JPS6014128A - 塊状物の外観情報および重量の測定装置 - Google Patents
塊状物の外観情報および重量の測定装置Info
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- JPS6014128A JPS6014128A JP58121575A JP12157583A JPS6014128A JP S6014128 A JPS6014128 A JP S6014128A JP 58121575 A JP58121575 A JP 58121575A JP 12157583 A JP12157583 A JP 12157583A JP S6014128 A JPS6014128 A JP S6014128A
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- G01G9/00—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00
- G01G9/005—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00 using radiations, e.g. radioactive
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、塊状物の形状その他の夕１観情報と同時に中
ｉｊ１を測定する装置６゛に関するものである。
ｉｊ１を測定する装置６゛に関するものである。
例えに′ｌコークスのドラムインディクスをめるために
はコークスの大きさとその重量を測定しなければならな
い。つまりこのドラムインディクスをめるためには篩に
よって各粒度のものに分けそれらの重量を台秤にて測定
しなければならない。
はコークスの大きさとその重量を測定しなければならな
い。つまりこのドラムインディクスをめるためには篩に
よって各粒度のものに分けそれらの重量を台秤にて測定
しなければならない。
このようにドラムインディクスの測定は手作業を要する
もので極めて非能率的なものである。
もので極めて非能率的なものである。
本発明は、Ｘ線を利用しての画像処理によって塊状物の
各種の外観情報をめると同時に外観情報をめるため利用
したＸ線の透過線量を用いて重量をも正確に測定するこ
とを目的とするものである。
各種の外観情報をめると同時に外観情報をめるため利用
したＸ線の透過線量を用いて重量をも正確に測定するこ
とを目的とするものである。
以下ベルトコンベアーにて搬送されて来る塊状物の各々
の外観情報と重量の測定を例として本発明の外観情報お
よび重量測定装置の詳細な内容を説明する。第１図は本
発明の装置の概要と測定回路のブロック図を示すもので
あって、図中１はＸ線発生装置でコークス等の塊状物４
を搬送するベルトコンベアー３の上方に配置されていて
、全波整流と平滑化回路を設けて発生ずるＸ線の出力か
安定なものになるようにしである。５は多数の微小なＸ
線検出素子を１列に配置した（例えばｌ ａｍピッチの
２００個のＸ線検出素子を１列に配置した）Ｘ線リニア
センサー、６はアナログ処理器でＸ線リニアセンサー５
の各素子よりの出力信号を増・１１′、ロッ、ログ変換
し、更にん小変換を行なうためのものである。７はマイ
クロコンピュータ−でアナログ処岬器６よりの出力信号
により次のような処■１が行なわれる。尚２はＸ線漏洩
防護容器であるＣ・ ＆′Ｓ２図に示すようにベルトコンベアー３により搬送
されて来た塊状物４かＸ線リニアセンサー５が配置され
−Ｃいる位置にあるとする。この時にリニアセンサー５
のうち最も端にあるＸ線検出素子５ａの位置には塊状物
４は存在せずしたかってこれに入射するＸ線透過線量は
大である０又中火部のＸ線検出素子５ｐの位置には塊状
物４が存在するたｙ）これに入射するＸ線透過憩」６：
は小である。
の外観情報と重量の測定を例として本発明の外観情報お
よび重量測定装置の詳細な内容を説明する。第１図は本
発明の装置の概要と測定回路のブロック図を示すもので
あって、図中１はＸ線発生装置でコークス等の塊状物４
を搬送するベルトコンベアー３の上方に配置されていて
、全波整流と平滑化回路を設けて発生ずるＸ線の出力か
安定なものになるようにしである。５は多数の微小なＸ
線検出素子を１列に配置した（例えばｌ ａｍピッチの
２００個のＸ線検出素子を１列に配置した）Ｘ線リニア
センサー、６はアナログ処理器でＸ線リニアセンサー５
の各素子よりの出力信号を増・１１′、ロッ、ログ変換
し、更にん小変換を行なうためのものである。７はマイ
クロコンピュータ−でアナログ処岬器６よりの出力信号
により次のような処■１が行なわれる。尚２はＸ線漏洩
防護容器であるＣ・ ＆′Ｓ２図に示すようにベルトコンベアー３により搬送
されて来た塊状物４かＸ線リニアセンサー５が配置され
