図４の場合、距離ｒ１＞距離ｒ２）を通ることがある。検知コイル２２ａおよび２２ｂは、スチールワイヤロープＷを中心軸として対称形（円筒対称）となるように構成されているので、スチールワイヤロープＷの中心軸からのずれに起因するノイズは抑制される。

　さらに、差動コイルとなるように、検知コイル２２に２つの検知コイル２２ａおよび２２ｂを設けているので、それぞれのコイル部分におけるスチールワイヤロープＷの中心軸からのずれが、略等しくなる。このことによっても、スチールワイヤロープＷの中心軸からのずれに起因するノイズは抑制される。

　また、第１実施形態では、上記のように、電子回路部３は、検知部２により出力された検知信号が２つの所定の閾値Ｔｈ１およびＴｈ２を超えた場合に、検知信号が２つの所定の閾値Ｔｈ１およびＴｈ２を各々超えたことを示す２つの閾値信号（第１閾値信号および第２閾値信号）を外部に出力するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）が不均一となる部分を、閾値信号に基づいて容易に判定することができる。ここで、第１実施形態では、スチールワイヤロープＷの磁化の方向をＹ方向に整えているので、Ｘ方向の磁界の検知にノイズが生じにくく、Ｓ／Ｎ比が良好となる。このため、閾値Ｔｈによる判定であっても誤った判定が行われることが起こりにくくすることができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、所定の閾値Ｔｈは、第１閾値Ｔｈ１と第１閾値Ｔｈ１よりも大きい値となる第２閾値Ｔｈ２とを含み、電子回路部３は、検知部２および電子回路部３により出力された検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えた場合に、検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えたことを示す第１閾値信号を外部に出力するとともに、検知部により出力された検知信号が第２閾値Ｔｈ２を超えた場合に、検知信号が第２閾値を超えたことを示す第２閾値信号を外部に出力するように構成されている。これにより、比較的小さな第１閾値Ｔｈ１を超えた第１閾値信号により、経過観察等注意を要する程度の小さな傷等を有するスチールワイヤロープＷの状態を判定するとともに、比較的大きな第２閾値Ｔｈ２を超えた第２閾値信号により、早急に交換等を行う必要がある比較的大きな傷等を有するスチールワイヤロープＷの状態を判定することができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、励振コイル２１に流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振されたスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、励振コイル２１によりスチールワイヤロープＷの傷等の部分の磁化の状態が励振されるので、スチールワイヤロープＷの傷等の部分からのＸ方向の磁界の変化を容易に検知することができる。特に、交流電流等を励振コイル２１に流すことによりスチールワイヤロープＷの磁化の状態に時間変化する励振を与える場合には、スチールワイヤロープＷの磁界も時間変化する。そのため、スチールワイヤロープＷと検知部２とを相対移動させることなく、検知部２により検知される磁界を変化させ、検知することができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１によってスチールワイヤロープＷに印加される磁界は、励振コイル２１がスチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きくなるように構成されている。ここで、スチールワイヤロープＷの磁化の方向が予め磁界印加部１の印加する大きい磁界によりＹ方向に整えられているので、スチールワイヤロープＷの状態の判定において、Ｘ方向に磁化の状態を励振するために必要な磁界は、Ｙ方向で印加される磁化より小さいものでも検知には十分な大きさである。すなわち、Ｙ方向に磁化の方向が整えられていない場合と比較して、Ｘ方向に磁化の状態を励振するために必要な磁界の大きさを小さくすることができる。

　また、励振コイル２１によるスチールワイヤロープＷの磁化の方向は、磁性体の磁界印加部１によりに整えられた磁化の方向（Ｙ２方向）と略直交するため、励振コイル２１により印加される磁界は、Ｘ１またはＸ２方向にわずかに振れさせる程度でも検知コイル２２により十分検知可能である。したがって、励振コイル２１による磁界は、磁界印加部１により印加される磁界よりも十分に小さくすることができる。これにより、励振コイル２１に流す電流の大きさを小さくすること（省電力化）ができる。また、磁界印加部１を永久磁石により構成したので、磁化の方向を整えるために電力が必要ない。これらの結果。バッテリー等により駆動する移動型Ｘ線撮影装置９００に用いられる検査装置１００等であっても検査を行うことができる。

