JPH05100037A - Ｘ線検出器およびｘ線検査装置 - Google Patents
Ｘ線検出器およびｘ線検査装置Info
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- JPH05100037A JPH05100037A JP4055640A JP5564092A JPH05100037A JP H05100037 A JPH05100037 A JP H05100037A JP 4055640 A JP4055640 A JP 4055640A JP 5564092 A JP5564092 A JP 5564092A JP H05100037 A JPH05100037 A JP H05100037A
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- Japan
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- ray
- rays
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- intensifying screen
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的低強度のＸ線によって十分な検出感度
が得られるＸ線検出器を提供する。また、小型で危険性
が少なく、かつ明瞭な検査画像が得られるＸ線検査装置
を提供する。 【構成】 検出器本体８のＸ線入射部８ａには、透過型
増感紙１０が配置されている。Ｘ線入射部８ａを除く検
出器本体８の内壁面には、反射型増感紙１１が配置され
ている。検出器本体８に設置されたホトマル１２によっ
て、透過型増感紙１０および反射型増感紙１１からの可
視光を検知し、コンプトン散乱Ｘ線または透過Ｘ線の強
度を検出する。透過型増感紙１０および反射型増感紙１
１の少なくと一方として、 A2 O 2 S:D (AはGd,La,Y
等、 Dは Tb,Pr等、またはこれらとCe,Yb等との混合
物）、およびBaFX:E(Xは Cl,Br等、 EはEuまたはEuと C
e,Yb等との混合物）から選ばれた蛍光体を用いる。この
ようなＸ線検出器によって、Ｘ線検査装置が構成され
る。
が得られるＸ線検出器を提供する。また、小型で危険性
が少なく、かつ明瞭な検査画像が得られるＸ線検査装置
を提供する。 【構成】 検出器本体８のＸ線入射部８ａには、透過型
増感紙１０が配置されている。Ｘ線入射部８ａを除く検
出器本体８の内壁面には、反射型増感紙１１が配置され
ている。検出器本体８に設置されたホトマル１２によっ
て、透過型増感紙１０および反射型増感紙１１からの可
視光を検知し、コンプトン散乱Ｘ線または透過Ｘ線の強
度を検出する。透過型増感紙１０および反射型増感紙１
１の少なくと一方として、 A2 O 2 S:D (AはGd,La,Y
等、 Dは Tb,Pr等、またはこれらとCe,Yb等との混合
物）、およびBaFX:E(Xは Cl,Br等、 EはEuまたはEuと C
e,Yb等との混合物）から選ばれた蛍光体を用いる。この
ようなＸ線検出器によって、Ｘ線検査装置が構成され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線検出器およびそれ
を用いたＸ線検査装置に関する。
を用いたＸ線検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、航空機内に荷物を持ち込む際に
は、航空機の安全運行等を確保するために、空港内で予
め当該荷物の検査を行っている。このような手荷物の検
査装置としては、Ｘ線の透過を利用した透過Ｘ線検査装
置が多用されている。この透過Ｘ線検査装置によれば、
Ｘ線を通しにくい金属製の物品、例えば銃火器や刃物等
の金属製凶器を比較的容易に発見することができる。
は、航空機の安全運行等を確保するために、空港内で予
め当該荷物の検査を行っている。このような手荷物の検
査装置としては、Ｘ線の透過を利用した透過Ｘ線検査装
置が多用されている。この透過Ｘ線検査装置によれば、
Ｘ線を通しにくい金属製の物品、例えば銃火器や刃物等
の金属製凶器を比較的容易に発見することができる。
【０００３】しかしながら、プラスチック爆弾や麻薬等
の原子番号の小さい元素によって主として構成される物
質は、Ｘ線が透過しやすいため、上述したような透過Ｘ
線検査装置では発見することが困難であった。そこで、
コンプトン散乱Ｘ線を利用した検査装置の開発が進めら
れている。コンプトン散乱Ｘ線、すなわちＸ線が照射さ
れた際に物体から反射するＸ線は、原子番号の小さい元
素ほどより多く得られるため、このコンプトン散乱Ｘ線
を利用して荷物等の検査を行うことにより、プラスチッ
ク爆弾や麻薬等を発見することが可能となる。
の原子番号の小さい元素によって主として構成される物
質は、Ｘ線が透過しやすいため、上述したような透過Ｘ
線検査装置では発見することが困難であった。そこで、
コンプトン散乱Ｘ線を利用した検査装置の開発が進めら
れている。コンプトン散乱Ｘ線、すなわちＸ線が照射さ
れた際に物体から反射するＸ線は、原子番号の小さい元
素ほどより多く得られるため、このコンプトン散乱Ｘ線
を利用して荷物等の検査を行うことにより、プラスチッ
ク爆弾や麻薬等を発見することが可能となる。
【０００４】上述したような透過Ｘ線やコンプトン散乱
Ｘ線を利用したＸ線検査装置は、一般に、透過Ｘ線もし
くはコンプトン散乱Ｘ線をＸ線検出器に導き、これら検
出Ｘ線を蛍光体を用いて可視光に変換した後、この可視
光の強度を光電子倍増管、いわゆるホトマルチプライア
（以下、ホトマルと略す）で検出し、その強度に応じて
荷物内を画像化することによって検査を実施するように
構成されている。
Ｘ線を利用したＸ線検査装置は、一般に、透過Ｘ線もし
くはコンプトン散乱Ｘ線をＸ線検出器に導き、これら検
出Ｘ線を蛍光体を用いて可視光に変換した後、この可視
光の強度を光電子倍増管、いわゆるホトマルチプライア
（以下、ホトマルと略す）で検出し、その強度に応じて
荷物内を画像化することによって検査を実施するように
構成されている。
【０００５】ところで、上記したようなＸ線検出器で
は、通常、図１１に示すように、 400nm付近に分光感度
特性のピークを有するホトマルが用いられている。そこ
で、Ｘ線を可視光に変換する蛍光体としては、 400nm付
近に発光波長のピークを有するもの、例えばLaOBr:Tbや
LaOBr:Tm等が用いられてきた。図１２に、LaOBr:Tm蛍光
体の発光波長特性を示す。
は、通常、図１１に示すように、 400nm付近に分光感度
特性のピークを有するホトマルが用いられている。そこ
で、Ｘ線を可視光に変換する蛍光体としては、 400nm付
近に発光波長のピークを有するもの、例えばLaOBr:Tbや
LaOBr:Tm等が用いられてきた。図１２に、LaOBr:Tm蛍光
