JP7491236B2 - ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査装置に関する。

従来、ワイヤロープの磁束（磁界）を検知する検知コイルを備えるワイヤロープ検査装置（磁性体検査装置）が知られている（たとえば、特許文献１参照）。

上記特許文献１には、ワイヤロープ（磁性体）に対して設けられた励磁部と、ワイヤロープの磁束（磁界）を検知する検知コイルとを備えるワイヤロープ検査装置（磁性体検査装置）が開示されている。上記特許文献１に記載のワイヤロープ検査装置では、励磁部により磁束が印加されることにより生じるワイヤロープの磁束の変化を検知コイルにより検知するように構成されている。

国際公開第２０１９／１７１６６７号

ここで、上記特許文献１には記載されていないが、ワイヤロープ検査装置では、ワイヤロープが振動して検知コイルに接触することを抑制するために、検知コイルとワイヤロープとの間の距離（間隔）は、ワイヤロープの最大振動揺れ幅よりも大きくなるように構成されている。一方、検知コイルによって精度よくワイヤロープの検査を行うためには、検知コイルとワイヤロープとの間の距離（間隔）は、可能な限り小さくする方が望ましい。すなわち、上記特許文献１に記載されているようなワイヤロープ検査装置では、検知コイルとワイヤロープとの間の距離（間隔）は、ワイヤロープの最大振動揺れ幅よりも大きく、かつ、可能な限り小さくなるように構成されることが望ましい。

しかしながら、検査対象であるワイヤロープの外表面から飛び出した異常飛び出し部（素線切れに起因する素線の飛び出しなど）がある場合には、異常飛び出し部が検知コイルを含む検知部に接触する可能性がある。そのため、検査対象であるワイヤロープから飛び出した異常飛び出し部と検知コイルを含む検知部との接触を抑制しつつ、検知部を近づけてワイヤロープの検査を精度よく行うことが可能なワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査装置が望まれている。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、検査対象であるワイヤロープから飛び出した異常飛び出し部と検知コイルを含む検知部との接触を抑制しつつ、検知部を近づけてワイヤロープの検査を精度よく行うことが可能なワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査装置を提供することである。

この発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部とワイヤロープとの間隔である検知間隔を第１の間隔にした状態で、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する本検査を行う前に、検知間隔を第１の間隔よりも大きい第２の間隔にした状態で、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査を行う事前検査ステップと、事前検査ステップにおいて検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定ステップと、を備える。なお、本明細書では、「異常飛び出し部」とは、ワイヤロープの素線切れによって切れた素線がワイヤロープの外表面から飛び出した部分に加えて、ワイヤロープのねじれ、折れ、キンク、または、かご状の型崩れなどの不良（異常）によって、ワイヤロープの断面積が通常状態よりも大きくなっている外表面の部分を含む概念である。また、本明細書では、「異常飛び出し部」は、上記のような素線の不良のみならず、ワイヤロープの外表面に付着した異物またはワイヤロープの内部から染み出したグリスなどに起因するワイヤロープの断面積の増加をも含む広い概念として記載している。

この発明の第２の局面におけるワイヤロープ検査システムは、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、ワイヤロープの検査時における検知部とワイヤロープとの間隔である検知間隔を、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、本検査を行う前に検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、を備えるワイヤロープ検査装置と、検知間隔を第２の間隔にした状態で、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査において検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える。

この発明の第３の局面におけるワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、ワイヤロープの検査時における検知部とワイヤロープとの間隔である検知間隔を、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、本検査を行う前に検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、検知間隔を第２の間隔にした状態で、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査において検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える。

本発明によれば、上記第１の局面におけるワイヤロープ検査方法、第２の局面におけるワイヤロープ検査システムおよび第３の局面におけるワイヤロープ検査装置では、上記のように、検知間隔を本検査の際に用いる第１の間隔よりも大きい第２の間隔にした状態で、検知部をワイヤロープに対して相対的に移動させながらワイヤロープの磁束を検知する事前検査を行う。これにより、本検査の際に用いる第１の間隔以上にワイヤロープの外表面から飛び出した異常飛び出し部がワイヤロープの外表面上に存在する場合でも、検知間隔を本検査の際に用いる第１の間隔よりも大きい第２の間隔にした状態で事前検査を行うので、事前検査の際にワイヤロープの異常飛び出し部が検知部に接触することを抑制することができる。また、上記のように、事前検査において検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うので、検知間隔を事前検査の際に用いる第２の間隔よりも小さい第１の間隔にした状態で行う本検査の前に、異常飛び出し部の有無を確認することができる。これにより、異常飛び出し部が無いこと（異常飛び出し部が検知部に接触しないこと）を確認した後に、検知間隔を第２の間隔よりも小さい第１の間隔にした状態（検知部を近づけた状態）で本検査を行うことができるので、ワイヤロープの検査（本検査）を精度よく行うことができる。これらの結果、検査対象であるワイヤロープから飛び出した異常飛び出し部と検知コイルを含む検知部との接触を抑制しつつ、検知部を近づけてワイヤロープの検査を精度よく行うことができる。

第１実施形態によるワイヤロープ検査装置のエレベータへの取り付け位置の一例を示した模式図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。 第１実施形態のエレベータ通常運転時における検知部の配置を示した図である。 図３における４００－４００線に沿った断面図である。 第１実施形態による励振コイルの構成を示した図である。 第１実施形態による磁界印加部の構成を示した図である。 第１実施形態の事前検査時における検知部の配置を示した図である。 図７における５００－５００線に沿った断面図である。 第１実施形態のディスプレイ部による表示の一例を示した図である。 第１実施形態のディスプレイ部による表示の他の一例を示した図である。 第１実施形態の本検査時における検知部の配置を示した図である。 図１１における６００－６００線に沿った断面図である。 取り付け位置がずれた状態のワイヤロープ検査装置の断面図である。 第１実施形態の飛出部有無判定モードにおける処理フローを示した図である。 第１実施形態の劣化状態判定モードにおける処理フローを示した図である。 第２実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成を示した図である。 第３実施形態によるワイヤロープ検査装置の構成を示した図である。 第３実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。 第１変形例による磁界印加部を示した図である。 第２変形例による磁界印加部を示した図である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

［第１実施形態］
図１～図１２を参照して、第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００（ワイヤロープ検査装置１０１）の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。

（ワイヤロープ検査システムの構成）
ワイヤロープ検査システム１００は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープＷの素線断線および錆などの劣化（異常）を検査するためのシステムである。ワイヤロープ検査システム１００は、全磁束法によってワイヤロープＷの異常の有無を判定することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの劣化（異常）を確認可能なシステムである。ワイヤロープＷに素線断線および錆などの劣化（異常）が含まれる場合には、劣化（異常）部分における磁束が正常部分とは異なる。全磁束法は、ワイヤロープＷの表面の劣化（異常）部分などからの漏洩磁束を測定する方法と異なり、ワイヤロープＷの内部の素線断線および錆などの劣化（異常）をも測定可能な方法である。

ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープＷの磁束を計測するワイヤロープ検査装置１０１（図１参照）と、処理装置１０２（図１参照）とを備えている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測結果に基づく解析、および、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測結果の表示などを行うように構成されている。処理装置１０２は、たとえばタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。なお、処理装置１０２は、ノートＰＣでもよいし、ネットワークを介して接続されたサーバなどでもよい。

ユーザ（作業者）は、ワイヤロープ検査システム１００を用いてワイヤロープＷの異常を検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの劣化（異常）を確認可能である。図１では、ワイヤロープ検査装置１０１が、エレベータ９００のかご９０１の移動に用いられるワイヤロープＷを検査する例を示している。なお、エレベータ９００は、機械室を有するエレベータである。

図１に示すように、エレベータ９００は、かご９０１、シーブ９０２、シーブ９０３、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ９００は、巻き上げ機に設けられたシーブ（滑車）９０２が回動してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご９０１を上下方向（鉛直方向）に移動させるように構成されている。たとえば、エレベータ９００は、ダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータである。ダブルラップ方式とは、巻き上げ機のシーブ９０２から、そらせ車であるシーブ９０３へと導かれたワイヤロープＷを再度巻き上げ機のシーブ９０２に戻すことによって、シーブ９０２に２回ワイヤロープＷを掛ける構造である。第１実施形態では、ワイヤロープ検査装置１０１は、シーブ９０２とシーブ９０３との間に配置されている。

ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷに対して移動しないように固定された状態で、巻き上げ機のシーブ９０２により移動させられるワイヤロープＷの異常を検査する。

ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料である複数のストランドをより合わせることにより形成されており、Ｚ方向に沿って延びる長尺材からなる磁性体である。なお、ストランドは、複数本の素線がより合わさって構成されている。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、ワイヤロープ検査装置１０１により検査されている。ワイヤロープＷの磁束の計測の結果、劣化（異常）の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、ユーザ（作業者）により交換される。

ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの表面に沿って、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。エレベータ９００に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、ワイヤロープ検査装置１０１に対してワイヤロープＷを移動させながら、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープＷの長尺方向の各位置における磁束を計測することができるので、ワイヤロープＷの長尺方向の各位置における劣化（異常）を検査可能である。

（ワイヤロープ検査装置の構成）
図２に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、検知部１０と、検知間隔変更機構２０とを備える。また、ワイヤロープ検査システム１００は、励振コイル３０と、磁界印加部４０とを備える。

検知部１０は、検知コイル１１と、検知コイル１１を保持するためのコイル保持部１２とを含む。検知コイル１１は、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を検知するように構成されている。また、検知コイル１１は、第１検知コイル１１ａと第２検知コイル１１ｂとを含む。

また、検知コイル１１（第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂ）は、励振コイル３０により磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束を検知（計測）するように構成されている。検知コイル１１は、検知したワイヤロープＷの磁束に応じた検知信号（差動信号）を送信する。また、第１実施形態では、検知コイル１１は、全磁束法によってワイヤロープＷの内部の磁束を検知するように構成されている。なお、検知コイル１１の詳細な説明は、後述する。

検知間隔変更機構２０は、ワイヤロープＷの検査時における検知部１０とワイヤロープＷとの間隔である検知間隔を、第１の間隔Ｄ１（図１１参照）と、第２の間隔Ｄ２（図７参照）とに変更可能に構成されている。なお、第１の間隔Ｄ１は、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する本検査の際に用いる検知間隔である。また、第２の間隔Ｄ２は、第１の間隔Ｄ１よりも大きい検知間隔であり、本検査を行う前に検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する事前検査の際に用いる検知間隔である。

また、検知間隔変更機構２０は、エレベータ通常運転時（ワイヤロープＷの通常運転時）におけるワイヤロープＷと検知部１０との間隔であり、第２の間隔Ｄ２よりも大きい間隔である通常運転間隔Ｄ０（図３参照）から、第２の間隔Ｄ２に検知間隔を変更可能に構成されている。

すなわち、検知間隔変更機構２０は、検知間隔を通常運転間隔Ｄ０と、第１の間隔Ｄ１と、第２の間隔Ｄ２とに変更可能に構成されている。なお、前述したように、通常運転間隔Ｄ０、第１の間隔Ｄ１および第２の間隔Ｄ２の大小関係は、Ｄ１＜Ｄ２＜Ｄ０である。検知間隔変更機構２０の詳細な説明は、後述する。

励振コイル３０は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振させるように構成されている。励振コイル３０は、ワイヤロープＷに対して相対的に移動するとともに、ワイヤロープＷに磁束を印加するように構成されている。励振コイル３０は、励振交流電流が流れることにより、Ｚ方向に沿った磁界を内部（コイルの内側）に発生させるとともに、発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープＷに印加する。なお、励振コイル３０の詳細な説明は、後述する。

磁界印加部４０は、ワイヤロープＷが検知コイル１１を通過する前に予めワイヤロープＷに磁界を印加し、磁性体であるワイヤロープＷの磁化の方向を整える（整磁する）ように構成されている。なお、磁界印加部４０の詳細な説明は、後述する。

また、ワイヤロープ検査装置１０１は、電子回路部５０を備えている。電子回路部５０は、処理部５１と、受信Ｉ／Ｆ（インターフェース）５２と、励振Ｉ／Ｆ５３と、電源回路５４と、記憶部５５と、通信部５６とを含んでいる。

処理部５１は、ワイヤロープ検査装置１０１の各部を制御するように構成されている。処理部５１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含んでいる。受信Ｉ／Ｆ５２は、検知コイル１１の検知信号（差動信号）を受信（取得）して、処理部５１に送信する。受信Ｉ／Ｆ５２は、増幅器を含んでいる。受信Ｉ／Ｆ５２は、増幅器により検知コイル１１の検知信号を増幅して、処理部５１に送信する。

励振Ｉ／Ｆ５３は、処理部５１からの制御信号を受信する。励振Ｉ／Ｆ５３は、受信した制御信号に基づいて、励振コイル３０に対する電力の供給を制御する。電源回路５４は、外部から電力を受け取って、励振コイル３０などのワイヤロープ検査装置１０１の各部に電力を供給する。

記憶部５５は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（計測データ）などの情報を記憶（保存）する。通信部５６は、通信用のインターフェースであり、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２とを通信可能に接続する。

（処理装置の構成）
処理装置１０２（タブレット端末）は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。処理装置１０２は、図２に示すように、通信部１２１と、処理部１２２と、記憶部１２３と、ディスプレイ部１２４とを備えている。処理装置１０２（図２参照）は、検知コイル１１の検知信号に基づいて、複数のワイヤロープＷの劣化の状態（異常の有無）を判定するように構成されている。

通信部１２１は、通信用のインターフェースであり、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２とを通信可能に接続する。処理装置１０２は、通信部１２１を介して、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの計測結果（検知コイル１１により検知された検知信号のデータ）を受信する。

処理部１２２は、処理装置１０２の各部を制御する。処理部１２２は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含んでいる。処理部１２２は、通信部１２１を介して受信したワイヤロープＷの計測結果に基づいて、素線断線などのワイヤロープＷの劣化（異常）を解析する。なお、処理部１２２は、特許請求の範囲の「判定部」の一例である。

処理部１２２は、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態で、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部Ｐ（図７参照）の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている。

なお、異常飛び出し部Ｐは、ワイヤロープＷの素線切れによって切れた素線がワイヤロープＷの外表面から飛び出した部分に加えて、ワイヤロープＷのねじれ、折れ、キンク、または、かご状の型崩れなどの不良（異常）によって、ワイヤロープＷの断面積が通常状態よりも大きくなっている外表面の部分を含む。また、異常飛び出し部Ｐは、ワイヤロープＷの素線の不良のみならず、ワイヤロープＷの外表面に付着した異物またはワイヤロープＷの内部から染み出したグリスなどに起因するワイヤロープＷの断面積が通常状態よりも大きくなっている外表面の部分を含む。

処理部１２２は、本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うように構成されている。

また、処理部１２２は、予め取得した検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号に基づいて取得され、記憶部１２３が記憶した閾値（飛出部閾値）と、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号の値とに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている。

そして、処理部１２２は、飛出部有無判定モード（事前検査用のモード）と、劣化状態判定モード（本検査用のモード）とに切り替え可能に構成されている。飛出部有無判定モードは、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、飛出部有無判定を行うためのモードである。また、劣化状態判定モードは、本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うためのモードである。飛出部有無判定および劣化状態判定の詳細については、後述する。

記憶部１２３は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（検知コイル１１により検知された検知信号のデータ）、処理部１２２による解析結果（ワイヤロープＷの計測結果の解析結果）などの情報を記憶（保存）する。

また、記憶部１２３は、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号に基づくデータを記憶するように構成されている。なお、記憶部１２３に記憶されるデータは、後述するデータ取得ステップにおいて、予め取得された検知信号に基づくデータである。記憶部１２３は、前述したように、飛出部有無判定を行うための閾値（飛出部閾値）を記憶（保存）している。

ディスプレイ部１２４は、たとえば液晶ディスプレイまたは有機ＥＬディスプレイを含むタッチパネルディスプレイであり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部１２２による解析結果（ワイヤロープＷの計測結果の解析結果）などの情報を表示する表示部であるとともに、ユーザ（作業者）の操作を受け付ける操作部である。なお、ディスプレイ部１２４は、特許請求の範囲の「通知部」の一例である。

また、ディスプレイ部１２４は、処理部１２２が、飛出部有無判定において異常飛び出し部Ｐが有ると判定した場合に、異常飛び出し部Ｐが有ることを通知するように構成されている。なお、ディスプレイ部１２４による通知の方法などについては、後述する。

ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、過去の検査時における検知信号（生信号）と現在（最新）の検査時における検知信号（生信号）との比較、または、過去の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータと現在（最新）の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータとの比較に基づいて、飛出部有無判定、および、劣化状態判定を行うように構成されている。

すなわち、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、現在と過去との差分データに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定、および、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うように構成されている。なお、検知信号（生信号）への信号処理および差分データの取得（算出）は、処理装置１０２に設けられた処理部１２２にて行われてもよいし、ワイヤロープ検査装置１０１に設けられた処理部５１で行われてもよい。また、過去の検査時における検知信号（生信号）、または、過去の検査時における検知信号（生信号）に微分処理など信号処理を行ったデータは、ワイヤロープ検査装置１０１（電子回路部５０）の記憶部５５に記憶（保存）されていてもよいし、処理装置１０２の記憶部１２３に記憶（保存）されていてもよい。

