JPS5940268B2 - アコ−スティック・エミッション信号検出感度検査方法及び装置 - Google Patents
アコ−スティック・エミッション信号検出感度検査方法及び装置Info
- Publication number
- JPS5940268B2 JPS5940268B2 JP52041186A JP4118677A JPS5940268B2 JP S5940268 B2 JPS5940268 B2 JP S5940268B2 JP 52041186 A JP52041186 A JP 52041186A JP 4118677 A JP4118677 A JP 4118677A JP S5940268 B2 JPS5940268 B2 JP S5940268B2
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- Japan
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- signal
- pseudo
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多チャンネルを有するアコースティック・工ミ
ッション（ＡｃｏｕｓｔｉｃＥｍｉｓｓｉｏｎ以下、単
にＡＥという。
ッション（ＡｃｏｕｓｔｉｃＥｍｉｓｓｉｏｎ以下、単
にＡＥという。
）信号検出装置（ＡＥ計測システム）の各チャンネルの
ＡＥ信号検出感度を自動的に検査する方法及びその装置
に関する。ＡＥ計測システムにおいては、多数のＡＥセ
ンサを被試験体表面に取付けて各ＡＥセンサヘの各ＡＥ
信号の到着時間差によりその発生位置をオンラインある
いはオフラインで計算し標定しているが、各ＡＥ信号を
同一感度で検出することが異常個所の正確な位置標定及
び各ＡＥ信号の重大度評価に必要とされる。
ＡＥ信号検出感度を自動的に検査する方法及びその装置
に関する。ＡＥ計測システムにおいては、多数のＡＥセ
ンサを被試験体表面に取付けて各ＡＥセンサヘの各ＡＥ
信号の到着時間差によりその発生位置をオンラインある
いはオフラインで計算し標定しているが、各ＡＥ信号を
同一感度で検出することが異常個所の正確な位置標定及
び各ＡＥ信号の重大度評価に必要とされる。
このため、ＡＥ信号検出の際には各チヤンネルのＡＥ検
出感度の検査が行われねばならない。従来のＡＥ計測シ
ステムでは、前記の感度検査は次の方法により行われた
。
出感度の検査が行われねばならない。従来のＡＥ計測シ
ステムでは、前記の感度検査は次の方法により行われた
。
すなわち、（１）立上りあるいは立下時間の短いパルス
をＡＥセンサと同一の構造の振動子に加えて擬似ＡＥ源
として励振させて各チヤンネルの出力信号を視察し検査
する、（２）機械的に励振させた擬似ＡＥ源を機械油、
グリース等の接触媒質を介して被試験体表面に取付けて
、各チヤンネルの出力信号を観察し検査する。
をＡＥセンサと同一の構造の振動子に加えて擬似ＡＥ源
として励振させて各チヤンネルの出力信号を視察し検査
する、（２）機械的に励振させた擬似ＡＥ源を機械油、
グリース等の接触媒質を介して被試験体表面に取付けて
、各チヤンネルの出力信号を観察し検査する。
しかし、これらの従来の感度検査方法は以下の欠点を有
している。
している。
すなわち、１つの擬似ＡＥ源により感度検査が出来るチ
ヤンネルは該ＡＥ源のごく近辺の数個のチヤンネルにす
ぎず、全システムの感度検査を行うには数ケ所において
前記の操作を繰返さねばならないので時間がか＼りかつ
検査が不正確であつた。また長時間のＡＥ計測が必要と
される場合にＣ丸各ＡＥセンサの被試５験体への密着不
良や計器の故障が発生しがちであるので信頼性を維持す
るために各ＡＥ信号を一定の感度で検出するには定期的
あるいは不定期的に各チヤンネルの感度検査を行わねば
ならない。これはすべて人手に頼るために時間と労力を