　また、第１実施形態では、上記のように、スチールワイヤロープＷは、被検体に対して相対的に移動可能となるように移動型Ｘ線撮影装置９００に設けられ、検知部２は、Ｘ線照射部Ｅ１を移動させるためのスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界を検知するように構成されている。これにより、移動型Ｘ線撮影装置９００に用いられるワイヤの状態（傷等の有無）を容易に判定することができる。

　（第２実施形態）
　次に、図１０を参照して、第２実施形態による検査装置２００の構成について説明する。第２実施形態による検査装置２００は、第１実施形態とは異なり、励振コイルに供給される励振電流が時間変化しない直流電流である。

　具体的には、検査装置２００は、検査ユニットＵに設けられた電子回路部３０２を含む。また、電子回路部３０２は、図１０に示すように、直流電源３１２を含む。直流電源は、励振コイル２１に時間変化しない（一定値となる）直流電流を流す。これにより、励振コイル２１内には、Ｘ方向に一定の大きさとなる静磁界が生じる。

　ここで、第２実施形態による検査装置２００では、検知部２０２は、スチールワイヤロープＷを検知部２に対してＸ方向に略一定となる定速度で相対移動させることにより検知部２の検知位置におけるスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。

　具体的には、検査時に、検知部２０２の検知コイル２２により検知されるスチールワイヤロープＷの位置が時間変化するのに伴って、検知コイル２２により検知される磁界も時間変化する。検知コイル２２がスチールワイヤロープＷの傷等のない部分を通過している場合には、検知コイル２２内の磁界のＸ方向の大きさは略一定となるので、検知信号も一定値となる。一方、検知コイル２２がスチールワイヤロープＷの傷等のある部分に位置する場合、検知位置における磁界の大きさが時間変化するので、検知信号が変化する。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を判定することができる。

　第２実施形態のその他の構成については、第１実施形態と同様である。

　（第２実施形態の効果）
　第２実施形態では、上記のように、検知部２０２は、スチールワイヤロープＷを検知部２に対してＸ方向に略一定となる定速度で相対移動させることにより検知部２０２の検知位置におけるスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷの検知部２０２に磁界を検知される部分が相対移動に伴って変化するので、傷等のある部分とない部分との比較により、容易に傷等を検知することができる。また、定速度で相対移動させることによって、傷等のない位置では検知信号が略一定となり、傷等のある位置では異なる検知信号が出力されるため、スチールワイヤロープＷの傷等の状態の判定が容易となる。

　第２実施形態のその他の効果については、第１実施形態と同様である。

　（第３実施形態）
　次に、図１１および図１２を参照して、第３実施形態による検査装置３００の構成について説明する。第３実施形態による検査装置３００は、第１実施形態とは異なり、スチールワイヤロープＷの磁界を検知する磁気センサ素子２３が設けられている。

　具体的には、検査装置３００は、検査ユニットに設けられる検知部２０３と電子回路部３０３を備えている。また、検知部２０３は、スチールワイヤロープＷの長手方向に直交する面において、スチールワイヤロープＷを円周状に取り囲むように複数（スチールワイヤロープＷを軸として対称に１２個）配置されている。また、磁気センサ素子２３は、たとえば、コイル、励振コイルつきコイル、励振コイルつき差動コイル、ホール素子、磁気インピーダンス素子、磁気抵抗素子などのいずれか１つあるいはいくつかが複合したものにより構成されている。ここで、単にコイルを用いる場合は、静磁界を検出できないため、磁性体を移動させながら測定を行う必要があるのに対し、励振コイルを併用した場合は、測定対象の磁性体を静止させた状態においても、測定を行うことが可能となる。また、ホール素子、磁気インピーダンス素子、磁気抵抗素子を用いたときは、これら素子そのものが静磁界を測定することが可能なことから、測定対象の磁性体を静止させた状態においても、測定を行うことが可能となる。なお、磁気センサ素子２３を、２方向あるいは３方向を検出するように複数の磁気センサ素子２３を複数個所に配置してもよい。また、磁気センサ素子２３は、磁界の変化の大きさのみならず磁界の大きさも検出するように構成することもできる。