体の発光波長特性を示す。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなLaOBr:TbやLaOBr:Tm等の蛍光体を使用したＸ線
検出器では、コンプトン散乱Ｘ線を十分な感度で検出す
ることができないという問題があった。このため、従来
のコンプトン散乱Ｘ線検査装置では、十分な検査精度が
得られる程度に、すなわち明瞭な検査画像が得られる程
度に、照射するＸ線の強度を高めている。しかし、空港
荷物検査装置のように、公の場所に設置されるＸ線検査
装置において、照射するＸ線の強度を高めるということ
は、装置の大型化を招くと共に、危険性も増大してしま
う。
たようなLaOBr:TbやLaOBr:Tm等の蛍光体を使用したＸ線
検出器では、コンプトン散乱Ｘ線を十分な感度で検出す
ることができないという問題があった。このため、従来
のコンプトン散乱Ｘ線検査装置では、十分な検査精度が
得られる程度に、すなわち明瞭な検査画像が得られる程
度に、照射するＸ線の強度を高めている。しかし、空港
荷物検査装置のように、公の場所に設置されるＸ線検査
装置において、照射するＸ線の強度を高めるということ
は、装置の大型化を招くと共に、危険性も増大してしま
う。
【０００７】そこで、比較的低強度の照射Ｘ線を用いた
際にも、十分な検出感度が得られるＸ線検出器が強く望
まれていた。また、このようなＸ線検出器を用いること
によって、小型で危険性が少なく、かつ明瞭な検査画像
が得られるＸ線検査装置の出現が強く望まれていた。
際にも、十分な検出感度が得られるＸ線検出器が強く望
まれていた。また、このようなＸ線検出器を用いること
によって、小型で危険性が少なく、かつ明瞭な検査画像
が得られるＸ線検査装置の出現が強く望まれていた。
【０００８】本発明は、このような課題に対処するため
になされたもので、比較的低強度のＸ線によって十分な
検出感度が得られるＸ線検出器を提供することを目的と
しており、また本発明の他の目的は、小型で危険性が少
なく、かつ明瞭な検査画像が得られるＸ線検査装置を提
供することにある。
になされたもので、比較的低強度のＸ線によって十分な
検出感度が得られるＸ線検出器を提供することを目的と
しており、また本発明の他の目的は、小型で危険性が少
なく、かつ明瞭な検査画像が得られるＸ線検査装置を提
供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明のＸ線
検出器は、Ｘ線の入射部を有する筐体状の検出器本体
と、前記入射部に配置された透過型蛍光発生手段と、前
記入射部を除く前記検出器本体の内壁面に沿って配置さ
れた反射型蛍光発生手段と、前記検出器本体内に設置さ
れた光電変換手段とを具備するＸ線検出器において、前
記透過型蛍光発生手段および前記反射型蛍光発生手段の
少なくとも一方として、 A2 O 2 S:D (AはGd、Laおよび
Yから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 DはTbお
よびPrから選ばれた少なくとも 1種の元素、あるいはこ
れらとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素と
の混合物を示す）、およびBaFX:E(XはClおよびBrから選
ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 EはEuまたはEuと
CeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素との混合
物を示す）から選ばれた蛍光体を用いたことを特徴とし
ている。また、上記Ｘ線検出器において、前記透過型蛍
光発生手段および前記反射型蛍光発生手段の双方に、前
記 A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ばれた同一または相
異なる蛍光体を用いたことを特徴としている。
検出器は、Ｘ線の入射部を有する筐体状の検出器本体
と、前記入射部に配置された透過型蛍光発生手段と、前
記入射部を除く前記検出器本体の内壁面に沿って配置さ
れた反射型蛍光発生手段と、前記検出器本体内に設置さ
れた光電変換手段とを具備するＸ線検出器において、前
記透過型蛍光発生手段および前記反射型蛍光発生手段の
少なくとも一方として、 A2 O 2 S:D (AはGd、Laおよび
Yから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 DはTbお
よびPrから選ばれた少なくとも 1種の元素、あるいはこ
れらとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素と
の混合物を示す）、およびBaFX:E(XはClおよびBrから選
ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 EはEuまたはEuと
CeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素との混合
物を示す）から選ばれた蛍光体を用いたことを特徴とし
ている。また、上記Ｘ線検出器において、前記透過型蛍
光発生手段および前記反射型蛍光発生手段の双方に、前
記 A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ばれた同一または相
異なる蛍光体を用いたことを特徴としている。
【００１０】また、本発明のＸ線検査装置は、被検査物
に対してＸ線を照射するＸ線照射手段と、被検査物から
のコンプトン散乱Ｘ線または透過Ｘ線を検出するＸ線検
出手段と、このＸ線検出手段により測定したＸ線強度に
基いて前記被検査物内部を画像化する手段とを具備する
Ｘ線検査装置においては、前記Ｘ線検出手段は、コンプ
トン散乱Ｘ線または透過Ｘ線が照射されることにより蛍
光を発生する手段を有し、この蛍光発生手段として、 A
2 O 2 S:D (AはGd、Laおよび Yから選ばれた少なくとも
1種の元素を示し、 DはTbおよびPrから選ばれた少なく
とも 1種の元素、あるいはこれらとCeおよびYbから選ば
れた少なくとも 1種の元素との混合物を示す）、および
BaFX:E(XはClおよびBrから選ばれた少なくとも 1種の元
素を示し、 EはEuまたはEuとCeおよびYbから選ばれた少
なくとも 1種の元素との混合物を示す）から選ばれた蛍
光体を用いたことを特徴としている。
に対してＸ線を照射するＸ線照射手段と、被検査物から
のコンプトン散乱Ｘ線または透過Ｘ線を検出するＸ線検
出手段と、このＸ線検出手段により測定したＸ線強度に
基いて前記被検査物内部を画像化する手段とを具備する
Ｘ線検査装置においては、前記Ｘ線検出手段は、コンプ
トン散乱Ｘ線または透過Ｘ線が照射されることにより蛍
光を発生する手段を有し、この蛍光発生手段として、 A
2 O 2 S:D (AはGd、Laおよび Yから選ばれた少なくとも
1種の元素を示し、 DはTbおよびPrから選ばれた少なく
とも 1種の元素、あるいはこれらとCeおよびYbから選ば
