JPS5819986B2 - ニンイリヨウイキニツイテノ ａｅ シンゴウシンプクブンプソクテイソウチ - Google Patents
ニンイリヨウイキニツイテノ ａｅ シンゴウシンプクブンプソクテイソウチInfo
- Publication number
- JPS5819986B2 JPS5819986B2 JP50109645A JP10964575A JPS5819986B2 JP S5819986 B2 JPS5819986 B2 JP S5819986B2 JP 50109645 A JP50109645 A JP 50109645A JP 10964575 A JP10964575 A JP 10964575A JP S5819986 B2 JPS5819986 B2 JP S5819986B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- amplitude
- multiplied
- amplitude distribution
- generation position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被測定物から発生するＡＥ倍信号アコース
ティック・エミッション信号）を検出し、ＡＥ信号振幅
値と発生頻度とから振幅分布を測定する装置に関するも
のである。
ティック・エミッション信号）を検出し、ＡＥ信号振幅
値と発生頻度とから振幅分布を測定する装置に関するも
のである。
固体材料に外力が作用すると、欠陥箇所からＡＥ倍信号
発生し、固体材料中を伝播する。
発生し、固体材料中を伝播する。
かかる音響放出現象を利用すると、原子炉圧力容器や一
次冷却系配管などの構造物の稼動中に生ずる各種欠陥の
進展を監視すると共に、それらの健全性を常時診断し、
それらの構造物の安全性を確保することができる。
次冷却系配管などの構造物の稼動中に生ずる各種欠陥の
進展を監視すると共に、それらの健全性を常時診断し、
それらの構造物の安全性を確保することができる。
ＡＥ倍信号よって構造物の破壊予知を行う場合、振幅分
布データは重要なパラメータの一つである。
布データは重要なパラメータの一つである。
即ち、得られたＡＥ倍信号振幅電圧値と発生頻度との関
係である振幅分布を求めると、破壊が近づくと高電圧成
分が増加するからである。
係である振幅分布を求めると、破壊が近づくと高電圧成
分が増加するからである。
従来の振幅分布測定法は、被測定物のどこからでも発生
するＡＥ倍信号ついてＡＥ信号変換子で電気信号に変換
し、得られた振幅電圧値と発生頻度とから求めるもので
あった。
するＡＥ倍信号ついてＡＥ信号変換子で電気信号に変換
し、得られた振幅電圧値と発生頻度とから求めるもので
あった。
か５る方法では解析にカバる信号が本当に危険区域から
のものであるという保障は全くなく、またＡＥ倍信号被
測定物中を伝播する際減衰していくので、へＥ信号の発
生位置と測定位置との間での減衰分考慮しなければ正当
な評価に使用できないのである。
のものであるという保障は全くなく、またＡＥ倍信号被
測定物中を伝播する際減衰していくので、へＥ信号の発
生位置と測定位置との間での減衰分考慮しなければ正当
な評価に使用できないのである。
この発明はか５る実情に鑑みなされたもので、その目的
とするところは、予め設定した重点区域、危険区域から
発生するＡＥ倍信号けについて、変換子により得られた
ＡＥ倍信号発生位置での振幅値に補正してとり込むこと
ができ、信頼性の高いデータを得ることができるＡＥ信
号振幅分布測定装置を得ることにある。
とするところは、予め設定した重点区域、危険区域から
発生するＡＥ倍信号けについて、変換子により得られた
ＡＥ倍信号発生位置での振幅値に補正してとり込むこと
ができ、信頼性の高いデータを得ることができるＡＥ信
号振幅分布測定装置を得ることにある。
この発明は、一組のＡＥ信号変換子に到達する′ＡＥ信
号の到達時間差と到達順位とからＡＥ倍信号発生位置を
標定する装置、振幅電圧の減衰補正計算回路、振幅分布
