JPH0149894B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0149894B2 JPH0149894B2 JP56016476A JP1647681A JPH0149894B2 JP H0149894 B2 JPH0149894 B2 JP H0149894B2 JP 56016476 A JP56016476 A JP 56016476A JP 1647681 A JP1647681 A JP 1647681A JP H0149894 B2 JPH0149894 B2 JP H0149894B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- ray
- rays
- ray tube
- foil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 24
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 18
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 15
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002956 ash Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、X線管と検出器で形成される間隙内
を走行するシート状の被測定体に前記X線管から
X線を照射して透過させ該透過X線の減衰量を前
記検出器で検出して前記被測定体に含まれる灰分
の重量含有率を連続的に測定するX線灰分計に関
する。
を走行するシート状の被測定体に前記X線管から
X線を照射して透過させ該透過X線の減衰量を前
記検出器で検出して前記被測定体に含まれる灰分
の重量含有率を連続的に測定するX線灰分計に関
する。
〈従来の技術〉
第1図は上述のようなX線灰分計の従来例原理
説明図であり、図中、1はX線を発するX線管、
2は例えば紙のようなシート状の被測定体、3は
例えば電離箱でなる検出器、4は1から照射され
たX線、5はあらかじめプログラミングされてい
る所定の演算を行なう演算回路である。この図に
おいて、1から照射されたX線4は、被測定体2
を透過して減衰され、その後、検出器3に達して
検出され、該検出器3の出力信号は演算回路5で
演算処理され、被測定体2に含まれている灰分の
重量含有率が求められる。ところで、被測定体2
が紙である場合、紙の重量は主として水分、繊維
分、灰分から構成されると共に該灰分はMg,Si,
Al,Ca,Tiなどの元素から構成されており、こ
れら元素のX線吸収係数が必ずしも全て同一では
ない。このため、X線成分計を用いて被測定体の
灰分を測定することは非常に複雑な作業を必要と
していた。即ち、被測定体の灰分が主としてAl,
Mg,Tiから構成されている場合、Al,Mg,Ti
をそれぞれ単独に含有する被測定体について、X
線成分計のX線管1に印加される印加電圧(E)と被
測定体のX線吸収係数(μ)との関係を調べる
と、第2図の特性曲線図に示すような特性を示
し、Al若しくはMgを含有する被測定体のX線吸
収特性を示す特性曲線11とTiを含有する被測
定体のX線吸収特性を示す特性曲線12は大きく
その特性が異なつている。このため、実際に被測
定体となる紙を用いて上記X線管印加電圧(E)を変
化させながら被測定体毎にX線吸収係数を測定
し、その後、被測定体となる紙から一部切取つた
各試料片を燃焼させて灰分重量を秤量することに
より、紙中の灰分のX線吸収係数に基づいて実験
的に上記X線管印加電圧(E)を決定していた。この
灰分重量を求める方法は、日本工業規格(JIS)
にも規定されている一般的な方法であるが、上記
試料片を燃焼させる等の作業を伴なうため、X線
成分計の校正に長時間を要するなどの欠点があつ
た。
説明図であり、図中、1はX線を発するX線管、
2は例えば紙のようなシート状の被測定体、3は
例えば電離箱でなる検出器、4は1から照射され
たX線、5はあらかじめプログラミングされてい
る所定の演算を行なう演算回路である。この図に
おいて、1から照射されたX線4は、被測定体2
を透過して減衰され、その後、検出器3に達して
検出され、該検出器3の出力信号は演算回路5で
演算処理され、被測定体2に含まれている灰分の
重量含有率が求められる。ところで、被測定体2
が紙である場合、紙の重量は主として水分、繊維
分、灰分から構成されると共に該灰分はMg,Si,
Al,Ca,Tiなどの元素から構成されており、こ
れら元素のX線吸収係数が必ずしも全て同一では