過度に必要とし、また被ＡＥ計測システムの運転を中止
しなければならなかつた。従つて、本発明の目的は被Ａ
Ｅ計測システムを稼動したま＼で、多チヤンネルを有す
るＡＥ計測システムの各ＡＥセンサ及びチヤンネル全体
の感度を自動的に正確に短時間で検査する方法及び該方
法を使用して構成された装置を提供することである。
ヤンネルは該ＡＥ源のごく近辺の数個のチヤンネルにす
ぎず、全システムの感度検査を行うには数ケ所において
前記の操作を繰返さねばならないので時間がか＼りかつ
検査が不正確であつた。また長時間のＡＥ計測が必要と
される場合にＣ丸各ＡＥセンサの被試５験体への密着不
良や計器の故障が発生しがちであるので信頼性を維持す
るために各ＡＥ信号を一定の感度で検出するには定期的
あるいは不定期的に各チヤンネルの感度検査を行わねば
ならない。これはすべて人手に頼るために時間と労力を
過度に必要とし、また被ＡＥ計測システムの運転を中止
しなければならなかつた。従つて、本発明の目的は被Ａ
Ｅ計測システムを稼動したま＼で、多チヤンネルを有す
るＡＥ計測システムの各ＡＥセンサ及びチヤンネル全体
の感度を自動的に正確に短時間で検査する方法及び該方
法を使用して構成された装置を提供することである。
本発明の図示実施例を参照して以下に説明する。
第１図にＡＥ計測システムの１実施例を示す。各ＡＥセ
ンサ１により検出された各ＡＥ信号は前置増幅器２によ
り増幅され、信号弁別器３において処理される。標定を
行う時には検出された各ＡＥ信号の各ＡＥセンサへの到
着時間差が時間差測定器４により測定され、インタフエ
イス５を介して電子計算機６で処理され、その結果が表
示装置９に表示される。同時に信号弁別器３で処理され
たＡＥ信号のパルス（ＡＥＰ）はパルスカウンノタ７で
計数されレコーダ８に記録され、またＡＥ信号の包絡線
検波波形（ＤＥＷ）はデータレコーダ１０に記録される
。
ンサ１により検出された各ＡＥ信号は前置増幅器２によ
り増幅され、信号弁別器３において処理される。標定を
行う時には検出された各ＡＥ信号の各ＡＥセンサへの到
着時間差が時間差測定器４により測定され、インタフエ
イス５を介して電子計算機６で処理され、その結果が表
示装置９に表示される。同時に信号弁別器３で処理され
たＡＥ信号のパルス（ＡＥＰ）はパルスカウンノタ７で
計数されレコーダ８に記録され、またＡＥ信号の包絡線
検波波形（ＤＥＷ）はデータレコーダ１０に記録される
。
般定を行わない時には時間差測定器４以降は使用されな
い。第２図は前記の従来の感度検査方法（１）の実施例
である。
い。第２図は前記の従来の感度検査方法（１）の実施例
である。
電気パルスがパルス発生器１１から擬似ＡＥ源１３へ送
られ、被試験体１４に接触されたＡＥセンサ１２が該セ
ンサに接続されている信号弁別器３他を用いて感度検査
される。擬似ＡＥ源１３は第４図の点７，１，ｑ，８に
相当する。第３図は第５図に示された本発明にもとづく
実施例を説明するための被試験体の構造と各ＡＥセンサ
の配置を示す。被試験体は円筒形とし、符号ａ−ｔが付
された点にＡＥセンサが取付けられ、該試験体に内圧が
加えられている状態でオンライン監視がなされている。
第４図は第３図の展開図である。
られ、被試験体１４に接触されたＡＥセンサ１２が該セ
ンサに接続されている信号弁別器３他を用いて感度検査
される。擬似ＡＥ源１３は第４図の点７，１，ｑ，８に
相当する。第３図は第５図に示された本発明にもとづく
実施例を説明するための被試験体の構造と各ＡＥセンサ
の配置を示す。被試験体は円筒形とし、符号ａ−ｔが付
された点にＡＥセンサが取付けられ、該試験体に内圧が
加えられている状態でオンライン監視がなされている。
第４図は第３図の展開図である。
点ａ−ｔに示される位置にＡＥセンサが配置されている
が、この中で点Ｙ，ｉ，ｑ，ｓの各チヤンネルＡＥセン
サは後述するようにセンサとしての機能と擬似ＡＥ源の
機能とを併わせ有している。第５図は本発明によるＡＥ
