JPH0541930B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0541930B2 JPH0541930B2 JP58121575A JP12157583A JPH0541930B2 JP H0541930 B2 JPH0541930 B2 JP H0541930B2 JP 58121575 A JP58121575 A JP 58121575A JP 12157583 A JP12157583 A JP 12157583A JP H0541930 B2 JPH0541930 B2 JP H0541930B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lump
- ray
- determined
- appearance information
- rays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 239000000571 coke Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G9/00—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00
- G01G9/005—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00 using radiations, e.g. radioactive
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、塊状物の形状その他の外観情報と同
時に重量を測定する装置に関するものである。
時に重量を測定する装置に関するものである。
例えばコークスのドラムインデイスクを求める
ためにはコークスの大きさとその重量を測定しな
ければならない。つまりこのドラムインデイクス
を求めるためには篩によつて各粒度のものに分け
それらの重量を台秤にて測定しなければならな
い。このようにドラムインデイクスの測定は手作
業を要するもので極めて非能率的なものである。
ためにはコークスの大きさとその重量を測定しな
ければならない。つまりこのドラムインデイクス
を求めるためには篩によつて各粒度のものに分け
それらの重量を台秤にて測定しなければならな
い。このようにドラムインデイクスの測定は手作
業を要するもので極めて非能率的なものである。
本発明は、Ｘ線を利用しての画像処理によつて
塊状物の各種の外観情報を求めると同時に外観情
報を求めるため利用したＸ線の透過線量を用いて
重量をも正確に測定することを目的とするもので
ある。
塊状物の各種の外観情報を求めると同時に外観情
報を求めるため利用したＸ線の透過線量を用いて
重量をも正確に測定することを目的とするもので
ある。
以下ベトコンベアーにて搬送されて来る塊状物
の各々の外観情報と重量の測定を例として本発明
の外観情報および重量測定装置の詳細な内容を説
明する。第１図は本発明の装置の概要と測定回路
のブロツク図を示すものであつて、図中１はＸ線
発生装置でコークス等の塊状物４を搬送するベル
トコンベアー３の上方に配置されていて、全波整
流と平滑化回路を設けて発生するＸ線の出力が安
定なものになるようにしてある。５は多数の微小
なＸ線検出素子を１列に配置した（例えば１mmピ
ツチの200個のＸ線検出素子を１列に配置した）
Ｘ線リニアセンサー、６はアナログ処理器でＸ線
リニアセンサー５の各素子よりの出力信号を増幅
し、ログ変換し、更にＡ／Ｄ変換を行なうための
ものである。７はマイクロコンピユーターでアナ
ログ処理器６よりの出力信号により次のような処
理が行なわれる。尚２はＸ線漏洩防護容器であ
る。
の各々の外観情報と重量の測定を例として本発明
の外観情報および重量測定装置の詳細な内容を説
明する。第１図は本発明の装置の概要と測定回路
のブロツク図を示すものであつて、図中１はＸ線
発生装置でコークス等の塊状物４を搬送するベル
トコンベアー３の上方に配置されていて、全波整
流と平滑化回路を設けて発生するＸ線の出力が安
定なものになるようにしてある。５は多数の微小
なＸ線検出素子を１列に配置した（例えば１mmピ
ツチの200個のＸ線検出素子を１列に配置した）
Ｘ線リニアセンサー、６はアナログ処理器でＸ線
リニアセンサー５の各素子よりの出力信号を増幅
し、ログ変換し、更にＡ／Ｄ変換を行なうための
ものである。７はマイクロコンピユーターでアナ
ログ処理器６よりの出力信号により次のような処
理が行なわれる。尚２はＸ線漏洩防護容器であ
る。
第２図に示すようにベルトコンベアー３により
搬送されて来た塊状物４がＸ線リニアセンサー５
が配置されている位置にあるとする。この時にリ
ニアセンサー５のうち最も端にあるＸ線検出素子
５ａの位置には塊状物４は存在せずしたがつてこ
れに入射するＸ線透過線量は大である。又中央部
のＸ線検出素子５ｐの位置には塊状物４が存在す
るためこれに入射するＸ線透過線量は小である。
つまりこの場合Ｘ線検出素子５ａによるＸ線検出
量は大であつてこれに対応するアナログ処理器６
よりの出力は大である。またＸ線検出素子５ｐに
よるＸ線検出量は小でありこれに対応するアナロ
グ処理器６よりの出力は小である。したがつて塊
状物が存在する時にはＸ線透過線量より必ず大で
あり、塊状物が存在しない時にはＸ線透過線量よ
り小である値を閾値として設けこれにより塊状物
が存在するか否かを判定し得る。即ち第２図にお
いてＸ線検出素子５ａ，５ｂ，…５ｍまではすべ
て検出されるＸ線量は閾値より大であり又Ｘ線検