ない。このため、X線成分計を用いて被測定体の
灰分を測定することは非常に複雑な作業を必要と
していた。即ち、被測定体の灰分が主としてAl,
Mg,Tiから構成されている場合、Al,Mg,Ti
をそれぞれ単独に含有する被測定体について、X
線成分計のX線管1に印加される印加電圧(E)と被
測定体のX線吸収係数(μ)との関係を調べる
と、第2図の特性曲線図に示すような特性を示
し、Al若しくはMgを含有する被測定体のX線吸
収特性を示す特性曲線11とTiを含有する被測
定体のX線吸収特性を示す特性曲線12は大きく
その特性が異なつている。このため、実際に被測
定体となる紙を用いて上記X線管印加電圧(E)を変
化させながら被測定体毎にX線吸収係数を測定
し、その後、被測定体となる紙から一部切取つた
各試料片を燃焼させて灰分重量を秤量することに
より、紙中の灰分のX線吸収係数に基づいて実験
的に上記X線管印加電圧(E)を決定していた。この
灰分重量を求める方法は、日本工業規格(JIS)
にも規定されている一般的な方法であるが、上記
試料片を燃焼させる等の作業を伴なうため、X線
成分計の校正に長時間を要するなどの欠点があつ
た。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明はかかる従来例の欠点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、被測定体の試料片を燃
焼させたりする等の煩雑な作業を行なうことなく
容易且つ迅速に装置の校正を行なうことができる
ようなX線成分計を提供することにある。
ものであり、その目的は、被測定体の試料片を燃
焼させたりする等の煩雑な作業を行なうことなく
容易且つ迅速に装置の校正を行なうことができる
ようなX線成分計を提供することにある。
〈問題点を解決するための手段〉
上述のような問題点を解決する本発明の特徴
は、X線成分計において、埋設された円形状のア
ルミニウム箔、埋設された円形状のチタン箔、及
び円形状の切欠き部が略等間隔に設けられた校正
板が、前記演算回路の出力信号に従つて駆動する
駆動部によつて前記被測定体とX線管の間に移動
可能なように配置され、測定時には前記X線管か
らのX線が前記切欠き部を通り前記被測定体に照
射されるように前記校正板を移動させ該被測定体
を透過して減衰した透過X線の減衰量を前記検出
器で検出して前記灰分重量含有率を測定すると共
に、校正時には、前記被測定体を前記間隔から除
去し前記校正板を移動させて前記アルミニウム箔
とチタン箔を交互に透過させ該透過X線の減衰量
を前記検出器で検出し該検出信号に基づいて得ら
れる前記アルミニウムのX線吸収係数b-と前記
チタンのX線吸収係数c-の比b-/c-が装置の製
作時にあらかじめ求められて前記演算回路に記憶
されているアルミニウムのX線吸収係数bとチタ
ンのX線吸収係数cの比b/cと一致するように
前記演算回路の出力で前記X線管の印加電圧を調
整することにある。
は、X線成分計において、埋設された円形状のア
ルミニウム箔、埋設された円形状のチタン箔、及
び円形状の切欠き部が略等間隔に設けられた校正
板が、前記演算回路の出力信号に従つて駆動する
駆動部によつて前記被測定体とX線管の間に移動
可能なように配置され、測定時には前記X線管か
らのX線が前記切欠き部を通り前記被測定体に照
射されるように前記校正板を移動させ該被測定体
を透過して減衰した透過X線の減衰量を前記検出
器で検出して前記灰分重量含有率を測定すると共
に、校正時には、前記被測定体を前記間隔から除
去し前記校正板を移動させて前記アルミニウム箔
とチタン箔を交互に透過させ該透過X線の減衰量
を前記検出器で検出し該検出信号に基づいて得ら
れる前記アルミニウムのX線吸収係数b-と前記
チタンのX線吸収係数c-の比b-/c-が装置の製
作時にあらかじめ求められて前記演算回路に記憶
されているアルミニウムのX線吸収係数bとチタ
ンのX線吸収係数cの比b/cと一致するように
前記演算回路の出力で前記X線管の印加電圧を調
整することにある。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明す
る。第3図は本発明実施例の要部構成断面図であ
り、図中、第1図と同一記号は同一意味を持たせ
て使用しここでの重複説明は省略する。また、6
は校正板、7は校正板6を駆動させると共に演算
回路5へ所定の信号を出力する駆動部である。第
4図は校正板6の拡大平面図であり、図中、6
1,62は校正板6に埋設され夫々円形の形状を
しているAl箔とTi箔、63は校正板6に設けら
れた円形の切欠部である。第5図はX線成分計の
X線管1に印加される印加電圧(E)と被測定体のX