　また、図１２に示すように、電子回路部３０３は、磁気センサ素子２３を電気的に制御し、検知部２０３からの電気信号を処理して検知信号として出力するように構成される。

　第３実施形態のその他の構成については、第１実施形態と同様である。

　（第３実施形態の効果）
　第３実施形態では、上記のように、磁界印加部１によりＹ２方向に磁界が印加された後のスチールワイヤロープＷに対して、磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界に基づく検知信号を出力する検知部２を設ける。これによっても、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減した状態で検知が行われるため、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　また、第３実施形態では、上記のように、検知部２は、スチールワイヤロープＷの磁界を検知する少なくとも１つの磁気センサ素子２３がスチールワイヤロープＷの外側に配置されるように構成されている。これにより、検知部２を、内部を通過するスチールワイヤロープＷの磁界の変化を検知するコイルにより構成する場合とは異なり、スチールワイヤロープＷの寸法（たとえば、太さ等）の制限から開放され応用範囲が拡大する。

　第３実施形態のその他の効果については、第１実施形態と同様である。

　（第４実施形態）
　次に、図１３を参照して、第４実施形態による検査装置４００の構成について説明する。

　第４実施形態による検査装置４００は、検知コイル２２４から出力される検知信号が入力され増幅する増幅部３２４と、ＡＤ変換器３３４と、ＣＰＵ３４４と、切り替え可能な交流電源３１４および直流電源３６４とが設けられた電子回路３０４を備えている。また、検査装置４００は、切り替え可能な交流電源３１４および直流電源３６４の一方と接続されるコイル部４４と、コイル部４４が巻かれるヨーク部１４ｙとを備える。

　また、第４実施形態による検査装置４００は、予めスチールワイヤロープＷに磁界を印加する際にはコイル部４４に直流電源３１６を接続する。これにより、スチールワイヤロープＷとヨーク部１４ｙとに磁気回路が形成され、スチールワイヤロープＷに予め磁界が印加される。すなわち、スチールワイヤロープＷが、長手方向（Ｘ方向）に対して略平行となる方向に予め磁化されることになる。この場合、ヨーク部１４ｙが特許請求の範囲の「磁界印加部」として機能している。

　また、第４実施例では、測定時にはコイル部４４に交流電源３１４を接続する。予めスチールワイヤロープＷの測定対象領域を長手方向（Ｘ方向）に磁化した後に測定を行う点は変わらない。

　なお、コイル部４４に流す電流は、上記のように交流電源３１４と直流電源３６４との切り替えにより、内部に流れる電流をそれぞれ交流電流と直流電流とに変更することができる。また、予め磁界を印加する際と測定する際との電流源の切り替え（選択）や電流量の増減は、ＣＰＵ３４４により変更される。

　（第４実施形態の効果）
　第４実施形態では、上記のように、予め磁界が印加された後のスチールワイヤロープＷに対して、スチールワイヤロープＷの状態の判定を行うように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

　すなわち、上記のように、ヨーク部１４ｙにより磁性体に予め磁界を印加する方向（Ｘ方向）と、検知部２により磁界を検出する方向（Ｘ方向）が直交（交差）していない場合でも、スチールワイヤロープＷの傷等のある部分については、他の部分に比べて生ずる磁界（または磁界の変化）が乱れるため、その後に磁界（または磁界の変化）を測定すれば、スチールワイヤロープＷ上に傷等が存在するかどうかを判定することが可能である。

　ただし、検知部に含まれる励振コイルにより交流磁界を印加して測定を行う場合には、第１実施形態のように、スチールワイヤロープＷの長手方向と直交する方向に磁化する方が、スチールワイヤロープＷの傷等をより高精度に検出することが可能となる。

　（変形例）
　なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

　たとえば、上記第１～第４実施形態では、磁性体を長尺材とする例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体は、たとえば、長尺材以外の薄板、鉄球（ベアリング）等でもよい。その他、均一な構造をもつ磁性体全般の検査に本発明を用いることができる。また、磁性体が薄板等である場合、薄板等の面に垂直な方向（厚みの方向）に磁化を印加し、薄板等の面の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成してもよい。

　また、上記第１～第４実施形態では、長尺材からなる磁性体をスチールワイヤロープとする例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、長尺材からなる磁性体は、薄板、角材、円筒状のパイプ、針金、チェーン等でもよい。

