JPS61210953A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS61210953A JPS61210953A JP60051733A JP5173385A JPS61210953A JP S61210953 A JPS61210953 A JP S61210953A JP 60051733 A JP60051733 A JP 60051733A JP 5173385 A JP5173385 A JP 5173385A JP S61210953 A JPS61210953 A JP S61210953A
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- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、被検体として金属材料等の表面や内部に存在
する欠陥の有無及び寸法を測定する超音波探傷装置に係
り、特に、欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する
ことにより超音波探傷性能を向上させた超音波探傷装置
に関する。
する欠陥の有無及び寸法を測定する超音波探傷装置に係
り、特に、欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する
ことにより超音波探傷性能を向上させた超音波探傷装置
に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
超音波探傷において、欠陥を正確に検出するためには、
欠陥信号と形状等による疑似信号を確実に弁別すること
があげられる。ところが原子カプラントの配管及びター
ビン発電機エンドリング等に用いられているオーステテ
ィ１−系ステンレス鋼に発生した応力腐食割れ等のよう
に互いに密着した（タイトで）微小な欠陥を検出する際
は、欠陥信号レベルが小さいため、特に、この欠陥信号
と形状等による疑似信号の弁別が困難である。
欠陥信号と形状等による疑似信号を確実に弁別すること
があげられる。ところが原子カプラントの配管及びター
ビン発電機エンドリング等に用いられているオーステテ
ィ１−系ステンレス鋼に発生した応力腐食割れ等のよう
に互いに密着した（タイトで）微小な欠陥を検出する際
は、欠陥信号レベルが小さいため、特に、この欠陥信号
と形状等による疑似信号の弁別が困難である。
一方、従来の超音波探傷において、この欠陥信号と形状
等による疑似信号の弁別は例えば、通常のＡスコープ表
示での探傷にあっては今だに検査員のカンと経験にたよ
るところが多く、一部では探ｍ法、データ処理法等を改
良して欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別しようと
いことも試みられているが、被検体の材料の種類及びそ
の大きさ、欠陥の種類等によらず欠陥信号と形状等によ
る疑似エコーを弁別する方法は確立されていない。
等による疑似信号の弁別は例えば、通常のＡスコープ表
示での探傷にあっては今だに検査員のカンと経験にたよ
るところが多く、一部では探ｍ法、データ処理法等を改
良して欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別しようと
いことも試みられているが、被検体の材料の種類及びそ
の大きさ、欠陥の種類等によらず欠陥信号と形状等によ
る疑似エコーを弁別する方法は確立されていない。
［発明の目的］
本発明は上記事情に基づいてなされたもので、その目的
とするところは、被検体の材料の種類及びその大きさ、
欠陥の種類によらず欠陥信号と形状等による疑似信号を
弁別し、超音波探傷性能を向上させることを可能にした
超音波探傷装置を提供することにある。
とするところは、被検体の材料の種類及びその大きさ、
欠陥の種類によらず欠陥信号と形状等による疑似信号を
弁別し、超音波探傷性能を向上させることを可能にした
超音波探傷装置を提供することにある。
［発明の概要］
本発明による超音波探傷装置は、上記目的を達成させる
ために、欠陥信号のパワースペクトルと形状等による疑
