JP7434150B2 - 磁性体検査装置および磁性体検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関し、特に、磁性体の磁界を検知する検知部を備える磁性体検査装置および磁性体検査方法に関する。

従来、磁性体の磁界を検知する検知部を備える磁性体検査装置が知られている。このような磁性体検査装置は、たとえば、特開２００３－３０２３７９号公報に開示されている。

特開２００３－３０２３７９号公報には、長手方向に延びたスチールワイヤロープの外周にスチールワイヤロープに対して相対移動可能に設けられたコイルホルダと、それぞれスチールワイヤロープを中心としてスチールワイヤロープの延びる方向に沿うようにコイルホルダの外周に巻き付けられて設けられる励磁コイルおよび検出コイルを備える磁性体検査装置が開示されている。励磁コイルは、スチールワイヤロープに対してスチールワイヤロープの長手方向に磁界を印加するように構成されている。また、検出コイルは、スチールワイヤロープから生じるスチールワイヤロープの長手方向の漏洩磁化を検知して検知信号を出力するように構成されている。また、特開２００３－３０２３７９号公報に開示されている磁性体検査装置は、コイルホルダとスチールワイヤロープとを長手方向に相対移動させることにより、スチールワイヤロープが断線した位置において生じる磁界の漏洩を検知して、スチールワイヤロープの断線を警報するように構成されている。

特開２００３－３０２３７９号公報

しかしながら、特開２００３－３０２３７９号公報の磁性体検査装置では、スチールワイヤロープが有する磁化のバラツキに起因するノイズを検出してしまう。具体的には、スチールワイヤロープ等の磁性体内部の磁化の大きさと向きとは、製造時（製造後）に、一定の大きさおよび向きに揃っていない場合がある。さらに、滑車等を通過する際に応力や曲がり等が加わることによっても磁性体内部の磁化の大きさと向きとが変化し、不均一となる。このため、スチールワイヤロープに断線がない部分であっても、スチールワイヤロープが有する磁化の大きさと向きとのバラツキに起因して、検出コイルがノイズに基づいた信号を検出してしまう場合がある。その場合には、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができないという問題点がある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことが可能な磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することである。

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における磁性体検査装置は、検査対象であり長尺材からなる磁性体に対して予め磁界を印加し磁性体の磁化の大きさと向きとを整える磁界印加部と、磁界印加部により磁界が印加された後に、磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部とを備え、磁界印加部は、磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含み、磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、磁界を打ち消す領域の前後に、磁性体に磁界を印加して磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、検知部は、磁界印加部から整磁領域よりも離れた位置で、磁性体を中心として磁性体を取り囲み、磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられ、検知信号を発生する検知コイルを含む。

なお、本発明において、磁性体の「傷等」とは、磁性体のスレ、局所的磨耗、素線断線、凹み、腐食、亀裂、折れ等により生じる検知方向に対する（磁性体内部で傷等が生じた場合の空隙に起因するものを含む）断面積の変化、磁性体の錆、溶接焼け、不純物の混入、組成変化等により生じる透磁率の変化、その他磁性体が不均一となる部分を含む広い概念である。また、磁界の変化とは、磁性体と検知部とを相対移動させることによる検知部で検知される磁界の強さの時間的な変化、および、磁性体に印加する磁界を時間変化させることによる検知部で検知される磁界の強さの時間的な変化を含む広い概念である。また、磁極面とは、磁界印加部のうち、磁界の強さが最も強い点を含む面である。また、磁石が対向するとは、１対の磁石が向かい合うことに加えて、円環状の磁石により磁性体を取り囲んだ状態を含む広い概念である。

この発明の第１の局面における磁性体検査装置は、上記のように、磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含む、磁性体の磁化の大きさと向きとを整える磁界印加部を備える。これにより、磁性体に対して予め磁界が印加されるので、磁性体の傷等のない部分の磁化の大きさと向きとは略整えられる。一方で、磁性体に傷等のある部分の磁化の大きさと向きとは整わない。その結果、検知部から出力される検知信号が傷等のある部分とない部分とで異なることにより、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。また、磁性体の両側から磁界を印加して磁性体の磁化の大きさと向きとを整えることが可能となるので、磁性体の片側から磁界を印加する場合と比較して、磁性体の磁化の大きさと向きとを効率よく整えることができる。ここで、たとえば、スチールワイヤロープのような長尺の磁性体の状態を検査する場合、磁界印加部によって磁性体に磁界を印加する際には、磁性体の短軸方向において磁極が発生するため、磁界印加部の配置によっては磁性体の短軸方向において磁性体が磁界印加部に引き寄せられる。したがって、磁性体が磁界印加部に引き寄せられないようにするために、磁性体に加える張力を大きくする必要がある。上記のように構成すれば、磁性体の状態（傷等の有無）を検知する際に、整磁領域、磁界を打ち消す領域、整磁領域、検知部の順に磁性体を通過させることができる。したがって、磁界を打ち消す領域によって、磁性体の短軸方向において磁極が発生することを抑制することが可能となり、短軸方向において磁性体が磁界印加部に引き寄せられることを抑制することができるとともに、整磁領域によって磁性体の整磁を行うことができる。その結果、磁界印加部が磁界を打ち消す領域を生じさせない場合と比較して、短軸方向において磁性体が磁界印加部に引き寄せられることが抑制されるので、磁性体に加える張力を増大させることなく磁性体の整磁を行うことができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、磁界印加部は、整磁領域において、磁界を打ち消す領域を挟んで、磁性体に印加する磁界の向きを反転させるように構成されている。このように構成すれば、整磁前の磁性体の磁化の大きさと向きとがどのような方向に向いていたとしても、磁性体を、整磁領域、磁化を打ち消す領域、整磁領域の順で通過させることが可能となるので、容易にかつ確実に長尺材を整磁することができる。また、磁界を打ち消す領域の前後で、磁界印加部が発する磁界の向きが反転する。その結果、磁界の向きが反転しない場合と比較して、より正確に磁界の変化を検知できるという知見を得た。

上記磁界を打ち消す領域の前後に整磁領域を生じさせる構成において、好ましくは、磁石は、磁性体を挟むように１対設けられており、１対の磁石は、主として、長尺材に対して、長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加するように構成されている。ここで、磁石は、一方の磁極面から他方の磁極面に向かって磁界が放出されるため、磁極面の中心から離れるにしたがって、磁界の向きは長尺材の延びる方向に沿う方向を含む曲線になる。したがって、長尺材に対して長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加するように構成すれば、磁性体を挟むように１対の磁石を配置した場合でも、容易に磁性体の磁化の大きさと向きとを整えることができる。

上記長尺材に対して長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加する構成において、好ましくは、１対の磁石は、それぞれの磁石の一方の同極の磁極面同士は対向せずに、他方の同極の磁極面同士が対向するように配置されている。このように構成すれば、たとえば、両端面に磁極面を有する棒状の１対の磁石を用いる場合でも、磁石の同極同士を対向させるとともに、長尺材の短手方向に向けて１対の磁石を配置することができる。その結果、長尺材の短手方向から長尺材に向けて磁界を印加することが可能となるので、容易に磁界を打ち消す領域および整磁領域を生じさせることができる。

上記長尺材に対して長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加する構成において、好ましくは、磁界印加部は、検知部に対して長尺材が延びる方向に所定距離離間した位置に設けられている。ここで、検知部と磁界印加部との相対的な位置が変わると、検知部が検知する磁界印加部からの磁界が変化する。検知部が検知する磁界印加部からの磁界の変化は、検知部で検知される磁界にノイズが発生する要因となる。また、このノイズは、検知部と磁界印加部との距離が近いほど大きくなる。そのため、磁界印加部を、検知部における磁界の検知に影響がない程度にまで所定距離分離間して配置することにより、検知信号のＳ／Ｎ比の精度が上がる。その結果、検知部と磁界印加部との相対的な位置が変わることにより、検知部が検知する磁界印加部からの磁界が変化することに起因するノイズの発生を抑制することができる。

上記長尺材に対して長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加する構成において、好ましくは、検知コイルは、磁性体の延びる方向の磁界の変化を検知して検知信号を発生する。このように構成すれば、検知コイルは、検知コイルの内部の全磁束あるいは全磁束の変化により電圧を発生するので、長尺材における長尺材の延びる方向の磁界の変化を容易に検知することができる。

この場合、好ましくは、検知コイルは、差動コイルを含むとともに、磁性体の延びる方向の磁界により差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する各々の検知信号を出力するように構成されている。このように構成すれば、差動コイルの一方のコイル部分と他方のコイル部分とにより発生する磁性体の傷等により生じる検知信号の差を検知することにより、磁性体の状態（傷等の有無）の局所的な変化をより容易に検知することができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、検知部により出力された検知信号に基づいて、磁性体の状態の判定を行う判定部をさらに備え、判定部は、検知部により出力された検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた場合に、検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えたことを示す１つまたは複数の閾値信号を外部に出力するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の状態（傷等の有無）が不均一となる部分を、閾値信号に基づいて容易に判定することができる。

