FI68322B - Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong - Google Patents
Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong Download PDFInfo
- Publication number
- FI68322B FI68322B FI832344A FI832344A FI68322B FI 68322 B FI68322 B FI 68322B FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 832344 A FI832344 A FI 832344A FI 68322 B FI68322 B FI 68322B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- radiation source
- blank
- primary
- detector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
68322
MENETELMÄ JA LAITTEISTO SILIKONIPÄÄLLYSTEMÄÄRÄN MITTAAMISEKSI PAPERISTA TAI KARTONGISTA - FÖRFARANDE OCH ANORDNING FÖR MÄTNING AV MÄNGDEN AV SILICIUMBELÄGGNING VID PAPPER ELLER KARTONG
5 Tämän keksinnön kohteena on menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä primäärisäteilylähteestä saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella si-10 jaits evän sekundäärisäteilylähteen järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää silikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin, 15 joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä. Lisäksi keksinnön kohteena on laitteisto, jolla mainittu menetelmä on toteutettavissa.
Keksinnön erityisenä tarkoituksena on mitata silikonipäällyste-20 määriä erilaisista papereista, kuten rasvankestävistä voipape reista, leivinpapereista sekä tarrapaperin aluspaperista.
Ennestään tunnetaan off-line-menetelmä, jossa päällysteenä olevan silikonin sekaan sekoitetaan tiettyjä merkkialkuaineita, joitten 25 antamien fluoresenssisäteilypiikkien perusteella voidaan määrittää silikonin määrä. Suoran fluoresenssisäteilyn intensiteetit ovat kuitenkin alhaiset ja niiden mittaamiseen käytetään verran-nollisuuslaskureita, joiden suurimpana puutteena on se, että ne eivät pysty erottamaan toisistaan täyteaineessa olevien alu-30 miinin (AI) ja piin (Si) piikkejä. Kuitenkin ym. papereissa käytetään nykyään yleisesti täyteaineita, esimerkiksi kaoliinia, joka on eräs alumiinisilikaattilaji. Näin ollen keksinnön kohteena olevan menetelmän tehtävänä on ensisijaisesti pystyä määrittämään erikseen sekä Al:n että Si:n määrä, jotta voidaan pois-35 taa paperin täyteaineina käytettävien AI- ja Si-pitoisten aineiden vaikutus mittaustulokseen.
Kun ym. paperien silikonipäällystemäärä pyritään pitämään sen 68322 hinnan takia mahdollisimman pienenä (riittävän tasapaksun päällysteen määrä on 0,7-0,8 g/m2 ), tulee mittaustarkkuuden olla vähintään 0,1 g/m2 .
5 Keksinnön mukaisella on-line-menetelmällä ja laitteistolla, jolle on tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa, on mahdollista saavuttaa yllämainitut päämäärät.
Seuraavassa keksinnön erästä sovellutusmuotoa kuvataan yksityis-10 kohtaisesti piirustuksella, joka esittää keksinnön mukaisen menetelmän toteuttamisessa tarvittavaa laitteistoa kaaviollisena poikkileikkauksena.
Piirustuksessa mitattavaa, jatkuvana rainana kulkevaa paperia 15 on merkitty viitenumerolla 1 ja tässä tapauksessa yläpinnalla olevaa si1ikonipäällystettä on kuvattu vinoviivoituksella . Paperiradan 1 alle on sijoitettu tranversoiva kotelo 2, jonka sisässä on primäärisäteilyn lähteenä toimiva röntgenputki 3, joka voi toimia esimerkiksi 10 mA:n virralla ja 10 kV:n jännitteellä. 20 Röntgenputkesta 3 tulevan säteilyn johtamiseksi paperirataa 1 vasten on kotelon 2 yläpintaan muodostettu rengasmainen rako 4, jonka sisäpuolelle jää pyöreä, levymäinen rajoitinkappale 5, joka toimii säteilysuojana sekä ollessaan hyvin lähellä liikkuvaa paperirataa 1 myös sen lepatuksen valmentajana.
25 Röntgenputkesta 3 tuleva säteily pääsee näin ollen paperirataa 1 vasten vain kotelon 2 pinnassa olevasta rengasmaisesta raosta 4.
