SU958932A1 - Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа - Google Patents

Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа Download PDF

Info

Publication number
SU958932A1
SU958932A1 SU813247581A SU3247581A SU958932A1 SU 958932 A1 SU958932 A1 SU 958932A1 SU 813247581 A SU813247581 A SU 813247581A SU 3247581 A SU3247581 A SU 3247581A SU 958932 A1 SU958932 A1 SU 958932A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ray
analysis
target
detector
sample holder
Prior art date
Application number
SU813247581A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Александрович Варлачев
Евгений Семенович Солодовников
Сергей Иванович Шелудько
Original Assignee
Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова filed Critical Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова
Priority to SU813247581A priority Critical patent/SU958932A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU958932A1 publication Critical patent/SU958932A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА
1
Изобретение относитс  к рентгеноспектральным методам анализа элементного состава вещества, в частности к рентгенофлуоресцентным методам анализа (РФА) с использованием рентгеновских трубок (РТ).
Известны устройства дл  рентгенофлуоресцеитного анализа, содержащие источник излучени , промежуточную мищень, пробе держатель и детектор 1.
Недостатком этих устройств  вл етс  низка  чувствительность, обусловленна  частичной регистрацией рассе нного на мищени и пробе тормозного излучени  от рентгеновской трубки.
Наиболее близким к изобретению  вл етс  устройство дл  рентгеноспектральнбго флуоресцентного анализа элементного состава вещества, содержащее источник рентгеновского или гамма-излучени , промежуточную мишень, держатель образца, детектор рентгеновского излучени  и систему коллимационных каналов, причем ось коллимационного канала между детектором и прободержателем перпендикул рна плоскости, проход щей через оси коллимационных каналрв от источника к мишени от мишени к прободержателю 2.
В качестве материала рассеивател  в устройстве используют вещества с малым атомным номером (углерод, бериллий и т. п т. е. атомы образца возбуждаютс  только линейно пол ризованным излучением РТ. 5 Поэтому выход характеристического рентгеновского излучени  (ХРИ) атомов образца мал и измерени  провод т в течение длительного интервала времени (при хорошей коллимации до нескольких часов Q на один анализ).
Этот недостаток снижает эффективность методики, даже несмотр  на то, что в регистрируемом спектре мал фон -от рассе нного излучени  РТ.
Целью изобретени   вл етс  повышение 15 точности, экспрессности анализа и снижение предела обнаружени  определ емого элемента.

Claims (2)

  1. Цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  рентгеноспектрального флуоресцентного анализа элементного состава вещест20 ва, содержащем источник рентгеновского или гамма-излучени , промежуточную мишень , держатель образца, детектор рентгеновского излучени  и систему коллимационных каналов, причем ось коллимационного канала между детектором и прободержателем перпендикул рна плоскости, проход щей через оси коллимационных каналов от источника к мишени и от мишени к прободержателю, промежуточна  мишень выполнена из материала, энерги  характеристического излучени  которого выше потенциала возбуждени  характеристического излучени  определ емого элемента. Предложенное устройство было реализовано с использованием рентгеновской трубки с вольфрамовым анодом и полупроводниковым детектором типа БДР-1, имеюшим разрешение 340 эВ по линии Мп К)Е 5,9 кэВ), в качестве мишени использован чистый ниобий. На фиг. 1 показана «геометри  измереНИИ; на фиг. 2 - спектры одного и того же образца, проанализированного предлагаемым устройством (б) и устройством-прототипом (а), в котором в качестве мишени использован углерод. В обоих случа х анализ проводитс  по методике измерений в тонких сло х. Устройство содержит рентгеновскую трубку 1, промежуточную мишень 2, образец 3, детектор 4. Данна  «геометри  с помошью коллиматоров организована так, что тормозное излучение РТ распростран етс  вдоль вектора а, рассе нное излучение вдоль вектора в, а детектор «просматривает образец вдоль вектора 7. Дл  пол ризации рассе нного излучени  угол между векторами о и в равен 90°. В этом случае рассе ное излучение РТ не попадает на детектор, так как вектор с перпендикул рен плоскости , в которой лежат вектора аи. При содержании железа Ul-lO /o в известном устройстве достигаетс  точность анализа 3,4% при времени измерени  30 мин. В предлагаемом устройстве точность анализа составл ет 1.7% при времени измерени  8 мин. Предел обнаружени  снижен с 5 Ш до 2,5 10 %. Таким образом, предложенное устройство позвол ет снизить предел обнаружени , повысить точность анализа и экспрессность . Формула изобретени  Устройство дл  рентгеноспектрального флуоресцентного анализа элементного состава вещества, содержащее источник рентгеновского или гамма-излучени , промежуточную мишень, держатель образца, детектор рентгеновского излучени  и систему коллимационных каналов, причем ось коллимационного канала между детектором и прободержателем перпендикул рна плоскости, проход щей через оси коллимационных каналов от источника к мишени и от мищени к прободержателю, отличающеес  тем, что, с целью повышени  чувствительности и точности анализа, а также его экспрессности, промежуточна  мишень выполнена из материала, энерги  характеристического излучени  которого выше потенциала возбуждени  характеристического излучени  определ емого элемента. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Якубович А. Л. и др. Ядерно-физические методы анализа минерального сырь , М., Атомиздат, 1973, с. 255-256.
  2. 2.Кохов Е. Д. Развитие рентгенофлуоресцентного метода анализа с использованием полупроводниковых детекторов. - «Атомна  техника за рубежом, 1976. № 2 с. 37 (прототип).
    ь
    V
    Фт.1
SU813247581A 1981-02-12 1981-02-12 Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа SU958932A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813247581A SU958932A1 (ru) 1981-02-12 1981-02-12 Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813247581A SU958932A1 (ru) 1981-02-12 1981-02-12 Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU958932A1 true SU958932A1 (ru) 1982-09-15

