JPS62194456A - アレイ型探触子のチエツク方法 - Google Patents
アレイ型探触子のチエツク方法Info
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- JPS62194456A JPS62194456A JP61036157A JP3615786A JPS62194456A JP S62194456 A JPS62194456 A JP S62194456A JP 61036157 A JP61036157 A JP 61036157A JP 3615786 A JP3615786 A JP 3615786A JP S62194456 A JPS62194456 A JP S62194456A
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- JP
- Japan
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- flaw detection
- vibrator
- type probe
- magnitude
- array type
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 4
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 claims description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、アレイ型振動子を有する超音波探傷装置にお
けるアレイ型探触子のチェック方法に関するものである
。
けるアレイ型探触子のチェック方法に関するものである
。
従来、アレイ型振動子を用いた超音波探傷装置では、ア
レイ型振動子中の各振動子に同一の電圧を印加しても同
一の音波を発生させることは難しく、また同一強度の音
波を受信しても、各振動子では異なワた電圧として検出
される。即ち、各振動子の電気−音響の変換率、音響−
電気の変換率が、それぞれ異なるため、同一の電圧を印
加しても同一の出力は得られない。
レイ型振動子中の各振動子に同一の電圧を印加しても同
一の音波を発生させることは難しく、また同一強度の音
波を受信しても、各振動子では異なワた電圧として検出
される。即ち、各振動子の電気−音響の変換率、音響−
電気の変換率が、それぞれ異なるため、同一の電圧を印
加しても同一の出力は得られない。
従来このような受信電圧の不均一は、それぞれの振動子
に対応する増幅器の利得を変えることにより、各振動子
の特性のバラツキの補正を行っていた。しかしこの場合
、振動子そのものの経時変化、あるいは探傷中何らかの
トラブルに対し、対応することは困難であった。また、
アレイ型探触子の交換時にも増幅度を調整しなければな
らず、また探傷中の経時変化に対してはほとんど対応す
ることはできず、通常、オペレーターが調整できる作業
ではなかった。
に対応する増幅器の利得を変えることにより、各振動子
の特性のバラツキの補正を行っていた。しかしこの場合
、振動子そのものの経時変化、あるいは探傷中何らかの
トラブルに対し、対応することは困難であった。また、
アレイ型探触子の交換時にも増幅度を調整しなければな
らず、また探傷中の経時変化に対してはほとんど対応す
ることはできず、通常、オペレーターが調整できる作業
ではなかった。
本発明は、探傷中に1回又は較正時に1回振動子に電圧
を印加し、予め得られる電圧レベルを求めておき、それ
ぞれの振動子増幅器の利得を調整するものであって、そ
の要旨は[アレイ型探触子を用いた超音波探傷装置にお
いて、アレイ型探触子を構成する各振動子の内、1ケ又
は複数の振動子より音波を発生させ、被検材の底面又は
表面での反射エコーを当該振動子全部で受信し、その大
きさを判定することにより振動子の機能を確認するとと
もに、経時的な変化等に対し、各振動子の感度を補正す
ることを特徴とするプレイ型探触子のチェック方法。」
である。
を印加し、予め得られる電圧レベルを求めておき、それ
ぞれの振動子増幅器の利得を調整するものであって、そ
の要旨は[アレイ型探触子を用いた超音波探傷装置にお
いて、アレイ型探触子を構成する各振動子の内、1ケ又
は複数の振動子より音波を発生させ、被検材の底面又は
表面での反射エコーを当該振動子全部で受信し、その大
きさを判定することにより振動子の機能を確認するとと
もに、経時的な変化等に対し、各振動子の感度を補正す
ることを特徴とするプレイ型探触子のチェック方法。」
である。
即ち従来の超音波探傷装置においては、1lllilの
探触子は、はとんど1個の振動子であったため容易に、
その感度を調整することが可能であり、また、もし探触
子そのものが故障しても容易に把握することができた。
探触子は、はとんど1個の振動子であったため容易に、
その感度を調整することが可能であり、また、もし探触
子そのものが故障しても容易に把握することができた。
しかし、アレイ型探触子であれば、その中の1個の振動
子が故障しても、多数の振動子で構成されているため、
発見が難しかった。
子が故障しても、多数の振動子で構成されているため、
発見が難しかった。
〔実施例〕
第1図に示すように振動子1〜20で構成される探触子
101が接触媒質102を通して、被検材103に対向
して配列されている。この状態にて同一の電気信号で1
個または複数の振動子を同時又は時間をずらせて励振す
ると、受信する信号の大きさはそれぞれの超音波探傷方
法(垂直探傷、斜角探傷)及び走査方法により異なる。
101が接触媒質102を通して、被検材103に対向
して配列されている。この状態にて同一の電気信号で1
個または複数の振動子を同時又は時間をずらせて励振す
ると、受信する信号の大きさはそれぞれの超音波探傷方
法(垂直探傷、斜角探傷)及び走査方法により異なる。
そこで探傷方法及び走査方法により、予め各振動子の入
力信号の大きさを求めておき、必要に応じて、先に求め
た入力信号の大きさとなるように各振動子の増幅器の利
得を調整する。
力信号の大きさを求めておき、必要に応じて、先に求め
た入力信号の大きさとなるように各振動子の増幅器の利
得を調整する。
即ち、第2図に示すように、アレイ型探触子の各振動子
50,51..・・・・・・70にて受信された信号は
、遅延素子80.81.・・・・・・100で遅延され
た後、増幅器250,251.・・・・・・270で増
幅され、加算処理器301で加算されて出力される。こ
のとき、それぞれの受信信号は、超音波探傷方法及び走
査方法により異なるため、予め受信信号のパターンを求
めておき増幅度を変化させる。
50,51..・・・・・・70にて受信された信号は
、遅延素子80.81.・・・・・・100で遅延され
た後、増幅器250,251.・・・・・・270で増
幅され、加算処理器301で加算されて出力される。こ
のとき、それぞれの受信信号は、超音波探傷方法及び走
査方法により異なるため、予め受信信号のパターンを求
めておき増幅度を変化させる。
この方法は、図示しないA/D変換器を通して計算機で
制御を行う。
制御を行う。
先の自動感度調整は通常の場合、キャリブレーション時
に行えば充分である。
に行えば充分である。
一方、通常の超音波探傷装置と比較して、今回のような
アレイ型探触子を用いた超音波探傷装置の場合は、振動
子の数が多いため、それだけ故障の頻度が高くなること
が考えられる。そこで本実施例では、探傷の開始時、即
ちアレイ型探触子が被検材に接触したとき、垂直探傷方