　また、上記第１～第４実施形態では、磁界印加部が検査ユニットと一体構成とされている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁界印加部と検知部との相対位置は変更可能に構成してもよい。具体的には、スチールワイヤロープの磁化の方向を磁界印加部により長手と直交する方向に整えた後、磁界印加部のみをスチールワイヤロープＷから離した位置に移動させてもよい。これにより、検知部によるスチールワイヤロープの磁界または磁界の変化の検知時に、磁界印加部の磁界が検知部に影響しないように離間させることができる。

　また、第１～第３実施形態において、スチールワイヤロープの延びる方向（Ｘ方向）と垂直な方向（Ｙ方向）に予め磁界を印加する場合に、磁界印加部１の構成を、図１４に示すような構成としてもよい。具体的には、図１４（ａ）に示すように、第１磁界印加部１１ｅおよび１１ｆと、第２磁界印加部１２ｅおよび１２ｆとの磁界の印加方向は、同一であってもよい。また、図１４（ｂ）に示すように、第１磁界印加部１１ｇおよび１１ｈと、第２磁界印加部１２ｇおよび１２ｈとの磁界の印加方向は、平行でなくてもよい（それぞれ、Ｙ方向と、Ｙ方向に対して角度θ傾いた方向となっている）。また、図１４（ｃ）に示すように、第１磁界印加部１１ｉおよび第２磁界印加部１２ｉのように、単一の構成（対向するように設けない構成）として同一方向に磁界を印加してもよい。また、図１４（ｄ）および（ｅ）に示すように、検知部の片側にのみ磁界印加部１３ａおよび１３ｂ（または、磁界印加部１３ｃ）を設けるように構成してもよい。なお、第１磁界印加部および第２磁界印加部の磁極の向きは、共に同一の方向（たとえば、Ｙ２方向）でもよいし、互いに逆向きとなる方向（たとえば、Ｙ１方向とＹ２方向）でもよい。

　また、第１～第３実施形態では、磁界印加部１による磁場の印加方向をスチールワイヤロープＷと交差する方向とする場合に、スチールワイヤロープＷの長手方向に直交する方向としたが、少なくとも磁界の印加方向がスチールワイヤロープの長手方向に交差するように（たとえば、検出方向である長手方向に対して４５度から１３５度の範囲で交差するように）設ければよい。

　また、上記第１から第３実施形態では、磁界印加部を永久磁石により構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁界印加部を電磁石（コイル）により構成してもよい。

　また、第４実施形態において、スチールワイヤロープの延びる方向と沿った方向（Ｘ方向）に予め磁界を印加する際に、磁界印加部１４の構成を、図１５に示すような構成としてもよい。具体的には、図１５（ａ）に示すように、第１磁界印加部１１ｊおよび１１ｋと、第２磁界印加部１２ｊおよび１２ｋとの磁界の印加方向は、同一（すなわち、同じ特性）であってもよい。また、図１５（ｂ）に示すように、第１磁界印加部１１ｌおよび１１ｍと、第２磁界印加部１２ｌおよび１２ｍとの磁界の印加方向は、平行でなくてもよい（それぞれ、Ｘ方向と、Ｙ方向に対して角度θ傾いた方向となっている）。また、図１５（ｃ）に示すように、第１磁界印加部１１ｎおよび第２磁界印加部１２ｎのように、単一の構成（対向するように設けない構成）として同一方向に磁界を印加して（同一の特性として）もよい。また、図１５（ｄ）および（ｅ）に示すように、検知部の片側にのみ磁界印加部１３ｄおよび１３ｅ（または、磁界印加部１３ｆ）を設けるように構成してもよい。なお、第１磁界印加部および第２磁界印加部の磁極の向きは、共に同一の方向（たとえば、Ｘ２方向）でもよいし、互いに逆向きとなる方向（たとえば、Ｘ１方向とＸ２方向）でもよい。なお、第４実施形態のようにヨーク部により予め磁界を印加してもよいし、永久磁石により予め磁界を印加してもよい。