Family

ID=20942906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813247581A SU958932A1 (ru) 1981-02-12 1981-02-12 Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU958932A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4639942A (en) * 1983-06-28 1987-01-27 Enso-Gutzeit Oy Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4639942A (en) * 1983-06-28 1987-01-27 Enso-Gutzeit Oy Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1190662C (zh) X-射线荧光元素分析器
Gillam et al. Some problems in the analysis of steels by X-ray fluorescence
Iida et al. Synchrotron X-ray muprobe and its application to human hair analysis
US5373544A (en) X-ray diffractometer
US3056027A (en) Apparatus for measuring the thickness of a deposit
GB2196113A (en) Ore analysis
Wobrauschek et al. X-ray fluorescence analysis in the ng region using total reflection of the primary beam
US3944822A (en) Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis
Coote et al. A rapid method of obsidian characterisation by inelastic scattering of protons
US3433954A (en) Semiconductor x-ray emission spectrometer
Wobrauschek et al. X‐ray fluorescence analysis with a linear polarized beam after bragg reflection from a flat or a curved single crystal
SU958932A1 (ru) Устройство дл рентгеноспектрального флуоресцентного анализа
Bailey et al. Non-resonant radiation from the N14 (p, γ) reaction
Wobrauschek Total reflection X-ray fluorescencespectrometric determination of trace elementsin the femtogram region: a survey
Gils et al. A 4πβ-γ-coincidence spectrometer using Si (Li) and NaI (Tl) detectors
Anzelmo et al. X-ray fluorescence spectrometric analysis of geologic materials Part 1. Principles and instrumentation
Fenstermacher et al. Absolute intensities of resonance neutron capture gamma rays from Cd, Te, and Sm
Sawicki Channel electron multiplier detector for conversion electron Mössbauer spectroscopy at temperatures between 4 and 300 K
US3408496A (en) Alpha ray excited composition analysis
McCrary et al. The Use of Field Emission Tubes in X-Ray Analysis
Alexander X-ray fluorescence analysis of biological tissues
Böcklin et al. A large-area xenon gas scintillation proportional counter (GSPC) with timing information for the detection of low energy muonic X-rays
Chan et al. Quantitative Determimatioh of Sulfur, Chlorine, Potassium, Calcium, Scandium and Titanium in Aqueous Solutions by Radioisotopic Excited Fluorescent Spectrometer and by Conventional X-Ray Spectrometer
SU1224689A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа состава вещеста
SU1092394A1 (ru) Способ выделени полезного сигнала в рентгеноспектральном анализе