JP7318749B2 - ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法に関し、特に、ワイヤロープの磁界の変化に基づいてワイヤロープの状態を検知するワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法に関する。

従来、ワイヤロープの磁界の変化を検知するワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法が知られている。このようなワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法は、たとえば、国際公開第２０１９／１５０５３９号に開示されている。

上記国際公開第２０１９／１５０５３９号のワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、ワイヤロープを検査するように構成されている。具体的には、上記国際公開第２０１９／１５０５３９号のワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープの第１測定において差動コイルにより取得した第１検知信号と、第１測定の後の第２測定において差動コイルにより取得した第２検知信号との略同じ位置における差分に基づいて、ワイヤロープの状態を検知するように構成されている。これにより、ワイヤロープにおける固有の磁気特性（雑音データ）が除去(キャンセル)され、ワイヤロープの損傷等に起因する信号が抽出される。

国際公開第２０１９／１５０５３９号

しかしながら、ワイヤロープには、上記のワイヤロープの損傷等に起因する信号に加えて、ワイヤロープの揺れおよびロープドロー（複数のワイヤロープが捩れる現象）等に起因して測定データに一時的な磁気特性（ノイズ）が含まれてしまう場合がある。ここで、上記一時的な磁気特性は、ワイヤロープの揺れおよびロープドローの状態が測定ごとに異なるため、測定ごとに変化し得るデータである。このため、上記国際公開第２０１９／１５０５３９号に記載されているワイヤロープ検査装置では、第１検知信号と第２検知信号との差分に基づいてワイヤロープの状態検出を行った場合に、上記一時的な磁気特性がキャンセルされないため、ワイヤロープの損傷等に起因する信号か、または、ワイヤロープの揺れ等に起因する一時的な磁気特性に起因する信号かを判定することが困難な場合があるという不都合がある。この場合、ワイヤロープの損傷を検出することが困難になるという問題点がある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、ワイヤロープの損傷等または揺れ等に起因する信号（ノイズ）が存在する場合にも、ワイヤロープの損傷を容易に検出することが可能なワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法を提供することである。

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御部と、を備え、制御部は、複数回のワイヤロープの第１測定において検知コイルにより取得され、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と、第１測定の後に行われる複数回のワイヤロープの第２測定において検知コイルにより取得され、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、複数の第１検知信号の平均値と、複数の第２検知信号の平均値との差分、に基づき、ワイヤロープの状態を検知するように構成されている。

この発明の第２の局面におけるワイヤロープ検査システムは、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルを含むワイヤロープ検査装置と、検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御装置と、を備え、制御装置は、複数回のワイヤロープの第１測定において検知コイルにより取得され、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と、第１測定の後に行われる複数回のワイヤロープの第２測定において検知コイルにより取得され、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、複数の第１検知信号の平均値と、複数の第２検知信号の平均値との差分、に基づき、ワイヤロープの状態を検知するように構成されている。

この発明の第３の局面におけるワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルにより、複数回のワイヤロープの第１測定において、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を取得する工程と、第１測定の後に、複数回のワイヤロープの第２測定において、検知コイルにより、ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を取得する工程と、複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、複数の第１検知信号の平均値と、複数の第２検知信号の平均値との差分、に基づき、ワイヤロープの状態を検知する工程と、を備える。

上記第１の局面におけるワイヤロープ検査装置、上記第２の局面におけるワイヤロープ検査システム、および、上記第３の局面におけるワイヤロープ検査方法では、上記のように、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との差分に基づき、ワイヤロープの状態が検知される。ここで、ワイヤロープの揺れ等に起因する信号（ノイズ）は、一時的に現れるものであるので、検知信号（出力波形）の中での現れ方（出力波形において信号が現れる位置）がランダムに変化し得るものである。一方、たとえばワイヤロープの損傷等に起因する信号は、一時的なものではなく、検知信号（出力波形）の中での現れ方（出力波形において信号が現れる位置）が固定されている。この特性を利用することによって、第１検知信号および第２検知信号をそれぞれ１つずつ用いる場合と異なり、複数の第１（第２）検知信号において共通に現れる信号とランダムに現れる信号とに基づいて、ワイヤロープの損傷等に起因して現れた信号と、ワイヤロープの揺れ等に起因して一時的に現れた信号との判別を行うことができる。その結果、ワイヤロープの損傷等または揺れ等に起因する信号（ノイズ）が存在する場合にも、ワイヤロープの損傷を容易に検知することができる。

第１実施形態によるワイヤロープ検査装置の構成を示した図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査装置が設けられている昇降路およびエレベータを示した図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査装置の磁界印加部および検出部の構成を説明するための概略図である。 第１実施形態によるワイヤロープの固有の磁気特性について説明するための図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査装置により取得された第１検知信号（図６（Ａ））と、第２検知信号（図６（Ｂ））と、第１検知信号および第２検知信号の差分結果（図６（Ｃ））と、差分結果を微分した微分結果（図６（Ｄ））とをそれぞれ示した図である。 第１実施形態による第１検知信号の第１加算値（図７（Ａ））と、第２検知信号の第２加算値（図７（Ｂ））とをそれぞれ示した概念図である。 第１実施形態による第１加算値と第２加算値との差分を示した概念図である。 第１実施形態によるワイヤロープの状態検知に関する制御を示したフロー図である。 第２実施形態によるワイヤロープ検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。 第２実施形態によるワイヤロープの状態検知に関する制御を示したフロー図である。 第３実施形態によるワイヤロープ検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。 第３実施形態によるワイヤロープの状態検知に関する制御を示したフロー図である。 第１～第３実施形態の変形例によるワイヤロープ検査システムの制御的な構成を示すブロック図である。 第１実施形態の変形例によるワイヤロープの状態検知に関する制御を示したフロー図である。 第２および第３実施形態の変形例によるワイヤロープの状態検知に関する制御を示したフロー図である。 第１実施形態によるワイヤロープ検査装置の検知コイルの構成を説明するための図である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

