JP2020118620A - 磁性体検査装置および磁性体検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】磁性体の傷みの個数を取得することが可能な磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供する。【解決手段】この磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷ（磁性体）の全磁束の変化を検知する検知コイル３０を含み、検知信号を出力する検知部３と、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じた場合の検知信号の波形Ｗｄを示す断線Ｄｐのモデル波形Ｗｍを記憶する記憶部２３と、モデル波形Ｗｍと検知信号とに基づいて、少なくともワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐの個数に関する情報を取得する制御部２２とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関し、特に、磁性体の磁束を検知する磁性体検査装置および磁性体検査方法に関する。

従来、磁性体の磁束を検知する磁性体検査装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。

上記特許文献１には、ワイヤロープの漏洩磁束を検知する検知コイルと、検知コイルにより取得した検知信号に基づいてワイヤロープの状態を検知する制御部とを備えるワイヤロープの監視システム（ワイヤロープ検査装置）が開示されている。具体的には、上記特許文献１に記載されているワイヤロープ検査装置は、検知信号の強度が閾値を超えたか否かによって、ワイヤロープ（磁性体）に傷みが生じたか否かの判定を行っている。

ここで、ワイヤロープ（磁性体）において、局所的に複数の傷みが発生した場合、その部分における機械的強度が低下するため、傷みの個数が少ない場合でも、ワイヤロープ（磁性体）の交換が必要となる場合がある。したがって、ワイヤロープ（磁性体）検査においては、検知信号の強度のみならず、傷みの個数を取得するニーズがある。

国際公開第２００７／１１６８８４号

しかしながら、上記特許文献１に記載されたワイヤロープ検査装置では、検知信号の強度が閾値を超えたか否かによってワイヤロープ（磁性体）の傷みを判定している。したがって、閾値を超えた検知信号が、１つの傷みに基づく検知信号か複数の傷みの集合に基づく検知信号かを区別することができず、ワイヤロープ（磁性体）の傷みの個数を取得することができないという問題点がある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の傷みの個数を取得することが可能な磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することである。

上記目的を達成するために、本願発明者が鋭意検討した結果、磁性体に複数の傷みが重畳した場合の検知信号の波形の形状を、１つの傷みが生じた場合の検知信号の波形を基に作成したモデル波形を重ね合わせることにより模擬することができるという新たな知見を得た。この発明の第１の局面による磁性体検査装置は、この新たな知見を利用して、磁性体の傷みの個数を取得するものである。すなわち、この発明の第１の局面による磁性体検査装置は、磁性体の全磁束の変化を検知する検知コイルを含み、検知信号を出力する検知部と、磁性体に傷みが重畳した場合の検知信号の波形を示す傷みのモデル波形を記憶する記憶部と、モデル波形と、検知信号とに基づいて、少なくとも磁性体に重畳した傷みの個数に関する情報を取得する制御部とを備える。なお、本発明におけるモデル波形とは、１つの傷みが生じた場合の検知信号の波形に基づく信号波形の図形のみならず、信号波形を示す関数（数式）をも含む概念である。

この発明の第１の局面による磁性体検査装置では、上記のように構成することによって、モデル波形と検知信号とにより、磁性体に重畳した傷みの個数を取得することができる。その結果、磁性体に重畳した傷みの個数を取得することが可能な磁性体検査装置を提供することができる。また、モデル波形を重ね合わせることにより、磁性体に複数の傷みが重畳した際の検知信号の波形のモデルを生成することが可能となるので、検知信号とモデル波形とを比較することにより、磁性体に重畳した傷みの個数を取得することができる。なお、本明細書において、「磁性体に重畳した傷みの個数」とは、モデル波形に基づく個数を意味する。具体的には、１本の素線に断線が生じた場合の信号強度を予め取得しておき、取得した信号強度のモデル波形を生成する。生成したモデル波形は、素線断線が１本の信号強度であるため、磁性体の検知信号の信号強度と、モデル波形の信号強度とに基づいて、磁性体に重畳した傷みの個数を取得することができる。

上記第１の局面による磁性体検査装置において、好ましくは、制御部は、モデル波形の信号強度に対する検知信号の信号強度の違いに基づいて、磁性体の同一領域に重畳した傷みの個数を取得するように構成されている。このように構成すれば、検知信号の信号強度に基づいて、傷みの個数を取得することが可能となるので、たとえば、検知信号が閾値を超えたか否かで磁性体に傷みが生じているか否かを検知する場合と比較して、検知信号が閾値を超えた領域内における磁性体の傷みの個数を正確に把握することができる。その結果、磁性体の同一領域に重畳している痛みの個数を正確に把握することが可能となるので、磁性体の交換時期を正確に把握することができる。

上記第１の局面による磁性体検査装置において、好ましくは、磁性体の検知信号を検知した際の検知部の位置情報を取得する位置情報取得部をさらに含み、制御部は、モデル波形と、検知信号と、位置情報とに基づいて、少なくとも磁性体に重畳した複数の傷みの分布情報を取得するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の傷みの分布情報に基づいて、磁性体の傷みの個数と局在などを把握することができる。その結果、磁性体における部分的な機械的強度の低下などを把握することが可能となり、磁性体の交換時期を把握することができる。

この場合、好ましくは、モデル波形は、磁性体において、検知信号が検知された際の前記検知部の位置情報と、検知信号の強度とによるモデル関数に基づく波形のモデルである。このようなモデル波形を用いれば、モデル波形における傷みが生じた位置および傷みが生じた位置における検知信号の強度を変更することにより、重ね合わせの基準となる波形のパターンを、位置および強度を種々異ならせて増加させることが可能となるので、さまざまなパターンのモデル波形を取得することができる。その結果、さまざまなパターンのモデル波形の中から、検知信号の波形と最もマッチするモデル波形を取得することが可能となるので、磁性体の傷みの分布情報を取得する精度を向上させることができる。

上記モデル波形を用いる構成において、好ましくは、モデル波形は、磁性体において複数の傷みが離れて重畳した場合のモデル関数を加算して得られた関数に基づく波形のモデルである。このように構成すれば、さまざまな位置に傷みが生じた場合のモデル関数を加算することにより、さまざまなパターンの傷みの重畳に対応することが可能なモデル波形を容易に構築することができる。