また、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、検知コイル１１により取得（検知）された検知信号（生信号）、または、検知信号（生信号）に微分処理などの信号処理を行ったデータに基づいて、飛出部有無判定、および、劣化状態判定を行うように構成されてもよい。すなわち、ワイヤロープ検査システム１００（処理装置１０２の処理部１２２）は、過去のデータを用いずに現在のデータに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定、および、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うように構成してもよい。

また、エレベータ９００には、図３に示すように、ワイヤロープＷが複数設けられている。複数のワイヤロープＷは、各々の長手方向（Ｚ方向）に直交する方向（Ｘ方向）に並ぶように（互いに平行に）設けられている。そして、検知コイル１１は、複数のワイヤロープＷが延びるＺ方向（図３および図４参照）に沿って相対的に移動するとともに、ワイヤロープＷの磁束を検知するように構成されている。

（励振コイルおよび検知コイルに関する構成）
ワイヤロープＷは、図３および図４に示すように、検知コイル１１および励振コイル３０の内部（内側）を通過する。また、ワイヤロープ検査装置１０１は、枠形状の本体部６０を備える。励振コイル３０は、本体部６０に設けられている。そして、検知コイル１１は、図３および図４に示すように、励振コイル３０の内側に配置されるように、本体部６０に内側において、コイル保持部１２に保持されている。また、本体部６０の内側には、Ｙ方向に沿って設けられたガイド部６１（図３および図４参照）が設けられている。

なお、コイル保持部１２および本体部６０は、非磁性体の部材を含む。具体的には、コイル保持部１２および本体部６０が含む非磁性体の部材は、塩化ビニル樹脂、テフロン（登録商標）、または、ベークライトなどである。

また、励振コイル３０は、図３に示すように、複数のワイヤロープＷを取り囲むように設けられている。また、励振コイル３０は、複数のワイヤロープＷの磁化の状態を同時に励振するように構成されている。具体的には、励振コイル３０に励振交流電流が流されることにより、励振コイル３０の内部において、励振交流電流に基づいて発生する磁界が複数のワイヤロープＷに印加されるように構成されている。また、図３に示すように、励振コイル３０は、複数の検知コイル１１に対して共通に設けられている。

第１実施形態では、図３に示すように、検知コイル１１は、複数のワイヤロープＷに対応して複数設けられている。すなわち、検知コイル１１は、複数のワイヤロープＷの本数と同数設けられている。たとえば、図３に示すように、ワイヤロープＷが６本の場合には、検知コイル１１は、６つ設けられる。

また、図３に示すように、検知コイル１１は、複数のワイヤロープＷと検知部１０とが対向する方向（Ｙ方向）において、複数のワイヤロープＷの一方側（Ｙ１方向側）に配置される第１検知コイル１１ａと、複数のワイヤロープＷの他方側（Ｙ２方向側）に配置される第２検知コイル１１ｂとに分割可能に構成されている。

第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂは、図３に示すように、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、ワイヤロープＷから離間する方向に凸の半円状（鞍型形状）になるように配置（形成）されている。なお、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂは、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、Ｕ字状に配置（形成）されていてもよい。また、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂは、Ｚ方向（Ｚ１方向側またはＺ２方向側）から見て、矩形状に配置（形成）されていてもよい。

第１検知コイル１１ａと第２検知コイル１１ｂとは、直列接続されており、磁束の変化に対し、互いに逆方向に電流が流れるように構成されている。検知コイル１１は、第１検知コイル１１ａにより得られた信号と第２検知コイル１１ｂにより得られた信号との差動信号を検知信号として出力するように設けられている。

また、コイル保持部１２は、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂのそれぞれに対応して設けられる第１保持部１２ａおよび第２保持部１２ｂを含む。

検知間隔変更機構２０は、ローラ２１、ローラ２２、ベルト２３およびハンドル２４を含む。そして、ベルト２３は、Ｙ方向においてコイル保持部１２（第１保持部１２ａおよび第２保持部１２ｂ）を挟むように配置されたローラ２１および２２に巻き付けられている。また、ベルト２３には、コイル保持部１２（第１保持部１２ａおよび第２保持部１２ｂ）が固定されている。

検知間隔変更機構２０は、ハンドル２４を回すことによって、ローラ２１が回転し、ベルト２３（ローラ２２）が連動して回るように構成されている。これにより、ユーザ（作業者）が、検知間隔変更機構２０のハンドル２４を回すことによって、ベルト２３に固定されたコイル保持部１２（第１保持部１２ａおよび第２保持部１２ｂ）が、ガイド部６１に沿ってＹ方向（Ｙ１方向およびＹ２方向）に移動する。

そして、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂの各々は、励振コイル３０（本体部６０）の内側において、Ｙ方向（Ｙ１方向およびＹ２方向）に移動可能に構成されている。

具体的には、第１保持部１２ａは、検知間隔変更機構２０によって、第１検知コイル１１ａを保持した状態で、励振コイル３０（本体部６０）の内側をガイド部６１に沿って、Ｙ方向（Ｙ１方向およびＹ２方向）に移動するように構成されている。また、第２保持部１２ｂは、検知間隔変更機構２０によって、第２検知コイル１１ｂを保持した状態で、励振コイル３０（本体部６０）の内側をガイド部６１に沿って、Ｙ方向（Ｙ１方向およびＹ２方向）に移動するように構成されている。これにより、第１検知コイル１１ａはＹ１方向に移動可能であり、第２検知コイル１１ｂはＹ２方向に移動可能である。すなわち、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂは、互いに離間する方向に移動可能である。また、第１検知コイル１１ａはＹ２方向に移動可能であり、第２検知コイル１１ｂはＹ１方向に移動可能である。すなわち、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂは、互いに近接する方向に移動可能である。

励振コイル３０は、図５に示すように、第１導線部３０ａが形成されたプリント基板３０ｂを含む。励振コイル３０は、第２導線部３０ｃが形成されたプリント基板３０ｄを含む。また、第１導線部３０ａと第２導線部３０ｃとは、電気的に接続されている。なお、検知コイル１１および励振コイル３０の配置はこれに限られない。なお、図３および図４に示した検知コイル１１および図３～５に示した励振コイル３０は、概略的に図示したものであり、実際の配置（構成）とは異なる場合がある。

（磁界印加部の構成）
図６に示すように、磁界印加部４０は、磁界印加部４１および４２を含む。磁界印加部４１および４２は、ワイヤロープＷに対して予め磁界を印加し、磁性体であるワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整える。磁界印加部４１および４２は、Ｚ方向において、励振コイル３０および複数の検知コイル１１を挟むように配置されている。

図６に示すように、磁界印加部４１および４２は、検査対象物であるワイヤロープＷに対して予めＹ方向から磁界を印加し磁性体であるワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整える（整磁する）ように構成されている。また、磁界印加部４１は、磁石４１ａおよび４１ｂを含み、磁界印加部４２は、磁石４２ａおよび４２ｂを含んでいる。

磁界印加部４１（磁石４１ａおよび４１ｂ）は、図６に示すように、検知コイル１１および励振コイル３０に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の一方側（Ｚ１方向側）に配置されている。そして、ワイヤロープＷがＺ２方向に移動する際には、検知コイル１１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが磁界印加部４１の内側（磁石４１ａおよび４１ｂの間）を通過する。これにより、ワイヤロープＷがＺ２方向に移動する際には、検知コイル１１の内部（内側）へ入る前に磁界印加部４１（磁石４１ａおよび４１ｂ）によって、ワイヤロープＷに対して予め磁界が印加され、ワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向が整えられる（整磁される）。

また、磁界印加部４２（磁石４２ａおよび４２ｂ）は、図６に示すように、検知コイル１１および励振コイル３０に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の他方側（Ｚ２方向側）に配置されている。そして、ワイヤロープＷがＺ１方向に移動する際には、検知コイル１１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが磁界印加部４２の内側（磁石４２ａおよび４２ｂの間）を通過する。これにより、ワイヤロープＷがＺ１方向に移動する際には、検知コイル１１の内部（内側）へ入る前に磁界印加部４２（磁石４２ａおよび４２ｂ）によって、ワイヤロープＷに対して予め磁界が印加され、ワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向が整えられる（整磁される）。

すなわち、磁界印加部４１および４２は、ワイヤロープＷが検知コイル１１の内部（内側）へ入る前に、ワイヤロープＷが延びるＺ方向（長尺材の長手方向）と複数のワイヤロープＷが隣り合うＸ方向とに直交するＹ方向から磁界を予め印加するように構成されている。また、磁界印加部４０を構成する磁石４１ａ、４１ｂ、４２ａおよび４２ｂは、図４に示すように、励振コイル３０と同一のユニット（本体部６０）に設けられてもよいし、励振コイル３０のユニット（本体部６０）とは独立して設けられてもよい。また、図６では、磁石４１ａおよび４１ｂの各々のＮ極同士が対向するように配置されるとともに、磁石４２ａおよび４２ｂの各々のＳ極同士が対向するように配置される磁界印加部４０の例を示したが、磁界印加部４０では、磁石４１ａおよび４１ｂの各々のＳ極同士が対向するように配置されるとともに、磁石４２ａおよび４２ｂの各々のＮ極同士が対向するように配置されてもよい。

