JPS6057205A - シリコンコ−テイング量の測定方法 - Google Patents
シリコンコ−テイング量の測定方法Info
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- JPS6057205A JPS6057205A JP59132183A JP13218384A JPS6057205A JP S6057205 A JPS6057205 A JP S6057205A JP 59132183 A JP59132183 A JP 59132183A JP 13218384 A JP13218384 A JP 13218384A JP S6057205 A JPS6057205 A JP S6057205A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明はペーパー機械またはペーパー」−ティング機械
における連続せるウェブとして移動Ｊるペーパーまたは
カードボードのシリコンコーティングの四を測定する方
法に関する。更に詳しくは、本発明はＸ線放射技術を使
用したオンラインにｄ３番ノるシリコンコーティング間
の測定に関し、また本発明はグリースブ′リーな羊皮紙
様のペーパー、ベーキングペーパー、接着紙用のペース
パーパーのような様々なペーパーに封するシリコンコー
テイング量の測定に関する。
における連続せるウェブとして移動Ｊるペーパーまたは
カードボードのシリコンコーティングの四を測定する方
法に関する。更に詳しくは、本発明はＸ線放射技術を使
用したオンラインにｄ３番ノるシリコンコーティング間
の測定に関し、また本発明はグリースブ′リーな羊皮紙
様のペーパー、ベーキングペーパー、接着紙用のペース
パーパーのような様々なペーパーに封するシリコンコー
テイング量の測定に関する。
口、従来の技術
従来の技術においてはオフラインでのｈ法が知られてお
り、これにおいてコーティングを構成するシリコンには
成るトレーサー元素が混入されており、これらのトレー
サー元素によって作られる螢光放射ピークがシリコン退
の決定を可能にしているのである。しかしながら直接の
螢光放射強度は低り、それらの測定においては比例カウ
ンタが使用されていて、これにおける最大の欠点はフィ
ラーにお（プるアルミニウム（Ａ１）のピークおよびシ
リコン（Ｓ ｉ ’）のピークの区別が出来ないことで
ある。しかし銘柄品のペーパーにおいては今日一般に例
えばアルミニウム珪酸塩の１つであるカオリンのような
フィラーが使用されている。これ故に本発明の方法の課
題は、先ずアルミニウム（Ａ１）およびシリコン（Ｓｌ
）の両者の邑を別別に決定できるようにして、ペーパー
にフィラーとして使用されているアルミニウム（Ａ１）
およびシリコン（Ｓ ｉ ）を含有ゼる物質からの測定
結果を排除できるＪ：うにすることである。
り、これにおいてコーティングを構成するシリコンには
成るトレーサー元素が混入されており、これらのトレー
サー元素によって作られる螢光放射ピークがシリコン退
の決定を可能にしているのである。しかしながら直接の
螢光放射強度は低り、それらの測定においては比例カウ
ンタが使用されていて、これにおける最大の欠点はフィ
ラーにお（プるアルミニウム（Ａ１）のピークおよびシ
リコン（Ｓ ｉ ’）のピークの区別が出来ないことで
ある。しかし銘柄品のペーパーにおいては今日一般に例
えばアルミニウム珪酸塩の１つであるカオリンのような
フィラーが使用されている。これ故に本発明の方法の課
題は、先ずアルミニウム（Ａ１）およびシリコン（Ｓｌ
）の両者の邑を別別に決定できるようにして、ペーパー
にフィラーとして使用されているアルミニウム（Ａ１）
およびシリコン（Ｓ ｉ ）を含有ゼる物質からの測定
結果を排除できるＪ：うにすることである。
シリコンコーティングの価格の観点から、このｍを可能
