FI68322C - Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong - Google Patents
Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong Download PDFInfo
- Publication number
- FI68322C FI68322C FI832344A FI832344A FI68322C FI 68322 C FI68322 C FI 68322C FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 68322 C FI68322 C FI 68322C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- primary radiation
- web
- radiation source
- detector
- Prior art date
Links
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 title description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 title 1
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 45
- 239000000123 paper Substances 0.000 claims description 23
- 239000004447 silicone coating Substances 0.000 claims description 14
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 3
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 description 2
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 description 2
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000323 aluminium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000011088 parchment paper Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
68322
MENETELMÄ JA LAITTEISTO SILIKONIPÄÄLLYSTEMÄÄRÄN MITTAAMISEKSI PAPERISTA TAI KARTONGISTA - FÖRFARANDE OCH ANORDNING FÖR MÄTNING AV MÄNGDEN AV SILICIUMBELÄGGNING VID PAPPER ELLER KARTONG
5 Tämän keksinnön kohteena on menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä primäärisäteilylähteestä saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella si-10 jaits evän sekundäärisäteilylähteen järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää silikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin, 15 joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä. Lisäksi keksinnön kohteena on laitteisto, jolla mainittu menetelmä on toteutettavissa.
Keksinnön erityisenä tarkoituksena on mitata silikonipäällyste-20 määriä erilaisista papereista, kuten rasvankestävistä voipape reista, leivinpapereista sekä tarrapaperin aluspaperista.
Ennestään tunnetaan off-line-menetelmä, jossa päällysteenä olevan silikonin sekaan sekoitetaan tiettyjä merkkialkuaineita, joitten 25 antamien fluoresenssisäteilypiikkien perusteella voidaan määrittää silikonin määrä. Suoran fluoresenssisäteilyn intensiteetit ovat kuitenkin alhaiset ja niiden mittaamiseen käytetään verran-nollisuuslaskureita, joiden suurimpana puutteena on se, että ne eivät pysty erottamaan toisistaan täyteaineessa olevien alu-30 miinin (AI) ja piin (Si) piikkejä. Kuitenkin ym. papereissa käytetään nykyään yleisesti täyteaineita, esimerkiksi kaoliinia, joka on eräs alumiinisilikaattilaji. Näin ollen keksinnön kohteena olevan menetelmän tehtävänä on ensisijaisesti pystyä määrittämään erikseen sekä Al:n että Si:n määrä, jotta voidaan pois-35 taa paperin täyteaineina käytettävien AI- ja Si-pitoisten aineiden vaikutus mittaustulokseen.
Kun ym. paperien silikonipäällystemäärä pyritään pitämään sen 68322 hinnan takia mahdollisimman pienenä (riittävän tasapaksun päällysteen määrä on 0,7-0,8 g/m2 ), tulee mittaustarkkuuden olla vähintään 0,1 g/m2 .
5 Keksinnön mukaisella on-line-menetelmällä ja laitteistolla, jolle on tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa, on mahdollista saavuttaa yllämainitut päämäärät.
Seuraavassa keksinnön erästä sovellutusmuotoa kuvataan yksityis-10 kohtaisesti piirustuksella, joka esittää keksinnön mukaisen menetelmän toteuttamisessa tarvittavaa laitteistoa kaaviollisena poikkileikkauksena.
Piirustuksessa mitattavaa, jatkuvana rainana kulkevaa paperia 15 on merkitty viitenumerolla 1 ja tässä tapauksessa yläpinnalla olevaa si1ikonipäällystettä on kuvattu vinoviivoituksella . Paperiradan 1 alle on sijoitettu tranversoiva kotelo 2, jonka sisässä on primäärisäteilyn lähteenä toimiva röntgenputki 3, joka voi toimia esimerkiksi 10 mA:n virralla ja 10 kV:n jännitteellä. 20 Röntgenputkesta 3 tulevan säteilyn johtamiseksi paperirataa 1 vasten on kotelon 2 yläpintaan muodostettu rengasmainen rako 4, jonka sisäpuolelle jää pyöreä, levymäinen rajoitinkappale 5, joka toimii säteilysuojana sekä ollessaan hyvin lähellä liikkuvaa paperirataa 1 myös sen lepatuksen valmentajana.
25 Röntgenputkesta 3 tuleva säteily pääsee näin ollen paperirataa 1 vasten vain kotelon 2 pinnassa olevasta rengasmaisesta raosta 4.