れた少なくとも 1種の元素との混合物を示す）、および
BaFX:E(XはClおよびBrから選ばれた少なくとも 1種の元
素を示し、 EはEuまたはEuとCeおよびYbから選ばれた少
なくとも 1種の元素との混合物を示す）から選ばれた蛍
光体を用いたことを特徴としている。
【００１１】
【作用】本発明のＸ線検出器およびＸ線検査装置におけ
る蛍光発生手段は、 A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ば
れた少なくとも 1種の蛍光体を用いている。ここで、上
記した蛍光体のうち、代表的なGd2 O 2 S:Tb（含Gd2 O
2 S:Tb,Ce)、Gd2 O 2 S:Pr、BaFCl:EuおよびBaFBr:Euの
発光波長特性をそれぞれ図７、図８、図９および図１０
に示す。上記した各蛍光体は、発光波長のピークが 400
nm付近からはずれているものの、発光効率（Ｘ線を可視
光に変換する効率）が非常に高い。したがって、Ｘ線検
出器において、 400nm付近に受光感度のピークを有する
ホトマルを用いた場合においても、コンプトン散乱Ｘ線
や透過Ｘ線の検出感度を大幅に向上させることができ
る。
る蛍光発生手段は、 A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ば
れた少なくとも 1種の蛍光体を用いている。ここで、上
記した蛍光体のうち、代表的なGd2 O 2 S:Tb（含Gd2 O
2 S:Tb,Ce)、Gd2 O 2 S:Pr、BaFCl:EuおよびBaFBr:Euの
発光波長特性をそれぞれ図７、図８、図９および図１０
に示す。上記した各蛍光体は、発光波長のピークが 400
nm付近からはずれているものの、発光効率（Ｘ線を可視
光に変換する効率）が非常に高い。したがって、Ｘ線検
出器において、 400nm付近に受光感度のピークを有する
ホトマルを用いた場合においても、コンプトン散乱Ｘ線
や透過Ｘ線の検出感度を大幅に向上させることができ
る。
【００１２】また、図７ないし図１０に示したように、
上記した各蛍光体は、残光（発光した光の強度が1/10の
値になるのに要する時間）が 1.0msec以下と小さいた
め、連続してＸ線の検出を行う場合に、検出速度を早め
ることができる。
上記した各蛍光体は、残光（発光した光の強度が1/10の
値になるのに要する時間）が 1.0msec以下と小さいた
め、連続してＸ線の検出を行う場合に、検出速度を早め
ることができる。
【００１３】そして、上述したようなＸ線検出器を用い
てＸ線検査装置を構成することにより、検査画像の画質
を大幅に改良することができ、検査精度の向上を図るこ
とが可能となると共に、処理能力の向上を図ることもで
きる。
てＸ線検査装置を構成することにより、検査画像の画質
を大幅に改良することができ、検査精度の向上を図るこ
とが可能となると共に、処理能力の向上を図ることもで
きる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。
して説明する。
【００１５】図１は、本発明のＸ線検査装置を空港荷物
検査装置に適用した一実施例の構成を模式的に示す図で
ある。同図において、１はＸ線照射手段例えばＸ線管で
あり、このＸ線管１から射出されたＸ線Ａは、まず直線
コリメータ２によって、所定の幅を有するスリット状に
コリメートされる。このコリメートされたＸ線Ｂは、さ
らに半径方向に複数のスリットが設けられた回転コリメ
ータ３によって、直線運動を反復して行うペンシルビー
ムＣとされ、コンベア４によって移動する被検査物例え
ば荷物５に対して走査照射される。なお、被検査物であ
る荷物５は、Ｘ線の検出感度に応じた速度で移動する。
検査装置に適用した一実施例の構成を模式的に示す図で
ある。同図において、１はＸ線照射手段例えばＸ線管で
あり、このＸ線管１から射出されたＸ線Ａは、まず直線
コリメータ２によって、所定の幅を有するスリット状に
コリメートされる。このコリメートされたＸ線Ｂは、さ
らに半径方向に複数のスリットが設けられた回転コリメ
ータ３によって、直線運動を反復して行うペンシルビー
ムＣとされ、コンベア４によって移動する被検査物例え
ば荷物５に対して走査照射される。なお、被検査物であ
る荷物５は、Ｘ線の検出感度に応じた速度で移動する。
【００１６】荷物５によって反射されたＸ線すなわちコ
ンプトン散乱Ｘ線Ｄは、散乱Ｘ線検出器６によって検出
される。また、荷物５を透過したＸ線Ｅは、透過Ｘ線検
出器７によって検出される。これら散乱Ｘ線検出器６お
よび透過Ｘ線検出器７によって検出されたコンプトン散
乱Ｘ線Ｄおよび透過Ｘ線Ｅは、連続的な強度値として測
定され、このＸ線強度に応じて図示を省略したＣＲＴ等
の表示装置上に荷物５内部の状態が画像化される。そし
て、この画像によって荷物５内部の検査が行われる。
ンプトン散乱Ｘ線Ｄは、散乱Ｘ線検出器６によって検出
される。また、荷物５を透過したＸ線Ｅは、透過Ｘ線検
出器７によって検出される。これら散乱Ｘ線検出器６お
よび透過Ｘ線検出器７によって検出されたコンプトン散
乱Ｘ線Ｄおよび透過Ｘ線Ｅは、連続的な強度値として測
定され、このＸ線強度に応じて図示を省略したＣＲＴ等
の表示装置上に荷物５内部の状態が画像化される。そし
て、この画像によって荷物５内部の検査が行われる。
【００１７】上記した散乱Ｘ線検出器６および透過Ｘ線
検出器７は、以下に示すような構成を有している。例え
ば、散乱Ｘ線検出器６を例として説明すると、図２に示
すように、ペンシルビーム状にされたＸ線Ｃの通過用の
間隙が形成されるように、 2つの散乱Ｘ線検出器６を配
置して構成している。
検出器７は、以下に示すような構成を有している。例え
ば、散乱Ｘ線検出器６を例として説明すると、図２に示
すように、ペンシルビーム状にされたＸ線Ｃの通過用の
間隙が形成されるように、 2つの散乱Ｘ線検出器６を配
置して構成している。
【００１８】各散乱Ｘ線検出器６は、一側面を傾斜させ
た筐体状の検出器本体８を有している。この検出器本体
８の被検査物である荷物５と対向する面は、Ｘ線の入射
面８ａとされており、このＸ線入射面８ａはＸ線を透過
する材質、例えば樹脂等によって形成されている。ま
た、Ｘ線入射面８ａを除く検出器本体８の他の部分は、
検出器本体８の強度を維持するために、例えばアルミニ
ウム等によって構成されている。上記Ｘ線入射面８ａを
除く検出器本体８の他の部分の外面は、鉛等のＸ線遮蔽
部材９によって覆われている。これは、外部からのＸ線
の影響を排除するためである。
た筐体状の検出器本体８を有している。この検出器本体
８の被検査物である荷物５と対向する面は、Ｘ線の入射
面８ａとされており、このＸ線入射面８ａはＸ線を透過
する材質、例えば樹脂等によって形成されている。ま
た、Ｘ線入射面８ａを除く検出器本体８の他の部分は、
検出器本体８の強度を維持するために、例えばアルミニ
ウム等によって構成されている。上記Ｘ線入射面８ａを
除く検出器本体８の他の部分の外面は、鉛等のＸ線遮蔽