［第１実施形態］
図１～図９を参照して、第１実施形態によるワイヤロープ検査装置１００の構成について説明する。

（ワイヤロープ検査装置の構成）
図１に示すように、ワイヤロープ検査装置１００は、検査対象物であるワイヤロープＷを検査するように構成されている。ワイヤロープ検査装置１００は、ワイヤロープＷを定期的に検査するように構成されている。ワイヤロープ検査装置１００は、ワイヤロープＷの損傷を検査するように構成されている。

なお、ワイヤロープＷの損傷とは、スレ、局所的磨耗、素線断線、凹み、腐食、亀裂、折れ等により生じる検知方向に対する（ワイヤロープＷ内部で傷等が生じた場合の空隙に起因するものを含む）断面積の変化、ワイヤロープＷの錆、溶接焼け、不純物の混入、組成変化等により生じる透磁率の変化、その他ワイヤロープＷが不均一となる部分を含む広い概念である。

また、ワイヤロープＷは、複数設けられている。図１では簡略化して５本のワイヤロープＷを図示しているが、１０本程度設けられる場合もある。ここで、第１実施形態では、ワイヤロープ検査装置１００の後述する差動コイル１０は、複数のワイヤロープＷの磁気特性を一括して検知するように構成されている。すなわち、差動コイル１０は、複数のワイヤロープＷの各々の検知信号が合わさった１つの検知信号を取得する。また、ワイヤロープ検査装置１００（差動コイル１０）は、複数のワイヤロープＷに対して非接触状態で検査を行うように構成されている。なお、ワイヤロープ検査装置１００による検査は、通常の運転時におけるエレベータＥの速度よりも遅い速度でエレベータＥを移動させる検査モードにおいて行われる。

図２に示すように、ワイヤロープ検査装置１００は、エレベータＥに使用されているワイヤロープＷの表面に沿って相対移動されながら、ワイヤロープＷを検査する。エレベータＥは、カゴ部Ｅ１と、ワイヤロープＷを巻き上げてカゴ部Ｅ１を昇降させる巻上機Ｅ２とを備えている。ワイヤロープ検査装置１００は、巻上機Ｅ２の直下近傍に固定された状態で、移動する（巻き上げられる）ワイヤロープＷを検査するように構成されている。なお、ワイヤロープＷは、ワイヤロープ検査装置１００の位置において、Ｘ方向に延びるように配置されている。

また、エレベータＥは、昇降路１０１を昇降する。巻上機Ｅ２は、エレベータＥの昇降路１０１内に設けられている。すなわち、エレベータＥは、いわゆる機械室なしタイプのエレベータである。なお、エレベータＥが機械室ありタイプ（巻上機Ｅ２が昇降路１０１とは隔離された機械室に設けられているタイプ）のエレベータであってもよい。

図３に示すように、ワイヤロープ検査装置１００は、検出部１と、電子回路部２とを備えている。検出部１は、一対の受信コイル１１および１２を有する差動コイル１０と、励振コイル１３とを含んでいる。電子回路部２は、制御部２１と、受信Ｉ／Ｆ２２と、記憶部２３と、励振Ｉ／Ｆ２４と、電源回路２５と、通信部２６とを含んでいる。また、ワイヤロープ検査装置１００は、磁界印加部４（図４参照）を備えている。なお、差動コイル１０は、請求の範囲の「検知コイル」の一例である。

また、ワイヤロープ検査装置１００には、通信部２６を介して外部装置９００（図１参照）が接続されている。

図１に示すように、外部装置９００は、通信部９０１と、解析部９０２と、表示部９０３とを備えている。外部装置９００は、通信部９０１を介して、ワイヤロープ検査装置１００によるワイヤロープＷの計測データを受信するように構成されている。また、外部装置９００は、受信したワイヤロープＷの計測データに基づいて、解析部９０２により、素線断線、断面積変化などの損傷の種類を解析するように構成されている。また、外部装置９００は、解析結果を、表示部９０３に表示するように構成されている。また、外部装置９００は、解析結果に基づいて、異常判定を行い、表示部９０３に結果を表示するように構成されている。

図４に示すように、ワイヤロープ検査装置１００は、差動コイル１０によりワイヤロープＷの磁界（磁束）の変化を検知するように構成されている。

なお、磁界の変化とは、ワイヤロープＷと検出部１とを相対移動させることによる検出部１で検知される磁界の強さの時間的な変化、および、ワイヤロープＷに印加する磁界を時間変化させることによる検出部１で検知される磁界の強さの時間的な変化を含む広い概念である。

（磁界印加部の構成）
図４に示すように、磁界印加部４は、検査対象物であるワイヤロープＷに対して予めＹ方向（ワイヤロープＷの延びる方向に交差する方向）に磁界を印加し磁性体であるワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部４は、磁石４１および４２を含む第１磁界印加部と、磁石４３および４４を含む第２磁界印加部とを含んでいる。第１磁界印加部（磁石４１および４２）は、検出部１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の一方側（Ｘ１方向側）に配置されている。また、第２磁界印加部（磁石４３および４４）は、検出部１に対して、ワイヤロープＷの延びる方向の他方側（Ｘ２方向側）に配置されている。なお、第１磁界印加部および第２磁界印加部のいずれか一方のみが設けられる構成であってもよい。

第１磁界印加部（磁石４１および４２）は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に交差する面に平行かつＹ２方向に磁界を印加するように構成されている。第２磁界印加部（磁石４３および４４）は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に交差する面に平行かつＹ１方向に磁界を印加するように構成されている。すなわち、磁界印加部４は、長尺材の長手方向であるＸ方向と略直交する方向に磁界を印加するように構成されている。

（検出部の構成）
図４に示すように、差動コイル１０は、長尺材からなる磁性体であるワイヤロープＷが延びる方向に沿うように配置された受信コイル１１を含む。また、差動コイル１０は、ワイヤロープＷに対して受信コイル１１が配置される側（Ｙ１方向側）とは反対側（Ｙ２方向側）において、受信コイル１１とともにワイヤロープＷを挟むように配置されている受信コイル１２を含む。励振コイル１３は、第１導線部１３ａが形成されたプリント基板１３ｂを含む。また、励振コイル１３は、第２導線部１３ｃが形成されたプリント基板１３ｄを含む。第１導線部１３ａと第２導線部１３ｃとは、図示しない接続導線部により接続されている。ワイヤロープＷは、差動コイル１０および励振コイル１３の内部（内側）を通過する。また、差動コイル１０は、励振コイル１３の内側に設けられている。なお、差動コイル１０および励振コイル１３の配置はこれに限られない。なお、図４の差動コイル１０および励振コイル１３は、概略的に図示したものであり、実際の配置（構成）とは異なっている場合がある。