似信号のパワースペクトルの周波数帯が異なることを利
用して欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する処理
機構を超音波受信系に設け、欠陥信号のみを選択して画
像表示させることを特徴とする。
ために、欠陥信号のパワースペクトルと形状等による疑
似信号のパワースペクトルの周波数帯が異なることを利
用して欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する処理
機構を超音波受信系に設け、欠陥信号のみを選択して画
像表示させることを特徴とする。
［発明の実施例］
以下に本発明の超音波探傷装置を第１図に示す一実施例
に従い説明する。
に従い説明する。
第１図において、１は内部に超音波振動子１Ａを備えた
例えば斜角探触子等の超音波探触子であり、被検体Ｐ上
に配置されている。２は超音波探触子１に励振用の高電
圧のパルスを付加するパルサーであり、このパルサー２
は超音波探触子１を励振し、被検体Ｐに超音波ビームＵ
Ｂを送信する。
例えば斜角探触子等の超音波探触子であり、被検体Ｐ上
に配置されている。２は超音波探触子１に励振用の高電
圧のパルスを付加するパルサーであり、このパルサー２
は超音波探触子１を励振し、被検体Ｐに超音波ビームＵ
Ｂを送信する。
３は上記超音波ビームＵＢが被検体Ｐ内の欠陥ＣＲに反
射して形成された超音波エコーＬＩＥを超音波探触子１
を介して受信するレシーバである。
射して形成された超音波エコーＬＩＥを超音波探触子１
を介して受信するレシーバである。
４はレシーバ３から出力された受信信号から所望の信号
のみを取り出せるように設けたゲート回路で、信号取り
込み開始時間及びその長さを自由に調整することが可能
となっている。
のみを取り出せるように設けたゲート回路で、信号取り
込み開始時間及びその長さを自由に調整することが可能
となっている。
５はゲート回路４からの出力信号の最大振幅値を計測す
る最大振幅値計測回路であり、６−１はゲート回路４か
らの出力信号のアナログ値からディジタル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器である。
る最大振幅値計測回路であり、６−１はゲート回路４か
らの出力信号のアナログ値からディジタル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器である。
７は超音波探触子１を所望の早さで所望の位置を駆動さ
せる駆動装置である。８は駆動装置！７の出力信号から
超音波探触子１の位置を計測する探触子位置検出回路で
あり、６−２は駆動袋［７の出力信号から探触子の位置
検出回路８の出力信号をアナログ値からディジタル値に
変換するＡ／Ｄ変換器である。
せる駆動装置である。８は駆動装置！７の出力信号から
超音波探触子１の位置を計測する探触子位置検出回路で
あり、６−２は駆動袋［７の出力信号から探触子の位置
検出回路８の出力信号をアナログ値からディジタル値に
変換するＡ／Ｄ変換器である。
９は演算用マイクロコンピュータであり、ゲート回路４
の出力信号をディジタル値に変換したデータ群を記憶す
ると共にその時の探触子の位置検出回路８からの出力信
号をディジタル値に変換したデータを記憶する入力デー
タ用メモリ９Ａと、欠陥信号と形状等による疑似信号の
弁別のためのデータが予め格納されている欠陥疑似信号
弁別関数用メモリ９Ｂと、予め被検体Ｐの形状を示すデ
ータが格納されている被検体の形状用のメモリ９Ｃと、
これらメモリ９Ａ、９８．９０のデータに基づいて後述
するデータ処理法 ９Ｄとより構成されている。
の出力信号をディジタル値に変換したデータ群を記憶す
ると共にその時の探触子の位置検出回路８からの出力信
号をディジタル値に変換したデータを記憶する入力デー
タ用メモリ９Ａと、欠陥信号と形状等による疑似信号の
弁別のためのデータが予め格納されている欠陥疑似信号
弁別関数用メモリ９Ｂと、予め被検体Ｐの形状を示すデ
ータが格納されている被検体の形状用のメモリ９Ｃと、
これらメモリ９Ａ、９８．９０のデータに基づいて後述
するデータ処理法 ９Ｄとより構成されている。