部材９によって覆われている。これは、外部からのＸ線
の影響を排除するためである。
【００１９】上記検出器本体８のＸ線入射面８ａの内側
には、透過型蛍光発生手段として、発光方向を検出器本
体８の内側に向けた透過型増感紙１０が設置されてい
る。また、Ｘ線入射面８ａを除く検出器本体８の内壁面
には、反射型蛍光発生手段として、反射型増感紙１１が
設置されている。Ｘ線入射面８ａと直角を成す検出器本
体８の側面８ｂには、光電変換手段としてホトマル１２
が設置されている。このホトマル１２としては、 400nm
付近に受光感度のピークを有するものが使用され、例え
ばR-1307（商品名、浜松ホトニクス (株) 製）が使用さ
れる。
には、透過型蛍光発生手段として、発光方向を検出器本
体８の内側に向けた透過型増感紙１０が設置されてい
る。また、Ｘ線入射面８ａを除く検出器本体８の内壁面
には、反射型蛍光発生手段として、反射型増感紙１１が
設置されている。Ｘ線入射面８ａと直角を成す検出器本
体８の側面８ｂには、光電変換手段としてホトマル１２
が設置されている。このホトマル１２としては、 400nm
付近に受光感度のピークを有するものが使用され、例え
ばR-1307（商品名、浜松ホトニクス (株) 製）が使用さ
れる。
【００２０】そして、まず上記Ｘ線入射面８ａの内側に
配置された透過型増感紙１０にコンプトン散乱Ｘ線Ｄ1
が照射され、透過型増感紙１０から選択した蛍光体に応
じた可視光ａが検出器本体８の内側に向けて発光され
る。また、反射型増感紙１１には、Ｘ線入射面８ａを透
過したコンプトン散乱Ｘ線Ｄ2 が照射されることによっ
て、同様に可視光ｂが検出器本体８の内側に向けて発光
される。そして、これら可視光ａ、ｂがホトマル１２に
よって検知され、可視光ａおよびｂの合計強度を測定す
ることにより、入射されたコンプトン散乱Ｘ線Ｄの強度
が求められる。
配置された透過型増感紙１０にコンプトン散乱Ｘ線Ｄ1
が照射され、透過型増感紙１０から選択した蛍光体に応
じた可視光ａが検出器本体８の内側に向けて発光され
る。また、反射型増感紙１１には、Ｘ線入射面８ａを透
過したコンプトン散乱Ｘ線Ｄ2 が照射されることによっ
て、同様に可視光ｂが検出器本体８の内側に向けて発光
される。そして、これら可視光ａ、ｂがホトマル１２に
よって検知され、可視光ａおよびｂの合計強度を測定す
ることにより、入射されたコンプトン散乱Ｘ線Ｄの強度
が求められる。
【００２１】コンプトン散乱Ｘ線による検出原理は、以
下に示す通りである。すなわち、エネルギーがＥ0 で強
度Ｉ0 のＸ線が厚さｔの吸収体を透過した後の強度Ｉ
は、次式によって求められる。
下に示す通りである。すなわち、エネルギーがＥ0 で強
度Ｉ0 のＸ線が厚さｔの吸収体を透過した後の強度Ｉ
は、次式によって求められる。
【００２２】 Ｉ＝Ｉ0 ｅ -μｔ ………(1) 上記式中のμは物質に固有の係数（単位：cm-1）で、線
減弱係数と呼ばれるものであり、エネルギーＥ0 のＸ線
が 1cm進む間に減弱する比率を示す。μは原子番号の大
きい物質ほど大きいという性質を有し、次のように分解
することができる。
減弱係数と呼ばれるものであり、エネルギーＥ0 のＸ線
が 1cm進む間に減弱する比率を示す。μは原子番号の大
きい物質ほど大きいという性質を有し、次のように分解
することができる。
【００２３】 μ＝τ＋σT ＋σC ＋κ ………(2) （式中、τは光電効果による吸収係数を、σT はトムソ
ン散乱による散乱係数を、σC はコンプトン散乱による
散乱係数を、κは電子対創生による吸収係数を示す）ま
た、エネルギーがＥ1 で強度Ｉ0 のＸ線が吸収体の表面
から深さｘの位置まで入射した場合、ｘの位置における
Ｘ線強度Ｉ1 は、次式によって求められる。 Ｉ1 ＝Ｉ0 ｅ -μｘ ………(3) （式中、μはエネルギーがＥ1 のＸ線の線減弱係数を示
す）また、ｘの位置で発生し、なおかつＸ線の入射方向
に対して角θの方向に散乱するコンプトン散乱Ｘ線の強
度Ｉ2 は、次式によって求められる。
ン散乱による散乱係数を、σC はコンプトン散乱による
散乱係数を、κは電子対創生による吸収係数を示す）ま
た、エネルギーがＥ1 で強度Ｉ0 のＸ線が吸収体の表面
から深さｘの位置まで入射した場合、ｘの位置における
Ｘ線強度Ｉ1 は、次式によって求められる。 Ｉ1 ＝Ｉ0 ｅ -μｘ ………(3) （式中、μはエネルギーがＥ1 のＸ線の線減弱係数を示
す）また、ｘの位置で発生し、なおかつＸ線の入射方向
に対して角θの方向に散乱するコンプトン散乱Ｘ線の強
度Ｉ2 は、次式によって求められる。
【００２４】 Ｉ2 ＝ａσC Ｉ1 ………(4) （式中、ａは比例定数である）発生したコンプトン散乱
Ｘ線が表面から出てくる強度Ｉ3 は、発生した点から表
面までの距離がｂｘ（ｂ=1/cosθ）であるので、 Ｉ3 ＝Ｉ2 ｅ -μ′ｂｘ ………(5) （式中、μ′は散乱Ｘ線の線減弱係数を示す）となる。
したがって、コンプトン散乱Ｘ線の強度Ｉ3 は、 (3)
式、 (4)式および (5)式から、 Ｉ3 ＝ａσC Ｉ0 ｅ -（μ＋ｂμ′）ｘ ………(6) となる。したがって、厚さがｔの吸収体を通過した場合
のコンプトン散乱Ｘ線の総量は、以下の式から求められ
る。
Ｘ線が表面から出てくる強度Ｉ3 は、発生した点から表
面までの距離がｂｘ（ｂ=1/cosθ）であるので、 Ｉ3 ＝Ｉ2 ｅ -μ′ｂｘ ………(5) （式中、μ′は散乱Ｘ線の線減弱係数を示す）となる。
したがって、コンプトン散乱Ｘ線の強度Ｉ3 は、 (3)
式、 (4)式および (5)式から、 Ｉ3 ＝ａσC Ｉ0 ｅ -（μ＋ｂμ′）ｘ ………(6) となる。したがって、厚さがｔの吸収体を通過した場合
のコンプトン散乱Ｘ線の総量は、以下の式から求められ
る。
【００２５】
【数１】 ａＩ0 は、原子番号によらない一定値なので、コンプト
ン散乱Ｘ線は物質によって変化する、σC ／（μ＋ｂ
μ′）の値によって、その強度が変化する。このσC ／
（μ＋ｂμ′）の値は原子番号が小さい物質ほど大きく
なる。よって、コンプトン散乱Ｘ線を検出することによ
り、プラスチック製品のような原子番号が小さい元素に
よって主として構成される物質を見分けることができ
る。
ン散乱Ｘ線は物質によって変化する、σC ／（μ＋ｂ
μ′）の値によって、その強度が変化する。このσC ／
（μ＋ｂμ′）の値は原子番号が小さい物質ほど大きく
なる。よって、コンプトン散乱Ｘ線を検出することによ
り、プラスチック製品のような原子番号が小さい元素に
よって主として構成される物質を見分けることができ
る。
【００２６】この実施例における入射側の透過型増感紙
１０およびその他の反射型増感紙１１は、 A2 O 2 S:D
(AはGd、Laおよび Yから選ばれた少なくとも 1種の元素
を示し、 DはTbおよびPrから選ばれた少なくとも 1種の
元素、あるいはこれらとCeおよびYbから選ばれた少なく
とも 1種の元素との混合物を示す）、およびBaFX:E(Xは
