JPS6333096B2 - - Google Patents
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- JPS6333096B2 JPS6333096B2 JP54002527A JP252779A JPS6333096B2 JP S6333096 B2 JPS6333096 B2 JP S6333096B2 JP 54002527 A JP54002527 A JP 54002527A JP 252779 A JP252779 A JP 252779A JP S6333096 B2 JPS6333096 B2 JP S6333096B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は紙に含まれる灰分の重量含有率を、Ｘ
線によつて自動的、かつ、連続的に測定する装置
に関する。
線によつて自動的、かつ、連続的に測定する装置
に関する。
周知のように、紙の重量はセルロース分、灰分
及び水分からなる。灰分は紙質の向上を目的とし
て添加される填料の種類、量によつて決まる。ま
た、填料の選定や添加量は、抄造する銘柄によつ
て決定される。
及び水分からなる。灰分は紙質の向上を目的とし
て添加される填料の種類、量によつて決まる。ま
た、填料の選定や添加量は、抄造する銘柄によつ
て決定される。
このような灰分の含有率を測定し、填料の量を
制御することは、紙の品質を均一にするうえから
重要な意味をもつ。したがつて、従来から、灰分
を自動的、かつ、連続的に測定する装置の開発が
なされ、すでに実用に供されているものもある
が、それらの装置における欠点は、灰分検出信号
が、灰分の組成によつて大きく異なる値を呈する
ことにある。これは、紙に含まれる灰分の成分に
Ｘ線吸収係数が他に比べ大きく異なるものが含ま
れていることに起因する。例えば、4.5KevのＸ
線に対して灰分成分であるタルクの吸収係数μ
は、μ＝169cm2／ｇ、クレーの吸収係数は、μ＝
139cm2／ｇ、ルチルの吸収係数は、μ＝87cm2／ｇ
で、ルチルの感度が大きく異なつている。
制御することは、紙の品質を均一にするうえから
重要な意味をもつ。したがつて、従来から、灰分
を自動的、かつ、連続的に測定する装置の開発が
なされ、すでに実用に供されているものもある
が、それらの装置における欠点は、灰分検出信号
が、灰分の組成によつて大きく異なる値を呈する
ことにある。これは、紙に含まれる灰分の成分に
Ｘ線吸収係数が他に比べ大きく異なるものが含ま
れていることに起因する。例えば、4.5KevのＸ
線に対して灰分成分であるタルクの吸収係数μ
は、μ＝169cm2／ｇ、クレーの吸収係数は、μ＝
139cm2／ｇ、ルチルの吸収係数は、μ＝87cm2／ｇ
で、ルチルの感度が大きく異なつている。
この為、同じ灰分量でも、ルチルの含有率の高
いものと低いものでは灰分検出信号の大きさが異
なつてしまう。
いものと低いものでは灰分検出信号の大きさが異
なつてしまう。
従来、このような灰分の組成の影響を除く為、
4.5Kevの特性Ｘ線に4.9Kev以上のエネルギー分
布を持つ連続Ｘ線を混ぜて使つていた。これは、
ルチルの吸収端が4.9Kevにあり、ここで吸収係
数が急激に大きくなり、連続Ｘ線を混ぜた場合、
平均的な吸収係数が各成分間で略等しくなるから
である。
4.5Kevの特性Ｘ線に4.9Kev以上のエネルギー分
布を持つ連続Ｘ線を混ぜて使つていた。これは、
ルチルの吸収端が4.9Kevにあり、ここで吸収係
数が急激に大きくなり、連続Ｘ線を混ぜた場合、
平均的な吸収係数が各成分間で略等しくなるから
である。
しかしながら、このような構成では、連続Ｘ線
を発生させる為のＸ線発生装置が必要で、装置全
体が複雑になる欠点があつた。
を発生させる為のＸ線発生装置が必要で、装置全
体が複雑になる欠点があつた。
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであ
り、本発明の第１の目的は、灰分の組成による影
響が少ない検出信号を高感度で得る反射形灰分計
を提供するにある。
り、本発明の第１の目的は、灰分の組成による影
響が少ない検出信号を高感度で得る反射形灰分計
を提供するにある。
本発明の第２の目的は、構成が簡単で、かつ、
取扱いが容易な反射形灰分計を提供するにある。
取扱いが容易な反射形灰分計を提供するにある。
本発明は、シート状の被測定体に放射性同位元
素からのＸ線を照射して、その透過Ｘ線をチタン
板に当ててチタンの特性Ｘ線を得て、その特性Ｘ
線を前記被測定体に照射して得る透過Ｘ線を検出
器で検出するように構成がなされている。
素からのＸ線を照射して、その透過Ｘ線をチタン
板に当ててチタンの特性Ｘ線を得て、その特性Ｘ
線を前記被測定体に照射して得る透過Ｘ線を検出
器で検出するように構成がなされている。
次に、添付図面を参照して本発明について詳し
く説明する。
く説明する。
第１図は本発明の一実施例による灰分計の構成
説明図である。第１図において、線源（55Fe）か