上記第１の局面による磁性体検査装置において、好ましくは、制御部は、取得した検知信号の波形の形状と、モデル波形の形状との近似度に基づいて、磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている。このように構成すれば、近似度を取得することにより、検知信号の波形と最も類似したモデル波形を取得することができる。その結果、検知信号の波形と最も類似したモデル波形の波形から磁性体の傷みの個数を取得することが可能となるので、検知信号から磁性体の傷みの個数を取得することができる。

この場合、好ましくは、制御部は、検知信号の波形とモデル波形とを、最小二乗法によって解析することにより、磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている。このように構成すれば、最小二乗法によって検知信号の波形とモデル波形の波形との近似度を容易に取得することができる。その結果、磁性体の傷みの個数を容易に取得することができる。

上記第１の局面による磁性体検査装置において、好ましくは、検知コイルは、１対の差動コイルを含み、制御部は、１対の差動コイルの各々が検知した検知信号の差分値を取得するとともに、取得した差分値とモデル波形とに基づいて、少なくとも磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている。このように構成すれば、差動コイルにより雑音（ノイズ）が相殺されて雑音（ノイズ）が少ない検知信号が得られるとともに、その雑音の少ない検知信号の波形に基づいて磁性体の傷みの個数を取得することができるので、磁性体の傷みの個数をより精度よく取得することができる。

上記第１の局面による磁性体検査装置において、好ましくは、検知部による検知信号の検知を行うよりも前に、磁性体の磁化の向きを整える磁界印加部をさらに備える。このように構成すれば、検知部において磁性体の全磁束の変化を検知する前に、磁界印加部によって磁性体の磁化の向きを整えることが可能となり、磁性体の磁化の向きのバラつきに起因して生じるノイズの影響を抑制することができる。その結果、ノイズの影響が抑制されるので、磁性体に生じた個々の傷みを精度よく検知することが可能となり、磁性体の傷みの個数をより一層精度よく取得することができる。

この発明の第２の局面による磁性体検査方法は、検知コイルを含む検知部によって検知された磁性体の全磁束の変化に基づく検知信号データを取得するステップと、検知信号データの波形を示すモデル波形と、検知信号データとに基づいて、少なくとも磁性体に重畳した傷みの個数に関する情報を取得するステップとを備える。

この発明の第２の局面による磁性体検査方法では、上記のように構成することにより、第１の局面による磁性体検査装置と同様に、本願発明者による新たな知見に基づいて、磁性体の傷みの個数を取得することが可能な磁性体検査方法を提供することができる。

本発明によれば、上記のように、磁性体の傷みの個数を取得することが可能な磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することができる。

第１実施形態による磁性体検査装置の構成を示す概略図である。 第１実施形態による磁性体検査装置により検査されるワイヤロープが使用されるエレベータを示した模式図である。 第１実施形態による磁性体検査装置の検知部および磁界印加部の構成を説明するための図である。 第１実施形態による磁性体検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。 差動コイルにより１つの断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の検知信号の波形を示す図である。 １つの断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の検知信号のモデル波形の波形を示す図である。 断線数および断線が生じた位置を変更した場合のモデル波形の波形を示す図である。 磁性体検査装置が磁性体を検査する際の磁性体の離散化を説明するための模式図である。 磁性体検査装置が磁性体（ワイヤロープ）の断線の分布を取得する処理の流れを説明するためのフローチャートである。 第２実施形態による磁性体（ワイヤロープ）の素線の断線箇所を説明するための模式図である。 第２実施形態による同一領域における磁性体の断線の数を取得する構成を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 第２実施形態のよる磁性体検査装置が磁性体（ワイヤロープ）の同一領域における断線の数を取得する処理の流れを説明するためのフローチャートである。 第１実施形態の第１変形例による異なる種類の傷みが重畳した磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の検知信号の波形を示す図である。 第１実施形態の第２変形例による磁性体検査装置の構成を示す概略図である。 第２実施形態の変形例による断線位置が異なる複数の磁性体（ワイヤロープ）の検知信号の加算を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。 第２実施形態の変形例による複数の磁性体（ワイヤロープ）の断線が同一領域内に位置する場合の検知信号の加算を説明するための模式図（Ａ）および模式図（Ｂ）である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

図１〜図８を参照して、第１実施形態による磁性体検査装置１００の構成について説明する。

（磁性体検査装置の構成）
図１に示すように、磁性体検査装置１００は、検査対象物であるワイヤロープＷの傷みを検査するように構成されている。磁性体検査装置１００は、磁性体検査部１と、解析部２とを含む。磁性体検査部１は、検知部３と、位置情報取得部４６とを含む。解析部２は、通信部２１と、制御部２２と、記憶部２３と、表示部２４とを備えている。磁性体検査部１および解析部２の詳細な構成については後述する。なお、第１実施形態では、磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷの傷みとして、ワイヤロープＷの素線Ｗｓ（図１０参照）の断線Ｄｐを検知するように構成されている。磁性体検査装置１００がワイヤロープＷの素線Ｗｓの断線Ｄｐを検知する詳細な構成については後述する。

図２に示す例は、磁性体検査装置１００が、ワイヤロープＷの表面に沿ってワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に相対移動しながら、ワイヤロープＷを検査する例である。図２に示す例では、ワイヤロープＷは、たとえば、エレベータＥに使用されている。エレベータＥは、カゴ部Ｅ１と、ワイヤロープＷを巻き上げてカゴ部Ｅ１を昇降させる巻上機Ｅ２と、カゴ部Ｅ１（ワイヤロープＷ）の位置を検知する位置センサＥ３とを備えている。エレベータＥでは、ワイヤロープＷが巻上機Ｅ２により移動されるため、磁性体検査装置１００を固定した状態で、ワイヤロープＷの移動に伴って、検査が行われる。ワイヤロープＷは、磁性体検査装置１００の位置において、Ｘ方向に延びるように配置されている。