−Ｃいる位置にあるとする。この時にリニアセンサー５
のうち最も端にあるＸ線検出素子５ａの位置には塊状物
４は存在せずしたかってこれに入射するＸ線透過線量は
大である０又中火部のＸ線検出素子５ｐの位置には塊状
物４が存在するたｙ）これに入射するＸ線透過憩」６：
は小である。
つまりこの場合Ｘ線検出素子５ａによるＸ線検出−Ｆｉ
ｉ：は犬てあってこれに対応するアナログ処理器６より
の出力は大である。またＸ線検出素子５ｐによるＸ線検
出量は小でありこれに対応するアナログ処理器６よりの
出力は小である。したがって塊状物が存在する時にはＸ
線透過線量より必ず大てあり、塊状物が存在しない時に
はＸ線透過線量より小である値を閾値として設けこれに
より塊状物が存在するか否かを判定し得る。即ち第２図
においてＸ線検出素子５ａ、５ｂｒ・・・５ｍまではす
べて検出されるＸ線量は閾値より犬であり又Ｘ線検出素
子５ ｎ ＋°” ｒ ５ ｐ ＋”” ｒ ５８まて
ｌま検ＩＬ量力≦閾値より小であり、更にＸ線検出素子
５ｔ＋ ・。
ｉ：は犬てあってこれに対応するアナログ処理器６より
の出力は大である。またＸ線検出素子５ｐによるＸ線検
出量は小でありこれに対応するアナログ処理器６よりの
出力は小である。したがって塊状物が存在する時にはＸ
線透過線量より必ず大てあり、塊状物が存在しない時に
はＸ線透過線量より小である値を閾値として設けこれに
より塊状物が存在するか否かを判定し得る。即ち第２図
においてＸ線検出素子５ａ、５ｂｒ・・・５ｍまではす
べて検出されるＸ線量は閾値より犬であり又Ｘ線検出素
子５ ｎ ＋°” ｒ ５ ｐ ＋”” ｒ ５８まて
ｌま検ＩＬ量力≦閾値より小であり、更にＸ線検出素子
５ｔ＋ ・。
５Ｚは再び検出量が閾値より犬である０このように、Ｘ
線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５ａ、５ｂ、・＋
５Ｚの出力によりこの列における塊状物の存在個所が認
識出来る。
線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５ａ、５ｂ、・＋
５Ｚの出力によりこの列における塊状物の存在個所が認
識出来る。
以上のようにしてベルトコンベアーにより一定速度にて
整列された各塊状物を移送すると共に一定時間間隔毎に
Ｘ線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５ａ＋５ｂｙ・
・・に対応したアナログ処理器６よりの出力信号をコン
ピューターに記憶し処理すれば、塊状物の移動方向の微
少間隔毎（例えば１間間隔４Ｇ ）の、そして移動方向
と直角な方向の検出素子間隔毎の出力信号が得られ、こ
れらと閾値とから塊状物の形状の情報が得られる。これ
ら径等の外観情報をめることが出来る。
整列された各塊状物を移送すると共に一定時間間隔毎に
Ｘ線リニアセンサー５の各Ｘ線検出素子５ａ＋５ｂｙ・
・・に対応したアナログ処理器６よりの出力信号をコン
ピューターに記憶し処理すれば、塊状物の移動方向の微
少間隔毎（例えば１間間隔４Ｇ ）の、そして移動方向
と直角な方向の検出素子間隔毎の出力信号が得られ、こ
れらと閾値とから塊状物の形状の情報が得られる。これ
ら径等の外観情報をめることが出来る。
−一２．゛−−゛−−−−°鴫 ″−−次に以」二のＸ
線の透過線量の測定値をもとにしての塊状物の重量の測
定について述べる。
線の透過線量の測定値をもとにしての塊状物の重量の測
定について述べる。
一般にＸ線の透過線量は透過した物質の質量に依存する
。今、ベルトコンベア上において塊状物と次の式にて表
わされる。
。今、ベルトコンベア上において塊状物と次の式にて表
わされる。
Ｉ ＝ Ｉ（、ｅｘｐ（−ＣＭ ）
ただしＣは透過定数である。
したが１〕て質量Ｍは次の通りである。
したがって前述の外観千ｒｆ報の検出において塊状物の
存在位置に対応するすべての出力データー即ち出力信号
のうち閾値より小である出力信号にもとづいて各々の透
過線量の積分値によって塊状物の透過線量■がめられる
ので、」二記の式の減衰量（Ｉｏ／１）より塊状物の重
量Ｍがめられる。
存在位置に対応するすべての出力データー即ち出力信号
のうち閾値より小である出力信号にもとづいて各々の透
過線量の積分値によって塊状物の透過線量■がめられる
ので、」二記の式の減衰量（Ｉｏ／１）より塊状物の重
量Ｍがめられる。
以上のようにして第１図に示すような構成の装置により
ベルトコンベアーにより移送される塊状物にＸ線を照射
し、Ｘ線リニアセンサーによって透過線量を測定するこ
とによって、移送される個々の塊状物の形状、大きさ、
最短挾み径その他の外観情報と同時に重量をも測定する
ことが出来る。
ベルトコンベアーにより移送される塊状物にＸ線を照射
し、Ｘ線リニアセンサーによって透過線量を測定するこ
とによって、移送される個々の塊状物の形状、大きさ、