また、差動コイル１０は、図１７に示すように、受信コイル１１と受信コイル１２とが差動接続された差動コイルとなるように構成されている。また、受信コイル１１は、第１導線部１３ａ（図４参照）と電気的に絶縁して設けられる。受信コイル１１は、第１導線部１３ａが形成されたプリント基板１３ｂ（図４参照）に導体パターンとして形成してもよいし、プリント基板１３ｂとは異なるプリント基板、または、多層構造のフレキシブル基板に導体パターンとして形成してもよい。受信コイル１２は、第２導線部１３ｃと電気的に絶縁して設けられる。受信コイル１２は、第２導線部１３ｃが形成されたプリント基板１３ｄに導体パターンとして形成してもよいし、プリント基板１３ｄとは異なるプリント基板、または、多層構造のフレキシブル基板に導体パターンとして形成してもよい。

励振コイル１３は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。具体的には、励振コイル１３に励振交流電流が流されることにより、励振コイル１３の内部において、励振交流電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿って印加されるように構成されている。

差動コイル１０は、一対の受信コイル１１および１２の差動信号を送信するように構成されている。具体的には、差動コイル１０は、ワイヤロープＷの磁界の変化を検知して差動信号を送信するように構成されている。差動コイル１０は、検査対象物であるワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知して検知信号（電圧）を出力するように構成されている。すなわち、差動コイル１０は、磁界印加部４によりＹ方向に磁界が印加されたワイヤロープＷに対して、Ｙ方向に交差するＸ方向の磁界の変化を検知する。また、差動コイル１０は、検知したワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化に基づく差動信号（電圧）を出力するように構成されている。また、差動コイル１０は、励振コイル１３によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

ワイヤロープＷに欠陥（傷等）が存在する場合は、欠陥（傷等）のある部分でワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）が小さくなる。その結果、たとえば、差動コイル１０が、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、差動コイル１０による検知電圧の差の絶対値（差動信号）が大きくなる。一方、欠陥（傷等）のない部分での差動信号は略ゼロとなる。このように、差動コイル１０において、欠陥（傷等）の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部２は、差動信号の値に基づいてワイヤロープＷの欠陥（傷等）の存在を検出することが可能である。

（電子回路部の構成）
図３に示す電子回路部２の制御部２１は、ワイヤロープ検査装置１００の各部を制御するように構成されている。具体的には、制御部２１は、ＣＰＵ（中央処理装置）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含んでいる。

制御部２１は、差動コイル１０の差動信号（検知信号）を受信して、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。また、制御部２１は、励振コイル１３を励振させる制御を行うように構成されている。また、制御部２１は、通信部２６を介して、ワイヤロープＷの状態の検知結果を外部装置９００に送信するように構成されている。制御部２１の詳細は後述する。

受信Ｉ／Ｆ２２は、差動コイル１０からの差動信号を受信して、制御部２１に送信するように構成されている。具体的には、受信Ｉ／Ｆ２２は、増幅器を含んでいる。また、受信Ｉ／Ｆ２２は、差動コイル１０の差動信号を増幅して、制御部２１に送信するように構成されている。

励振Ｉ／Ｆ２４は、制御部２１からの信号を受信して、励振コイル１３に対する電力の供給を制御するように構成されている。具体的には、励振Ｉ／Ｆ２４は、制御部２１からの制御信号に基づいて、電源回路２５から励振コイル１３への電力の供給を制御する。

（ワイヤロープの構成、特性）
ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されている。ワイヤロープＷは、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が起こるのを防ぐために、状態（傷等の有無）を監視されている。そして、劣化が所定量より進行したワイヤロープＷは、交換される。

ワイヤロープＷは、固有の磁気特性を有している。固有の磁気特性とは、ワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）に直交する断面位置における撚（よ）りの均一度や、鋼材の量の均一度などの違いに起因して、変化する磁気特性である。ここで、ワイヤロープＷの撚りの均一度や、鋼材の量の均一度は、経時的に略変化することがない（もしくは経時的に大きく変化しにくい）。したがって、ワイヤロープＷは、固有の磁気特性を有することにより、後述するワイヤロープＷの損傷等および揺れ等がない場合、ワイヤロープ検査装置１００による時間的に互いに異なる時点における測定毎に、ワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）の各位置における出力が、略同じになる（再現性よく計測される）。

具体的には、図５（Ａ）に示すように、ワイヤロープ検査装置１００による第１測定により得られたワイヤロープＷの長手方向の位置ごとの検知信号を表す第１検知信号と、図５（Ｂ）に示すように、第１測定の後に行われる第２測定により得られたワイヤロープＷの長手方向の位置ごとの検知信号を表す第２検知信号とが略同じになる。なお、第１実施形態では、第１検知信号および第２検知信号の各々は、エレベータＥの往路において取得された信号であるとする。第１検知信号および第２検知信号の各々が、エレベータＥの復路において取得された信号であってもよい。

また、取得された第１検知信号および第２検知信号は、記憶部２３に記憶される。記憶部２３は、ワイヤロープＷの位置情報と、第１検知信号および第２検知信号のそれぞれとを関連付けた検知情報を記憶するように構成されている。なお、記憶部２３は、ＨＤＤまたはＳＳＤなどにより構成することが可能である。

また、第１実施形態では、第１検知信号は、損傷がない状態のワイヤロープＷにおいて取得された検知信号である。すなわち、予め取得されたワイヤロープＷの初期状態を表す検知信号（基準信号）が、第１検知信号として常に検査において使用される。また、第２検知信号は、現在のワイヤロープＷの検知信号である。なお、第１検知信号として、予め（初期に）取得された検知信号を用いなくてもよい。たとえば、今回取得した検知信号を、次回の測定の第１検知信号として用いてもよい。

