JPS6017354A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS6017354A JPS6017354A JP58124668A JP12466883A JPS6017354A JP S6017354 A JPS6017354 A JP S6017354A JP 58124668 A JP58124668 A JP 58124668A JP 12466883 A JP12466883 A JP 12466883A JP S6017354 A JPS6017354 A JP S6017354A
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- circuit
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
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- G—PHYSICS
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/40—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude filtering, e.g. by applying a threshold or by gain control
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/48—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude comparison
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波を用いて金属等の内部欠陥を検出する
超音波探傷装置、特には、欠陥からの反射エコーを用い
て、欠陥深さと欠陥エコーレベルとを定量的に検出する
ための超音波探傷装置に関する。
超音波探傷装置、特には、欠陥からの反射エコーを用い
て、欠陥深さと欠陥エコーレベルとを定量的に検出する
ための超音波探傷装置に関する。
従来、欠陥深さ位置ならびに欠陥エコーレベルを検出す
るだめの方法としては、欠陥検出用の時間ゲートと欠陥
検出用のスレッショルドレベルとをあらかじめ設定する
ことにより、上記時間ゲート内で、最初に上記スレッシ
ョルドレベルを超えた欠陥エコーの位置を、欠陥深さ位
置として検出し、また、上記時間ゲート内に出現した欠
陥エコーの総ての積分値を、欠陥エコーレベルとして検
出するものが知られている。ところが、この」二うな方
法では、欠陥深さ位置とその欠陥のエコーレベルとが合
致しないという欠点があった。
るだめの方法としては、欠陥検出用の時間ゲートと欠陥
検出用のスレッショルドレベルとをあらかじめ設定する
ことにより、上記時間ゲート内で、最初に上記スレッシ
ョルドレベルを超えた欠陥エコーの位置を、欠陥深さ位
置として検出し、また、上記時間ゲート内に出現した欠
陥エコーの総ての積分値を、欠陥エコーレベルとして検
出するものが知られている。ところが、この」二うな方
法では、欠陥深さ位置とその欠陥のエコーレベルとが合
致しないという欠点があった。
そこで、上述した装置について、具体例をあけて以下に
説明する。
説明する。
第１図に従来の超音波探傷装置の一例を示す。
これは、基準信号を発生させるためのシックジェネレー
タ１を有しており、上記基準信号によりパルサー２が駆
動され、発生する高電圧にて探触子Ｘを働かせる。すな
わち探触子Ｘは、７上記高電圧を超音波に変換し、該超
音波を被検体Ｃに発射する。そして該超音波は被検体Ｃ
中に伝播し、もし内部に欠陥Ｆ１あるいはＦ２すどがあ
ると、それらの欠陥Ｆ、、Ｆ２あるいは底面で反射し、
欠陥エコーあるいは底面エコーとして、再び探触子Ｘに
戻り電気信号に変換される。この電気信号がアンプ３に
て増巾され、時間ゲート４に入ると同時に、垂直軸アン
プ９に入り、表示器Ａの垂直信号となる。
タ１を有しており、上記基準信号によりパルサー２が駆
動され、発生する高電圧にて探触子Ｘを働かせる。すな
