KR100542651B1 - 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법 - Google Patents

비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법에 관한 것으로서,
전기적 신호를 초음파로 변환시키는 단계와; 변환된 초음파를 검사 대상물에 적용시키는 단계와; 상기 검사 대상물을 통과한 후의 초음파를 전기적 신호로 변환시키는 단계와; 변환된 전기적 신호를 시간함수 및 주파수함수로 변환시키는 단계와; 입사된 초음파의 주파수에 대하여 상대 비선형계수(RN(f)) 및 결함존재지수(IDE)를 계산하는 단계와; 상기 결함존재지수를 기준이 되는 결함존재지수와 비교하여 결함의 존재 유무를 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하므로,
검사 대상물이 비균질한 경우에도 결함을 용이하게 판별할 수 있고, 또한 판별 과정에 있어서도 종래의 선형 음향 탐사법보다 용이하여 숙련도가 크게 필요치 않다는 이점이 있다.

Description

비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법{Nondestructive Acoustic Evaluation Device and Method by using Nonlinear Acoustic Responses}
도 1은, 결함에 의한 비선형 음향 반응 발생의 원리도이다.
도 2는, 본 발명에 따른 전체 탐사장치를 나타내는 도면이다.
도 3은, 비선형 음향반응 측정을 위해 수신된 전기신호에 대한 시간함수 파형을 FFT(Fast Fourier Transform)를 취하여 얻어진 주파수함수로서의 진폭파워스펙트럼(Amplitude Power Spectrum)을 나타내는 도이다.
도 4는, 입사진폭을 변화시키면서 각 주파수들의 진폭비로부터 얻어진 상대 비선형계수(Relative Nonlinear Coefficient: RN)를 나타내는 도이다.
도 5는, 상기 상대 비선형계수 사이의 차로부터 구한 결함존재지수(Index of Defect Existence: IDE) 값으로부터 결함의 존재 유무를 판단하는 수행순서를 나타내는 도이다.
※ 주요 도면부호의 설명
1... 연속파 형태의 탐사 음파
2... 결함에 의해 발생되는 입사 음파 주파수의 배진동 주파수
3... 결함
4... 검사 대상물
11... 송신용 초음파 변환기
12... 송신용 초음파 변환기
13... 수신용 초음파 변환기
14... 초음파 송신부 1
15... 초음파 송신부 2
16... 초음파 수신부
17... 신호처리 모듈
18... 계산 모듈
19... 디스플레이부
본 발명은 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법에 관한 것으로서, 특히 초음파의 비선형 음향 반응을 이용하여 고체 물질에 형성된 결함의 존재 유·무를 판별하는 탐사방법에 관한 것이다.
일반적으로, 결함의 존재 유·무를 판별하는 비파괴적 방법이란 재료나 제품, 구조물 등에 대하여 검사 대상물에 손상을 주지 않고 시험품의 성질이나 상태, 구조 등을 알아내기 위한 검사를 말한다. 이러한 비파괴적 검사법으로서는, 육안검사를 비롯하여 방사선투과검사(Radiographic Testing: RT), 초음파 탐상검사(Ultrasonic Testing: UT), 자분탐상검사(Magnetic Particle Testing: MT), 액체침투탐상검사(Liquid Penetrant Testing: PT), 와류탐상검사(Eddy Current Testing: ET), 음향방출시험(Acoustic Emission Testing: AET) 등이 있다.
이 중, 초음파 탐상검사는 장비의 소형화에 의한 사용의 편리성과, 방사성 물질로 인한 위험성을 피할 수 있다는 장점을 갖는다. 그러나, 현재 사용되는 초음파 탐상검사법의 하나인 펄스-에코법(Pulse-echo Testing)과 같은 선형 음향 탐상법은, 음파를 발생시킨 후 발생된 음파가 결함으로부터 반사되어 돌아오는 동안의 시간과 양을 측정하는 방법으로서, 다음과 같은 몇 가지 단점을 갖는다.
첫 째, 검사 대상물이 비균질할 경우에 대상물 내에서 많은 감쇠가 발생하므로 반사신호를 수신하기가 매우 어렵다.