（事前検査に関する構成）
検知コイル１１は、図７に示すように、事前検査の際に、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態で、磁界印加部４０によって、検知コイル１１を通過する前に予め磁界を印加されたワイヤロープＷの磁束を検知するように構成されている。そして、処理装置１０２（タブレット端末）の処理部１２２は、少なくとも、第１の間隔Ｄ１よりも大きく、ワイヤロープＷの外表面から飛び出した（検知部１０に接触する程度飛び出した）異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。処理部１２２は、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの素線切れによって飛び出した素線Ｐ１（図７参照）やワイヤロープＷの内部から染み出したグリスＰ２（図７参照）などのような異常飛び出し部Ｐの有無を判定（飛出部有無判定を行う）する。なお、グリスＰ２は、ワイヤロープＷのストランド同士が擦れる部分を介して染み出すため、グリスＰ２には、鉄粉が含まれる。

また、処理部１２２は、複数のワイヤロープＷの各々に対応して設けられた検知コイル１１の各々が検知した信号を加算した結果に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する（飛出部有無判定を行う）ように構成されている。

検知間隔変更機構２０は、図７および図８に示すように、複数の検知コイル１１の各々の検知間隔を第２の間隔Ｄ２に変更可能に構成されている。また、検知間隔変更機構２０は、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂの各々のワイヤロープＷに対する検知間隔を第２の間隔Ｄ２に変更可能に構成されている。

第１実施形態では、ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ通常運転時からワイヤロープＷの事前検査時（飛出部有無判定モード）への切り替えの際に、検知間隔変更機構２０によって、検知間隔を通常運転間隔Ｄ０（図３参照）から第２の間隔Ｄ２に変更（小さく）することにより、図７および図８に示すように、検知コイル１１（検知部１０）を複数のワイヤロープＷに近接させる。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの事前検査時において、検知コイル１１をエレベータ通常運転時よりもワイヤロープＷに対して近接させるように構成されている。たとえば、ワイヤロープの直径が１２ｍｍの場合、通常運転間隔Ｄ０は、１４ｍｍ程度である。

また、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの事前検査時（飛出部有無判定モード）からエレベータ通常運転時への切り替えの際に、検知間隔変更機構２０によって、検知間隔を第２の間隔Ｄ２から通常運転間隔Ｄ０に変更（大きく）することにより、検知コイル１１を複数のワイヤロープＷからより離間させる。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ通常運転時において、検知コイル１１をワイヤロープＷの事前検査時（飛出部有無判定モード）よりもワイヤロープＷに対して離間させるように構成されている。

（ディスプレイ部による通知）
ワイヤロープ検査システム１００において、処理装置１０２（タブレット端末）のディスプレイ部１２４は、図９および図１０に示すように、処理部１２２による飛出部有無判定の結果を表示するように構成されている。

たとえば、処理部１２２による飛出部有無判定により、異常飛び出し部Ｐがあると判定された場合には、図９に示すように、処理装置１０２（タブレット端末）のディスプレイ部１２４に、『異常飛び出し部が検知されました。ワイヤロープを確認してください。』などの通知Ｎ１を表示する。また、処理部１２２による飛出部有無判定により、異常飛び出し部Ｐが無いと判定された場合には、図１０に示すように、処理装置１０２のディスプレイ部１２４に、『異常飛び出し部は検知されませんでした。本検査を実施してください。』などの通知Ｎ２を表示する。

（本検査時に関する構成）
ワイヤロープ検査装置１０１は、本検査時において、図１１に示すように、ワイヤロープＷの磁束を検知する検知コイル１１を含む検知部１０とワイヤロープＷとの間隔である検知間隔を第１の間隔Ｄ１にした状態で、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知するように構成されている。また、検知コイル１１は、本検査の際に、検知間隔を第１の間隔Ｄ１にした状態で、磁界印加部４０によって、検知コイル１１を通過する前に予め磁界を印加されたワイヤロープＷの磁束を検知するように構成されている。そして、処理部１２２は、本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、素線断線および錆などのワイヤロープＷの劣化の状態（異常の有無）を判定する。処理部１２２は、ワイヤロープＷの内部または外部において発生した素線断線、ワイヤロープＷの内部または外部において発生した錆、および、事前検査時において検出されなかったワイヤロープＷの外表面からの微小な（第１の間隔Ｄ１よりも小さい）飛び出し部分などの異常の有無（劣化状態）を判定する。

検知間隔変更機構２０は、図１１および図１２に示すように、複数の検知コイル１１の各々の検知間隔を第１の間隔Ｄ１に変更可能に構成されている。また、検知間隔変更機構２０は、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂの各々のワイヤロープＷに対する検知間隔を第１の間隔Ｄ１に変更可能に構成されている。

第１実施形態では、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの事前検査時（飛出部有無判定モード）からワイヤロープＷの本検査時（劣化状態判定モード）への切り替えの際には、検知コイル１１を複数のワイヤロープＷにより近接させる。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの本検査時において、検知間隔変更機構２０によって、検知間隔を第２の間隔Ｄ２から第１の間隔Ｄ１に変更（小さく）することにより、図１１および図１２に示すように、検知コイル１１をワイヤロープＷの事前検査時よりもワイヤロープＷに対して近接させるように構成されている。たとえば、ワイヤロープの直径が１２ｍｍの場合、第１の間隔Ｄ１は、０．３ｍｍ～３ｍｍ程度である。

また、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの本検査時（劣化状態判定モード）からエレベータ通常運転時への切り替え、または、ワイヤロープＷの本検査時（劣化状態判定モード）からワイヤロープＷの事前検査時（飛出部有無判定モード）への切り替えの際には、検知コイル１１（検知部１０）を複数のワイヤロープＷから離間させる。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ通常運転時において、ワイヤロープＷの本検査時およびワイヤロープＷの事前検査時よりもワイヤロープＷに対して検知コイル１１を離間させるように構成されている。

また、検知コイル１１は、図１１および図１２に示すように、対応するワイヤロープＷを取り囲むように配置されている。検知コイル１１（第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂ）は、ワイヤロープＷの検査時（事前検査時および本検査時）において、ワイヤロープＷに接触しない非接触型の検知コイルとして構成されている。

検知コイル１１（第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂ）は、ワイヤロープＷの本検査時において、図１１に示すように、Ｚ方向から見て、環状形状（円形形状）を有する。なお、検知コイル１１は、Ｚ方向から見て、長円形状を有してもよいし、トラック形状を有してもよい。また、検知コイル１１は、Ｚ方向から見て、矩形形状を有してもよい。なお、ワイヤロープＷの本検査時において、第１検知コイル１１ａと第２検知コイル１１ｂとは、Ｙ方向に互いに離間して配置されていてもよい。すなわち、検知コイル１１は、ワイヤロープＷの本検査時において、ワイヤロープＷの全周を覆わなくてもよい。

また、地震などの災害の際には、図１３に示すように、ワイヤロープＷに対するワイヤロープ検査装置１０１の取り付け位置がずれる場合が考えられる。このような場合には、通常とは異なる検知信号（異常信号）が検知コイル１１によって得られる。そのため、第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００は、上記のように、本検査の前に事前検査を行えるように構成されているので、本検査を実施する前の事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープ検査装置１０１に異常が発生していることを検知することが可能である。その結果、本検査のために検知間隔を近づける際に、ワイヤロープＷに対するワイヤロープ検査装置１０１（検知部１０）の取り付け位置がずれたことに起因して、検知部１０がワイヤロープＷに接触することを抑制することができる。

（ワイヤロープ検査方法）
次に、第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００におけるワイヤロープ検査方法の処理フローについて、図１４および図１５を参照して説明する。第１実施形態によるワイヤロープ検査方法では、ワイヤロープＷの本検査および劣化状態判定の前に、事前検査および飛出部有無判定を行う。

第１実施形態によるワイヤロープ検査方法では、データ取得ステップとして、後述する事前検査ステップ（ステップＳ１２）に先立って、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータを予め取得する。なお、データ取得ステップは、ワイヤロープ検査装置１０１の検査（事前検査および本検査）前に行われるステップである。

データ取得ステップにおいて取得されるデータは、検査対象となるワイヤロープＷと同規格のワイヤロープに疑似的に作成した異常飛び出し部Ｐに対して、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において、異常飛び出し部Ｐが検知コイル１１を通過した際に検知コイル１１により検知される検知信号のデータである。