Koteloa 2 vastapäätä paperiradan 1 yläpuolella ja sen välittömäs-30 sä läheisyydessä on toinen identtisesti traversoiva mittakotelo 6, jonka alapinnalle on kiinnitetty renkaanmuotoinen röntgensäteilyn sekundääri lähde 7, joka on sijoitettu tarkasti vastapäätä kotelon 2 rengasmaisesta raosta 4' tulevaa primääriröntgensätei-lyä. Sekundääri lähde 7 on toisin sanoen sijoitettu samankeskei-35 sesti raon 4 kanssa. Rengasmainen sekundääri lähde 7 on tehty esimerkiksi alkuainerikistä (S). Renkaan 7 keskelle on koteloon 68322 3 6 tehty pyöreä reikä 8 säteilyn johtamiseksi kotelon 6 sisään sijoitettuun tyhjiössä olevaan puolijohdedetektoriin 9. Reikä 6 on peitetty beryllium-metallista tehdyllä ikkunalla, joka päästää mahdollisimman suuren osan siihen tulleesta säteilystä lävitseen. Röntgenputkesta 3 tuleva primäärisäteily pääsee siis vain rengasmaisesta raosta 4 paperiradan läpi sekundääri lähteeseen 7, sillä säteilysuojan muodostava rajoitinkappa1 e 5 estää säteitten pääsyn reikään 8 ja sitä kautta suoraan kotelon 6 sisällä olevaan detektoriin 9 .
) Röntgenputken 3 antama primäärisäteily virittää sekundääri lähteen 7 rikkiatomit, jotka lähettävät rikille ominaista karakteristista röntgensäteilyä, joka on säteilyenergialtaan vahvempaa kuin täy-teiaineissa olevien alumiinin ja piin karakteristiset röntgensä- j teilyt (piitä on tietenkin myös paperin pinnalla olevassa siliko-nipäällysteessä). Tämä johtuu siitä, että sekundääri lähteeksi 7 valittu rikki (S) sijaitsee alkuaineiden jaksollisessa järjestelmässä alumiinin ja piin jälkeen. Sekundäärilähteeksi voidaan näin ollen valita jokin muukin alkuaine, kunhan sen lähettämä ) karakteristinen röntgensäteily on suurempienergistä kuin täyteaineessa olevien alumiinin ja piin lähettämät karakterististen säteilyjen vaatimat viritysenergiat. Sekundääri lähteestä 7 vinosti paperirataan 1 tulevat säteet, jotka näin ollen kulkevat mahdollisimman pitkän matkan silikonipäällysteessä, herättävät > päällysteessä olevien piiatomien karakteristisen röntgensäteilyn, samoin kuin osittain myös paperiradan 1 täyteaineena olevien alumiinin ja piin karakteristisen röntgensäteilyn, kun täyteaineena on kaoliini eli alumiinisilikaatti. Kaikkien aineiden; alumiinin, piin ja rikin karakteristiset röntgensäteilyt kulkevat 5 aukossa 8 olevan beryllium-ikkunan läpi detektoriin, josta saadaan spektri, jossa energialtaan erilaiset säteilyt muodostavat, toisistaan erillään olevat piikit.
Kun spektrin Si-piikin pinta-ala on verrannollinen silikonipääl-5 lysteen määrään säte”i ly tyksen ollessa vakio, voidaan silikoni-päällysteen määrä laskea suoraan siinä tapauksessa, että paperis- 68322 4 sa ei ole kaoliinia tai jotain muuta täyteainetta.
Jos paperi absorboi röntgenkoneesta tullutta säteilyä eri tavoilla tai röntgenkoneen intensiteetti vaihtelee mittauksen aikana, 5 tehdään säteilytyskorjaus sironneen S:n piikin avulla. Lisäksi voidaan käyttää hyväksi toisella mittauslaitteella määritettyä paperin täyteainepitoisuutta ja ne 1iömetri painoa, jotka vaikuttavat S:n piikin siroutumisominaisuuksiin. Kun nyt pohjapaperin täyteaineen kemiallinen kaava eli alumiinin ja piin suhden tunne-10 taan, voidaan spektrissä näkyvän alumiinin piikin avulla poistaa Si:n piikistä täyteaineen aiheuttama osuus, jolloin jäljelle jäävä osa on silikonipäällysteessä olevan Si:n osuus.
Keksintö ei ole rajoittunut yllä esitettyyn sovellutusmuotoon, 15 vaan sitä voidaan muunnella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.
Claims (5)
- 5 PATENTTIVAATIMUKSET 683 2 2
- 1. Menetelmä silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana rainana (1) liikkuvasta paperista tai kartongista, jossa menetelmässä pri-määrisäteilylähteestä (3) saatavalla röntgensäteilyllä herätetään rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan sekundäärisäteilylähteen (7) järjestysluvultaan piitä suuremman alkuaineen karakteristinen röntgensäteily, joka ohjataan vinosti rainaan siten, että se herättää si 1ikonipäällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensä-) teilyn, joka edelleen johdetaan rainan päällystetyllä puolella olevaan detektoriin (9), joka rekisteröi säteilyn piikkinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteily johdetaan rainan (1) päällystetyllä puolella sijaitsevaan sekundäärisäteilylähteeseen (7) rainan läpi sen vastak-) kaisella puolella sijaitsevasta primäärisäteilylähteestä (3) ja että primäärisäteilyä rajataan ennen sen kulkua rainan läpi rajoit-timella (4, 5), joka sallii säteilyn kulun sekundäärisäteilylähtee- seen mutta estää sen pääsyn detektoriin (9). ) 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteenä (7) käytetään rengasmaista elementtiä, jonka keskelle detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna, ja että primäärisäteily rajataan rengasmaisen raon (4) avulla poikkileikkaukseltaan rengasmaiseksi, sekun-> däärisäteilylähteeseen osuvaksi vaipaksi, jolloin rengasmaisen raon sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5) sulkee primäärisäteilyl-tä pääsyn detektoriin.