둘 째, 반사신호를 수신한다 하더라도, 결함에서 나오는 신호와 대상물 자체에서 나오는 신호를 구분하기가 매우 곤란하므로, 검사자의 많은 경험과 능력을 요구하게 된다.
셋 째, 검사 부위가 음파를 발생시키는 지점에 한정되므로, 검사 대상물의 크기가 클 경우, 많은 시간과 비용이 요구된다.
본 발명은 종래 선형 음향 탐사법의 장점인 안전성과 편의성을 유지한 채 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 발명의 구체적인 목적은 검사 대상물이 비균질한 경우에도 결함을 용이하게 판별할 수 있고, 또한 판별과정에 있어서도 선형 음향 탐사법에 비해 용이한 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법을 제공하는데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사장치는,
전기적 신호를 초음파 신호로 변환시키는 송신용 초음파 변환기와;
상기 송신용 초음파 변환기를 구동시키기 위한 초음파 송신부와;
상기 초음파 송신부에 의해 구동된 전기적 신호를 시간함수 및 주파수함수로 변환시키기 위한 신호처리 모듈과;
상기 신호처리 모듈에서 변환된 전기적 신호를 분석하여 상대 비선형계수 및 결함존재지수를 계산하는 계산 모듈과;
상기 신호처리 모듈에서 얻어진 계산 및 진단 결과를 화면으로 나타내는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명에 따른 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법은,
전기적 신호를 초음파로 변환시키는 단계와;
변환된 초음파를 검사 대상물에 적용시키는 단계와;
상기 검사 대상물을 통과한 후의 초음파를 전기적 신호로 변환시키는 단계와;
변환된 전기적 신호를 시간함수 및 주파수함수로 변환시키는 단계와;
입사된 초음파의 주파수에 대하여 상대 비선형계수(RN(f)) 및 결함존재지수(IDE)를 계산하는 단계와;
상기 결함존재지수를 기준이 되는 결함존재지수와 비교하여 결함의 존재 유무를 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 상대 비선형계수는 입사 주파수의 진폭 파워스펙트럼에 대한 배진동 주파수의 진폭 파워스펙트럼의 비(比)이다.
또한, 상기 결함존재지수는 결함이 없는 기준 시편의 상대 비선형계수(RN0)와 검사 대상 시편의 상대 비선형계수(RNd)와의 차(差)이다.
여기서, 평균 상대 비선형계수는 복수의 진폭에 대하여 산출되는 상대 비선형계수의 평균치를 의미한다.
이와 같이 구성하면, 검사 대상물이 비균질할 경우, 결함과 초음파 사이의 상호작용으로 발생되는 비선형 음향 반응을 추적하여, 결함으로부터 발생되는 신호만을 판별할 수 있다. 비선형 음향 반응으로는 입사 초음파가 갖는 주파수의 2배가되는 주파수가 발생되는 배진동 주파수, 두 개의 입사 초음파의 각기 다른 두 개의 주파들 간의 합주파수 및 차주파수 등을 들 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 결함에 의해 발생되는 비선형 음향 반응의 발생 원리도이다. 도시된 바와 같이, 검사 시편에 부착된 음파발생기에 의해 발생되는 탐사 음파(1)는 검사 시편 내부로 입사된다. 입사된 탐사 음파는 시편 내부에 결함이 존재할 경우, 결함과 상호작용하여 본래 탐사 음파가 가진 주파수 이외에 다른 주파수가 발생된다. 이 때, 발생되는 다른 주파수는, 하나의 주파수를 입사시켰을 경우에는 입사된 주파수의 2배가 되는 배진동 주파수(2)이고, 두 개의 주파수를 동시에 입사시켰을 경우에는 각 주파수의 배진동 주파수(2), 및 두 주파수의 합주파수, 차주파수이다.