最短挾み径その他の外観情報と同時に重量をも測定する
ことが出来る。
尚以上の測定において第３図のように二つ以上の塊状物
が接触した状態にてベルトコンベアーにより搬送されて
来ることがある。この場合はＸ線検出素子５ｔにて一度
閾値より犬になり塊状物が存在しなくなったことを認識
した後に再びＸ線検出素子５ｗにて検出値が閾値より小
になり塊状物の存在を認識するようになるのでこのよう
なデーターにより二つの塊状物が接触していることを知
ることが出来る。
が接触した状態にてベルトコンベアーにより搬送されて
来ることがある。この場合はＸ線検出素子５ｔにて一度
閾値より犬になり塊状物が存在しなくなったことを認識
した後に再びＸ線検出素子５ｗにて検出値が閾値より小
になり塊状物の存在を認識するようになるのでこのよう
なデーターにより二つの塊状物が接触していることを知
ることが出来る。
以上説明したように本発明の塊状物の外観情報および取
量の測定装置によれば、単にＸ線発生装置とＸ線リニア
センサーとよりなる極めて簡単な装置で外観に関する様
々なデークーをめ得ると同時に耳ｈ１を正確にめること
かＩＩＪ能である。したがって、塊状物の形状（］υ短
挾み径）と重量との両方をめる必要のあるコークスのド
ラムインディクスの測定等に利用ずれは極めて効果的で
ある。
量の測定装置によれば、単にＸ線発生装置とＸ線リニア
センサーとよりなる極めて簡単な装置で外観に関する様
々なデークーをめ得ると同時に耳ｈ１を正確にめること
かＩＩＪ能である。したがって、塊状物の形状（］υ短
挾み径）と重量との両方をめる必要のあるコークスのド
ラムインディクスの測定等に利用ずれは極めて効果的で
ある。
第１図は本発明の構成を示す図、第２図、第３図Ｇ」人
々木発明装置による塊状物の形状等の外観情報を測定す
る際の原理を説明するための図である。。 １−Ｊ、、線発生装置、 ２・Ｘ線漏洩防護容器、３
・ベルトコンベアー、４・塊状物、、 ｓ・・Ｘ線リニ
アセンサー、 ６・・アナログ処理器、７マイ、クロコ
ンピユータ−６ 出願人 三菱化成工業株式会社
々木発明装置による塊状物の形状等の外観情報を測定す
る際の原理を説明するための図である。。 １−Ｊ、、線発生装置、 ２・Ｘ線漏洩防護容器、３
・ベルトコンベアー、４・塊状物、、 ｓ・・Ｘ線リニ
アセンサー、 ６・・アナログ処理器、７マイ、クロコ
ンピユータ−６ 出願人 三菱化成工業株式会社
Claims (1)
- 被測定塊状物をはさんて相７＝Ｊ ｔ、て配置されたＸ
線発生源と多数の微小なＸ線検出素子を一列に並へ配置
したＸ 線リニアセンサーとよりなり、相対して配置し
た前記のＸ線発生源とＸ線リニアセンサーとの組に対し
て前記塊状物を相対的に移動させながら順次前記Ｘ線発
生源よりのＸ線を前記リニアセンザ−の各検出素子にて
検出し、この検出（Ｆｌと１・用仙との大小関係にもと
ついて前記塊状物の夕ｌ観楯報をめ更に−に記塊状物の
外観悄へ）μに対応する検出値にもとつき塊状物の重量
をめるようにしたことを特徴とする塊状物の外観情報お
よび即１１１の測定装置１）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121575A JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121575A JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6014128A true JPS6014128A (ja) | 1985-01-24 |
| JPH0541930B2 JPH0541930B2 (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=14814626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58121575A Granted JPS6014128A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 塊状物の外観情報および重量の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6014128A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147309A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Mitsubishi Electric Corp | 形状測定装置 |
| WO2007058212A1 (ja) * | 2005-11-16 | 2007-05-24 | Ishida Co., Ltd. | Ｘ線検査装置 |