ClおよびBrから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、
EはEuまたはEuとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1
種の元素との混合物を示す）から選ばれた少なくとも 1
種の蛍光体を用いたものである。
１０およびその他の反射型増感紙１１は、 A2 O 2 S:D
(AはGd、Laおよび Yから選ばれた少なくとも 1種の元素
を示し、 DはTbおよびPrから選ばれた少なくとも 1種の
元素、あるいはこれらとCeおよびYbから選ばれた少なく
とも 1種の元素との混合物を示す）、およびBaFX:E(Xは
ClおよびBrから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、
EはEuまたはEuとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1
種の元素との混合物を示す）から選ばれた少なくとも 1
種の蛍光体を用いたものである。
【００２７】ここで、付活剤としてのCeおよびYbは、残
光を短縮する効果を有しており、Pr付活の蛍光体と比べ
ると残光が大きいTb付活の蛍光体において、その使用が
効果的である。これらCeやYbは、付活剤総量に対して
0.001重量％〜10重量％程度の範囲で使用することが好
ましい。具体的な蛍光体としては、Gd2 O 2 S:Tb、Gd2
O2 S:Tb,Ce 、Gd2 O 2 S:Tb,Yb 、Gd2 O 2 S:Pr、La2 O
2 S:Tb、La2 O 2 S:Tb,Ce 、La2 O 2 S:Tb,Yb 、La2 O
2 S:Pr、 Y2 O 2 S:Tb、 Y2 O 2 S:Tb,Ce 、Y2 O 2 S:
Tb,Yb 、 Y2 O 2 S:Pr、BaFCl:Eu、BaFBr:Eu等が挙げら
れる。
光を短縮する効果を有しており、Pr付活の蛍光体と比べ
ると残光が大きいTb付活の蛍光体において、その使用が
効果的である。これらCeやYbは、付活剤総量に対して
0.001重量％〜10重量％程度の範囲で使用することが好
ましい。具体的な蛍光体としては、Gd2 O 2 S:Tb、Gd2
O2 S:Tb,Ce 、Gd2 O 2 S:Tb,Yb 、Gd2 O 2 S:Pr、La2 O
2 S:Tb、La2 O 2 S:Tb,Ce 、La2 O 2 S:Tb,Yb 、La2 O
2 S:Pr、 Y2 O 2 S:Tb、 Y2 O 2 S:Tb,Ce 、Y2 O 2 S:
Tb,Yb 、 Y2 O 2 S:Pr、BaFCl:Eu、BaFBr:Eu等が挙げら
れる。
【００２８】透過型増感紙１０と反射型増感紙１１と
は、同一の蛍光体を用いてもよいし、また相異なる蛍光
体を用いてもよい。これら蛍光体の組み合わせは、特に
限定されるものではなく、要求される光出力等によって
適宜設定するものとする。これら増感紙１０、１１は、
図３に示すように、プラスチックフィルムや不織布等の
支持体１３上に、選択した蛍光体をバインダおよび有機
溶剤と共に混合したスラリーを塗布することによって、
蛍光体層１４を形成したものである。
は、同一の蛍光体を用いてもよいし、また相異なる蛍光
体を用いてもよい。これら蛍光体の組み合わせは、特に
限定されるものではなく、要求される光出力等によって
適宜設定するものとする。これら増感紙１０、１１は、
図３に示すように、プラスチックフィルムや不織布等の
支持体１３上に、選択した蛍光体をバインダおよび有機
溶剤と共に混合したスラリーを塗布することによって、
蛍光体層１４を形成したものである。
【００２９】上記透過型増感紙１０および反射型増感紙
１１における蛍光体の塗布量は、それぞれに応じて設定
するものとする。すなわち、入射側の透過型増感紙１０
においては、あまり蛍光体の塗布量を多く設定すると、
蛍光体層１４内部での光吸収が起こることによって、蛍
光の発光出力が低下する。また、コンプトン散乱Ｘ線の
吸収も起こるために、反射型増感紙１１への入射量が減
少し、可視光の合計量として減少する。また、反射型増
感紙１１では、塗布量を増大させるにつれて光出力が上
がるが、あまり塗布量を多くしてもそれ以上の効果が得
られない。図４に、透過型増感紙１０および反射型増感
紙１１共にBaFCl:Euを用いた場合のそれぞれの光出力を
示す。なお、光出力はバイアルカリ光電面を有するホト
マル・R-980(商品名、浜松ホトニクス (株) 製）を用
い、Ｘ線管電圧120kVPで測定し、従来の蛍光体（LaOBr:
Tb）の光出力を 100としたときの相対光出力として示
す。
１１における蛍光体の塗布量は、それぞれに応じて設定
するものとする。すなわち、入射側の透過型増感紙１０
においては、あまり蛍光体の塗布量を多く設定すると、
蛍光体層１４内部での光吸収が起こることによって、蛍
光の発光出力が低下する。また、コンプトン散乱Ｘ線の
吸収も起こるために、反射型増感紙１１への入射量が減
少し、可視光の合計量として減少する。また、反射型増
感紙１１では、塗布量を増大させるにつれて光出力が上
がるが、あまり塗布量を多くしてもそれ以上の効果が得
られない。図４に、透過型増感紙１０および反射型増感
紙１１共にBaFCl:Euを用いた場合のそれぞれの光出力を
示す。なお、光出力はバイアルカリ光電面を有するホト
マル・R-980(商品名、浜松ホトニクス (株) 製）を用
い、Ｘ線管電圧120kVPで測定し、従来の蛍光体（LaOBr:
Tb）の光出力を 100としたときの相対光出力として示
す。
【００３０】また、全体としての可視光量は、上述した
ように透過型増感紙１０および反射型増感紙１１の塗布
量の兼ね合いによって変化するため、上述した透過型増
感紙１０および反射型増感紙１１の個々の塗布量を考慮
した上で、蛍光体の塗布合計量を設定することが好まし
い。図５に、代表的な蛍光体の組み合わせによる透過型
増感紙１０および反射型増感紙１１の塗布合計量と相対
光出力との関係を示す。蛍光体の組み合わせによって異
なるものの、塗布合計量を 80mg/cm2 〜300mg/cm2 の範
囲とすることによって、良好な光出力が得られることが
分かる。
ように透過型増感紙１０および反射型増感紙１１の塗布
量の兼ね合いによって変化するため、上述した透過型増
感紙１０および反射型増感紙１１の個々の塗布量を考慮
した上で、蛍光体の塗布合計量を設定することが好まし
い。図５に、代表的な蛍光体の組み合わせによる透過型
増感紙１０および反射型増感紙１１の塗布合計量と相対
光出力との関係を示す。蛍光体の組み合わせによって異
なるものの、塗布合計量を 80mg/cm2 〜300mg/cm2 の範
囲とすることによって、良好な光出力が得られることが
分かる。
【００３１】本発明による各蛍光体を種々組み合わせて
作製した透過型増感紙１０および反射型増感紙１１を用
いた際の相対光出力は、表１、表２、表３、表４および
図６に示す通りである。
作製した透過型増感紙１０および反射型増感紙１１を用
いた際の相対光出力は、表１、表２、表３、表４および