線吸収係数(μ)との関係を示す特性曲線図であ
り、図中、15,16,17,18は被測定体が
夫々Al箔、Ti箔、タルク[Mg3Si4O10(OH)2]、
酸化チタン(TiO2)であるときの特性曲線、1
9は特性曲線17,18の交点、aは上記X線管
1の最適印加電圧、b,cは特性曲線15,16
におけるX線管印加電圧がaのときのX線吸収係
数であり。尚、円形状のAl箔61はAl箔と同様
のX線吸収特性を示す円形のポリエステルフイル
ムで代替することも可能である。また、校正板6
の形状も第4図の長方形型に限定されるものでは
なく、回転する円盤形にするなど種々の変形が可
能である。
る。第3図は本発明実施例の要部構成断面図であ
り、図中、第1図と同一記号は同一意味を持たせ
て使用しここでの重複説明は省略する。また、6
は校正板、7は校正板6を駆動させると共に演算
回路5へ所定の信号を出力する駆動部である。第
4図は校正板6の拡大平面図であり、図中、6
1,62は校正板6に埋設され夫々円形の形状を
しているAl箔とTi箔、63は校正板6に設けら
れた円形の切欠部である。第5図はX線成分計の
X線管1に印加される印加電圧(E)と被測定体のX
線吸収係数(μ)との関係を示す特性曲線図であ
り、図中、15,16,17,18は被測定体が
夫々Al箔、Ti箔、タルク[Mg3Si4O10(OH)2]、
酸化チタン(TiO2)であるときの特性曲線、1
9は特性曲線17,18の交点、aは上記X線管
1の最適印加電圧、b,cは特性曲線15,16
におけるX線管印加電圧がaのときのX線吸収係
数であり。尚、円形状のAl箔61はAl箔と同様
のX線吸収特性を示す円形のポリエステルフイル
ムで代替することも可能である。また、校正板6
の形状も第4図の長方形型に限定されるものでは
なく、回転する円盤形にするなど種々の変形が可
能である。
このような構成からなる本発明の実施例におい
て、第3図の駆動部7に設けられた切換スイツチ
(図示せず)が測定側に切換えられて測定状態に
なると、駆動部7から演算回路5に測定状態を示
す信号が出力されると共に校正板6が駆動(例え
ばシリンダによる直線運動など)されて第4図の
切欠部63がX線4が通過する経路に位置するよ
うになる。この状態で、X線管1から照射された
X線4は校正板6の切欠部63を経由したのち被
測定体2を透過して減衰され、その後、検出器3
に達して検出される。該検出器3の出力信号は演
算回路5に送られた演算処理され、X線4の減衰
量に基いて被測定体2の灰分重量含有率が求めら
れるようになる。
て、第3図の駆動部7に設けられた切換スイツチ
(図示せず)が測定側に切換えられて測定状態に
なると、駆動部7から演算回路5に測定状態を示
す信号が出力されると共に校正板6が駆動(例え
ばシリンダによる直線運動など)されて第4図の
切欠部63がX線4が通過する経路に位置するよ
うになる。この状態で、X線管1から照射された
X線4は校正板6の切欠部63を経由したのち被
測定体2を透過して減衰され、その後、検出器3
に達して検出される。該検出器3の出力信号は演
算回路5に送られた演算処理され、X線4の減衰
量に基いて被測定体2の灰分重量含有率が求めら
れるようになる。
次に、被測定体2が除去されると共に駆動部7
に設けられた切換スイツチ(図示せず)が校正側
に切換えられて校正状態になると、駆動部7から
演算回路5に校正状態を示す信号が送られると共
に演算回路5の出力を受けた駆動部7によつて校
正板6が移動(例えば第3図の紙面上を左方向に
移動するなど)させられる。このため、校正板6
に埋設されている円形状のAl箔61若しくは円
形状のTi箔62がそれぞれX線4の通過経路に
位置するようになる。この状態で、X線管1から
照射されたX線4は円形状のAl箔61若しくは
円形状のTi箔62を透過して減衰されて後、検
出器3に達して検出される。該検出器3の出力信
号は演算回路5に送られて演算処理され、該演算
結果に基づく出力信号が演算回路5からX線管1
へ送られ、該X線管1の印加電圧(E)が最適電圧に
調整されてX線成分計の校正が完了する。その
後、駆動部7に設けられた切換スイツチ(図示せ
ず)が再び測定側に切換えられ前述の測定状態と
なつて被測定体2の測定が行われるようになる。
に設けられた切換スイツチ(図示せず)が校正側
に切換えられて校正状態になると、駆動部7から
演算回路5に校正状態を示す信号が送られると共
に演算回路5の出力を受けた駆動部7によつて校
正板6が移動(例えば第3図の紙面上を左方向に
移動するなど)させられる。このため、校正板6
に埋設されている円形状のAl箔61若しくは円
形状のTi箔62がそれぞれX線4の通過経路に