磁性体検査装置１００には、通信部４７を介して解析部２が接続されている。

図３に示すように、磁性体検査装置１００は、検知コイル３０によりワイヤロープＷの磁界（全磁束）の変化を検知するように構成されている。

（ワイヤロープの構成）
ワイヤロープＷは、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されている。ワイヤロープＷは、劣化による切断が起こるのを防ぐために、状態（傷等の有無）を監視されている。そして、劣化が所定量より進行したワイヤロープＷは、交換される。

（磁界印加部の構成）
図３に示すように、磁界印加部５は、検知部３による検知信号の検知を行うよりも前に、ワイヤロープＷの磁化の向きを整えるように構成されている。磁界印加部５は、磁石５１および５２を含む第１磁界印加部と、磁石５３および５４を含む第２磁界印加部とを含んでいる。第１磁界印加部（磁石５１および５２）は、検知部３に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の一方側（Ｘ１方向側）に配置されている。また、第２磁界印加部（磁石５３および５４）は、検知部３に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の他方側（Ｘ２方向側）に配置されている。

（検知部の構成）
検知部３は、ワイヤロープＷの全磁束の変化を検知する検知コイル３０を含み、検知信号を出力するように構成されている。検知コイル３０は、受信コイル１１および１２を有する１対の差動コイル３４を含む。検知コイル３０（差動コイル３４）と、励振コイル３３とは、図３に示すように、ワイヤロープＷの延びる方向を中心軸として、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿うようにそれぞれ複数回巻回されている。また、検知コイル３０および励振コイル３３は、ワイヤロープＷの延びるＸ方向に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、検知コイル３０および励振コイル３３の巻回される導線部分の形成する面は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）と略直交している。ワイヤロープＷは、検知コイル３０および励振コイル３３の内部を通過する。また、検知コイル３０は、励振コイル３３の内側に設けられている。なお、検知コイル３０および励振コイル３３の配置はこれに限られない。受信コイル１１および１２のうち受信コイル１１は、Ｘ１方向側に配置されている。また、受信コイル１１および１２のうち受信コイル１２は、Ｘ２方向側に配置されている。

検知コイル３０は、ワイヤロープＷの全磁束の変化を検知するように構成されている。具体的には、検知コイル３０は、一対の受信コイル１１および１２によって、検査対象物であるワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知するように構成されている。すなわち、検知コイル３０は、励振コイル３３により磁界が印加されたワイヤロープＷに対して、Ｘ方向の全磁束の変化を検知する。また、検知コイル３０は、検知したワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を出力するように構成されている。また、検知コイル３０は、励振コイル３３によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

励振コイル３３は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振させる。具体的には、励振コイル３３に励振交流電流が流されることにより、励振コイル３３の内部において、励振交流電流に基づいて発生する交流磁界が印加されることにより、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振するように構成されている。

ワイヤロープＷに欠陥（傷等）が存在する場合は、欠陥（傷等）のある部分でワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）が、欠損（傷等）がない部分と比較して小さくなる。その結果、たとえば、受信コイル１１が、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、受信コイル１２を通る磁束量が受信コイル１１と比較して変化するため、検知コイル３０による検知電圧の差の絶対値（検知信号の差分値）が大きくなる。一方、欠陥（傷等）のない部分での検知信号は略ゼロとなる。このように、検知コイル３０において、欠陥（傷等）の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部４は、検知信号の値に基づいてワイヤロープＷの欠陥（傷等）の存在を検出することが可能である。

（磁性体検査部の構成）

図４に示すように、磁性体検査部１は、検知部３と、電子回路部４とを備えている。検知部３は、検知コイル３０と、励振コイル３３とを含んでいる。電子回路部４は、検査制御部４１と、受信Ｉ／Ｆ４２と、記憶部４３と、励振Ｉ／Ｆ４４と、電源回路４５と、位置情報取得部４６と、通信部４７とを含んでいる。また、磁性体検査装置１００は、磁界印加部５（図３参照）を備えている。

図４に示す電子回路部４の検査制御部４１は、磁性体検査装置１００の各部を制御するように構成されている。具体的には、検査制御部４１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含んでいる。

検査制御部４１は、検知コイル３０が検知した全磁束に基づいて、検知信号を取得するように構成されている。また、検査制御部４１は、１対の差動コイル３４の各々が検知した検知信号を受信して、通信部４７を介して解析部２に出力するように構成されている。また、検査制御部４１は、励振コイル３３を励振させる制御を行うように構成されている。

また、検査制御部４１は、位置情報取得部４６を介して、ワイヤロープＷにおける検知部３（検知コイル４０）の位置情報を取得するように構成されている。第１実施形態では、位置情報として、検知部３（検知コイル４０）がワイヤロープＷの全磁束を検知した位置および、離散化した位置ｘ_ｉ（図８参照）を取得する。検査制御部４１は、たとえば、エレベータＥの位置センサＥ３から検知部３の位置情報を取得するように構成されている。また、磁性体検査装置１００自体に検知部３の位置を検知する位置センサ（図示せず）が設けられていてもよい。なお、位置ｘ_ｉは、特許請求の範囲の「検知部の位置情報」の一例である。

記憶部４３は、検査制御部４１により、ワイヤロープＷの検知信号を検知した際の位置情報と、検知コイル３０（差動コイル３４）が検知したワイヤロープＷの検知信号とを関連付けた検知情報を記憶するように構成されている。記憶部４３は、たとえば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）またはＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ ｄｒｉｖｅ）などにより構成することが可能である。また、検査制御部４１は、通信部４７を介して、検知情報を解析部２に送信するように構成されている。

受信Ｉ／Ｆ４２は、検査制御部４１の制御の下、検知コイル３０からの全磁束に基づく信号（電圧値）を受信して、検査制御部４１に送信するように構成されている。具体的には、受信Ｉ／Ｆ４２は、増幅器を含んでいる。また、受信Ｉ／Ｆ４２は、検知コイル３０の全磁束に基づく信号を増幅して、検査制御部４１に送信するように構成されている。

励振Ｉ／Ｆ４４は、検査制御部４１の制御の下、励振コイル３３に対する電力の供給を制御するように構成されている。具体的には、励振Ｉ／Ｆ４４は、検査制御部４１からの制御信号に基づいて、電源回路４５から励振コイル３３への電力の供給を制御する。