図６に示す通りである。
【００３２】
【表１】
【表２】
【表３】
【表４】 表１、表２、表３、表４および図６から明らかなよう
に、本発明による蛍光体を用いることによって、従来の
蛍光体に比べて、光出力を大幅に改善できることが分か
る。すなわち、光出力が大幅に向上することによって、
コンプトン散乱Ｘ線の検出感度が向上し、これにより被
検査物である荷物５の内部をより鮮明に画像化すること
が可能となる。これは、透過Ｘ線の検出感度についても
同様である。よって、より正確な検査を実施することが
可能となる。また、光出力の向上によって、Ｘ線管１の
低容量化を図ることも可能となり、装置の小型化が図れ
る。さらに、図７ないし図１０に示したように、本発明
による蛍光体はいずれも残光が 1.0msec以下と小さいこ
とから、荷物５の移動速度を上げることができる。これ
によって、処理能力の大幅な向上が図れる。
に、本発明による蛍光体を用いることによって、従来の
蛍光体に比べて、光出力を大幅に改善できることが分か
る。すなわち、光出力が大幅に向上することによって、
コンプトン散乱Ｘ線の検出感度が向上し、これにより被
検査物である荷物５の内部をより鮮明に画像化すること
が可能となる。これは、透過Ｘ線の検出感度についても
同様である。よって、より正確な検査を実施することが
可能となる。また、光出力の向上によって、Ｘ線管１の
低容量化を図ることも可能となり、装置の小型化が図れ
る。さらに、図７ないし図１０に示したように、本発明
による蛍光体はいずれも残光が 1.0msec以下と小さいこ
とから、荷物５の移動速度を上げることができる。これ
によって、処理能力の大幅な向上が図れる。
【００３３】なお、上記実施例においては、透過型蛍光
発生手段としての透過型増感紙１０と反射型蛍光発生手
段としての反射型増感紙１１の双方に、本発明による蛍
光体、すなわち A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ばれた
蛍光体を用いたＸ線検出器について説明したが、表１〜
表４に示した測定結果から明らかにように、本発明によ
る蛍光体は単独でも従来の蛍光体より光出力の改善が可
能であるため、上記した蛍光体を透過型増感紙１０およ
び反射型増感紙１１のいずれか一方のみに用いることも
有効である。
発生手段としての透過型増感紙１０と反射型蛍光発生手
段としての反射型増感紙１１の双方に、本発明による蛍
光体、すなわち A2 O 2 S:D およびBaFX:Eから選ばれた
蛍光体を用いたＸ線検出器について説明したが、表１〜
表４に示した測定結果から明らかにように、本発明によ
る蛍光体は単独でも従来の蛍光体より光出力の改善が可
能であるため、上記した蛍光体を透過型増感紙１０およ
び反射型増感紙１１のいずれか一方のみに用いることも
有効である。
【００３４】また、上記実施例では本発明のＸ線検出器
を散乱Ｘ線検出器に適用した例について説明したが、透
過Ｘ線検出器として用いる際にも同様な構成とすること
によって、同様な効果が得られる。また、本発明のＸ線
検査装置は、空港荷物検査装置に限らず、各種のセキュ
リティシステムとして利用可能である。
を散乱Ｘ線検出器に適用した例について説明したが、透
過Ｘ線検出器として用いる際にも同様な構成とすること
によって、同様な効果が得られる。また、本発明のＸ線
検査装置は、空港荷物検査装置に限らず、各種のセキュ
リティシステムとして利用可能である。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、比
較的低強度のＸ線によって十分な検出感度が得られるＸ
線検出器を提供することが可能となる。そして、このよ
うなＸ線検出器を用いてＸ線検査装置を構成することに
より、明瞭な検査画像が得られると共に、装置の小型化
等が可能となる。
較的低強度のＸ線によって十分な検出感度が得られるＸ
線検出器を提供することが可能となる。そして、このよ
うなＸ線検出器を用いてＸ線検査装置を構成することに
より、明瞭な検査画像が得られると共に、装置の小型化
等が可能となる。
【図１】本発明のＸ線検査装置の一実施例の構成を模式
的に示す図である。
的に示す図である。
【図２】本発明のＸ線検出器の一実施例の構成を示す断
面図である。
面図である。
【図３】本発明に用いられる増感紙の構成例を示す断面
図である。
図である。
【図４】本発明の一実施例における増感紙の蛍光体の塗
布量と相対光出力との関係を示す図である。
布量と相対光出力との関係を示す図である。
【図５】本発明の一実施例における入射側増感紙と反射
側増感紙の蛍光体の塗布合計量と相対光出力との関係を
示す図である。
側増感紙の蛍光体の塗布合計量と相対光出力との関係を
示す図である。
【図６】本発明に用いられる蛍光体の相対光出力を示す
図である。
図である。
【図７】Gd2 O 2 S:Tbの発光波長特性を示す図である。
【図８】Gd2 O 2 S:Prの発光波長特性を示す図である。
【図９】BaFCl:Euの発光波長特性を示す図である。
【図１０】BaFBr:Euの発光波長特性を示す図である。
【図１１】Ｘ線検出器に用いられるホトマルの分光感度
特性を示す図である。
特性を示す図である。
【図１２】従来の蛍光体の発光波長特性を示す図であ
る。
る。
１……Ｘ線管 ５……被検査物である荷物 ６……散乱Ｘ線検出器 ７……透過Ｘ線検出器 ８……筐体状検出器本体 ８ａ…Ｘ線入射面 １０…透過型増感紙 １１…反射型増感紙 １２…ホトマル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 // Ｂ６５Ｇ 43/08 Ｆ 9245−3Ｆ
Claims (8)
- 【請求項１】 Ｘ線の入射部を有する筐体状の検出器本
体と、前記入射部に配置された透過型蛍光発生手段と、
前記入射部を除く前記検出器本体の内壁面に沿って配置
された反射型蛍光発生手段と、前記検出器本体内に設置
された光電変換手段とを具備するＸ線検出器において、 前記透過型蛍光発生手段および前記反射型蛍光発生手段
の少なくとも一方として、 A2 O 2 S:D (AはGd、Laおよ
び Yから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 DはTb
およびPrから選ばれた少なくとも 1種の元素、あるいは
これらとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素
との混合物を示す）、およびBaFX:E(XはClおよびBrから
選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 EはEuまたはEu
とCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素との混
合物を示す）から選ばれた蛍光体を用いたことを特徴と
するＸ線検出器。 - 【請求項２】 請求項１記載のＸ線検出器において、 前記透過型蛍光発生手段および前記反射型蛍光発生手段
