JPS6324259B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6324259B2 JPS6324259B2 JP56100361A JP10036181A JPS6324259B2 JP S6324259 B2 JPS6324259 B2 JP S6324259B2 JP 56100361 A JP56100361 A JP 56100361A JP 10036181 A JP10036181 A JP 10036181A JP S6324259 B2 JPS6324259 B2 JP S6324259B2
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- JP
- Japan
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- flaw
- signal
- circuit
- delay
- detection
- Prior art date
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- Expired
Links
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9066—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals by measuring the propagation time, or delaying the signals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、金属材料の表面近傍に存在する各種
の形状の傷を、１個の探傷子で、同時にそれぞれ
精度よく検出し得る漏洩磁束検出型磁気探傷装置
に関する。
の形状の傷を、１個の探傷子で、同時にそれぞれ
精度よく検出し得る漏洩磁束検出型磁気探傷装置
に関する。
（従来の技術）
従来の漏洩磁束検出型探傷装置の最も一般的な
タイプは、探傷子に磁気検出素子を２個備えた２
素子型である。この型の特徴を第１〜４図で説明
する。
タイプは、探傷子に磁気検出素子を２個備えた２
素子型である。この型の特徴を第１〜４図で説明
する。
第１図において、１は被検材で、２は傷部を迂
回する漏洩磁束、３は探傷子で走査方向に小さい
間隔を置いて２個の磁気検出素子４、４′を樹脂
のベースに埋め込んだものである。これら素子
は、漏洩磁束帯を通過する際、それぞれ磁束の垂
直成分または水平成分を感知し、第２図〜第３図
に実線で示す如き傷信号曲線を描く。以下垂直成
分感知の場合について説明すると、図においてａ
は素子がプラスの最大感度を示す位置、ｂはマイ
ナスの最大感度を示す位置である。２個の素子の
間隔をＤとし、ab間をｄとした場合、およそＤ
≒ｄの場合は第２図のとおり、素子４がｂ地点に
達した時、素子４′はａ地点にあり、これらの信
号を差動回路で処理すると、破線で示すとおりの
波形が得られ、検出素子が単一の場合とくらべて
２倍の信号電力が得られる。また、この際のベー
スノイズも消去されるので、SN比は２倍以上に
向上することとなる。そして、およそ2D＞ｄの
範囲では、同様にして信号電力は１〜２倍の範囲
で増加するが、およそ2D＜ｄになると第３図に
示す如く逆に減少する。このことはｄが2Dより
大きいような漏洩磁束がノイズであるか、または
検出対象でない傷に起因するものである場合は、
SN比を更に向上させることを意味する。
回する漏洩磁束、３は探傷子で走査方向に小さい
間隔を置いて２個の磁気検出素子４、４′を樹脂
のベースに埋め込んだものである。これら素子
は、漏洩磁束帯を通過する際、それぞれ磁束の垂
直成分または水平成分を感知し、第２図〜第３図
に実線で示す如き傷信号曲線を描く。以下垂直成
分感知の場合について説明すると、図においてａ
は素子がプラスの最大感度を示す位置、ｂはマイ
ナスの最大感度を示す位置である。２個の素子の
間隔をＤとし、ab間をｄとした場合、およそＤ
≒ｄの場合は第２図のとおり、素子４がｂ地点に
達した時、素子４′はａ地点にあり、これらの信
号を差動回路で処理すると、破線で示すとおりの
波形が得られ、検出素子が単一の場合とくらべて
２倍の信号電力が得られる。また、この際のベー
スノイズも消去されるので、SN比は２倍以上に
向上することとなる。そして、およそ2D＞ｄの
範囲では、同様にして信号電力は１〜２倍の範囲
で増加するが、およそ2D＜ｄになると第３図に
示す如く逆に減少する。このことはｄが2Dより