　また、上記第１および第２実施形態では、励振コイル２１の内側に差動コイルとなる検知コイル２２ａおよび２２ｂを配置する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図１７（ａ）に示すように、差動コイルからなる検知コイル２２ｃおよび２２ｄを励振コイル２１ｃの外側に配置してもよい。また、図１７（ｂ）に示すように、差動コイルからなる検知コイル２２ｅおよび２２ｆを、励振コイル２１ｄを挟むように励振コイル２１ｄのＸ方向（長手方向）の両側に並べて配置してもよい。また、図１７（ｃ）に示すように、差動コイルではない単一の検知コイル２２ｇを励振コイル２１ｅの内側（または、外側）に配置してもよい。また、図１７（ｄ）に示すように、２つの励振コイル２１ｆおよび２１ｇを、単一の検知コイル２２ｈを挟むように検知コイル２２ｈのＸ方向（長手方向）の両側に並べて配置してもよい。図１７（ｅ）に示すように、単一の励振コイル２１ｈと単一の検知コイル２２ｉとをＸ方向（長手方向）に並べて配置してもよい。また、図１７（ｆ）に示すように、差動コイルとなる検知コイル２２ｊおよび２２ｋ（または、単一の検知コイル）を配置し、励振コイルを省略した構成としてもよい。

　また、上記第１～第３実施形態では、円筒形のコイル（検知コイルおよび励振コイル）がスチールワイヤロープＷを取り囲むように設けられている例を示したが、本発明はこれに限らない。本発明では、図１８に示すように、検知コイル２２０（励振コイル２１０）を角筒形としてもよい。

　また、上記第１～第４実施形態では、図１９に示すように、検知コイル２２１を、スチールワイヤロープＷを取り囲まず、スチールワイヤロープＷに沿う方向の磁界を検知するようスチールワイヤロープＷから離間した位置に配置してもよい。また、図２０に示すように、半円筒形（馬蹄形）のコイル部分２０ａ（図２０（ａ）参照）を２つ組み合わせた円筒型コイル２０ｂ（図２０（ｂ）参照）を用いても良い。なお、半円筒型（馬蹄形）のコイルは、スチールワイヤロープが設置された（端部が塞がれた）状態でも、容易に着脱可能である。なお、第４実施形態において、励振コイルはコイル部に相当する。

　また、上記第３実施形態では、複数の磁気センサ素子がスチールワイヤロープを取り囲むように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁気センサ素子は、スチールワイヤロープの磁界を検知することができる位置に少なくとも１つ配置されればよい。また磁気センサ素子２３は、２方向あるいは３方向を検出するように複数の磁気センサ素子２３を配置しても良い。

　また、上記第１～第４実施形態では、磁性体の検査装置（検査ユニット）がスチールワイヤロープに沿って移動可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体の検査装置（検査ユニット）は移動しないように構成されていてもよい。この場合、磁性体の検査装置は、定位置において内部または付近を通過するスチールワイヤロープの磁界を検知する。

　また、上記第１～第４実施形態では、また、電子回路部は、検知コイル（検知部）により出力された検知信号が所定の閾値（第１閾値Ｔｈ１および第２閾値Ｔｈ２）を超えた場合、外部に信号を出力するように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、電子回路部を、検知信号が閾値Ｔｈを超えた回数Ｎをカウントするとともに、カウントされた回数Ｎが所定の回数Ｍを超えた場合に、カウントされた回数Ｎが所定の回数Ｍを超えたことを示す信号を外部に出力するように構成してもよい。これにより、電子回路部は、閾値Ｔｈを超えた回数Ｎをカウントし、傷等の多さに基づいてスチールワイヤロープの劣化の状態を判定することができる。また、前回測定時において閾値Ｔｈを超えた回数Ｎと今回測定時に閾値Ｔｈを超えた回数Ｎとを比較することにより、スチールワイヤロープＷの傷等の有無の状態の継時的な変化（たとえば、劣化の進行速度）を判定するように構成してもよい。また、所定の閾値の数は、１つや、２つ以外の複数（たとえば、３つ）としてもよい。