位置情報取得部４６は、検査制御部４１の制御の下、検知部３のワイヤロープＷの検知信号を検知した際の検知部３の位置情報を取得するように構成されている。位置情報取得部４６は、エレベータＥの位置センサＥ３が取得した検知部３の位置情報を取得するように構成されている。たとえば、シリアル通信ポートを含む。

（ワイヤロープの断線の分布情報の取得に関する構成）
第１実施形態では、磁性体検査装置１００は、解析部２によってワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐ（断線Ｄｐの分布情報）を取得するように構成されている。解析部２には、通信部２１を介して磁性体検査装置１００が接続されている。通信部２１は、制御部２２の制御の下、磁性体検査部１によって取得されたワイヤロープＷの検知情報を受信するように構成されている。通信部２１は、たとえば、シリアル通信ポートを含む。

制御部２２は、ＣＰＵおよびメモリなどから構成されており、記憶部２３に格納された各種プログラムを実行することにより、解析部２の制御部２２として機能するように構成されている。また、制御部２２は、１対の差動コイル３４の各々が検知した検知信号の差分値を取得するように構成されている。また、制御部２２は、受信したワイヤロープＷの検知情報に基づいて、ワイヤロープＷの素線Ｗｓの断線Ｄｐの分布情報を取得するように構成されている。制御部２２がワイヤロープＷの断線Ｄｐの分布情報を取得する詳細な構成については後述する。

記憶部２３は、制御部２２が実行する各種プログラムを記憶している。また、記憶部２３は、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じた際の検知信号の波形を示す断線Ｄｐのモデル波形Ｗｍを記憶するように構成されている。記憶部２３は、たとえば、ＨＤＤまたはＳＳＤなどを含む。

表示部２４は、制御部２２が取得したワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐ（断線Ｄｐの分布情報）を表示するように構成されている。表示部２４は、たとえば、液晶モニタなどを含む。

図５は、ワイヤロープＷに１つの断線Ｄｐが生じた場合の検知信号の波形Ｗｄの模式図である。本発明の発明者は、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが重畳した場合の検知信号の波形Ｗｄの形状が、１つの断線Ｄｐが生じた場合の検知信号の波形Ｗｄから取得したモデル波形Ｗｍを重ね合わせることにより取得することができるという知見を得た。そこで、本発明の発明者は、図５に示す１つの断線Ｄｐが生じた際の検知信号の波形Ｗｄに基づいて、図６に示すような波形を示すモデル波形Ｗｍを構築した。モデル波形Ｗｍの詳細については後述する。なお、図５に示す波形Ｗｄのグラフおよび図６に示すモデル波形Ｗｍのグラフは、縦軸が信号強度を示す軸であり、横軸が検知コイル３０の検知位置を示す軸である。

ワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じた場合のモデル波形Ｗｍは、図７に示すように形状が変化する。図７に示す例は、ワイヤロープＷにおいて、断線Ｄｐが１か所、３か所、４か所、６か所、１２か所、および２か所発生した場合の例である。ワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐが１か所、３か所、４か所、６か所、１２か所および２か所の場合、モデル波形Ｗｍの形状は、それぞれ、波形Ｗｍ１、波形Ｗｍ２、波形Ｗｍ３、波形Ｗｍ４、波形Ｗｍ５、波形Ｗｍ６に示す形状となる。なお、図７に示すモデル波形Ｗｍのグラフは、縦軸が信号強度を示す軸であり、横軸が検知コイル３０の検知位置を示す軸である。

図７に示す例では、便宜上、各検知信号の波形Ｗｄの強度を実際の強度から変更して図示している。すなわち、グラフｆ２に示す位置に断線Ｄｐが３か所発生した場合のモデル波形Ｗｍ２は、グラフｆ１に示す位置に断線Ｄｐが１か所発生した場合のモデル波形Ｗｍ１に対して、信号強度を１／３にして図示している。また、グラフｆ３〜グラフｆ６に示す位置に断線Ｄｐが４か所、６か所、１２か所、および２か所の場合は、それぞれ、グラフｆ１のモデル波形Ｗｍ１に対して、信号強度を１／４、１／６、１／６および１／２にして図示している。

ワイヤロープＷの複数か所に近接して断線Ｄｐが重畳した場合の検知信号の波形Ｗｄと、断線Ｄｐの個数に応じた波形が加算されたモデル波形Ｗｍとを比較することにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐの分布情報を取得することができる。たとえば、図７に示すように、３つの検知信号が加算されたモデル波形Ｗｍ２と近似度の高い検知信号の波形Ｗｄが得られた場合、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが３か所生じている（重畳している）ことがわかる。また、１２個の波形が加算されたモデル波形Ｗｍの波形Ｗｄ６と近似度の高い、検知信号の波形Ｗｄが得られた場合、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが１２か所連続して近接して生じている（重畳している）ことがわかる。

そこで、第１実施形態では、制御部２２は、あらかじめ構築されたワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じた際の検知信号の波形を示すモデル波形Ｗｍを用いることにより、ワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐ（断線Ｄｐの分布情報）を取得する。具体的には、制御部２２は、モデル波形Ｗｍと、検知信号とに基づいて、少なくともワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐを取得するように構成されている。より具体的には、制御部２２は、モデル波形Ｗｍと、検知信号と、位置情報とに基づいて、少なくともワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐの分布情報を取得するように構成されている。制御部２２は、検知信号として、差動コイル３４が取得した検知信号の差分値を用いるように構成されている。断線Ｄｐの分布および個数に応じて、検知信号の波形Ｗｄの形状は異なるため、制御部２２が用いるモデル波形Ｗｍは、ワイヤロープＷに１つの断線Ｄｐが生じた際の検知信号の波形Ｗｄを重ね合わせの基準波形とする波形のモデルとなるように構築される。

なお、第１実施形態では、図８に示すように、磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷを所定の間隔Ｒごとに検査することを想定して構成されている。制御部２２は、所定の間隔ＲごとにワイヤロープＷから検知された検知信号を用いて断線Ｄｐの分布情報を取得する。また、制御部２２は、所定の間隔Ｒにおいて、ワイヤロープＷを所定の数分だけ離散化し、離散化した各区画ｘ_ｉにおける検知信号に基づいて断線Ｄｐが生じているか否かを取得する。図８に示す例では、所定の間隔Ｒを１０等分に離散化した例を示している。すなわち、図８に示す例では、所定の間隔Ｒを区画ｘ１〜区画ｘ１０の１０等分に離散化し、各区画ｘ_ｉにおいて断線Ｄｐがあるか否かを検査する。