位置するようになる。この状態で、X線管1から
照射されたX線4は円形状のAl箔61若しくは
円形状のTi箔62を透過して減衰されて後、検
出器3に達して検出される。該検出器3の出力信
号は演算回路5に送られて演算処理され、該演算
結果に基づく出力信号が演算回路5からX線管1
へ送られ、該X線管1の印加電圧(E)が最適電圧に
調整されてX線成分計の校正が完了する。その
後、駆動部7に設けられた切換スイツチ(図示せ
ず)が再び測定側に切換えられ前述の測定状態と
なつて被測定体2の測定が行われるようになる。
以下、上述の校正について、第5図を用いて更
に詳しく説明する。メーカーにおけるX線成分計
の製作時などに、あらかじめ前記従来例の校正方
法(被測定体の試料片を燃焼させたりして灰分を
求めて校正する方法)を用いて求めたり文献から
計算などにより求めたりして、特性曲線15〜1
8、交点19、最適電圧a、及びX線吸収係数
b,cを求め、演算回路5にメモリさせておく。
ここで、X線吸収係数b,cはX線管1に最適電
圧aが印加されているときに特性曲線15,16
において示されるX線吸収係数であり、これらの
比c/bはX線成分計のX線管を交換しても変化
しない値である。次に、ユーザーの現場などで本
発明に係わる前述の校正が行われ、検出器3の出
力信号が演算回路5へ送出されると、演算回路5
においてAl箔やTi箔に関するX線吸収係数b-,
c-が求められる。このようにして求められたX線
吸収係数b-,c-の比(c-/b-)が特性曲線15,
16のX線吸収係数b-,c-から求められた比
(c/b)と等しくなるように、X線管1の印加
電圧が調節される。即ち、X線管1の印加電圧を
調節する信号が、第5図の演算回路5からX線管
1へ送られ、X線管1の印加電圧が最適電圧値に
調節され、最終的にその最適電圧値に設定され
る。
に詳しく説明する。メーカーにおけるX線成分計
の製作時などに、あらかじめ前記従来例の校正方
法(被測定体の試料片を燃焼させたりして灰分を
求めて校正する方法)を用いて求めたり文献から
計算などにより求めたりして、特性曲線15〜1
8、交点19、最適電圧a、及びX線吸収係数
b,cを求め、演算回路5にメモリさせておく。
ここで、X線吸収係数b,cはX線管1に最適電
圧aが印加されているときに特性曲線15,16
において示されるX線吸収係数であり、これらの
比c/bはX線成分計のX線管を交換しても変化
しない値である。次に、ユーザーの現場などで本
発明に係わる前述の校正が行われ、検出器3の出
力信号が演算回路5へ送出されると、演算回路5
においてAl箔やTi箔に関するX線吸収係数b-,
c-が求められる。このようにして求められたX線
吸収係数b-,c-の比(c-/b-)が特性曲線15,
16のX線吸収係数b-,c-から求められた比
(c/b)と等しくなるように、X線管1の印加
電圧が調節される。即ち、X線管1の印加電圧を
調節する信号が、第5図の演算回路5からX線管
1へ送られ、X線管1の印加電圧が最適電圧値に
調節され、最終的にその最適電圧値に設定され
る。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したような本発明の実施例によ
れば、前記従来例のようにX線成分計の校正のた
びごとに被測定体から試料片を切り取り、該試料
片を燃焼させて灰分重量を秤量するなどの煩雑な
作業が不要となる。また、駆動部7の切換スイツ
チを操作するだけで装置の校正を自動的に行なう
ことができるため、校正に要する時間を大巾に節
減できるという利点がある。更に、X線成分計の
製造者だけでなく装置を使用している現場の誰で
も容易かつ迅速にX線成分計の校正を正確に行な
えるという利点もある。また、本発明はX線成分
計に用いられるだけでなく、各種のX線分析計に
もそのまま適用できるという利点もある。
れば、前記従来例のようにX線成分計の校正のた
びごとに被測定体から試料片を切り取り、該試料
片を燃焼させて灰分重量を秤量するなどの煩雑な
作業が不要となる。また、駆動部7の切換スイツ
チを操作するだけで装置の校正を自動的に行なう
ことができるため、校正に要する時間を大巾に節
減できるという利点がある。更に、X線成分計の
製造者だけでなく装置を使用している現場の誰で
も容易かつ迅速にX線成分計の校正を正確に行な
えるという利点もある。また、本発明はX線成分
計に用いられるだけでなく、各種のX線分析計に
もそのまま適用できるという利点もある。
第1図はX線成分計に従来例説明図、第2図及
び第5図はを示す特性曲線図、第3図は本発明実
施例の原理説明図、第4図は校正板の拡大平面図
ある。 1……X線管、2……被測定体、3……検出
器、4……X線、5……演算回路、6……校正