- 3. Laitteisto silikonipäällystemäärän mittaamiseksi jatkuvana raina-) na (1) liikkuvasta paperista tai kartongista patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukaisella menetelmällä, joka laitteisto käsittää röntgensäteilyä tuottavan primäärisäteilylähteen (3), rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan, järjestysluvultaan piitä suurempaa alkuainetta olevan sekundäärisäteilylähteen (7), jonka karakteristinen röngten-säteily on herätettävissä primäärisäteilyn avulla ja josta säteily on ohjattavissa vinosti rainaan siten, että se herättää silikoni-päällysteen sisältämän piin karakteristisen röntgensäteilyn, sekä rainan päällystetyllä puolella sijaitsevan detektorin (9), johon piin karakteristinen röntgensäteily on johdettavissa niin, että 6 68322 detektori rekisteröi säteilyn piikinä, josta silikonipäällystemäärä on määritettävissä, tunnettu siitä, että primäärisäteilyläh-de (3) sijaitsee sekundäärisäteilylähteeseen (7) nähden rainan (1) vastakkaisella puolella niin, että primäärisäteily tulee johde-5 tuksi rainan läpi, ja että primäärisäteilylähteen kanssa rainan samalle puolelle on sijoitettu rajoitin (4, 5), joka sallii primää- risäteilyn kulun sekundäärisäteilylähteeseen mutta estää sen pääsyn detekotriin (9).
- 4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että sekundäärisäteilylähteen (7) muodostaa rengasmainen elementti, että detektori (9) on sijoitettu primäärisäteilyn tulosuunnasta katsottuna ko. rengasmaisen elementin keskelle ja että . mainitun rajoittimen muodostavat rengasmainen rako (4) sekä sen 15 sisäpuolelle jäävä rajoitinkappale (5), jolloin primäärisäteily pääsee rengasmaisesta raosta sekundäärisäteilylähteeseen poikkileikkaukseltaan rengasmaisena vaippana kun taas rajoitinkappale sulkee primäärisäteily1tä pääsyn detektoriin.
- 5. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laitteisto, tunnet-t u siitä, että sekundäärisäteilylähde (7) on alkuainerikistä tehty levymäinen elementti. 68322 7 PATENTKRÄV
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
DE19843423708 DE3423708A1 (de) | 1983-06-28 | 1984-06-27 | Verfahren zum messen der silicon-beschichtungsmenge auf papier oder karton |
SE8403403A SE457216B (sv) | 1983-06-28 | 1984-06-27 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden silikonbelaeggning vid papper eller kartong, som roer sig som en kontinuerlig aemnesbana |
JP59132183A JPS6057205A (ja) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | シリコンコ−テイング量の測定方法 |
GB08416463A GB2144217B (en) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard |
FR8410240A FR2548371B1 (fr) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | Procede de mesure de la quantite de revetement en silicium du papier ou du carton |
US06/840,390 US4639942A (en) | 1983-06-28 | 1986-03-17 | Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI832344 | 1983-06-28 | ||
FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI832344A0 FI832344A0 (fi) | 1983-06-28 |
FI832344L FI832344L (fi) | 1984-12-29 |
FI68322B true FI68322B (fi) | 1985-04-30 |
FI68322C FI68322C (fi) | 1985-08-12 |
Family
ID=8517420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4639942A (fi) |
JP (1) | JPS6057205A (fi) |
DE (1) | DE3423708A1 (fi) |
FI (1) | FI68322C (fi) |
FR (1) | FR2548371B1 (fi) |
GB (1) | GB2144217B (fi) |
SE (1) | SE457216B (fi) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3638932A1 (de) * | 1986-11-14 | 1988-05-26 | Kaemmerer Gmbh | Verfahren zur messung von beschichtungsmengen, insbesondere von silikon-beschichtungen auf papier oder kunststoffolie |
US5145750A (en) * | 1990-10-24 | 1992-09-08 | Bridgestone Corporation | Rubber product identification by tagging |
FI109215B (fi) | 1996-10-28 | 2002-06-14 | Metso Paper Inc | Menetelmä ja sovitelma liikkuvan paperi- tai kartonkiradan päällystämiseksi |
DE19820861B4 (de) * | 1998-05-09 | 2004-09-16 | Bruker Axs Gmbh | Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer |
FI110638B (fi) | 1998-10-06 | 2003-02-28 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi |
US6179918B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-01-30 | Honeywell International Inc. | Silicone coat weight measuring and control apparatus |
CN102128847B (zh) * | 2010-01-15 | 2012-11-14 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 用于x射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3102952A (en) * | 1954-05-27 | 1963-09-03 | Philips Corp | X-ray fluorescence analysis of multi-component systems |