センサ及びチヤンネルの自動感度検査装置の実施例を示
している。
が、この中で点Ｙ，ｉ，ｑ，ｓの各チヤンネルＡＥセン
サは後述するようにセンサとしての機能と擬似ＡＥ源の
機能とを併わせ有している。第５図は本発明によるＡＥ
センサ及びチヤンネルの自動感度検査装置の実施例を示
している。
チヤンネル７，Ｉ，ｑ及びｓ（７）ＡＥセンサは切換ス
イツチ５１に接続されており、該スイツチ５１は制御装
置５９からの切換信号（ＳＷＳ）によつてＡＥ計測モー
ドと感度検査モードとの切換えを行なう。この切換スイ
ツチとしては雑音を拾わないように密閉型の電磁リレー
、高周波用アナログスイツチ等が用いられる。ＡＥ計測
モードではＡＥセンサからのＡＥ信号は前置増幅器５２
により増幅され、ＡＥ装置５３へ送られ時間差測定等が
行われる。感度検査モードではチヤンネル走査スイツチ
５８が制御装置５９からの走査信号（ＳＳ）によりパル
ス発生器５ｒ（！．チヤンネルＲ，ｉ，ｑ，ｓの各ＡＥ
センサとを切換スイツチ５１を介して順次電気的に結合
する。第５図を参照して、感度検査モードにおける本発
明による自動感度検査装置の動作についてチヤンネル７
を例にとり説明する。
イツチ５１に接続されており、該スイツチ５１は制御装
置５９からの切換信号（ＳＷＳ）によつてＡＥ計測モー
ドと感度検査モードとの切換えを行なう。この切換スイ
ツチとしては雑音を拾わないように密閉型の電磁リレー
、高周波用アナログスイツチ等が用いられる。ＡＥ計測
モードではＡＥセンサからのＡＥ信号は前置増幅器５２
により増幅され、ＡＥ装置５３へ送られ時間差測定等が
行われる。感度検査モードではチヤンネル走査スイツチ
５８が制御装置５９からの走査信号（ＳＳ）によりパル
ス発生器５ｒ（！．チヤンネルＲ，ｉ，ｑ，ｓの各ＡＥ
センサとを切換スイツチ５１を介して順次電気的に結合
する。第５図を参照して、感度検査モードにおける本発
明による自動感度検査装置の動作についてチヤンネル７
を例にとり説明する。
パルス発生器５７により発生されたパルスはチヤンネル
７のＡＥセンサを励振させ擬似ＡＥ波を発生し、各チヤ
ンネルＡ，ｂ，ｃ，ｆ，ｈ，ｋ，ｌ，ｍＯＡＥセンサが
該パルスを受信し、ピーク値検出器５４により検出され
た各ＡＥセンサの受信波ピーク値が感度検査に用いられ
る。ＡＥ計測モードにおいて計測開始前に、各チヤンネ
ル感度は等しく調整されている。すなわち、各チヤンネ
ルＢ，ｆ，ｈ，ｌがそれぞれほぼ同じピーク値を有し、
また各チヤンネルＡ，ｃ，ｋ，ｍもそれぞれ同じピーク
値を有している。実際にはＡＥセンサの配置は任意でよ
く、各チヤンネルの初期状態でのピーク値は計測されて
おり既知であればよいだけである。今、感度に異常があ
る場合、すなわちチヤンネルｔの周囲のチヤンネルのう
ちのいずれかの感度が低下した場合には該当チヤンネル
のピーク値が低下するので自動的に検出され、またチヤ
ンネル７のＡＥセンサが密着不良等により感度低下した
場合には周囲のすべてのチヤンネルの受信ＡＥ波のピー
ク値が低下するのでそれと知ることができる。
７のＡＥセンサを励振させ擬似ＡＥ波を発生し、各チヤ
ンネルＡ，ｂ，ｃ，ｆ，ｈ，ｋ，ｌ，ｍＯＡＥセンサが
該パルスを受信し、ピーク値検出器５４により検出され
た各ＡＥセンサの受信波ピーク値が感度検査に用いられ
る。ＡＥ計測モードにおいて計測開始前に、各チヤンネ
ル感度は等しく調整されている。すなわち、各チヤンネ
ルＢ，ｆ，ｈ，ｌがそれぞれほぼ同じピーク値を有し、
また各チヤンネルＡ，ｃ，ｋ，ｍもそれぞれ同じピーク
値を有している。実際にはＡＥセンサの配置は任意でよ
く、各チヤンネルの初期状態でのピーク値は計測されて
おり既知であればよいだけである。今、感度に異常があ
る場合、すなわちチヤンネルｔの周囲のチヤンネルのう
ちのいずれかの感度が低下した場合には該当チヤンネル
のピーク値が低下するので自動的に検出され、またチヤ
