FI68322B - Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong - Google Patents

Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong Download PDF

Info

Publication number
FI68322B
FI68322B FI832344A FI832344A FI68322B FI 68322 B FI68322 B FI 68322B FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 68322 B FI68322 B FI 68322B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
radiation source
blank
primary
detector
Prior art date
Application number
FI832344A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI68322C (fi
FI832344A0 (fi
FI832344L (fi
Inventor
Pertti Puumalainen
Original Assignee
Enso Gutzeit Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enso Gutzeit Oy filed Critical Enso Gutzeit Oy
Publication of FI832344A0 publication Critical patent/FI832344A0/fi
Priority to FI832344A priority Critical patent/FI68322C/fi
Priority to DE19843423708 priority patent/DE3423708A1/de
Priority to SE8403403A priority patent/SE457216B/sv
Priority to JP59132183A priority patent/JPS6057205A/ja
Priority to GB08416463A priority patent/GB2144217B/en
Priority to FR8410240A priority patent/FR2548371B1/fr
Publication of FI832344L publication Critical patent/FI832344L/fi
Publication of FI68322B publication Critical patent/FI68322B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI68322C publication Critical patent/FI68322C/fi
Priority to US06/840,390 priority patent/US4639942A/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

68322
MENETELMÄ JA LAITTEISTO SILIKONIPÄÄLLYSTEMÄÄRÄN MITTAAMISEKSI PAPERISTA TAI KARTONGISTA - FÖRFARANDE OCH ANORDNING FÖR MÄTNING AV MÄNGDEN AV SILICIUMBELÄGGNING VID PAPPER ELLER KARTONG
5 Tämän keksinnön kohteena on menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä primäärisäteilylähteestä saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella si-10 jaits evän sekundäärisäteilylähteen järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää silikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin, 15 joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä. Lisäksi keksinnön kohteena on laitteisto, jolla mainittu menetelmä on toteutettavissa.
Keksinnön erityisenä tarkoituksena on mitata silikonipäällyste-20 määriä erilaisista papereista, kuten rasvankestävistä voipape reista, leivinpapereista sekä tarrapaperin aluspaperista.
Ennestään tunnetaan off-line-menetelmä, jossa päällysteenä olevan silikonin sekaan sekoitetaan tiettyjä merkkialkuaineita, joitten 25 antamien fluoresenssisäteilypiikkien perusteella voidaan määrittää silikonin määrä. Suoran fluoresenssisäteilyn intensiteetit ovat kuitenkin alhaiset ja niiden mittaamiseen käytetään verran-nollisuuslaskureita, joiden suurimpana puutteena on se, että ne eivät pysty erottamaan toisistaan täyteaineessa olevien alu-30 miinin (AI) ja piin (Si) piikkejä. Kuitenkin ym. papereissa käytetään nykyään yleisesti täyteaineita, esimerkiksi kaoliinia, joka on eräs alumiinisilikaattilaji. Näin ollen keksinnön kohteena olevan menetelmän tehtävänä on ensisijaisesti pystyä määrittämään erikseen sekä Al:n että Si:n määrä, jotta voidaan pois-35 taa paperin täyteaineina käytettävien AI- ja Si-pitoisten aineiden vaikutus mittaustulokseen.
Kun ym. paperien silikonipäällystemäärä pyritään pitämään sen 68322 hinnan takia mahdollisimman pienenä (riittävän tasapaksun päällysteen määrä on 0,7-0,8 g/m2 ), tulee mittaustarkkuuden olla vähintään 0,1 g/m2 .
5 Keksinnön mukaisella on-line-menetelmällä ja laitteistolla, jolle on tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa, on mahdollista saavuttaa yllämainitut päämäärät.
Seuraavassa keksinnön erästä sovellutusmuotoa kuvataan yksityis-10 kohtaisesti piirustuksella, joka esittää keksinnön mukaisen menetelmän toteuttamisessa tarvittavaa laitteistoa kaaviollisena poikkileikkauksena.