Koteloa 2 vastapäätä paperiradan 1 yläpuolella ja sen välittömäs-30 sä läheisyydessä on toinen identtisesti traversoiva mittakotelo 6, jonka alapinnalle on kiinnitetty renkaanmuotoinen röntgensäteilyn sekundääri lähde 7, joka on sijoitettu tarkasti vastapäätä kotelon 2 rengasmaisesta raosta 4' tulevaa primääriröntgensätei-lyä. Sekundääri lähde 7 on toisin sanoen sijoitettu samankeskei-35 sesti raon 4 kanssa. Rengasmainen sekundääri lähde 7 on tehty esimerkiksi alkuainerikistä (S). Renkaan 7 keskelle on koteloon 68322 3 6 tehty pyöreä reikä 8 säteilyn johtamiseksi kotelon 6 sisään sijoitettuun tyhjiössä olevaan puolijohdedetektoriin 9. Reikä 6 on peitetty beryllium-metallista tehdyllä ikkunalla, joka päästää mahdollisimman suuren osan siihen tulleesta säteilystä lävitseen. Röntgenputkesta 3 tuleva primäärisäteily pääsee siis vain rengasmaisesta raosta 4 paperiradan läpi sekundääri lähteeseen 7, sillä säteilysuojan muodostava rajoitinkappa1 e 5 estää säteitten pääsyn reikään 8 ja sitä kautta suoraan kotelon 6 sisällä olevaan detektoriin 9 .
) Röntgenputken 3 antama primäärisäteily virittää sekundääri lähteen 7 rikkiatomit, jotka lähettävät rikille ominaista karakteristista röntgensäteilyä, joka on säteilyenergialtaan vahvempaa kuin täy-teiaineissa olevien alumiinin ja piin karakteristiset röntgensä- j teilyt (piitä on tietenkin myös paperin pinnalla olevassa siliko-nipäällysteessä). Tämä johtuu siitä, että sekundääri lähteeksi 7 valittu rikki (S) sijaitsee alkuaineiden jaksollisessa järjestelmässä alumiinin ja piin jälkeen. Sekundäärilähteeksi voidaan näin ollen valita jokin muukin alkuaine, kunhan sen lähettämä ) karakteristinen röntgensäteily on suurempienergistä kuin täyteaineessa olevien alumiinin ja piin lähettämät karakterististen säteilyjen vaatimat viritysenergiat. Sekundääri lähteestä 7 vinosti paperirataan 1 tulevat säteet, jotka näin ollen kulkevat mahdollisimman pitkän matkan silikonipäällysteessä, herättävät > päällysteessä olevien piiatomien karakteristisen röntgensäteilyn, samoin kuin osittain myös paperiradan 1 täyteaineena olevien alumiinin ja piin karakteristisen röntgensäteilyn, kun täyteaineena on kaoliini eli alumiinisilikaatti. Kaikkien aineiden; alumiinin, piin ja rikin karakteristiset röntgensäteilyt kulkevat 5 aukossa 8 olevan beryllium-ikkunan läpi detektoriin, josta saadaan spektri, jossa energialtaan erilaiset säteilyt muodostavat, toisistaan erillään olevat piikit.
Kun spektrin Si-piikin pinta-ala on verrannollinen silikonipääl-5 lysteen määrään säte”i ly tyksen ollessa vakio, voidaan silikoni-päällysteen määrä laskea suoraan siinä tapauksessa, että paperis- 68322 4 sa ei ole kaoliinia tai jotain muuta täyteainetta.
Jos paperi absorboi röntgenkoneesta tullutta säteilyä eri tavoilla tai röntgenkoneen intensiteetti vaihtelee mittauksen aikana, 5 tehdään säteilytyskorjaus sironneen S:n piikin avulla. Lisäksi voidaan käyttää hyväksi toisella mittauslaitteella määritettyä paperin täyteainepitoisuutta ja ne 1iömetri painoa, jotka vaikuttavat S:n piikin siroutumisominaisuuksiin. Kun nyt pohjapaperin täyteaineen kemiallinen kaava eli alumiinin ja piin suhden tunne-10 taan, voidaan spektrissä näkyvän alumiinin piikin avulla poistaa Si:n piikistä täyteaineen aiheuttama osuus, jolloin jäljelle jäävä osa on silikonipäällysteessä olevan Si:n osuus.
Keksintö ei ole rajoittunut yllä esitettyyn sovellutusmuotoon, 15 vaan sitä voidaan muunnella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.