ンネル７のＡＥセンサが密着不良等により感度低下した
場合には周囲のすべてのチヤンネルの受信ＡＥ波のピー
ク値が低下するのでそれと知ることができる。
この操作が各チヤンネルＩ，ｑ，ｓＯＡＥセンサを擬似
音源とするように自動的に切換．えて行なわれ、すべて
のチヤンネルの感度を知ることができる。感度が予め設
定された感度範囲内にないことが電子計算機６０により
確認された場合には、感度異常警報器６２が警報を発し
、同時にタイプライター６３がどのチヤンネルに異常が
発生したか記録する。このタイプライター６３は勿論す
べてのチヤンネルのピーク値を記録することも出来る。
感度検査時間設定タイマー６１には予め感度検査を行う
時間がセツトされてあり、その時間になれば制御装置５
９が電子計算機６０に感度検査要求の割り込みを発生さ
せ、同時に切換信号（ＳＷＳ）を切換スイツチ５１に送
り感度検査モードに切換える。第６図に示されているよ
うに、感度検査の要求の割込みにより電子計算機６０は
ＡＥ計測のための処理プログラムから感度検査用プログ
ラムへ移る。該感度検査用プログラムはチヤンネル７に
チヤンネル走査スイツチ５８を走査する。この時には、
チヤンネル７の周囲のＡＥセンサの受信ＡＥ波形のピー
ク値はピーク値検出器５４により検出され、ＡＤ変換器
５５によりＡＤ変換後インタフエイス５６を介して電子
計算機６０にとり込まれる。電子計算機６０にはそれぞ
れのチヤンネルの初期状態でのピーク値が記憶されてお
り、とり込まれたデータとの比較を行う。以上の動作は
自動的にチヤンネルＩ，ｑ，ｓについても行われる。感
度に異常がない場合には、ピーク値の測定値だけが記録
される。
音源とするように自動的に切換．えて行なわれ、すべて
のチヤンネルの感度を知ることができる。感度が予め設
定された感度範囲内にないことが電子計算機６０により
確認された場合には、感度異常警報器６２が警報を発し
、同時にタイプライター６３がどのチヤンネルに異常が
発生したか記録する。このタイプライター６３は勿論す
べてのチヤンネルのピーク値を記録することも出来る。
感度検査時間設定タイマー６１には予め感度検査を行う
時間がセツトされてあり、その時間になれば制御装置５
９が電子計算機６０に感度検査要求の割り込みを発生さ
せ、同時に切換信号（ＳＷＳ）を切換スイツチ５１に送
り感度検査モードに切換える。第６図に示されているよ
うに、感度検査の要求の割込みにより電子計算機６０は
ＡＥ計測のための処理プログラムから感度検査用プログ
ラムへ移る。該感度検査用プログラムはチヤンネル７に
チヤンネル走査スイツチ５８を走査する。この時には、
チヤンネル７の周囲のＡＥセンサの受信ＡＥ波形のピー
ク値はピーク値検出器５４により検出され、ＡＤ変換器
５５によりＡＤ変換後インタフエイス５６を介して電子
計算機６０にとり込まれる。電子計算機６０にはそれぞ
れのチヤンネルの初期状態でのピーク値が記憶されてお
り、とり込まれたデータとの比較を行う。以上の動作は
自動的にチヤンネルＩ，ｑ，ｓについても行われる。感
度に異常がない場合には、ピーク値の測定値だけが記録
される。
感度検査が終ると、制御装置５９を介して切換信号（Ｓ
ＷＳ）が切換スイツチ５１に送られ、計測モードに復帰
する。
ＷＳ）が切換スイツチ５１に送られ、計測モードに復帰
する。
感度検査のための割込み要求はタイプライタ６３によつ
ても行うことができ、任意の時間に感度検査を行うこと
も可能である。
ても行うことができ、任意の時間に感度検査を行うこと
も可能である。
ピーク値検出器５４はＡＥパルスのカウントレートに置
きか，えてもよい。オペレータは本発明の装置により異
常を知つた時には直ちに適切な処置をすることが可能と
なつた。
きか，えてもよい。オペレータは本発明の装置により異
常を知つた時には直ちに適切な処置をすることが可能と
なつた。
本発明による効果としては、ＡＥ計測システムの多数の
チヤンネルを同時にしかも正確に自動感度検査が行える