測定区間設定回路及び振幅分布測定装置より成り、予め
設定した測定区間内にＡＥ信号発生位置がある場合に、
当該発生位置でのＡＥ信号振幅を振幅分布測定装置に導
き、振幅別にＡＥ信号発生頻度を計数するようにした任
意領域についてのＡＥ信号振幅分布測定装置である。
号の到達時間差と到達順位とからＡＥ倍信号発生位置を
標定する装置、振幅電圧の減衰補正計算回路、振幅分布
測定区間設定回路及び振幅分布測定装置より成り、予め
設定した測定区間内にＡＥ信号発生位置がある場合に、
当該発生位置でのＡＥ信号振幅を振幅分布測定装置に導
き、振幅別にＡＥ信号発生頻度を計数するようにした任
意領域についてのＡＥ信号振幅分布測定装置である。
以下図面に基づきこの発明について詳述する。
図面はこの発明の一実施例のフ七ツク図であり、被測定
物が１次元構造物の場合について適用した例である。
物が１次元構造物の場合について適用した例である。
被測定物１の両端適宜箇所に一対のＡＥ信号変換子２ａ
、２ｂが貼設されている。
、２ｂが貼設されている。
各ＡＥ信号変換子からの出力は夫々アンプ／フィルタ３
ａ、３ｂ及びピークホールド回路４ａ、４ｂに接続され
た後、時間差測定回路５に導かれ、更に信号位置計算装
置６へ送られる。
ａ、３ｂ及びピークホールド回路４ａ、４ｂに接続され
た後、時間差測定回路５に導かれ、更に信号位置計算装
置６へ送られる。
また、前記アンプ／フィルタ３ａ、３ｂからの出力は到
達順位弁別回路７に送られ到達順位に関する信号は前記
の信号位置計算装置６へ送られる。
達順位弁別回路７に送られ到達順位に関する信号は前記
の信号位置計算装置６へ送られる。
マニュアル入力により測定区間を任意に設定しうるよう
にした振幅分布測定区間設定回路８に前記信号位置計算
装置６からの位置計算結果を導くようにし、ピークホー
ルド回路４ａ、４ｂからのＡＥ信号振幅電圧と到達順位
並びに位置計算結果とを減衰補正計算回路９に送り、そ
の出力を振幅分布測定装置１０に導くように構成されて
いる。
にした振幅分布測定区間設定回路８に前記信号位置計算
装置６からの位置計算結果を導くようにし、ピークホー
ルド回路４ａ、４ｂからのＡＥ信号振幅電圧と到達順位
並びに位置計算結果とを減衰補正計算回路９に送り、そ
の出力を振幅分布測定装置１０に導くように構成されて
いる。
次にこの装置の動作について説明する。
被測定物中に発生したＡＥ倍信号被測定物中を伝播する
。
。
この機械的ＡＥ倍信号ＡＥ信号変換子２ａ、２ｂにより
電気信号に変換される訳であるが、ＡＥ信号発生位置に
近い方の変換子に早＜ＡＥ倍信号現われることになる。
電気信号に変換される訳であるが、ＡＥ信号発生位置に
近い方の変換子に早＜ＡＥ倍信号現われることになる。
このように電気信号に変換されたＡＥ倍信号夫々アンプ
／フィルタ３ａ、３ｂに送られる。
／フィルタ３ａ、３ｂに送られる。
アンプ部によって微小ＡＥ倍信号適宜の振幅に増幅し、
フィルタ部によって環境雑音の比較的多い低周波成分を
減衰させＡＥ倍信号Ｓ／Ｎ比を向上させている。
フィルタ部によって環境雑音の比較的多い低周波成分を
減衰させＡＥ倍信号Ｓ／Ｎ比を向上させている。
かくして得られたＡＥ倍信号ピークホールド回路４ａ、
４ｂに送られる。
４ｂに送られる。
このピークホールド回路４ａ、４ｂは入力信号の最も高
いレベルを予め設定した一定時間だけ保持する機能を有
する回路であり、このようにして得られたピークホール
ド信号の立下り部を測定の基準とし、時間差測定回路５
で両ピークホールド信号の立下り時の時間差を測定する
。
いレベルを予め設定した一定時間だけ保持する機能を有
する回路であり、このようにして得られたピークホール
ド信号の立下り部を測定の基準とし、時間差測定回路５
で両ピークホールド信号の立下り時の時間差を測定する
。
次に到達順位弁別回路７は、ＡＥ倍信号どちらの変換子
に先に到達したかを判別するもので、これによってＡＥ
倍信号発生位置が変換子２ａ寄りにあるか、変換子２ｂ
寄りにあるかを判断することができる。
に先に到達したかを判別するもので、これによってＡＥ
倍信号発生位置が変換子２ａ寄りにあるか、変換子２ｂ