１０は演算用マイクロコンピュータ９の処理部９Ｄから
の出力をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器である。
の出力をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器である。
１１はこのＤ／Ａ変換器１ｏからの出力信号に基づいて
Ｂスコープ、Ｃスコープ等の表示方式で画像表示する表
示＠１１１である。
Ｂスコープ、Ｃスコープ等の表示方式で画像表示する表
示＠１１１である。
また、１２はすべての回路の制御を行なう制御用マイク
ロコンピュータであり、６−３は、制−用マイクロコン
ピュータからのビーム路程の出力信号をディジタル値に
変換するＡ／Ｄ変換器である。
ロコンピュータであり、６−３は、制−用マイクロコン
ピュータからのビーム路程の出力信号をディジタル値に
変換するＡ／Ｄ変換器である。
以上の構成による本実施例の作用を第２図から第８図を
参照して説明する。
参照して説明する。
第２図は本装置の動作流れ図である。最大振幅値計測回
路５で計測された最大振幅値Ｐが予め制御用マイクロコ
ンピュータ１２に設定したしきい値ＴＨを越えるまでは
、処１！８１．Ｓ２．８３゜Ｓ４により駆動、送信、受
信、農大振幅値計測が繰り返される。いったん最大振幅
値Ｐがしきい値Ｔｌ−１を越えたと判定されると、処理
Ｓ５で駆動停止し、処理８６．８７にて送信、受信が行
なわれ、処理Ｓ８にてゲート回路４からの振幅値データ
がディジタル値に変換され、処理Ｓ９にて一つのデータ
群として演算用マイクロコンピュータ９の入力データ用
メモリ９Ａに記憶される。また同時に探触子の位置計測
回路８により計測された探触子の位置と制御用マイクロ
コンピュータ１２により計算されたＰ＜ＴＨのビーム路
程がＡ／Ｄ変換した後上述の演算用マイクロコンピュー
タ９の入力データ用メモリ９Ａに記憶される。
路５で計測された最大振幅値Ｐが予め制御用マイクロコ
ンピュータ１２に設定したしきい値ＴＨを越えるまでは
、処１！８１．Ｓ２．８３゜Ｓ４により駆動、送信、受
信、農大振幅値計測が繰り返される。いったん最大振幅
値Ｐがしきい値Ｔｌ−１を越えたと判定されると、処理
Ｓ５で駆動停止し、処理８６．８７にて送信、受信が行
なわれ、処理Ｓ８にてゲート回路４からの振幅値データ
がディジタル値に変換され、処理Ｓ９にて一つのデータ
群として演算用マイクロコンピュータ９の入力データ用
メモリ９Ａに記憶される。また同時に探触子の位置計測
回路８により計測された探触子の位置と制御用マイクロ
コンピュータ１２により計算されたＰ＜ＴＨのビーム路
程がＡ／Ｄ変換した後上述の演算用マイクロコンピュー
タ９の入力データ用メモリ９Ａに記憶される。
次にこの演算用マイクロコンピュータ９の入力データ用
メモリ９Ａに記憶された振幅値のデータ群は、処理８１
０にて演算部９Ｄでフーリエ変換が行なわれる。即ち、
第３図に示したように時間領域でのデータ群が周波数領
域でのデータ群に変換される。
メモリ９Ａに記憶された振幅値のデータ群は、処理８１
０にて演算部９Ｄでフーリエ変換が行なわれる。即ち、
第３図に示したように時間領域でのデータ群が周波数領
域でのデータ群に変換される。
第４図は第５図に示したＴ型継手溶接部の欠陥信号と形
状等による疑似信号の周波数領域でのデータ群を比較し
た一例である。第４図によれば、欠陥信号と形状等によ
る疑似信号の差異は明確になる。即ち、欠陥信号のパワ
ースペクトルが形状等による疑似信号のパワースペクト
ルよりも高周波側にシフトしている。従って、処理８１
２では、この違いを代表するパラメータ、例えば第６図
に示した全パワースペクトルに対する「！からｒｌのパ
ワースペクトルの割合ｒ１、全パワースペクトルに対す
るｔ３からｒ４のパワースペクトルの割合ｒ２等により
振幅値の大きさに全く影響を受けないで欠陥信号と形状
等による疑似信号を弁別することができる。
状等による疑似信号の周波数領域でのデータ群を比較し
た一例である。第４図によれば、欠陥信号と形状等によ
る疑似信号の差異は明確になる。即ち、欠陥信号のパワ
ースペクトルが形状等による疑似信号のパワースペクト
ルよりも高周波側にシフトしている。従って、処理８１