わち探触子Ｘは、７上記高電圧を超音波に変換し、該超
音波を被検体Ｃに発射する。そして該超音波は被検体Ｃ
中に伝播し、もし内部に欠陥Ｆ１あるいはＦ２すどがあ
ると、それらの欠陥Ｆ、、Ｆ２あるいは底面で反射し、
欠陥エコーあるいは底面エコーとして、再び探触子Ｘに
戻り電気信号に変換される。この電気信号がアンプ３に
て増巾され、時間ゲート４に入ると同時に、垂直軸アン
プ９に入り、表示器Ａの垂直信号となる。
又表示器Ａは、ジンクジェネレータ１からの信号により
同期して動く水平軸アンプ６により水平軸が制御され、
この水平軸アンプ６と垂直軸アンプ９により、表示器Ａ
には、被検体Ｃ中の超音波エコーが表示される。このよ
うにして、表示器Ａには被検体Ｃの表面、欠陥ならびに
底面からの超音波エコーを表示する。
同期して動く水平軸アンプ６により水平軸が制御され、
この水平軸アンプ６と垂直軸アンプ９により、表示器Ａ
には、被検体Ｃ中の超音波エコーが表示される。このよ
うにして、表示器Ａには被検体Ｃの表面、欠陥ならびに
底面からの超音波エコーを表示する。
そこで次に、不要なエコー信号を取除き、欠陥深さ位置
ならびに欠陥エコーレベルを検出するための処理を、第
２図に示した信号波形を参照しながら説明する。
ならびに欠陥エコーレベルを検出するための処理を、第
２図に示した信号波形を参照しながら説明する。
まず、シンクジェネレータ１からの基準信号によって制
御されるゲートディレィ回路７で、欠陥検出すべき時間
ゲートのスタート点を定め、次に、ゲートディレィ回路
７によって制御されるゲートウィズ回路８で、欠陥検出
すべき時間ゲー） １１を定める。そして、これら二つ
のゲート信号を、垂直軸アンプ９によって表示器Ａに表
示すると同時に、時間ゲート回路４に送ることにより、
第２図（ｂ）に示すように、スタート点ＧＳとゲート巾
ＧＷとではさまれた時間ゲートを設定する。そこで、第
２図（ａ）に示すような、表面エコー５（Ｓ）、欠陥エ
コー５（Ｆｌ）および５（Ｆ２）、ならびに底面エコー
Ｓ （Ｂ）を含むエコー信号が、アンプ３から時間ゲー
ト回路４に入力した場合、設定された時間ゲート（ＧＳ
からＧＷまでの時間範囲）内に存在する欠陥エコーｓ
（Ｆｌ）と５（Ｆ２）のみが出力され、表面エコー５（
Ｓ）と底面エコー５Ｑ３）とは取除かれる。ここで、時
間ゲートのスタート点ＧＳとゲート巾ＧＷとは、ゲート
ディレィ回路７あるいはゲートウィズ回路８によって各
々独立に可変設定できるものであり、取出したいエコー
信号にあわせて設定すればよい。
御されるゲートディレィ回路７で、欠陥検出すべき時間
ゲートのスタート点を定め、次に、ゲートディレィ回路
７によって制御されるゲートウィズ回路８で、欠陥検出
すべき時間ゲー） １１を定める。そして、これら二つ
のゲート信号を、垂直軸アンプ９によって表示器Ａに表
示すると同時に、時間ゲート回路４に送ることにより、
第２図（ｂ）に示すように、スタート点ＧＳとゲート巾
ＧＷとではさまれた時間ゲートを設定する。そこで、第
２図（ａ）に示すような、表面エコー５（Ｓ）、欠陥エ
コー５（Ｆｌ）および５（Ｆ２）、ならびに底面エコー
Ｓ （Ｂ）を含むエコー信号が、アンプ３から時間ゲー
ト回路４に入力した場合、設定された時間ゲート（ＧＳ
からＧＷまでの時間範囲）内に存在する欠陥エコーｓ
（Ｆｌ）と５（Ｆ２）のみが出力され、表面エコー５（
Ｓ）と底面エコー５Ｑ３）とは取除かれる。ここで、時
間ゲートのスタート点ＧＳとゲート巾ＧＷとは、ゲート
ディレィ回路７あるいはゲートウィズ回路８によって各
々独立に可変設定できるものであり、取出したいエコー
信号にあわせて設定すればよい。
次に、上述員だ様にして時間ゲート回路４で、時間的に
弁別された欠陥エコーＳ（Ｆｌ） ＋ ５（Ｆ２） ヲ
、レベルゲート回路５に送り込む。ここでは、レベル変
換器１０によって定められた、検出すべきエコ、−信号
のスレッショルドレベルとしてのケートレベルＧＬ （
第２図（ｂ）に示す）を有しており、前記欠陥エコー５
（Ｆｌ） 、 ５（Ｆ２）の内で、最初に上記ゲートレ
ベルＧＬを超えたものに対して、パルスを発生させ、そ
のパルスの立上り点が欠陥深さに相当する欠陥深さ信号
Ｆとして出力する。たとえば、欠陥エコー５（Ｆｉ）が