データ取得ステップでは、様々な種類の異常飛び出し部Ｐに対応する検知信号のデータを取得する。特に、検知間隔を第１の間隔Ｄ１にした状態において、検知コイル１１を通過する際に検知部１０に接触する程度（第１の間隔Ｄ１よりも大きく）ワイヤロープＷの外表面から飛び出した異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータを取得しておく。このようにしてデータ取得ステップにおいて取得および蓄積された検知信号のデータ（蓄積データ）に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定するための閾値（飛出部閾値）を取得（設定）し、取得された閾値（飛出部閾値）を記憶部１２３に記憶させておく。すなわち、データ取得ステップにおいて取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号に基づくデータとして、取得された閾値（飛出部閾値）のデータが記憶部１２３に記憶される。データ取得ステップにおいては、ワイヤロープＷの直径、検知コイル１１（検知部１０）の形状、ワイヤロープＷと検知コイル１１（検知部１０）との位置関係、および、磁界印加部４０の配置など、ワイヤロープ検査装置１０１の構成やワイヤロープＷへのワイヤロープ検査装置１０１の取り付け状態に応じたデータを取得する。

そして、データ取得ステップの後に、図１４に示すような飛出部有無判定モードにおける処理が実施される。

ステップＳ１１（事前検査間隔変更ステップ）では、検知間隔が、通常運転間隔Ｄ０から第２の間隔Ｄ２に変更される。また、前述したように、第２の間隔Ｄ２は、ワイヤロープＷの通常運転時におけるワイヤロープＷと検知部１０との間隔である通常運転間隔Ｄ０よりも小さい。ステップＳ１１（事前検査間隔変更ステップ）における検知間隔の変更は、前述したように、ユーザ（作業者）が、検知間隔変更機構２０のハンドル２４を回すことによって行われる。

ステップＳ１２（事前検査ステップ）では、本検査を行う前に、検知間隔を第１の間隔Ｄ１よりも大きい第２の間隔Ｄ２にした状態で、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する事前検査を行う。なお、事前検査時におけるエレベータ９００の運転速度は、エレベータ通常運転時における運転速度よりも遅くする。また、事前検査時におけるエレベータ９００の運転速度は、検知コイル１１による検出の精度を上げるために、本検査時におけるエレベータ９００の運転速度よりも遅くしてもよいし、検査時間の増加を抑制するために、本検査時におけるエレベータ９００の運転速度よりも速くしてもよい。また、事前検査時におけるエレベータ９００の運転速度は、本検査時におけるエレベータ９００の運転速度と同程度でもよい。

ステップＳ１２（事前検査ステップ）では、複数のワイヤロープＷの各々に対応して設けられた複数の検知コイル１１の各々が対応するワイヤロープＷの磁束を検知する。

また、ステップＳ１２（事前検査ステップ）では、検知部１０の検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振させ、検知コイル１１を通過する前に予め磁界を印加され、磁化の方向が整えられたワイヤロープＷの磁束を検知する。すなわち、ステップＳ１２（事前検査ステップ）では、検知部１０の検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態で、前述した磁界印加部４０（図６参照）によって、ワイヤロープＷが検知コイル１１を通過する前に予めワイヤロープＷに磁界を印加されており、ワイヤロープＷの磁化の方向が整えられている。

ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）では、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部Ｐの有無を判定する（飛出部有無判定を行う）。

ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）では、データ取得ステップにおいて取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号の値と、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の値とに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。

具体的には、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）は、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において複数の検知コイル１１の各々により検知された検知信号の値を加算した結果に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。より具体的には、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）では、データ取得ステップにおいて取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号の値に基づいて取得された閾値（飛出部閾値）と、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において複数の検知コイル１１の各々により検知された検知信号の値を加算した結果の現在と過去との差分データの値との比較に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。

そして、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）の完了後、ステップＳ１４（判定結果通知ステップ）に移行する。ステップＳ１４（判定結果通知ステップ）では、異常飛び出し部Ｐが有ると判定された場合には、異常飛び出し部Ｐが有ることを通知される。

ユーザ（作業者）は、異常飛び出し部Ｐが有ると判定され、ディスプレイ部１２４によって、異常飛び出し部Ｐが有ることを通知された場合には、ワイヤロープＷ上の異常飛び出し部Ｐを処理（除去）する。そして、ワイヤロープＷ上の異常飛び出し部Ｐの処理後、飛出部有無判定モードにおいて事前検査および飛出部有無判定を再度実施する。

また、異常飛び出し部Ｐが無いことを通知された場合（異常飛び出し部Ｐが無いと判定された場合）には、処理部１２２のモードを飛出部有無判定モードから劣化状態判定モードに切り替え、劣化状態判定モードにおける本検査および劣化状態判定を実施する。飛出部有無判定モードから劣化状態判定モードへの切り替えは、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）の結果に基づいて、処理部１２２によって、自動的に切り替わるように構成してもよいし、ユーザ（作業者）のディスプレイ部１２４へのタッチ操作に基づいて、切り替えられてもよい。そして、図１５に示すような劣化状態判定モードにおける処理が実施される。

（本検査モード）
ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）は、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）において異常飛び出し部Ｐがないと判定された後に、検知間隔を第２の間隔Ｄ２から第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１に変更するステップである。なお、ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）は、特許請求の範囲の「間隔変更ステップ」の一例である。

ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）では、検知間隔が第２の間隔Ｄ２から第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１に変更される。ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）における検知間隔の変更は、前述したように、ユーザ（作業者）が、検知間隔変更機構２０のハンドル２４を回すことによって行われる。

ステップＳ２２（本検査ステップ）では、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する本検査を行う。なお、本検査時におけるエレベータ９００の運転速度は、エレベータ通常運転時における運転速度よりも遅くする。たとえば、本検査時におけるエレベータ９００の運転速度は、１６ｍ／分～３０ｍ／分程度である。

ステップＳ２２（本検査ステップ）では、検知部１０の検知間隔を第１の間隔Ｄ１にした状態で、前述した磁界印加部４０（図６参照）によって、ワイヤロープＷが検知コイル１１を通過する前に予めワイヤロープＷに磁界を印加されており、ワイヤロープＷの磁化の方向が整えられている。ステップＳ２２（本検査ステップ）の完了後、ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）に移行する。

ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）では、ステップＳ２２（本検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する（劣化状態判定を行う）。具体的には、ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）では、予め設定された閾値（劣化状態閾値）と、ステップＳ２２（本検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の値、または、ステップＳ２２（本検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の現在と過去との差分データの値と比較に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。なお、予め設定された閾値（劣化状態閾値）のデータは、記憶部１２３に記憶されている。そして、ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）の完了後、ワイヤロープＷの劣化状態の判定結果を通知するステップＳ２４（劣化通知ステップ）に移行する。また、ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）では、ワイヤロープＷの劣化状態の判定を、複数のワイヤロープＷに対して一括して行ってもよいし、個別に行ってもよい。

ステップＳ２４（劣化通知ステップ）では、ステップＳ１４（判定結果通知ステップ）のように、ワイヤロープＷの劣化状態の判定結果を文字により通知（表示）してもよいし、ワイヤロープＷの各々における劣化部分（異常部分）の位置を画像により表示してもよい。

（第１実施形態の効果）
第１実施形態によるワイヤロープ検査方法およびワイヤロープ検査システム１００では、以下のような効果を得ることができる。

第１実施形態では、上記のように、検知間隔を本検査の際に用いる第１の間隔Ｄ１よりも大きい第２の間隔Ｄ２にした状態で、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する事前検査を行う。これにより、本検査の際に用いる第１の間隔Ｄ１以上にワイヤロープＷの外表面から飛び出した異常飛び出し部ＰがワイヤロープＷの外表面上に存在する場合でも、検知間隔を本検査の際に用いる第１の間隔Ｄ１よりも大きい第２の間隔Ｄ２にした状態で事前検査を行うので、事前検査の際にワイヤロープＷの異常飛び出し部Ｐが検知部１０に接触することを抑制することができる。また、上記のように、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行うので、検知間隔を事前検査の際に用いる第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１にした状態で行う本検査の前に、異常飛び出し部Ｐの有無を確認することができる。これにより、異常飛び出し部Ｐが無いこと（異常飛び出し部Ｐが検知部１０に接触しないこと）を確認した後に、検知間隔を第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１にした状態（検知部１０を近づけた状態）で本検査を行うことができるので、ワイヤロープの検査（本検査）を精度よく行うことができる。これらの結果、検査対象であるワイヤロープＷから飛び出した異常飛び出し部Ｐと検知コイル１１を含む検知部１０との接触を抑制しつつ、検知部１０を近づけてワイヤロープＷの検査を精度よく行うことができる。

また、上記第１実施形態によるワイヤロープ検査方法およびワイヤロープ検査システム１００では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。