２では、この違いを代表するパラメータ、例えば第６図
に示した全パワースペクトルに対する「！からｒｌのパ
ワースペクトルの割合ｒ１、全パワースペクトルに対す
るｔ３からｒ４のパワースペクトルの割合ｒ２等により
振幅値の大きさに全く影響を受けないで欠陥信号と形状
等による疑似信号を弁別することができる。
具体的には予め第７図に示したような欠陥信号と形状等
による疑似信号の弁別のための開数Ｒ２−ａ Ｒｒ ＋
ｂ （ａ 、 ｂ ：定数）を演算用マイクロコンピ
ュータ９の欠陥・疑似信号弁別関数用メモリ１０Ｂに格
納し処理Ｓ１３では上記関数を取出して先に演算したｒ
ｌ、ｒｌがｒ ２ ＞ａｒｌ ＋ｂならば、欠陥として
処理８１４にて表示＠１１１へ表示される。
による疑似信号の弁別のための開数Ｒ２−ａ Ｒｒ ＋
ｂ （ａ 、 ｂ ：定数）を演算用マイクロコンピ
ュータ９の欠陥・疑似信号弁別関数用メモリ１０Ｂに格
納し処理Ｓ１３では上記関数を取出して先に演算したｒ
ｌ、ｒｌがｒ ２ ＞ａｒｌ ＋ｂならば、欠陥として
処理８１４にて表示＠１１１へ表示される。
この際、処理８１５として演算用マイクロコンピュータ
９の入力データ用メモリ９Ａには探触子の位置及びビー
ム路程が記憶され、被検体の形状用メモリ９Ｃには被検
体Ｐの形状を示すデータが記憶されているため表示ＷＡ
置１１には第８図に示すようなりスコープ、Ｃスコープ
等の表示方式で表示装置１１に画像表示することができ
る。
９の入力データ用メモリ９Ａには探触子の位置及びビー
ム路程が記憶され、被検体の形状用メモリ９Ｃには被検
体Ｐの形状を示すデータが記憶されているため表示ＷＡ
置１１には第８図に示すようなりスコープ、Ｃスコープ
等の表示方式で表示装置１１に画像表示することができ
る。
以上のように本実施例では、欠陥信号と形状等による疑
似信号の周波数特性の差に看目し、全部パワースペクト
ルに対する特定のパワースペクトルの割合といったパラ
メータで処理しているため、被検体の大きざ、信号（振
幅値）の大きさに全く影響されず欠陥信号と形状等によ
る疑似信号を弁別することができる。
似信号の周波数特性の差に看目し、全部パワースペクト
ルに対する特定のパワースペクトルの割合といったパラ
メータで処理しているため、被検体の大きざ、信号（振
幅値）の大きさに全く影響されず欠陥信号と形状等によ
る疑似信号を弁別することができる。
また、被検体の材料の種類や欠陥の種類が異なった場合
の種々の欠陥・疑似信号弁別関数を予め用意することに
より、被検体の材料の種類や欠陥の種類によらず欠陥信
号と形状等による疑似信号を弁別することができる。従
うて超音波探傷性能は向上し、且つ探傷結果は断面像表
示されるため欠陥の位置の把握が容易となる。
の種々の欠陥・疑似信号弁別関数を予め用意することに
より、被検体の材料の種類や欠陥の種類によらず欠陥信
号と形状等による疑似信号を弁別することができる。従
うて超音波探傷性能は向上し、且つ探傷結果は断面像表
示されるため欠陥の位置の把握が容易となる。
第９図が第１０図を用いて本発明による他の実施例につ
いて説明する。第１図の構成におけるフーリエ変換を用
いてソフトウェアにより周波数成分を解析する代わりに
、第９図に示すように、特定の周波数成分のものだけを
取り出すフィルタ１３をハードウェアで備えてもよい。
いて説明する。第１図の構成におけるフーリエ変換を用
いてソフトウェアにより周波数成分を解析する代わりに
、第９図に示すように、特定の周波数成分のものだけを
取り出すフィルタ１３をハードウェアで備えてもよい。
即ち、高周波側１３Ａと低周波側１３Ｂの２つのフィル
タによりそれぞれ特定の周波数成分のものだけを取り出
し、面積計測回路１４で第１０図に示したような面積Ｓ
を計測した上で（Ｓｚ 、 Ｓ２ ）、判定回路１５ニ
よりＳｌとａ’ ３２＋ｂ’ （ａ’ 。
タによりそれぞれ特定の周波数成分のものだけを取り出
し、面積計測回路１４で第１０図に示したような面積Ｓ
を計測した上で（Ｓｚ 、 Ｓ２ ）、判定回路１５ニ
よりＳｌとａ’ ３２＋ｂ’ （ａ’ 。
ｂ′は定数）の大小が比較され、Ｓｌ＞ａ’ ３２＋ｂ
’の時欠陥として表示装置１１１に表示される。