この場合、好ましくは、判定部は、検知部により出力された検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた回数を各々カウントするとともに、カウントされた各々の回数が所定の回数を超えた場合に、カウントされた回数が所定の回数を超えたことを示す信号を外部に出力するように構成されている。このように構成すれば、傷等の数に基づいて、磁性体の劣化等の状態を判定することができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、検知部は、磁性体の磁化の状態を励振するための励振コイルをさらに含むとともに、励振コイルに流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振された磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている。このように構成すれば、励振コイルにより磁性体の傷等の部分の磁化の状態が励振されるので、磁性体の傷等の部分からの磁性体が延びる方向の磁界または磁界の変化を容易に検知することができる。特に、交流電流等を励振コイルに流すことにより磁性体の磁化の状態に時間変化する励振を与える場合には、磁性体の磁界も時間変化する。そのため、磁性体と検知部とを相対移動させることなく、検知部により検知される磁界を変化させ、検知することができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、磁界印加部によって磁性体に印加される磁界は、励振コイルが磁性体の磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きい。ここで、磁性体の磁化の大きさと向きとが、予め磁界印加部が印加する大きい磁界により磁性体が延びる方向に整えられているため、磁性体に傷等がない領域では、励振コイルによって励振された際の磁界の変化は一様である。しかし、磁性体に傷等がある領域では、傷等がない領域と比較して、励振された際の磁界の変化は一様な変化とはならない。したがって、磁性体の状態の判定において、磁性体が延びる方向に磁化の状態を励振するために必要な磁界は、整磁するために印加される磁化より小さいものでも検知には十分な大きさである。すなわち、磁化の大きさと向きとが整えられていない場合と比較して、磁化の状態を励振するために必要な磁界の大きさを小さくすることができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、検知部は、磁性体を検知部に対して磁性体の延びる方向に相対移動させることにより検知部の検知位置における磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の検知部に磁界を検知される部分が相対移動に伴って変化するので、傷等のある部分とない部分との比較により、容易に傷等を検知することができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにＸ線撮影装置に設けられる、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部または被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部の少なくともいずれか一方を移動させるためのワイヤを含み、検知部は、ワイヤの延びる方向の磁界を検知するように構成されている。このように構成すれば、Ｘ線撮影装置に用いられるワイヤの状態（傷等の有無）を容易に判定することができる。

上記第１の局面における磁性体検査装置において、好ましくは、磁界印加部は、磁性体の延びる方向において、検知部の一方側に設けられた第１磁界印加部と、他方側に設けられた第２磁界印加部とを含み、第１磁界印加部と第２磁界印加部とは、磁性体が延びる方向において、各々が個別に設けられている。

この発明の第２の局面における磁性体検査方法は、検査対象であり長尺材からなる磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含む磁界印加部によって、磁性体に対して予め磁界を印加し磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップと、磁界を印加した後に、磁性体の磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知した磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップとを備え、磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、磁界を打ち消す領域の前後に、磁性体に磁界を印加して磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、検知信号を出力するステップにおいて、磁界印加部から整磁領域よりも離れた位置で、磁性体を中心として磁性体を取り囲み、磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられた検知コイルによって発生する前記検知信号を出力する。

この発明の第２の局面による磁性体検査方法では、上記のように、検査対象である磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含む磁界印加部によって、磁性体に対して予め磁界を印加し磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップを備える。これにより、磁性体に対して予め磁界が印加されるので、磁性体の傷等のない部分の磁化の大きさと向きとは略整えられる。一方で、磁性体に傷等のある部分の磁化の大きさと向きとは整わない。その結果、検知部から出力される検知信号が傷等のある部分とない部分とで異なることにより、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことが可能な磁性体検査方法を提供することができる。また、磁性体の両側から磁界を印加して磁性体の磁化の大きさと向きとを整えることが可能となるので、磁性体の片側から磁界を印加する場合と比較して、磁性体の磁化の大きさと向きとを効率よく整えることが可能な磁性体検査方法を提供することができる。また、上記第１の局面と同様に、磁性体の状態（傷等の有無）を検知する際に、整磁領域、磁界を打ち消す領域、整磁領域、検知部の順に磁性体を通過させることができる。したがって、磁界を打ち消す領域によって、磁性体の短軸方向において磁極が発生することを抑制することが可能となり、短軸方向において磁性体が磁界印加部に引き寄せられることを抑制することができるとともに、整磁領域によって磁性体の整磁を行うことができる。その結果、磁界印加部が磁界を打ち消す領域を生じさせない場合と比較して、短軸方向において磁性体が磁界印加部に引き寄せられることが抑制されるので、磁性体に加える張力を増大させることなく磁性体の整磁を行うことができる。

上記第２の局面における磁性体検査方法において、好ましくは、磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップにおいて、磁界印加部に含まれるとともに、磁界印加部により磁界が印加された磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部に対して、磁性体が延びる方向における一方側と他方側とにおいて、各々が個別に設けられた第１磁界印加部と、第２磁界印加部とによって、磁性体に対して磁界が印加される。

本発明によれば、上記のように、磁性体の状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことが可能な磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することができる。

第１実施形態による磁性体検査装置を備える移動型Ｘ線透視装置の全体構成を示した図である。 第１実施形態による磁性体検査装置の全体構成を示したブロック図である。 第１実施形態による励振コイルおよび検知コイルを説明するための模式図である。 第１実施形態による電子回路部を示したブロック図である。 第１実施形態による磁界印加部の磁界の印加方向を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 第１実施形態による励振コイルの磁化の励振を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 スチールワイヤロープに傷等がある場合を示す模式図（Ａ）～模式図（Ｃ）である。 第１比較例よるスチールワイヤロープの磁化の大きさと向きとを説明するための模式図である。 第１比較例による磁性体の検知信号の値のグラフ（Ａ）および第１実施形態による磁性体の検知信号の値のグラフ（Ｂ）である。 第１実施形態による磁性体を検査する処理を説明するためのフローチャートである。 第１実施形態および第２比較例による整磁の際の磁界の印加方向を説明するための模式図（Ａ）および（Ｂ）である。 第１実施形態および第２比較例による磁性体の検知信号の値のグラフ（Ａ）および（Ｂ）である。 第２実施形態による電子回路部を示したブロック図である。 参考例による励振コイルと磁気センサ素子を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 参考例による電子回路部を示したブロック図である。 第１変形例による磁界印加部を説明するための模式図（Ａ）～模式図（Ｃ）である。 第２変形例による磁界印加部を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 第３変形例による励振コイルおよび検知コイルを説明するための模式図（Ａ）～模式図（Ｆ）である。 第４変形例による励振コイルおよび検知コイルを説明するための模式図である。 第５変形例による検知コイルを説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 第６変形例によるＸ線照射装置を説明するための模式図（Ａ）～模式図（Ｃ）である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

［第１実施形態］
まず、図１～図９を参照して、第１実施形態による磁性体検査装置１００の構成について説明する。第１実施形態では、移動型Ｘ線撮影装置（回診車）９００に内蔵されているスチールワイヤロープＷを検査するために磁性体検査装置１００が用いられる例について説明する。

図１に示すように、移動型Ｘ線撮影装置９００は、柱Ｐに対して上下（Ｘ方向）移動可能に構成されているＸ線照射部Ｅ１と、可搬型のＸ線検出部Ｅ２とを備え、車輪により移動可能に構成されている。Ｘ線照射部Ｅ１は、被検体にＸ線を照射する。また、Ｘ線検出部Ｅ２は、被検体を透過したＸ線を検出し、Ｘ線画像を受像する。また、Ｘ線照射部Ｅ１とＸ線検出部Ｅ２とは、たとえば、それぞれＸ管とＦＰＤ（フラットパネルディテクター）により構成されている。また、柱Ｐ内には、Ｘ線照射部Ｅ１を牽引し支えるスチールワイヤロープＷと、スチールワイヤロープＷの延びる上下方向（Ｘ方向）に対して移動可能に構成されている磁性体検査装置１００が内蔵されている。なお、スチールワイヤロープＷは、請求の範囲の「磁性体」、「長尺材」および「ワイヤ」の一例である。また、Ｘ方向は、請求の範囲の「磁性体の延びる方向」、「長尺材の延びる方向」および「長尺材が延びる方向」の一例である。

スチールワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成され、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。また、図示は省略したが、スチールワイヤロープＷは、Ｘ線照射部Ｅ１を移動させる際に滑車等の機構を通過し、滑車等による応力が加えられる。スチールワイヤロープＷに劣化による切断が起こりＸ線照射部Ｅ１が落下するのを防ぐために、普段からスチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を監視し、劣化が進行したスチールワイヤロープＷを早い段階で交換することが必要である。

（磁性体検査装置の構成）
次に、図２～図４を参照して、第１実施形態における磁性体検査装置１００の構成について説明する。

図２に示すように、磁性体検査装置１００は、スチールワイヤロープＷに磁界を印加する磁界印加部１と、磁界が印加されたスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部２と、スチールワイヤロープＷの状態を判定する電子回路部３とを備えている。また、磁界印加部１と、検知部２と、電子回路部３とは、フレームＦに設けられており、検査ユニットＵとして構成されている。また、磁性体検査装置１００は、検査ユニットＵをスチールワイヤロープＷに対して移動可能にするドライバ（図示せず）および駆動部（図示せず）を備える。なお、Ｙ方向およびＺ方向はスチールワイヤロープＷの延びる方向に垂直な面内で直交する２つの方向である。また、電子回路部３は、請求の範囲の「判定部」の一例である。