な限り少なくする（均容厚さの適当なコーティングは０
．７−０．８ｇ／ｍ ）ように試みられているので、測
定精度は少なくとも０．１Ｗ／ｍ２でなければならない
。特許請求の範囲の欄に記載した特徴を有する本発明の
方法によれば、この目標を達成することができるのであ
る。
な限り少なくする（均容厚さの適当なコーティングは０
．７−０．８ｇ／ｍ ）ように試みられているので、測
定精度は少なくとも０．１Ｗ／ｍ２でなければならない
。特許請求の範囲の欄に記載した特徴を有する本発明の
方法によれば、この目標を達成することができるのであ
る。
ハ、実施例および作用
以下に本発明の実施例につき図面を参照して訂細に説明
する。
する。
第１図において、連続せるウェブとして移動されている
測定すべきペーパーは符号１ひ示され−Ｃおり、この例
では上面に形成せるシリコン−１−５インクはハツチン
グを付して示しである。ペーパーウェブ１の下方には移
動ボックス２が配備されれており、この移動ボックス２
は第一の放射源として働くＸ線管３を内部に有していて
、このＸ線管３は例えば１０ ｎＬ Ａおよび１０ｋｖ
で作動づ゛るものとされている。Ｘ線管３からの放射を
ペーパーウェブ１へ指向させるために、ボックス２の土
壁には円形の開口４が形成され、またこの開口４の中央
にはこの間口４よりも小ざい円板とじる放射シールドプ
レート５が取イ４Ｇノられている。このプレートは移動
するペーパーウェブ１に接近されてい゛（、にた振動を
制限する部材としＣ働いている。
測定すべきペーパーは符号１ひ示され−Ｃおり、この例
では上面に形成せるシリコン−１−５インクはハツチン
グを付して示しである。ペーパーウェブ１の下方には移
動ボックス２が配備されれており、この移動ボックス２
は第一の放射源として働くＸ線管３を内部に有していて
、このＸ線管３は例えば１０ ｎＬ Ａおよび１０ｋｖ
で作動づ゛るものとされている。Ｘ線管３からの放射を
ペーパーウェブ１へ指向させるために、ボックス２の土
壁には円形の開口４が形成され、またこの開口４の中央
にはこの間口４よりも小ざい円板とじる放射シールドプ
レート５が取イ４Ｇノられている。このプレートは移動
するペーパーウェブ１に接近されてい゛（、にた振動を
制限する部材としＣ働いている。
Ｘ線管３からのＸ線は従って放射シールドプレート５に
より開口４内に残された円弧状の空隙を通しでペーパー
ウェブ１へ向けて放０→されることだ（プを許容される
のである。
より開口４内に残された円弧状の空隙を通しでペーパー
ウェブ１へ向けて放０→されることだ（プを許容される
のである。
ボックス２ど反対側のペーパーウェブ１の上面側でその
Ｊぐ近くには、同様に移動づる別の測定ボックス６が配
備されており、その下側には環状の第二のＸ線源７が取
イ」けられていて、この第二のＸ ８ｉＩｌ源７はボッ
クス２の環状空隙からの第一のＸ線と正（１ｆ「に整合
するように位置決めされている。
Ｊぐ近くには、同様に移動づる別の測定ボックス６が配
備されており、その下側には環状の第二のＸ線源７が取
イ」けられていて、この第二のＸ ８ｉＩｌ源７はボッ
クス２の環状空隙からの第一のＸ線と正（１ｆ「に整合
するように位置決めされている。
換、Ｔ？”Ｉれば、第二のＸ線源７は開口４ど同軸芯に
配備されている。この環状の第二のＸ線源７は例えば硫
−シ１ｊ元素（Ｓ）で作られている。リング７の中心に
は内形孔８がボックス６に形成され、ボックス６内に配
備された真空状態の半導体検出器９へＸ線を尋くように
なっている。この孔８は入射Ｘ線の最大限を受入れ得る
金属ベリリウムの窓でカバーされている。このように、
Ｘ線管３からの第一のＸ線は放射シールドプレー１〜が
孔８へ向かうＸ線の通路をシールドしているのでボック
ス２の環状空隙からのみペーパーウェブを通しＣ第二の
Ｘ線源７に達するのであり、第一・のＸ線が面接にボッ
クス６内の検出器９をヒラ１−ツることはＣパきないと