また、第１実施形態では、上記のように、ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）において、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）において異常飛び出し部Ｐがないと判定された後に、検知間隔を第２の間隔Ｄ２から第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１に変更する。これにより、検知間隔を第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１に変更する際に、検査対象であるワイヤロープＷから飛び出した異常飛び出し部Ｐが検知コイル１１を含む検知部１０に接触することを抑制することができる。また、上記のように、ステップＳ２１（本検査間隔変更ステップ）の後、ステップＳ２２（本検査ステップ）において、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する本検査を行う。そして、上記のように、ステップＳ２３（劣化状態判定ステップ）では、ステップＳ２２（本検査ステップ）の本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する。これにより、検知間隔を第２の間隔Ｄ２よりも小さい第１の間隔Ｄ１に変更した後に（検知部１０を近づけた状態で）、ワイヤロープＷの磁束を検知する本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定することができるので、ワイヤロープＷの劣化状態の判定を精度よく行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ステップＳ１４（判定結果通知ステップ）では、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）において異常飛び出し部Ｐが有ると判定された場合には、ディスプレイ部１２４（通知部）によって、異常飛び出し部Ｐが有ることを通知（通知Ｎ１を表示）する。これにより、ディスプレイ部１２４の通知（通知Ｎ１の表示）によって、ワイヤロープＷに異常飛び出し部Ｐが有ることをユーザ（作業者）が容易に確認することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、第２の間隔Ｄ２は、ワイヤロープＷの通常運転時におけるワイヤロープＷと検知部１０との間隔である通常運転間隔Ｄ０よりも小さい。これにより、事前検査の際の検知間隔（第２の間隔Ｄ２）が通常運転間隔Ｄ０よりも小さいので、事前検査の際に、検知コイル１１を含む検知部１０をワイヤロープＷにより近づけることができる。その結果、ワイヤロープＷの事前検査および飛出部有無判定を精度よく行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、データ取得ステップによって、ステップＳ１２（事前検査ステップ）に先立って、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータを予め取得する。そして、予め取得した検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号に基づくデータが、記憶部１２３に記憶されている。これにより、ステップＳ１２（事前検査ステップ）に先立って、予め取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータを飛出部有無判定の際に用いることができるので、飛出部有無判定を容易に行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）において、データ取得ステップにおいて取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号の値と、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の値とに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。これにより、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の値との比較に、データ取得ステップにおいて取得した異常飛び出し部Ｐの検知信号の値を用いることによって、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において検知コイル１１により検知された検知信号の値から異常飛び出し部Ｐの有無を容易に判定することができる。その結果、飛出部有無判定をより容易に行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において、複数のワイヤロープＷの各々に対応して設けられた複数の検知コイル１１の各々が対応するワイヤロープＷの磁束を検知する。これにより、複数のワイヤロープＷの検査を同時に行うことができるので、検査時間の増加を抑制することができる。また、上記のように、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）では、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において複数の検知コイル１１の各々により検知された検知信号の値を加算した結果に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する。ここで、異常飛び出し部Ｐが、複数のワイヤロープＷが互いに隣り合う方向（Ｘ方向）に飛び出す場合には、異常飛び出し部Ｐが存在するワイヤロープＷに対応する検知コイル１１に加えて、Ｘ方向において隣接する検知コイル１１においても異常飛び出し部Ｐに起因する検知信号を取得することができる。したがって、上記のように、複数の検知コイル１１の各々により検知された検知信号の値を加算した結果に基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定することによって、１つの検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐに起因する検知信号が小さい場合でも、異常飛び出し部Ｐに起因する検知信号を容易に取得することができる。その結果、検知コイル１１によって、検知される異常飛び出し部Ｐに起因する検知信号が小さい場合でも、飛出部有無判定を精度よく行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ステップＳ１２（事前検査ステップ）において、検知部１０の検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において、励振コイル３０によって、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振させる。また、ステップＳ１２（事前検査ステップ）では、検知コイル１１を通過する前に、磁界印加部４０によって、予め磁界を印加され、磁化の方向が整えられたワイヤロープＷの磁束を検知コイル１１に検知させる。これにより、検知コイル１１は、事前検査において、予め磁化の方向が整えられたワイヤロープＷの磁束を検知するので、ワイヤロープＷの事前検査および飛出部有無判定をより精度よく行うことができる。

また、上記第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理部１２２（判定部）は、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、飛出部有無判定を行うための飛出部有無判定モードと、本検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うための劣化状態判定モードとに切り替え可能に構成されている。これにより、検知コイル１１によって検知された検知信号に対する信号処理の方法を飛出部有無判定モードおよび劣化状態判定モードの各々のモードにおいて変更することができる。その結果、劣化状態判定および飛出部有無判定の各々の判定に適した信号処理を各々の判定の前に行うことができるので、異常飛び出し部Ｐの有無の判定およびワイヤロープＷの劣化状態の判定をより容易に行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知間隔変更機構２０は、ワイヤロープＷの通常運転時におけるワイヤロープＷと検知部１０との間隔であり、第２の間隔Ｄ２よりも大きい間隔である通常運転間隔Ｄ０から、第２の間隔Ｄ２に検知間隔を変更可能に構成されている。これにより、検知間隔変更機構２０が、ワイヤロープＷの通常運転時（エレベータ通常運転時）の検知間隔である通常運転間隔Ｄ０から、第２の間隔Ｄ２に検知間隔を変更することによって、事前検査の際の検知間隔を通常運転間隔Ｄ０よりも小さくすることができる。その結果、事前検査の際に、検知コイル１１を含む検知部１０をワイヤロープＷにより近づけることができるので、ワイヤロープＷの事前検査および飛出部有無判定を精度よく行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理部１２２は、予め取得した検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号に基づいて取得され、記憶部１２３が記憶した閾値（飛出部閾値）と、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号の値とに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行う。これにより、記憶部１２３が記憶した閾値（飛出部閾値）と、事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号の値との比較によって、異常飛び出し部Ｐの有無を判定することができる。その結果、飛出部有無判定を容易に行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知コイル１１は、対応するワイヤロープＷを取り囲むように配置されている。これにより、ワイヤロープＷを取り囲むように磁束を検知することができるので、ワイヤロープＷの断面方向（ＸＹ方向）における劣化（異常）の位置を容易に取得することができる。また、検知コイル１１は、複数のワイヤロープＷと検知部１０とが対向する方向（Ｙ方向）において、複数のワイヤロープＷの一方側（Ｙ１方向側）に配置される第１検知コイル１１ａと、複数のワイヤロープＷの他方側（Ｙ２方向側）に配置される第２検知コイル１１ｂとに分割可能に構成されている。そして、検知間隔変更機構２０は、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂの各々のワイヤロープＷに対する検知間隔を第１の間隔Ｄ１および第２の間隔Ｄ２に変更可能に構成されている。これにより、検知間隔変更機構２０によって、第１検知コイル１１ａおよび第２検知コイル１１ｂの各々を複数のワイヤロープＷと検知部１０とが対向する方向（Ｙ方向）に移動させることができるので、検知間隔を容易に変更することができる。

［第２実施形態］
図１６を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２０１の構成について説明する。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付している。

第２実施形態において、ワイヤロープ検査装置２０１は、検知コイル１１を含む検知部１０と、検知間隔変更機構２０と、処理部２５１とを備える。

検知部１０は、第１実施形態と同様に構成されており、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を検知する検知コイル１１を含む。また、検知間隔変更機構２０は、第１実施形態と同様に構成されており、本検査の際に用いる第１の間隔Ｄ１と、事前検査の際に用いる第１の間隔Ｄ１よりも大きい第２の間隔Ｄ２とに検知間隔を変更可能に構成されている。

第２実施形態のワイヤロープ検査システム２００（ワイヤロープ検査装置２０１）では、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられた処理装置１０２の処理部１２２が異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行う第１実施形態によるワイヤロープ検査装置１０１とは異なり、ワイヤロープ検査装置２０１に設けられた処理部２５１が、異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている。

処理部２５１は、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態で、検知部１０をワイヤロープＷに対して相対的に移動させながらワイヤロープＷの磁束を検知する事前検査において検知コイル１１により検知された検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部Ｐの有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている。

なお、ワイヤロープ検査装置２０１では、処理部２５１による飛出部有無判定を行うためのデータ（データ取得ステップにおいて取得されるデータ）は、電子回路部５０の記憶部５５に記憶（保存）される。

なお、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。

（第２実施形態の効果）
第２実施形態のワイヤロープ検査装置２０１では、上記第１実施形態と同様に、検査対象であるワイヤロープＷから飛び出した異常飛び出し部Ｐと検知コイル１１を含む検知部１０との接触を抑制しつつ、検知部１０を近づけてワイヤロープＷの検査を精度よく行うことができる。

なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。

［第３実施形態］
図１７および図１８を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム３００の構成について説明する。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付している。