磁界印加部１は、検査対象であるスチールワイヤロープＷに対して予め磁界を印加してスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えるように構成されている。本実施形態では、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷの両側（Ｙ１側およびＹ２側）に同極の磁極面Ｐｆ同士が対向するように配置された磁石１１を含む。具体的には、磁石１１は、スチールワイヤロープＷを挟むように１対設けられており、それぞれの磁石１１の一方の同極面同士は対向せずに、他方の同極面同士が対向するように配置されている。図２に示す例では、磁石１１は、Ｎ極同士が対向するように配置されている。なお、図２に示す例では、便宜上、磁石１１のＮ極に斜線のハッチングを付して図示している。また、磁石１１のＳ極は斜線のハッチングを付さずに図示している。なお、本実施形態では、磁石１１のＮ極の磁極面Ｐｆを磁極面Ｐｆ１、Ｓ極の磁極面Ｐｆ２とする。また、磁石１１のうち、磁極面Ｐｆ以外の側面を磁極以外の側面部Ｓｆとする。また、磁極以外の側面部Ｓｆのうち、Ｎ極側を磁極以外の側面部Ｓｆ１、Ｓ極側を磁極以外の側面部Ｓｆ２とする。

また、磁界印加部１は、検知部２からＸ方向に所定距離離間した位置に設けられている。具体的には、スチールワイヤロープＷのたわみや、磁界印加部１と検知部２とが固定するフレームＦのガタツキなどにより、スチールワイヤロープＷに対する磁界印加部１および検知部２の相対位置の関係が変化する。スチールワイヤロープＷに対する磁界印加部１および検知部２の相対位置の関係が変化すると、検知部２が検知する磁界印加部１からの磁界が変化する。検知部２が検知する磁界印加部１からの磁界の変化は、検知部２で検知される磁界にノイズが発生する要因となる。そのため、磁界印加部１は、検知部２に与える磁界の変化の影響が問題とならない程度に所定距離分離間した位置に設けられている。

また、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷに対して磁界を印加する第１磁界印加部１ａと、Ｘ方向において、検知部２の第１磁界印加部１ａとは反対側（Ｘ２側）に設けられ、スチールワイヤロープＷに対して磁界を印加する第２磁界印加部１ｂとを含む。第１磁界印加部１ａおよび第２磁界印加部１ｂは、それぞれ、フレームＦに対して固定されている。

また、第１磁界印加部１ａは、１対の磁石１１ａおよび１１ｂを含む。第２磁界印加部１ｂは、１対の磁石１２ａおよび１２ｂを含む。磁石１１ａ、１１ｂ、１２ａおよび１２ｂは、たとえば、それぞれ永久磁石により構成されている。磁界印加部１により印加される磁界の大きさは、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを（傷等のない部分においては）略均一に整えることが可能な大きさに設定されている。

図２に示す例では、第１磁界印加部１ａにおいて互いに対向している１対の磁石１１の磁極面Ｐｆと第２磁界印加部１ｂにおいて互いに対向している１対の磁石１１の磁極面Ｐｆとが同極同士である。

また、磁界印加部１によって磁性体に印加される磁界は、励振コイル２１（後述）がスチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きくなるように設定されている。具体的には、磁界印加部１により印加される磁界は、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを略Ｘ方向に整える（揃える）ことが可能な大きさに設定される必要がある。一方で、励振コイル２１によりスチールワイヤロープＷの磁化を励振するのに必要な磁界は、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える（揃える）ために磁界印加部１から印加される磁界よりも小さく設定することができる。詳しくは後述する。

検知部２は、磁界印加部１により磁界が印加されたスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するように構成されている。具体的には、検知部２は、図３に示すように、励振コイル２１と検知コイル２２とを含む。また、励振コイル２１および検知コイル２２は、長尺材からなる磁性体であるスチールワイヤロープＷの延びる方向を中心軸として、長手方向に沿うように複数回巻回され、Ｘ方向に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、巻回される導線の形成する面は、スチールワイヤロープＷの延びる方向に略直交し、スチールワイヤロープＷはコイルの内部を通過する。また、検知コイル２２は、励振コイル２１の内側に設けられている。検知部２がスチールワイヤロープＷの状態を判定する詳細な構成については後述する。

電子回路部３は、検知部２により出力された検知信号に基づいて、スチールワイヤロープＷの状態の判定を行うように構成されている。具体的には、電子回路部３は、図４に示すように、交流電源３１と、増幅器３２と、ＡＤ変換器３３と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）３４と、デジタル出力インターフェース３５とを含む。

交流電源３１は、励振コイル２１に交流電流を流す（出力する）。増幅器３２は、検知コイル２２から出力される検知信号（スチールワイヤロープＷの磁界の強さに基づく電流）を増幅し、ＡＤ変換器３３に出力する。ＡＤ変換器３３は、増幅器３２により増幅されたアナログの検知信号を、デジタルの検知信号に変換する。ＣＰＵ３４は、ＡＤ変換器３３から出力される検知信号から交流成分を取り除く処理を行い、検知信号の絶対値の変化に対応した信号（ＤＣレベル信号）に変換する同期検波整流処理を行うとともに、検知信号が後述する所定の閾値Ｔｈを超えた場合に、警報信号を出力する。また、ＣＰＵ３４は、交流電源３１により出力される電流の強さを制御する。また、傷等の大きさを判定する機能をＣＰＵ３４に持たせている。デジタル出力インターフェース３５は、外部の図示しないＰＣなどに接続され、処理がされた検知信号や警報信号のデジタルデータを出力する。また、外部のＰＣは、入力された信号の大きさをメモリに保存や、信号の大きさの時間経過に伴うグラフの表示とともに、ＣＰＵ３４を介して、検知部２（一体構成されたフレームＦ）のスチールワイヤロープＷに対する移動速度の制御等を行う。

また、電子回路部３は、検知コイル２２（検知部２）により出力された検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えた場合に、検知信号が第１閾値Ｔｈ１を超えたことを示す第１閾値信号を外部に出力するとともに、検知部２により出力された検知信号が第２閾値Ｔｈ２を超えた場合に、検知信号が第２閾値Ｔｈ２を超えたことを示す第２閾値信号を外部に出力するように構成されている。

（磁性体の磁化の大きさと向きとを整える構成）
次に、図５を参照して、第１実施形態における磁界印加部１が、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える構成について説明する。図５（Ａ）は、磁性体検査装置１００をＺ方向から見た模式図である。図５（Ｂ）は、磁界印加部１（第１磁界印加部１ａ）付近を拡大した模式図である。

図５（Ａ）に示す例において、検査ユニットＵをＸ１方向に移動させることにより、検査ユニットＵに設けられた磁界印加部１および検知部２とスチールワイヤロープＷとを相対移動させる場合、第１磁界印加部１ａ（磁石１１ａおよび１１ｂ）によって検知部２により検査される部分に予め磁界が印加され、磁化の大きさと向きとが整えられる。また、検査ユニットＵをＸ２方向に移動させることにより、検査ユニットＵに設けられた磁界印加部１および検知部２とスチールワイヤロープＷとを相対移動させる場合、第２磁界印加部１ｂ（磁石１１ｃおよび１１ｄ）によって検知部２により検査される部分に予め磁界が印加され、磁化の大きさと向きとが整えられる。したがっていずれの方向に相対移動させる場合にも、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷに対して、検知部２によって検知されるよりも前に、予め磁界を印加して磁化の大きさと向きとを整えることができる。

図５（Ｂ）に示すように、１対の磁石１１（磁石１１ａおよび１１ｂ）は、スチールワイヤロープＷの短手方向（Ｙ方向）からスチールワイヤロープＷに磁界を印加するように構成されている。具体的には、１対の磁石１１（磁石１１ａおよび１１ｂ）は、主として、スチールワイヤロープＷに対して、Ｘ方向に沿う向きに磁界を印加するように構成されている。なお、図５（Ｂ）に示す例では、磁石１１から放出される磁界の向きを破線１３で図示している。

第１実施形態では、図５（Ｂ）に示すように、磁石１１ａおよび１１ｂは、スチールワイヤロープＷを挟んで対向するように配置されている。そのため、磁石１１ａから印加される磁界と、磁石１１ｂから印加される磁界とは、所定の位置で衝突する。したがって、それぞれの磁石１１から印加された磁界は、所定の位置において互いに打ち消し合う。その結果、１対の磁石１１（磁石１１ａおよび１１ｂ）は、スチールワイヤロープＷに対して互いに磁界を打ち消す領域１４を生じさせる。