寄りにあるかを判断することができる。
以上の到達時間差に関する情報と到達順位に関する情報
は信号位置計算装置６に送られ、ＡＥ信号伝播速度との
関係からＡＥ倍信号発生位置を算出するのである。
は信号位置計算装置６に送られ、ＡＥ信号伝播速度との
関係からＡＥ倍信号発生位置を算出するのである。
被測定物１の重点区域、危険区域を予め設定し、振幅分
布測定区間設定回路８はその区域の上限値、下限値をマ
ニュアルで入力しうるようになっており、このようにし
て設定された測定区間と信号位置計算装置６からの位置
計算結果を比較し、ＡＥ信号発生位置が測定区間内にあ
る場合にのみ信号を減衰補正計算回路９に送り振幅電圧
を採取しうるようになっている。
布測定区間設定回路８はその区域の上限値、下限値をマ
ニュアルで入力しうるようになっており、このようにし
て設定された測定区間と信号位置計算装置６からの位置
計算結果を比較し、ＡＥ信号発生位置が測定区間内にあ
る場合にのみ信号を減衰補正計算回路９に送り振幅電圧
を採取しうるようになっている。
ところでＡＥ倍信号構造物中を伝播する際その振幅が減
衰する。
衰する。
１次元構造物の場合、実験結果によれば伝播してきたＡ
Ｅ倍信号振幅値Ｅと発生位置での振幅値Ｅｏとの間には
、 Ｅ−Ｃ−Ｅｏ−Ｌ−７ なる関係が成立つ。
Ｅ倍信号振幅値Ｅと発生位置での振幅値Ｅｏとの間には
、 Ｅ−Ｃ−Ｅｏ−Ｌ−７ なる関係が成立つ。
こＳでＬは信号の伝播距離、Ｃは比例定数である。
それ故、測定したＡＥ信号振幅値Ｅと伝播距離りとから
発生位置での振幅値Ｅｏを求めることができる。
発生位置での振幅値Ｅｏを求めることができる。
減衰補正計算回路９はピークホールド回路４ａ、４ｂに
よって得られたＡＥ倍信号振幅値とＡＥ信号発生位置計
算結果とから上記の減衰式に従った演算処理をし、発生
位置でのＡＥ信号振幅値を求め、振幅分布測定装置１０
に送る。
よって得られたＡＥ倍信号振幅値とＡＥ信号発生位置計
算結果とから上記の減衰式に従った演算処理をし、発生
位置でのＡＥ信号振幅値を求め、振幅分布測定装置１０
に送る。
この振幅分布測定装置１０は、ＡＥ信号振幅値をその振
幅別にＡＥ信号発生頻度を計数するものであり、例えば
基本的にはＡ／Ｄコンバータと多数のカウンタにて構成
される。
幅別にＡＥ信号発生頻度を計数するものであり、例えば
基本的にはＡ／Ｄコンバータと多数のカウンタにて構成
される。
かくして、ＡＥ倍信号発生位置が測定区間内にある場合
にのみ、得られたＡＥ倍信号その発生位置での振幅に補
正し、その振幅別に発生頻度を計数して振幅分布を求め
ることができるのである。
にのみ、得られたＡＥ倍信号その発生位置での振幅に補
正し、その振幅別に発生頻度を計数して振幅分布を求め
ることができるのである。
なお、この実施例は被測定物が１次元構造の場合につい
て適用した例であるが、３〜４個のＡＥ信号変換子を設
置することによって、２次元構造物等についても同様に
欠陥位置を標定しうろことは熱論である。
て適用した例であるが、３〜４個のＡＥ信号変換子を設
置することによって、２次元構造物等についても同様に
欠陥位置を標定しうろことは熱論である。
この発明は土間のように構成したことにより、予め設定
した危険区域から発生するＡＥ倍信号けについて解析を
行うことができるので、振幅データの信頼性が高く、ま
た、ＡＥ倍信号伝播による減衰分を補正しているので、
振幅データに対し正当な評価ができ、他の危険区域にお
ける振幅分布データとの間での比較を行うことができ、
構造物の破壊予知、欠陥危険度の推定を行う場合に著し
く信頼性を高めることができる。
した危険区域から発生するＡＥ倍信号けについて解析を
行うことができるので、振幅データの信頼性が高く、ま
た、ＡＥ倍信号伝播による減衰分を補正しているので、
振幅データに対し正当な評価ができ、他の危険区域にお
ける振幅分布データとの間での比較を行うことができ、
構造物の破壊予知、欠陥危険度の推定を行う場合に著し
く信頼性を高めることができる。
図面はこの発明の一実施例のブロック図である。
２ａ 、 ２ｂ・・・・・・ＡＥ信号変換子、８・・・