| JP2008151764A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-07-03 | Accu-Sort Systems Inc | 寸法指示及び計量システム |
| JP2008209307A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 計量装置 |
| JP2008538003A (ja) * | 2005-04-08 | 2008-10-02 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 包装機械のセンサ装置 |
| WO2009012097A1 (en) * | 2007-07-16 | 2009-01-22 | Illinois Tool Works Inc. | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123364A (ja) * | 1973-03-19 | 1974-11-26 |
-
1983
- 1983-07-06 JP JP58121575A patent/JPS6014128A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49123364A (ja) * | 1973-03-19 | 1974-11-26 |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0515208B2 (ja) * | 1985-12-20 | 1993-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPS62147309A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Mitsubishi Electric Corp | 形状測定装置 |
| JP2008538003A (ja) * | 2005-04-08 | 2008-10-02 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 包装機械のセンサ装置 |
| KR100987335B1 (ko) | 2005-11-16 | 2010-10-12 | 가부시끼가이샤 이시다 | Ｘ선 검사 장치 및 ｘ선 검사 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체 |
| WO2007058212A1 (ja) * | 2005-11-16 | 2007-05-24 | Ishida Co., Ltd. | Ｘ線検査装置 |
| JP5148285B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2013-02-20 | 株式会社イシダ | Ｘ線検査装置 |
| US8068656B2 (en) | 2005-11-16 | 2011-11-29 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
| JP2008151764A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-07-03 | Accu-Sort Systems Inc | 寸法指示及び計量システム |
| JP2008209307A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 計量装置 |
| GB2453098B (en) * | 2007-07-16 | 2009-08-12 | Illinois Tool Works | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
| GB2453098A (en) * | 2007-07-16 | 2009-04-01 | Illinois Tool Works | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
| WO2009012097A1 (en) * | 2007-07-16 | 2009-01-22 | Illinois Tool Works Inc. | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
| US8447562B2 (en) | 2007-07-16 | 2013-05-21 | Illinois Tool Works | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0541930B2 (ja) | 1993-06-25 |
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