　また、上記第１～第４実施形態では、検査装置１００（２００，３００）を、移動型Ｘ線撮影装置（回診車）に用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査装置１００（２００，３００）を、図２０（ａ）に示す据え置き型のＸ線照射装置（Ｘ線撮影装置）９０１、図２０（ｂ）に示すスタンド型のＸ線照射装置（Ｘ線撮影装置）９０２および図２０（ｃ）に示すスタンド型のＸ線検出装置（Ｘ線撮影装置）９０３に用いてもよい。さらに、ワイヤを利用した装置やインフラ、例えば、エレベータ、ロープウエイなどの移動用装置や、つり橋・橋脚等のワイヤ部分についても適用可能である。さらに、ワイヤのみならず、電柱、上下水道配管、ガス管、パイプライン等、磁性体の損傷を測定するあらゆる用途に適用可能である。なお、Ｘ線照射部Ｅ１１およびＸ線照射部Ｅ１２は、ともにＸ線管等を含みＸ線を照射する部分であり、Ｘ線検出部Ｅ２３は、ＦＰＤ（フラットパネルディテクター）等を含むＸ線を検出する部分である。また、Ｘ線照射部Ｅ１１、Ｘ線照射部Ｅ１２およびＸ線検出部Ｅ２３は、それぞれスチールワイヤロープＷに牽引され支えられている。また、検査装置１００（２００，３００）は、スチールワイヤロープＷに沿って移動可能に構成されている。

　また、上記第１～第４実施形態では、磁性体の「傷等」として主に磁性体表面の傷を検出対象として説明したが、断線（完全ではなくワイヤロープであれば素線の断線）、太さの変化、腐食（錆）、亀裂、透磁率の不均一も検出対象に含まれる。また、検出対象は、磁性体の表面に限らず、内部でもよい。その他、磁性体の磁界又は磁界の不均一性を生じさせる状態であれば、「磁性体の状態」として検出可能である。

　また、「磁性体の磁界又は磁界の変化」には、外部から磁界を印加した場合の、磁界が印加された磁性体の近傍で観測される磁界又は磁界の変化の他、外部から磁界を印加しない場合の、磁性体そのものから生ずる磁界又は磁界の変化をも含む。

　１、１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄ、１３ｅ、１３ｆ　磁界印加部
　２、２０３　検知部
　３、３０２、３０３、３０４　電子回路部（判定部）
　１１ａ、１１ｂ、１１ｅ、１１ｆ、１１ｇ、１１ｈ、１１ｉ、１１ｊ、１１ｋ、１１ｌ、１１ｍ、１１ｎ　第１磁界印加部
　１２ａ、１２ｂ、１２ｅ、１２ｆ、１２ｇ、１２ｈ、１２ｉ、１２ｊ、１２ｋ、１２ｌ、１２ｍ、１２ｎ　第２磁界印加部
　１４ｙ　ヨーク部（磁界印加部）
　２１、２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄ、２１ｅ、２１ｆ、２１ｇ、２１ｈ、２１０　励振コイル
　２２、２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄ、２２ｅ、２２ｆ、２２ｇ、２２ｈ、２２ｉ、２２ｊ、２２ｋ、２２０、２２１、２２４　検知コイル
　２３　磁気センサ素子
　４４　コイル部（磁界印加部、励振コイル）
　１００、２００、３００　検査装置（磁性体の検査装置）
　９００　移動型Ｘ線撮影装置（Ｘ線撮影装置）
　９０１　据え置き型Ｘ線照射装置（Ｘ線撮影装置）
　９０２　スタンド型Ｘ線照射装置（Ｘ線撮影装置）
　９０３　スタンド型Ｘ線検出装置（Ｘ線撮影装置）
　Ｅ１、Ｅ１１、Ｅ１２　Ｘ線照射部
　Ｅ２、Ｅ２３　Ｘ線検出部
　Ｔｈ　所定の閾値
　Ｔｈ１　所定の第１閾値
　Ｔｈ２　所定の第２閾値
　Ｍ　所定の回数
　Ｗ　スチールワイヤロープ（磁性体、長尺材、ワイヤ）

Claims (16)