断線Ｄｐが１か所の場合のモデル波形Ｗｍを以下に示す式（１）とすると、複数か所に断線Ｄｐが重畳した場合のモデル波形Ｗｍは、以下の式（２）によって示すことができる。

ここで、ｈ_ｉ（ｘ）は、断線Ｄｐが１か所の場合のモデル波形Ｗｍである。また、Ｈ（ｘ）は、断線Ｄｐが複数か所の場合のモデル波形Ｗｍである。また、ｘは、ワイヤロープＷにおける検知コイル３０の位置である。また、ｘ_ｉは、離散化したワイヤロープＷにおける、断線Ｄｐ（傷み）が生じた位置（区画）である。また、Ｍ_ｉは、断線Ｄｐ（傷み）が生じた位置における検知信号の強度である。なお、ｈ_ｉ（ｘ）およびＨ（ｘ）は、それぞれ、特許請求の範囲の「モデル関数」の一例である。

ここで、第１実施形態では、ｈ_ｉ（ｘ）として、以下の式（３）を用いる。なお、式（３）は、断線Ｄｐが１か所の場合の検知信号の波形Ｗｄ１に基づいて取得したモデル関数である。

式（３）に示すように、モデル波形Ｗｍは、ワイヤロープＷにおいて、検知信号が検知された際の検知部３（検知コイル３０）の位置ｘ_ｉと、検知信号の強度Ｍ_ｉとによるモデル関数に基づく波形のモデルである。

また、上記式（２）に示すように、モデル波形Ｗｍは、ワイヤロープＷにおいて複数の断線Ｄｐが離れて重畳した場合のモデル関数を加算して得られた関数に基づく波形のモデルである。すなわち、モデル波形Ｗｍは、各区画ｘ_ｉにおけるモデル関数を、区画ｘ_ｉの数分加算して得られた関数に基づく波形のモデルである。

第１実施形態では、制御部２２は、取得した検知信号の波形Ｗｄの形状と、モデル波形Ｗｍの形状との近似度に基づいて、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成されている。具体的には、制御部２２は、検知信号の波形Ｗｄとモデル波形Ｗｍとを、最小二乗法によって解析することにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成されている。制御部２２は、以下に示す式（４）を誤差関数とし、誤差関数の二乗が最小となる検知信号の強度Ｍ_ｉを取得することにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得する。

ここで、ｒ（ｘ）は、誤差関数である。また、ｙ（ｘ）は、検知信号の実測値である。

制御部２２は、誤差関数の二乗が最小となるモデル波形Ｗｍの強度Ｍ_ｉを取得することにより、ワイヤロープＷにおいて断線Ｄｐ（傷み）の分布情報を取得することができる。

（ワイヤロープの断線の分布情報取得処理）
次に、図９を参照して、磁性体検査装置１００がワイヤロープＷの断線Ｄｐの分布情報を取得する処理の流れについて説明する。

ステップＳ１において、制御部２２は、検知コイル３０を含む検知部３が検知したワイヤロープＷの全磁束の変化に基づいて、検知信号データを取得する。その後、処理はステップＳ２へ進む。

ステップＳ２において、制御部２２は、記憶部２３に記憶されたワイヤロープＷの検知信号を検知した際の検知部３の位置情報を取得する。その後、処理はステップＳ３へ進む。

ステップＳ３において、制御部２２は、検知信号データの波形Ｗｄを示すモデル波形Ｗｍと、検知信号データと、位置情報とに基づいて、少なくともワイヤロープＷの断線Ｄｐ（傷み）の分布情報を取得し処理を終了する。