式で底面エコー高さが、ある一定のレベルに入っている
かをみて、探触子が動作可能かどうかを検出している。
アレイ型探触子を用いた超音波探傷装置の場合は、振動
子の数が多いため、それだけ故障の頻度が高くなること
が考えられる。そこで本実施例では、探傷の開始時、即
ちアレイ型探触子が被検材に接触したとき、垂直探傷方
式で底面エコー高さが、ある一定のレベルに入っている
かをみて、探触子が動作可能かどうかを検出している。
以上説明したように本発明によれば、
(1)探触子の校正作業において、充分な知識がない人
でも可能となったこと。
でも可能となったこと。
(2)少なくとも1回の探傷に1回以上、探触子をチェ
ックすることにより、確実にハードの故障の有無及び特
性の劣化を把握することができる。
ックすることにより、確実にハードの故障の有無及び特
性の劣化を把握することができる。
これによりアレイ型探触子を用いた超音波探傷装置の信
頼性の向上を図ることができる。
頼性の向上を図ることができる。
第1図は本発明の実施例を示す説明図、第2図は探傷装
置の送、受信部分の構成を示すブロック図である。 図面で101はアレイ型探触子、1〜20は振動子、1
02は接触媒質、103は被検材、2゜工は振動子群、
50〜70は振動子、80〜1゜Oは遅延素子、250
〜270は増幅器、301は加算処理器である。
置の送、受信部分の構成を示すブロック図である。 図面で101はアレイ型探触子、1〜20は振動子、1
02は接触媒質、103は被検材、2゜工は振動子群、
50〜70は振動子、80〜1゜Oは遅延素子、250
〜270は増幅器、301は加算処理器である。
Claims (1)
- アレイ型探触子を用いた超音波探傷装置において、アレ
イ型探触子を構成する各振動子の内、1ケ又は複数の振
動子より音波を発生させ、被検材の底面又は表面での反
射エコーを当該振動子全部で受信し、その大きさを判定
することにより振動子の機能を確認するとともに、経時
的な変化等に対し、各振動子の感度を補正することを特
徴とするアレイ型探触子のチェック方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61036157A JPS62194456A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | アレイ型探触子のチエツク方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61036157A JPS62194456A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | アレイ型探触子のチエツク方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62194456A true JPS62194456A (ja) | 1987-08-26 |
Family
ID=12461934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61036157A Pending JPS62194456A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | アレイ型探触子のチエツク方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62194456A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03257363A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探傷装置 |
JPH05312880A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-11-26 | Kyushu Electric Power Co Inc | アレイ探触子ケーブルの断線処理回路 |
FR2746509A1 (fr) * | 1996-03-20 | 1997-09-26 | Imra Europe Sa | Procede de calibrage et procede de commande d'un dispositif de detection d'objets par ultrasons dans l'air |
JP2009002832A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Toshiba Corp | 超音波探傷検査装置及び超音波探傷検査方法 |
JP2013245956A (ja) * | 2012-05-23 | 2013-12-09 | Nippon Steel & Sumitomo Metal | 超音波探触子の探傷感度調整方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53125875A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-02 | Sumitomo Metal Ind | Automatic method and device for testing sensitivity of acdustic emission |
JPS5542018A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Operational check for sound release type measuring system |
-
1986
- 1986-02-20 JP JP61036157A patent/JPS62194456A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS53125875A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-02 | Sumitomo Metal Ind | Automatic method and device for testing sensitivity of acdustic emission |
JPS5542018A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Operational check for sound release type measuring system |
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EP0806639A1 (fr) * | 1996-03-20 | 1997-11-12 | Imra Europe S.A. | Procédé de calibrage et procédé de commande d'un dispositif de détection d'objets par ultrasons dans l'air |
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JP2013245956A (ja) * | 2012-05-23 | 2013-12-09 | Nippon Steel & Sumitomo Metal | 超音波探触子の探傷感度調整方法 |
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