したがって、ワイヤロープＷの長手方向（Ｘ方向）の略同じ位置における差分を取得すると、固有の磁気特性が除去された図５（Ｃ）に示すような振幅の小さな出力波形が得られる。すなわち、第１測定時および第２測定時におけるワイヤロープＷの互いの固有の磁気特性に基づく信号（出力）がキャンセルされて、図５（Ｃ）に示すような比較的平坦な出力波形が得られる。このような結果は、第１測定と第２測定との間の期間が、比較的短い期間（数秒、数分）および比較的長い期間（数ヶ月、数年）のいずれの場合でも、同様に得られる。

また、ワイヤロープＷには、上記の固有の磁気特性以外に、ワイヤロープＷの損傷等に起因する磁気特性、および、ワイヤロープＷの揺れやロープドロー（複数のワイヤロープが捩れる現象）等に起因する一時的な磁気特性が現れる場合がある。

図６では、第２測定においてワイヤロープＷに損傷（断線）があった場合の例を記載する。この場合、図６に示すように、ワイヤロープ検査装置１００による第１測定により得られた第１検知信号（図６（Ａ）参照）と、第２測定により得られた第２検知信号（図６（Ｂ）参照）との差分に、ワイヤロープＷの損傷に起因する信号（図６（Ｃ）および（Ｄ）の破線部分参照）が現れる。なお、図６（Ｄ）は、図６（Ｃ）の差分結果を微分計算することにより得られる微分結果である。

また、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する検知信号は、第１測定および第２測定の各々に現れ得る信号である。また、ワイヤロープＷにおいて揺れ等が生じる場所は一定ではないので、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号が現れる箇所は測定ごとに異なり得る。したがって、第１測定における第１検知信号と、第２測定における第２検知信号との差分（図６（Ｃ）参照）において、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する検知信号はキャンセルされない場合がある。この場合、図６（Ｃ）の差分結果および図６（Ｄ）の微分結果を見ても、ワイヤロープＷに損傷等に起因する信号か、または、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号かを判別することが困難な場合がある。

ここで、第１実施形態では、図７に示すように、制御部２１は、後述する第１加算値と後述する第２加算値との差分を算出する処理と、第１検知信号および第２検知信号に基づいた加算処理とに基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。

具体的には、制御部２１は、複数回（第１実施形態では５回）のワイヤロープＷの第１測定において差動コイル１０により取得された複数の第１検知信号同士の第１加算値と、複数回（第１実施形態では５回）のワイヤロープＷの第２測定において差動コイル１０により取得された複数の第２検知信号同士の第２加算値との差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。なお、第１加算値および第２加算値は、それぞれ、請求の範囲の「第１の値」および「第２の値」の一例である。

詳細には、制御部２１は、複数の第１検知信号同士が加算された第１加算値（図７（Ａ）参照）と、複数の第２検知信号同士が加算された第２加算値（図７（Ｂ）参照）との差分に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。図７（Ａ）および（Ｂ）は、原理説明のため便宜的に示す概念図であるが、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号を実線、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号を破線で表示している。なお、図７（Ａ）および図７（Ｂ）の破線および実線の信号は、図６（Ｄ）の微分出力の波形において現れるピーク信号に相当するものを概念的に図示したものである。

図７（Ａ）および図７（Ｂ）に示すように、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号（破線の信号）は、複数回の測定ごとに現れる位置が異なっている。このため、加算後の第１加算値および第２加算値の各々において、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号は、出力波形においてばらけた位置にプロットされる。一方、図７（Ｂ）に示すように、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号（実線の信号）は、複数回の測定ごとで現れる位置が一定である。これにより、加算後の第２加算値において、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号同士は加算され、比較的大きい信号が得られる。すなわち、第２検知信号同士を加算することにより、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号が相対的に大きくなり、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号が相対的に小さくなる（Ｓ／Ｎ比が向上する）。

なお、第１検知信号同士および第２検知信号同士の加算は、ワイヤロープＷの位置合わせ制御を行うことにより、ワイヤロープＷの略同じ位置の信号同士が加算されるように調整して行われる。具体的には、ワイヤロープ検査装置１００による検査は、エレベータＥを最上階から最下階まで等速で移動させながら行われる。したがって、測定ごとにおいて同じ時間における信号はワイヤロープＷ上の略同じ位置における信号となる。すなわち、各測定における検知信号同士で時間合わせを行うことにより、ワイヤロープＷの位置合わせ制御が行われている。なお、上記の時間合わせに基づいた位置合わせではなく、エレベータＥの位置を検知する位置センサを用いて位置合わせ制御が行われてもよい。この位置センサは、ワイヤロープ検査装置１００自体に設けられていてもよいし、ワイヤロープ検査装置１００とは別個に設けられていてもよい。

また、図８に示すように、制御部２１は、取得された第１加算値と第２加算値との差分を、上述した位置合わせ制御を行って算出する。そして、制御部２１は、算出した第１加算値と第２加算値との差分に対して微分計算を行って信号処理（図６（Ｄ）参照）を行う。

また、制御部２１は、上記微分計算により算出された微分結果に基づいて、ワイヤロープＷに欠陥があるか否か、および、ワイヤロープＷの欠陥（傷等）の大きさを判定する機能を有している。なお、制御部２１は、第１加算値と第２加算値との差分結果から直接的に上記判定を行ってもよい。

また、制御部２１は、第２検知信号に対して、差動コイル１０の感度の補正を行った上で、第１検知信号と第２検知信号との差分を取得するように構成されている。たとえば、上記補正の補正係数は、差動コイル１０が置かれる環境温度などに応じて設定されてもよい。この他、上記補正係数は、第１検知信号および第２検知信号の出力波形中の代表となるピークを比較して得られる比としてもよい。

また、第１実施形態では、制御部２１は、第１測定と同じ回数の複数回の第２測定において取得された複数の第２検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。具体的には、制御部２１は、各測定において取得された５つずつの検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。