いうことは理解されるところである。。
配備されている。この環状の第二のＸ線源７は例えば硫
−シ１ｊ元素（Ｓ）で作られている。リング７の中心に
は内形孔８がボックス６に形成され、ボックス６内に配
備された真空状態の半導体検出器９へＸ線を尋くように
なっている。この孔８は入射Ｘ線の最大限を受入れ得る
金属ベリリウムの窓でカバーされている。このように、
Ｘ線管３からの第一のＸ線は放射シールドプレー１〜が
孔８へ向かうＸ線の通路をシールドしているのでボック
ス２の環状空隙からのみペーパーウェブを通しＣ第二の
Ｘ線源７に達するのであり、第一・のＸ線が面接にボッ
クス６内の検出器９をヒラ１−ツることはＣパきないと
いうことは理解されるところである。。
Ｘ線管３により供給された第一のＸ線は第二のＸ線源７
にお（）る硫黄原子を励磁し、第二のＸ線源７がこれに
より硫黄の固有Ｘ線を放ｑ４りるのであり、その放射エ
ネルギーはフィラーに存在せるアルミニウムおよびシリ
コン（勿論シリコンはペーパー表面のシリコンコーディ
ング内にｂ存イｌ−りる）の固有Ｘ線放射よりも強い。
にお（）る硫黄原子を励磁し、第二のＸ線源７がこれに
より硫黄の固有Ｘ線を放ｑ４りるのであり、その放射エ
ネルギーはフィラーに存在せるアルミニウムおよびシリ
コン（勿論シリコンはペーパー表面のシリコンコーディ
ング内にｂ存イｌ−りる）の固有Ｘ線放射よりも強い。
これは、第一のＸ線源７どして選択された硫黄（Ｓ）が
元素の周期律でアルミニウムおよびシリコンに続くもの
であるという事実による。その他の元素を選択りること
ができるが第二のＸ線源にとつ−（最も重大イＩＬこと
は放射される固有Ｘ線が、フィラー内のアルミニウムお
よびシリコンにより放射される固有Ｘ線が必要とり−る
励磁エネルギーよりも高いエネルギーを有しているとい
うことである。
元素の周期律でアルミニウムおよびシリコンに続くもの
であるという事実による。その他の元素を選択りること
ができるが第二のＸ線源にとつ−（最も重大イＩＬこと
は放射される固有Ｘ線が、フィラー内のアルミニウムお
よびシリコンにより放射される固有Ｘ線が必要とり−る
励磁エネルギーよりも高いエネルギーを有しているとい
うことである。
Ｘ線は第二のＸ線源７からペーパーウェブ１に対して斜
めに入射し、即ちこれによりシリコンコーディングを通
る最も長い径路を右するのであり、コーチインク内のア
ルミニウムおよびシリコン原子の固有Ｘ線放射を励起し
、またフィラーがカオリン即ちアルミニウム珪Ｍ ｊＭ
である場合にはペーパーウェブ１にフィラーどして存在
せるアルミニウムおよびシリコンの固有Ｘ線放射をも同
時に励起する。総ての物質即らアルミニウム、シリコン
および硫黄の固有Ｘ線は孔８のへツリウム窓を通して検
出器へと進み、これによってスベクｌ〜ルが１；）られ
、これにおいて異なるエネルギーのＸ線は別々にピーク
を示すのである。
めに入射し、即ちこれによりシリコンコーディングを通
る最も長い径路を右するのであり、コーチインク内のア
ルミニウムおよびシリコン原子の固有Ｘ線放射を励起し
、またフィラーがカオリン即ちアルミニウム珪Ｍ ｊＭ
である場合にはペーパーウェブ１にフィラーどして存在
せるアルミニウムおよびシリコンの固有Ｘ線放射をも同
時に励起する。総ての物質即らアルミニウム、シリコン
および硫黄の固有Ｘ線は孔８のへツリウム窓を通して検
出器へと進み、これによってスベクｌ〜ルが１；）られ
、これにおいて異なるエネルギーのＸ線は別々にピーク
を示すのである。
スペクトルにおいてシリコン（Ｓ ｉ ）のピークに対
する面積が一定な放射をするシリコンコーティングのｈ
ｌに比例するから、シリコンコーティングのｊはペーパ
ーがカオリンその他のフィラーを含有しない場合にはた
だちに算出できるのである。
する面積が一定な放射をするシリコンコーティングのｈ
ｌに比例するから、シリコンコーティングのｊはペーパ