’の時欠陥として表示装置１１１に表示される。
この時被検体の形状及びビームの路程の信号は制御用マ
イクロコンピュータ１２から送信される。
イクロコンピュータ１２から送信される。
このように構成すれば、装置の小型化がはかれ、且つ、
計算時間の短縮により駆動装置７を停止する必要がなく
なることにより、探触子の位置検出の精度が向上できる
。
計算時間の短縮により駆動装置７を停止する必要がなく
なることにより、探触子の位置検出の精度が向上できる
。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変更して実施できる。
の要旨を逸脱しない範囲で種々変更して実施できる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、周波数の差に着目し
た欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する処理手段
を超音波受信系に設け、欠陥信号のみを画像表示するよ
うにしたので、被検体の材料の種類及びその大きさ欠陥
の種類等によらず超音波探傷性能を向上させることを可
能にした超音波探傷装置が提供できる。
た欠陥信号と形状等による疑似信号を弁別する処理手段
を超音波受信系に設け、欠陥信号のみを画像表示するよ
うにしたので、被検体の材料の種類及びその大きさ欠陥
の種類等によらず超音波探傷性能を向上させることを可
能にした超音波探傷装置が提供できる。
第１図は本発明による超音波探傷ｉｕｔの一実施例の構
成を示すブロック図、第２図は実施例の動作流れ図、第
３図は同時実施例のフーリエ変換を説明した図、第４図
は欠陥信号と形状等による疑似信号の周波数領域での差
異を示した図、第５図は被検体の一例としてＴ型継手溶
接部を説明した図、第６図は欠陥信号と形状等による疑
似信号を周波数領域で弁別するためのパラメータを説明
した図、第７図は欠陥信号と形状等による疑似信号を弁
別するための関数を説明した図、第８図は表示ａｍに表
示された探傷結果の一例を示す図、第９図は本発明の他
の実施例の構成を示すブロック図、第１０図は面積計測
回路で計測する面積を説明した図である。 １・・・超音波探触子、１Ａ・・・超音波振動子、２・
・・パルサー、３・・・レシーバ、４・・・ゲート回路
、５・・・最大振幅値計測回路、６・・・Ａ／Ｄ変換器
、７・・・駆動装置、８・・・探触子の位置検出回路、
９・・・演算用マイクロコンピュータ、９Ａ・・・入力
データ用メモリ、９Ｂ・・・欠陥・疑似信号弁別関数用
メモリ、９Ｃ・・・被検体の形状用メモリ、９Ｄ・・・
演算部、１０・・・Ｄ／Ａ変換器、１１・・・表示装置
、１２・・・制御用マイクロコンピュータ、１３・・・
フィルタ、１３Ａ・・・高周波用フィルタ、１３Ｂ・・
・低周波用フィルタ、１４・・・面積計測回路、１５・
・・判定回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第３図 り液体 ｆ（ＭＨｚ） 全パワースくクト１１：対ＴｉＬ＋りらｆ２＃Ｉバフ−
、ス＜７ト１−１１イ卦Ｒ１ 第８図 Ｂスフーアを＊ Ｃスフ−１表ホ第１
０図 硬調（μｓｅｃ）
成を示すブロック図、第２図は実施例の動作流れ図、第
３図は同時実施例のフーリエ変換を説明した図、第４図
は欠陥信号と形状等による疑似信号の周波数領域での差
異を示した図、第５図は被検体の一例としてＴ型継手溶
接部を説明した図、第６図は欠陥信号と形状等による疑
似信号を周波数領域で弁別するためのパラメータを説明
した図、第７図は欠陥信号と形状等による疑似信号を弁
別するための関数を説明した図、第８図は表示ａｍに表
示された探傷結果の一例を示す図、第９図は本発明の他
の実施例の構成を示すブロック図、第１０図は面積計測
回路で計測する面積を説明した図である。 １・・・超音波探触子、１Ａ・・・超音波振動子、２・
・・パルサー、３・・・レシーバ、４・・・ゲート回路
、５・・・最大振幅値計測回路、６・・・Ａ／Ｄ変換器
、７・・・駆動装置、８・・・探触子の位置検出回路、
９・・・演算用マイクロコンピュータ、９Ａ・・・入力
データ用メモリ、９Ｂ・・・欠陥・疑似信号弁別関数用
メモリ、９Ｃ・・・被検体の形状用メモリ、９Ｄ・・・