なお、第１実施形態では、制御部２２は、取得したワイヤロープＷの断線Ｄｐ（傷み）の分布情報を表示部２４に表示するように構成されている。

（第１実施形態の効果）
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第１実施形態では、上記のように、磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷの全磁束の変化を検知する検知コイル３０を含み、検知信号を出力する検知部３と、ワイヤロープＷに断線Ｄｐ（傷み）が生じた際の検知信号の波形Ｗｄを示す断線Ｄｐのモデル波形Ｗｍを記憶する記憶部２３と、モデル波形Ｗｍと、検知信号とに基づいて、少なくともワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐを取得する制御部２２とを備える。これにより、モデル波形Ｗｍと検知信号の波形Ｗｄとにより、ワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐを取得することができる。その結果、ワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐを取得することが可能な磁性体検査装置１００を提供することができる。また、モデル波形Ｗｍを重ね合せることにより、ワイヤロープＷの様々な位置に断線Ｄｐが生じた際の検知信号の波形Ｗｄのモデルを生成することが可能となるので、検知信号とモデル波形Ｗｍとを比較することにより、ワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐを取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ワイヤロープＷの検知信号を検知した際の検知部３の位置情報を取得する位置情報取得部４６をさらに含み、制御部２２は、モデル波形Ｗｍと、検知信号と、位置情報とに基づいて、少なくともワイヤロープＷに重畳した断線Ｄｐの分布情報を取得するように構成されている。これにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐの分布情報に基づいて、ワイヤロープＷの断線Ｄｐの局在などを把握することができる。その結果、ワイヤロープＷにおける部分的な機械的強度の低下などを把握することが可能となり、ワイヤロープＷの交換時期を把握することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、モデル波形Ｗｍは、ワイヤロープＷにおいて検知信号が検知された際の検知部３の位置情報（位置ｘ_ｉ）と検知信号の強度Ｍ_ｉとによるモデル関数に基づく波形のモデルである。このようなモデル波形Ｗｍを用いることにより、モデル波形Ｗｍにおける断線Ｄｐが生じた位置ｘ_ｉおよび断線Ｄｐが生じた位置における検知信号の強度Ｍ_ｉを変更することにより、重ね合わせの基準となる波形のパターンを、位置および強度を種々異ならせて増加させることが可能となるので、さまざまなパターンのモデル波形Ｗｍを取得することができる。その結果、さまざまなパターンのモデル波形Ｗｍの中から、検知信号の波形Ｗｄと最もマッチするモデル波形Ｗｍを取得することが可能となるので、ワイヤロープＷの断線Ｄｐの分布情報を取得する精度を向上させることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、モデル波形Ｗｍは、ワイヤロープＷにおいて複数の断線Ｄｐが離れて重畳した場合のモデル関数を加算して得られた関数に基づく波形のモデルである。これにより、さまざまな位置に断線Ｄｐ（傷み）が重畳した場合のモデル関数を加算することにより、さまざまなパターンの検知信号に対応することが可能なモデル波形Ｗｍを容易に構築することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部２２は、取得した検知信号の波形Ｗｄの形状と、モデル波形Ｗｍの形状との近似度に基づいて、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成されている。これにより、近似度を取得することにより、検知信号の波形と最も類似したモデル波形Ｗｍを取得することができる。その結果、検知信号の波形と最も類似したモデル波形ＷｍからワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得することが可能となるので、検知信号から磁性体の断線Ｄｐを取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部２２は、検知信号の波形Ｗｄとモデル波形Ｗｍとを、最小二乗法によって解析することにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成されている。これにより、最小二乗法によって検知信号の波形Ｗｄとモデル波形Ｗｍとの近似度を容易に取得することができる。その結果、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを容易に取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知コイル３０は、１対の差動コイル３４を含み、制御部２２は、１対の差動コイル３４の各々が検知した検知信号の差分値を取得するとともに、取得した差分値とモデル波形Ｗｍとに基づいて、少なくともワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成されている。これにより、差動コイル３４により雑音（ノイズ）が相殺されて雑音（ノイズ）が少ない検知信号が得られるとともに、その雑音の少ない検知信号の波形Ｗｄに基づいて磁性体の断線Ｄｐを取得することができるので、ワイヤロープＷの断線Ｄｐをより精度よく取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知部３による検知信号の検知を行うよりも前に、ワイヤロープＷの磁化の向きを整える磁界印加部５をさらに備える。これにより、検知部３においてワイヤロープＷの全磁束の変化を検知する前に、磁界印加部５によってワイヤロープＷの磁化の向きを整えることが可能となり、ワイヤロープＷの磁化の向きのバラつきに起因して生じるノイズの影響を抑制することができる。その結果、ノイズの影響が抑制されるので、ワイヤロープＷに生じた個々の断線Ｄｐを精度よく検知することが可能となり、ワイヤロープＷの断線Ｄｐをより一層精度よく取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、磁性体検査方法は、検知コイル３０を含む検知部３によって検知されたワイヤロープＷの全磁束の変化に基づく検知信号データを取得するステップＳ１と、ワイヤロープＷの検知信号データを検知した際の検知部３の位置情報を取得するステップＳ２と、検知信号データの波形Ｗｄを示すモデル波形Ｗｍと、検知信号データと、位置情報とに基づいて、少なくともワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するステップＳ３とを備える。これにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得することが可能な磁性体検査方法。

［第２実施形態］
次に、図１、図１０および図１１を参照して、第２実施形態による磁性体検査装置２００（図１参照）について説明する。複数の断線Ｄｐが離れて重畳したワイヤロープＷを検査する第１実施形態とは異なり、第２実施形態では、磁性体検査装置２００は、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐを取得するように構成されている。なお、上記第１実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。

図１に示すように、第２実施形態では、磁性体検査装置２００は、制御部２５を備えている。制御部２５は、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡ（図１０参照）に重畳した断線Ｄｐの個数を取得するように構成されている。

図１０は、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに複数の断線Ｄｐが重畳した場合の模式図である。第２実施形態では、磁性体検査装置２００は、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡにおいて、ワイヤロープＷの複数の素線Ｗｓに断線Ｄｐが生じた場合のワイヤロープＷを検査する。具体的には、図１０に示すように、磁性体検査装置２００は、３本の素線Ｗｓのそれぞれの断線Ｄｐが、同一領域ＳＡにおいて生じているワイヤロープＷの検査を行う。なお、第２実施形態では、簡単のため、それぞれの素線Ｗｓの断線Ｄｐから検知される検知信号の信号強度は、モデル波形Ｗｍの信号強度と同一であるとする。

図１１（Ａ）は、１本の素線Ｗｓに１つの断線Ｄｐが生じた場合のモデル波形Ｗｍの検知信号を表すグラフｆ１である。また、図１１（Ｂ）は、３本の素線Ｗｓのそれぞれの断線Ｄｐが、同一領域ＳＡにおいて重畳しているワイヤロープＷの検知信号の波形Ｗｄ７を示すグラフｆ７である。

本発明の発明者は、同一領域ＳＡにおいて複数の断線Ｄｐが重畳している場合、検知信号が加算されるという知見を得た。具体的には、本発明の発明者は、同一領域ＳＡにおいて複数の断線Ｄｐが重畳している場合の検知信号の振幅Ａ２は、断線Ｄｐの個数に応じて、モデル波形Ｗｍの振幅Ａ１の整数倍となるという知見を得た。本発明の発明者は、上記知見に基づいて、モデル波形Ｗｍの信号強度に対して、検知信号の信号強度の違いを取得することにより、同一領域ＳＡにおける断線Ｄｐの個数を取得できることを見出した。図１１（Ｂ）に示す例では、同一領域ＳＡに３つの断線Ｄｐが重畳しているため、検知信号の振幅Ａ２は、モデル波形Ｗｍの振幅Ａ１の３倍となる例である。

制御部２５は、モデル波形Ｗｍの信号強度に対する検知信号の信号強度の違いに基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得するように構成されている。第２実施形態では、制御部２５は、モデル波形Ｗｍの振幅Ａ１と、検知信号の振幅Ａ２との比率に基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得するように構成されている。なお、制御部２５は、モデル波形Ｗｍの振幅Ａ１と、検知信号の振幅Ａ２との比率以外に基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得するように構成されていてもよい。たとえば、制御部１５は、モデル波形Ｗｍの振幅Ａ１と、検知信号の振幅Ａ２と差に基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した線Ｄｐの個数を取得するように構成されていてもよい。