板、7……駆動部、61……円形状Al箔、62
……円形状Ti箔、63……円形状切欠部、11,
12,15〜18……特性曲線、13,19……
交点、a……最適印加電圧、b,c……X線吸収
係数。
び第5図はを示す特性曲線図、第3図は本発明実
施例の原理説明図、第4図は校正板の拡大平面図
ある。 1……X線管、2……被測定体、3……検出
器、4……X線、5……演算回路、6……校正
板、7……駆動部、61……円形状Al箔、62
……円形状Ti箔、63……円形状切欠部、11,
12,15〜18……特性曲線、13,19……
交点、a……最適印加電圧、b,c……X線吸収
係数。
Claims (1)
- 1 X線管と検出器で形成される間隙内を走行す
るシート状の被測定体に前記X線管からX線を照
射して透過させ該透過X線の減衰量を前記検出器
で検出し検出信号を演算回路で信号処理して前記
被測定体に含まれる灰分の重量含有率を連続的に
測定するX線灰分計において、埋設された円形状
のアルミニウム箔、埋設された円形状のチタン
箔、及び円形状の切欠き部が略等間隔に設けられ
た校正板が、前記演算回路の出力信号に従つて駆
動する駆動部によつて前記被測定体とX線管の間
に移動可能なように配置され、測定時には前記X
線管からのX線が前記切欠き部を通り前記被測定
体に照射されるように前記校正板を移動させ該被
測定体を透過して減衰した透過X線の減衰量を前
記検出器で検出して前記灰分重量含有率を測定す
ると共に、校正時には、前記被測定体を前記間隙
から除去し前記校正板を移動させて前記アルミニ
ウム箔とチタン箔を交互に透過させ該透過X線の
減衰量を前記検出器で検出し該検出信号に基づい
て得られる前記アルミニウムのX線吸収係数b-
と前記チタンのX線吸収係数c-の比b-/c-が装
置の製作時にあらかじめ求められて前記演算回路
に記憶されているアルミニウムのX線吸収係数b
とチタンのX線吸収係数cの比b/cと一致する
ように前記演算回路の出力で前記X線管の印加電
圧を調整することを特徴とするX線灰分計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56016476A JPS57131042A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | X rays analyzer with automatic calibration apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56016476A JPS57131042A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | X rays analyzer with automatic calibration apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57131042A JPS57131042A (en) | 1982-08-13 |
JPH0149894B2 true JPH0149894B2 (ja) | 1989-10-26 |
Family
ID=11917323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56016476A Granted JPS57131042A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | X rays analyzer with automatic calibration apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57131042A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7042978B2 (en) | 2001-06-29 | 2006-05-09 | Panalytical B.V. | Examination of material samples |
WO2004025782A1 (ja) | 2002-09-11 | 2004-03-25 | Citizen Watch Co., Ltd. | アンテナ構造体及び電波修正時計 |
CN1961457B (zh) | 2004-08-25 | 2012-10-17 | 西铁城控股株式会社 | 电子装置 |
DE102005016124A1 (de) | 2005-04-08 | 2006-10-12 | Robert Bosch Gmbh | Sensorvorrichtung einer Verpackungsmaschine |