（ワイヤロープ検査方法）
次に、図９を参照して、ワイヤロープＷの検査方法について説明する。

まず、図９に示すように、ワイヤロープＷの検査方法は、複数回のワイヤロープＷの第１測定において複数の第１検知信号を取得する工程（ステップＳ１）を備える。なお、第１測定は、５回連続で行われる。そして、５つの第１検知信号は、記憶部２３（図３参照）に記憶される。第１測定は、ワイヤロープＷをエレベータＥに使用を開始する前に行ってもよいし、使用を開始した後に行ってもよい。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、第１測定の後に、複数回のワイヤロープＷの第２測定において、複数の第２検知信号（図７（Ｂ）参照）を取得する工程（ステップＳ２）を備える。具体的には、第２測定は、第１測定から所定の期間後に行われる。また、第２測定は、５回連続で行われる。

なお、第１測定と、第２測定との間の長さは、ワイヤロープＷの切断などが生じる比較的長い期間（たとえば数十年）ではなく、ワイヤロープＷの損傷の進行を確認できる程度の所定期間（たとえば数ヶ月）に設定するのが好ましい。また、第２測定では、第１測定と同じ条件で、ワイヤロープＷの測定（検査）が行われる。たとえば、第２測定では、第１測定と同じ速度でワイヤロープ検査装置１００に対してワイヤロープＷを移動させる。また、第２測定では、第１測定と同じワイヤロープＷの位置から測定（検査）を開始して、第１測定と同じワイヤロープＷの位置で測定（検査）を終了する。第２工程により、図７（Ｂ）に示すような出力波形が得られる。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、５つの第１検知信号同士を加算することにより第１加算値を取得する（図７（Ａ）参照）工程（ステップＳ３）を備える。具体的には、制御部２１は、５つの第１検知信号同士を、ワイヤロープＷを検知した位置を略一致させる位置合わせ制御を行って加算する。なお、ステップＳ３は、ステップＳ２よりも前に行われてもよい。たとえば、５つの第１検知信号を取得した際にステップＳ３も併せて行ってもよい。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、５つの第２検知信号同士を加算することにより第２加算値を取得する（図７（Ｂ）参照）工程（ステップＳ４）を備える。具体的には、制御部２１は、５つの第２検知信号同士を、ワイヤロープＷを検知した位置を略一致させる位置合わせ制御を行って加算する。これにより、第２検知信号に、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号があれば、それぞれの第２検知信号における上記損傷等に起因する信号同士が加算される（図７（Ｂ）参照）。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、制御部２１により、ステップＳ３において算出された第１加算値と、ステップＳ４において算出された第２加算値との差分を、上記位置合わせ制御を行って算出する工程（ステップＳ５）を備える。これにより、第１測定時および第２測定時におけるワイヤロープＷの互いの固有の磁気特性に基づく信号がキャンセル（図５参照）される。これにより、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号、および、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号だけが、差分結果（図８参照）として取得される。なお、図８では、図７と同様に、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号を実線、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号を破線で表示している。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、制御部２１により、ステップＳ５において算出された差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知する工程（ステップＳ６）を備える。具体的には、制御部２１は、ステップＳ５において算出された差分に対して信号処理（微分計算）を行うことにより、微分結果（図６（Ｄ）参照）を出力する。そして、制御部２１は、出力した微分結果に基づいて、ワイヤロープＷに欠陥があるか否か、および、ワイヤロープＷの欠陥（傷等）の大きさを判定する。

（第１実施形態の効果）
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第１実施形態では、上記のように、制御部２１は、複数回のワイヤロープＷの第１測定において差動コイル１０により取得され、ワイヤロープＷの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号に基づく第１加算値（第１の値）と、第１測定の後に行われる複数回のワイヤロープＷの第２測定において差動コイル１０により取得され、ワイヤロープＷの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号に基づく第２加算値（第２の値）との差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。ここで、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号（ノイズ）は、一時的に現れるものであるので、検知信号（出力波形）の中での現れ方（出力波形において信号が現れる位置）がランダムに変化し得るものである。一方、たとえばワイヤロープＷの損傷等に起因するワイヤロープＷの信号は、一時的なものではなく、検知信号（出力波形）の中での現れ方（出力波形において信号が現れる位置）が固定されている。この特性を利用することによって、第１検知信号および第２検知信号をそれぞれ１つずつ用いる場合と異なり、複数の第１（第２）検知信号において共通に現れる信号とランダムに現れる信号とに基づいて、ワイヤロープＷの損傷等に起因して現れた信号と、ワイヤロープＷの揺れ等に起因して一時的に現れた信号との判別を行うことができる。その結果、ワイヤロープＷの損傷等または揺れ等に起因する信号（ノイズ）が存在する場合にも、ワイヤロープＷの損傷を容易に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部２１は、第１加算値（第１の値）と第２加算値（第２の値）との差分を算出する処理と、第１検知信号および第２検知信号に基づいた加算処理とに基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。ここで、上述したように、ワイヤロープＷの揺れ等に起因する信号の現れ方（出力波形において信号が現れる位置）はランダムに変化し得るとともにワイヤロープＷの損傷等に起因する信号の現れ方（出力波形において信号が現れる位置）は一定である。したがって、第１検知信号および第２検知信号に基づいた加算処理を行うことによって、ワイヤロープＷの揺れ等に起因して一時的に現れる信号同士は加算されずに出力波形においてばらけた位置にプロットされるとともに、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号同士だけを加算することができる。その結果、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号を相対的に大きくすることができるので、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号が、ワイヤロープＷに一時的に現れている信号に埋もれるのを抑制することができる。これにより、ワイヤロープＷの損傷をより容易に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部２１は、複数の第１検知信号同士を加算することに基づいて得られた第１加算値（第１の値）と、複数の第２検知信号同士を加算することに基づいて得られた第２加算値（第２の値）との差分に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。このように構成すれば、複数の第１検知信号同士、および、複数の第２検知信号同士を加算することにより、ワイヤロープＷに一時的に現れている信号同士が加算されずにワイヤロープＷの損傷等に起因する信号同士が加算されるので、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号が、ワイヤロープＷに一時的に現れている信号に埋もれるのを抑制することができる。また、第１加算値および第２加算値の全組み合わせの差分を算出する場合に比べて、制御部２１の演算処理における負荷を軽減することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部２１は、第１測定と同じ回数の複数回の第２測定において取得された複数の第２検知信号に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。このように構成すれば、複数の第１検知信号同士の加算値と、複数の第２検知信号同士の加算値との差分を算出する際に、第１検知信号および第２検知信号の両方に含まれるワイヤロープＷに固有の磁気特性に基づく信号をキャンセルする（打ち消す）ことができる。その結果、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号をより確実に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、第１検知信号は、損傷がない状態のワイヤロープＷにおいて取得された検知信号である。このように構成すれば、第２測定時にワイヤロープＷに損傷がある場合に、ワイヤロープＷの損傷をより確実に検知することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ワイヤロープＷは、複数設けられている。また、差動コイル１０は、複数のワイヤロープＷの磁気特性を一括して検知するように構成されている。このように構成すれば、複数のワイヤロープＷを個別に検査する場合に比べて、検査に要する時間を短縮することができる。これにより、複数回の測定を毎回行う必要がある場合でも、測定に要する時間が長くなるのを抑制することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープＷの磁界の変化を検知する差動コイル１０により、複数回のワイヤロープＷの第１測定において、ワイヤロープＷの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号に基づく第１加算値（第１の値）を取得する工程を備える。また、ワイヤロープ検査方法は、第１測定の後に、複数回のワイヤロープＷの第２測定において、差動コイル１０により、ワイヤロープＷの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号に基づく第２加算値（第２の値）を取得する工程を備える。そして、ワイヤロープ検査方法は、第１加算値と、第２加算値との差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知する工程を備える。このように構成すれば、複数の第１検知信号に基づく第１加算値と複数の第２検知信号に基づく第２加算値との差分に基づいてワイヤロープＷの状態を検知することにより、ワイヤロープＷの損傷等に起因して現れた信号と、ワイヤロープＷの揺れ等に起因して一時的に現れた信号との判別を容易に行うことができる。その結果、ワイヤロープＷの損傷等または揺れ等に起因する信号（ノイズ）が存在する場合にも、ワイヤロープＷの損傷を容易に検知することが可能なワイヤロープ検査方法を提供することができる。