大きいような漏洩磁束がノイズであるか、または
検出対象でない傷に起因するものである場合は、
SN比を更に向上させることを意味する。
（解決すべき問題点）
以上のとおり、従来の磁気探傷装置は、Ｓ／Ｎ
比をよくする為に、２素子探傷子を用いている
が、この方式では２素子間の距離Ｄが定められる
と、感度（Ｓ／Ｎ比）よく検出され得る傷がｄ≒
Ｄという特定の大きさの漏洩磁束を出す傷に限ら
れてしまうことになる。いろいろの種類の傷を同
じように感度よく検出するには、それだけの数の
異るＤの探傷子を並べて用いるしかない。更に２
素子探触子は、両素子の受信感度が揃うように精
密に作られなければならず、歩留りが悪い等、製
作コスト上にも難点があつた。
比をよくする為に、２素子探傷子を用いている
が、この方式では２素子間の距離Ｄが定められる
と、感度（Ｓ／Ｎ比）よく検出され得る傷がｄ≒
Ｄという特定の大きさの漏洩磁束を出す傷に限ら
れてしまうことになる。いろいろの種類の傷を同
じように感度よく検出するには、それだけの数の
異るＤの探傷子を並べて用いるしかない。更に２
素子探触子は、両素子の受信感度が揃うように精
密に作られなければならず、歩留りが悪い等、製
作コスト上にも難点があつた。
本発明は、以上の問題点を解消する為になされ
たもので、その要旨とするところは、単一の磁気
検出素子を備えた探傷子と、該検出素子からの信
号を遅延させる複数個の遅延回路と、各遅延信号
と即時信号とを比較して差引量を演算する差動回
路と、各差動回路からの信号から傷信号のみを分
離するフイルター回路と、各傷信号からそれぞれ
ある設定値以上のものを弁別し、処理命令を出す
為の合否判定回路と、を主構成要素としたことを
特徴とする磁気探傷装置である。
たもので、その要旨とするところは、単一の磁気
検出素子を備えた探傷子と、該検出素子からの信
号を遅延させる複数個の遅延回路と、各遅延信号
と即時信号とを比較して差引量を演算する差動回
路と、各差動回路からの信号から傷信号のみを分
離するフイルター回路と、各傷信号からそれぞれ
ある設定値以上のものを弁別し、処理命令を出す
為の合否判定回路と、を主構成要素としたことを
特徴とする磁気探傷装置である。
（実施例および作用）
次に本発明につき詳細に説明する。第４図に本
発明装置のブロツク回路図を示す。図に示すとお
り、本発明における探傷子は、１個の磁気検出素
子のみを備えている。探傷子５が被検材表面と一
定間隔離れた位置を、相対速度Ｖで走査する。こ
の際、ａ、ｂ間距離がdiであるような漏洩磁束を
最大感度で検出したい場合、即時信号とは別に即
時信号から距離diだけ、時間にしてdi／Ｖだけ遅
らせた遅延信号を遅延回路により得て、これと即
時信号とを差動回路にかけるのである。こうする
ことで、第１図における２素子探触子の素子４′
の役割を遅延回路が果すことになり、第２図にお
ける信号波形〓および〓−と同様の信号波形が
得られる。遅延回路は、複数個を設け検出したい
各種の傷のdiに応じてそれぞれ遅延時間をdi／Ｖ
に設定する。
発明装置のブロツク回路図を示す。図に示すとお
り、本発明における探傷子は、１個の磁気検出素
子のみを備えている。探傷子５が被検材表面と一
定間隔離れた位置を、相対速度Ｖで走査する。こ
の際、ａ、ｂ間距離がdiであるような漏洩磁束を
最大感度で検出したい場合、即時信号とは別に即
時信号から距離diだけ、時間にしてdi／Ｖだけ遅
らせた遅延信号を遅延回路により得て、これと即
時信号とを差動回路にかけるのである。こうする
ことで、第１図における２素子探触子の素子４′
の役割を遅延回路が果すことになり、第２図にお
ける信号波形〓および〓−と同様の信号波形が
得られる。遅延回路は、複数個を設け検出したい
各種の傷のdiに応じてそれぞれ遅延時間をdi／Ｖ
に設定する。
本発明に用いる遅延回路としては、例えばバケ
ツト・ブリゲード回路を使用した市販の各種オー
デイオ用の信号遅延装置を用いてもよいが、より
簡素なものを設計し、使用してもよい。いずれに
しても、即時信号から複数個の遅延信号を得るの
であるから、時分割サンプリング方式を使用する
のが適切である。
ツト・ブリゲード回路を使用した市販の各種オー
デイオ用の信号遅延装置を用いてもよいが、より
簡素なものを設計し、使用してもよい。いずれに
しても、即時信号から複数個の遅延信号を得るの
であるから、時分割サンプリング方式を使用する
のが適切である。
差動回路以降、フイルター回路、合否判定回路
等は、２素子型探傷機に用いるものと同じでよ
い。なお、これら主構成要素のほかに、磁気探傷
装置として当然あるいは任意に備えるべき各種機