CN109839399B (zh) * | 2019-01-23 | 2021-04-30 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 基于kb镜的同步辐射共聚焦荧光实验装置的仪器校准方法 |
US11333544B2 (en) * | 2019-06-17 | 2022-05-17 | Honeywell International Inc. | Apparatus for simultaneously determining weights of composite sheets |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS505093A (ja) * | 1972-12-11 | 1975-01-20 | ||
JPS5594149A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Reflecting type ash content meter |
-
1981
- 1981-02-06 JP JP56016476A patent/JPS57131042A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS505093A (ja) * | 1972-12-11 | 1975-01-20 | ||
JPS5594149A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Reflecting type ash content meter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57131042A (en) | 1982-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3766383A (en) | Techniques and apparatus for calibrating the kilovoltage indicator on diagnostic x-ray generators | |
JPH0149894B2 (ja) | ||
US6218665B1 (en) | Infrared detector and gas analyzer | |
JPS59208445A (ja) | 試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置 | |
JPH0228541A (ja) | 光式濃度検出装置 | |
US6310937B1 (en) | X-ray diffraction apparatus with an x-ray optical reference channel | |
JP2636051B2 (ja) | 粒子測定方法および装置 | |
JPH07260680A (ja) | 赤外線センサ | |
JPH04248445A (ja) | 携帯型赤外線水分測定装置 | |
JP3177379B2 (ja) | 油分濃度計 | |
GB2121168A (en) | X-ray device | |
JP4123816B2 (ja) | 被検査物の厚さ測定方法 | |
JP2977166B2 (ja) | 広範囲x線検出器を備えたx線回折装置 | |
JP2940243B2 (ja) | X線イメージセンサ及びx線検査装置 | |
JPH05119000A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JPS6333096B2 (ja) | ||
GB2127538A (en) | X-ray device | |
JPH0759762A (ja) | X線ct装置 | |
JPS59203947A (ja) | 放射線透過試験用露出測定装置 | |
JP3205084B2 (ja) | コート材の膜厚測定方法および装置 | |
JPH08122038A (ja) | セラミックスシート厚さ測定器 | |
JPS5746146A (en) | Continuous measurement device for ash contained in paper | |
JPS61100235A (ja) | X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法 | |
JPS62156544A (ja) | 紙の水分量測定装置 | |
JPH04212041A (ja) | X線イメージセンサ及びx線検査装置 |