ゲートレベルＧＬよりも大きい場合は、欠陥エコーＳ
（Ｆ２）の大小如何にかかわらず、第２図（ｃ）に示す
ようにパルスＰ、を出力し、この立上り点を欠陥深さ位
置とする。また、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）がゲートレベル
ＧＬよりも小さく、欠陥エコー５（Ｆ２）がゲートレベ
ルＧＬよりも大きい場合は、第２図（ｄ）に示すように
パルスＰ３を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とす
る。このようにして、ゲートレベルＧＬＪｇ上のエコー
信号が、時間ゲート（ＧＳからＧＷまで）内に出現した
場合に、その最初のエコー信号に対応したパルスを欠陥
深さ信号として取出すものである。
弁別された欠陥エコーＳ（Ｆｌ） ＋ ５（Ｆ２） ヲ
、レベルゲート回路５に送り込む。ここでは、レベル変
換器１０によって定められた、検出すべきエコ、−信号
のスレッショルドレベルとしてのケートレベルＧＬ （
第２図（ｂ）に示す）を有しており、前記欠陥エコー５
（Ｆｌ） 、 ５（Ｆ２）の内で、最初に上記ゲートレ
ベルＧＬを超えたものに対して、パルスを発生させ、そ
のパルスの立上り点が欠陥深さに相当する欠陥深さ信号
Ｆとして出力する。たとえば、欠陥エコー５（Ｆｉ）が
ゲートレベルＧＬよりも大きい場合は、欠陥エコーＳ
（Ｆ２）の大小如何にかかわらず、第２図（ｃ）に示す
ようにパルスＰ、を出力し、この立上り点を欠陥深さ位
置とする。また、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）がゲートレベル
ＧＬよりも小さく、欠陥エコー５（Ｆ２）がゲートレベ
ルＧＬよりも大きい場合は、第２図（ｄ）に示すように
パルスＰ３を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とす
る。このようにして、ゲートレベルＧＬＪｇ上のエコー
信号が、時間ゲート（ＧＳからＧＷまで）内に出現した
場合に、その最初のエコー信号に対応したパルスを欠陥
深さ信号として取出すものである。
また、時間ゲート回路４からの信号は、積分器１１に入
力し、ゲートディレィ回路７およびゲートウィズ回路８
で定められた時間ゲート内でのみ積分されて、エコーレ
ベル信号■。とじて出力される。
力し、ゲートディレィ回路７およびゲートウィズ回路８
で定められた時間ゲート内でのみ積分されて、エコーレ
ベル信号■。とじて出力される。
たとえば、第２図（ｅ）に示すように、まず欠陥エコー
ｓ（Ｆｌ）が積分されてＶｌとなり、次に欠陥エコー５
（Ｆ２）が積分された値Ｖ２が、前記Ｖ、に加算されて
Ｖｓ （”Ｖ＋ ＋Ｖ２）となった積分値を、エコーレ
ベル信号ＩＯとして出力する。
ｓ（Ｆｌ）が積分されてＶｌとなり、次に欠陥エコー５
（Ｆ２）が積分された値Ｖ２が、前記Ｖ、に加算されて
Ｖｓ （”Ｖ＋ ＋Ｖ２）となった積分値を、エコーレ
ベル信号ＩＯとして出力する。
従って、従来は上述したようにして欠陥深さ信号Ｆ ’
ｆ、ｆらびにエコーレベル信号Ｉ。をめていたため、前
記時間ゲート内に欠陥エコーが単独で存在する場合、た
とえば５（Ｆｔ）あるいは５（Ｆ２）が−個のみある場
合には、エコーレベル信号■。は、ＶｌあるいはＶ２と
して検出されるので、欠陥エコーに対応したエコーレベ
ルがまり、問題は生じ７Ｈい。
ｆ、ｆらびにエコーレベル信号Ｉ。をめていたため、前
記時間ゲート内に欠陥エコーが単独で存在する場合、た
とえば５（Ｆｔ）あるいは５（Ｆ２）が−個のみある場
合には、エコーレベル信号■。は、ＶｌあるいはＶ２と
して検出されるので、欠陥エコーに対応したエコーレベ
ルがまり、問題は生じ７Ｈい。
ところが、複数個の欠陥がらの複数個の欠陥エコー信号
がある場合には、欠陥深さ位置とそのエコーレベルとは
対応しないという問題、すなわち、第２図で示したよう
に欠陥深さ位置としては、パルスＰ、あるいはパルスＰ
２のいずれが一方のみが有効となるが、エコーレベル信
号Ｉ。ハＶｓ （＝ＶＩ十Ｖ２）となってしまい、欠陥
Ｆ、 、 Ｆ２のいずれにも対応しないものとなる。
がある場合には、欠陥深さ位置とそのエコーレベルとは