出素子５ｎ，…，５ｐ，…，５ｓまでは検出量が
閾値より小であり、更にＸ線検出素子５ｔ，…，
５ｚは再び検出量が閾値より大である。このよう
に、Ｘ線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５
ａ，５ｂ，…，５ｚの出力によりこの列における
塊状物の存在個所が認識出来る。
搬送されて来た塊状物４がＸ線リニアセンサー５
が配置されている位置にあるとする。この時にリ
ニアセンサー５のうち最も端にあるＸ線検出素子
５ａの位置には塊状物４は存在せずしたがつてこ
れに入射するＸ線透過線量は大である。又中央部
のＸ線検出素子５ｐの位置には塊状物４が存在す
るためこれに入射するＸ線透過線量は小である。
つまりこの場合Ｘ線検出素子５ａによるＸ線検出
量は大であつてこれに対応するアナログ処理器６
よりの出力は大である。またＸ線検出素子５ｐに
よるＸ線検出量は小でありこれに対応するアナロ
グ処理器６よりの出力は小である。したがつて塊
状物が存在する時にはＸ線透過線量より必ず大で
あり、塊状物が存在しない時にはＸ線透過線量よ
り小である値を閾値として設けこれにより塊状物
が存在するか否かを判定し得る。即ち第２図にお
いてＸ線検出素子５ａ，５ｂ，…５ｍまではすべ
て検出されるＸ線量は閾値より大であり又Ｘ線検
出素子５ｎ，…，５ｐ，…，５ｓまでは検出量が
閾値より小であり、更にＸ線検出素子５ｔ，…，
５ｚは再び検出量が閾値より大である。このよう
に、Ｘ線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５
ａ，５ｂ，…，５ｚの出力によりこの列における
塊状物の存在個所が認識出来る。
以上のようにしてベルトコンベアーにより一定
速度にて整列された各塊状物を移送すると共に一
定時間間隔毎にＸ線リニアセンサー５の各Ｘ線検
出素子５ａ，５ｂ，…に対応したアナログ処理器
６よりの出力信号をコンピユーターに記憶し処理
すれば、塊状物の移動方向の微小間隔毎（例えば
１mm間隔毎）の、そして移動方向と直角な方向の
検出素子間隔毎の出力信号が得られ、これらと閾
値とから塊状物に形状の情報が得られる。これら
の値から演算により塊状物の径、面積、最短挾み
径等の外観情報を求めることが出来る。
速度にて整列された各塊状物を移送すると共に一
定時間間隔毎にＸ線リニアセンサー５の各Ｘ線検
出素子５ａ，５ｂ，…に対応したアナログ処理器
６よりの出力信号をコンピユーターに記憶し処理
すれば、塊状物の移動方向の微小間隔毎（例えば
１mm間隔毎）の、そして移動方向と直角な方向の
検出素子間隔毎の出力信号が得られ、これらと閾
値とから塊状物に形状の情報が得られる。これら
の値から演算により塊状物の径、面積、最短挾み
径等の外観情報を求めることが出来る。
次に以上のＸ線の透過線量の測定値をもとにし
ての塊状物の重量の測定について述べる。
ての塊状物の重量の測定について述べる。
一般にＸ線の透過線量は透過した物質の質量に
依存する。今、ベルトコンベア上において塊状物
が存在しないときの透過Ｘ線量をI0、塊状物が存
在するときの透過線量をＩ、物質の質量をＭとす
ると次の式にて表わされる。
依存する。今、ベルトコンベア上において塊状物
が存在しないときの透過Ｘ線量をI0、塊状物が存
在するときの透過線量をＩ、物質の質量をＭとす
ると次の式にて表わされる。
Ｉ＝I0exp（−CM）
ただしＣは透過定数である。
したがつて質量Ｍは次の通りである。
Ｍ＝１／ＣlogI0／Ｉ
したがつて前述の外観情報の検出において塊状
物の存在位置に対応するすべての出力データー即
ち出力信号のうち閾値より小である出力信号にも
とづいて各々の透過線量の積分値によつて塊状物
の透過線量Ｉが求められるので、上記の式の減衰
量（I0／Ｉ）より塊状物の重量Ｍが求められる。
物の存在位置に対応するすべての出力データー即
ち出力信号のうち閾値より小である出力信号にも
とづいて各々の透過線量の積分値によつて塊状物
の透過線量Ｉが求められるので、上記の式の減衰
量（I0／Ｉ）より塊状物の重量Ｍが求められる。
以上のようにして第１図に示すような構成の装
置によりベルトコンベアーにより移送される塊状
物にＸ線を照射し、Ｘ線リニアセンサーによつて
透過線量を測定することによつて、移送される
個々の塊状物の形状、大きさ、最短挾み径その他
の外観情報と同時に重量をも測定することが出来
る。尚以上の測定において第３図のように二つ以
上の塊状物が接触した状態にてベルトコンベアー
により搬送されて来ることがある。この場合はＸ
線検出素子５ｔにて一度閾値より大になり塊状物
が存在しなくなつたことを認識した後に再びＸ線
検出素子５ｗにて検出値が閾値より小になり塊状
物の存在を認識するようになるのでこのようなデ
ーターにより二つの塊状物が接触していることを
知ることが出来る。
置によりベルトコンベアーにより移送される塊状
物にＸ線を照射し、Ｘ線リニアセンサーによつて
透過線量を測定することによつて、移送される
個々の塊状物の形状、大きさ、最短挾み径その他
の外観情報と同時に重量をも測定することが出来
る。尚以上の測定において第３図のように二つ以
上の塊状物が接触した状態にてベルトコンベアー
により搬送されて来ることがある。この場合はＸ
線検出素子５ｔにて一度閾値より大になり塊状物
が存在しなくなつたことを認識した後に再びＸ線
検出素子５ｗにて検出値が閾値より小になり塊状
物の存在を認識するようになるのでこのようなデ
ーターにより二つの塊状物が接触していることを
知ることが出来る。
以上説明したように本発明の塊状物の外観情報
