JP7443960B2 - ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法 - Google Patents
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Description
ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部と、検知部により検知された検知信号を取得する制御部と、を備え、検知部は、ワイヤロープが検知部を通過しながら一方向に移動する間に、ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々が検知部を複数回通過するように設けられており、制御部は、ワイヤロープが検知部を通過しながら一方向に移動する間に検知部により検知された複数の所定長さ部分に基づく検知信号としての第1信号列に基づくデータと、第1信号列のうちの少なくとも先頭の所定の長さ分の検知信号以外の部分が第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、複数の所定長さ部分のうちの一部の所定長さ部分に対応する検知信号を重ねて加算することによって、ワイヤロープの状態を検知するように構成されている。
図1~図12を参照して、第1実施形態によるワイヤロープ検査装置100の構成について説明する。
図1に示すように、ワイヤロープ検査装置100は、検査対象物であるワイヤロープWを検査するように構成されている。ワイヤロープ検査装置100は、ワイヤロープWを定期的に検査するように構成されている。ワイヤロープ検査装置100は、ワイヤロープWの損傷を検査するように構成されている。
図3に示すように、磁界印加部4は、検査対象物であるワイヤロープWに対して予めY方向(ワイヤロープWの延びるX方向に交差する方向)に磁界を印加し磁性体であるワイヤロープWの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部4は、磁石41および42を含む第1磁界印加部と、磁石43および44を含む第2磁界印加部とを含んでいる。第1磁界印加部(磁石41および42)は、検出部1に対して、ワイヤロープWの延びる方向の一方側(X1方向側)に配置されている。また、第2磁界印加部(磁石43および44)は、検出部1に対して、ワイヤロープWの延びる方向の他方側(X2方向側)に配置されている。なお、第1磁界印加部および第2磁界印加部のいずれか一方のみが設けられる構成であってもよい。
図3に示すように、差動コイル10は、長尺材からなる磁性体であるワイヤロープWが延びる方向に沿うように配置された受信コイル11を含む。また、差動コイル10は、ワイヤロープWに対して受信コイル11が配置される側(Y1方向側)とは反対側(Y2方向側)において、受信コイル11とともにワイヤロープWを挟むように配置されている受信コイル12を含む。励振コイル13は、第1導線部13aが形成されたプリント基板13bを含む。また、励振コイル13は、第2導線部13cが形成されたプリント基板13dを含む。第1導線部13aと第2導線部13cとは、図示しない接続導線部により接続されている。ワイヤロープWは、差動コイル10および励振コイル13の内部(内側)を通過する。また、差動コイル10は、励振コイル13の内側に設けられている。なお、差動コイル10および励振コイル13の配置はこれに限られない。なお、図3の差動コイル10および励振コイル13は、概略的に図示したものであり、実際の配置(構成)とは異なっている場合がある。
図2に示す電子回路部2の制御部21は、ワイヤロープ検査装置100の各部を制御するように構成されている。具体的には、制御部21は、CPU(中央処理装置)などのプロセッサ、メモリ、AD変換器などを含んでいる。
ワイヤロープWは、磁性を有する素線材料が編みこまれる(たとえば、ストランド編みされる)ことにより形成されている。ワイヤロープWは、X方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープWは、劣化による切断が起こるのを防ぐために、状態(傷等の有無)を監視されている。そして、劣化が所定量より進行したワイヤロープWは、交換される。
次に、図11を参照して、ワイヤロープWの検査方法について説明する。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
次に、図13~図15を参照して、第2実施形態によるワイヤロープ検査装置200について説明する。この第2実施形態のワイヤロープ検査装置200は、基準データと基準抽出データとの加算、および、測定データと測定抽出データとの加算が行われる上記第1実施形態とは異なり、基準データと基準抽出データとの差分計算、および、測定データと測定抽出データとの差分計算が行われる。なお、上記第1実施形態と同様の構成は、第1実施形態と同じ符号を付して図示するとともに説明を省略する。
次に、図14を参照して、ワイヤロープWの検査方法について説明する。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
次に、図16および図17を参照して、第3実施形態によるワイヤロープ検査装置300について説明する。この第3実施形態のワイヤロープ検査装置300は、測定データと基準データとの差分と、測定抽出データと基準抽出データとの差分とを加算(ダブルラップ加算)する制御を行う上記第2実施形態とは異なり、測定データと基準データとの差分を微分計算するとともに、測定抽出データと基準抽出データとの差分を微分計算する制御を行う。なお、上記第2実施形態と同様の構成は、第2実施形態と同じ符号を付して図示するとともに説明を省略する。
次に、図17を参照して、ワイヤロープWの検査方法について説明する。
第3実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部と、
前記検知部により検知された前記検知信号を取得する制御部と、を備え、
前記検知部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々が前記検知部を複数回通過するように設けられており、
前記制御部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査装置。