［第２実施形態］
次に、図１０および図１１を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査装置２００の構成について説明する。この第２実施形態のワイヤロープ検査装置２００は、上記第１実施形態と異なり、複数の第１検知信号と複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知する。なお、上記第１実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。

図１０に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、電子回路部３２を備えている。電子回路部３２は、制御部３２１を含んでいる。

ここで、第２実施形態では、制御部３２１は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士の第３加算値に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。具体的には、制御部３２１は、５つの第１検知信号と、５つの第２検知信号との、全２５通りの組み合わせにおける差分同士を加算する。すなわち、第２検知信号にワイヤロープＷの損傷等に起因する信号が含まれている場合、上記損傷等に起因する信号は２５回加算されることになる。なお、第３加算値は、請求の範囲の「第３の値」の一例である。

（ワイヤロープ検査方法）
次に、図１１を参照して、ワイヤロープＷの検査方法について説明する。

図１１に示すように、ワイヤロープＷの検査方法は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分を算出する工程（ステップＳ１３）を備える。制御部３２１は、ワイヤロープＷを検知した位置を略一致させる位置合わせ制御を行って、各組み合わせにおける差分を算出する。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ１３において算出された複数の差分同士を加算して第３加算値を算出する工程（ステップＳ１４）を備える。制御部３２１は、上記位置合わせ制御を行って、上記複数の差分同士を加算する。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ１４において算出された第３加算値に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知する工程（ステップＳ１５）を備える。具体的には、制御部３２１は、ステップＳ１４において算出された第３加算値に対して信号処理（微分計算）を行うことにより、微分結果を出力する。そして、制御部３２１は、出力した微分結果に基づいて、ワイヤロープＷに欠陥があるか否か、および、ワイヤロープＷの欠陥（傷等）の大きさを判定する。

なお、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。

（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第２実施形態では、上記のように、制御部３２１は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３加算値（第３の値）に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。このように構成すれば、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号同士の加算回数を容易に大きくすることができる。その結果、ワイヤロープＷの損傷等に起因する信号が、ワイヤロープＷに一時的に現れている信号に埋もれるのをより確実に抑制する（Ｓ／Ｎ比を向上させる）ことができる。

第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。

［第３実施形態］
次に、図１２および図１３を参照して、第３実施形態によるワイヤロープ検査装置３００の構成について説明する。この第３実施形態のワイヤロープ検査装置３００は、上記第２実施形態と異なり、複数の第１検知信号と複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分に対して微分計算処理を行った後に加算処理を行う。なお、上記第２実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。

図１２に示すように、ワイヤロープ検査装置３００は、電子回路部４２を備えている。電子回路部４２は、制御部４２１を含んでいる。

ここで、第３実施形態では、制御部４２１は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士の加算値である第４加算値に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。具体的には、制御部４２１は、５つの第１検知信号と、５つの第２検知信号との、全２５通りの組み合わせにおける差分の各々に対して、微分計算処理を行う。なお、第４加算値は、請求の範囲の「第４の値」の一例である。

（ワイヤロープ検査方法）
次に、図１３を参照して、ワイヤロープＷの検査方法について説明する。

図１３に示すように、ステップＳ２４では、制御部４２１は、ステップＳ１３において算出された複数の差分の各々に対して信号処理（微分計算）を行う。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ２４において算出された複数の微分値同士を加算することにより第４加算値を算出する工程（ステップＳ２５）を備える。具体的には、制御部４２１は、ワイヤロープＷを検知した位置を略一致させる位置合わせ制御を行って、ステップＳ２４において算出された複数の微分値同士を加算する。そして、制御部４２１は、算出した第４加算値に基づいて、ワイヤロープＷに欠陥があるか否か、および、ワイヤロープＷの欠陥（傷等）の大きさを判定する。

なお、第３実施形態のその他の構成は、上記第２実施形態と同様である。

（第３実施形態の効果）
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第３実施形態では、上記のように、制御部４２１は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知するように構成されている。このように構成すれば、上記微分値同士の加算に基づいて、ワイヤロープＷに一時的に現れている信号に埋もれるのをより確実に抑制する（Ｓ／Ｎ比を向上させる）ことができる。