ーがカオリンその他のフィラーを含有しない場合にはた
だちに算出できるのである。
もしペーパーがこれとは別にＸ線機械がらの放射を吸収
づる場合には、或いはもしＸ線機械のＸ線強度が測定の
間に変化リ−る場合には、散乱Ｕる硫黄（Ｓ）のピーク
によって照射の補正が行われるのであり、更に散乱せる
硫黄（Ｓ）のピークに加えて、他の測定装置により決定
されるところの硫黄（Ｓ）のピークの散乱パターンにＩ
Ｉるフィラー成分およびペーパーのベース小用が使用Ｃ
きるのである。ベースペーパーのフィラーの化学式即ち
それに含まれるアルミニウムおよびシリＩＪンの比率が
知られているので、フィラーににるシリコン（Ｓ ｉ
）のピークに対重る寄Ｌｊ【よ、スペクトルに見られる
アルミニウムのピークを用い−（シリコン（Ｓｌ）のピ
ークから排除で・ぎるの（゛あり、これにＪ：り残りの
部分がシリコンＪ −フインクに含まれるシリコン（Ｓ
ｉ ）による寄与となるので′ある。
づる場合には、或いはもしＸ線機械のＸ線強度が測定の
間に変化リ−る場合には、散乱Ｕる硫黄（Ｓ）のピーク
によって照射の補正が行われるのであり、更に散乱せる
硫黄（Ｓ）のピークに加えて、他の測定装置により決定
されるところの硫黄（Ｓ）のピークの散乱パターンにＩ
Ｉるフィラー成分およびペーパーのベース小用が使用Ｃ
きるのである。ベースペーパーのフィラーの化学式即ち
それに含まれるアルミニウムおよびシリＩＪンの比率が
知られているので、フィラーににるシリコン（Ｓ ｉ
）のピークに対重る寄Ｌｊ【よ、スペクトルに見られる
アルミニウムのピークを用い−（シリコン（Ｓｌ）のピ
ークから排除で・ぎるの（゛あり、これにＪ：り残りの
部分がシリコンＪ −フインクに含まれるシリコン（Ｓ
ｉ ）による寄与となるので′ある。
本発明は上述した実施例に制限されるものではなく、特
許請求の範囲の欄に記載の範囲内にＪ３い゛Ｃ変更でき
るのである。
許請求の範囲の欄に記載の範囲内にＪ３い゛Ｃ変更でき
るのである。
第１図は本発明の方法を実施するのに必要とされる装置
の断面図。 １ペーパーウエブ ２移動ボツクス ３第一のＸ線源即ちＸ線管 ４開口 ５Ｘ線シールドプレート ６測定ボツクス ７第二ノｘＦＩ！′＃ｆＡ ８孔 ９半導体検出器 代理人 浅 利 皓 刃・１図 手続補正書（睦） 昭和５９年８月ｚｏ日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５９年特許願第１６２１８３号 ２、発明の名称 シリコンコーテイング量の測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 氏名 エンソーグトゼイト オーワイ （名 称） ４、代理人 ５、補正命令の日イｊ 昭和 年 月 日 ６、補正により増加する発明の数 明細書の浄書（内容に変更なし〕
の断面図。 １ペーパーウエブ ２移動ボツクス ３第一のＸ線源即ちＸ線管 ４開口 ５Ｘ線シールドプレート ６測定ボツクス ７第二ノｘＦＩ！′＃ｆＡ ８孔 ９半導体検出器 代理人 浅 利 皓 刃・１図 手続補正書（睦） 昭和５９年８月ｚｏ日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５９年特許願第１６２１８３号 ２、発明の名称 シリコンコーテイング量の測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 氏名 エンソーグトゼイト オーワイ （名 称） ４、代理人 ５、補正命令の日イｊ 昭和 年 月 日 ６、補正により増加する発明の数 明細書の浄書（内容に変更なし〕
Claims (6)
- （１） 連続ウェブ（１）として移動するペーパーよｌ
こはカードボード」二のシリコンコーテイング量を測定
Ｊる方法であって、第一の放射源（３）からのＸ線放射
がペーパーウェブ（１）のシリコンコーティング側にあ
る第二の放射源（７）におけるシリコン（Ｓｌ）より順