US2925497A (en) * | 1956-08-09 | 1960-02-16 | Philips Corp | Fluorescence analysis |
US3351755A (en) * | 1964-09-25 | 1967-11-07 | Applied Res Lab Inc | Method of and apparatus for spectroscopic analysis having compensating means for uncontrollable variables |
FI40587B (fi) * | 1967-04-01 | 1968-11-30 | Valmet Oy | |
FI40753B (fi) * | 1968-04-03 | 1969-01-31 | Valmet Oy | |
US3925660A (en) * | 1972-05-08 | 1975-12-09 | Richard D Albert | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
US3889113A (en) * | 1973-05-03 | 1975-06-10 | Columbia Scient Ind Inc | Radioisotope-excited, energy-dispersive x-ray fluorescence apparatus |
US4147931A (en) * | 1976-12-13 | 1979-04-03 | Pertti Puumalainen | Procedure for measuring unit area weights |
FI59489C (fi) * | 1978-11-21 | 1981-08-10 | Enso Gutzeit Oy | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder |
JPS5594149A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Reflecting type ash content meter |
SU958932A1 (ru) * | 1981-02-12 | 1982-09-15 | Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова | Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа |
-
1983
- 1983-06-28 FI FI832344A patent/FI68322C/fi not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-06-27 SE SE8403403A patent/SE457216B/sv not_active IP Right Cessation
- 1984-06-27 DE DE19843423708 patent/DE3423708A1/de not_active Withdrawn
- 1984-06-28 JP JP59132183A patent/JPS6057205A/ja active Pending
- 1984-06-28 GB GB08416463A patent/GB2144217B/en not_active Expired
- 1984-06-28 FR FR8410240A patent/FR2548371B1/fr not_active Expired
-
1986
- 1986-03-17 US US06/840,390 patent/US4639942A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2548371B1 (fr) | 1988-02-12 |
FI68322C (fi) | 1985-08-12 |
GB2144217A (en) | 1985-02-27 |
FI832344A0 (fi) | 1983-06-28 |
SE8403403L (sv) | 1984-12-29 |
JPS6057205A (ja) | 1985-04-03 |
SE8403403D0 (sv) | 1984-06-27 |
GB2144217B (en) | 1986-07-30 |
US4639942A (en) | 1987-01-27 |
SE457216B (sv) | 1988-12-05 |
FR2548371A1 (fr) | 1985-01-04 |
GB8416463D0 (en) | 1984-08-01 |
FI832344L (fi) | 1984-12-29 |
DE3423708A1 (de) | 1985-01-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6885727B2 (en) | Apparatus and method for measuring thickness and composition of multi-layered sample | |
US6532276B1 (en) | Method and apparatus for determining a material of a detected item | |
US6621888B2 (en) | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects | |
KR950007525B1 (ko) | X선검출기 및 x선 검사장치 | |
EP0197157B1 (en) | Method of determining thickness and composition of alloy film | |
US4377869A (en) | Procedure for measuring coating rates | |
FI68322B (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong | |
US2642537A (en) | Apparatus for determining coating thickness | |
US5113421A (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating on a substrate | |
US5579362A (en) | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating | |
SE433264B (sv) | Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande | |
US5612988A (en) | Device for measuring the momentum transfer spectrum of X-ray quanta elastically scattered in an examination zone | |
NO154570B (no) | Fremgangsmaate for maaling av beleggmengder. | |
SU754274A1 (ru) | Способ рентгеноспёктрального флуоресцентного анализа вещества в легком наполнителе 1 | |
SU1516781A1 (ru) | Способ измерени поверхностной плотности покрыти | |
SU1422000A1 (ru) | Способ измерени толщины покрыти | |
CA2001908A1 (en) | Procedure and means for measuring paper formation | |
SU1083100A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа состава вещества и устройство дл его осуществлени | |
SU881592A2 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
SU1413419A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгено-радиометрического измерени толщины покрыти | |
CA2125578A1 (en) | Sensor and method for measurement of select components of a material | |
SU1436036A1 (ru) | Способ определени параметров решетки поликристаллических материалов | |
SU777563A1 (ru) | Способ измерени содержани наполнителей в бумажном полотне | |
JPH04164240A (ja) | 試料載置用の台座と該台座を使用する蛍光x線分析方法 | |
JPH05312737A (ja) | 全反射状態の検出方法および微量元素の測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: ROIBOX OY |