1. 　検査対象である磁性体に対して予め磁界を印加し前記磁性体の磁化の方向を整える磁界印加部と、
   　前記磁界印加部により磁界が印加された後に、前記磁性体の磁界又は磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部と、
   　前記検知部により出力された前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態の判定を行う判定部とを備える、磁性体の検査装置。
2. 　前記磁界印加部は、検査対象である磁性体に対して予め第１方向に磁界を印加し前記磁性体の磁化の方向を整え、
   　前記検知部は、前記磁界印加部により前記第１方向に磁界が印加された後の前記磁性体に対して、前記第１方向に交差する第２方向の磁界または前記第２方向の磁界の変化のうち少なくともいずれか一方を検知するとともに、検知した前記磁性体の前記第２方向の磁界または前記第２方向の磁界の変化に基づく検知信号を出力し、
   　前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態の判定を行うように構成されている、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
3. 　前記磁性体は、長尺材からなり、
   　前記磁界印加部は、前記長尺材の長手方向と交差する方向に磁界を印加し、
   　前記検知部は、前記長尺材からなる前記磁性体の前記第２方向の磁界または前記第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている、請求項２に記載の磁性体の検査装置。
4. 　前記磁界印加部は、出力される磁界が前記検知部での検知に影響しないように、前記検知部から前記長尺材が延びる前記第２方向に離間した位置に設けられている、請求項３に記載の磁性体の検査装置。
5. 　前記磁界印加部は、前記長尺材からなる前記磁性体に対して前記第１方向に磁界を印加する第１磁界印加部と、前記第２方向において、前記検知部の前記第１磁界印加部の側とは反対側に設けられ、前記長尺材からなる前記磁性体に対し前記第２方向に交差する面に平行な方向に沿って磁界を印加する第２磁界印加部とを含む、請求項４に記載の磁性体の検査装置。
6. 　前記検知部は、前記長尺材からなる前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられ、前記磁性体の前記第２方向の磁界の変化を検知して前記検知信号を発生する検知コイルを含み、
   　前記判定部は、前記検知信号に基づいて前記長尺材からなる前記磁性体の状態を判定するように構成されている、請求項３に記載の磁性体の検査装置。
7. 　前記検知コイルは、差動コイルを含み、
   　前記判定部は、前記第２方向の磁界により前記差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する各々の前記検知信号の大きさの差に基づいて前記長尺材からなる前記磁性体の状態を判定する、請求項６に記載の磁性体の検査装置。
8. 　前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた場合に、前記検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えたことを示す１つまたは複数の閾値信号を外部に出力するように構成されている、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
9. 　前記所定の閾値は、第１閾値と前記第１閾値よりも大きい値となる第２閾値とを含み、
   　前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が前記第１閾値を超えた場合に、前記検知信号が前記第１閾値を超えたことを示す第１閾値信号を外部に出力するとともに、前記検知部により出力された前記検知信号が前記第２閾値を超えた場合に、前記検知信号が前記第２閾値を超えたことを示す第２閾値信号を外部に出力するように構成されている、請求項８に記載の磁性体の検査装置。
10. 　前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた回数を各々カウントするとともに、カウントされた回数が各々所定の回数を超えた場合に、カウントされた回数が前記所定の回数を超えたことを示す信号を外部に出力するように構成されている、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
11. 　前記検知部は、前記磁性体の磁化の状態を励振するための励振コイルをさらに含むとともに、前記励振コイルに流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振された前記磁性体の前記第２方向の磁界または前記第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている、請求項３に記載の磁性体の検査装置。
12. 　前記磁界印加部によって前記磁性体に印加される磁界は、前記励振コイルが前記磁性体の磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きい、請求項１１に記載の磁性体の検査装置。
13. 　前記検知部は、前記磁性体を前記検知部に対して前記第２方向に相対移動させることにより前記検知部の検知位置における前記磁性体の前記第２方向の磁界または前記第２方向の磁界の変化を検知するように構成されている、請求項３に記載の磁性体の検査装置。
14. 　前記検知部は、前記磁性体の磁界または磁界の変化を検知する少なくとも１つの磁気センサ素子を含む、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
15. 　前記磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにＸ線撮影装置に設けられる、前記被検体にＸ線を照射するＸ線照射部または前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部の少なくともいずれか一方を移動させるためのワイヤを含み、
    　前記検知部は、前記ワイヤの前記第２方向の磁界を検知するように構成されている、請求項２～１４のいずれか１項に記載の磁性体の検査装置。
16. 　検査対象である磁性体に対して磁界を印加し前記磁性体の磁化の方向を整えるステップと、
    　前記磁界を印加した後、前記磁性体の磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知した前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップを備え、
    　出力された前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態を判定するステップとを備える、磁性体の検査方法。

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