도 2는 본 발명에 따른 비선형 음향 반응을 이용한 비파괴 음향 탐사장치를 나타낸 것으로, 상기 비파괴 비선형 음향 탐사장치는 전기적 신호를 초음파 신호로 변환시키는 송신용 초음파 변환기(11, 12)와; 초음파 신호를 전기적 신호로 변환시키는 수신용 초음파 변환기(13)와; 상기 송신용 초음파 변환기를 구동시키기 위한 초음파 송신부(14, 15)와; 상기 초음파 변환기로부터 발생된 초음파가 검사 대상물에 입사되어, 그 내부에 형성된 결함과 상호작용하여 발생하는 신호를 수신용 초음파 변환기(13)를 통하여 감지하는 초음파 수신부(16)와; 상기 초음파 수신부(16)에 의해 감지된 전기적 신호를 시간함수 및 주파수함수로 변환시키기 위한 신호처리 모듈(17)과; 상기 신호처리 모듈에서 변환된 시간 및 주파수함수의 신호를 분석하여 상대 비선형 계수를 계산하는 계산 모듈(18)과; 상기 계산 및 진단 결과를 화면으로 나타내는 디스플레이부(19)로 구성되어 있다.
도 2의 초음파 수신부(16)에서 수신된 초음파의 전기적 신호는 신호처리 모듈(17)에서 시간함수로 변환되고, 변환된 시간함수에 FFT를 취하여 주파수함수로 변환된다.
도 3은, 수신된 전기적 신호를 시간함수로 변환한 후, FFT를 취하여 얻어진 주파수함수로서의 진폭 파워스펙트럼을 나타내는 도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 입사된 주파수와 그 외의 주파수들 사이에 진폭 차이가 나타나고 있는 것을 진폭 파워스펙트럼을 통해 알 수 있다. 수학식 1로부터 배진동 주파수의 입사 주파수에 대한 진폭비인 상대 비선형계수(Relative Nonlinear Coefficient: RN)를 구할 수 있다.
Figure 112003041352484-pat00001
여기서, R(f)는 입사 주파수 f의 진폭 파워스펙트럼이고, R(2f)는 입사 주파수 f의 배진동 주파수인 2f의 진폭 파워스펙트럼이다. 도 4는, 수학식 1을 이용하여 입사진폭을 변화시키면서 얻어진 상대 비선형계수를 나타내는 도이다.
도 2의 계산 모듈(18)에서는 상기 상대 비선형계수를 입사 초음파의 진폭을 변화시키면서 측정하고, 평균을 취하여 평균 상대 비선형계수를 계산한다. 이 상대 비선형계수는 결함에 의해 발생되는 비선형 반응 정도에 의존하므로 결함의 존재 유무를 판단하는 변수로 이용될 수 있다. 따라서, 결함이 없는 기준 시편에 대한 상대 비선형계수와 검사 대상물에서 측정된 상대 비선형계수의 값과의 상관관계를 분석하여 결함 진단 알고리즘을 수립한다. 상대 비선형계수의 값으로 분석할 수 있는 진단 알고리즘은 다음 수학식 2와 같다.
IDE = RN d (f) - RN 0 (f)
여기서, RN0(f)는 결함이 없는 기준 시편에서의 상대 비선형계수, RNd(f) 는 결함 유무를 알 수 없는 검사 대상물에서의 상대 비선형계수이고, IDE는 결함존재지수(Index of Defect Existence)로, 결함이 없는 기준 시편에서 측정한 상대 비선형계수와 검사 대상물에서 측정한 상대 비선형계수의 상대적인 값을 나타낸다. 그리고, 그 단위는 dB이다.
도 5는, 상기 IDE값으로부터 결함의 존재 유무를 판단하는 수행 순서를 나타낸 것이다. IDE값을 계산하여 기준값 이상의 값을 가질 경우, 검사 대상물이 기준 시편에 비하여 비선형 반응이 크다는 것을 나타내며, 이 결과로부터 검사 대상물이 결함을 가지고 있다고 판단할 수 있다. 여기서, IDE의 기준값은 오차 범위를 포함한 것으로, 기준 시편의 비선형성에 따라 3dB, 5dB, 6dB 등 차등적인 기준값을 정할 수 있다.