第３実施形態のワイヤロープ検査システム３００（ワイヤロープ検査装置３０１）では、ユーザ（作業者）が、検知間隔変更機構２０に設けられたハンドル２４を回すことにより、検知間隔を変更するように構成されている第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００（ワイヤロープ検査装置１０１）とは異なり、検知間隔変更機構３２０に設けられたアクチュエータ３２０ａ（図１７および図１８参照）が、ローラ２１を回転させることにより、検知間隔を変更するように構成されている。すなわち、ワイヤロープ検査システム３００（ワイヤロープ検査装置３０１）では、アクチュエータ３２０ａの駆動によって、検知間隔を変更する。アクチュエータ３２０ａは、たとえば、電動モータまたは空気圧シリンダなどである。

ワイヤロープ検査システム３００（ワイヤロープ検査装置３０１）では、ユーザ（作業者）によるディスプレイ部１２４へのタッチ操作、または、飛出部有無判定の結果に基づいて、ワイヤロープ検査装置３０１の処理部５１がアクチュエータ３２０ａの駆動を制御するように構成されている。

なお、第３実施形態のその他の構成および効果は、上記第１実施形態と同様である。また、上記第１～第３実施形態を互いに組み合わせてもよい。

［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記第１実施形態では、ステップＳ１３（飛出部有無判定ステップ）において異常飛び出し部Ｐが有ると判定された場合には、ディスプレイ部１２４（通知部）の表示により異常飛び出し部Ｐが有ることを通知する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、音声や警告音などによって、ワイヤロープ上に異常飛び出し部が有ることを通知してもよい。

また、上記第１実施形態では、通常運転間隔Ｄ０よりも小さい第２の間隔Ｄ２において、事前検査を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第２の間隔は、通常運転間隔（エレベータ通常運転時におけるワイヤロープと検知部との間隔）と同じでもよい。すなわち、通常運転間隔で事前検査を行ってもよい。また、本発明では、エレベータ通常運転時において、事前検査を行ってもよい。

また、上記第１実施形態では、検知間隔変更機構２０は、検知間隔を通常運転間隔Ｄ０、第１の間隔Ｄ１および第２の間隔Ｄ２の３つに変更可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。検知間隔変更機構は、検知間隔を４つ以上に変更可能に構成されてもよい。

また、上記第１実施形態では、データ取得ステップにおいて、検知間隔を第２の間隔Ｄ２にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータに基づいて、異常飛び出し部Ｐの有無を判定するための閾値（飛出部閾値）を取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、異常飛び出し部Ｐの有無を判定するための閾値（飛出部閾値）は、検知間隔を第１の間隔にした状態において検知コイル１１により検知される異常飛び出し部Ｐの検知信号のデータに基づいて、取得されてもよい。

また、上記第１実施形態では、複数のワイヤロープＷの各々に対応して設けられた検知コイル１１が設けられる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルは、複数のワイヤロープに対して共通に設けられてもよい。

また、上記第１実施形態では、検知コイル１１を通過する前に、磁界印加部４０によって、予め磁界を印加され、磁化の方向が整えられた（整磁された）ワイヤロープＷの磁束を検知コイル１１が検知する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁界印加部を設けずに、整磁されていない状態のワイヤロープの磁束を検知コイルが検知してもよい。

また、上記第１実施形態では、処理部１２２（判定部）は、飛出部有無判定を行うための飛出部有無判定モードと、ワイヤロープＷの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うための劣化状態判定モードとに切り替え可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、判定部は、飛出部有無判定モードと、劣化状態判定モードとに加えて、ワイヤロープの通常運転時（エレベータ通常運転時）における検知間隔である通常運転間隔において検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、異常飛び出し部の有無を判定するためのモードに切り替え可能に構成されてもよい。すなわち、判定部は、３つ以上のモードに切り替え可能に構成されてもよい。

また、上記第１実施形態では、検知コイル１１は、対応するワイヤロープＷを取り囲むように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルは、ワイヤロープの一方側のみを覆うように配置されてもよい。

また、上記第１実施形態では、検知コイル１１を用いて全磁束法によるワイヤロープＷの磁束の検知を行い、ワイヤロープＷの外表面（外部）および内部の劣化（異常）を検査するワイヤロープ検査方法の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルを用いてワイヤロープの外表面からの漏洩磁束を検知し、外表面のみの劣化（異常）を検査してもよい。

また、上記第１実施形態では、励振コイル３０の内側において、検知コイル１１のみが複数のワイヤロープＷと検知部１０とが対向する方向（Ｙ方向）に移動可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルと励振コイルとがともに移動するように構成されてもよい。

また、上記第１実施形態では、図６に示すように、磁界印加部４０として、検知コイル１１（励振コイル３０）に対してＺ１方向側に配置される磁界印加部４１（磁石４１ａおよび４１ｂ）と、検知コイル１１（励振コイル３０）に対してＺ２方向側に配置される磁界印加部４２（磁石４２ａおよび４２ｂ）とを含む例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図１９に示す第１変形例のように、磁界印加部４０は、検知コイル１１（励振コイル３０）に対して、Ｚ１方向側に配置される磁界印加部４１（磁石４１ａおよび４１ｂ）のみを含む構成でもよい。この場合、磁石４１ａおよび４１ｂは、図１９に示す第１変形例のように、Ｎ極同士が対向するように配置してもよいし、Ｓ極同士が対向するように配置してもよい。また、図２０に示す第２変形例のように、磁界印加部４０は、検知コイル１１（励振コイル３０）に対して、Ｚ２方向側に配置される磁界印加部４２（磁石４２ａおよび４２ｂ）のみを含む構成でもよい。この場合、磁石４２ａおよび４２ｂは、図２０に示すように、Ｓ極同士が対向するように配置してもよいし、Ｎ極同士が対向するように配置してもよい。また、磁界印加部４０は、磁石４１ａ、４１ｂ、４２ａおよび４２ｂのうち、いずれか１つのみが設けられる構成でもよい。

また、上記第１実施形態では、説明の便宜上、本発明のワイヤロープ検査方法における処理を処理フローに沿って順番に処理を行うフロー駆動型のフローチャートを用いて説明したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ワイヤロープ検査方法における処理を、イベント単位で処理を実行するイベント駆動型（イベントドリブン型）の処理により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。

［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（項目１）
ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を第１の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査を行う前に、前記検知間隔を前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査を行う事前検査ステップと、
前記事前検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定ステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。

（項目２）
前記飛出部有無判定ステップにおいて前記異常飛び出し部がないと判定された後に、前記検知間隔を前記第２の間隔から前記第２の間隔よりも小さい前記第１の間隔に変更する間隔変更ステップと、
前記間隔変更ステップの後、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記本検査を行う本検査ステップと、
前記本検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する劣化状態判定ステップと、を備える、項目１に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目３）
前記飛出部有無判定ステップにおいて前記異常飛び出し部が有ると判定された場合には、前記異常飛び出し部が有ることを通知する判定結果通知ステップをさらに備える、項目１または２に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目４）
前記第２の間隔は、前記ワイヤロープの通常運転時における前記ワイヤロープと前記検知部との間隔である通常運転間隔よりも小さい、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目５）
前記事前検査ステップに先立って、前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号のデータを予め取得するデータ取得ステップをさらに備える、項目１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目６）
前記飛出部有無判定ステップは、前記データ取得ステップにおいて取得した前記異常飛び出し部の検知信号の値と、前記事前検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号の値とに基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するステップを含む、項目５に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目７）
前記事前検査ステップは、複数の前記ワイヤロープの各々に対応して設けられた複数の前記検知コイルの各々が対応する前記ワイヤロープの磁束を検知するステップを含み、
前記飛出部有無判定ステップは、前記事前検査ステップにおいて複数の前記検知コイルの各々により検知された検知信号の値を加算した結果に基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するステップを含む、項目５または６に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目８）
前記事前検査ステップは、前記検知部の前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において、前記ワイヤロープの磁化の状態を励振させるステップと、前記検知コイルを通過する前に予め磁界を印加され、磁化の方向が整えられた前記ワイヤロープの磁束を検知するステップとを含む、項目１～７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。

（項目９）
ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、
前記ワイヤロープの検査時における前記検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、前記本検査を行う前に前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、を備えるワイヤロープ検査装置と、
前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える、ワイヤロープ検査システム。