第１実施形態では、１対の磁石１１（磁石１１ａおよび１１ｂ）は、磁界印加部１によってスチールワイヤロープＷに磁界を印加する際に、スチールワイヤロープＷが磁界を打ち消す領域１４を通過する位置に磁界を打ち消す領域１４が形成される位置に配置される。したがって、磁界印加部１によってスチールワイヤロープＷに磁界を印加する際には、磁界を打ち消す領域１４によってスチールワイヤロープＷに印加されるＹ方向の磁界の大きさはゼロになる。なお、図２に示す例では、磁石１１ａおよび磁石１１ｂは、磁力の大きさが同一のものを用いた例であるため、磁石１１ａからの距離ｒ１と、磁石１１ｂからの距離ｒ２とが等しい位置に磁界を打ち消す領域１４が形成される。磁石１１ａおよび１１ｂの磁力の大きさが異なる場合は、スチールワイヤロープＷが通過する位置に磁界を打ち消す領域１４が形成されるように、磁石１１ａおよび磁石１１ｂを配置する位置を調整すればよい。

また、磁石１１からスチールワイヤロープＷに印加される磁界は、一方の磁極面Ｐｆ１（Ｎ極）から他方の磁極面Ｐｆ２（Ｓ極）に向かって磁界が放出されるため、磁極面Ｐｆの中心から離れるにしたがって、磁界の向きはスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿う方向を含む曲線になる。そのため、磁石１１の中心から離れるにしたがって（磁界印加部１がスチールワイヤロープＷ上を移動するにつれて）、磁界が印加される向きは、スチールワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）に沿う方向になる部分が生じる。したがって、１対の磁石１１は、スチールワイヤロープＷに磁界を印加してスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える整磁領域１５を生じさせる。具体的には、１対の磁石１１は、スチールワイヤロープＷ上を移動した結果、スチールワイヤロープＷ内の磁化の大きさと向きとを、略Ｘ方向に整える整磁領域１５を生じさせる。なお、整磁領域１５は、スチールワイヤロープＷの磁化を、厳密にスチールワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）に整えなくてもよい。整磁領域１５は、１対の磁石１１によって印加される磁界によって、スチールワイヤロープＷ内の磁化の大きさと向きとベクトルの合計が略Ｘ方向に向くように整磁すればよい。

また、１対の磁石１１は、検知部２と磁界を打ち消す領域１４の前後に、整磁領域１５を生じさせるように構成されている。具体的には、図５（Ｂ）に示すように、磁石１１から印加される磁界は、左右対称に放出されるため、磁界を打ち消す領域１４を挟んで２か所の整磁領域１５（整磁領域１５ａおよび１５ｂ）が生じる。このうち、検知部２と磁界を打ち消す領域１４との間に生じた整磁領域１５（図５（Ｂ）の例では整磁領域１５ａ）によって整磁されることにより、検知部２において検知する際のノイズを低減することができる。なお、磁界を打ち消す領域１４の前後とは、磁界印加部１が相対移動する方向における前後方向のことである。

図５（Ｂ）に示すように、１対の磁石１１は、整磁領域１５ａにおいてＸ１方向に沿う向きにスチールワイヤロープＷを磁化させた後に、磁界を打ち消す領域１４において、スチールワイヤロープＷの磁化を打ち消し、さらに整磁領域１５ｂにおいて、Ｘ２方向に沿う向きにスチールワイヤロープＷを磁化させると考えられる。すなわち、第１磁界印加部１ａは、整磁領域１５において、磁界を打ち消す領域１４を挟んで、スチールワイヤロープＷに印加する磁界の向きを反転させるように構成されている。図５（Ｂ）に示す例では、整磁領域１５ａにおいて第１磁界印加部１ａが印加する磁界の向きはＸ２方向である。また、第１磁界印加部１ａが印加する磁界の大きさは、磁界を打ち消す領域１４に近づくにつれて大きくなる。磁界を打ち消す領域１４では、第１磁界印加部１ａが印加する磁界のうち、スチールワイヤロープＷに沿う方向（Ｘ方向）に印加する磁界の大きさはゼロになる。整磁領域１５ｂにおいては、第１磁界印加部１ａが印加する磁界の向きはＸ１方向である。また、第１磁界印加部１ａが印加する磁界の大きさは、磁界を打ち消す領域１４から離れるにつれて小さくなる。なお、第２磁界印加部１ｂにおける１対の磁石１１（磁石１１ｃおよび磁石１１ｄ）においても、第１磁界印加部１ａにおける１対の磁石１１と同様に、磁界を打ち消す領域１４の前後に、整磁領域１５を生じさせるように構成されている。また、第２磁界印加部１ｂは、第１磁界印加部１ａと同様に、整磁領域１５において、磁界を打ち消す領域１４を挟んで、スチールワイヤロープＷに印加する磁界の向きを反転させるように構成されている。

（磁性体の状態を検査する構成）
次に、図６～図９を参照して、第１実施形態における検知部２および電子回路部３がスチールワイヤロープＷの状態を検査する構成について説明する。

図６（Ａ）は、検知部２の内部を通過するスチールワイヤロープＷの模式図である。図６（Ｂ）は、検知部２に設けられた励振コイル２１によってスチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振させる際の模式図である。

図６（Ａ）に示すように、検知コイル２２は、内部を通過するスチールワイヤロープＷから生じる磁界を検知するように構成されている。具体的には、検知コイル２２は、スチールワイヤロープＷから生じるＸ方向の磁界の変化を検知して電圧を発生するように構成されている。また、検知コイル２２は、磁界印加部１により磁界が印加されたスチールワイヤロープＷに対して、磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界の変化に基づく電圧を出力するように構成されている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

検知コイル２２は、２つのコイル部分である検知コイル２２ａおよび２２ｂからなる差動コイルとなっている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１に流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振されたスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知する。

第１実施形態では、図６（Ｂ）に示すように、励振コイル２１に励振電流が流されることにより、励振コイル２１の内部において、励振電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿う向きに印加されるように構成されている。これにより、励振コイル２１は、スチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。具体的には、図６（Ｂ）に示すように、励振コイル２１に一定の大きさかつ一定の周波数を有する交流電流（励振電流）が外部から流されることにより、スチールワイヤロープＷの延びるＸ方向に振動する（Ｘ１方向への磁界とＸ２方向への磁界が周期的にあらわれる）ように磁界が印加される。また、励振コイル２１に流れる時間変化する励振電流の向き（実線または破線）に伴って、励振コイル２１により印加される磁界（実線１６または破線１７）の方向も変化する。

したがって、時間変化する磁界によりスチールワイヤロープＷの磁化の大きさ（強さ）が変化し、スチールワイヤロープＷから発せられる磁界も時間変化する。その結果、スチールワイヤロープＷと検知コイル２２との相対位置を変化させることなく、スチールワイヤロープＷの同じ部分による磁界が時間変化するため、磁界の変化を検知する検知コイル２２により、スチールワイヤロープＷの状態を判定することができる。なお、図６（Ｂ）に示す例では、便宜上、Ｘ２方向に励振された際のスチールワイヤロープＷの磁化を実線の矢印１８で図示している。また、Ｘ１方向に励振された際のスチールワイヤロープＷの磁化を破線の矢印１９で図示している。また、図６（Ｂ）に示す例では、励振された際のスチールワイヤロープＷの磁化の大きさ（強さ）の変化を見やすくするために、スチールワイヤロープＷの磁化の矢印１８および矢印１９のＹ方向の位置をずらして図示しているが、実際にはスチールワイヤロープＷの磁化の矢印１８および矢印１９のＹ方向の位置は一致している。なお、矢印１８で図示したスチールワイヤロープＷの磁化は、励振コイル２１によりＸ２方向の磁界が印加されるため、励振コイル２１による磁界の印加前よりも、磁界の大きさが大きくなっている。また、矢印１９で図示したスチールワイヤロープＷの磁化は、励振コイル２１によりＸ１方向に磁界が印加されるため、励振コイル２１による磁界の印加前よりも、磁界の大きさが小さくなっている。

図７は、傷等のあるスチールワイヤロープＷの例である。図７において、素線の編まれ方は、簡略化して示されている。図７（Ａ）のスチールワイヤロープＷは、表面部分の素線が断線している。また、図７（Ｂ）のスチールワイヤロープＷは、スレもしくは打痕により表面部に凹みが生じている。また、図７（Ｃ）のスチールワイヤロープＷは、内部に素線断線が生じている。これら傷等のある位置の断面積ＳＡ１、ＳＡ２、ＳＡ３は、傷等のない部分の断面積ＳＡ０と比較して、それぞれ小さくなっているため、スチールワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）は傷等のある部分で小さくなる。以上のように、磁界の漏れや、全磁束の減少が生じるため、傷等のある部分では検知される磁界に変化が生じる。

その結果、たとえば、傷等のある場所に位置する検知コイル２２ａの検知電圧の値が検知コイル２２ｂと比較して減少するため、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）が大きくなる。すなわち、傷等のない部分での検知信号は略ゼロとなり、傷等のある部分では検知信号がゼロより大きい値を持つので、差動コイルにおいて、傷等の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部３は、検知信号の差の値に基づいてスチールワイヤロープＷの傷等の存在を検出することができる。また、傷等の大きさ（断面積の減少量の大きさ）が大きいほど、検知信号の値が大きくなるため、傷等の大きさを判定（評価）する際に、ある程度以上に大きな傷等があれば、検知信号が所定の第１閾値Ｔｈ１または第２閾値Ｔｈ２を超えたことを自動で判定することが可能となる。なお、傷等には錆等による透磁率の変化も含まれ、同様に検知信号としてあらわれる。