こと、圧力容器等の被計測システムの稼動を中断しなく
ても感度検査が可能であること、人手が不要であり短時
間で検査できるので検査コストが安いこと、異常発生チ
ヤンネル及びその状態が確実に記録されているので記録
性がよくこの記録を検討することにより予め対策がたて
られること、等が挙げられる。
チヤンネルを同時にしかも正確に自動感度検査が行える
こと、圧力容器等の被計測システムの稼動を中断しなく
ても感度検査が可能であること、人手が不要であり短時
間で検査できるので検査コストが安いこと、異常発生チ
ヤンネル及びその状態が確実に記録されているので記録
性がよくこの記録を検討することにより予め対策がたて
られること、等が挙げられる。
第１図はＡＥ計測システムの１実施例を示す図。
第２図は従来のＡＥ計測システムにおける感度検査のた
めのＡＥ源及びＡＥセンサの配置例を示す図。第３図は
本発明の被試験体とＡＥセンサの配置例を示す図。第４
図は第３図の展開図。第５図は本発明に基づくＡＥセン
サ及びチヤンネルの自動感度検査装置の実施例を示すプ
ロツク図。第６図｝ま本発明に用いられる電子計算機プ
ログラムのフローチヤートを示す図。符号説明、１：Ａ
Ｅセンサ、２：前置増幅器、３：信号弁別器、４：時間
差測定器、５：・ｒンタフエイス、６：電子計算機、７
リパルスカウンタ、８：レコーダ、９：表示装置、１０
：データレコーダ、１１：パルス発生器、１２：ＡＥセ
ンサ、１３：擬億ＡＥ源、１４：被試，験体の一 部、
５０：ＡＥセンサ、５１：切換スイツチ、５２：前買増
幅器、５３：ＡＥ装置、５４：ピーク値検出器、５５：
ＡＤ変換器、５６：インタフエイス、５７：パルス発生
器、５８：チヤンネル走査スイツチ、５９：制御装置、
６０：電子計算機、６１：感度検査時間設定タイマー
６２：感度異常警報器、６３：タイプライタ。
めのＡＥ源及びＡＥセンサの配置例を示す図。第３図は
本発明の被試験体とＡＥセンサの配置例を示す図。第４
図は第３図の展開図。第５図は本発明に基づくＡＥセン
サ及びチヤンネルの自動感度検査装置の実施例を示すプ
ロツク図。第６図｝ま本発明に用いられる電子計算機プ
ログラムのフローチヤートを示す図。符号説明、１：Ａ
Ｅセンサ、２：前置増幅器、３：信号弁別器、４：時間
差測定器、５：・ｒンタフエイス、６：電子計算機、７
リパルスカウンタ、８：レコーダ、９：表示装置、１０
：データレコーダ、１１：パルス発生器、１２：ＡＥセ
ンサ、１３：擬億ＡＥ源、１４：被試，験体の一 部、
５０：ＡＥセンサ、５１：切換スイツチ、５２：前買増
幅器、５３：ＡＥ装置、５４：ピーク値検出器、５５：
ＡＤ変換器、５６：インタフエイス、５７：パルス発生
器、５８：チヤンネル走査スイツチ、５９：制御装置、
６０：電子計算機、６１：感度検査時間設定タイマー
６２：感度異常警報器、６３：タイプライタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検体からのＡＥ信号を受信し、被検体の内部状況
を判別する多チャンネル・アコーステイツク・エミッシ
ョン装置において、前記被検体に取り付けられた複数の
ＡＥセンサの信号検出感度を被検体の稼動を中断せずに
検査する方法であつて、感度検査時に前記複数のＡＥセ
ンサの内のいくつかを擬似ＡＥ信号源として順次に選択
し、該選択された擬似ＡＥ信号源から順次に擬似ＡＥ信
号を発生し、該擬似ＡＥ信号を前記擬似ＡＥ信号源とし
てのＡＥセンサの周囲に設置されているＡＥセンサで検
出させ、その検出信号の値を予め決定されている正常値
と比較して前記擬似ＡＥ信号源としてのＡＥセンサ及び
その周囲に設置されている各ＡＥセンサの感度検査を行
うことを特徴とする、アコースティック・エミッション
信号検出感度検査方法。 ２ 被検体に取り付けられた複数のＡＥセンサ５０と、
該ＡＥセンサで受信したＡＥ信号を用いて被検体の内部
状況を判別するＡＥ計測装置５２、５３、５６、６０、