Piirustuksessa mitattavaa, jatkuvana rainana kulkevaa paperia 15 on merkitty viitenumerolla 1 ja tässä tapauksessa yläpinnalla olevaa si1ikonipäällystettä on kuvattu vinoviivoituksella . Paperiradan 1 alle on sijoitettu tranversoiva kotelo 2, jonka sisässä on primäärisäteilyn lähteenä toimiva röntgenputki 3, joka voi toimia esimerkiksi 10 mA:n virralla ja 10 kV:n jännitteellä. 20 Röntgenputkesta 3 tulevan säteilyn johtamiseksi paperirataa 1 vasten on kotelon 2 yläpintaan muodostettu rengasmainen rako 4, jonka sisäpuolelle jää pyöreä, levymäinen rajoitinkappale 5, joka toimii säteilysuojana sekä ollessaan hyvin lähellä liikkuvaa paperirataa 1 myös sen lepatuksen valmentajana.
25 Röntgenputkesta 3 tuleva säteily pääsee näin ollen paperirataa 1 vasten vain kotelon 2 pinnassa olevasta rengasmaisesta raosta 4.
Koteloa 2 vastapäätä paperiradan 1 yläpuolella ja sen välittömäs-30 sä läheisyydessä on toinen identtisesti traversoiva mittakotelo 6, jonka alapinnalle on kiinnitetty renkaanmuotoinen röntgensäteilyn sekundääri lähde 7, joka on sijoitettu tarkasti vastapäätä kotelon 2 rengasmaisesta raosta 4' tulevaa primääriröntgensätei-lyä. Sekundääri lähde 7 on toisin sanoen sijoitettu samankeskei-35 sesti raon 4 kanssa. Rengasmainen sekundääri lähde 7 on tehty esimerkiksi alkuainerikistä (S). Renkaan 7 keskelle on koteloon 68322 3 6 tehty pyöreä reikä 8 säteilyn johtamiseksi kotelon 6 sisään sijoitettuun tyhjiössä olevaan puolijohdedetektoriin 9. Reikä 6 on peitetty beryllium-metallista tehdyllä ikkunalla, joka päästää mahdollisimman suuren osan siihen tulleesta säteilystä lävitseen. Röntgenputkesta 3 tuleva primäärisäteily pääsee siis vain rengasmaisesta raosta 4 paperiradan läpi sekundääri lähteeseen 7, sillä säteilysuojan muodostava rajoitinkappa1 e 5 estää säteitten pääsyn reikään 8 ja sitä kautta suoraan kotelon 6 sisällä olevaan detektoriin 9 .
) Röntgenputken 3 antama primäärisäteily virittää sekundääri lähteen 7 rikkiatomit, jotka lähettävät rikille ominaista karakteristista röntgensäteilyä, joka on säteilyenergialtaan vahvempaa kuin täy-teiaineissa olevien alumiinin ja piin karakteristiset röntgensä- j teilyt (piitä on tietenkin myös paperin pinnalla olevassa siliko-nipäällysteessä). Tämä johtuu siitä, että sekundääri lähteeksi 7 valittu rikki (S) sijaitsee alkuaineiden jaksollisessa järjestelmässä alumiinin ja piin jälkeen. Sekundäärilähteeksi voidaan näin ollen valita jokin muukin alkuaine, kunhan sen lähettämä ) karakteristinen röntgensäteily on suurempienergistä kuin täyteaineessa olevien alumiinin ja piin lähettämät karakterististen säteilyjen vaatimat viritysenergiat. Sekundääri lähteestä 7 vinosti paperirataan 1 tulevat säteet, jotka näin ollen kulkevat mahdollisimman pitkän matkan silikonipäällysteessä, herättävät > päällysteessä olevien piiatomien karakteristisen röntgensäteilyn, samoin kuin osittain myös paperiradan 1 täyteaineena olevien alumiinin ja piin karakteristisen röntgensäteilyn, kun täyteaineena on kaoliini eli alumiinisilikaatti. Kaikkien aineiden; alumiinin, piin ja rikin karakteristiset röntgensäteilyt kulkevat 5 aukossa 8 olevan beryllium-ikkunan läpi detektoriin, josta saadaan spektri, jossa energialtaan erilaiset säteilyt muodostavat, toisistaan erillään olevat piikit.
Kun spektrin Si-piikin pinta-ala on verrannollinen silikonipääl-5 lysteen määrään säte”i ly tyksen ollessa vakio, voidaan silikoni-päällysteen määrä laskea suoraan siinä tapauksessa, että paperis- 68322 4 sa ei ole kaoliinia tai jotain muuta täyteainetta.
Jos paperi absorboi röntgenkoneesta tullutta säteilyä eri tavoilla tai röntgenkoneen intensiteetti vaihtelee mittauksen aikana, 5 tehdään säteilytyskorjaus sironneen S:n piikin avulla. Lisäksi voidaan käyttää hyväksi toisella mittauslaitteella määritettyä paperin täyteainepitoisuutta ja ne 1iömetri painoa, jotka vaikuttavat S:n piikin siroutumisominaisuuksiin. Kun nyt pohjapaperin täyteaineen kemiallinen kaava eli alumiinin ja piin suhden tunne-10 taan, voidaan spektrissä näkyvän alumiinin piikin avulla poistaa Si:n piikistä täyteaineen aiheuttama osuus, jolloin jäljelle jäävä osa on silikonipäällysteessä olevan Si:n osuus.
Keksintö ei ole rajoittunut yllä esitettyyn sovellutusmuotoon, 15 vaan sitä voidaan muunnella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.