（第１比較例）
ここで、磁界印加部１が設けられていないことを除いて同様に構成されている第１比較例による磁性体検査装置と比較しながら、磁性体検査装置１００の磁界印加部１による磁化について説明する。なお、第１比較例と本実施形態との比較は、整磁を行うか否かの比較である。

磁界印加部１が設けられていない第１比較例による磁性体検査装置（図示省略）では、励振コイル２１により、Ｘ方向に磁場が印加される。このとき、傷等の無い均一な部分で検知される検知信号（移動や励振等に伴う磁界の時間変化も含む磁性体の磁界の大きさ）が等しくなるように、励振コイル２１によりＸ方向に印加する磁界を大きくする必要がある。また、予め磁化の大きさと向きとを整えて（揃えて）いないので、励振コイル２１によりＸ方向に印加される磁界は、磁化の大きさと向きとを略Ｘ方向に揃える程度に大きくする必要がある。

ここで、図８に示すように、磁界を印加する前において、磁性体であるスチールワイヤロープＷ内は、製造時点で、内部の構造ごとに磁化の大きさと向きとがバラついている。また、滑車等の機構を通過し、応力等の外力が加えられることによっても、これらの磁化の大きさと向きとは変化していく。したがって、傷等の無い均質な部分であっても、励振コイル２１により磁化の大きさと向きとをＸ方向に励振しても磁化の大きさと向きとのバラツキが消しきれないため、スチールワイヤロープＷの場所ごとの磁化の大きさおよび方向のバラツキにより検知信号にノイズが生じる原因となる。

一方で、図６（Ａ）に示すように、磁界印加部１により予め磁界を印加することにより磁化の大きさおよび方向を整えて（揃えて）おく場合は、スチールワイヤロープＷの傷等のない部分の磁界はＸ２方向に略揃っているとともに、略一定の大きさとなって検知されるため、傷からの信号と区別が容易となる。また、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとが、予め磁界印加部１が印加する大きい磁界によりＸ方向に整えられているため、スチールワイヤロープＷに傷等がない領域では、励振コイル２１によって励振された際の磁界の変化は一様である。しかし、スチールワイヤロープＷに傷等がある領域では、傷等がない領域と比較して、励振された際の磁界の変化は一様な変化とはならない。したがって、スチールワイヤロープＷの状態の判定において、Ｘ方向に磁化の状態を励振するために必要な磁界は、整磁するために印加される磁化より小さいものでも検知には十分な大きさである。

図９のグラフは、第１比較例および第１実施形態における、スチールワイヤロープＷの磁界の変化のグラフである。グラフの縦軸は、検知信号の大きさに対応し、グラフの横軸は、検知位置（スチールワイヤロープＷの検知される場所）に対応している。ＣＰＵ３４により同期検波整流処理がされているため、励振コイル２１により印加される磁界の時間変化の影響は取り除かれている。

磁界印加部１を設けない第１比較例による磁性体検査装置において、図９（Ａ）の整磁なしのグラフに示すように、傷等の無い部分であっても、磁化の大きさおよび方向のバラツキによるノイズが検知されている。そのため、このような第１比較例による磁性体検査装置では、経験や知識（たとえば、特徴的な検知信号のあらわれのパターン方など）のない非専門化が傷等の有無を判断することは難しい。特に、閾値等を設けて信号の大きさのみに基づいて判定する場合、誤判定の原因となる。

一方で、磁界印加部１が設けられた第１実施形態による磁性体検査装置１００において、図９（Ｂ）の整磁ありのグラフに示すように、ノイズはほとんど検知されない。具体的には、ノイズの大きさが相対的に小さく、Ｓ／Ｎ比の良好なグラフとなり、検知信号が明確にあらわれている。したがって、磁界印加部１によりスチールワイヤロープＷの整磁することにより、非専門家や閾値Ｔｈによる判定であっても、誤判定が生じない程度にノイズを低減することができる。なお、図９の整磁後のグラフにおいて、スチールワイヤロープＷの傷等のある部分の位置が差動コイルの一方側から他方側に移ったことによる検知信号の正負の逆転が明瞭にあらわれていることがわかる。

（磁性体の検査処理）
次に、図１０を参照して、第１実施形態による磁性体検査装置１００がスチールワイヤロープＷの検査を行う処理の流れについて説明する。

ステップＳ１において、磁界印加部１は、検査対象であるスチールワイヤロープＷの両側に同極（Ｎ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１）同士が対向するように配置された磁石１１によって、スチールワイヤロープＷに対して予め磁界を印加しスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える。その後、処理はステップＳ２に進む。

ステップＳ２において、検知部２は、磁界を印加したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する。その後、処理はステップＳ３へ進む。

ステップＳ３において、電子回路部３は、検知部２により出力された検知信号に基づいて、スチールワイヤロープＷの状態の判定を行い、処理を終了する。

上記のように、第１実施形態における磁性体検査方法は、検査対象であるスチールワイヤロープＷの両側に同極（Ｎ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１）同士が対向するように配置された磁石１１を含む磁界印加部１によって、スチールワイヤロープＷに対して予め磁界を印加しスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えるステップＳ１と、磁界を印加したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップＳ２とを備える。

（第２比較例）
ここで、図１１および図１２を参照して、磁界印加部４０（図１１参照）の磁石４１（図１１参照）がスチールワイヤロープＷの長軸方向に沿って１つ設けられている第２比較例による磁性体検査装置によるスチールワイヤロープＷの整磁と、本実施形態における磁性体検査装置１００の磁界印加部１によるスチールワイヤロープＷの整磁とについて説明する。図１１（Ａ）は、本実施形態における磁界印加部１の磁石１１の配置を示している。図１１（Ａ）に示す構成では、スチールワイヤロープＷは、整磁領域１５ａ、磁界を打ち消す領域１４、整磁領域１５ｂ、検知部２の順に通過する。スチールワイヤロープＷが磁石１１から受ける磁界は、磁界を打ち消す領域１４の前後で、Ｘ１方向からＸ２方向へ反転する。図１１（Ｂ）は、第２比較例の磁界印加部４０の磁石４１の配置を示している。図１１（Ｂ）に示す構成では、磁石４１から放出される磁界の磁力線に沿って、スチールワイヤロープＷが受ける磁界の向きはわずかに変化するものの、スチールワイヤロープＷに沿う方向（Ｘ方向）の磁界の向きはおおむね変化しない。すなわち、図１１（Ｂ）に示す構成では、磁石４１の前後において、スチールワイヤロープＷに印加する磁界の向きは反転しない。また、磁界を打ち消す領域１４は存在しない。

図１２（Ａ）は、本実施形態における検知部２が検知した検知信号の波形を示すグラフ４３の模式図である。図１２（Ｂ）は、第２比較例における検知部４２（図１１（Ｂ）参照）が検知した検知信号の波形を示すグラフ４４である。グラフ４３および４４は、縦軸が信号強度であり、横軸が検知位置である。また、グラフ４３および４４における領域４５および領域４６は、スチールワイヤロープＷの素線に断線が生じている位置を表している。なお、図１２（Ａ）および図１２（Ｂ）に示すグラフ４３および４４は、図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）の構成により、同一のスチールワイヤロープＷに対して実際に検知信号の取得を行った実験結果を示している。

グラフ４３に示すように、本実施形態における磁界印加部１によって整磁された後のスチールワイヤロープＷの検知信号は、領域４５において特徴的な波形を示している。したがって、スチールワイヤロープＷの素線の断線の位置を容易に把握することができる。