次に、図１２を参照して、磁性体検査装置２００がワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得する処理の流れについて説明する。なお、第１実施形態と同様のステップの説明については省略する。

ステップＳ１において、制御部２５は、ワイヤロープＷの検知信号データを取得する。その後、処理はステップＳ４へ進む。

ステップＳ４において、制御部２５は、モデル波形Ｗｍの信号強度に対する検知信号の信号強度の違いに基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得し、処理を終了する。

なお、第２実施形態におけるその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。

（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、上記のように、制御部２５は、モデル波形Ｗｍの信号強度に対する検知信号の信号強度の違いに基づいて、ワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した断線Ｄｐの個数を取得するように構成されている。これにより、検知信号の信号強度に基づいて、断線Ｄｐの個数を取得することが可能となるので、たとえば、検知信号が閾値を超えたか否かによって、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じているか否かを検知する場合と比較して、検知信号が閾値を超えた領域内におけるワイヤロープＷの断線Ｄｐの個数をを正確に把握することができる。その結果、ワイヤロープＷに重畳している断線Ｄｐの個数をを正確に把握することが可能となるので、ワイヤロープＷの交換時期を正確に把握することができる。

［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）において検査される磁性体がワイヤロープＷである例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体検査装置１００（２００）において検査される磁性体は、ワイヤロープＷ以外の磁性体であってもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が磁界印加部５を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。磁性体検査装置１００（２００）は、磁界印加部５を備えていなくてもよい。しかし、磁界印加部５を備えない構成の場合、雑音（ノイズ）の影響によりワイヤロープＷの断線Ｄｐ（傷み）の検知精度が低下するため、磁性体検査装置１００（２００）は、磁界印加部５を備える構成の方が好ましい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が、エレベータＥに設けられたワイヤロープＷの検査を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、磁性体検査装置１００（２００）は、クレーン、吊り橋、ロボットなどに用いられたワイヤロープＷの検査に使用されてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）をワイヤロープＷに対して固定した状態で、ワイヤロープＷをＸ方向に移動させながらワイヤロープＷの磁束の測定を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、吊り橋に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動しない場合には、ワイヤロープＷを磁性体検査装置１００（２００）に対してＸ方向に移動させながら、磁性体検査装置１００（２００）によるワイヤロープＷの磁束の計測を行ってもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、検知部３が一対の受信コイル１１および１２を有する差動コイル３４を含む例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、検知部３が単一のコイルにより構成された検知コイル３０を含んでいてもよい。単一のコイルにより構成された検知コイル３０によりワイヤロープＷ（磁性体）の磁束を検知する場合には、以下に示す式（５）によるモデル波形Ｗｍによって、磁性体の断線Ｄｐを取得すればよい。

なお、Ｎ_ｉは断線Ｄｐ（傷み）が生じた位置における検知信号の強度である。

また、上記第１および第２実施形態では、制御部２２が最小二乗法によって検知信号を解析する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、制御部２２は、最尤推定法によって検知信号を解析するように構成されていてもよい。また、たとえば、図７に示すような検知信号の波形Ｗｄの全パターン（離散化した区間における断線Ｄｐの有無の全組み合わせ）の波形を記憶部２３に記憶しておき、制御部２２は、検知信号の波形Ｗｄと、記憶部２３に記憶されたそれぞれの波形とをパターンマッチングすることにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐ（傷み）の分布情報を取得するように構成されていてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、制御部２２がワイヤロープＷの傷みとして、断線Ｄｐを取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、制御部２２は、ワイヤロープＷの傷みとして、異物付着の分布情報を取得するように構成されていてもよい。ワイヤロープＷに異物が付着した場合、図１３に示すように、検知信号の波形Ｗｄは、波形Ｗｄｆとなる。すなわち、ワイヤロープＷに異物が付着した場合の検知信号の波形Ｗｄｆは、ワイヤロープＷに断線Ｄｐが生じた場合の検知信号の波形Ｗｄとは互いに異なる極性を示す。したがって、検知信号の波形Ｗｄの形状に応じて、異なる種類の傷みを検知することができる。なお、図１３に示す例は、便宜上、検知信号の波形Ｗｄ（Ｗｄｆ）を、ノイズを含まない理想的な状態で習得した波形で図示している。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が解析部２に検知情報を送信する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図１４に示すように、磁性体検査部１は、クラウドＣＬ上のサーバＳｖに検知情報を送信するように構成されていてもよい。磁性体検査部１がサーバＳｖ上に検知情報を送信する場合、サーバＳｖによってワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成すればよい。ユーザは、各自のパソコンＰを用いてクラウドＣＬ上のサーバＳｖにアクセスすることにより、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得すればよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が解析部２を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。磁性体検査装置１００（２００）は、解析部２を備えなくてもよい。たとえば、磁性体検査装置１００（２００）が解析部２を備えない場合、検査制御部４１において、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを取得するように構成すればよい。

また、上記第１および第２実施形態では、検知部３が励振コイル３３を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、ワイヤロープＷと磁性体検査装置１００（２００）とが相対移動する構成であれば、検知部３は励振コイル３３を備えていなくてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、制御部２２（２５）が、差動コイル３４の検知信号に基づいて差分値を取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、検査制御部４１が、差動コイル３４の検知信号に基づいて差分値を取得するように構成されていてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が、解析部２に対して、ワイヤロープＷの断線Ｄｐを検知した際の位置情報と、検知コイル３０（差動コイル３４）が検知したワイヤロープＷの全磁束とを関連付けた検知情報を送信する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体検査装置１００（２００）は、検査制御部４１において検知信号を取得し、検知信号と位置情報とを関連付けた検知情報を解析部２に送信するように構成されていてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査装置１００（２００）が位置情報取得部４６を備える構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。検知信号の波形ＷｄからワイヤロープＷの断線Ｄｐの個数のみを取得する場合には、位置情報取得部４６を備えていなくてもよい。