Claims (5)

  1. 5 PATENTTIVAATIMUKSET 683 2 2
  2. 1. Menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana (1) liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä pri-määrisäteilylähteestä (3) saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan sekundäärisäteilylähteen (7) järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää si 1ikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensä-) teilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin (9), joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteily johdetaan rainan (1) päällystetyllä puolella sijaitsevaan sekundäärisäteilylähteeseen (7) rainan läpi sen vastak-) kaisella puolella sijaitsevasta primäärisäteilylähteestä (3) ja että primäärisäteilyä rajataan ennen sen kulkua rainan läpi rajoit-timella (4, 5), joka sallii säteilyn kulun sekundäärisäteilylähtee- seen mutta estää sen pääsyn detektoriin (9). ) 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteenä (7) käytetään rengasmaista elementtiä, jonka keskelle detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna, ja että primäärisäteily rajataan rengasmaisen raon (4) avulla poikkileikkaukseltaan rengasmaiseksi, sekun-> däärisäteilylähteeseen osuvaksi vaipaksi, jolloin rengasmaisen raon sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5) sulkee primäärisäteilyl-tä pääsyn detektoriin.
  3. 3. Laitteisto silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana raina-) na (1) liikkuvasta paperista tai kartongista patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukaisella menetelmällä, joka laitteisto käsittää röntgensäteilyä tuottavan primäärisäteilylähteen (3), rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan, järjestysluvultaan piitä suurempaa alkuainetta olevan sekundäärisäteilylähteen (7), jonka karakteristinen röngten-säteily on herätettävissä primäärisäteilyn avulla ja josta säteily on ohjattavissa vinosti rainaan siten, että se herättää silikoni-päällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, sekä rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan detektorin (9), johon piin karakteristinen röntgensäteily on johdettavissa niin, että 6 68322 detektori rekisteröi säteilyn piikinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteilyläh-de (3) sijaitsee sekundäärisäteilylähteeseen (7) nähden rainan (1) vastakkaisella puolella niin, että primäärisäteily tulee johde-5 tuksi rainan läpi, ja että primäärisäteilylähteen kanssa rainan samalle puolelle on sijoitettu rajoitin (4, 5), joka sallii primää- risäteilyn kulun sekundäärisäteilylähteeseen mutta estää sen pääsyn detekotriin (9).
  4. 4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteen (7) muodostaa rengasmainen elementti, että detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna ko. rengasmaisen elementin keskelle ja että . mainitun rajoittimen muodostavat rengasmainen rako (4) sekä sen 15 sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5), jolloin primäärisäteily pääsee rengasmaisesta raosta sekundäärisäteilylähteeseen poikkileikkaukseltaan rengasmaisena vaippana kun taas rajoitinkappale sulkee primäärisäteily1tä pääsyn detektoriin.
  5. 5. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laitteisto, tunnet-t u siitä, että sekundäärisäteilylähde (7) on alkuainerikistä tehty levymäinen elementti. 68322 7 PATENTKRÄV
FI832344A 1983-06-28 1983-06-28 Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong FI68322C (fi)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI832344A FI68322C (fi) 1983-06-28 1983-06-28 Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong
DE19843423708 DE3423708A1 (de) 1983-06-28 1984-06-27 Verfahren zum messen der silicon-beschichtungsmenge auf papier oder karton
SE8403403A SE457216B (sv) 1983-06-28 1984-06-27 Foerfarande och anordning foer maetning av maengden silikonbelaeggning vid papper eller kartong, som roer sig som en kontinuerlig aemnesbana
JP59132183A JPS6057205A (ja) 1983-06-28 1984-06-28 シリコンコ−テイング量の測定方法
GB08416463A GB2144217B (en) 1983-06-28 1984-06-28 Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard
FR8410240A FR2548371B1 (fr) 1983-06-28 1984-06-28 Procede de mesure de la quantite de revetement en silicium du papier ou du carton
US06/840,390 US4639942A (en) 1983-06-28 1986-03-17 Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI832344 1983-06-28
FI832344A FI68322C (fi) 1983-06-28 1983-06-28 Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI832344A0 FI832344A0 (fi) 1983-06-28
FI832344L FI832344L (fi) 1984-12-29
FI68322B true FI68322B (fi) 1985-04-30
FI68322C FI68322C (fi) 1985-08-12