一方、グラフ４４に示すように、第２比較例における磁界印加部４０によって整磁された後のスチールワイヤロープＷの検知信号は、領域４６において特徴的な波形を示しているが、領域４６以外においても、素線の断線箇所と似たような形状の波形が見られる。したがって、スチールワイヤロープＷの素線の断線の位置を容易に把握することは難しい。これらにより、磁界が急激な反転を伴わない第２比較例と比較して、スチールワイヤロープＷに印加する磁界の向きを反転させることにより、正確な信号検知を行うことが可能であるという知見を得ることができた。
（第１実施形態の効果）
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第１実施形態では、上記のように、磁性体検査装置１００は、検査対象であるスチールワイヤロープＷに対して予め磁界を印加しスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える磁界印加部１と、磁界印加部１により磁界が印加されたスチールワイヤロープＷの磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部２とを備え、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷの両側に同極（Ｎ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１）同士が対向するように配置された磁石１１を含む。これにより、スチールワイヤロープＷに対して予め磁界が印加されるので、スチールワイヤロープＷの傷等のない部分の磁化の大きさと向きとは略整えられる。一方で、スチールワイヤロープＷに傷等のある部分の磁化の大きさと向きとは整わない。その結果、検知部２から出力される検知信号が傷等のある部分とない部分とで異なることにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。また、スチールワイヤロープＷの両側（Ｙ１方向およびＹ２方向）から磁界を印加してスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えることが可能となるので、スチールワイヤロープＷの片側から磁界を印加する場合と比較して、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを効率よく整えることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁石１１は、スチールワイヤロープＷを挟むように１対設けられており、スチールワイヤロープＷに対して互いに磁界を打ち消す領域１４を生じさせるとともに、磁界を打ち消す領域１４の前後に、スチールワイヤロープＷに磁界を印加してスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整える整磁領域１５を生じさせるように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷに対して互いに磁界を打ち消す領域１４を生じさせることにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を検知する際に、整磁領域１５、磁界を打ち消す領域１４、整磁領域１５、検知部２の順にスチールワイヤロープＷを通過させることができる。したがって、磁界を打ち消す領域１４によって、スチールワイヤロープＷの短軸方向（Ｙ方向）において磁極が発生することを抑制することが可能となり、短軸方向（Ｙ方向）においてスチールワイヤロープＷが磁界印加部１に引き寄せられることを抑制することができるとともに、整磁領域１５によってスチールワイヤロープＷの整磁を行うことができる。その結果、磁界印加部１が磁界を打ち消す領域１４を生じさせない場合と比較して、短軸方向（Ｙ方向）においてスチールワイヤロープＷが磁界印加部１に引き寄せられることが抑制されるので、スチールワイヤロープＷに加える張力を増大させることなくスチールワイヤロープＷの整磁を行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１は、整磁領域１５において、磁界を打ち消す領域１４を挟んで、スチールワイヤロープＷに印加する磁界の向きを反転させるように構成されている。これにより、整磁前のスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとがどのような方向に向いていたとしても、スチールワイヤロープＷを、整磁領域１５ｂ、磁化を打ち消す領域１４、整磁領域１５ａの順で通過させることが可能となるので、容易にかつ確実にスチールワイヤロープＷを整磁することができる。また、磁界を打ち消す領域１４の前後で、磁界印加部１が発する磁界の向きが反転する。その結果、上記第２比較例で示した知見から明らかなように、磁界の向きが反転しない場合と比較して、より正確に磁界の変化を検知できる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁性体は、スチールワイヤロープＷからなり、１対の磁石１１は、主として、スチールワイヤロープＷに対して、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って磁界を印加するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷに対してスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って磁界を印加することにより、スチールワイヤロープＷを挟むように１対の磁石１１を配置した場合でも、容易にスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、１対の磁石１１（磁石１１ａおよび１１ｂ、または、磁石１１ｃおよび磁石１１ｄ）は、それぞれの磁石１１の一方の同極（Ｓ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ２）同士は対向せずに、他方の同極（Ｎ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１）同士が対向するように配置されている。これにより、たとえば、両端面に磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１およびＰｆ２）を有する棒状の１対の磁石１１を用いる場合でも、磁石１１の同極同士を対向させるとともに、スチールワイヤロープＷの短手方向（Ｙ方向）に向けて１対の磁石１１を配置することができる。その結果、スチールワイヤロープＷの短手方向（Ｙ方向）からスチールワイヤロープＷに向けて磁界を印加することが可能となるので、容易に磁界を打ち消す領域１４および整磁領域１５を生じさせることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１は、検知部２からスチールワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）に所定距離離間した位置に設けられている。ここで、検知部２と磁界印加部１との相対的な位置が変わると、検知部２が検知する磁界印加部１からの磁界が変化する。検知部２が検知する磁界印加部１からの磁界の変化は、検知部２で検知される磁界にノイズが発生する要因となる。また、このノイズは、検知部２と磁界印加部１との距離が近いほど大きくなる。そのため、磁界印加部１を、検知部２における磁界の検知に影響がない程度にまで所定距離分離間して配置することにより、検知信号のＳ／Ｎ比の精度が上がる。その結果、検知部２と磁界印加部１との相対的な位置が変わることにより、検知部２が検知する磁界印加部１からの磁界が変化することに起因するノイズの発生を抑制することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１は、スチールワイヤロープＷに対して磁界を印加する第１磁界印加部１ａと、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において、検知部２の第１磁界印加部１ａの側とは反対側（Ｘ２方向）に設けられ、スチールワイヤロープＷに対して磁界を印加する第２磁界印加部１ｂとを含む。これにより、検知部２の両側に磁界印加部１を配置することができる。その結果、磁界印加部１とスチールワイヤロープＷとを相対移動させることによりスチールワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）の磁界の変化を検知する場合に、スチールワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）の一方側（Ｘ１方向）および他方側（Ｘ２方向）のうちいずれの方向に相対移動させても、検知部２による磁界が検知されるよりも前に、磁界印加部１によりスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知部２は、スチールワイヤロープＷを中心としてスチールワイヤロープＷを取り囲み、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って巻回するように設けられ、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）の磁界の変化を検知して検知信号を発生する検知コイル２２を含む。これにより、検知コイル２２は、検知コイル２２の内部の全磁束あるいは全磁束の変化により電圧を発生するので、スチールワイヤロープＷにおけるスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）の磁界の変化を容易に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知コイル２２は、差動コイルを含むとともに、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）の磁界により差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する各々の検知信号を出力するように構成されている。これにより、差動コイルの一方のコイル部分と他方のコイル部分とにより発生するスチールワイヤロープＷの傷等により生じる検知信号の差を検知することにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の局所的な変化をより容易に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知部２により出力された検知信号に基づいて、スチールワイヤロープＷの状態の判定を行う電子回路部３をさらに備え、電子回路部３は、検知部２により出力された検知信号が２つの所定の閾値Ｔｈ（第１閾値Ｔｈ１および第２閾値Ｔｈ２）を超えた場合に、検知信号が２つの所定の閾値Ｔｈ（第１閾値Ｔｈ１および第２閾値Ｔｈ２）を各々超えたことを示す２つの閾値信号（第１閾値信号および第２閾値信号）を外部に出力するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）が不均一となる部分を、閾値信号に基づいて容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知部２は、スチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振するための励振コイル２１をさらに含むとともに、励振コイル２１に流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振されたスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、励振コイル２１によりスチールワイヤロープＷの傷等の部分の磁化の状態が励振されるので、スチールワイヤロープＷの傷等の部分からのスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）の磁界または磁界の変化を容易に検知することができる。特に、交流電流等を励振コイル２１に流すことによりスチールワイヤロープＷの磁化の状態に時間変化する励振を与える場合には、スチールワイヤロープＷの磁界も時間変化する。そのため、スチールワイヤロープＷと検知部２とを相対移動させることなく、検知部２により検知される磁界を変化させ、検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁界印加部１によってスチールワイヤロープＷに印加される磁界は、励振コイル２１がスチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きい。これにより、磁化の大きさと向きとが整えられていない場合と比較して、磁化の状態を励振するために必要な磁界の大きさを小さくすることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにＸ線撮影装置９００に設けられる、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部Ｅ１または被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部Ｅ２の少なくともいずれか一方を移動させるためのスチールワイヤロープＷを含み、検知部２は、Ｘ方向の磁界を検知するように構成されている。これにより、Ｘ線撮影装置９００に用いられるスチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検査対象であるスチールワイヤロープＷの両側に同極（Ｎ極）の磁極面Ｐｆ（Ｐｆ１）同士が対向するように配置された磁石１１を含む磁界印加部１によって、スチールワイヤロープＷに対して予め磁界を印加しスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えるステップＳ１と、磁界を印加したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップＳ２とを備える。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことが可能な磁性体検査方法を提供することができる。また、スチールワイヤロープＷの両側（Ｙ１方向およびＹ２方向）から磁界を印加してスチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを整えることが可能となるので、スチールワイヤロープＷの片側から磁界を印加する場合と比較して、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを効率よく整えることが可能な磁性体検査方法を提供することができる。

［第２実施形態］
次に、図２および図１３を参照して、第２実施形態による磁性体検査装置２００（図２参照）の構成について説明する。第２実施形態による磁性体検査装置２００は、第１実施形態とは異なり、励振コイル２１に供給される励振電流が時間変化しない直流電流である。

具体的には、磁性体検査装置２００は、検査ユニットＵに設けられた電子回路部３０２を含む。また、電子回路部３０２は、図１３に示すように、直流電源３１２を含む。直流電源３１２は、励振コイル２１に時間変化しない（一定値となる）直流電流を流す。これにより、励振コイル２１内には、Ｘ方向に一定の大きさとなる静磁界が生じる。

ここで、第２実施形態による磁性体検査装置２００では、検知部２０２（図２参照）は、スチールワイヤロープＷを検知部２に対してＸ方向に略一定となる定速度で相対移動させることにより検知部２０２の検知位置におけるスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。

具体的には、検査時において、検知部２０２の検知コイル２２により検知されるスチールワイヤロープＷの位置が時間変化するのに伴って、検知コイル２２により検知される磁界も時間変化する。検知コイル２２がスチールワイヤロープＷの傷等のない部分を通過している場合には、検知コイル２２内の磁界のＸ方向の大きさは略一定となるので、検知信号も一定値となる。一方、検知コイル２２がスチールワイヤロープＷの傷等のある部分に位置する場合、検知位置における磁界の大きさが時間変化するので、検知信号が変化する。これにより、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を判定することができる。