前記検知部は、互いに異なる前記所定長さ部分が同時に前記検知部を通過するように配置されていることによって、前記検知部を同時に通過する互いに異なる前記所定長さ部分の磁界の変化に対応する前記検知信号を一括で検知するように設けられており、
前記制御部は、前記第1信号列に基づくデータと前記第2信号列に基づくデータとを互いの始点を合わせて加算する前記加算制御を行うことにより、前記検知部を同時に通過する互いに異なる前記所定長さ部分に対応する前記検知信号のうちの一部の前記検知信号だけを重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、項目1に記載のワイヤロープ検査装置。
前記検知部は、前記ワイヤロープが引っかけられるとともに互いに離間する第1滑車と第2滑車との間に設けられており、
前記所定長さ部分は、前記第1滑車および前記第2滑車に前記ワイヤロープが巻き付けられた際の1周分の前記ワイヤロープの長さである前記所定の長さごとの前記ワイヤロープの部分であり、
前記検知部は、前記複数の所定長さ部分のうちの一の前記所定長さ部分が前記検知部を通過している状態で、前記一の所定長さ部分と連続する前記所定長さ部分が前記検知部を通過するように配置されていることにより、連続する前記所定長さ部分の磁界の変化に対応する前記検知信号を一括で検知するように設けられている、項目2に記載のワイヤロープ検査装置。
前記第1信号列は、生データとしての測定データと、前記測定データよりも前に取得された生データとしての基準データとを含み、
前記第2信号列は、前記測定データのうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記測定データから抽出された測定抽出データと、前記基準データのうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記基準データから抽出された基準抽出データと、を含み、
前記制御部は、前記測定抽出データに基づくデータと、前記基準抽出データに基づくデータとの差分に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御を行うように構成されている、項目1~3のいずれか1項に記載のワイヤロープ検査装置。
前記制御部は、
前記測定データと前記測定抽出データとを加算することにより測定加算データを取得するとともに、前記基準データと前記基準抽出データとを加算することにより基準加算データを取得する前記加算制御と、
前記測定加算データと前記基準加算データとの差分である第1差分データを取得する差分制御と、
前記第1差分データを微分処理することにより第1微分データを取得する微分制御と、
前記第1微分データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、項目4に記載のワイヤロープ検査装置。
前記制御部は、
前記測定データと前記基準データとの差分である第2差分データを取得するとともに、前記測定抽出データと前記基準抽出データとの差分である差分抽出データを取得する差分制御と、
前記第2差分データに基づくデータと、前記差分抽出データに基づくデータとを加算する前記加算制御を行うことに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、項目4に記載のワイヤロープ検査装置。
前記制御部は、
前記第2差分データと前記差分抽出データとを加算することにより第1加算データを取得する前記加算制御と、
前記第1加算データを微分処理することにより第2微分データを取得する微分制御と、
前記第2微分データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、項目6に記載のワイヤロープ検査装置。
前記制御部は、
前記第2差分データを微分処理することにより第3微分データを取得するとともに、前記差分抽出データを微分処理することにより微分抽出データを取得する微分制御と、
前記第3微分データと前記微分抽出データとを加算することにより第2加算データを取得する前記加算制御と、
前記第2加算データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、項目6に記載のワイヤロープ検査装置。
前記制御部は、前記加算制御および前記微分制御が行われることにより取得されたデータにおいて所定の第1しきい値よりも小さい第1ピーク信号が現れている場合に、前記第1ピーク信号が現れている箇所に対応する前記第2差分データの第2ピーク信号と、前記第1ピーク信号が現れている箇所に対応する前記差分抽出データの第3ピーク信号とのずれ量に基づく値が所定の第2しきい値よりも大きいことに基づいて、前記第1ピーク信号が現れている箇所に前記ワイヤロープの損傷が発生していないことを検知するように構成されている、項目7または8に記載のワイヤロープ検査装置。
前記検知部は、エレベータに用いられる前記ワイヤロープの磁界の変化に対応する前記検知信号を検知するように構成されている、項目1~9のいずれか1項に記載のワイヤロープ検査装置。
ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部を含むワイヤロープ検査装置と、
前記検知部により検知された前記検知信号を取得する制御装置と、を備え、
前記検知部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々が前記検知部を複数回通過するように設けられており、
前記制御装置は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査システム。
ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部により、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々を前記検知部に複数回通過させるステップと、
前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
21、321、421 制御部
100、200、300、400 ワイヤロープ検査装置
900a 外部装置(制御装置)
500 ワイヤロープ検査システム
E エレベータ
E3 巻上機シーブ(第1滑車)
E4 そらせ車(第2滑車)
L 長さ(所定の長さ)
W ワイヤロープ
W10 検知部分(所定長さ部分)
α 所定の第1しきい値
Claims (12)
- ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部と、
前記検知部により検知された前記検知信号を取得する制御部と、を備え、
前記検知部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々が前記検知部を複数回通過するように設けられており、
前記制御部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査装置。 - 前記検知部は、互いに異なる前記所定長さ部分が同時に前記検知部を通過するように配置されていることによって、前記検知部を同時に通過する互いに異なる前記所定長さ部分の磁界の変化に対応する前記検知信号を一括で検知するように設けられており、
前記制御部は、前記第1信号列に基づくデータと前記第2信号列に基づくデータとを互いの始点を合わせて加算する前記加算制御を行うことにより、前記検知部を同時に通過する互いに異なる前記所定長さ部分に対応する前記検知信号のうちの一部の前記検知信号だけを重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、請求項1に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記検知部は、前記ワイヤロープが引っかけられるとともに互いに離間する第1滑車と第2滑車との間に設けられており、
前記所定長さ部分は、前記第1滑車および前記第2滑車に前記ワイヤロープが巻き付けられた際の1周分の前記ワイヤロープの長さである前記所定の長さごとの前記ワイヤロープの部分であり、
前記検知部は、前記複数の所定長さ部分のうちの一の前記所定長さ部分が前記検知部を通過している状態で、前記一の所定長さ部分と連続する前記所定長さ部分が前記検知部を通過するように配置されていることにより、連続する前記所定長さ部分の磁界の変化に対応する前記検知信号を一括で検知するように設けられている、請求項2に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記第1信号列は、生データとしての測定データと、前記測定データよりも前に取得された生データとしての基準データとを含み、
前記第2信号列は、前記測定データのうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記測定データから抽出された測定抽出データと、前記基準データのうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記基準データから抽出された基準抽出データと、を含み、
前記制御部は、
前記測定データと前記測定抽出データとを加算する前記加算制御により取得された前記測定抽出データに基づくデータと、前記基準データと前記基準抽出データとを加算する前記加算制御により取得された前記基準抽出データに基づくデータとの差分に基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御を行うように構成されているか、または、
前記測定データと前記基準データとの差分に基づくデータと、前記測定抽出データと前記基準抽出データとの差分に基づくデータとを加算する前記加算制御を行うことに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御を行うように構成されている、請求項1~3のいずれか1項に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記制御部は、
前記測定データと前記測定抽出データとを加算することにより測定加算データを取得するとともに、前記基準データと前記基準抽出データとを加算することにより基準加算データを取得する前記加算制御と、
前記測定加算データと前記基準加算データとの差分である第1差分データを取得する差分制御と、
前記第1差分データを微分処理することにより第1微分データを取得する微分制御と、
前記第1微分データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、請求項4に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記制御部は、
前記測定データと前記基準データとの差分である第2差分データを取得するとともに、前記測定抽出データと前記基準抽出データとの差分である差分抽出データを取得する差分制御と、
前記第2差分データに基づくデータと、前記差分抽出データに基づくデータとを加算する前記加算制御を行うことに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、請求項4に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記制御部は、
前記第2差分データと前記差分抽出データとを加算することにより第1加算データを取得する前記加算制御と、
前記第1加算データを微分処理することにより第2微分データを取得する微分制御と、
前記第2微分データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、請求項6に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記制御部は、
前記第2差分データを微分処理することにより第3微分データを取得するとともに、前記差分抽出データを微分処理することにより微分抽出データを取得する微分制御と、
前記第3微分データと前記微分抽出データとを加算することにより第2加算データを取得する前記加算制御と、
前記第2加算データに基づいて、前記ワイヤロープの状態を検知する制御と、を行うように構成されている、請求項6に記載のワイヤロープ検査装置。 - 前記制御部は、前記加算制御および前記微分制御が行われることにより取得されたデータにおいて所定の第1しきい値よりも小さい第1ピーク信号が現れている場合に、前記第1ピーク信号が現れている箇所に対応する前記第2差分データの第2ピーク信号と、前記第1ピーク信号が現れている箇所に対応する前記差分抽出データの第3ピーク信号とのずれ量に基づく値が所定の第2しきい値よりも大きいことに基づいて、前記第1ピーク信号が現れている箇所に前記ワイヤロープの損傷が発生していないことを検知するように構成されている、請求項7または8に記載のワイヤロープ検査装置。