Claims (4)
- 5 PATENTTIVAATIMUKSET 683 2 2
- 1. Menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana (1) liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä pri-määrisäteilylähteestä (3) saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan sekundäärisäteilylähteen (7) järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää si 1ikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensä-) teilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin (9), joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteily johdetaan rainan (1) päällystetyllä puolella sijaitsevaan sekundäärisäteilylähteeseen (7) rainan läpi sen vastak-) kaisella puolella sijaitsevasta primäärisäteilylähteestä (3) ja että primäärisäteilyä rajataan ennen sen kulkua rainan läpi rajoit-timella (4, 5), joka sallii säteilyn kulun sekundäärisäteilylähtee- seen mutta estää sen pääsyn detektoriin (9). ) 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteenä (7) käytetään rengasmaista elementtiä, jonka keskelle detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna, ja että primäärisäteily rajataan rengasmaisen raon (4) avulla poikkileikkaukseltaan rengasmaiseksi, sekun-> däärisäteilylähteeseen osuvaksi vaipaksi, jolloin rengasmaisen raon sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5) sulkee primäärisäteilyl-tä pääsyn detektoriin. 1 Laitteisto silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana raina-) na (1) liikkuvasta paperista tai kartongista patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukaisella menetelmällä, joka laitteisto käsittää röntgensäteilyä tuottavan primäärisäteilylähteen (3), rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan, järjestysluvultaan piitä suurempaa alkuainetta olevan sekundäärisäteilylähteen (7), jonka karakteristinen röngten-säteily on herätettävissä primäärisäteilyn avulla ja josta säteily on ohjattavissa vinosti rainaan siten, että se herättää silikoni-päällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, sekä rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan detektorin (9), johon piin karakteristinen röntgensäteily on johdettavissa niin, että 6 68322 detektori rekisteröi säteilyn piikinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteilyläh-de (3) sijaitsee sekundäärisäteilylähteeseen (7) nähden rainan (1) vastakkaisella puolella niin, että primäärisäteily tulee johde-5 tuksi rainan läpi, ja että primäärisäteilylähteen kanssa rainan samalle puolelle on sijoitettu rajoitin (4, 5), joka sallii primää- risäteilyn kulun sekundäärisäteilylähteeseen mutta estää sen pääsyn detekotriin (9).
- 4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteen (7) muodostaa rengasmainen elementti, että detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna ko. rengasmaisen elementin keskelle ja että . mainitun rajoittimen muodostavat rengasmainen rako (4) sekä sen 15 sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5), jolloin primäärisäteily pääsee rengasmaisesta raosta sekundäärisäteilylähteeseen poikkileikkaukseltaan rengasmaisena vaippana kun taas rajoitinkappale sulkee primäärisäteily1tä pääsyn detektoriin.
- 5. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laitteisto, tunnet-t u siitä, että sekundäärisäteilylähde (7) on alkuainerikistä tehty levymäinen elementti. 68322 7 PATENTKRÄV
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
| SE8403403A SE457216B (sv) | 1983-06-28 | 1984-06-27 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden silikonbelaeggning vid papper eller kartong, som roer sig som en kontinuerlig aemnesbana |
| DE19843423708 DE3423708A1 (de) | 1983-06-28 | 1984-06-27 | Verfahren zum messen der silicon-beschichtungsmenge auf papier oder karton |
| GB08416463A GB2144217B (en) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard |
| JP59132183A JPS6057205A (ja) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | シリコンコ−テイング量の測定方法 |
| FR8410240A FR2548371B1 (fr) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | Procede de mesure de la quantite de revetement en silicium du papier ou du carton |
| US06/840,390 US4639942A (en) | 1983-06-28 | 1986-03-17 | Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
| FI832344 | 1983-06-28 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI832344A0 FI832344A0 (fi) | 1983-06-28 |
| FI832344L FI832344L (fi) | 1984-12-29 |
| FI68322B FI68322B (fi) | 1985-04-30 |
| FI68322C true FI68322C (fi) | 1985-08-12 |
Family
ID=8517420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4639942A (fi) |
| JP (1) | JPS6057205A (fi) |
| DE (1) | DE3423708A1 (fi) |
| FI (1) | FI68322C (fi) |
| FR (1) | FR2548371B1 (fi) |
| GB (1) | GB2144217B (fi) |
| SE (1) | SE457216B (fi) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3638932A1 (de) * | 1986-11-14 | 1988-05-26 | Kaemmerer Gmbh | Verfahren zur messung von beschichtungsmengen, insbesondere von silikon-beschichtungen auf papier oder kunststoffolie |
| US5145750A (en) * | 1990-10-24 | 1992-09-08 | Bridgestone Corporation | Rubber product identification by tagging |