序数（ｏｒｄｉｎａｌ ｎｕｍｂｅｒ）の大きな元素の
固有Ｘ線放射を励起するのに使用され、この放射がペー
パーウェブ（１）に対して斜めに当るようにされてペー
パーのコーティングを構成゛す“るシリコンにお（プる
シリコン（Ｓ ｉ ）の固有Ｘ線放射を励起し、このシ
リコン（Ｓ ｉ ）の固有Ｘ線放射が半尋体検出器（９
）を使用することによって第二の放射源（７）として働
く元素の散乱Ｘ線放射とともに測定され、これにより作
られるスペクトルにおいて異なるエネルギーの固有Ｘ線
放射が別々なピークとして見出され、これによりシリコ
ンコーテイング量が決定されることを特徴とするシリコ
ンコーテイング量の測定方法。 - （２） コーティングのためのベースを形成りるペーパ
ーが、周期律において第二の放射源（７）として働く元
素の順序数（ｏｒｄｉｎａｌ ＩＩＵｍｂＯｒ） 、に
Ｖ） ｂ小さルＸ順序数の他の元素とともにフィラー
としてシリコンコンパウンドを含有してＪ３す、このシ
リニｊンかによる寄与は、成るフィラーが使用され（い
る場合にフィラーにお１）る他の元素Ｊ５ Ｊ：び検出
２：（９）から導き出されたシリコンのピーク強度の一
定比率により、検出器により１ｑられたスペクトルから
先ずシリコンで被覆されていないベースペーパーのフィ
ラーによる寄与を決定することによって、ｕ１除できる
ことを特徴とする特Ｖ１前求の範囲第１項記載のシリコ
ンコーティングｈｉの測定方法。 - （３） 第二の放射源（７）とし−Ｃ例えば硫黄元素に
より作られた円環状のプレー１〜が使用されＣおり、ウ
ェブにより散乱されたそのピークの強度が使用されるの
であって、照射の強度の補正にはペーパ−の散乱特性が
考慮され、また前記プレートは第一の放射源（３）と検
出器（９）との間にて向応的にペーパーウェブ（１）に
接近さ往て配置されることを特徴とする特許請求の範囲
第１項または第２項に記載のシリコンコーテイング量の
測定方法。 - （４）放射源（３）から検出器（９）へと第一のＸ線が
直接に達するのを遮断するために、ペーパーウェブ（１
）のすぐ近くで第二の放１ｍ’＜７）の反対側にそれと
向応的に円形のプレー１−（５）が配備され、第一のＸ
線が該プレート（５）の周囲の環状の空隙のみを通して
第二の放射源（７）へ向かうようにされることを特徴と
する特許請求の範囲第１項から第３項までの何れか１つ
に記載のシリコンコーテイング量の測定方法。 - （５） ベースペーパーのフィラーとして力Ａリン即ち
アルミニウム珪酸塩が使用されることを特徴とする特１
［請求の範囲第１項から第４項までの何れか１つに記載
のシリコンコーティング間の測定方法。 - （６） ベースペーパーのフィラーとしてタルク即らマ
グネシウム珪酸塩が使用されることを特徴とする特許請
求の範囲第１項から第４項までの何れか１つに記載のシ
リコンコーテイング量の測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI832344 | 1983-06-28 | ||
| FI832344A FI68322C (fi) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6057205A true JPS6057205A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=8517420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59132183A Pending JPS6057205A (ja) | 1983-06-28 | 1984-06-28 | シリコンコ−テイング量の測定方法 |
Country Status (7)
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