の双方に、前記 A2 O2 S:D およびBaFX:Eから選ばれた
同一または相異なる蛍光体を用いたことを特徴とするＸ
線検出器。 - 【請求項３】 請求項２記載のＸ線検出器において、 前記透過型蛍光発生手段および前記反射型蛍光発生手段
は、前記蛍光体を用いた増感紙を有することを特徴とす
るＸ線検出器。 - 【請求項４】 請求項３記載のＸ線検出器において、 前記透過型蛍光発生手段側増感紙における前記蛍光体の
塗布量と、前記反射型蛍光発生手段側増感紙における前
記蛍光体の塗布量との合計量は、 80mg/cm2 〜300mg/cm
2 の範囲にあることを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項５】 請求項１記載のＸ線検出器において、 前記蛍光体は、残光が 1.0msec以下であることを特徴と
するＸ線検出器。 - 【請求項６】 請求項１記載のＸ線検出器において、 コンプトン散乱Ｘ線を検出することを特徴とするＸ線検
出器。 - 【請求項７】 被検査物に対してＸ線を照射するＸ線照
射手段と、被検査物からのコンプトン散乱Ｘ線または透
過Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、このＸ線検出手段に
より測定したＸ線強度に基いて前記被検査物内部を画像
化する手段とを具備するＸ線検査装置においては、 前記Ｘ線検出手段は、コンプトン散乱Ｘ線または透過Ｘ
線が照射されることにより蛍光を発生する手段を有し、
この蛍光発生手段として、 A2 O 2 S:D (AはGd、Laおよ
び Yから選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 DはTb
およびPrから選ばれた少なくとも 1種の元素、あるいは
これらとCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素
との混合物を示す）、およびBaFX:E(XはClおよびBrから
選ばれた少なくとも 1種の元素を示し、 EはEuまたはEu
とCeおよびYbから選ばれた少なくとも 1種の元素との混
合物を示す）から選ばれた蛍光体を用いたことを特徴と
するＸ線検査装置。 - 【請求項８】 請求項７記載のＸ線検査装置において、 前記Ｘ線検査装置は空港荷物検査装置であることを特徴
とするＸ線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4055640A JP2928677B2 (ja) | 1991-06-21 | 1992-03-13 | Ｘ線検出器およびｘ線検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3-150606 | 1991-06-21 | ||
| JP15060691 | 1991-06-21 | ||
| JP4055640A JP2928677B2 (ja) | 1991-06-21 | 1992-03-13 | Ｘ線検出器およびｘ線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05100037A true JPH05100037A (ja) | 1993-04-23 |
| JP2928677B2 JP2928677B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=26396539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4055640A Expired - Lifetime JP2928677B2 (ja) | 1991-06-21 | 1992-03-13 | Ｘ線検出器およびｘ線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2928677B2 (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010060572A (ja) * | 2005-12-16 | 2010-03-18 | Cxr Ltd | Ｘ線断層撮影検査システム |
| JP2012220348A (ja) * | 2011-04-08 | 2012-11-12 | Toshiba Corp | Ｘ線検出器及びｘ線検査装置 |
| WO2013051165A1 (ja) | 2011-10-03 | 2013-04-11 | 株式会社 東芝 | Ｘ線検出器用増感紙、ｘ線検出器、およびｘ線検査装置 |
| JP2013522623A (ja) * | 2010-03-14 | 2013-06-13 | ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド | 多重スクリーン検出システム |
| US8693627B2 (en) | 2011-10-03 | 2014-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Intensifying screen for X-ray detector, X-ray detector, and X-ray inspection apparatus |
| US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| JP2014529060A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-10-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | テルビウムベースの検出器シンチレータ |
| US8885794B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-11-11 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
| US9020095B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-04-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US9048061B2 (en) | 2005-12-16 | 2015-06-02 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| JP2020012088A (ja) * | 2018-07-20 | 2020-01-23 | 株式会社東芝 | Ｘ線蛍光板、ｘ線検出器及びｘ線検査装置 |
| US10591424B2 (en) | 2003-04-25 | 2020-03-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
