JPS5836305B2 - 内外面疵弁別装置 - Google Patents

内外面疵弁別装置

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JPS5836305B2
JPS5836305B2 JP10461979A JP10461979A JPS5836305B2 JP S5836305 B2 JPS5836305 B2 JP S5836305B2 JP 10461979 A JP10461979 A JP 10461979A JP 10461979 A JP10461979 A JP 10461979A JP S5836305 B2 JPS5836305 B2 JP S5836305B2
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JP
Japan
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signal
output
flaw
internal
circuit
Prior art date
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Expired
Application number
JP10461979A
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English (en)
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JPS5629157A (en
Inventor
哲也 広田
龍夫 広島
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、鋼管の如き被検査材の内外面疵を同時探傷す
る磁気探傷装置における内面疵と外面疵との弁別装置に
関する。
被検査材例えば鋼管1の表面に開口した小さな疵や表面
のごく近くにある疵を検出するために、第1図の如き自
動磁気探傷装置が用いられている。
この自動磁気探傷装置は、鋼管1の周囲に設置したマグ
ネット6、8により磁性体である鋼管1を磁化し、そし
て内面疵あるいは外面疵により生ずる漏洩磁束を鋼管1
の周囲に更に設けたセンサ2、4によって検出して表面
疵を探傷する。
一般に、鋼管1の外面疵と内面疵の大きさが同一である
場合、上記センサ2又は4からの疵検出信号は第2図の
如き特性を有する。
即ち、外面疵と内面疵とではセンサーからの距離が異な
るため、内面疵信号は振副が比較的小さく低周波数或分
を主としており、一方外面疵信号は振副が比較的大きく
高周波或分を主としている。
従来、鋼管1の内外面疵を同時探傷する自動磁気探傷装
置においては、内面疵と外面疵とを弁別するために第2
図に示された特性を利用している。
この弁別装置は、例えば特公昭43−25757号に開
示された論理回路を含む磁気探傷装置に示されている。
その弁別装置は、センサの疵検出信号が所定のレベルよ
りも高い場合にその信号部分を通過させる第1比較器と
、疵検出信号の一定周波数以上の高周波或分が所定のレ
ベルよりも高い場合にその信号部分を通過させる第2比
較器とを備えている。
更に上記弁別装置は、第1及び第2の比較器の両方に信
号が存在する場合にその疵信号を外面疵として判断する
第1電気回路と、第1比較器にだけ出力が存在する場合
にその疵信号を内面疵として判断する電気回路とを含ん
でいる。
しかしながら、この弁別装置では、第2図に示す如く、
内外面疵信号の周波数成分は完全に分離しておらず、例
えば深い内面疵信号を検出した場合フィルタ回路で充分
減衰せず、内面疵信号が外面疵信号弁別回路に現われて
外面疵と誤判定される欠点がある。
また、上記弁別装置では、第1及び第2の比較器からの
出力をAND回路に入力するため、これら出力の有無に
よりオン、オフ信号に変換するフリツプフロツプを必要
とし、更にこのフリツプフロツプをリセットするためリ
セットパルスを一定時間毎に入力しなければならない。
従って、一つの疵に対応する疵信号を受けた第1又は第
2の比較器の出力によりフリツプフロツプがオン信号を
発した後リセットパルスが入力されるまでの間、上記疵
に連続して存在する後続疵に対応する後続疵信号が第1
又は第2の比較器に入力される時、フリツプフロツプが
まだオン信号を発している状態にある。
その結果フリツプフロツプ以下の回路は状態が変化せず
、それら後続の疵信号が看過されてしまうという不都合
が生じる。
従って、本発明の目的は、被検査材の内外面疵を正確に
弁別することが可能な弁別装置を提供することである。
以下図面を参照して本発明を説明する。
第3図に本発明による内外面疵弁別装置を示す。
本弁別装置は、第1図のセンサからのセンサ出力を夫々
受けるハイパスフィルタ回路10、アツテネータ回路1
8及びローパスフィルタ回路14とを含む。
ハイパスフィルタ回路10はセンサ出力を受(+、その
高い周波数或分を通してピークホールド回路12に与え
る。
アツテネータ回路18は周波数特性を有しておらず、上
記センサ出力を全周波数に渡ってほぼ一様に減衰させて
ピーク検出器20に与える。
ローパスフィルタ回路14はセンサ出力を受け、その低
い周波数或分を通してピークホールド回路16に与える
ピーク検出器20は、アツテネータ回路18の出力信号
のピークを検出してピークを示す信号をホールド回路2
2と第1単安定回路24に与える。
第1単安定回路24はピーク検出器20からの出力でト
リガされて一定の副のパルスを発生し、このパルスによ
って更に第2単安定回路26をトリガする。
更に第2単安定回路26はトリガされてある一定の副の
パルスを発生し、このパルスは第3単安定回路をトリガ
すると同時に後で述べるアナログスイッチ34及び36
の判定タイミング信号となる。
トリガされた第3単安定回路28は、ある一定の副のパ
ルスを発生してピークホールド回路12、16及びホー
ルド回路22に与える。
ピークホールド回路12、16は、ハイパスフィルタ回
路10及びローパスフィルタ回路14からの信号のピー
クを検出し、そしてそのピークを第3単安定回路28か
らのリセット用パルスを受けるまでホールドする。
同様に、ホールド回路22はピーク検出器20からの出
力のピークを第3単安定回路28からのリセット用パル
スを受けるまでホールドする。
これらピークホールド回路12、16及びホールド回路
22の出力は夫々差動増幅器30、32に与えられる。
差動増幅器30は、その正入力にピークホールド回路1
2からの出力を受け、一方負入力にはホールド回路22
からの出力を受ける。
差動増幅器32は、その正入力にピークホールド回路1
6からの出力を受け、一方負入力にホールド回路22か
