JPS62169050A - 超音波探傷装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は超音波を用いて材料の内部を非破壊にて検査
する装置に関するものである。

〔従来の技術〕

金属等の固体物中に存在する欠陥を見つける手段として
超音波を材料中に入射させて欠陥からの反射波（以下エ
コーという〕をとらえ、ＣＲＴ等の表示器へ表示するこ
とにより欠陥の太きさや。

材料中の欠陥の位置を測定する為の装置として超音波探
傷装置がある。

従来この種の装置として第３図に示すような超音波探傷
装置が提案さｎている。図においてｆｉｌは各回路に必
要な同期信号を出力する同期部、（２）は同期部（１）
からの出力信号をもとに送信信号を発生する送イｚ部、
（３１は送信部＋２１７）−らの送信イバ号不本にに超
音波を発生し被検材に超音波を入射させると七もに、被
検材からのエコーをとらえて電気信号に変操する探触子
、（４）は探触子（３）からの電気信号を増幅する受信
部、　ｔ５１＆″！同期部（１）からの出力信号をもと
に受信部（４１の出力信号を監視する為のゲートを発生
し、受信部（４）の出力信号を抽出するゲート発生部、
（６）は判定レベルを設定する為のレベル設定器、（７
）はレベル設定器（６）で設定さ１また判定レベルとゲ
ート発生部（５）の出力信号を判定する為に比較する比
較部でめる。

従来の超音波探傷装置は上記のように構成されているの
で、探傷試験を行う際まず欠陥エコーの表わイユる予心
位置（時間軸上の任意の位置りにゲート発生部（５１に
よりゲートを設定し、かつ欠陥エコー高さに対しての判
定レベルをレベル設定器（６）により設足し試験を実施
する。試験中に判定レベル以上の欠陥エコーがゲート内
に発生した場合。

アラームやブザー等で警報を発生し、欠陥エコーを確認
するようにしていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の超音波探傷器は上記のように欠陥の発生する位置
をあらかじめ調査する必要があるとともにゲートを設定
しなげればならない為に、被検材の形状が複雑な歯車等
の場付、ゲートの設定がより複雑になり自動的に容烏に
探傷出来ない問題があった。

この発明はこのような問題点を解消するためになされた
もので、ゲートを被検材の形状（寸法）に関係なく設定
し、所定のレベル以上のエコーの波数をカウントする波
数カウンターを設げ９校正時の波数データと試験時の波
数デ・−夕を比較することにより被検材を評価すること
の出来の超音波探傷装置を得ることを目的とするもので
ある。

〔問題点を解決する為の手段〕

この発明にかかる超音波探傷装置は、被検材を介して得
られた全てのエコー（送信パルスや底面エコーを含む）
の波数をカウントする波数カウンターと、校正時の正常
な被検材で得られたエコーの波数に対して試験時の被検
材で得られる欠陥が存在した場合のエコーの波数を比較
判定する判定部とを設けたものである。

〔作用〕

この発明においては、被検材の寸法大々にかかわらず、
ゲートを任意に設定しておき１校正時に得られる全ての
エコーの波数に対して試験時の全てのエコーの波数から
被検材の良否を判定する。

〔実施例〕

第１図はこの発明による超音波探傷装置の一実施例を示
す図である。この実施例は第３図から明らかなように（
１）〜（５）は従来と同様である。（７）は受信増幅部
（４）の出力信号を所定のレベルで比較し。

波数パルスを出力する比較部、（８Ｉは比較部（７）の
出力信号の波数パルスをカウントする波数カウンタ。

（９）は波数カウンタ（８：のデータを校正時もしくは
試験時であることにより切換える切換器、αＧは校正時
）波数カウンタ（８（のデータを記憶する切換部、　Ｕ
ｉ＆ｘ切換部α０の校正時の波数カウンタ（８）の波数
データと、試験時の波数カウンタ（８）の波数データを
比較判定する判定部である。

次にＨ配実施例の動作を第２図を参照しながら説明する
。

受信部（４）の出力信号Ａ　ｓｉｇを所定のレベルＶｅ
で比較する比較部（７）は所定レベルＶｅを越えたパル
ス幅の出力信号］）　ｓｉｇを出力する。第２図（ａ）
は校正時に使用する欠陥の存在しない基準材料等を検査
した場合の出力例で送信波形Ｔから底面エコーＢまでゲ
ート発生器（５１の出力信号（ゲート）を設定し、比較
器（７）で所定レベルＶｅに対して比較し１校正時の波
数データＤ　ｓｉｇ　Ｃを得ている。同図（ｂ）は被検
査対象物の被検材を試験し欠陥エコーＦが発生した場合
の出力例でゲート発生器！５１の出力信号（ゲート）＆
ゴ上記校正時と同様であり、かつ所定レベルＷｅも同様
である為、試験時の波数データｌ）　ｓｉｇ　ｔを得て
いる。この２つのデータＤｓｉｇ　ＣとＤ　ｓｉｇ　ｔ
を判定部Ｉで比較判定し、同一でない場合の警報やアラ
ーム等の信号を出力する。

尚、切換器（９）ハ切換部αＣへ校正時の波数データＤ
θｉｇｃを記憶する場合はＯＮ側へ、又試験時はＯＦＦ
側へ設定し１判定部任υへ出力するよう切換える。

〔発明の効果〕

以上のようにこの発明によれば１校正時の受信信号の波
数と、試験時の受信信号の波数を比較する事により、欠
陥の有無を判定する。これによりＪＭ、面エコーと極め
て近接した位置に舎生じ、従来方式による欠陥エコー監
視用ゲートとＢエコーの境界位置等に発生した欠陥エコ
ーや、従来方式のゲート設定方式では不可能だった欠陥
の数等をも知る事が出来る他。わずられしいゲートの設
定をも省略出来る％徴を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す超音波探傷装置のブ
ロック崗、第２囚はこの発明による比較部の動作説明図
、第３図は従来の超音波探傷器のブロックｌである。 図において、（出了同ル」部、（２）は送侍部、（３）
は探触子、（４）は受イｇ部、　（５＋ｋｌゲ一ト発生
器、（６１４レベル設定器、（７）は比較部、（８）は
波数カウンタ、（９）は切換部、σ値は切換部、　（１
Ｂは判定部である。 る。 なお１図中同一群号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 所定の繰り返し周波数を発生する同期部と、この同期部
   からの出力信号をもとにして送信信号を発生する送信部
   と、上記送信部から生ずる送信信号を超音波信号に変換
   して被検材に超音波を入射させるとともに、上記被検材
   からの反射波を電気信号に変換する探触子と上記探触子
   からの電気信号を増幅する受信部と、上記同期部からの
   出力信号をもとにして上記受信部の出力信号を監視する
   ゲート発生部と、上記受信部の出力信号を上記ゲート発
   生部で発生させたゲート信号間に存在する受信部の出力
   信号を所定レベルと比較し受信部の出力信号のうち所定
   レベルを越える波数のパルスを発生する比較部と、上記
   比較部からの出力信号をカウントする波数カウント部と
   、校正時と試験時とにより上記波数カウンター部の出力
   信号を切換える切換部と、校正時に上記切換部の出力信
   号を記憶する校正データ記憶部と、試験時に上記校正デ
   ータ記憶部のデータと試験時の上記波数カウンタの出力
   信号を比較判定する判定部とを備えたことを特徴とする
   超音波探傷装置。