第２実施形態のその他の構成については、第１実施形態と同様である。

（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、上記のように、検知部２０２は、スチールワイヤロープＷを検知部２に対してＸ方向に略一定となる定速度で相対移動させることにより検知部２０２の検知位置におけるスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。これにより、スチールワイヤロープＷの検知部２０２に磁界を検知される部分が相対移動に伴って変化するので、傷等のある部分とない部分との比較により、容易に傷等を検知することができる。また、定速度で相対移動させることによって、傷等のない位置では検知信号が略一定となり、傷等のある位置では異なる検知信号が出力されるため、スチールワイヤロープＷの傷等の状態の判定が容易となる。

第２実施形態のその他の効果については、第１実施形態と同様である。

［参考例］
次に、図２、図１４および図１５を参照して、参考例による磁性体検査装置３００（図３参照）の構成について説明する。参考例による磁性体検査装置３００は、第１実施形態とは異なり、スチールワイヤロープＷの磁界を検知する磁気センサ素子２３が設けられている。

具体的には、磁性体検査装置３００は、検査ユニットＵに設けられる検知部２０３（図２参照）と電子回路部３０３（図２参照）とを備えている。また、図１４（Ａ）に示すように、検知部２０３は、スチールワイヤロープＷの長手方向に直交する面において、スチールワイヤロープＷを円周状に取り囲むように配置された複数（スチールワイヤロープＷを軸として対称に１２個）の磁気センサ素子２３を含む。磁気センサ素子２３は、たとえば、コイル、励振コイルつきコイル、励振コイルつき差動コイル、ホール素子、磁気インピーダンス素子、磁気抵抗素子などのいずれか１つあるいはいくつかが複合したものにより構成されている。ここで、単にコイルを用いる場合は、静磁界を検出できないため、磁性体を移動させながら測定を行う必要があるのに対し、励振コイル２１を併用した場合は、測定対象の磁性体を静止させた状態においても、測定を行うことが可能となる。また、ホール素子、磁気インピーダンス素子、磁気抵抗素子を用いたときは、これら素子そのものが静磁界を測定することが可能なことから、測定対象の磁性体を静止させた状態においても、測定を行うことが可能となる。なお、磁気センサ素子２３を、２方向あるいは３方向を検出するように複数の磁気センサ素子２３を複数個所に配置してもよい。また、磁気センサ素子２３は、磁界の変化の大きさのみならず磁界の大きさも検出するように構成することもできる。

また、図１５に示すように、電子回路部３０３は、磁気センサ素子２３への電圧の印加を行う電圧印加機構３６を含む。電子回路部３０３は、磁気センサ素子２３を電気的に制御し、検知部２０３からの電気信号を処理して検知信号として出力するように構成される。

参考例のその他の構成については、第１実施形態と同様である。

（参考例の効果）
参考例では、上記のように、磁界印加部１によりＸ方向に磁界が印加された後のスチールワイヤロープＷに対して、磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷの磁界に基づく検知信号を出力する検知部２０２を設ける。これによっても、磁化の大きさおよび方向のバラツキが低減した状態で検知が行われるため、スチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）の判定を容易に行うことができる。

また、参考例では、上記のように、検知部２０２は、スチールワイヤロープＷの磁界を検知する少なくとも１つの磁気センサ素子２３がスチールワイヤロープＷの外側に配置されるように構成されている。これにより、内部にスチールワイヤロープＷを通過させるようなコイルを含む検知部２と異なり、スチールワイヤロープＷの大きさあるいは設置状況の制限が緩和されるので、応用範囲を広げることができる。

参考例のその他の効果については、第１実施形態と同様である。

（変形例）
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記第１および第２実施形態では、磁性体を長尺材とする例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体は、長尺材以外の薄板、鉄球（ベアリング）等でもよい。その他、均一な構造をもつ磁性体全般の検査に本発明を用いることができる。また、磁性体が薄板等である場合、薄板等の面に垂直な方向（厚みの方向）に磁化を印加し、薄板等の面の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成してもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、長尺材からなる磁性体をスチールワイヤロープＷとする例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、長尺材からなる磁性体は、薄板、角材、円筒状のパイプ、針金、チェーン等でもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁界印加部１が検査ユニットＵと一体構成とされている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁界印加部１と検知部２との相対位置は変更可能に構成してもよい。具体的には、スチールワイヤロープＷの磁化の大きさと向きとを磁界印加部１によりスチールワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）に整えた後、磁界印加部１のみをスチールワイヤロープＷから離した位置に移動させてもよい。これにより、検知部２（２０２、２０３）によるスチールワイヤロープＷの磁界または磁界の変化の検知時に、磁界印加部１の磁界が検知部２（２０２、２０３）に影響しないように磁界印加部１と検知部２（２０２、２０３）とを離すことができる。

また、第１および第２実施形態において、スチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に予め磁界を印加する場合に、磁界印加部１の構成を、図１６に示すような構成としてもよい。具体的には、図１６（Ａ）に示すように、１対の磁石１１ａと磁石１１ｂとは、Ｓ極同士が対向するように配置されていてもよい。また、磁石１１ｃと磁石１１ｄとは、Ｓ極同士が対向するように配置されていてもよい。また、図１６（Ｂ）に示すように、磁石１１ａおよび１１ｂと、磁石１１ｃおよび１１ｄとの磁界の配置方向は、平行でなくてもよい（それぞれ、Ｙ方向と、Ｙ方向に対して角度θ傾いた方向となっている）。また、図１６（Ｃ）に示すように、検知部２の片側にのみ磁石１１ａおよび１１ｂ（または、磁石１１ｃおよび磁石１１ｄ）を設けるように構成してもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁界印加部１を永久磁石により構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁界印加部１を電磁石（コイル）により構成してもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁界印加部１が１対の磁石１１を含む例を示した本発明はこれに限られない。たとえば、図１７（Ａ）に示すように、リング状の磁石１１ｅ（磁石１１ｆ）を備える構成でもよい。リング状の磁石１１ｅ（磁石１１ｆ）としては、図１７（Ｂ）に示すように、リングの内側がＮ極（またはＳ極）であり、リングの外側がＳ極（またはＮ極）となるように着磁された磁石を用いればよい。図１７（Ｂ）に示すようなリング状の磁石１１ｅ（磁石１１ｆ）を用いることにより、１つの磁石によってスチールワイヤロープＷを挟んで同極（Ｎ極）を対向させるように配置することができる。

また、上記第１および第２実施形態では、励振コイル２１の内側に差動コイルとなる検知コイル２２ａおよび２２ｂを配置する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図１８（Ａ）に示すように、差動コイルからなる検知コイル２２ｃおよび２２ｄを励振コイル２１ｃの外側に配置してもよい。また、図１８（Ｂ）に示すように、差動コイルからなる検知コイル２２ｅおよび２２ｆを、励振コイル２１ｄを挟むように励振コイル２１ｄのＸ方向（長手方向）の両側に並べて配置してもよい。また、図１８（Ｃ）に示すように、差動コイルではない単一の検知コイル２２ｇを励振コイル２１ｅの内側（または、外側）に配置してもよい。また、図１８（Ｄ）に示すように、２つの励振コイル２１ｆおよび２１ｇを、単一の検知コイル２２ｈを挟むように検知コイル２２ｈのＸ方向（長手方向）の両側に並べて配置してもよい。図１８（Ｅ）に示すように、単一の励振コイル２１ｈと単一の検知コイル２２ｉとをＸ方向（長手方向）に並べて配置してもよい。また、図１８（Ｆ）に示すように、差動コイルとなる検知コイル２２ｊおよび２２ｋ（または、単一の検知コイル２２）を配置し、励振コイル２１を省略した構成としてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、円筒形のコイル（検知コイル２２および励振コイル２１）がスチールワイヤロープＷを取り囲むように設けられている例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、図１９に示すように、検知コイル２２および励振コイル２１は、角筒形の検知コイル２２０（励振コイル２１０）としてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、検知コイル２２がスチールワイヤロープＷを取り囲む例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図２０に示すように、半円筒形（馬蹄形）のコイル部分２０ａ（図２０（ａ）参照）を２つ組み合わせた円筒型コイル２０ｂ（図２０（ｂ）参照）を用いても良い。なお、半円筒型（馬蹄形）のコイルは、スチールワイヤロープＷが設置された（端部が塞がれた）状態でも、容易に着脱可能である。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００、３００、検査ユニットＵ）がスチールワイヤロープＷに沿って移動可能に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体検査装置１００（２００、３００、検査ユニットＵ）は移動しないように構成されていてもよい。この場合、磁性体検査装置１００（２００、３００）は、定位置において内部または付近を通過するスチールワイヤロープＷの磁界を検知する。

