JP2020076591A - 磁性体検査装置および磁性体検査システム - Google Patents
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Abstract
Description
図1〜図10を参照して、第1実施形態による磁性体検査システム300の構成について説明する。
図1に示すように、磁性体検査システム300は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープWの傷み(素線断線など)を検査するためのシステムである。磁性体検査システム300は、ワイヤロープWの磁束を計測する磁性体検査装置100と、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測結果の表示、および、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測結果に基づく解析などを行う処理装置200とを備えている。磁性体検査システム300によりワイヤロープWの傷みを検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープWの傷みを確認可能である。なお、ワイヤロープWは、特許請求の範囲の「磁性体」の一例である。
図1に示すように、処理装置200は、たとえばパーソナルコンピュータである。処理装置200は、磁性体検査装置100が配置される空間とは違う空間に配置されている。処理装置200は、通信部201と、処理部202と、記憶部203と、表示部204とを備えている。通信部201は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置100と処理装置200とを通信可能に接続する。処理装置200は、通信部201を介して、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの計測結果(計測データ)を受信する。処理部202は、処理装置200の各部を制御する。処理部202は、CPUなどのプロセッサ、メモリなどを含んでいる。処理部202は、通信部201を介して受信したワイヤロープWの計測結果に基づいて、素線断線などのワイヤロープWの傷みを解析する。記憶部203は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープWの計測結果、処理部202によるワイヤロープWの計測結果の解析結果などの情報を記憶(保存)する。表示部204は、たとえば液晶モニタであり、ワイヤロープWの計測結果、処理部202によるワイヤロープWの計測結果の解析結果などの情報を表示する。
図2に示すように、磁性体検査装置100は、検知部1と、電子回路部2とを備えている。検知部1は、ワイヤロープWの磁束を検知(計測)する。具体的には、検知部1は、励振コイル11と、一対の受信コイル121および122を有する差動コイル12とを含んでいる。励振コイル11は、ワイヤロープWの磁化の状態を励振する。励振コイル11は、励振交流電流が流れることにより、Y方向(ワイヤロープWの長手方向、軸方向)に沿った磁界を内部(輪の内側)に発生させるとともに、発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープWに印加する。差動コイル12は、励振コイル11により磁界を印加されたワイヤロープWのY方向の磁束を検知(計測)する。差動コイル12は、検知したワイヤロープWの磁束に応じた検知信号(差動信号)を送信する。なお、差動コイル12の詳細な説明は、後述する。また、受信コイル121および122は、それぞれ、特許請求の範囲の「第1の受信コイル」および「第2の受信コイル」の一例である。
図3および図4に示すように、エレベータ110(図1参照)には、複数(8つ)のワイヤロープWが設けられている。複数のワイヤロープWは、各々の長手方向(Z方向)に略直交する方向(X方向)に並ぶように設けられている。
図8に示すように、あるワイヤロープWに傷みが生じた場合、差動コイル12同士が近くに設けられていると、傷みが生じたワイヤロープWを検知する差動コイル12だけでなく、この差動コイル12の近くの、傷みが生じていないワイヤロープWを検知する差動コイル12からも傷み波形Wdが得られる場合がある。なお、図8では、1〜3および5〜8番目のワイヤロープWには傷みが生じておらず、4番目のワイヤロープWに傷みが生じている場合を例に示してる。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
次に、図1および図2を参照して、第2実施形態について説明する。この第2実施形態では、上記第1実施形態と異なり、処理装置が傷みが生じたワイヤロープを特定したり、加算信号に基づいてワイヤロープに異常が生じたか否かを判定したりする例について説明する。なお、上記第1実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
磁性体検査システム600は、図1に示すように、磁性体検査装置400と処理装置500とを備える点で、上記第1実施形態の磁性体検査システム300と相違する。また、磁性体検査装置400および処理装置500は、図1および図2に示すように、それぞれ、処理部321および処理部502を備える点で、上記第1実施形態の磁性体検査装置100および処理装置200と相違する。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
121 受信コイル(第1の受信コイル)
122 受信コイル(第2の受信コイル)
21 処理部
100、400 磁性体検査装置
200、500 処理装置
300、600 磁性体検査システム
W ワイヤロープ(磁性体)
W1 幅
W2 幅
W3 幅
W4 幅
Wd 傷み波形
Claims (10)
- 複数の磁性体の数以上の数設けられ、前記複数の磁性体の各々の磁束を検知する複数の差動コイルと、
前記複数の差動コイルの各々の検知信号を取得する処理部と、を備え、
前記複数の差動コイルの各々は、平面コイルである第1の受信コイルと、前記第1の受信コイルと差動接続されているとともに、前記第1の受信コイルの検出面と検出面が対向するように設けられた平面コイルである第2の受信コイルとを有し、前記複数の磁性体の各々の磁束を検知する際に、前記第1の受信コイルと前記第2の受信コイルとの間に前記磁性体が配置されるように構成されている、磁性体検査装置。 - 前記複数の差動コイルの各々は、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルの前記磁性体が延びる方向の一方側の部分と、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルの前記磁性体が延びる方向の他方側の部分との差動信号を出力するように設けられている、請求項1に記載の磁性体検査装置。
- 前記第1の受信コイルと前記第2の受信コイルとでは、前記磁性体が延びる方向に略直交する方向の幅が前記磁性体が延びる方向の幅よりも大きい、請求項2に記載の磁性体検査装置。
- 前記処理部は、前記複数の差動コイルの各々の検知信号の傷み波形の大きさに基づいて、傷みが生じた前記磁性体を特定するように構成されている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の磁性体検査装置。
- 前記処理部は、前記複数の差動コイルの各々の検知信号のうち傷み波形の大きさが最も大きい検知信号に対応する前記磁性体を、傷みが生じた前記磁性体であると特定するように構成されている、請求項4に記載の磁性体検査装置。
- 前記処理部は、前記複数の差動コイルのうちの決められた差動コイルの各々の検知信号を加算した加算信号に基づいて、前記磁性体に異常が生じたか否かを判定するように構成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の磁性体検査装置。
- 前記処理部は、前記磁性体に異常が生じたと判定した場合、前記磁性体に異常が生じたことを示す異常判定信号を出力するように構成されている、請求項6に記載の磁性体検査装置。
- 複数の磁性体の数以上の数設けられ、前記複数の磁性体の各々の磁束を検知する複数の差動コイルを備える磁性体検査装置と、
前記複数の差動コイルの各々の検知信号を取得する処理装置と、を備え、
前記複数の差動コイルの各々は、平面コイルである第1の受信コイルと、前記第1の受信コイルと差動接続されているとともに、前記第1の受信コイルの検出面と検出面が対向するように設けられた平面コイルである第2の受信コイルとを有し、前記複数の磁性体の各々の磁束を検知する際に、前記第1の受信コイルと前記第2の受信コイルとの間に前記磁性体が配置されるように構成されている、磁性体検査システム。 - 前記処理装置は、前記複数の差動コイルの各々の検知信号の傷み波形の大きさに基づいて、傷みが生じた前記磁性体を特定するように構成されている、請求項8に記載の磁性体検査システム。
- 前記処理装置は、前記複数の差動コイルのうちの決められた差動コイルの各々の検知信号を加算した加算信号に基づいて、前記磁性体に異常が生じたか否かを判定するように構成されている、請求項8または9に記載の磁性体検査システム。
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