および重量の測定装置によれば、単にＸ線発生装
置とＸ線リニアセンサーとよりなる極めて簡単な
装置で外観に関する様々なデーターを求め得ると
同時に重量を正確に求めることが可能である。し
たがつて、塊状物の形状（最短挾み径）と重量と
の両方を求める必要のあるコークスのドラムイン
デイクスの測定等に利用すれば極めて効果的であ
る。
および重量の測定装置によれば、単にＸ線発生装
置とＸ線リニアセンサーとよりなる極めて簡単な
装置で外観に関する様々なデーターを求め得ると
同時に重量を正確に求めることが可能である。し
たがつて、塊状物の形状（最短挾み径）と重量と
の両方を求める必要のあるコークスのドラムイン
デイクスの測定等に利用すれば極めて効果的であ
る。
第１図は本発明の構成を示す図、第２図、第３
図は夫々本発明装置による塊状物の形状等の外観
情報を測定する際の原理を説明するための図であ
る。 １……Ｘ線発生装置、２……Ｘ線漏洩防護容
器、３……ベルトコンベアー、４……塊状物、５
……Ｘ線リニアセンサー、６……アナログ処理
器、７……マイクロコンピユーター。
図は夫々本発明装置による塊状物の形状等の外観
情報を測定する際の原理を説明するための図であ
る。 １……Ｘ線発生装置、２……Ｘ線漏洩防護容
器、３……ベルトコンベアー、４……塊状物、５
……Ｘ線リニアセンサー、６……アナログ処理
器、７……マイクロコンピユーター。
Claims (1)
- １ 被測定塊状物をはさんで相対して配置された
Ｘ線発生源と多数の微小なＸ線検出素子を一列に
並べ配置したＸ線リニアセンサーとよりなり、相
対して配置した前記のＸ線発生源とＸ線リニアセ
ンサーとの組に対して前記塊状物を相対的に移動
させながら順次前記Ｘ線発生源よりのＸ線を前記
リニアセンサーの各検出素子にて検出し、前記各
検出素子により移動方向に沿つた所定時間間隔に
それぞれ検出され出力された各検出値と閾値との
大小関係を求め閾値よりも小である検出値を有す
るすべての信号にもとづいて前記塊状物の外観情
報を求め、更に透過Ｘ線量と質量の関係にもとづ
き、上記塊状物の外観情報に対応するすべての上
記検出値から、塊状物の重量を求めるようにした
ことを特徴とする塊状物の外観情報および重量の
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121575A JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121575A JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6014128A JPS6014128A (ja) | 1985-01-24 |
| JPH0541930B2 true JPH0541930B2 (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=14814626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58121575A Granted JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6014128A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147309A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Mitsubishi Electric Corp | 形状測定装置 |
| DE102005016124A1 (de) * | 2005-04-08 | 2006-10-12 | Robert Bosch Gmbh | Sensorvorrichtung einer Verpackungsmaschine |
| AU2006313794B2 (en) * | 2005-11-16 | 2012-05-17 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection device |
| US20080035390A1 (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-14 | Wurz David A | Dimensioning and weighing system |
| JP4898493B2 (ja) * | 2007-02-27 | 2012-03-14 | アンリツ産機システム株式会社 | 計量装置 |
| GB2453098B (en) * | 2007-07-16 | 2009-08-12 | Illinois Tool Works | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123364A (ja) * | 1973-03-19 | 1974-11-26 |
-
1983
- 1983-07-06 JP JP58121575A patent/JPS6014128A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123364A (ja) * | 1973-03-19 | 1974-11-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6014128A (ja) | 1985-01-24 |
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