らの5.9KeVのＸ線がシート状の被測定体４に照
射され、その透過Ｘ線が厚み５mmのチタン板２に
達する。チタン板２からは、前記Ｘ線に励起され
て、4.5KeVの特性Ｘ線が放射される。特性Ｘ線
は再び被測定体に照射され、その透過Ｘ線が検出
器（比例計数管）３で検出されるようになつてい
る。
説明図である。第１図において、線源（55Fe）か
らの5.9KeVのＸ線がシート状の被測定体４に照
射され、その透過Ｘ線が厚み５mmのチタン板２に
達する。チタン板２からは、前記Ｘ線に励起され
て、4.5KeVの特性Ｘ線が放射される。特性Ｘ線
は再び被測定体に照射され、その透過Ｘ線が検出
器（比例計数管）３で検出されるようになつてい
る。
次に、上記構成における検出器２に到達するＸ
線強度Ｉについて説明する。
線強度Ｉについて説明する。
いま、線源１からでるＸ線強度I1とチタン板３
に到達するＸ線強度I1′との間に(1)式の関係が成
り立つ（紙中に水分がないものとする）。
に到達するＸ線強度I1′との間に(1)式の関係が成
り立つ（紙中に水分がないものとする）。
I1′＝I1・e-(〓s1
Claims (1)
- １ 紙に含まれる灰分の重量含有率を放射線を用
いて連続的に測定する装置において、前記紙を挾
んで一方側に線源として鉄55の放射性同位元素を
配置し、この線源から放射される5.9KevのＸ線
を前記紙に透過させ、この透過Ｘ線をこの紙の反
対側に配置したチタン板に当て、これより
4.5Kevの二次Ｘ線を発生させ、この二次Ｘ線を
前記紙に再び透過させて検出を行い、検出系全体
の吸収係数を5.9KevのＸ線と4.5KevのＸ線との
吸収係数の和となるようにしたことを特徴とする
反射形灰分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP252779A JPS5594149A (en) | 1979-01-12 | 1979-01-12 | Reflecting type ash content meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP252779A JPS5594149A (en) | 1979-01-12 | 1979-01-12 | Reflecting type ash content meter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5594149A JPS5594149A (en) | 1980-07-17 |
| JPS6333096B2 true JPS6333096B2 (ja) | 1988-07-04 |
Family
ID=11531844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP252779A Granted JPS5594149A (en) | 1979-01-12 | 1979-01-12 | Reflecting type ash content meter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5594149A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3110944A1 (de) * | 1981-03-20 | 1982-09-30 | Kernforschungszentrum Karlsruhe Gmbh, 7500 Karlsruhe | "einrichtung zur kontinuierlichen messung von elementgehalten in trueben" |
| JPS57131042A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | X rays analyzer with automatic calibration apparatus |
| US4815116A (en) * | 1981-09-17 | 1989-03-21 | Process Automation Business, Inc. | Method and apparatus for x-ray analysis of rapidly moving multicomponent materials |
| FI68322C (fi) * | 1983-06-28 | 1985-08-12 | Enso Gutzeit Oy | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
-
1979
- 1979-01-12 JP JP252779A patent/JPS5594149A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5594149A (en) | 1980-07-17 |
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