Family

ID=8517420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI832344A FI68322C (fi) 1983-06-28 1983-06-28 Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4639942A (fi)
JP (1) JPS6057205A (fi)
DE (1) DE3423708A1 (fi)
FI (1) FI68322C (fi)
FR (1) FR2548371B1 (fi)
GB (1) GB2144217B (fi)
SE (1) SE457216B (fi)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3638932A1 (de) * 1986-11-14 1988-05-26 Kaemmerer Gmbh Verfahren zur messung von beschichtungsmengen, insbesondere von silikon-beschichtungen auf papier oder kunststoffolie
US5145750A (en) * 1990-10-24 1992-09-08 Bridgestone Corporation Rubber product identification by tagging
FI109215B (fi) 1996-10-28 2002-06-14 Metso Paper Inc Menetelmä ja sovitelma liikkuvan paperi- tai kartonkiradan päällystämiseksi
DE19820861B4 (de) * 1998-05-09 2004-09-16 Bruker Axs Gmbh Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
FI110638B (fi) 1998-10-06 2003-02-28 Metso Paper Automation Oy Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi
US6179918B1 (en) * 1998-11-20 2001-01-30 Honeywell International Inc. Silicone coat weight measuring and control apparatus
CN102128847B (zh) * 2010-01-15 2012-11-14 江苏天瑞仪器股份有限公司 用于x射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3102952A (en) * 1954-05-27 1963-09-03 Philips Corp X-ray fluorescence analysis of multi-component systems
US2925497A (en) * 1956-08-09 1960-02-16 Philips Corp Fluorescence analysis
US3351755A (en) * 1964-09-25 1967-11-07 Applied Res Lab Inc Method of and apparatus for spectroscopic analysis having compensating means for uncontrollable variables
FI40587B (fi) * 1967-04-01 1968-11-30 Valmet Oy
FI40753B (fi) * 1968-04-03 1969-01-31 Valmet Oy
US3925660A (en) * 1972-05-08 1975-12-09 Richard D Albert Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
US3889113A (en) * 1973-05-03 1975-06-10 Columbia Scient Ind Inc Radioisotope-excited, energy-dispersive x-ray fluorescence apparatus
US4147931A (en) * 1976-12-13 1979-04-03 Pertti Puumalainen Procedure for measuring unit area weights
FI59489C (fi) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
JPS5594149A (en) * 1979-01-12 1980-07-17 Yokogawa Hokushin Electric Corp Reflecting type ash content meter
SU958932A1 (ru) * 1981-02-12 1982-09-15 Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа

Also Published As

Publication number Publication date
FR2548371B1 (fr) 1988-02-12
FI68322C (fi) 1985-08-12
GB2144217A (en) 1985-02-27
FI832344A0 (fi) 1983-06-28
SE8403403L (sv) 1984-12-29
JPS6057205A (ja) 1985-04-03
SE8403403D0 (sv) 1984-06-27
GB2144217B (en) 1986-07-30
US4639942A (en) 1987-01-27
SE457216B (sv) 1988-12-05
FR2548371A1 (fr) 1985-01-04
GB8416463D0 (en) 1984-08-01
FI832344L (fi) 1984-12-29
DE3423708A1 (de) 1985-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6885727B2 (en) Apparatus and method for measuring thickness and composition of multi-layered sample
US6532276B1 (en) Method and apparatus for determining a material of a detected item
US6621888B2 (en) X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects
KR950007525B1 (ko) X선검출기 및 x선 검사장치
EP0197157B1 (en) Method of determining thickness and composition of alloy film
US4377869A (en) Procedure for measuring coating rates
FI68322B (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong
US2642537A (en) Apparatus for determining coating thickness
US5113421A (en) Method and apparatus for measuring the thickness of a coating on a substrate
US5579362A (en) Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating
SE433264B (sv) Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande
US5612988A (en) Device for measuring the momentum transfer spectrum of X-ray quanta elastically scattered in an examination zone
NO154570B (no) Fremgangsmaate for maaling av beleggmengder.
SU754274A1 (ru) Способ рентгеноспёктрального флуоресцентного анализа вещества в легком наполнителе 1
SU1516781A1 (ru) Способ измерени поверхностной плотности покрыти
SU1422000A1 (ru) Способ измерени толщины покрыти
CA2001908A1 (en) Procedure and means for measuring paper formation
SU1083100A1 (ru) Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа состава вещества и устройство дл его осуществлени
SU881592A2 (ru) Рентгеновский спектрометр
SU1413419A1 (ru) Способ флуоресцентного рентгено-радиометрического измерени толщины покрыти
CA2125578A1 (en) Sensor and method for measurement of select components of a material
SU1436036A1 (ru) Способ определени параметров решетки поликристаллических материалов
SU777563A1 (ru) Способ измерени содержани наполнителей в бумажном полотне
JPH04164240A (ja) 試料載置用の台座と該台座を使用する蛍光x線分析方法
JPH05312737A (ja) 全反射状態の検出方法および微量元素の測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: ROIBOX OY