- 前記検知部は、エレベータに用いられる前記ワイヤロープの磁界の変化に対応する前記検知信号を検知するように構成されている、請求項1~9のいずれか1項に記載のワイヤロープ検査装置。
- ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部を含むワイヤロープ検査装置と、
前記検知部により検知された前記検知信号を取得する制御装置と、を備え、
前記検知部は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々が前記検知部を複数回通過するように設けられており、
前記制御装置は、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するように構成されている、ワイヤロープ検査システム。 - ワイヤロープの磁界の変化に対応する検知信号を検知する検知部により、前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に、前記ワイヤロープにおける所定の長さごとの部分である複数の所定長さ部分の各々を前記検知部に複数回通過させるステップと、
前記ワイヤロープが前記検知部を通過しながら一方向に移動する間に前記検知部により検知された前記複数の所定長さ部分に基づく前記検知信号としての第1信号列に基づくデータと、前記第1信号列のうちの少なくとも先頭の前記所定の長さ分の前記検知信号以外の部分が前記第1信号列から抽出された第2信号列に基づくデータとを、互いの始点を合わせて加算する加算制御を行うことにより、前記複数の所定長さ部分のうちの一部の前記所定長さ部分に対応する前記検知信号を重ねて加算することによって、前記ワイヤロープの状態を検知するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005351626A (ja) | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Shikoku Res Inst Inc | 非破壊検査方法及びその装置 |
US20130147471A1 (en) | 2011-12-07 | 2013-06-13 | Ndt Technologies, Inc. | Magnetic inspection device and method |
WO2015166533A1 (ja) | 2014-04-28 | 2015-11-05 | 東京製綱株式会社 | ワイヤロープの検査装置 |
WO2017077570A1 (ja) | 2015-11-02 | 2017-05-11 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
JP2017088411A (ja) | 2016-12-05 | 2017-05-25 | 株式会社日立ビルシステム | ハンドレール検査装置、および、ハンドレール検査システム |
WO2019150539A1 (ja) | 2018-02-01 | 2019-08-08 | 株式会社島津製作所 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 |
JP2019194552A (ja) | 2018-05-02 | 2019-11-07 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ検査装置、及び方法 |
WO2020079747A1 (ja) | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 株式会社島津製作所 | 磁性体管理システムおよび磁性体管理方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5548649A (en) * | 1978-10-04 | 1980-04-07 | Toshiba Corp | Defect detecting device |
JPS6285856A (ja) * | 1985-10-11 | 1987-04-20 | Sanyo Tokushu Seiko Kk | 貫通型探傷装置 |
-
2020
- 2020-07-03 JP JP2020115922A patent/JP7443960B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005351626A (ja) | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Shikoku Res Inst Inc | 非破壊検査方法及びその装置 |
US20130147471A1 (en) | 2011-12-07 | 2013-06-13 | Ndt Technologies, Inc. | Magnetic inspection device and method |
WO2015166533A1 (ja) | 2014-04-28 | 2015-11-05 | 東京製綱株式会社 | ワイヤロープの検査装置 |
WO2017077570A1 (ja) | 2015-11-02 | 2017-05-11 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
JP2017088411A (ja) | 2016-12-05 | 2017-05-25 | 株式会社日立ビルシステム | ハンドレール検査装置、および、ハンドレール検査システム |
WO2019150539A1 (ja) | 2018-02-01 | 2019-08-08 | 株式会社島津製作所 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 |
JP2019194552A (ja) | 2018-05-02 | 2019-11-07 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ検査装置、及び方法 |
WO2020079747A1 (ja) | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 株式会社島津製作所 | 磁性体管理システムおよび磁性体管理方法 |
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