対応しないという問題、すなわち、第２図で示したよう
に欠陥深さ位置としては、パルスＰ、あるいはパルスＰ
２のいずれが一方のみが有効となるが、エコーレベル信
号Ｉ。ハＶｓ （＝ＶＩ十Ｖ２）となってしまい、欠陥
Ｆ、 、 Ｆ２のいずれにも対応しないものとなる。
本発明は、上記問題点を解消するためになされたもので
あり、被検体のあらかじめ設定された深さ範囲内に存在
する欠陥からの欠陥エコーであって、かつあらかじめ設
定されたレベル範囲にある欠陥エコーを検出し、該検出
で得られた欠陥エコーのレベルのピーク値を取込むこと
（二より、欠陥の深さ位置と該欠陥からのエコーレベル
とを正しく対応させることが可能な、超音波探傷装置を
提供することを目的とする。
あり、被検体のあらかじめ設定された深さ範囲内に存在
する欠陥からの欠陥エコーであって、かつあらかじめ設
定されたレベル範囲にある欠陥エコーを検出し、該検出
で得られた欠陥エコーのレベルのピーク値を取込むこと
（二より、欠陥の深さ位置と該欠陥からのエコーレベル
とを正しく対応させることが可能な、超音波探傷装置を
提供することを目的とする。
以下本発明をその実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第３図は本発明の一実施例である超音波探傷装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
ここで、シンクジェネレータ１からレベル変換器１０ま
での構成は、第１図で示した従来例と同様であり、従来
の積分器１１を取除いて、その代わりに、時間ゲート回
路４で検出された欠陥エコーのエコーレベルのピーク値
を記憶するためのピークホロワ回路１２と、レベルゲー
ト回路５で得られるパルスの立下がり点を設定するため
のパルス形成回路１４と、ピークホロワ回路１２で得ら
れたエコーレベルのピーク値をパルス形成回路１４で得
られたパルスの立下がり点でホールドするためのサンプ
ルホールド回路１３と、を設けたものである。
での構成は、第１図で示した従来例と同様であり、従来
の積分器１１を取除いて、その代わりに、時間ゲート回
路４で検出された欠陥エコーのエコーレベルのピーク値
を記憶するためのピークホロワ回路１２と、レベルゲー
ト回路５で得られるパルスの立下がり点を設定するため
のパルス形成回路１４と、ピークホロワ回路１２で得ら
れたエコーレベルのピーク値をパルス形成回路１４で得
られたパルスの立下がり点でホールドするためのサンプ
ルホールド回路１３と、を設けたものである。
以下に、これらの動作を第２図を参考にして説明しなが
ら、本発明の超音波探傷装置について述べる。
ら、本発明の超音波探傷装置について述べる。
まず、前述した従来例と同様に、アンプ３がら出力され
た、たとえば第２図ｆａｔに示すようｔ１表面エコー
Ｓ （Ｓｌ、欠陥エコーｓ（Ｆｌ） ｅ ５（Ｆ２）
、ｒｘらヒニ底面エコー５（Ｂ）７：ｃどのエコー信号
の中から、必要とされる深さ範囲内（たとえば第２図（
ｂ）に示す時間ゲートＧＳからＧＷまでの範囲）にある
欠陥エコー ５（Ｆｌ） 、 ５（Ｆ２） ノみを、時
間ゲート回路４で取出す。次に、ピークホロワ回路１２
は、たとえば欠陥エコーｓ（Ｆｌ）が欠陥エコー５（Ｆ
２）よりも大きなレベルを持つ場合には、第２図（ｆ）
に示すように欠陥エコー５（Ｆｌ）のレベルのピーク値
Ｖ、を記憶し、また逆に、欠陥エコー”Ｓ （Ｆ２）が
欠陥エコーｓ（ｐ＋）よりも大きな場合には、第２図（
ｇ）に示すように、一旦上記ｖ１を記憶した後、欠陥エ
コーｓ （Ｆ２）のレベルのピーク値Ｖ２を記憶する。
た、たとえば第２図ｆａｔに示すようｔ１表面エコー
Ｓ （Ｓｌ、欠陥エコーｓ（Ｆｌ） ｅ ５（Ｆ２）
、ｒｘらヒニ底面エコー５（Ｂ）７：ｃどのエコー信号
の中から、必要とされる深さ範囲内（たとえば第２図（
ｂ）に示す時間ゲートＧＳからＧＷまでの範囲）にある
欠陥エコー ５（Ｆｌ） 、 ５（Ｆ２） ノみを、時
間ゲート回路４で取出す。次に、ピークホロワ回路１２
は、たとえば欠陥エコーｓ（Ｆｌ）が欠陥エコー５（Ｆ
２）よりも大きなレベルを持つ場合には、第２図（ｆ）
に示すように欠陥エコー５（Ｆｌ）のレベルのピーク値
Ｖ、を記憶し、また逆に、欠陥エコー”Ｓ （Ｆ２）が