第３実施形態のその他の効果は、上記第２実施形態と同様である。

［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）の制御部２１（３２１、４２１）が、ワイヤロープＷの状態を検知する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、ワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）とは別個の装置が上記の制御を行ってもよい。

具体的には、図１４に示すように、ワイヤロープ検査システム５００は、ワイヤロープ検査装置４００と、外部装置９００ａとを備えている。なお、外部装置９００ａは、請求の範囲の「制御装置」の一例である。

ワイヤロープ検査装置４００は、電子回路部５２を備える。また、電子回路部５２は、制御部５２１を含む。また、外部装置９００ａは、制御部９０４を備える。

制御部５２１は、通信部２６を介して、第１測定により取得した第１検知信号と、第２測定により取得した第２検知信号とを外部装置９００ａに送信する制御を行う。

制御部９０４は、通信部９０１を介して、第１検知信号と第２検知信号とを取得する。制御部９０４は、ワイヤロープ検査装置４００における第１測定により取得した複数の第１検知信号と、ワイヤロープ検査装置４００における第２測定により取得した複数の第２検知信号との差分に基づいて、上記第１～第３実施形態のいずれかの制御により、ワイヤロープＷ（図２参照）の状態を検知するように構成されている。なお、外部装置９００ａには、ワイヤロープ検査装置４００から送信された検知信号を記憶する図示しない記憶部が設けられている。なお、外部装置９００ａの例としては、ワイヤロープ検査装置４００とは別個のＰＣまたはタブレット等の端末であってもよいし、クラウド上のサーバであってもよい。

これにより、ワイヤロープＷの損傷等に起因して現れた信号と、ワイヤロープＷの揺れ等に起因して一時的に現れた信号との判別を容易に行うことができるので、ワイヤロープＷの損傷を容易に検知することが可能なワイヤロープ検査システム５００を提供することができる。

また、上記第１～第３実施形態では、第１検知信号および第２検知信号に基づいた加算処理を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１検知信号および第２検知信号に基づいた乗算処理によって、ワイヤロープＷの状態を検知してもよい。

また、上記第１実施形態では、複数の第１検知信号同士の第１加算値（第１の値）と、複数の第２検知信号同士の第２加算値（第２の値）との差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、複数の第１検知信号の平均値と、複数の第２検知信号の平均値との差分に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知してもよい。

また、上記第２実施形態では、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士の第３加算値（第３の値）に対して信号処理（微分計算）を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、上記第３加算値の平均値に対して信号処理（微分計算）を行ってもよい。

また、上記第２実施形態では、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士の第４加算値（第４の値）に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、上記第４加算値の平均値に基づいて、ワイヤロープＷの状態を検知してもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、第１測定の回数と第２測定の回数とが等しい例を示したが、本発明はこれに限られない。第１測定の回数と第２測定の回数とが異なっていてもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、第１検知信号が、損傷のない状態のワイヤロープの検知信号である例を示したが、本発明はこれに限られない。第１検知信号が、損傷のある状態のワイヤロープの検知信号であってもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープＷが複数設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。ワイヤロープＷが単数であってもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）が固定されている例を示したが、本発明はこれに限られない。固定されたワイヤロープＷに沿ってワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）が移動してもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、第１検知信号および第２検知信号をそれぞれ５つずつ取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。第１検知信号および第２検知信号をそれぞれ、２つ～４つ、または６つ以上ずつ取得してもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）が巻上機Ｅ２の直下近傍に固定されている例を示したが、本発明はこれに限られない。ワイヤロープ検査装置１００（２００、３００）の取り付け位置は、ワイヤロープＷが通過する場所ならばどこでも良く、限定されない。

また、上記第１実施形態では、第１検知信号および第２検知信号が、エレベータＥの往路のデータである例を示したが、本発明はこれに限られない。第１検知信号および第２検知信号の各々が、エレベータＥの往路のデータおよび復路のデータの両方を含んでいてもよい。この場合のワイヤロープＷの検査方法について、図１５を用いて説明する。

図１５に示すように、ワイヤロープＷの検査方法は、複数回のワイヤロープＷの第１測定においてエレベータＥの復路に対応する複数の第１検知信号を取得する工程（ステップＳ３１）を備える。なお、図１５では、便宜上、往路の第１検知信号、往路の第２検知信号、復路の第２検知信号、および、復路の第２検知信号の各々を、３つずつ図示しているが、個数はこれに限られない。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、第１測定の後に、複数回のワイヤロープＷの第２測定において、エレベータＥの復路に対応する複数の第２検知信号を取得する工程（ステップＳ３２）を備える。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、複数の第１検知信号（復路）同士を位置合わせ制御を行って加算することにより第１加算値を取得する工程（ステップＳ３３）を備える。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、複数の第２検知信号（復路）同士を位置合わせ制御を行って加算することにより第２加算値を取得する工程（ステップＳ３４）を備える。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ３３において算出された第１加算値と、ステップＳ３４において算出された第２加算値との差分を、位置合わせ制御を行って算出する工程（ステップＳ３５）を備える。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ５において算出された差分と、ステップＳ３５において取得された差分とを、加算する工程（ステップＳ３６）を備える。この際、方向性が互いに反転している往路のデータと復路のデータとを加算するために、方向合わせの制御（いずれか一方の波形の横軸（Ｘ軸）を反転させる制御）を行って上記加算制御が行われる。具体的には、ステップＳ３６の加算制御においては、方向合わせ制御および位置合わせ制御の両方が行われる。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ３６において算出された値に対して信号処理（微分計算）を行うことにより、ワイヤロープＷの状態検知を行う工程（ステップＳ３７）を備える。

また、上記第２および第３実施形態では、第１検知信号および第２検知信号が、エレベータＥの往路のデータである例を示したが、本発明はこれに限られない。第１検知信号および第２検知信号の各々が、エレベータＥの往路のデータおよび復路のデータの両方を含んでいてもよい。この場合のワイヤロープＷの検査方法について、図１６を用いて説明する。