らの出力を受ける。
各差動増幅器30、32は、正入力と負入力とに加えら
れた信号の差に相当する出力を発生して各アナログスイ
ッチ34、36に加える。
各アナログスイッチ34、36は、第2単安定回路から
の判定タイミング信号を受けたときにのみその入力に加
えられた信号の正の部分を通過させて出力し、判定タイ
ミング信号が加えられていない間はその入力に与えられ
る信号を通過させない。
以上に述べた構威を有する本弁別装置の動作について第
4図を参照して説明する。
センサの出力が第4図のAの如き外面疵信号とこの外面
疵信号よりも大きな内面疵信号とを有する場合について
説明する。
ハイパスフィルタ回路10は、センサ出力Aの内比較的
低い周波数戊分を主とする内面疵信号を減衰させて出力
Bを発生し、この出力Bを受けるピークホールド回路1
2はその出力Bのピークを検出してホールドし、次の差
動増幅器30での比較に適する波形を有する出力Fを発
生する。
逆に、ローパスフィルタ回路14は、センサ出力Aの内
比較的高い周波数或分を主とする外面疵信号を減衰させ
て出力Dを発生し、この出力Dを受けるピークホールド
回路16はその出力Dのピークを検出してホールドし、
次の差動増幅器32での比較に適する波形を有する出力
Hを発生する。
一方、アツテネータ回路18は内面疵信号と外面疵信号
の両方を減衰させて出力Cを発生し、この出力Cを受け
るピーク検出器20はその出力Cのピークで急に立ち下
がる出力Eを発生する。
この出力Eは、ホールド回路22によってピークがホー
ルドされて次の差動増幅器30、32での比較に適した
波形を有する信号Gに変形される。
信号Gは各差動増幅器30、32では比較用の基準電位
として利用される。
信号Fは比較的高い周波数或分の電位を表わす信号であ
り、そして信号Hは比較的低い周波数或分の電位を表わ
す信号である。
従って、センサ出力Aの外面疵信号の場合には、信号G
の基準電位よりも信号Fの電位の方が高く、センサ出力
Aの内面疵信号の場合には、信号Gの基準電位よりも信
号Hの電位の方が高い。
この原理により、信号Fと信号Gとを受ける差動増幅器
30は外面疵の場合に正の信号を発生し、一方信号Hと
信号Gとを受ける差動増幅器32は内面疵の場合に正の
信号を発生する。
各差動増幅器30、32の出力を受ける各アナログスイ
ッチ34、36は、判定タイミング信号Jを受けている
間のみ正の信号を通過させて外面疵判定信号L及び内面
疵判定信号Mを出力する。
この判定タイミング信号Jの目的は、各差動増幅器30
、32の出力の内最も信頼できる出力のみを得ることで
ある。
即ち、各差動増幅器30、32は、信号F及びHと信号
Gとの間の差に比例した信号を常に出力しているため、
各信号F,H及びGの立ち上がり時においても差信号を
出力し、この信号は全く信頼できるものではない。
各信号F1G,Hのピーク部分を比較した差動増幅器の
出力が最も信頼できる信号である。
従って、信号Eによりトリガされた第1単安定回路24
は、出力■により単2単安定回路26をトリガして、信
号F1G及びHのピーク部分と同期した判定タイミング
信号Jを発生させる。
このようにして発生したタイミング信号Jはアナログス
イッチ34、36に加えられると同時に第3単安定回路
28にも加えられ、それによってトリガされた第3単安
定回路28はピークホールド回路12、16及びホール
ド回路22をリセットするための信号Kを出力する。
上記本発明の弁別装置においては、差動増幅器を2個用
いているが、差動増幅器をl個用いて弁別することもで
きる。
即ち、1個の差動増幅器の負入力に信号Gを常に入力し
、一方その正入力には信号F及びHをその最大周波数の
2倍の速度でサンプリングしたサンプルを交互に入力し
て弁別することが可能である。
以上に説明した本発明の内外面疵弁別装置は、アツテネ
ータ回路での減衰度を基準としたときのハイパスフィル
タ回路及びローパスフィルタ回路での減衰程度により、
センサ出力における内外面疵の弁別をするため、内外面
疵を高い確度でしかも短時間に判定することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、磁気探傷装置の概略図を示す。 第2図は、鋼管の内外面疵信号の周波数対振幅特性を示
す。 第3図は、本発明の弁別装置の実施例のブロック図を示
す。 第4図は、第3図の回路の各部の信号波形を示す。 符号説明 1:鋼管、2,4:センサ、8:マグネット。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 鋼管の周囲に配置されたセンサーで前記鋼管の内外
    面の疵を探傷する磁気探傷装置において、前記センサの
    信号を夫々受けるローパスフィルタ装置、ハイパスフィ
    ルタ装置及びアツテネータ装置を設け、該アツテネータ
    装置の出力と前記ローバスフィルタ装置の出力及び前記
    ハイパスフィルタ装置の出力とを比較する装置を設けた
    内外面疵弁別装置。
JP10461979A 1979-08-17 1979-08-17 内外面疵弁別装置 Expired JPS5836305B2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10461979A JPS5836305B2 (ja) 1979-08-17 1979-08-17 内外面疵弁別装置

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JP10461979A JPS5836305B2 (ja) 1979-08-17 1979-08-17 内外面疵弁別装置

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Publication Number Publication Date
JPS5629157A JPS5629157A (en) 1981-03-23
JPS5836305B2 true JPS5836305B2 (ja) 1983-08-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0237307U (ja) * 1989-04-27 1990-03-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0237307U (ja) * 1989-04-27 1990-03-12

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JPS5629157A (en) 1981-03-23

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