また、上記２実施形態では、１本のワイヤロープＷの同一領域ＳＡに重畳した複数の断線Ｄｐを検知した場合に、検知信号が加算される構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体検査装置２００は、複数のワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐの検知に用いてもよい。複数のワイヤロープＷを検知する場合においても、加算された検知信号を得ることができる。図１５（Ａ）に示すように、２本のワイヤロープＷ（ワイヤロープＷ１およびＷ２）に生じた断線Ｄｐ（断線Ｄｐ１およびＤｐ２）を一度に検知した場合、得られる検知信号の波形Ｗｄ９は図１５（Ｂ）に示すグラフｆ８のようになる。グラフｆ８に示すように、複数のワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐを一度に検知した場合、それぞれの断線Ｄｐの位置において、振幅Ａ３および振幅Ａ４のピークが出現する。なお、図１５（Ｂ）に示す例は、断線Ｄｐ２の検知信号の振幅Ａ４が、断線Ｄｐ１の検知信号の振幅Ａ３の２倍の大きさ（強度）となる例である。

図１６（Ａ）は、複数のワイヤロープＷ（ワイヤロープＷ１およびＷ２）に生じた断線Ｄｐ（断線Ｄｐ１およびＤｐ２）の位置が同一領域ＳＡ内となる場合の例である。複数のワイヤロープＷに生じた断線Ｄｐの位置が同一領域ＳＡ内にとなる場合、得られる検知信号の波形Ｗｄ１０は、図１６（Ｂ）に示すグラフｆ９のように加算される。したがって、複数のワイヤロープＷにおける断線Ｄｐの位置が同一領域ＳＡ内となる場合でも、検知信号が加算されるため、複数のワイヤロープＷをまとめて検査した場合でも、同一領域ＳＡにおける断線Ｄｐの個数を取得することができる。

また、上記第２実施形態では、磁性体検査装置２００が、それぞれの断線Ｄｐの検知信号の強度が等しい場合における検知信号の加算を検知する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図１５（Ｂ）に示すように、磁性体検査装置２００は、断線Ｄｐ１の検知信号の振幅Ａ３と、断線Ｄｐ２の検知信号の振幅Ａ４とが異なる場合でも加算された検知信号を検知することができる。図１６（Ａ）に示すように、断線Ｄｐ１と断線Ｄｐ２とが同一領域ＳＡ内にある場合、図１６（Ｂ）に示すグラフｆ９のように、得られる検知信号の波形Ｗｄ１０の振幅Ａ５は、断線Ｄｐ１の検知信号の振幅Ａ３と、断線Ｄｐ２の検知信号の振幅Ａ４とが加算された大きさ（強度）となる。

また、上記第２実施形態では、磁性体検査装置２００がワイヤロープＷの素線Ｗｓの断線Ｄｐの個数を検知する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体検査装置２００は、ワイヤロープＷの一方表面上の傷および他方表面の傷など、素線Ｗｓの断線Ｄｐ以外のワイヤロープＷの傷みの個数を検知するように構成されていてもよい。

３ 検知部
５ 磁界印加部
２２、２５ 制御部
２３ 記憶部
３０ 検知コイル
３４ 差動コイル
４１ 検査制御部（制御部）
４６ 位置情報取得部
１００、２００ 磁性体検査装置
Ｄｐ 断線（磁性体の傷み）
ｈ_ｉ（ｘ）、Ｈ（ｘ） モデル関数
Ｍ_ｉ 傷みが重畳した位置における検知信号の強度
ｘ_ｉ 検知部の位置情報
Ｗ ワイヤロープ（磁性体）
Ｗｄ 検知信号の波形
Ｗｍ モデル波形

Claims (10)

1. 磁性体の全磁束の変化を検知する検知コイルを含み、検知信号を出力する検知部と、
   前記磁性体に１つの傷みが生じた場合の前記検知信号の波形に対応する傷みのモデル波形を記憶する記憶部と、
   前記モデル波形と、前記検知信号とに基づいて、少なくとも前記磁性体に重畳した傷みの個数に関する情報を取得する制御部とを備える、磁性体検査装置。
2. 前記制御部は、前記モデル波形の信号強度に対する前記検知信号の信号強度の違いに基づいて、前記磁性体の同一領域に重畳した傷みの個数を取得するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査装置。
3. 前記磁性体の前記検知信号を検知した際の前記検知部の位置情報を取得する位置情報取得部をさらに含み、
   前記制御部は、前記モデル波形と、前記検知信号と、前記位置情報とに基づいて、少なくとも前記磁性体に重畳した傷みの分布情報を取得するように構成されている、請求項１または２に記載の磁性体検査装置。
4. 前記モデル波形は、前記磁性体において前記検知信号が検知された際の前記検知部の前記位置情報と、前記検知信号の強度とによるモデル関数に基づく波形のモデルである、請求項３に記載の磁性体検査装置。
5. 前記モデル波形は、前記磁性体において複数の傷みが離れて重畳した場合の前記モデル関数を加算して得られた関数に基づく波形のモデルである、請求項４に記載の磁性体検査装置。
6. 前記制御部は、取得した前記検知信号の波形の形状と、前記モデル波形の形状との近似度に基づいて、前記磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている、請求項１〜５のいずれか１項に記載の磁性体検査装置。
7. 前記制御部は、前記検知信号の波形と前記モデル波形とを、最小二乗法によって解析することにより、前記磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている、請求項６に記載の磁性体検査装置。
8. 前記検知コイルは、１対の差動コイルを含み、
   前記制御部は、前記１対の差動コイルの各々が検知した前記検知信号の差分値を取得するとともに、取得した前記差分値と前記モデル波形とに基づいて、少なくとも前記磁性体の傷みの個数を取得するように構成されている、請求項１〜７のいずれか１項に記載の磁性体検査装置。
9. 前記検知部による前記検知信号の検知を行うよりも前に、前記磁性体の磁化の向きを整える磁界印加部をさらに備える、請求項１〜８のいずれか１項に記載の磁性体検査装置。
10. 検知コイルを含む検知部によって検知された磁性体の全磁束の変化に基づく検知信号データを取得するステップと、
    前記検知信号データの波形を示すモデル波形と、前記検知信号データとに基づいて、少なくとも前記磁性体に重畳した傷みの個数に関する情報を取得するステップとを備える、磁性体検査方法。

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