| FI109215B (fi) | 1996-10-28 | 2002-06-14 | Metso Paper Inc | Menetelmä ja sovitelma liikkuvan paperi- tai kartonkiradan päällystämiseksi |
| DE19820861B4 (de) * | 1998-05-09 | 2004-09-16 | Bruker Axs Gmbh | Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer |
| FI110638B (fi) | 1998-10-06 | 2003-02-28 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi |
| US6179918B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-01-30 | Honeywell International Inc. | Silicone coat weight measuring and control apparatus |
| CN102128847B (zh) * | 2010-01-15 | 2012-11-14 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 用于x射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3102952A (en) * | 1954-05-27 | 1963-09-03 | Philips Corp | X-ray fluorescence analysis of multi-component systems |
| US2925497A (en) * | 1956-08-09 | 1960-02-16 | Philips Corp | Fluorescence analysis |
| US3351755A (en) * | 1964-09-25 | 1967-11-07 | Applied Res Lab Inc | Method of and apparatus for spectroscopic analysis having compensating means for uncontrollable variables |
| FI40587B (fi) * | 1967-04-01 | 1968-11-30 | Valmet Oy | |
| FI40753B (fi) * | 1968-04-03 | 1969-01-31 | Valmet Oy | |
| US3925660A (en) * | 1972-05-08 | 1975-12-09 | Richard D Albert | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
| US3889113A (en) * | 1973-05-03 | 1975-06-10 | Columbia Scient Ind Inc | Radioisotope-excited, energy-dispersive x-ray fluorescence apparatus |
| US4147931A (en) * | 1976-12-13 | 1979-04-03 | Pertti Puumalainen | Procedure for measuring unit area weights |
| FI59489C (fi) * | 1978-11-21 | 1981-08-10 | Enso Gutzeit Oy | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder |
| JPS5594149A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Reflecting type ash content meter |
| SU958932A1 (ru) * | 1981-02-12 | 1982-09-15 | Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова | Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа |
-
1983
- 1983-06-28 FI FI832344A patent/FI68322C/fi not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-06-27 SE SE8403403A patent/SE457216B/sv not_active IP Right Cessation
- 1984-06-27 DE DE19843423708 patent/DE3423708A1/de not_active Withdrawn
- 1984-06-28 FR FR8410240A patent/FR2548371B1/fr not_active Expired
- 1984-06-28 GB GB08416463A patent/GB2144217B/en not_active Expired
- 1984-06-28 JP JP59132183A patent/JPS6057205A/ja active Pending
-
1986
- 1986-03-17 US US06/840,390 patent/US4639942A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SE8403403D0 (sv) | 1984-06-27 |
| GB2144217B (en) | 1986-07-30 |
| US4639942A (en) | 1987-01-27 |
| FI832344L (fi) | 1984-12-29 |
| FI832344A0 (fi) | 1983-06-28 |
| FR2548371A1 (fr) | 1985-01-04 |
| FI68322B (fi) | 1985-04-30 |
| GB8416463D0 (en) | 1984-08-01 |
| DE3423708A1 (de) | 1985-01-10 |
| FR2548371B1 (fr) | 1988-02-12 |
| SE457216B (sv) | 1988-12-05 |
| SE8403403L (sv) | 1984-12-29 |
| GB2144217A (en) | 1985-02-27 |
| JPS6057205A (ja) | 1985-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR950007525B1 (ko) | X선검출기 및 x선 검사장치 | |
| FI108218B (fi) | Moninkertaisen päällysteen mittaus ja valvonta | |
| FI59489C (fi) | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder | |
| US20030016783A1 (en) | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects | |
| FI68322C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong | |
| US4884288A (en) | Neutron and gamma-ray moisture assay | |
| JP4874118B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| US2642537A (en) | Apparatus for determining coating thickness | |
| EP0422017A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A COATING ON A SUBSTRATE. | |
| JPH05100037A (ja) | Ｘ線検出器およびｘ線検査装置 | |
| US5579362A (en) | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating | |
| US3530296A (en) | Method for measuring quantities associated with the filler distribution of paper | |
| FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
| Pantenburg et al. | The fundamental parameter method applied to X-ray fluorescence analysis with synchrotron radiation | |
| US4458360A (en) | Procedure for determining coating rates | |
| Johnson et al. | Evaluation of spectral interferences associated with a direct current plasma-multielement atomic emission spectrometer (DCP-MAES) system | |
| NO154570B (no) | Fremgangsmaate for maaling av beleggmengder. | |
| FR2393300A1 (fr) | Dispositif de mesure d'un poids par unite de surface | |
| FI60447C (fi) | Foerfarande foer maetning av en ytbelaeggnings tjocklek | |
| CA2125578A1 (en) | Sensor and method for measurement of select components of a material | |
| RU2086964C1 (ru) | Способ автоматизированного рентгенорадиометрического опробования вещества | |
| FI59490B (fi) | Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder | |
| SU1265475A1 (ru) | Способ измерени толщины покрытий | |
| SU1083100A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа состава вещества и устройство дл его осуществлени | |
| CA2001908A1 (en) | Procedure and means for measuring paper formation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: ROIBOX OY |