欠陥エコーｓ（ｐ＋）よりも大きな場合には、第２図（
ｇ）に示すように、一旦上記ｖ１を記憶した後、欠陥エ
コーｓ （Ｆ２）のレベルのピーク値Ｖ２を記憶する。
一方、時間ゲート回路４で時間的に弁別された欠陥エコ
ーＳ （Ｆｌ） 、 Ｓ （Ｆ２）は、レベルゲート回
路５に送りこまれる。ここでは、第２図（ｂ）に示すよ
うに、レベル変換器１０で定められたゲートレベルＧＬ
を有しており、前記欠陥エコーＳ （Ｆｌ） 、 Ｓ
（Ｆ２）の内で最初に上記ゲートレベルＧＬを超えたも
のに対して、パルスを発生させ、そのパルスの立上り点
が欠陥深さに相肖するような欠陥深さ信号Ｆとして出力
する。たとえば、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）がゲートレベル
ＧＬよりも大きい場合には、欠陥エコーＳ （Ｆ、）の
大小如何にかかわらず、第２図（ｃ）に示すようにパル
スＰ、を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とする。
ーＳ （Ｆｌ） 、 Ｓ （Ｆ２）は、レベルゲート回
路５に送りこまれる。ここでは、第２図（ｂ）に示すよ
うに、レベル変換器１０で定められたゲートレベルＧＬ
を有しており、前記欠陥エコーＳ （Ｆｌ） 、 Ｓ
（Ｆ２）の内で最初に上記ゲートレベルＧＬを超えたも
のに対して、パルスを発生させ、そのパルスの立上り点
が欠陥深さに相肖するような欠陥深さ信号Ｆとして出力
する。たとえば、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）がゲートレベル
ＧＬよりも大きい場合には、欠陥エコーＳ （Ｆ、）の
大小如何にかかわらず、第２図（ｃ）に示すようにパル
スＰ、を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とする。
また、欠陥エコー５（Ｆｌ）がゲートレベルＧＬよりも
小さく、欠陥エコー５（Ｆ２）がゲートレベルＧＬより
も大きい場合は、第２図（ｄ）に示すようにパルスＰ３
を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とする。このよ
うにして、あらかじめ設定したゲートレベルＧＬ以上の
エコー信号が時間ゲート（ＧＳからＧＷまで）内に出現
した場合に、その最初のエコー信号に対応したパルスを
欠陥深さ信号として取出すようにする。
小さく、欠陥エコー５（Ｆ２）がゲートレベルＧＬより
も大きい場合は、第２図（ｄ）に示すようにパルスＰ３
を出力し、この立上り点を欠陥深さ位置とする。このよ
うにして、あらかじめ設定したゲートレベルＧＬ以上の
エコー信号が時間ゲート（ＧＳからＧＷまで）内に出現
した場合に、その最初のエコー信号に対応したパルスを
欠陥深さ信号として取出すようにする。
そこで次に、レベルゲート回路５で、たとえば上述した
ようなパルスＰ□あるいはＦ３が得られた場合、パルス
形成回路１４によって、第２図（ｃ）あるいは（ｄ）（
−示すようにそれらのパルスの立下り点Ｐ２あるいはＦ
４を設定する。ここで、Ｐ、からＦ２、あるいはＦ３か
らＦ４までの時間幅は、ピークホロワ回路１２でピーク
ホローする場合の、たとえば第２図（ｆ）あるいは（ｇ
）に於けるｖｌあるいはＦ２の立上りが安定する時間を
設定する。尚、これらの立上り時間は、超音波の発振周
波数（二より変化するため、このことを考慮して、適切
なパルス幅になるように、Ｆ２あるいはＦ４を設定する
ようにする。そして、サンプルホールド回路１３が、上
述のようにしてパルス形成回路１４で設定されたパルス
の立下り点Ｐ２あるいはＦ４をサンプリングポイントと
して、ピークホロワ回路１２で得られたピークホロー値
をホールドし、これをエコーレベル信号工１として出力
する。たとえば、時間ゲート内に最初に現われた欠陥エ
コー５（Ｆｌ）のレベルが’７’−）レベルＧＬ以上の
場合には、パルスＰ、が形成され、立下り点Ｐ２をサン
プリングポイントとして、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）のピー
ク値ｖ１を第２図（ｆ）に示すようにホールドする。ま