・・・振幅分布測定区間設定回路、９・・・・・・減衰
補正計算回路、１０・・・・・・振幅分布測定装置。
・・・振幅分布測定区間設定回路、９・・・・・・減衰
補正計算回路、１０・・・・・・振幅分布測定装置。
Claims (1)
- １ 一組のＡＥ信号変換子に到達するＡＥ倍信号到達時
間差と到達順位とからＡＥ倍信号発生位置を標定する装
置、振幅電圧の減衰補正計算回路、振幅分布測定区間設
定回路及び振幅分布測定装置より成り、予め設定した測
定区間内にＡＥ信号発生位置がある場合に、当該発生位
置でのＡＥ信号振幅を振幅分布測定装置に導き、振幅別
にＡＥ信号発生頻度を計数するようにしたことを特徴と
するＡＥ信号振幅分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109645A JPS5819986B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ニンイリヨウイキニツイテノ ａｅ シンゴウシンプクブンプソクテイソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109645A JPS5819986B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ニンイリヨウイキニツイテノ ａｅ シンゴウシンプクブンプソクテイソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5233787A JPS5233787A (en) | 1977-03-15 |
| JPS5819986B2 true JPS5819986B2 (ja) | 1983-04-21 |
Family
ID=14515522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50109645A Expired JPS5819986B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ニンイリヨウイキニツイテノ ａｅ シンゴウシンプクブンプソクテイソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819986B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0116754B2 (ja) * | 1983-07-26 | 1989-03-27 | Nippon Steel Corp |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5111278A (en) * | 1991-03-27 | 1992-05-05 | Eichelberger Charles W | Three-dimensional multichip module systems |
| JP5584973B2 (ja) * | 2008-11-21 | 2014-09-10 | 株式会社大林組 | 地盤のゆるみ検知方法、地盤のゆるみ検知システム |
| JP5313117B2 (ja) * | 2009-11-27 | 2013-10-09 | 三菱化学エンジニアリング株式会社 | 腐食検査システム、腐食検査装置、及び腐食検査方法 |
-
1975
- 1975-09-10 JP JP50109645A patent/JPS5819986B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0116754B2 (ja) * | 1983-07-26 | 1989-03-27 | Nippon Steel Corp |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5233787A (en) | 1977-03-15 |
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