また、上記第１および第２実施形態では、電子回路部３（３０２、３０３）は、検知コイル２２（検知部２（２０２、２０３））により出力された検知信号が所定の閾値Ｔｈ（第１閾値Ｔｈ１および第２閾値Ｔｈ２）を超えた場合、外部に信号を出力するように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、電子回路部３（３０２、３０３）を、検知信号が閾値Ｔｈを超えた回数Ｎを各々カウントするとともに、カウントされた回数Ｎが所定の回数Ｍを超えた場合に、カウントされた回数Ｎが所定の回数Ｍを超えたことを示す信号を外部に出力するように構成してもよい。これにより、電子回路部３（３０２、３０３）は、閾値Ｔｈを超えた回数Ｎをカウントし、傷等の多さに基づいてスチールワイヤロープＷの劣化の状態を判定することができる。また、電子回路部３（３０２、３０３）を、前回測定時において閾値Ｔｈを超えた回数Ｎと今回測定時に閾値Ｔｈを超えた回数Ｎとを比較することにより、スチールワイヤロープＷの傷等の有無の状態の継時的な変化（たとえば、劣化の進行速度）を判定するように構成してもよい。また、所定の閾値Ｔｈの数は、１つや、２つ以外の複数（たとえば、３つ）としてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００、３００）を、移動型Ｘ線撮影装置（回診車）９００に用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査装置１００（２００、３００）を、図２１（ａ）に示す据え置き型のＸ線照射装置（Ｘ線撮影装置）９０１、図２１（ｂ）に示すスタンド型のＸ線照射装置（Ｘ線撮影装置）９０２および図２１（ｃ）に示すスタンド型のＸ線検出装置（Ｘ線撮影装置）９０３に用いてもよい。さらに、ワイヤを利用した装置やインフラ、例えば、エレベータ、ロープウエイなどの移動用装置や、つり橋・橋脚等のワイヤ部分についても適用可能である。さらに、ワイヤのみならず、電柱、上下水道配管、ガス管、パイプライン等、磁性体の損傷を測定するあらゆる用途に適用可能である。なお、Ｘ線照射部Ｅ１１およびＸ線照射部Ｅ１２は、ともにＸ線管等を含みＸ線を照射する部分であり、Ｘ線検出部Ｅ２３は、ＦＰＤ等を含むＸ線を検出する部分である。また、Ｘ線照射部Ｅ１１、Ｘ線照射部Ｅ１２およびＸ線検出部Ｅ２３は、それぞれスチールワイヤロープＷに牽引され支えられている。また、磁性体検査装置１００（２００、３００）は、スチールワイヤロープＷに沿って移動可能に構成されている。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体の「傷等」として主に磁性体表面の傷を検出対象として説明したが、断線（完全ではなくワイヤロープであれば素線の断線）、太さの変化、腐食（錆）、亀裂、透磁率の不均一も検出対象に含まれる。また、検出対象は、磁性体の表面に限らず、内部でもよい。その他、磁性体の磁界または磁界の不均一性を生じさせる状態であれば、「磁性体の状態」として検出可能である。

また、「磁性体の磁界または磁界の変化」には、外部から磁界を印加した場合の、磁界が印加された磁性体の近傍で観測される磁界または磁界の変化の他、外部から磁界を印加しない場合の、磁性体そのものから生ずる磁界または磁界の変化をも含む。

１ 磁界印加部
１ａ 第１磁界印加部
１ｂ 第２磁界印加部
２、２０２、２０３ 検知部
３、３０２、３０３ 電子回路部（判定部）
１４ｙ ヨーク部（磁界印加部）
２１、２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄ、２１ｅ、２１ｆ、２１ｇ、２１ｈ、２１０ 励振コイル
２２、２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄ、２２ｅ、２２ｆ、２２ｇ、２２ｈ、２２ｉ、２２ｊ、２２ｋ、２２０、２２１ 検知コイル
１００、２００、３００ 磁性体検査装置
９００ 移動型Ｘ線撮影装置（Ｘ線撮影装置）
９０１ 据え置き型Ｘ線照射装置（Ｘ線撮影装置）
９０２ スタンド型Ｘ線照射装置（Ｘ線撮影装置）
９０３ スタンド型Ｘ線検出装置（Ｘ線撮影装置）
Ｅ１、Ｅ１１、Ｅ１２ Ｘ線照射部
Ｅ２、Ｅ２３ Ｘ線検出部
Ｍ 所定の回数
Ｐｆ、Ｐｆ１、Ｐｆ２ 磁極面
Ｔｈ 所定の閾値
Ｔｈ１ 所定の第１閾値
Ｔｈ２ 所定の第２閾値
Ｘ方向 磁性体の延びる方向、長尺材の延びる方向、長尺材が延びる方向
Ｗ スチールワイヤロープ（磁性体、長尺材、ワイヤ）

Claims (16)

1. 検査対象であり長尺材からなる磁性体に対して予め磁界を印加し前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える磁界印加部と、
   前記磁界印加部により磁界が印加された後に、前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力する検知部とを備え、
   前記磁界印加部は、前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含み、
   前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、前記磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、前記磁界を打ち消す領域の前後に、前記磁性体に磁界を印加して前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、
   前記検知部は、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられ、一方の前記整磁領域、前記磁界を打ち消す領域、他方の前記整磁領域を順に通過した後の前記磁性体について前記検知信号を発生する検知コイルを含む、磁性体検査装置。
2. 前記磁界印加部は、前記整磁領域において、前記磁界を打ち消す領域を挟んで、前記磁性体に印加する磁界の向きを反転させるように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
3. 前記磁石は、前記磁性体を挟むように１対設けられており、
   １対の前記磁石は、主として、前記長尺材に対して、前記長尺材の延びる方向に沿う向きに磁界を印加するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
4. １対の前記磁石は、それぞれの前記磁石の一方の同極の磁極面同士は対向せずに、他方の同極の磁極面同士が対向するように配置されている、請求項３に記載の磁性体検査装置。
5. 前記磁界印加部は、前記検知部に対して前記長尺材が延びる方向に所定距離離間した位置に設けられている、請求項２に記載の磁性体検査装置。
6. 前記検知コイルは、前記磁性体の延びる方向の磁界の変化を検知して前記検知信号を発生する、請求項２に記載の磁性体検査装置。
7. 前記検知コイルは、差動コイルを含むとともに、前記磁性体の延びる方向の磁界により前記差動コイルに含まれる２つのコイル部分により発生する各々の前記検知信号を出力するように構成されている、請求項６に記載の磁性体検査装置。
8. 前記検知部により出力された前記検知信号に基づいて、前記磁性体の状態の判定を行う判定部をさらに備え、
   前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が１つまたは複数の所定の閾値を超えた場合に、前記検知信号が前記１つまたは複数の所定の閾値を超えたことを示す１つまたは複数の閾値信号を外部に出力するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
9. 前記判定部は、前記検知部により出力された前記検知信号が前記１つまたは複数の所定の閾値を超えた回数を各々カウントするとともに、カウントされた各々の回数が所定の回数を超えた場合に、カウントされた回数が前記所定の回数を超えたことを示す信号を外部に出力するように構成されている、請求項８に記載の磁性体検査装置。
10. 前記検知部は、前記磁性体の磁化の状態を励振するための励振コイルをさらに含むとともに、前記励振コイルに流れる励振電流により発生した磁界により磁化の状態が励振された前記磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
11. 前記磁界印加部によって前記磁性体に印加される磁界は、前記励振コイルが前記磁性体の磁化の状態を励振するために発生させる磁界よりも大きい、請求項１０に記載の磁性体検査装置。
12. 前記検知部は、前記磁性体を前記検知部に対して前記磁性体の延びる方向に相対移動させることにより前記検知部の検知位置における前記磁性体の延びる方向の磁界または磁界の変化を検知するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
13. 前記磁性体は、被検体に対して相対的に移動可能となるようにＸ線撮影装置に設けられる、前記被検体にＸ線を照射するＸ線照射部または前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部の少なくともいずれか一方を移動させるためのワイヤを含み、
    前記検知部は、前記ワイヤの延びる方向の磁界を検知するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
14. 前記磁界印加部は、前記磁性体の延びる方向において、前記検知部の一方側に設けられた第１磁界印加部と、他方側に設けられた第２磁界印加部とを含み、
    前記第１磁界印加部と前記第２磁界印加部とは、前記磁性体が延びる方向において、各々が個別に設けられている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
15. 検査対象であり長尺材からなる磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石を含む磁界印加部によって、前記磁性体に対して予め磁界を印加し前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップと、
    磁界を印加した後に、前記磁性体の磁界または磁界の変化を検知するとともに、検知した前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく検知信号を出力するステップとを備え、
    前記磁性体の両側に同極の磁極面同士が対向するように配置された磁石は、前記磁性体に対して互いに磁界を打ち消す領域を生じさせるとともに、前記磁界を打ち消す領域の前後に、前記磁性体に磁界を印加して前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整える整磁領域を生じさせるように構成され、
    前記検知信号を出力するステップにおいて、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられた検知コイルによって発生する、一方の前記整磁領域、前記磁界を打ち消す領域、他方の前記整磁領域を順に通過した後の前記磁性体についての前記検知信号を出力する、磁性体検査方法。
16. 前記磁性体の磁化の大きさと向きとを整えるステップにおいて、前記磁界印加部に含まれるとともに、前記磁界印加部により磁界が印加された前記磁性体の磁界または磁界の変化に基づく前記検知信号を出力する検知部に対して、前記磁性体が延びる方向における一方側と他方側とにおいて、各々が個別に設けられた第１磁界印加部と、第２磁界印加部とによって、前記磁性体に対して磁界が印加される、請求項１５に記載の磁性体検査方法。
    
    

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