た、欠陥エコー５（Ｆｌ）のレベルがゲートレベルＧＬ
より小さく、次に現われた欠陥エコー５（Ｆ２）（７１
）ｌ／ベルがゲートレベルＧＬより大きい場合には、パ
ルスＰ３が形成され、立下り点Ｐ４をサンプリングポイ
ントとして、欠陥エコー５（Ｆ２）のピーク値ｖ２を第
２図（ｇ）に示すようにホールドする。
ようなパルスＰ□あるいはＦ３が得られた場合、パルス
形成回路１４によって、第２図（ｃ）あるいは（ｄ）（
−示すようにそれらのパルスの立下り点Ｐ２あるいはＦ
４を設定する。ここで、Ｐ、からＦ２、あるいはＦ３か
らＦ４までの時間幅は、ピークホロワ回路１２でピーク
ホローする場合の、たとえば第２図（ｆ）あるいは（ｇ
）に於けるｖｌあるいはＦ２の立上りが安定する時間を
設定する。尚、これらの立上り時間は、超音波の発振周
波数（二より変化するため、このことを考慮して、適切
なパルス幅になるように、Ｆ２あるいはＦ４を設定する
ようにする。そして、サンプルホールド回路１３が、上
述のようにしてパルス形成回路１４で設定されたパルス
の立下り点Ｐ２あるいはＦ４をサンプリングポイントと
して、ピークホロワ回路１２で得られたピークホロー値
をホールドし、これをエコーレベル信号工１として出力
する。たとえば、時間ゲート内に最初に現われた欠陥エ
コー５（Ｆｌ）のレベルが’７’−）レベルＧＬ以上の
場合には、パルスＰ、が形成され、立下り点Ｐ２をサン
プリングポイントとして、欠陥エコーｓ（Ｆｌ）のピー
ク値ｖ１を第２図（ｆ）に示すようにホールドする。ま
た、欠陥エコー５（Ｆｌ）のレベルがゲートレベルＧＬ
より小さく、次に現われた欠陥エコー５（Ｆ２）（７１
）ｌ／ベルがゲートレベルＧＬより大きい場合には、パ
ルスＰ３が形成され、立下り点Ｐ４をサンプリングポイ
ントとして、欠陥エコー５（Ｆ２）のピーク値ｖ２を第
２図（ｇ）に示すようにホールドする。
上述したように本実施例は、あらかじめ設定したゲート
レベルを持つ時間ゲート内に最初に現われた欠陥エコー
について、その欠陥深さ位置を検出し、かつ、該欠陥エ
コーのエコーレベルのみをサンプルホールドして検出す
るようにしたので、欠陥の深さ位置に対応したエコーレ
ベルを得ることが可能となる。
レベルを持つ時間ゲート内に最初に現われた欠陥エコー
について、その欠陥深さ位置を検出し、かつ、該欠陥エ
コーのエコーレベルのみをサンプルホールドして検出す
るようにしたので、欠陥の深さ位置に対応したエコーレ
ベルを得ることが可能となる。
尚、第３図に於て、レベルゲート回路５、レベル変換器
１０、ピークホロワ回路１２、サンプルホールド回路１
３すらびにパルス形成回路１４を一組にして、これらを
多数組用い、時間ゲート回路４で時間的に弁別された多
数の欠陥エコーを、表面に近い方から順次、上記多数組
のレベルゲート回路５とピークホロワ回路１２とに振り
分け、欠陥一個毎にその深さ位置信号とレベル信号とを
取込むことによって、より詳細な情報を得ることも可能
とｙ’ｚる。
１０、ピークホロワ回路１２、サンプルホールド回路１
３すらびにパルス形成回路１４を一組にして、これらを
多数組用い、時間ゲート回路４で時間的に弁別された多
数の欠陥エコーを、表面に近い方から順次、上記多数組
のレベルゲート回路５とピークホロワ回路１２とに振り
分け、欠陥一個毎にその深さ位置信号とレベル信号とを
取込むことによって、より詳細な情報を得ることも可能
とｙ’ｚる。
以上説明したように本発明は、被検体の所定の深さ範囲
内で、かつ所定レベルにある欠陥エコーの、その深さ位
置とエコーレベルとを正しく対応させて検出することを
可能とし、たとえば、被検体中の欠陥位置を深さ方向に
断面表示する場合に於ても、欠陥の、深さ位置に対応し
たエコーレベル信号を断面図形上に重畳して正確に表わ
すことが出来るという、非常に優れた効果を奏するもの
である。
内で、かつ所定レベルにある欠陥エコーの、その深さ位
置とエコーレベルとを正しく対応させて検出することを
可能とし、たとえば、被検体中の欠陥位置を深さ方向に
断面表示する場合に於ても、欠陥の、深さ位置に対応し
たエコーレベル信号を断面図形上に重畳して正確に表わ
すことが出来るという、非常に優れた効果を奏するもの
である。
第１図は従来の超音波探傷装置の一例を示すブロック図