演算部、１０・・・Ｄ／Ａ変換器、１１・・・表示装置
、１２・・・制御用マイクロコンピュータ、１３・・・
フィルタ、１３Ａ・・・高周波用フィルタ、１３Ｂ・・
・低周波用フィルタ、１４・・・面積計測回路、１５・
・・判定回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第３図 り液体 ｆ（ＭＨｚ） 全パワースくクト１１：対ＴｉＬ＋りらｆ２＃Ｉバフ−
、ス＜７ト１−１１イ卦Ｒ１ 第８図 Ｂスフーアを＊ Ｃスフ−１表ホ第１
０図 硬調（μｓｅｃ）
Claims (3)
- （１）被検体に超音波を送受信して上記被検体の内部に
存在する欠陥を超音波探傷するようにした超音波探傷装
置において、欠陥信号のパワースペクトルと形状等によ
る疑似信号のパワースペクトルとが周波数帯に差異があ
ることを利用して欠陥信号と形状等による疑似信号とを
弁別する処理手段を超音波受信系に設け、欠陥信号のみ
を選択して画像表示するようにしたことを特徴とする超
音波探傷装置。 - （２）処理手段は、被検体の材料、欠陥の種類の差異に
基づく疑似信号弁別関係を記憶する記憶手段を有し、受
信信号を上記疑似信号弁別関数により弁別することによ
り欠陥信号のみを取出すように構成したことを特徴とす
る特許請求の範囲第（１）項記載の超音波探傷装置。 - （３）処理手段は、高周波フィルタと低周波フィルタと
を有し、両フィルタにより受信信号から欠陥信号のみを
取出す構成としたことを特徴とする特許請求の範囲第（
１）項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60051733A JPS61210953A (ja) | 1985-03-15 | 1985-03-15 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60051733A JPS61210953A (ja) | 1985-03-15 | 1985-03-15 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61210953A true JPS61210953A (ja) | 1986-09-19 |
Family
ID=12895096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60051733A Pending JPS61210953A (ja) | 1985-03-15 | 1985-03-15 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61210953A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63121748A (ja) * | 1986-11-10 | 1988-05-25 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷装置 |
| JP2009097889A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-05-07 | Toshiba Corp | タービン発電機エンドリングの欠陥検出方法 |
-
1985
- 1985-03-15 JP JP60051733A patent/JPS61210953A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63121748A (ja) * | 1986-11-10 | 1988-05-25 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷装置 |
| JP2009097889A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-05-07 | Toshiba Corp | タービン発電機エンドリングの欠陥検出方法 |
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