（項目１０）
前記判定部は、前記本検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うように構成されている、項目９に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１１）
前記判定部は、前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記飛出部有無判定を行うための飛出部有無判定モードと、前記本検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する前記劣化状態判定を行うための劣化状態判定モードとに切り替え可能に構成されている、項目１０に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１２）
前記判定部が、前記飛出部有無判定において前記異常飛び出し部が有ると判定した場合に、前記異常飛び出し部が有ることを通知する通知部をさらに備える、項目９～１１のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１３）
前記検知間隔変更機構は、前記ワイヤロープの通常運転時における前記ワイヤロープと前記検知部との間隔であり、前記第２の間隔よりも大きい間隔である通常運転間隔から、前記第２の間隔に前記検知間隔を変更可能に構成されている、項目９～１２のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１４）
予め取得した前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号に基づくデータを記憶する記憶部をさらに備える、項目９～１３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１５）
前記判定部は、予め取得した前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号に基づいて取得され、前記記憶部が記憶した閾値と、前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号の値とに基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定する前記飛出部有無判定を行うように構成されている、項目１４に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１６）
前記検知コイルは、複数の前記ワイヤロープに対応して複数設けられており、
前記検知間隔変更機構は、複数の前記検知コイルの各々の前記検知間隔を前記第１の間隔と、前記第２の間隔とに変更可能に構成されており、
前記判定部は、複数の前記ワイヤロープの各々に対応して設けられた前記検知コイルの各々が検知した信号を加算した結果に基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するように構成されている、項目１４または１５に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１７）
前記検知コイルは、対応する前記ワイヤロープを取り囲むように配置されており、
前記検知コイルは、複数の前記ワイヤロープと前記検知部とが対向する方向において、複数の前記ワイヤロープの一方側に配置される第１検知コイルと、複数の前記ワイヤロープの他方側に配置される第２検知コイルとに分割可能に構成されており、
前記検知間隔変更機構は、前記第１検知コイルおよび前記第２検知コイルの各々の前記ワイヤロープに対する前記検知間隔を前記第１の間隔および前記第２の間隔に変更可能に構成されている、項目９～１６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１８）
前記ワイヤロープの磁化の状態を励振させる励振コイルと、
前記ワイヤロープが前記検知コイルを通過する前に予め前記ワイヤロープに磁界を印加し、前記ワイヤロープの磁化の方向を整える磁界印加部と、をさらに備え、
前記検知コイルは、前記事前検査の際に、前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記磁界印加部によって、前記検知コイルを通過する前に予め磁界を印加された前記ワイヤロープの磁束を検知するように構成されている、項目９～１７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

（項目１９）
ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、
前記ワイヤロープの検査時における前記検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、前記本検査を行う前に前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、
前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える、ワイヤロープ検査装置。

１０ 検知部
１１ 検知コイル
１１ａ 第１検知コイル
１１ｂ 第２検知コイル
２０、３２０ 検知間隔変更機構
３０ 励振コイル
４０ 磁界印加部
１００、２００、３００ ワイヤロープ検査システム
１０１、２０１、３０１ ワイヤロープ検査装置
１２２、２５１ 処理部（判定部）
１２３ 記憶部
１２４ ディスプレイ部（通知部）
Ｄ０ 通常運転間隔
Ｄ１ 第１の間隔
Ｄ２ 第２の間隔
Ｐ 異常飛び出し部
Ｗ ワイヤロープ

Claims (19)

1. ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を第１の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査を行う前に、前記検知間隔を前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査を行う事前検査ステップと、
   前記事前検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定ステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
2. 前記飛出部有無判定ステップにおいて前記異常飛び出し部がないと判定された後に、前記検知間隔を前記第２の間隔から前記第２の間隔よりも小さい前記第１の間隔に変更する間隔変更ステップと、
   前記間隔変更ステップの後、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記本検査を行う本検査ステップと、
   前記本検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する劣化状態判定ステップと、を備える、請求項１に記載のワイヤロープ検査方法。
3. 前記飛出部有無判定ステップにおいて前記異常飛び出し部が有ると判定された場合には、前記異常飛び出し部が有ることを通知する判定結果通知ステップをさらに備える、請求項１または２に記載のワイヤロープ検査方法。
4. 前記第２の間隔は、前記ワイヤロープの通常運転時における前記ワイヤロープと前記検知部との間隔である通常運転間隔よりも小さい、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
5. 前記事前検査ステップに先立って、前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号のデータを予め取得するデータ取得ステップをさらに備える、請求項１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
6. 前記飛出部有無判定ステップは、前記データ取得ステップにおいて取得した前記異常飛び出し部の検知信号の値と、前記事前検査ステップにおいて前記検知コイルにより検知された検知信号の値とに基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するステップを含む、請求項５に記載のワイヤロープ検査方法。
7. 前記事前検査ステップは、複数の前記ワイヤロープの各々に対応して設けられた複数の前記検知コイルの各々が対応する前記ワイヤロープの磁束を検知するステップを含み、
   前記飛出部有無判定ステップは、前記事前検査ステップにおいて複数の前記検知コイルの各々により検知された検知信号の値を加算した結果に基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するステップを含む、請求項５または６に記載のワイヤロープ検査方法。
8. 前記事前検査ステップは、前記検知部の前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において、前記ワイヤロープの磁化の状態を励振させるステップと、前記検知コイルを通過する前に予め磁界を印加され、磁化の方向が整えられた前記ワイヤロープの磁束を検知するステップとを含む、請求項１～７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
9. ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、
   前記ワイヤロープの検査時における前記検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、前記本検査を行う前に前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、を備えるワイヤロープ検査装置と、
   前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える、ワイヤロープ検査システム。
10. 前記判定部は、前記本検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する劣化状態判定を行うように構成されている、請求項９に記載のワイヤロープ検査システム。
11. 前記判定部は、前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記飛出部有無判定を行うための飛出部有無判定モードと、前記本検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの劣化状態を判定する前記劣化状態判定を行うための劣化状態判定モードとに切り替え可能に構成されている、請求項１０に記載のワイヤロープ検査システム。
12. 前記判定部が、前記飛出部有無判定において前記異常飛び出し部が有ると判定した場合に、前記異常飛び出し部が有ることを通知する通知部をさらに備える、請求項９～１１のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
13. 前記検知間隔変更機構は、前記ワイヤロープの通常運転時における前記ワイヤロープと前記検知部との間隔であり、前記第２の間隔よりも大きい間隔である通常運転間隔から、前記第２の間隔に前記検知間隔を変更可能に構成されている、請求項９～１２のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
14. 予め取得した前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号に基づくデータを記憶する記憶部をさらに備える、請求項９～１３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
15. 前記判定部は、予め取得した前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態において前記検知コイルにより検知される前記異常飛び出し部の検知信号に基づいて取得され、前記記憶部が記憶した閾値と、前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号の値とに基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定する前記飛出部有無判定を行うように構成されている、請求項１４に記載のワイヤロープ検査システム。
16. 前記検知コイルは、複数の前記ワイヤロープに対応して複数設けられており、
    前記検知間隔変更機構は、複数の前記検知コイルの各々の前記検知間隔を前記第１の間隔と、前記第２の間隔とに変更可能に構成されており、
    前記判定部は、複数の前記ワイヤロープの各々に対応して設けられた前記検知コイルの各々が検知した信号を加算した結果に基づいて、前記異常飛び出し部の有無を判定するように構成されている、請求項１４または１５に記載のワイヤロープ検査システム。
17. 前記検知コイルは、対応する前記ワイヤロープを取り囲むように配置されており、
    前記検知コイルは、複数の前記ワイヤロープと前記検知部とが対向する方向において、複数の前記ワイヤロープの一方側に配置される第１検知コイルと、複数の前記ワイヤロープの他方側に配置される第２検知コイルとに分割可能に構成されており、
    前記検知間隔変更機構は、前記第１検知コイルおよび前記第２検知コイルの各々の前記ワイヤロープに対する前記検知間隔を前記第１の間隔および前記第２の間隔に変更可能に構成されている、請求項９～１６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
18. 前記ワイヤロープの磁化の状態を励振させる励振コイルと、
    前記ワイヤロープが前記検知コイルを通過する前に予め前記ワイヤロープに磁界を印加し、前記ワイヤロープの磁化の方向を整える磁界印加部と、をさらに備え、
    前記検知コイルは、前記事前検査の際に、前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記磁界印加部によって、前記検知コイルを通過する前に予め磁界を印加された前記ワイヤロープの磁束を検知するように構成されている、請求項９～１７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
19. ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記ワイヤロープの磁束を検知する検知コイルを含む検知部と、
    前記ワイヤロープの検査時における前記検知部と前記ワイヤロープとの間隔である検知間隔を、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する本検査の際に用いる第１の間隔と、前記本検査を行う前に前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する事前検査の際に用いる前記第１の間隔よりも大きい第２の間隔とに変更可能な検知間隔変更機構と、
    前記検知間隔を前記第２の間隔にした状態で、前記検知部を前記ワイヤロープに対して相対的に移動させながら前記ワイヤロープの磁束を検知する前記事前検査において前記検知コイルにより検知された検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの外表面の少なくとも一部から飛び出した異常飛び出し部の有無を判定する飛出部有無判定を行うように構成されている判定部とを備える、ワイヤロープ検査装置。
    

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