図１６に示すように、ワイヤロープＷの検査方法は、複数回のワイヤロープＷの第１測定において、エレベータＥの往路に対応する複数の第１検知信号と、エレベータＥの復路に対応する複数の第１検知信号とを取得する工程（ステップＳ４１）を備える。なお、図１６では、便宜上、往路の第１検知信号、往路の第２検知信号、復路の第２検知信号、および、復路の第２検知信号の各々を、３つずつ図示しているが、個数はこれに限られない。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、第１測定の後に、複数回のワイヤロープＷの第２測定において、エレベータＥの往路に対応する複数の第２検知信号と、エレベータＥの復路に対応する複数の第２検知信号とを取得する工程（ステップＳ４２）を備える。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、複数の第１検知信号と、複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分を算出する工程（ステップＳ４３）を備える。この場合、往路の第１検知信号と復路の第２検知信号、および、復路の第１検知信号と往路の第２検知信号との差分を取得する際には、位置合わせ制御に加えて方向合わせ制御が行われる。

次に、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ４３において算出された複数の差分のうちの任意のデータ同士が加算される。たとえば、第１検知信号（往路）と第２検知信号（往路）との差分同士が加算されてもよい。また、第１検知信号（復路）と第２検知信号（復路）との差分同士が加算されてもよい。また、第１検知信号（往路）と第２検知信号（復路）との差分同士が加算されてもよい。また、第１検知信号（復路）と第２検知信号（往路）との差分同士が加算されてもよい。また、ステップＳ４３において算出された全ての差分同士が加算されてもよい。

そして、ワイヤロープＷの検査方法は、ステップＳ４４において算出された第３加算値に基づき、ワイヤロープＷの状態を検知する工程（ステップＳ４５）を備える。具体的には、ステップＳ４４において算出された第３加算値に対して信号処理（微分計算）が行われることにより、微分結果が出力される。なお、ステップＳ４３において算出された差分に対して微分処理された値を用いて、ステップＳ４４と同様の加算処理が行われてもよい。

［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（項目１）
ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、
前記検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御部と、を備え、
前記制御部は、複数回の前記ワイヤロープの第１測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号に基づく第１の値と、前記第１測定の後に行われる複数回の前記ワイヤロープの第２測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号に基づく第２の値との差分に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査装置。

（項目２）
前記制御部は、前記第１の値と前記第２の値との差分を算出する処理と、前記第１検知信号および第２検知信号に基づいた加算処理とに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目１に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目３）
前記制御部は、前記複数の第１検知信号同士を加算することに基づいて得られた前記第１の値と、前記複数の第２検知信号同士を加算することに基づいて得られた前記第２の値との差分に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目２に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目４）
前記制御部は、前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目２に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目５）
前記制御部は、前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目２に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目６）
前記制御部は、前記第１測定と同じ回数の前記複数回の第２測定において取得された前記複数の第２検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目１～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目７）
前記第１検知信号は、損傷がない状態の前記ワイヤロープにおいて取得された検知信号である、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目８）
前記ワイヤロープは、複数設けられており、
前記検知コイルは、前記複数のワイヤロープの磁気特性を一括して検知するように構成されている、項目１～７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査装置。

（項目９）
ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルを含むワイヤロープ検査装置と、
前記検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、複数回の前記ワイヤロープの第１測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号に基づく第１の値と、前記第１測定の後に行われる複数回の前記ワイヤロープの第２測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号に基づく第２の値との差分に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査システム。

（項目１０）
ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルにより、複数回の前記ワイヤロープの第１測定において、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号に基づく第１の値を取得する工程と、
前記第１測定の後に、複数回の前記ワイヤロープの第２測定において、前記検知コイルにより、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号に基づく第２の値を取得する工程と、
前記第１の値と、前記第２の値との差分に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知する工程と、を備える、ワイヤロープ検査方法。

１０ 差動コイル（検知コイル）
２１、３２１、４２１ 制御部
１００、２００、３００，４００ ワイヤロープ検査装置
９００ａ 外部装置（制御装置）
５００ ワイヤロープ検査システム
Ｗ ワイヤロープ

Claims (7)

1. ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、
   前記検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御部と、を備え、
   前記制御部は、
   複数回の前記ワイヤロープの第１測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と、前記第１測定の後に行われる複数回の前記ワイヤロープの第２測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、
   前記複数の第１検知信号の平均値と、前記複数の第２検知信号の平均値との差分、
   に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査装置。
2. 前記制御部は、前記複数の第１検知信号と前記複数の第２検知信号との差分を算出する処理と、前記第１検知信号および前記第２検知信号に基づいた加算処理とに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査装置。
3. 前記制御部は、前記第１測定と同じ回数の前記複数回の第２測定において取得された前記複数の第２検知信号に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査装置。
4. 前記第１検知信号は、損傷がない状態の前記ワイヤロープにおいて取得された検知信号である、請求項１に記載のワイヤロープ検査装置。
5. 前記ワイヤロープは、複数設けられており、
   前記検知コイルは、前記複数のワイヤロープの磁気特性を一括して検知するように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査装置。
6. ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルを含むワイヤロープ検査装置と、
   前記検知コイルにより取得された検知信号を受信する制御装置と、を備え、
   前記制御装置は、
   複数回の前記ワイヤロープの第１測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と、前記第１測定の後に行われる複数回の前記ワイヤロープの第２測定において前記検知コイルにより取得され、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、
   前記複数の第１検知信号の平均値と、前記複数の第２検知信号の平均値との差分、
   に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査システム。
7. ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルにより、複数回の前記ワイヤロープの第１測定において、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第１検知信号を取得する工程と、
   前記第１測定の後に、複数回の前記ワイヤロープの第２測定において、前記検知コイルにより、前記ワイヤロープの位置ごとの検知信号を表す複数の第２検知信号を取得する工程と、
   前記複数の第１検知信号を加算することに基づいて得られた第１の値と前記複数の第２検知信号を加算することに基づいて得られた第２の値との差分、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分同士を加算することに基づいて得られた第３の値、
   前記複数の第１検知信号と、前記複数の第２検知信号との全組み合わせにおける差分の微分値同士を加算することに基づいて得られた第４の値、または、
   前記複数の第１検知信号の平均値と、前記複数の第２検知信号の平均値との差分、に基づき、前記ワイヤロープの状態を検知する工程と、を備える、ワイヤロープ検査方法。

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