構、回路を、本発明装置においても備えているこ
とは勿論である。
等は、２素子型探傷機に用いるものと同じでよ
い。なお、これら主構成要素のほかに、磁気探傷
装置として当然あるいは任意に備えるべき各種機
構、回路を、本発明装置においても備えているこ
とは勿論である。
（効果）
以上の通り、本発明装置によつて単一の検出素
子、単一の探傷子でもつて、検出したい全ての漏
洩磁束について、それぞれの形状に応じて、個々
に自由に遅延回路の遅延時間をセツトしておくこ
とにより、それぞれの漏洩磁束を最大感度で検出
することができ、検査精度と検査作業能率の向上
にきわめて大きい貢献をすることができた。更に
探傷子は、検出素子を１個備えるだけなので、２
素子型における如きレベル合わせを要せず、製作
が容易となり、コストも安い利点もある。
子、単一の探傷子でもつて、検出したい全ての漏
洩磁束について、それぞれの形状に応じて、個々
に自由に遅延回路の遅延時間をセツトしておくこ
とにより、それぞれの漏洩磁束を最大感度で検出
することができ、検査精度と検査作業能率の向上
にきわめて大きい貢献をすることができた。更に
探傷子は、検出素子を１個備えるだけなので、２
素子型における如きレベル合わせを要せず、製作
が容易となり、コストも安い利点もある。
第１図は、一般の磁気探傷の原理説明図、第２
〜３図は一般の２素子型探傷子により得られる傷
信号波形で、第２図は最大に感度が向上する場
合、第３図は感度が低下する場合を示す。第４図
は本発明装置のブロツク回路図である。 １……被検材、２……漏洩磁束、３，５……探
傷子、４……検出素子、ａ……プラス最大感度
点、ｂ……マイナス最大感度点、Ｄ……２素子間
距離、ｄ……ａ〜ｂ間距離、Ｖ……探傷子と被検
材間相対速度。
〜３図は一般の２素子型探傷子により得られる傷
信号波形で、第２図は最大に感度が向上する場
合、第３図は感度が低下する場合を示す。第４図
は本発明装置のブロツク回路図である。 １……被検材、２……漏洩磁束、３，５……探
傷子、４……検出素子、ａ……プラス最大感度
点、ｂ……マイナス最大感度点、Ｄ……２素子間
距離、ｄ……ａ〜ｂ間距離、Ｖ……探傷子と被検
材間相対速度。
Claims (1)
- １ 単一の磁気検出素子を備えた探傷子と、該検
出素子からの信号を遅延させる複数個の遅延回路
と各遅延回路からの遅延信号と即時信号とを比較
して差引量を演算する差動回路と、各差動回路か
らの信号から傷信号のみを分離するフイルター回
路と各傷信号からそれぞれある設定値以上のもの
を弁別し処理命令を出す為の合否判定回路と、を
主構成要素としたことを特徴とする磁気探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036181A JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036181A JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582649A JPS582649A (ja) | 1983-01-08 |
| JPS6324259B2 true JPS6324259B2 (ja) | 1988-05-19 |
Family
ID=14271934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10036181A Granted JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582649A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3971952B2 (ja) * | 2002-05-07 | 2007-09-05 | 新日本製鐵株式会社 | 鋼材の表面疵検出装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS604127Y2 (ja) * | 1975-12-05 | 1985-02-05 | 住友金属工業株式会社 | 差動型磁気探傷装置 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP10036181A patent/JPS582649A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS582649A (ja) | 1983-01-08 |
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