６３とから成る多チャンネル・アコースティック・エミ
ッション計測システムにおいて、前記複数のＡＥセンサ
と前記ＡＥ計測装置との間の各チャンネル毎に設けられ
た切換スイッチ５１と、該切換スイッチを制御して前記
複数のＡＥセンサの内のいくつかを選択的にチャンネル
走査スイッチ５８に接続し、他を前記ＡＥ計測装置に接
続する制御装置５９、６１と、前記チャンネル走査スイ
ッチを介して前記選択されたＡＥセンサへ順次にパルス
信号を与え擬似ＡＥ信号源とするパルス発生器５７と、
前記擬似ＡＥ信号源から受け取つた検出信号のピーク値
を発生する装置５４、５５と、該ピーク値と予め決定さ
れている正常値とを比較して前記各チャンネルの感度を
決定する装置５６、６０と、決定された感度及び異常を
表示する装置６２、６３と、から成る、アコースティッ
ク・エミッション信号検出感度検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52041186A JPS5940268B2 (ja) | 1977-04-11 | 1977-04-11 | アコ−スティック・エミッション信号検出感度検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52041186A JPS5940268B2 (ja) | 1977-04-11 | 1977-04-11 | アコ−スティック・エミッション信号検出感度検査方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53125875A JPS53125875A (en) | 1978-11-02 |
| JPS5940268B2 true JPS5940268B2 (ja) | 1984-09-28 |
Family
ID=12601378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52041186A Expired JPS5940268B2 (ja) | 1977-04-11 | 1977-04-11 | アコ−スティック・エミッション信号検出感度検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940268B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58136771U (ja) * | 1982-03-10 | 1983-09-14 | トヨタ自動車株式会社 | 音響波検出装置 |
| JPS60252261A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-12 | Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp | 自己機能検査型超音波センサ− |
| JPS62194456A (ja) * | 1986-02-20 | 1987-08-26 | Nippon Steel Corp | アレイ型探触子のチエツク方法 |
| JPS62232562A (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探傷装置の感度設定方法 |
| JPH01136441U (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-19 |
-
1977
- 1977-04-11 JP JP52041186A patent/JPS5940268B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53125875A (en) | 1978-11-02 |
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