| US11181649B2 (en) | 2019-12-19 | 2021-11-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Fluorescent screen, x-ray detector, and x-ray inspection apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6896425B2 (ja) | 2014-09-25 | 2021-06-30 | 株式会社東芝 | シンチレータ、シンチレータアレイ、放射線検出器、および放射線検査装置 |
-
1992
- 1992-03-13 JP JP4055640A patent/JP2928677B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| US11796711B2 (en) | 2003-04-25 | 2023-10-24 | Rapiscan Systems, Inc. | Modular CT scanning system |
| US10901112B2 (en) | 2003-04-25 | 2021-01-26 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system with stationary x-ray sources |
| US10591424B2 (en) | 2003-04-25 | 2020-03-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
| US10175381B2 (en) | 2003-04-25 | 2019-01-08 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners having source points with less than a predefined variation in brightness |
| US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| US9675306B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-06-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| US8885794B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-11-11 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
| US9618648B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-04-11 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US9020095B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-04-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US9442082B2 (en) | 2003-04-25 | 2016-09-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| US10295483B2 (en) | 2005-12-16 | 2019-05-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images |
| JP2010060572A (ja) * | 2005-12-16 | 2010-03-18 | Cxr Ltd | Ｘ線断層撮影検査システム |
| US9638646B2 (en) | 2005-12-16 | 2017-05-02 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US9048061B2 (en) | 2005-12-16 | 2015-06-02 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US10976271B2 (en) | 2005-12-16 | 2021-04-13 | Rapiscan Systems, Inc. | Stationary tomographic X-ray imaging systems for automatically sorting objects based on generated tomographic images |
| JP2013522623A (ja) * | 2010-03-14 | 2013-06-13 | ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド | 多重スクリーン検出システム |
| JP2012220348A (ja) * | 2011-04-08 | 2012-11-12 | Toshiba Corp | Ｘ線検出器及びｘ線検査装置 |
| JP2014529060A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-10-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | テルビウムベースの検出器シンチレータ |
| US8693627B2 (en) | 2011-10-03 | 2014-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Intensifying screen for X-ray detector, X-ray detector, and X-ray inspection apparatus |
| WO2013051165A1 (ja) | 2011-10-03 | 2013-04-11 | 株式会社 東芝 | Ｘ線検出器用増感紙、ｘ線検出器、およびｘ線検査装置 |
| JP2017120268A (ja) * | 2011-10-03 | 2017-07-06 | 株式会社東芝 | Ｘ線検出器用増感紙、ｘ線検出器、およびｘ線検査装置 |
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| US11181649B2 (en) | 2019-12-19 | 2021-11-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Fluorescent screen, x-ray detector, and x-ray inspection apparatus |
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