JPS6285856A - 貫通型探傷装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、長手方向に移動する円筒状または円柱状の
溺その他の金属材の傷を、上記移動径路を環状に囲む検
出器によって探傷する装置にか＼る。なお、この発明は
、渦電流探傷用のコイルを検出器として使用するものの
他に、蓚←適宜の原理に基く検出素子を環状に配列した
ものなどにも実施することができる。

〈従来の技術〉 交流で励磁された円環状のコイル内を貫通して被検材を
走行させ、被検材に誘導される渦電流の傷による変化を
検出することにより探傷を行う装置が、渦電流探傷装置
として知られている。その他、磁気的や光学的などの検
出素子を円環状に配列し、その中を貫通して被検材を走
行させることにより探傷を行うことも理論的に可能であ
る。

〈発明が解決しようとする問題点〉 一般に探傷装置においては、被検材の先端が検出器に接
触したり、被検材の先端が若干下方へ変歪していること
により遂次搬送ローラーに乗る変に動揺したり、被検材
先端が検出器を通過した位置でピンチローラ−が下降し
て被検材をくわえる際に動揺したり、近傍に存在する他
の霊気機器が発する雑音を拾うなどして、しばしば傷の
検出信号に雑音が混入する。被検材に存在する傷には、
被検材の長手方向に長いものと短かいものとがあリ、前
者は検出信号が雑音よりも長く続くために、時間幅によ
って雑音と区別することが可能であるが、後者は振幅及
び時間幅が共に雑音と同等であるためにこれを区別する
のが困難であるー。よって、この発明は、後者のような
短かい傷を雑音と区別して検出することを目的とする。

〈問題点を解決するための手段〉 この発明においては、環状の検出器複数個を使用し、こ
れらを被検材の長手方向に互に間隔を置いて配列する。

各検出器の出力は、被検材が当該検出器を通過してから
基準位置に到達するに要する時間だけ遅延させた上で互
に加算する。そして、この加算出力を比較回路において
基準レベルと比較し、加算出力が基準レベルを上廻って
いる時にのみ信号を取出し、これを警報、マーキング、
記録など、適宜の用途に供する。

〈作　用〉 上述の装置において、被検材の傷が各検出器を通過する
時刻は異なるから、傷の検出信号は互に異なる時刻に現
われる。一方、前述したような雑音は１各検出器に同時
刻に一斉に現われる。しかし、各検出器の出力を遅延し
たものでは、傷の検出信号は同時刻に揃い、雑音は相異
なる時刻に分散される。そこで各遅延出力を加算すると
、傷の検出信号は互に加算されてレベルが増大するのに
対し、雑音にはこのような互に加算されることによるレ
ベル増大が起こらない。よって、比較回路において、加
算された検出信号と雑音との中間に設定した成るレベル
と比較することにより、雑音を除外して、検出信号だけ
を取出すことができる。

〈実施例〉 第１図において１は被検材で、矢印２方向へ略等速度で
移動する。被検材１は、往々にして傷３を有する。被検
材１を囲んで、例えば渦電流探傷装置の検出コイルのよ
うな環状の検出器４ａＳ４ｂ。

４ｃ、４ｄが、被検材１の長手方向に互に距離を置いて
配置されている。各検出器の出力は、それぞれ遅延回路
５ａ１５ｂ、　５ｃ、　５ｄで遅延を受けた上で、加算
回路６において互に加算される。この加算出力は、比較
回路フにおいてレベル設定器８が設定するレベルと比較
され、設定レベルを越えたときは線路９に比較出力が現
われる。この比較出力は、傷の存在を示す警報、マーキ
ング、記録など、適宜の用途に供される。

上述の装置において、被検材ｌが検出器４ａの位置から
成る基準位置１０に移動する所要時間をＴａ、検出器４
ｂの位置から４ａの位置に移動する所要時間をＴｂ、検
出器４ｃの位置から４ｂの位置に移動する所要時間をＴ
ｃ、検出器４ｄの位置から４０の位置へ移動する所要時
間をＴｄとする。遅延回路５ａの遅延量はＴ　ａ　ｓ遅
延回路５ｂの遅延量はＴａ＋Ｔｂ、遅延回路５Ｃの遅延
量はＴａ　＋　Ｔｂ　＋　Ｔｃ　ｓ遅延回路５ｄの遅延
量はＴａ−）−Ｔｂ＋Ｔｃ＋Ｔｄにそれぞれ定められる
。

第２図（ａ）〜（ｄ）に示すように、傷３が検出器４ｄ
〜４ａを順次通過すると、先づ検出器４ｄに検出信号Ｓ
（１が現われ、１６時間後に検出器４ｃに検出信号Ｓｃ
が現われ、それからＴｃ時間後に検出器４ｂに検出信号
Ｓｂが現われ、更にＴＩ）時間後に検出器４ａに検出Ｓ
ａが現われる。しかし、多くの場合、雑音Ｎａ−Ｎｄは
各検出器とも同時刻に現われる。

これら検出器４ａ−４（１の出力を、それぞれ前述のよ
うな遅延量を有する遅延回路５ａ〜５ｄを通過させると
、その各遅延信号は第２図（８）〜（ｈ）のようになり
、検出信号５ａ−８ｄは同時刻に揃えられ、逆に雑音Ｎ
ａ＝Ｎｄは相異なる時刻に分散される０そこでこれらの
遅延信号を加算回路６において加算すると、第２図（１
）に示すように、検出信号５ａ−８ａは互に加算されて
高レベルの検出信号Ｓとなるが、雑音Ｎａ〜Ｎｄは加算
が行われないために低レベルのま＼である。従って、設
定器８が設定する適当なレベルＬ以上の部分だけを比較
回路７によって取出すと、第２図（ｊ）に示すように検
出信号Ｓだけになり、雑音Ｎａ−Ｎｃｌは除去される。

なお、検出器４ａに対する遅延回路５ａは必ずしも設け
る必要がないが、その場合は検出器４ａに遅延量Ｔａ＝
○の遅延回路が接続されていると解釈すべきである。ま
た、検出器４ａ−４４の相互間隔を同一にし、かつ、Ｔ
ｂ＝Ｔｃ＝Ｔａとしてもよい。

〈発明の効果〉 以上のように、この発明によるときは雑音と撮幅及び持
続時間がほぼ同等の傷検出信号を、効果的に雑音から分
離し、これに基く被検材へのマーキングや警報制御や記
録を適確に行うことが可能になる。従って、従来検出が
困難であつ−た種類の傷の検出を可能にし、金属材の品
質管理に大きく貢献するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例のブロック図、第２図はその
各部の信号波形図である。 １・・・被検材、２・・・移動方向、３・・・傷、４ａ
〜４ｄ・・・検出器、５ａ〜５ｄ・・・遅延回路、６・
・・加算回路、ツ・・・比較回路、１ｏ・・・基準位置
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）長手方向に移動する被検材を環状に囲むよう構成
   され上記長手方向に互に間隔を置いて配置されている複
   数個の検出器と、上記被検材がそれぞれの検出器を通過
   してから基準位置に到達するに要する時間だけそれぞれ
   の検出器の出力を遅延させる遅延回路と、これら遅延回
   路の出力を互に加算する加算回路と、この加算回路の出
   力の大きさに基いて上記被検材の傷の有無を判定する比
   較回路とよりなる貫通型探傷装置。