、第２図（ａ）〜（ｇ）は従来ならびに本発明による超
音波探傷装置の動作を説明するための信号波形図、第３
図は本発明の超音波探傷装置の一実施例を示すブロック
図である。 １・・・シンクジェネレータ ２・・・パルサー３・・
アンプ ４・・・時間ゲート回路５・・・レベルゲート
回路 ６・・・水平軸アンプ７・・・ゲートディレィ回
路 ８・・・ゲートウィズ回路９・・・垂直軸アンプ
１０・・・レベル変換回路１２・・・ピークホロワ回路
１３・・・サンプルホールド回路１４・・・パルス形
成回路
、第２図（ａ）〜（ｇ）は従来ならびに本発明による超
音波探傷装置の動作を説明するための信号波形図、第３
図は本発明の超音波探傷装置の一実施例を示すブロック
図である。 １・・・シンクジェネレータ ２・・・パルサー３・・
アンプ ４・・・時間ゲート回路５・・・レベルゲート
回路 ６・・・水平軸アンプ７・・・ゲートディレィ回
路 ８・・・ゲートウィズ回路９・・・垂直軸アンプ
１０・・・レベル変換回路１２・・・ピークホロワ回路
１３・・・サンプルホールド回路１４・・・パルス形
成回路
Claims (1)
- 超音波を用いて被検体の欠陥を検出する超音波探傷装置
に於て、該被検体の所定深さ範囲内でかつ所定レベルに
ある欠陥エコーを検出する手段と、該手段で得られた欠
陥エコーのピーク値を取込む手段と、を有することを特
徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58124668A JPS6017354A (ja) | 1983-07-11 | 1983-07-11 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58124668A JPS6017354A (ja) | 1983-07-11 | 1983-07-11 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6017354A true JPS6017354A (ja) | 1985-01-29 |
Family
ID=14891096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58124668A Pending JPS6017354A (ja) | 1983-07-11 | 1983-07-11 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6017354A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63196355A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御加工システム |
| JPH03209159A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
| JPH03209160A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
-
1983
- 1983-07-11 JP JP58124668A patent/JPS6017354A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63196355A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御加工システム |
| JPH0569658B2 (ja) * | 1987-02-12 | 1993-10-01 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPH03209159A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
| JPH03209160A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
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