전술한 바와 같은 구성의 본 발명에 따르면, 검사 대상물 내부의 결함으로부터 발생되는 비선형 음향 반응인, 입사주파수에 대한 배진동 주파수 및 합·차 주파수 발생을 이용하여 결함의 유·무와 위치를 판별하는 비선형 음향 반응을 이용한 비파괴 음향 탐사법을 사용함으로써, 검사 대상물이 비균질한 경우에도 결함을 용이하게 판별할 수 있고, 또한 판별 과정에 있어서도 종래의 선형 음향 탐사법보 다 용이하여 숙련도가 크게 필요치 않다는 이점이 있다.

Claims (5)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 전기적 신호를 초음파로 변환시키는 단계와;
    변환된 초음파를 검사 대상물에 적용시키는 단계와;
    상기 검사 대상물을 통과한 후의 초음파를 전기적 신호로 변환시키는 단계와;
    변환된 전기적 신호를 시간함수 및 주파수함수로 변환시키는 단계와;
    입사된 초음파의 주파수에 대하여 상대 비선형계수(RN(f)) 및 결함존재지수(IDE)를 계산하는 단계와;
    상기 결함존재지수를 기준이 되는 결함존재지수와 비교하여 결함의 존재 유무를 판단하는 단계와;를 포함하여 구성되되,
    상기 상대 비선형계수는, 입사 주파수의 진폭 파워스펙트럼에 대한 배진동 주파수의 진폭 파워스펙트럼의 비(比)인 것을 특징으로 하는 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 결함존재지수는, 결함이 없는 기준 시편의 상대 비선형계수(RN0)와 검사 대상 시편의 평균 상대 비선형계수(RNd)와의 차(差)인 것을 특징으로 하는 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 평균 상대 비선형계수는, 복수의 진폭에 대하여 산출되는 상대 비선형계수의 평균치인 것을 특징으로 하는 비선형 음향반응을 이용한 비파괴 음향 탐사방법.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101191364B1 (ko) 2010-09-27 2012-10-15 한양대학교 산학협력단 비선형 평가 시스템 및 장치
KR101218616B1 (ko) * 2011-04-14 2013-01-04 원광대학교산학협력단 비선형 파라미터 측정을 위한 전달부 교정 방법, 상기 교정 방법을 이용한 교정 장치, 및 상기 교정 방법을 이용한 비선형 파라미터 측정 방법 및 장치
WO2014104563A1 (ko) * 2012-12-24 2014-07-03 한국표준과학연구원 비선형 파라미터 측정 장치 및 방법
WO2017209329A1 (ko) * 2016-06-03 2017-12-07 한양대학교 산학협력단 고전압 펄서에서 발생되는 초음파 비선형성 측정 방법

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100862028B1 (ko) * 2007-03-12 2008-10-07 주식회사 포스코건설 록볼트의 그라우팅 결함 측정 시스템 및 이를 이용한측정방법
KR101880194B1 (ko) * 2016-05-30 2018-07-20 한국과학기술원 구조물의 진단 방법 및 진단 시스템
KR102159012B1 (ko) * 2018-09-18 2020-09-24 강원대학교산학협력단 초음파의 비선형 특성을 이용한 골구조 예측 장치 및 방법
CN114324593A (zh) * 2021-12-31 2022-04-12 中广核检测技术有限公司 非线性超声常规超声综合检测装置及方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101191364B1 (ko) 2010-09-27 2012-10-15 한양대학교 산학협력단 비선형 평가 시스템 및 장치
KR101218616B1 (ko) * 2011-04-14 2013-01-04 원광대학교산학협력단 비선형 파라미터 측정을 위한 전달부 교정 방법, 상기 교정 방법을 이용한 교정 장치, 및 상기 교정 방법을 이용한 비선형 파라미터 측정 방법 및 장치
WO2014104563A1 (ko) * 2012-12-24 2014-07-03 한국표준과학연구원 비선형 파라미터 측정 장치 및 방법
WO2017209329A1 (ko) * 2016-06-03 2017-12-07 한양대학교 산학협력단 고전압 펄서에서 발생되는 초음파 비선형성 측정 방법
US10921289B2 (en) 2016-06-03 2021-02-16 Industry-University Cooperation Foundation Hanyang University Method for measuring ultrasonic nonlinearity generated by high voltage pulser

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